JP7469921B2 - 加工システム - Google Patents

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Description

本発明は、異なる径のワークに対応可能なチャック装置を備えている加工システムに関するものである。
半導体製造分野では、シリコンウェハ等の半導体ウェハ(以下、「ワーク」という)を薄く平坦に研削するものとして、回転する研削砥石の研削面をワークに押し当て、ワークの研削を行う研削装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2018-142616号公報
図4に、径の異なるワーク(例えば、8インチのワーク及び12インチのワーク)に対応するチャック装置として、小径のワークに応じた内周側チャック101と、大径のワークに応じた外周側チャック102と、を備えているチャック装置100を示す。
内周側チャック101及び外周側チャック102は、ロータリージョイント103を介して、負圧源104、純水源105及び圧縮空気源106に接続されている。また、インチ切替バルブ107は、ワークの大きさに応じて外周側チャック102への負圧又は流体の供給を切り替えるものである。なお、符号108a~108cは、負圧源104、純水源105及び圧縮空気源106の上流側に設けられたバルブである。
チャック装置100は、大径のワークを吸着保持する際には、インチ切替バルブ107を開き、外周側チャック102への負圧を供給し、小径のワークを供吸着保持する際には、インチ切替バルブ107を閉じ、外周側チャック102への負圧の供給を停止する。すなわち、チャック100は、負圧源104、純水源105及び圧縮空気源106と1ラインで接続されており、小径のワークを吸着保持している際には、外周側チャック102の制御を行うことはできない。
しかしながら、チャック装置100を用いてワークの研削加工及び研磨加工を連続して行う場合、外周側チャック102の細かい気孔内に加工屑(スラッジ)が堆積しがちであり、外周側チャック102に堆積した加工屑は、研磨時にワーク表面にダメージを与えてしまうという問題があった。
そこで、チャック内の加工屑の堆積を抑制し、ウェハへのダメージを抑制するために解決すべき技術的課題が生じてくるのであり、本発明はこの課題を解決することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係るチャック装置は、異なる径のワークに対応可能なチャック装置と、前記ワークを研削する研削装置と、研削後の前記ワークを研磨する研磨装置と、前記チャック装置を前記研削装置から前記研磨装置に移動させるインデックステーブルと、を備えている加工システムであって、小径のワークに対応して設けられた第1のポーラスチャックと、大径のワークに対応して前記第1のポーラスチャックの外周に設けられた第2のポーラスチャックと、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックにそれぞれ独立して接続され、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックに負圧を供給する負圧源と、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックにそれぞれ独立して接続され、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックに流体を供給する流体源と、を備え、前記流体源は、前記小径のワークの研削後から研磨前の間に、前記小径のワークが前記第1のポーラスチャック吸着保持された状態で、前記第2のポーラスチャックに流体を供給する。
この構成によれば、第1のポーラスチャックが小径のワークを吸着保持した状態で、第2のポーラスチャック内に流体を通過させることにより、第2のポーラスチャックの気孔内に加工屑が堆積することを抑制するため、研磨時に加工屑がワークにダメージを与えることを抑制できる。さらに、小径のワークの研磨加工に先行して、第2のポーラスチャックの気孔内の加工屑が排出されるため、研磨加工する際に、加工屑がワークにダメージを与えることを抑制できる。
また、本発明に係る加工システムは、前記流体源が、純水を供給する給水源であることが好ましい。
この構成によれば、純水が第2のポーラスチャック内を通過して、第2のポーラスチャックの気孔内の加工屑を排出することができる。
また、本発明に係る加工システムは、前記流体源が、圧縮空気を供給する圧縮空気源であることが好ましい。
この構成によれば、圧縮空気が第2のポーラスチャック内を通過して、第2のポーラスチャックの気孔内の加工屑を排出することができる。
