JP7319809B2 - 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム - Google Patents
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Description
図1のブロック図を参照して、第1実施形態に係る放射線撮像システムの構成例について説明する。放射線撮像システムは、例えば、放射線発生装置10と、放射線制御装置20と、コンピュータ30と、放射線撮像装置40と、を有する。放射線発生装置10は、放射線を発生し、放射線撮像装置40へ向けて照射する。放射線制御装置20は、放射線発生装置10による放射線の照射開始及び照射停止を制御する。放射線撮像装置40は、放射線発生装置10と放射線撮像装置40との間に配置された被写体の情報を含む放射線画像を生成し、コンピュータ30へ送信する。コンピュータ30は、放射線画像の表示や、放射線撮像装置40の動作の制御を行う。
X1(k)=S(k)-N(k-1)
X1(k)=S(k)-{N(k)+N(k-1)}/2
上記の式に代えて、処理部43は、X(k)を算出するためにS(k-1)やN(k-2)のような隣接しない駆動線Gに対する信号値を使用してもよいし、他の演算処理(四則演算や微積分)を行ってもよい。
このようにして得られるX2(k)では、高周波の外来ノイズ、低周波の外来ノイズ及びスイッチングノイズの何れも低減されている。処理部43は、X2(k)を所定の閾値と比較することによって、画素アレイ101に放射線が照射されているか否かを判定する。
第2実施形態に係る放射線撮像システムについて説明する。第2実施形態は、信号値S(k)及び信号値N(k)の算出方法が第1実施形態と異なる。他の点は同様であってもよいため、重複する説明を省略する。信号値N(k)の算出方法は信号値S(k)の算出方法と同様であってもよいため、以下では信号値S(k)の算出方法について説明する。
第3実施形態に係る放射線撮像システムについて説明する。第3実施形態は、複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法が第1実施形態と異なる。他の点は同様であってもよいため、重複する説明を省略する。複数の信号値n(0)~n(4)における外れ値の特定方法は複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法と同様であってもよいため、以下では複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法について説明する。
第4実施形態に係る放射線撮像システムについて説明する。第4実施形態は、複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法が第1実施形態と異なる。他の点は同様であってもよいため、重複する説明を省略する。複数の信号値n(0)~n(4)における外れ値の特定方法は複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法と同様であってもよいため、以下では複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法について説明する。
第5実施形態に係る放射線撮像システムについて説明する。第5実施形態は、複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法が第1実施形態と異なる。他の点は同様であってもよいため、重複する説明を省略する。複数の信号値n(0)~n(4)における外れ値の特定方法は複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法と同様であってもよいため、以下では複数の信号値s(0)~s(4)における外れ値の特定方法について説明する。
ただし、max{}は引数のうちの小さくない方の表す関数であり、[]はフロア関数である。これに代えて、個数Xは事前に設定された値であってもよい。
Claims (11)
- 放射線を電荷に変換する変換素子及び前記変換素子を信号線に接続するスイッチ素子を含む複数の画素が複数の行および複数の列を構成するように配列された画素アレイと、
前記複数の画素の前記変換素子にバイアス電位を与えるためのバイアス線と、
前記複数の画素の前記スイッチ素子の制御端子に、前記スイッチ素子を導通状態にするオン電圧を供給するための複数の駆動線と、
ある1つ以上の駆動線へ前記オン電圧を供給した後、時間をおいて、別の1つ以上の駆動線へ前記オン電圧を供給することによって、前記複数の駆動線に循環的に前記オン電圧を供給する駆動部と、
前記複数の駆動線の少なくとも1つに連続して前記オン電圧が供給されている期間内の複数の時点のそれぞれにおいて前記バイアス線に流れる電流を表す第1信号値を取得することによって複数の第1信号値を取得し、前記複数の駆動線の何れにも連続して前記オン電圧が供給されていない期間内の複数の時点のそれぞれにおいて前記バイアス線に流れる電流を表す第2信号値を取得することによって複数の第2信号値を取得する取得部と、
前記複数の第1信号値における外れ値と前記複数の第2信号値における外れ値とを特定し、前記複数の第1信号値のうち外れ値であると特定された第1信号値と前記複数の第2信号値のうち外れ値であると特定された第2信号値とに基づかず外れ値以外の第1信号値と第2信号値とに基づいて、前記画素アレイへの放射線照射の有無を判定する処理部と、
を備えることを特徴とする放射線撮像装置。 - 前記処理部は、前記複数の第1信号値のうち基準範囲に含まれない第1信号値を外れ値であると特定することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記基準範囲は、前記複数の第1信号値に基づいて決定されることを特徴とする請求項2に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、前記複数の第1信号値の変化量に基づいて前記複数の第1信号値における外れ値を特定することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、前記複数の第1信号値のうち所定の個数又は所定の比率の第1信号値を外れ値であると特定することを特徴とする請求項1に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、前記複数の第1信号値に外れ値が含まれない場合に前記複数の第1信号値に施す演算処理を、前記複数の第1信号値のうち外れ値以外の第1信号値に施すことによって、前記画素アレイへの放射線照射の有無を判定するための情報を生成することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記処理部は、前記複数の第1信号値に外れ値が含まれない場合に前記複数の第1信号値に施す演算処理を、外れ値であると特定された第1信号値を他の値に置き換えた後の前記複数の第1信号値に施すことによって、前記画素アレイへの放射線照射の有無を判定するための情報を生成することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の放射線撮像装置。
- 前記演算処理は、加算平均を含むことを特徴とする請求項6又は7に記載の放射線撮像装置。
- 前記放射線撮像装置は、ノイズを検知するためのセンサを更に備え、
前記取得部は、前記複数の第1信号値の取得と同期して前記センサから複数の第3信号値を取得し、
前記処理部は、
前記複数の第3信号値における外れ値を特定し、
前記複数の第3信号値のうち外れ値であると特定された第3信号値に対応する第1信号値を外れ値であると特定する
ことを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載の放射線撮像装置。 - 請求項1乃至9の何れか1項に記載の放射線撮像装置と、
前記放射線撮像装置から出力される信号を処理するプロセッサと
を備えることを特徴とする放射線撮像システム。 - 放射線撮像装置の制御方法であって、前記放射線撮像装置は、
放射線を電荷に変換する変換素子及び前記変換素子を信号線に接続するスイッチ素子を含む複数の画素が複数の行および複数の列を構成するように配列された画素アレイと、
