JP5676405B2 - 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、プログラムおよび放射線画像撮影方法 - Google Patents
放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、プログラムおよび放射線画像撮影方法 Download PDFInfo
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Description
まず、図1を参照して、本実施の形態に係る放射線情報システム(以下、「RIS」(Radiology Information System)という。)100の構成について説明する。
次に、本発明の第2の実施の形態について詳細に説明する。なお、本第2の実施の形態に係る撮影システム104の構成は、上記第1の実施の形態と同様であるので、ここでの説明は省略する。また、本第2の実施の形態に係る放射線画像の撮影を行う際のコンソール110の作用も上記第1の実施の形態と同様であるので、ここでの説明は省略する。
32 画素
32A 放射線検出用画素
32B 放射線画像取得用画素
40 電子カセッテ
58 カセッテ制御部
58A CPU(制御手段)
70 電源部(印加手段)
72A,72B スイッチ(切替手段)
72’ 切替部(切替手段)
X 放射線
Claims (12)
- 放射線の照射状態を検出するための放射線検出用画素と放射線画像を撮影するための放射線画像取得用画素とが各々複数配置され、前記複数の放射線検出用画素が、前記複数の放射線画像取得用画素の間に配置されている放射線検出器と、
前記放射線検出用画素の各々および前記放射線画像取得用画素の各々にバイアス電圧を印加する印加手段と、
前記放射線検出用画素にバイアス電圧が印加された第1状態で前記放射線検出用画素により検出された放射線の照射量が予め定められた第1閾値以上となった時点で前記放射線検出用画素に印加されたバイアス電圧が低下される第2状態に遷移するように前記印加手段を制御する制御手段と、
を備えた放射線画像撮影装置。 - 前記第1状態は、前記放射線検出用画素にバイアス電圧が印加され、かつ前記放射線画像取得用画素にバイアス電圧が印加されない状態であり、
前記第2状態は、前記放射線検出用画素に印加されたバイアス電圧が低下され、かつ前記放射線画像取得用画素にバイアス電圧が印加される状態である
請求項1記載の放射線画像撮影装置。 - 前記制御手段は、前記第1状態で前記放射線検出用画素により検出された放射線の照射量の増加の勾配が予め定められた第2閾値以上である場合に前記制御を行う
請求項1または請求項2記載の放射線画像撮影装置。 - 前記制御手段は、前記第1状態で前記放射線検出用画素により検出された放射線の照射量の増加の勾配が前記第2閾値未満であり、かつ当該照射量が前記第1閾値より大きな第3閾値以上となった場合に前記制御を行う
請求項3記載の放射線画像撮影装置。 - 前記制御手段は、放射線画像の撮影条件を示す撮影情報に基づいて前記制御を行うか否かを切り替える
請求項1から請求項4の何れか1項記載の放射線画像撮影装置。 - 前記放射線検出用画素は、前記放射線画像取得用画素に対して放射線検出用の薄膜トランジスタが追加された画素である
請求項1から請求項5の何れか1項記載の放射線画像撮影装置。 - 前記放射線検出用画素は、前記放射線画像取得用画素のセンサ部の領域の一部が放射線の照射状態を検出するための領域として分割されて構成された画素である
請求項1から請求項5の何れか1項記載の放射線画像撮影装置。 - 前記第2状態における前記放射線検出用画素に印加されたバイアス電圧が低下される状態は、前記放射線検出用画素に前記バイアス電圧より低く、かつ当該バイアス電圧が印加されない状態より高いバイアス電圧が印加される状態、前記放射線検出用画素にバイアス電圧が印加されない状態、および前記放射線検出用画素に逆極性のバイアス電圧が印加される状態の何れか1つの状態である
請求項1から請求項7の何れか1項記載の放射線画像撮影装置。 - 前記第2状態における前記放射線検出用画素に印加されたバイアス電圧が低下される状態は、前記放射線検出用画素にバイアス電圧が印加されない状態であり、
前記印加手段は、
前記放射線検出用画素および前記放射線画像取得用画素に共通のバイアス電圧を生成する電源部と、
前記電源部によって生成された単一のバイアス電圧の供給先を、前記放射線検出用画素および前記放射線画像取得用画素の何れか一方に選択的に切り替える切替手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記第1状態から前記第2状態への遷移を、前記切替手段への切り替えによって行う
請求項8記載の放射線画像撮影装置。 - 放射線の照射状態を検出するための放射線検出用画素と放射線画像を撮影するための放射線画像取得用画素とが各々複数配置され、前記複数の放射線検出用画素が、前記複数の放射線画像取得用画素の間に配置されている放射線検出器、および前記放射線検出用画素の各々および前記放射線画像取得用画素の各々にバイアス電圧を印加する印加手段を備えた放射線画像撮影装置と、
前記放射線検出用画素にバイアス電圧が印加された第1状態で前記放射線検出用画素により検出された放射線の照射量が予め定められた第1閾値以上となった時点で前記放射線検出用画素に印加されたバイアス電圧が低下される第2状態に遷移するように前記印加手段を制御する制御装置と、
を有する放射線画像撮影システム。 - 放射線の照射状態を検出するための放射線検出用画素と放射線画像を撮影するための放射線画像取得用画素とが各々複数配置され、前記複数の放射線検出用画素が、前記複数の放射線画像取得用画素の間に配置されている放射線検出器、および前記放射線検出用画素の各々および前記放射線画像取得用画素の各々にバイアス電圧を印加する印加手段を備えた放射線画像撮影装置により実行されるプログラムであって、
コンピュータを、
前記放射線検出用画素にバイアス電圧が印加された第1状態で前記放射線検出用画素により検出された放射線の照射量が予め定められた第1閾値以上となったか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって前記照射量が予め定められた第1閾値以上になったと判定された時点で前記放射線検出用画素に印加されたバイアス電圧が低下される第2状態に遷移するように前記印加手段を制御する制御手段と、
として機能させるためのプログラム。 - 放射線の照射状態を検出するための放射線検出用画素と放射線画像を撮影するための放射線画像取得用画素とが各々複数配置され、前記複数の放射線検出用画素が、前記複数の放射線画像取得用画素の間に配置されている放射線検出器における前記放射線検出用画素にバイアス電圧が印加された第1状態で前記放射線検出用画素により検出された放射線の照射量が予め定められた第1閾値以上となったか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程によって前記照射量が予め定められた第1閾値以上になったと判定された時点で前記放射線検出用画素に印加されたバイアス電圧が低下される第2状態に遷移するように制御する制御工程と、
を有する放射線画像撮影方法。
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