また、上記目的を達成するために、本発明に係るチャック装置は、異なる径のワークに対応可能なチャック装置と、前記ワークを研削する研削装置と、研削後の前記ワークを研磨する研磨装置と、前記チャック装置を前記研削装置から前記研磨装置に移動させるインデックステーブルと、を備えている加工システムであって、小径のワークに対応して設けられた第1のポーラスチャックと、大径のワークに対応して前記第1のポーラスチャックの外周に設けられた第2のポーラスチャックと、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックにそれぞれ独立して接続され、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックに負圧を供給する負圧源と、を備え、前記負圧源は、前記小径のワークの研削後から研磨前の間に、前記小径のワークが前記第1のポーラスチャック吸着保持された状態で、前記第2のポーラスチャックに負圧を供給する。
この構成によれば、第1のポーラスチャックが小径のワークを吸着保持した状態で、第2のポーラスチャック内の加工屑を吸引することにより、第2のポーラスチャックの気孔内に加工屑が堆積することを抑制するため、研磨時に加工屑がワークにダメージを与えることを抑制できる。さらに、小径のワークの研磨加工に先行して、第2のポーラスチャックの気孔内の加工屑が排出されるため、研磨加工する際に、加工屑がワークにダメージを与えることを抑制できる。
本発明は、研削加工時に生じた加工屑が、第2のポーラスチャック32内に堆積し、研磨加工する際にワークにダメージを与えることを抑制できる。
本発明の一の実施形態に係る加工システム示す平面図。 チャック装置を示す平面図。 チャック装置の構造を示す模式図。 従来のチャック装置を示す模式図。
本発明の一実施形態について図面に基づいて説明する。なお、以下では、構成要素の数、数値、量、範囲等に言及する場合、特に明示した場合及び原理的に明らかに特定の数に限定される場合を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも構わない。
また、構成要素等の形状、位置関係に言及するときは、特に明示した場合及び原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似又は類似するもの等を含む。
また、図面は、特徴を分かり易くするために特徴的な部分を拡大する等して誇張する場合があり、構成要素の寸法比率等が実際と同じであるとは限らない。また、断面図では、構成要素の断面構造を分かり易くするために、一部の構成要素のハッチングを省略することがある。
図1は、加工システム1の基本的構成を示す平面図である。加工システム1は、ワークWの研削加工及び研磨加工を連続して行うものである。加工システム1は、外径が異なる2種類のワークW(例えば、8インチ及び12インチのワーク)に対応している。なお、加工システム1は、研削加工又は研磨加工の何れか一方のみを行うものであっても構わない。
加工システム1には、プラットフォームステージST1、粗研削ステージST2、精研削ステージST3及び研磨ステージST4の4つのステージが設けられている。
加工システム1は、図1の紙面を時計回り又は反時計回りに回動可能なインデックステーブル2と、インデックステーブル2の回転軸2aを中心に同心円上で等間隔に離間して配置された4つのチャックテーブル3と、を備えている。インデックステーブル2が、90°ずつステップ回転することにより、チャックテーブル3は、プラットフォームステージST1、粗研削ステージST2、精研削ステージST3、研磨ステージST4の順に移動可能である。
チャックテーブル3は、所謂ユニバーサルチャックであり、ワークWを吸着保持する。チャックテーブル3の具体的構成については後述する。
プラットフォームステージST1では、研削前のワークWが図示しない搬送アームによってチャックテーブル3上に搬送される。ワークWは、その向きを所定方向に一致させる位置出しが予め行われている。
粗研削ステージST2には,粗研削装置4が設けられている。粗研削装置4は、図示しない粗研削砥石と、粗研削砥石が下端に取り付けられるとともに粗研削砥石を回転可能に支持する第1のスピンドル41と、第1のスピンドル41を鉛直方向に昇降させる第1のスピンドル送り機構42と、を備えている。粗研削砥石には、例えば#600のカップ型砥石が用いられる。第1のスピンドル送り機構42は、第1のスピンドル41の移動方向を案内する2本のリニアガイド43と、第1のスピンドル41を昇降させるボールネジスライダ機構44と、で構成されている。
精研削ステージST3には、精研削装置5が設けられている。精研削装置5は、図示しない精研削砥石と、精研削砥石が下端に取り付けられるとともに精研削砥石を回転可能に支持する第2のスピンドル51と、第2のスピンドル51を鉛直方向に昇降させる第2のスピンドル送り機構52と、を備えている。精研削砥石には、例えば#4000のカップ型砥石が用いられる。第2のスピンドル送り機構52は、第2のスピンドル51の移動方向を案内する2本のリニアガイド53と、第2のスピンドル51を昇降させるボールネジスライダ機構54と、で構成されている。
