JP7449660B2 - インダクタ部品 - Google Patents

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Description

本発明は、インダクタ部品に関する。
従来、インダクタ部品としては、特開2014-32978号公報(特許文献1)に記載されたものがある。このインダクタ部品は、素体と、素体内に配置されたコイル配線と、素体に埋め込まれコイル配線に電気的に接続されたビア導体とを備える。
特開2014-32978号公報
ところで、前記従来のようなインダクタ部品では、外部から実装リフローなどの熱が加わった時、熱間変動時の応力が、コイル配線とビア導体との接触部分に集中し、コイル配線とビア導体との接続信頼性が低下するおそれがある。
そこで、本開示は、コイル配線と垂直配線との接続信頼性を向上できるインダクタ部品を提供することにある。
前記課題を解決するため、本開示の一態様であるインダクタ部品は、
素体と、
前記素体内に前記素体の第1主面に平行に配置されたコイル配線と、
前記素体の第1主面から端面が露出するように前記素体に埋め込まれ、前記コイル配線に電気的に接続された第1垂直配線および第2垂直配線と
を備え、
前記コイル配線の延在方向に直交し前記第1垂直配線と交差する第1断面において、
前記コイル配線の天面は、前記第1垂直配線の底面と接触し、前記コイル配線の天面の形状は、凸曲面である。
ここで、コイル配線の天面とは、コイル配線の素体の第1主面側の面をいう。
前記態様によれば、第1断面において、コイル配線の天面の形状は、凸曲面であるので、コイル配線の天面と第1垂直配線の底面との接触面積を増加でき、コイル配線と第1垂直配線との接続信頼性を向上できる。
また、第1断面において、コイル配線の天面の形状は、凸曲面であるので、コイル配線の天面と第1垂直配線の側面との間の成す角度を大きくすることができ、コイル配線の天面と第1垂直配線の側面との交点に集中する応力を緩和することができる。
好ましくは、インダクタ部品の一実施形態では、前記第1断面において、前記コイル配線の天面の曲率は、1/8000m以上1/6000m以下である。
前記実施形態によれば、コイル配線の天面の曲率は、1/8000m以上であるので、コイル配線の天面と第1垂直配線の側面との交点に集中する応力を確実に緩和できる。また、コイル配線の天面の曲率は、1/6000m以下であるので、コイル配線の天面に第1垂直配線を確実に形成できる。
好ましくは、インダクタ部品の一実施形態では、
前記第1断面において、
前記コイル配線の天面は、前記第1垂直配線の側面と交差し、
前記第1垂直配線の側面との交点における前記コイル配線の天面に接する接線と、前記第1垂直配線の側面との間の成す角度は、65°以上77°以下である。
前記実施形態によれば、コイル配線の天面と第1垂直配線の側面との間の成す角度は、65°以上であるので、コイル配線の天面と第1垂直配線の側面との交点に集中する応力を確実に緩和できる。また、コイル配線の天面と第1垂直配線の側面との間の成す角度は、77°以下であるので、コイル配線の天面に第1垂直配線を確実に形成できる。
好ましくは、インダクタ部品の一実施形態では、
前記素体は、前記コイル配線を覆う樹脂層を含み、
前記第1垂直配線および前記第2垂直配線は、それぞれ、前記樹脂層を貫通して前記コイル配線の天面に接触するビア導体を含む。
前記実施形態によれば、ビア導体は樹脂層を貫通しているので、ビア導体と樹脂層の熱膨張係数の違いにより、ビア導体はさらに応力を受けることになるが、このような状態でも、コイル配線とビア導体との接続信頼性を向上できる。
好ましくは、インダクタ部品の一実施形態では、前記第1断面における前記第1主面に平行な長さについて、前記ビア導体の底面は、前記ビア導体の天面よりも短い。
