JP6955977B2 - チップの形成方法 - Google Patents

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本発明は、表面にデバイスを有し裏面に金属層を有したチップの形成方法に関する。
デバイスウェーハなどの被加工物は、その表面において格子状の分割予定ラインによって区画された領域にそれぞれデバイスが形成されており、分割予定ラインに沿って分割することによって、デバイスを有する個々のチップに分割される。例えば、裏面に金属層が形成されたデバイスウェーハを切削ブレードで切削することにより分割すると、切削ブレードが目詰まりするため、デバイスウェーハに大きなチッピングやクラックが発生する上、切削ブレードが破損するおそれもある。そのため、例えば下記の特許文献1に示す分割方法が提案されている。この分割方法においては、分割予定ラインに沿って加工溝が形成されたデバイスウェーハをシートに貼着してから、シートの四辺を挟持してエキスパンドすることにより加工溝を起点にデバイスウェーハを個々のチップに分割することができる。
特開2010−182901号公報
しかし、デバイスウェーハに形成された金属層は、延性があるため、上記した分割方法では分割されにくいという問題がある。
本発明の目的は、加工品質を悪化させることなく切削ブレードの目詰まりを防止しうるチップの形成方法を提供することである。
本発明は、表面にデバイスを有し裏面に金属層を有したチップの形成方法であって、表面の交差する複数の分割予定ラインで区画された各領域にそれぞれデバイスが形成されたデバイスウェーハの裏面を研削して該チップの仕上げ厚みへと薄化する薄化ステップと、該薄化ステップを実施した後、デバイスウェーハの該裏面に金属ペーストを介してドレスウェーハを配設して複合ウェーハを形成するドレスウェーハ配設ステップと、該ドレスウェーハ配設ステップを実施した後、該複合ウェーハの該表面から切削ブレードを該ドレスウェーハに至るまで切り込ませつつ該切削ブレードで該分割予定ラインに沿って該金属ペーストとともにデバイスウェーハを切断する切断ステップと、該切断ステップを実施した後、該金属ペーストに至るまで該複合ウェーハの裏面を研削することで該ドレスウェーハを除去するドレスウェーハ除去ステップと、を備えた。
上記ドレスウェーハは、上記デバイスウェーハと同じ材質からなることが好ましい。
本発明に係るチップの形成方法は、表面の交差する複数の分割予定ラインで区画された各領域にそれぞれデバイスが形成されたデバイスウェーハの裏面を研削してチップの仕上げ厚みへと薄化する薄化ステップと、薄化ステップを実施した後、デバイスウェーハの裏面に金属ペーストを介してドレスウェーハを配設して複合ウェーハを形成するドレスウェーハ配設ステップと、ドレスウェーハ配設ステップを実施した後、複合ウェーハの表面から切削ブレードをドレスウェーハに至るまで切り込ませつつ切削ブレードで分割予定ラインに沿って金属ペーストとともにデバイスウェーハを切断する切断ステップと、切断ステップを実施した後、金属ペーストに至るまで複合ウェーハの裏面を研削することでドレスウェーハを除去するドレスウェーハ除去ステップとを備えたため、たとえ延性の高い金属ペーストを切削ブレードで切削しても、切削ブレードがデバイスウェーハと金属ペーストとを切断した直後にドレスウェーハを切削するため、切削ブレードの自生発刃が促進され、切削ブレードに目詰まりが生じることがなく、大きなチッピングやクラックも発生するおそれがない。したがって、本発明によれば、良好な加工品質を具備する金属ペースト付きのチップを取得することができる。
上記ドレスウェーハが、上記デバイスウェーハと同じ材質からなる場合は、上記切断ステップを実施するときに、上記切削ブレードの自生発刃作用をより促進させ、切削ブレードの切れ味を一定に維持することができる。
デバイスウェーハの一例の構成を示す斜視図である。 表面保護部材配設ステップを示す断面図である。 薄化ステップを示す斜視図である。 ドレスウェーハ配設ステップを示す断面図である。 表面保護部材除去ステップを示す断面図である。 切断ステップを示す斜視図である。 第2表面保護部材配設ステップを示す断面図である。 ドレスウェーハ除去ステップを示す斜視図である。 ドレスウェーハが除去されたデバイスウェーハの構成を示す断面図である。 転写ステップを示す断面図である。 ピックアップステップを示す断面図である。