研磨ステージST4には、研磨装置6が設けられている。研磨装置6は、図示しない研磨パッドが下端に取り付けられた研磨ヘッド61と、研磨ヘッド61が下端に取り付けられるとともに研磨ヘッド61を回転可能に支持する第3のスピンドル62と、第3のスピンドル62を鉛直方向に昇降させる図示しない第3のスピンドル送り機構と、を備えている。
加工システム1の動作は、図示しない制御装置によって制御される。制御装置は、加工システム1を構成する構成要素をそれぞれ制御するものである。制御装置は、例えば、CPU、メモリ等により構成される。なお、制御装置の機能は、ソフトウェアを用いて制御することにより実現されても良く、ハードウェアを用いて動作することにより実現されても良い。
次に、チャックテーブル3の構造について、図2、3に基づいて説明する。
チャックテーブル3は、第1のポーラスチャック31と、第2のポーラスチャック32と、回転テーブル33と、を備えている。
第1のポーラスチャック31及び第2のポーラスチャック32は、アルミナ等の多孔質材料からなる吸着体であり、回転テーブル33の上面に埋設されている。
第1のポーラスチャック31は、平面から視てチャックテーブル3の中央に配置されている。第1のポーラスチャック31の外径は、小径のワークWの形状に応じてワークWの外径より僅かに小さく設定されている。
第2のポーラスチャック32は、略円環状に形成されており、第1のポーラスチャック31を囲繞するように第1のポーラスチャック31の外周に配置されている。第2のポーラスチャック32の外径は、大径のワークWの形状に応じてワークWの外径より僅かに小さく設定されている。
回転テーブル33は、中心軸A回りに回転駆動するように構成されている。回転テーブル33に連結された回転軸33aの外周には、プーリ33bが取り付けられている。プーリ33bは、ベルト34を介して駆動モータ35の出力軸35aに接続されている。駆動モータ35が駆動されると、出力軸35aの回転がベルト34及びプーリ33bを介して回転軸33aに伝達され、回転軸33aが回転テーブル33と一体で回転する。
回転テーブル33の内部には、第1のポーラスチャック31を収容する内周側収容孔33cの表面に延びる第1の流体通路36及び第2のポーラスチャック32を収容する外周側収容孔33dに延びる第2の流体通路37が形成されている。
第1の流体通路36及び第2の流体通路37は、ロータリージョイント38を介して真空源S1、給水源S2又は圧縮空気源S3にそれぞれ接続されている。すなわち、真空源S1、給水源S2又は圧縮空気源S3は、それぞれ二つに分岐したラインで第1の流体通路36及び第2の流体通路37に接続されており、それぞれが第1のポーラスチャック31及び第2のポーラスチャック32に独立して接続されている。なお、符号39a~39cは、第1の流体通路36と真空源S1、給水源S2又は圧縮空気源S3との間に設けられたバルブであり、符号39d~39fは、第2の流体通路37と真空源S1、給水源S2又は圧縮空気源S3との間に設けられたバルブである。なお、給水源S2又は圧縮空気源S3は、必要に応じて設けられるものであって適宜省略しても構わない。
[大径ワークの加工]
次に、加工システム1を用いて大径のワークWを加工する場合について説明する。
プラットフォームステージST1にて、図2(a)に示すように、ワークWが第1のポーラスチャック31及び第2のポーラスチャック32上に載置される。そして、バルブ39a、39dが開かれ、真空源S1が起動すると、ワークWと吸着面3aとの間に負圧が供給されて、ワークWがチャックテーブル3に吸着保持される。
次に、インデックステーブル2が回転して、チャックテーブル3が粗研削ステージST2に移動し、ワークWに対する粗研削加工が行われる。粗研削加工では、粗研削砥石及びチャックテーブル3をそれぞれ回転させた状態で、粗研削砥石の研削面をワークWに押し当てて、ワークWの粗研削を行う。
次に、インデックステーブル2が回転して、チャックテーブル3が精研削ステージST3に移動し、ワークWに対する精研削加工が行われる。精研削加工では、精研削砥石及びチャックテーブル3をそれぞれ回転させた状態で、精研削砥石の研削面をワークWに押し当てて、ワークWの精研削を行う。
次に、インデックステーブル2が回転して、チャックテーブル3が研磨ステージST4に移動し、ワークWに対する研磨加工が順次行われる。研磨加工では、研磨パッド及びチャックテーブル3をそれぞれ回転させた状態で、研磨パッドの下面をワークWに押し当てて、ワークWの研磨を行う。