前記実施形態によれば、ビア導体の底面の面積は相対的に小さくなるが、このような状態でも、コイル配線とビア導体との接続信頼性を向上できる。
好ましくは、インダクタ部品の一実施形態では、
前記コイル配線の延在方向に直交し前記第2垂直配線と交差する第2断面において、
前記コイル配線の天面は、前記第2垂直配線の底面と接触し、前記コイル配線の天面の形状は、凸曲面である。
前記実施形態によれば、第2断面においても、コイル配線の天面の形状は、凸曲面であるので、コイル配線の天面と第2垂直配線の底面との接触面積を増加でき、コイル配線と第2垂直配線との接続信頼性を向上できる。
また、第2断面においても、コイル配線の天面の形状は、凸曲面であるので、コイル配線の天面と第2垂直配線の側面との間の成す角度を大きくすることができ、コイル配線の天面と第2垂直配線の側面との交点に集中する応力を緩和することができる。
本開示の一態様であるインダクタ部品によれば、コイル配線と垂直配線との接続信頼性を向上できる。
第1実施形態に係るインダクタ部品を示す透視平面図である。 図1AのA-A断面図である。 図1AのB-B断面図である。 インダクタ部品の第2実施形態を示す断面図である。
以下、本開示の一態様であるインダクタ部品を図示の実施の形態により詳細に説明する。なお、図面は一部模式的なものを含み、実際の寸法や比率を反映していない場合がある。
(第1実施形態)
(構成)
図1Aは、インダクタ部品の第1実施形態を示す透視平面図である。図1Bは、図1AのA-A断面図である。インダクタ部品1は、例えば、パソコン、DVDプレーヤー、デジタルカメラ、TV、携帯電話、カーエレクトロニクスなどの電子機器に搭載され、例えば全体として直方体形状の部品である。ただし、インダクタ部品1の形状は、特に限定されず、円柱状や多角形柱状、円錐台形状、多角形錐台形状であってもよい。
図1Aと図1Bに示すように、インダクタ部品1は、素体10と、素体10内に配置された第1コイル配線21および第2コイル配線22と、素体10の第1主面10aから端面が露出するように素体10に埋め込まれた第1垂直配線51、第2垂直配線52、第3垂直配線53および第4垂直配線54と、素体10の第1主面10aに設けられた第1外部端子41、第2外部端子42、第3外部端子43および第4外部端子44と、素体10の第1主面10aに設けられた絶縁膜50とを備える。図中、インダクタ部品1の厚み方向をZ方向とし、順Z方向を上側、逆Z方向を下側とする。インダクタ部品1のZ方向に直交する平面において、インダクタ部品1の長さ方向をX方向とし、インダクタ部品1の幅方向をY方向とする。
素体10は、絶縁層61と、絶縁層61の下面61aに配置された第1磁性層11と、絶縁層61の上面61bに配置され第1コイル配線21および第2コイル配線22を被覆する樹脂層15と、樹脂層15の上面に配置された第2磁性層12とを有する。素体10の第1主面10aは、第2磁性層12の上面に相当する。素体10は、絶縁層61、樹脂層15、第1磁性層11および第2磁性層12の4層構造であるが、層数は特に限定されず、4層以外であってもよく、また、磁性層のみ、絶縁層のみなどの1層構造や多層構造などであってもよい。
絶縁層61は、主面が長方形の層状であり、絶縁層61の厚みは、例えば、10μm以上100μm以下である。絶縁層61は、例えば、低背化の観点からガラスクロスなどの基材を含まないエポキシ系樹脂やポリイミド系樹脂などの絶縁樹脂層であることが好ましいが、NiZn系やMnZn系などのフェライトのような磁性体層や、アルミナ、ガラスのような非磁性体層などのような焼結体であってもよく、ガラスエポキシなどの基材を含む樹脂層であってもよい。なお、絶縁層61が焼結体である場合は、絶縁層61の強度や平坦性を確保でき、絶縁層61上の積層物の加工性が向上する。また、絶縁層61が焼結体である場合は、低背化の観点から研磨加工されていることが好ましく、特に積層物のない下側から研磨されていることが好ましい。