図1に示すデバイスウェーハWは、円形板状の基板を有する被加工物の一例であって、その表面Waに格子状の複数の分割予定ラインSによって区画された各領域にそれぞれデバイスDが形成されている。デバイスウェーハWの表面Waと反対側の裏面Wbは、研削等による加工が施される被加工面である。デバイスウェーハWを構成する基板の材質は、特に限定されず、例えば、シリコン(Si)、シリコンカーバイド(SiC)、ガラス、セラミックス、サファイア等である。本実施形態に示すデバイスウェーハWの裏面Wbには、後述する金属層が形成されている。以下では、デバイスウェーハWを、表面WaにデバイスDを有し裏面Wbに金属層を有したチップに形成するチップの形成方法について説明する。
(1) 表面保護部材配設ステップ
図2に示すように、デバイスウェーハWの表面Waに表面保護部材1を貼着する。表面保護部材1は、少なくともデバイスウェーハWと略同径の大きさを有し、例えばポリオレフィンやポリ塩化ビニル、ポリエチレンタフタレートなどの樹脂からなる基材上にアクリル系やゴム系の樹脂からなる糊層から構成された表面保護テープである。表面保護部材1をデバイスウェーハWの表面Waに貼着して、その表面Waの全面を覆うことにより、各デバイスDを保護する。表面保護部材1は、表面保護テープに限定されず、ガラスやシリコンウェーハなどのハードプレートで構成してもよい。
(2) 薄化ステップ
図3に示すように、例えば、デバイスウェーハWを保持テーブル20の保持面21で保持し、保持テーブル20の上方側に配設された研削手段10によってデバイスウェーハWの裏面Wbを研削してチップの仕上げ厚みへと薄化する。研削手段10は、保持面21と直交する鉛直方向の軸心を有するスピンドル11と、スピンドル11の下端にマウント12を介して装着された研削ホイール13と、研削ホイール13の下部に環状に固着された研削砥石14とを備えている。研削手段10には、図示しない昇降手段が接続され、昇降手段によって研削ホイール13を回転させながら研削手段10の全体を昇降させることができる。
デバイスウェーハWを研削する場合は、デバイスウェーハWの表面Waに貼着された表面保護部材1側を保持テーブル20の保持面21で保持して、デバイスウェーハWの裏面Wbを上向きに露出させ、保持テーブル20を例えば矢印A方向に回転させる。次いで、研削手段10は、研削ホイール13を例えば矢印A方向に回転させながら、所定の研削送り速度で下降させ、回転する研削砥石14でデバイスウェーハWの裏面Wbを押圧しながら研削してチップの仕上げ厚みへと薄化する。本実施形態に示す薄化ステップは、上記した研削動作に限られず、デバイスウェーハWに粗研削を実施してから粗研削後のデバイスウェーハWをチップの仕上げ厚みへと仕上げ研削したのち、デバイスウェーハWを研磨してもよい。
(3) ドレスウェーハ配設ステップ
薄化ステップを実施した後、図4に示すように、デバイスウェーハWの裏面Wbに金属ペースト2を介してドレスウェーハW1を配設して複合ウェーハ3を形成する。ドレスウェーハW1は、後述する切断ステップを実施するときに切削ブレードを整形及び目立てするためのドレス部材として機能する。ドレスウェーハW1の材質は、デバイスウェーハWと異なる材質でもよいが、デバイスウェーハWと同じ材質からなることがより好ましい。
本実施形態に示す金属ペースト2は、チップの裏面に形成される金属層であり、例えばダイアタッチフィルム(DAF)と称される接着フィルムに金属粒子が分散されシート状に成形されたものである。金属ペースト2は、デバイスウェーハWの裏面Wbに貼着してもよいし、ドレスウェーハW1の裏面に貼着してからデバイスウェーハWをドレスウェーハW1に貼り付けてもよい。