そして、インデックステーブル2が回転して、チャックテーブル3がプラットフォームステージST1に移動すると、バルブ39a、39dが閉じて、真空源S1が停止する。その後、バルブ39b、39eが開き、給水源S2を起動してワークWと吸着面3aとの間に純水が供給されて、ワークWとチャックテーブル3との吸着が解除される。または、バルブ39c、39fが開き、圧縮空気源S3を起動してワークWと吸着面3aとの間に圧縮空気(リリースエアー)が供給されて、ワークWとチャックテーブル3との吸着が解除される。
[小径ワークの加工]
次に、加工システム1を用いて小径のワークWを加工する場合について説明する。
まず、プラットフォームステージST1にて、図2(b)に示すように、ワークWが第1のポーラスチャック31上に載置される。そして、バルブ39aが開かれ、真空源S1が起動すると、ワークWと吸着面3aとの間に負圧が供給されて、ワークWが第1のポーラスチャック31に吸着保持される。このとき、バルブ39dは閉じており、第2のポーラスチャック32に負圧は供給されない。
次に、インデックステーブル2が回転して、チャックテーブル3が粗研削ステージST2、精研削ステージST3の順に移動し、ワークWに対する粗研削加工、精研削加工が行われる。粗研削加工及び精研削加工は、上述した大径のワークWを加工する場合と同様に行う。研削加工時には、第2のポーラスチャック32の表面は、加工屑(スラッジ)を含む冷却水に晒されるため、細かい加工屑が第2のポーラスチャック32の気孔内に入り込んで堆積する虞がある。
そこで、給水源S2を起動し、バルブ39eを開くことにより、純水が第2のポーラスチャック32内を通って第2のポーラスチャック32の表面から溢れ出る。これにより、加工屑が第2のポーラスチャック32の気孔内に堆積することを抑制できる。なお、純水による加工屑の排出は、粗研削及び精研削加工時に行われるのが好ましいが、研削加工後に行っても構わない。純水の供給が所定時間行われた後には、バルブ39eが閉じて、給水源S2を停止し、第2のポーラスチャック32への純水の供給が終了する。
次に、インデックステーブル2が回転してチャックテーブル3が研磨ステージST4に移動すると、ワークWに対する研磨加工が行われる。研磨加工は、上述した大径のワークWを加工する場合と同様に行う。このとき、研磨加工に先行して、第2のポーラスチャック32内に純水を通過させることで気孔内の加工屑が予め排出されていることにより、研磨加工の際に、第2のポーラスチャック32の気孔内に残存した加工屑が研磨パッドとワークWとの間に入り込んで、ワークWの研磨面にダメージが生じることを抑制できる。
そして、インデックステーブル2が回転してチャックテーブル3がプラットフォームステージST1に移動すると、第1の流体通路36に接続されるバルブ39aが閉じて、真空源S1が停止する。その後、バルブ39bが開き、給水源S2を起動してワークWと吸着面3aとの間に純水が供給されて、ワークWとチャックテーブル3との吸着が解除される。または、バルブ39cが開き、圧縮空気源S3を起動してワークWと吸着面3aとの間に圧縮空気(リリースエアー)が供給されて、ワークWとチャックテーブル3との吸着が解除される。
このようにして、異なる径のワークに対応可能なチャックテーブル3において、第1のポーラスチャック31及び第2のポーラスチャック32に、真空源S1、給水源S2又は圧縮空気源S3がそれぞれ独立して接続されていることにより、研削加工の際に、第1のポーラスチャック31が小径のワークWを吸着保持した状態で、第2のポーラスチャック32内に純水を通過させて気孔内に加工屑が堆積することを抑制可能なため、研磨時に、加工屑が研磨パッド及びワークWの間に入り込んで、ワークWの研磨面にダメージが生じることを抑制できる。
なお、本実施形態では、第2のポーラスチャック32内に純水を通過させる場合を例に説明したが、加工屑を気孔から排出可能であれば、如何なる方法であっても構わない。
例えば、研削加工後に、圧縮空気源S3を起動し、第2の流体通路37に接続されるバルブ39fを開くことにより、圧縮空気が第2のポーラスチャック32内を通って第2のポーラスチャック32の表面から排出される構成が考えられる。これにより、第2のポーラスチャック32の気孔内に堆積した加工屑を除去することができる。
また、研削加工後に、真空源S1が起動した状態で第2の流体通路37に接続されるバルブ39dを開くことにより、第2のポーラスチャック32内の加工屑を含む冷却水を吸引して、第2のポーラスチャック32の気孔内の加工屑を除去する構成が考えられる。なお、吸引された加工屑は、第2の流体通路37に接続される図示しないバッファタンク等に収容されるのが好ましい。
また、本発明は、本発明の精神を逸脱しない限り、上記以外にも種々の改変を為すことができ、そして、本発明が該改変されたものに及ぶことは当然である。また、上述した実施形態及び各変形例は、互いに組み合わせても構わない。
1 :加工システム
2 :インデックステーブル
2a :(インデックステーブルの)回転軸