第1磁性層11及び第2磁性層12は、金属磁性粉を含有する樹脂からなる磁性樹脂層である。樹脂は、例えば、エポキシ系樹脂やビスマレイミド、液晶ポリマ、ポリイミドなどからなる有機絶縁材料である。金属磁性粉の平均粒径は、例えば0.1μm以上5μm以下である。インダクタ部品1の製造段階においては、金属磁性粉の平均粒径を、レーザ回折・散乱法によって求めた粒度分布における積算値50%に相当する粒径として算出することができる。金属磁性粉は、例えば、FeSiCrなどのFeSi系合金、FeCo系合金、NiFeなどのFe系合金、または、それらのアモルファス合金である。金属磁性粉の含有率は、好ましくは、磁性層全体に対して、20Vol%以上70Vol%以下である。金属磁性粉の平均粒径が5μm以下である場合、直流重畳特性がより向上し、微粉によって高周波での鉄損を低減できる。なお、金属磁性粉でなく、NiZn系やMnZn系などのフェライトの磁性粉を用いてもよい。
樹脂層15は、第1コイル配線21および第2コイル配線22を被覆している。樹脂層15は、隣り合う第1、第2コイル配線21,22の間の絶縁性を確保する。具体的に述べると、樹脂層15は、第1、第2コイル配線21,22の底面及び側面のすべてを覆い、第1、第2コイル配線21,22の天面については、ビア導体25との接続部分を除いた部分を覆っている。樹脂層15は、磁性体を含有しない絶縁性材料からなり、例えばエポキシ系樹脂、フェノール系樹脂、ポリイミド系樹脂などの樹脂材料からなる。なお、樹脂層15は、シリカなどの非磁性体のフィラーを含んでいてもよく、この場合は、樹脂層15の強度や加工性、電気的特性の向上が可能である。また、樹脂層15は、第1、第2コイル配線21,22の内径部分に対応する位置に、孔部を有していてもよく、このとき、孔部に磁性層を設けてもよい。
第1コイル配線21、第2コイル配線22は、素体10の第1主面10aと平行に配置されている。これにより、第1コイル配線21および第2コイル配線22を第1主面10aと平行な方向で構成でき、インダクタ部品1の低背化を実現できる。第1コイル配線21と第2コイル配線22は、素体10内の同一平面上に配置されている。具体的に述べると、第1コイル配線21と第2コイル配線22は、絶縁層61の上方側にのみ形成され、樹脂層15に覆われている。
第1、第2コイル配線21,22は、平面状に巻回されている。具体的に述べると、第1、第2コイル配線21,22は、Z方向から見たときに、半楕円形の弧状である。すなわち、第1、第2コイル配線21,22は、約半周分巻回された曲線状の配線である。また、第1、第2コイル配線21,22は、中間部分で直線部を含んでいる。
第1、第2コイル配線21,22の厚みは、例えば、40μm以上120μm以下であることが好ましい。第1、第2コイル配線21,22の実施例として、厚みが45μm、配線幅が40μm、配線間スペースが10μmである。配線間スペースは3μm以上20μm以下が好ましい。
第1、第2コイル配線21,22は、導電性材料からなり、例えばCu、Ag,Auなどの低電気抵抗な金属材料からなる。本実施形態では、インダクタ部品1は、第1、第2コイル配線21,22を1層のみ備えており、インダクタ部品1の低背化を実現できる。
第1コイル配線21は、第1端、第2端がそれぞれ外側に位置する第1垂直配線51、第2垂直配線52に電気的に接続され、第1垂直配線51および第2垂直配線52からインダクタ部品1の中心側に向かって孤を描く曲線状である。つまり、第1コイル配線21は、その両端にスパイラル形状部分よりも線幅の大きいパッド部を有し、パッド部において、第1、第2垂直配線51,52と直接接続されている。
同様に、第2コイル配線22は、第1端、第2端がそれぞれ外側に位置する第3垂直配線53、第4垂直配線54に電気的に接続され、第3垂直配線53および第4垂直配線54からインダクタ部品1の中心側に向かって孤を描く曲線状である。