前記複数の画素の前記変換素子にバイアス電位を与えるためのバイアス線と、
前記複数の画素の前記スイッチ素子の制御端子に、前記スイッチ素子を導通状態にするオン電圧を供給するための複数の駆動線と、
ある1つ以上の駆動線へ前記オン電圧を供給した後、時間をおいて、別の1つ以上の駆動線へ前記オン電圧を供給することによって、前記複数の駆動線に循環的に前記オン電圧を供給する駆動部と、を備え、
前記制御方法は、
前記複数の駆動線の少なくとも1つに連続して前記オン電圧が供給されている期間内の複数の時点のそれぞれにおいて前記バイアス線に流れる電流を表す第1信号値を取得することによって複数の第1信号値を取得し、前記複数の駆動線の何れにも連続して前記オン電圧が供給されていない期間内の複数の時点のそれぞれにおいて前記バイアス線に流れる電流を表す第2信号値を取得することによって複数の第2信号値を取得する取得工程と、
前記複数の第1信号値における外れ値と前記複数の第2信号値における外れ値とを特定し、前記複数の第1信号値のうち外れ値であると特定された第1信号値と前記複数の第2信号値のうち外れ値であると特定された第2信号値とに基づかず外れ値以外の第1信号値と第2信号値とに基づいて、前記画素アレイへの放射線照射の有無を判定する処理工程と、
を有することを特徴とする制御方法。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007113995A (ja) | 2005-10-19 | 2007-05-10 | Aloka Co Ltd | 放射線測定装置 |
JP2007285914A (ja) | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 放射線測定装置及びノイズ除去方法 |
US20120114099A1 (en) | 2010-11-09 | 2012-05-10 | Fujifilm Corporation | Radiation image detecting device and method for controlling the same |
JP2013088410A (ja) | 2011-10-24 | 2013-05-13 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
JP2014168203A (ja) | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Canon Inc | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP2018102729A (ja) | 2016-12-27 | 2018-07-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
JP2018198389A (ja) | 2017-05-24 | 2018-12-13 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム |
Family Cites Families (74)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56160676A (en) * | 1980-05-15 | 1981-12-10 | Toshiba Corp | Counting method of radiation |
JPH07140253A (ja) * | 1993-11-19 | 1995-06-02 | Mitsubishi Electric Corp | 放射線モニタ |
WO2000065825A1 (en) | 1999-04-26 | 2000-11-02 | Simage Oy | Self triggered imaging device for imaging radiation |
US7211803B1 (en) * | 2006-04-24 | 2007-05-01 | Eastman Kodak Company | Wireless X-ray detector for a digital radiography system with remote X-ray event detection |
WO2010073894A1 (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-01 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 可搬型放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
WO2011001705A1 (ja) * | 2009-07-01 | 2011-01-06 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
WO2011010480A1 (ja) * | 2009-07-24 | 2011-01-27 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
WO2011016262A1 (ja) * | 2009-08-07 | 2011-02-10 | コニカミノルタエムジー株式会社 | 放射線画像撮影装置 |
CN102792184B (zh) * | 2010-03-09 | 2014-10-29 | 株式会社岛津制作所 | 二维阵列x射线检测器的检查方法 |
JP5764468B2 (ja) * | 2010-11-26 | 2015-08-19 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置、及び放射線画像撮影システム |
JP5702704B2 (ja) * | 2010-11-26 | 2015-04-15 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置、及び放射線画像撮影システム |
JP5208186B2 (ja) * | 2010-11-26 | 2013-06-12 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置およびその駆動制御方法 |
JP2012118312A (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-21 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置およびその駆動制御方法 |
JP5283718B2 (ja) * | 2011-02-09 | 2013-09-04 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線画像検出装置に用いられるゲイン設定方法 |
JP5838702B2 (ja) * | 2011-02-23 | 2016-01-06 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影システム |
JP6034786B2 (ja) * | 2011-07-26 | 2016-11-30 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影装置及びその制御方法、並びに放射線画像検出装置 |
JP5657491B2 (ja) * | 2011-08-31 | 2015-01-21 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影プログラム、及び放射線画像撮影方法 |
JP5749609B2 (ja) * | 2011-09-05 | 2015-07-15 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システム、並びに線源制御装置 |
JP5897020B2 (ja) * | 2011-09-27 | 2016-03-30 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システムおよびその作動方法、並びに放射線画像検出装置 |
