JP6958345B2 - 外観検査装置 - Google Patents
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Description
4:電極膜
10:外観検査装置
12:ステージ
14:カメラ
16:プロセッサ
20:第1マスタ画像
22:第2マスタ画像
30:境界線
32:第1領域
34:第2領域
Claims (1)
- 半導体素子の上面を外観検査する外観検査装置であって、前記半導体素子は、前記上面に露出するとともに前記上面の一部に設けられた電極膜を有し、
前記外観検査装置は、
前記半導体素子の前記上面を撮影するカメラと、
前記カメラによって撮影された撮影画像を処理する処理装置と、を備え、
前記処理装置は、
前記電極膜を許容範囲の最大の大きさで形成した前記半導体素子の前記上面を撮影した第1マスタ画像と、前記電極膜形成前の前記半導体素子の前記上面を撮影した第2マスタ画像とを記憶する記憶部と、
前記撮影画像に対して境界線抽出を実行し、前記撮影画像において前記電極膜が形成されている第1領域と前記電極膜が形成されていない第2領域とを識別する識別部と、
前記第1領域と前記第1マスタ画像との間の差分を演算すると共に、前記第2領域と前記第2マスタ画像との間の差分を演算する演算部とを有する、
外観検査装置。
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JP2017251449A JP6958345B2 (ja) | 2017-12-27 | 2017-12-27 | 外観検査装置 |
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JP2017251449A JP6958345B2 (ja) | 2017-12-27 | 2017-12-27 | 外観検査装置 |
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