また、金属ペースト2は、金属粒子が紫外線硬化性や熱硬化性を有するDAFに分散されたペースト状のものでもよい。この場合は、デバイスウェーハWの裏面WbまたはドレスウェーハW1の裏面に金属ペースト2を塗布してから、紫外線照射または加熱によって金属ペースト2を硬化させるとよい。さらに、金属ペースト2は、半田ペーストや銀ペーストのように金属単体で構成してもよい。このようにして、金属ペースト2を挟むようにしてデバイスウェーハWとドレスウェーハW1とを一体にした複合ウェーハ3を形成する。
複合ウェーハ3を形成したら、図5に示すように、複合ウェーハ3の表裏面を反転させ、デバイスウェーハW側を上向きにさせ、デバイスウェーハWの表面Waの全面から表面保護部材1を引き剥がして除去する。その結果、複合ウェーハ3の表面(デバイスウェーハWの表面Wa)が露出した状態となる。
(4) 切断ステップ
ドレスウェーハ配設ステップを実施した後、図6に示すように、被加工物を切削する切削手段30を用いて分割予定ラインSに沿ってデバイスウェーハWの表面WaからドレスウェーハW1に至るまで切削して金属ペースト2とともにデバイスウェーハWを切断する。切削手段30は、水平方向(図示の例ではY軸方向)の軸心を有するスピンドル31と、スピンドル31を回転可能に囲繞するスピンドルハウジング32と、スピンドル31の先端に装着された切削ブレード33とを少なくとも備え、スピンドル31の回転によって切削ブレード33も回転する構成となっている。切削手段30には、切削手段30を加工送り方向(図示の例ではX軸方向)と直交するインデックス送り方向(Y軸方向)とに移動させる図示しない移動手段と、切削手段30を鉛直方向に昇降させる昇降手段とが接続されている。
複合ウェーハ3を図示しない保持テーブルで保持したら、保持テーブルを切削手段30の下方に移動させるとともに、スピンドル31を回転させることにより切削ブレード33をY軸方向の軸心を中心として例えば矢印R方向に回転させながら、切削手段30をデバイスウェーハWの表面Waに接近する方向に下降させる。切削ブレード33をデバイスウェーハWの表面WaからドレスウェーハW1に至るまで切り込ませつつ、切削ブレード33でX軸方向に向く一列分の分割予定ラインSに沿って金属ペースト2とともにデバイスウェーハWを完全に切断することにより、分割予定ラインSに沿った切断溝Mを形成する。
切削ブレード33で複合ウェーハ3を切削するときには、常に切削ブレード33が金属ペースト2を切断した直後にドレスウェーハW1に切り込むことから、切削ブレード33の自生発刃作用を促すことができる。ドレスウェーハW1がデバイスウェーハWと同質からなる場合には、切削ブレード33の自生発刃作用をより促進させて、切削ブレード33の切れ味を一定に維持することができる。
X軸方向に向く一列分の分割予定ラインSに沿って切断溝Mを形成したら、切削手段30をY軸方向にインデックス送りしながら、X軸方向に向く全ての分割予定ラインSに対して上記の切断動作を繰り返し行って切断溝Mを形成する。その後、保持テーブルが回転することにより複合ウェーハ3を90°回転させ、Y軸方向に向いている分割予定ラインSをX軸方向に向かせて上記同様の切削を繰り返し行い、全ての分割予定ラインSに沿って切断溝Mを形成する。
(5) 第2表面保護部材配設ステップ
図7に示すように、複合ウェーハ3の表面(デバイスウェーハWの表面Wa)に第2表面保護部材1AをデバイスウェーハWの表面Waに貼着して、その表面Waの全面を覆うことにより、各デバイスDを保護する。第2表面保護部材1Aは、上記した表面保護部材1と同様に、表面保護テープでもよいし、ガラスやシリコンウェーハなどのハードプレートで構成してもよい。
(6) ドレスウェーハ除去ステップ
切断ステップ及び第2表面保護部材配設ステップを実施した後、図8に示すように、研削手段10を用いて、複合ウェーハ3の裏面(ドレスウェーハW1の裏面)を研削して除去する。具体的には、デバイスウェーハWの表面Waに貼着された第2表面保護部材1A側を保持テーブル20の保持面21で保持して、ドレスウェーハW1の裏面を上向きに露出させ、保持テーブル20を例えば矢印A方向に回転させる。次いで、研削手段10は、研削ホイール13を例えば矢印A方向に回転させながら、所定の研削送り速度で下降させ、回転する研削砥石14で金属ペースト2に至るまで複合ウェーハ3の裏面を押圧しながら研削することによりドレスウェーハW1を除去する。