JP5676405B2 (ja) * | 2011-09-27 | 2015-02-25 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、プログラムおよび放射線画像撮影方法 |
EP2762077B1 (en) * | 2011-09-29 | 2017-12-20 | Fujifilm Corporation | Radiation imaging system, control method therefor and radiograph detection equipment |
WO2013125113A1 (ja) * | 2012-02-22 | 2013-08-29 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影制御装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影制御プログラム |
JP5904681B2 (ja) * | 2012-04-13 | 2016-04-20 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システム及びその作動方法 |
JP5890344B2 (ja) * | 2012-04-20 | 2016-03-22 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線撮影システム |
JP5969950B2 (ja) * | 2012-04-20 | 2016-08-17 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置及び放射線撮影システム |
JP5975733B2 (ja) * | 2012-05-25 | 2016-08-23 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置およびその駆動制御方法、並びに放射線撮影システム |
JP5270790B1 (ja) * | 2012-05-30 | 2013-08-21 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法 |
JP5988735B2 (ja) * | 2012-07-06 | 2016-09-07 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム |
JP5988736B2 (ja) * | 2012-07-06 | 2016-09-07 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置の制御方法、放射線撮像装置、及び、放射線撮像システム |
JP5832966B2 (ja) * | 2012-07-17 | 2015-12-16 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線の照射開始の検出感度制御方法およびプログラム |
JP5808365B2 (ja) * | 2012-07-27 | 2015-11-10 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置、並びに放射線撮影システムおよびその作動方法 |
JP5860003B2 (ja) * | 2012-07-27 | 2016-02-16 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置、並びに放射線撮影システムおよびその作動方法 |
JP5984306B2 (ja) * | 2012-08-22 | 2016-09-06 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システムおよびこれに用いられる信号中継装置 |
JP2014049983A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Canon Inc | 放射線撮像装置、その制御方法及びプログラム |
JP2014048204A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Canon Inc | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP5859934B2 (ja) * | 2012-09-04 | 2016-02-16 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システム並びにその作動方法、および放射線画像検出装置並びにその作動プログラム |
JP5890286B2 (ja) * | 2012-09-18 | 2016-03-22 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置 |
JP6041669B2 (ja) * | 2012-12-28 | 2016-12-14 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像システム |
JP5945513B2 (ja) * | 2013-02-20 | 2016-07-05 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像処理装置および方法、並びに放射線撮影装置 |
JP6016673B2 (ja) * | 2013-02-28 | 2016-10-26 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP5986524B2 (ja) * | 2013-02-28 | 2016-09-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
US9788809B2 (en) * | 2013-03-06 | 2017-10-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus, method and computer-readable medium storing program for radiographic imaging with elapsed time control of radiation sensor apparatus |
WO2014208722A1 (ja) * | 2013-06-28 | 2014-12-31 | キヤノン株式会社 | 撮影情報処理装置、x線撮影装置、x線撮影システム、制御方法、および制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラム |
JP5937552B2 (ja) * | 2013-09-09 | 2016-06-22 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影システムおよびその作動方法 |
JP6138754B2 (ja) * | 2014-03-03 | 2017-05-31 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影装置の制御プログラム |
JP6208600B2 (ja) * | 2014-03-03 | 2017-10-04 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
US9569829B2 (en) * | 2014-04-25 | 2017-02-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, radiation imaging apparatus, control methods for them, gain image creation method, radiation imaging system, and storage medium |
JP6362421B2 (ja) * | 2014-05-26 | 2018-07-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、その制御方法およびプログラム |