ここで、第1、第2コイル配線21,22のそれぞれにおいて、第1、第2コイル配線21,22が描く曲線と、第1、第2コイル配線21,22の両端を結んだ直線とに囲まれる範囲を内径部分とする。このとき、Z方向からみて、いずれの第1、第2コイル配線21,22についても、その内径部分同士は重ならない。一方、第1、第2コイル配線21,22は、それぞれの弧部分において、互いに離隔している。
第1、第2コイル配線21,22の第1から第4垂直配線51~54との接続位置からチップの外側に向かってさらに配線が伸びて、この配線はチップの外側に露出している。つまり、第1、第2コイル配線21,22は、インダクタ部品1の積層方向に平行な側面から外部に露出している露出部200を有する。
この配線は、インダクタ部品1の製造過程において、第1、第2コイル配線21,22の形状を形成後、追加で電解めっきを行う際の給電配線と接続される配線である。この給電配線によりインダクタ部品1を個片化する前のインダクタ基板状態において、追加で電解めっきを容易に行うことができ、配線間距離を狭くすることができる。また、追加で電解めっきを行うことで、第1、第2コイル配線21,22の配線間距離を狭くすることにより、第1、第2コイル配線21,22の磁気結合を高めることができる。
また、第1、第2コイル配線21,22は、露出部200を有するので、インダクタ基板の加工時の静電気破壊耐性を確保できる。各コイル配線21,22において、露出部200の露出面200aの厚みは、好ましくは、各コイル配線21,22の厚み以下で、かつ、45μm以上である。これによれば、露出面200aの厚みがコイル配線21,22の厚み以下であることにより、磁性層11,12の割合を増やすことができ、インダクタンスを向上できる。また、露出面200aの厚みが45μm以上であることにより、断線の発生を低減できる。露出面200aは、好ましくは、酸化膜である。これによれば、インダクタ部品1とその隣接部品との間でショートを抑制できる。
第1から第4垂直配線51~54は、各コイル配線21,22からZ方向に延在し、素体10の内部を貫通している。第1から第4垂直配線51~54は、導電性材料からなり、例えば、コイル配線21,22と同様の材料からなる。
第1垂直配線51は、第1コイル配線21の一端の上面から上側に延在し、樹脂層15の内部を貫通するビア導体25と、該ビア導体25から上側に延在し、第2磁性層12の内部を貫通する第1柱状配線31とを含む。第2垂直配線52は、第1コイル配線21の他端の上面から上側に延在し、樹脂層15の内部を貫通するビア導体25と、該ビア導体25から上側に延在し、第2磁性層12の内部を貫通する第2柱状配線32とを含む。
第3垂直配線53は、第2コイル配線22の一端の上面から上側に延在し、樹脂層15の内部を貫通するビア導体25と、該ビア導体25から上側に延在し、第2磁性層12の内部を貫通する第3柱状配線33とを含む。第4垂直配線54は、第2コイル配線22の他端の上面から上側に延在し、樹脂層15の内部を貫通するビア導体25と、該ビア導体25から上側に延在し、第2磁性層12の内部を貫通する第4柱状配線34とを含む。第1柱状配線31は、第4柱状配線34よりも第3柱状配線33の近くに位置する。
したがって、第1垂直配線51、第2垂直配線52、第3垂直配線53、第4垂直配線54は、第1コイル配線21、第2コイル配線22から上記第1主面10aから露出する端面まで、当該端面に直交する方向に直線状に伸びる。これにより、第1外部端子41、第2外部端子42、第3外部端子43、第4外部端子44と、第1コイル配線21、第2コイル配線22とをより短い距離で接続することができ、インダクタ部品1の低抵抗化や高インダクタンス化を実現できる。
第1から第4外部端子41~44は、素体10の第1主面10a(第2磁性層12の上面)に設けられている。第1から第4外部端子41~44は、導電性材料からなり、例えば、低電気抵抗かつ耐応力性に優れたCu、耐食性に優れたNi、はんだ濡れ性と信頼性に優れたAuが内側から外側に向かってこの順に並ぶ3層構成である。