3 :チャックテーブル(チャック装置)
3a :吸着面
31 :第1のポーラスチャック
32 :第2のポーラスチャック
33 :回転テーブル
33a:(回転テーブルの)回転軸
33b:プーリ
33c:内周側収容孔
33d:外周側収容孔
34 :ベルト
35 :駆動モータ
35a:出力軸
36 :第1の流体通路
37 :第2の流体通路
38 :ロータリージョイント
39a、39b、39c、39d、39e、39f:バルブ
4 :粗研削装置
5 :精研削装置
6 :研磨装置
S1 :真空源
S2 :給水源
S3 :圧縮空気源
ST1:プラットフォームステージ
ST2:粗研削ステージ
ST3:精研削ステージ
ST4:研磨ステージ
W :ワーク

Claims (4)

  1. 異なる径のワークに対応可能なチャック装置と、前記ワークを研削する研削装置と、研削後の前記ワークを研磨する研磨装置と、前記チャック装置を前記研削装置から前記研磨装置に移動させるインデックステーブルと、を備えている加工システムであって、
    小径のワークに対応して設けられた第1のポーラスチャックと、
    大径のワークに対応して前記第1のポーラスチャックの外周に設けられた第2のポーラスチャックと、
    前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックにそれぞれ独立して接続され、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックに負圧を供給する負圧源と、
    前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックにそれぞれ独立して接続され、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックに流体を供給する流体源と、
    を備え、
    前記流体源は、前記小径のワークの研削後から研磨前の間に、前記小径のワークが前記第1のポーラスチャック吸着保持された状態で、前記第2のポーラスチャックに流体を供給することを特徴とする加工システム
  2. 前記流体源は、純水を供給する給水源であることを特徴とする請求項1記載の加工システム
  3. 前記流体源は、圧縮空気を供給する圧縮空気源であることを特徴とする請求項1記載の加工システム
  4. 異なる径のワークに対応可能なチャック装置と、前記ワークを研削する研削装置と、研削後の前記ワークを研磨する研磨装置と、前記チャック装置を前記研削装置から前記研磨装置に移動させるインデックステーブルと、を備えている加工システムであって、
    小径のワークに対応して設けられた第1のポーラスチャックと、
    大径のワークに対応して前記第1のポーラスチャックの外周に設けられた第2のポーラスチャックと、
    前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックにそれぞれ独立して接続され、前記第1のポーラスチャック及び前記第2のポーラスチャックに負圧を供給する負圧源と、
    を備え、
    前記負圧源は、前記小径のワークの研削後から研磨前の間に、前記小径のワークが前記第1のポーラスチャック吸着保持された状態で、前記第2のポーラスチャックに負圧を供給することを特徴とする加工システム
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002324831A (ja) 2001-04-26 2002-11-08 Takatori Corp 真空吸着テーブル
JP2009135132A (ja) 2007-11-28 2009-06-18 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェーハ処理装置
JP2012178447A (ja) 2011-02-25 2012-09-13 Kyocera Corp 吸着用部材
JP2016097463A (ja) 2014-11-20 2016-05-30 株式会社ディスコ 加工装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002324831A (ja) 2001-04-26 2002-11-08 Takatori Corp 真空吸着テーブル
JP2009135132A (ja) 2007-11-28 2009-06-18 Tokyo Seimitsu Co Ltd ウェーハ処理装置
JP2012178447A (ja) 2011-02-25 2012-09-13 Kyocera Corp 吸着用部材
JP2016097463A (ja) 2014-11-20 2016-05-30 株式会社ディスコ 加工装置

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