JP2015230197A (ja) * | 2014-06-04 | 2015-12-21 | コニカミノルタ株式会社 | X線画像撮影装置 |
JP6577700B2 (ja) * | 2014-06-30 | 2019-09-18 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、その制御方法、放射線撮影装置、およびプログラム |
JP6491434B2 (ja) * | 2014-08-12 | 2019-03-27 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線検出システム |
US10180501B2 (en) * | 2014-11-27 | 2019-01-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Radiation detector |
JP6525579B2 (ja) * | 2014-12-22 | 2019-06-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6366542B2 (ja) * | 2015-06-17 | 2018-08-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよび照射開始検出方法 |
JP6572025B2 (ja) * | 2015-07-02 | 2019-09-04 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及びその制御方法 |
JP6763186B2 (ja) * | 2016-04-08 | 2020-09-30 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影システム |
JP6706963B2 (ja) * | 2016-04-18 | 2020-06-10 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及び、放射線撮像装置の制御方法 |
JP6780291B2 (ja) * | 2016-05-16 | 2020-11-04 | コニカミノルタ株式会社 | X線画像撮影装置 |
JP2017205229A (ja) * | 2016-05-17 | 2017-11-24 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置およびその制御方法 |
JP6852287B2 (ja) * | 2016-06-07 | 2021-03-31 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
JP6465845B2 (ja) * | 2016-09-15 | 2019-02-06 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影システムおよび制御方法 |
JP6537481B2 (ja) * | 2016-10-05 | 2019-07-03 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6815836B2 (ja) * | 2016-11-07 | 2021-01-20 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置 |
JP6420812B2 (ja) * | 2016-11-25 | 2018-11-07 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP6775408B2 (ja) * | 2016-12-20 | 2020-10-28 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP6974948B2 (ja) * | 2017-02-10 | 2021-12-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
JP6853729B2 (ja) * | 2017-05-08 | 2021-03-31 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム |
JP6888416B2 (ja) * | 2017-05-22 | 2021-06-16 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム |
CN110869809B (zh) * | 2017-07-10 | 2023-07-25 | 佳能株式会社 | 放射线成像装置和放射线成像*** |
JP6934769B2 (ja) * | 2017-07-28 | 2021-09-15 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
JP7045834B2 (ja) * | 2017-11-10 | 2022-04-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
JP6991835B2 (ja) * | 2017-11-10 | 2022-01-13 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
JP6934834B2 (ja) * | 2018-04-02 | 2021-09-15 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置及びプログラム |
JP7378245B2 (ja) * | 2019-08-29 | 2023-11-13 | キヤノン株式会社 | 放射線検出装置、その制御方法及び放射線撮像システム |
-
2019
- 2019-03-29 JP JP2019068563A patent/JP7319809B2/ja active Active
-
2020
- 2020-03-19 US US16/823,585 patent/US11460591B2/en active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007113995A (ja) | 2005-10-19 | 2007-05-10 | Aloka Co Ltd | 放射線測定装置 |
JP2007285914A (ja) | 2006-04-18 | 2007-11-01 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 放射線測定装置及びノイズ除去方法 |
US20120114099A1 (en) | 2010-11-09 | 2012-05-10 | Fujifilm Corporation | Radiation image detecting device and method for controlling the same |
JP2012100807A (ja) | 2010-11-09 | 2012-05-31 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置およびその駆動制御方法 |
JP2013088410A (ja) | 2011-10-24 | 2013-05-13 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム |
JP2014168203A (ja) | 2013-02-28 | 2014-09-11 | Canon Inc | 放射線撮像装置及び放射線撮像システム |
JP2018102729A (ja) | 2016-12-27 | 2018-07-05 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像システム |
JP2018198389A (ja) | 2017-05-24 | 2018-12-13 | コニカミノルタ株式会社 | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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