第1外部端子41は、第1柱状配線31の素体10の第1主面10aから露出する端面に接触し、第1柱状配線31と電気的に接続されている。これにより、第1外部端子41は、第1コイル配線21の一端に電気的に接続される。第2外部端子42は、第2柱状配線32の素体10の第1主面10aから露出する端面に接触し、第2柱状配線32と電気的に接続されている。これにより、第2外部端子42は、第1コイル配線21の他端に電気的に接続される。
同様に、第3外部端子43は、第3柱状配線33の端面に接触し、第3柱状配線33と電気的に接続されて、第2コイル配線22の一端に電気的に接続される。第4外部端子44は、第4柱状配線34の端面に接触し、第4柱状配線34と電気的に接続されて、第2コイル配線22の他端に電気的に接続される。第1外部端子41は、第4外部端子44よりも第3外部端子43の近くに位置する。
インダクタ部品1では、第1主面10aは、長方形状の辺に相当する直線状に伸びる第1端縁101、第2端縁102を有する。第1端縁101、第2端縁102は、それぞれ素体10の第1側面10b、第2側面10cに続く第1主面10aの端縁である。第1外部端子41と第3外部端子43は、素体10の第1側面10b側の第1端縁101に沿って配列され、第2外部端子42と第4外部端子44は、素体10の第2側面10c側の第2端縁102に沿って配列されている。なお、素体10の第1主面10aに直交する方向からみて、素体10の第1側面10b,第2側面10cは、Y方向に沿った面であり、第1端縁101、第2端縁102と一致する。第1外部端子41と第3外部端子43の配列方向は、第1外部端子41の中心と第3外部端子43の中心を結ぶ方向とし、第2外部端子42と第4外部端子44の配列方向は、第2外部端子42の中心と第4外部端子44の中心を結ぶ方向とする。
絶縁膜50は、素体10の第1主面10aにおける第1から第4外部端子41~44が設けられていない部分に設けられている。ただし、絶縁膜50は第1から第4外部端子41~44の端部が乗り上げることで、第1から第4外部端子41~44と重なっていてもよい。絶縁膜50は、例えば、アクリル樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド等の電気絶縁性が高い樹脂材料から構成される。これにより、第1から第4外部端子41~44の間の絶縁性を向上できる。また、絶縁膜50が第1から第4外部端子41~44のパターン形成時のマスク代わりとなり、製造効率が向上する。また、絶縁膜50は、樹脂から金属磁性粉が露出していた場合に、当該露出する金属磁性粉を覆うことで、金属磁性粉の外部への露出を防止することができる。なお、絶縁膜50は、絶縁材料からなるフィラーを含有してもよい。
図2は、図1AのB-B断面図である。図2に示すように、第1コイル配線21の延在方向に直交し第1垂直配線51と交差する第1断面において、第1コイル配線21は、天面211と、天面211に対向する底面212と、天面211と底面212の間の左右の側面213,213とを有する。ビア導体25は、天面251と、天面251に対向する底面252と、天面251と底面252の間の左右の側面253,253とを有する。天面211,251は、素体10の第1主面10a側の面をいう。第1断面は、例えば、Z方向からみて第1垂直配線51の中心を通過する。
第1断面において、第1コイル配線21の天面211は、第1垂直配線51の底面(ビア導体25の底面252)と接触し、第1コイル配線21の天面211の形状は、第1主面10a側に凸となる凸曲面である。
これによれば、第1断面において、第1コイル配線21の天面211の形状は、凸曲面であるので、第1コイル配線21の天面211と第1垂直配線51の底面(ビア導体25の底面252)との接触面積を増加でき、第1コイル配線21と第1垂直配線51(ビア導体25)との接続信頼性を向上できる。これに対して、従来のようなインダクタ部品では、第1コイル配線の天面の形状は、平坦であるので、第1コイル配線の天面とビア導体の底面との接触面積が減少して、第1コイル配線とビア導体との接続信頼性が低下する。
また、第1断面において、第1コイル配線21の天面211の形状は、凸曲面であるので、第1コイル配線21の天面211と第1垂直配線51の側面(ビア導体25の側面253)との間の成す角度を大きくすることができ、第1コイル配線21の天面211と第1垂直配線51の側面(ビア導体25の側面253)との交点に集中する応力を緩和することができる。これに対して、従来のようなインダクタ部品では、第1コイル配線の天面の形状は、平坦であるので、第1コイル配線の天面とビア導体の側面との間の成す角度が小さくなり、第1コイル配線の天面とビア導体の側面との交点に応力が集中する。
また、ビア導体25は樹脂層15を貫通しているので、ビア導体25と樹脂層15の熱膨張係数の違いにより、ビア導体25はさらに応力を受けることになるが、このような状態でも、第1コイル配線21とビア導体25との接続信頼性を向上できる。
好ましくは、ビア導体25の底面252の面積は、ビア導体25の天面251の面積よりも小さい。つまり、第1断面において、ビア導体25の両側面253,253の幅は、天面251から底面252に向かって順に狭くなっており、第1断面における第1主面10aに平行な長さ(図2のY方向に沿った長さ)について、ビア導体25の底面252は、ビア導体25の天面251よりも短い。これによれば、ビア導体25の底面252の面積は小さくなるが、このような状態でも、第1コイル配線21とビア導体25との接続信頼性を向上できる。
好ましくは、第1断面において、第1コイル配線21の天面211の曲率(1/曲率半径r)は、1/8000m以上1/6000m以下である。これによれば、第1コイル配線21の天面211の曲率は、1/8000m以上であるので、第1コイル配線21の天面211と第1垂直配線51の側面(ビア導体25の側面253)との交点に集中する応力を確実に緩和できることが確認できている。また、第1コイル配線21の天面211の曲率は、1/6000m以下であるので、第1コイル配線21の天面211に第1垂直配線51を確実に形成できることが確認できている。
好ましくは、第1コイル配線21の延在方向に直交し第2垂直配線52と交差する第2断面において、第1コイル配線21の天面211は、第2垂直配線52の底面(ビア導体25の底面252)と接触し、第1コイル配線21の天面211の形状は、凸曲面である。これによれば、第2断面においても、第1コイル配線21の天面211の形状は、凸曲面であるので、第1コイル配線21の天面211と第2垂直配線52の底面(ビア導体25の底面252)との接触面積を増加でき、第1コイル配線21と第2垂直配線52(ビア導体25)との接続信頼性を向上できる。また、第2断面においても、第1コイル配線21の天面211の形状は、凸曲面であるので、第1コイル配線21の天面211と第2垂直配線52の側面(ビア導体25の側面253)との間の成す角度を大きくすることができ、第1コイル配線21の天面211と第2垂直配線52の側面(ビア導体25の側面253)との交点に集中する応力を緩和することができる。
なお、第2コイル配線22についても、第1コイル配線21と同様の構成であることが好ましく、その説明を省略する。
(製造方法)
次に、インダクタ部品1の製造方法について説明する。
まず、絶縁層61の上面61b上に、樹脂層15の一部を形成し、さらに、樹脂層15上にスパッタリングや無電解めっきなどによりシード層を形成する。次に、シード層上のコイル配線21,22となる場所に貫通孔を形成したレジストをシード層上に配置し、電解めっきにより、レジストの貫通孔に配線を形成する。さらに、レジスト及びシード層の不要部分を除去することでコイル配線21,22を形成する。このとき、コイル配線21,22の天面211の凸曲面は、レジスト除去後の追加的なめっき(増しめっき)などで、形成される。なお、凸曲面の曲率については、当該増しめっきの処理時間などで調整可能であるし、必要に応じてレジストなどを使って任意の曲率に成形してもよい。そして、各コイル配線21,22を覆うように、樹脂層15の残りの部分を形成する。そして、樹脂層15にレーザにより開口してビアホールを設け、コイル配線21,22から上方に延びるビア導体25および柱状配線31~34を形成する。この時、レーザの集光度合いによって、ビア導体25の両側面253,253の第1主面10aに対する傾きを調整することができ、したがって、ビア導体25の天面251と底面252の相対関係を調整することができる。なお、ビアホールはレーザによらず、エッチングやドリルなどで形成してもよい。
その後、磁性体材料からなる磁性シートを樹脂層15の上面に圧着して、樹脂層15を覆うように樹脂層15上に第2磁性層12を形成する。第2磁性層12を研磨し、柱状配線31~34の端面を露出させる。
その後、第2磁性層12の上面に、絶縁膜50を形成する。絶縁膜50における外部端子を形成する領域に、柱状配線31~34の端面および第2磁性層12が露出する貫通孔を形成する。
その後、絶縁層61を研磨により除去する。このとき、絶縁層61を完全に除去せず、一部を残す。磁性体材料からなる磁性シートを絶縁層61の研磨側の下面61aに圧着し適切な厚みに研磨して、第1磁性層11を形成する。
その後、無電解めっきにより、柱状配線31~34から絶縁膜50の貫通孔内に成長する金属膜を形成して、外部端子41~44を形成する。
(第2実施形態)
図3は、インダクタ部品の第2実施形態を示す断面図である。第2実施形態は、第1実施形態とは、コイル配線の形状が相違する。この相違する構成を以下に説明する。その他の構成は、第1実施形態と同じ構成であり、第1実施形態と同一の符号を付してその説明を省略する。
図3に示すように、第2実施形態のインダクタ部品では、第1断面において、第1コイル配線21Aの天面211は、第1垂直配線51の側面(ビア導体25の側面253)と交差し、第1垂直配線51の側面(ビア導体25の側面253)との交点211aにおける第1コイル配線21aの天面211に接する接線Lと、第1垂直配線51の側面(ビア導体25の側面253)との間の成す角度θは、65°以上77°以下である。
これによれば、第1コイル配線21Aの天面211と第1垂直配線51の側面との間の成す角度θは、65°以上であるので、第1コイル配線21Aの天面211と第1垂直配線51の側面との交点211aに集中する応力を確実に緩和できることが確認できている。また、第1コイル配線21Aの天面211と第1垂直配線51の側面との間の成す角度θは、77°以下であるので、第1コイル配線21Aの天面211に第1垂直配線51を確実に形成できることが確認できている。このときの上記角度θは前述の増しめっきやレーザの集光度合いなどによって、調整することができる。
なお、第1コイル配線21Aと第2垂直配線52の関係についても、第1コイル配線21Aと第1垂直配線51の関係と同様の構成であることが好ましく、その説明を省略する。また、第2コイル配線についても、第1コイル配線21Aと同様の構成であることが好ましく、その説明を省略する。
なお、本開示は上述の実施形態に限定されず、本開示の要旨を逸脱しない範囲で設計変更可能である。例えば、第1と第2実施形態のそれぞれの特徴点を様々に組み合わせてもよい。例えば、コイル配線の天面の曲率は、1/8000m以上1/6000m以下であり、かつ、コイル配線の天面における第1垂直配線の側面との交点での接線と、第1垂直配線の側面との間の成す角度は、65°以上77°以下であってもよい。
前記実施形態では、素体内には第1コイル配線および第2コイル配線の2つが配置されているが、1つまたは3つ以上のコイル配線が配置されていてもよい。
前記実施形態では、コイル配線のターン数は、1周未満であるが、コイル配線のターン数が、1周を超える曲線であってもよい。つまり、コイル配線の形状に限定はなく、公知の様々な形状を用いることができる。また、コイル配線の総数は、1層に限られず、2層以上の多層構成であってもよい。
特に、本明細書において、「コイル配線」とは、電流が流れた場合に磁性層に磁束を発生させることによって、インダクタ部品にインダクタンスを付与させるものであって、その構造、形状、材料などに特に限定はない。具体的には、実施の形態のような平面上を延びるスパイラル状の曲線に限られず、ミアンダ配線などの公知の様々な配線形状を用いることができる。
前記実施形態では、樹脂層は、第1コイル配線および第2コイル配線を一体に覆うが、第1コイル配線および第2コイル配線のそれぞれを個別に覆うようにしてもよい。また、素体を構成する層数は、特に限定されず、また、磁性層のみ、絶縁層のみなどの1層構造や多層構造などであってもよい。
前記実施形態では、垂直配線は、樹脂層を貫通するビア導体と磁性層を貫通する柱状配線から構成されるが、何れか一方から構成されていてもよい。例えば、樹脂層を設けない場合、垂直配線は、磁性層のみを貫通するので、垂直配線は、柱状配線から構成される。一方、垂直配線が、樹脂層のみを貫通する場合、垂直配線は、ビア導体から構成される。また、柱状配線の形状は、Z方向からみて、矩形であるが、円形や楕円形や長円形であってもよい。
1 インダクタ部品
10 素体
10a 第1主面
11 第1磁性層
12 第2磁性層
15 樹脂層
21、21A 第1コイル配線
211 天面
211a 交点
212 底面
213 側面
22 第2コイル配線
25 ビア導体
251 天面
252 底面
253 側面
31 第1柱状配線
32 第2柱状配線
33 第3柱状配線
34 第4柱状配線
41 第1外部端子
42 第2外部端子
43 第3外部端子
44 第4外部端子
50 絶縁膜
51 第1垂直配線
52 第2垂直配線
61 絶縁層
L 接線
r 曲率半径

Claims (2)

  1. 素体と、
    前記素体内に前記素体の第1主面に平行に配置されたコイル配線と、
    前記素体の第1主面から端面が露出するように前記素体に埋め込まれ、前記コイル配線に電気的に接続された第1垂直配線および第2垂直配線と
    を備え、
    前記素体は、前記コイル配線を覆う樹脂層を含み、
    前記第1垂直配線および前記第2垂直配線は、それぞれ、前記樹脂層を貫通して前記コイル配線の天面に接触するビア導体を含み、
    前記コイル配線の延在方向に直交し前記第1垂直配線と交差する第1断面において、
    前記コイル配線の天面は、前記ビア導体の底面と接触し、前記コイル配線の天面の形状は、凸曲面であり、
    前記第1断面における前記第1主面に平行な長さについて、前記ビア導体の底面は、前記ビア導体の天面よりも短く、
    前記第1断面において、前記コイル配線の天面の曲率は、1/8000m以上1/6000m以下であり、
    前記第1断面において、前記コイル配線の天面は、前記ビア導体の側面と交差し、前記ビア導体の側面との交点における前記コイル配線の天面に接する接線と、前記ビア導体の側面との間の成す角度は、65°以上77°以下である、インダクタ部品。
  2. 前記コイル配線の延在方向に直交し前記第2垂直配線と交差する第2断面において、
    前記コイル配線の天面は、前記第2垂直配線の底面と接触し、前記コイル配線の天面の形状は、凸曲面である、請求項1に記載のインダクタ部品。
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