ドレスウェーハW1を完全に除去すると、図9に示すデバイスウェーハWのように、裏面Wbに金属ペースト2が形成された個々のチップCが露出した状態となる。本実施形態のドレスウェーハ除去ステップでは、研削砥石14が金属ペースト2に到達したときにスピンドル11の負荷電流値が上昇するため、例えば電流値検出手段を用いて研削中にモータに供給される電流値をスピンドル11の負荷電流値として検出して複合ウェーハ3の研削量を制御することが好ましい。すなわち、予め所定の研削量を示す閾値を研削手段10に設定しておき、研削中に検出した負荷電流値が閾値を超えたら、金属ペースト2が露出したものとして研削手段10の研削送り動作を制御する。これにより、金属ペースト2の厚みやドレスウェーハW1の厚みにばらつきが生じていても、研削手段10を精度よく制御可能となり、ドレスウェーハW1のみを除去して、金属ペースト2を有するチップCを確実に取得することができる。本実施形態に示したドレスウェーハ除去ステップでは、研削によりドレスウェーハW1を除去したが、ドレスウェーハW1をデバイスウェーハWから剥離してもよい。
(7) 転写ステップ
図10に示すように、デバイスウェーハWの表裏を反転させて、中央に開口を有するフレームFに貼着されたテープTの上に金属ペースト2を介してデバイスウェーハWの裏面Wbを貼着するとともに、デバイスウェーハWの表面Waを上向きにさせる。その後、デバイスウェーハWの表面Waから第2表面保護部材1Aを引き剥がすことにより除去する。これにより、チップCに個片化されたデバイスウェーハWの表面Waが露出した状態となる。
(8) ピックアップステップ
図11に示すように、例えば、コレット40によりチップCをピックアップする。コレット40は、チップCを吸着する吸着面41を有しており、上下方向に移動可能となっている。コレット40は、チップCの実装面を吸着するとともに上昇することにより、金属ペースト2を有するチップCをテープTから引き剥がしてピックアップする。このようにして、裏面に金属ペースト2を有するチップCを形成する。ピックアップされたチップCは、次の工程に移送され、金属フレームや実装基板上にダイボンディングされる。
このように、本発明に係るチップの形成方法は、表面Waの交差する複数の分割予定ラインSで区画された各領域にそれぞれデバイスDが形成されたデバイスウェーハWの裏面Wbを研削してチップの仕上げ厚みへと薄化する薄化ステップと、デバイスウェーハWの裏面Wbに金属ペースト2を介してドレスウェーハW1を配設して複合ウェーハ3を形成するドレスウェーハ配設ステップと、複合ウェーハ3の表面から切削ブレード33をドレスウェーハW1に至るまで切り込ませつつ切削ブレード33で分割予定ラインSに沿って金属ペースト2とともにデバイスウェーハWを切断する切断ステップと、金属ペースト2に至るまで複合ウェーハ3の裏面を研削することでドレスウェーハW1を除去するドレスウェーハ除去ステップとを備えたため、たとえ延性の高い金属ペースト2を切削ブレード33で切削しても、切削ブレード33がデバイスウェーハWと金属ペースト2とを切断した直後にドレスウェーハW1を切削するため、切削ブレード33の自生発刃が促進され、切削ブレード33に目詰まりが生じることがなく、大きなチッピングやクラックも発生するおそれがない。このように、本発明によれば、良好な加工品質を具備する金属ペースト2付きのチップCを取得することが可能となる。
1,1A:表面保護部材 2:金属ペースト 3:複合ウェーハ
10:研削手段 11:スピンドル 12:マウント 13:研削ホイール
14:研削砥石
20:保持テーブル 21:保持面
30:切削手段 31:スピンドル 32:スピンドルハウジング 33:切削ブレード
40:コレット 41:吸着面

Claims (2)

  1. 表面にデバイスを有し裏面に金属層を有したチップの形成方法であって、
    表面の交差する複数の分割予定ラインで区画された各領域にそれぞれデバイスが形成されたデバイスウェーハの裏面を研削して該チップの仕上げ厚みへと薄化する薄化ステップと、
    該薄化ステップを実施した後、デバイスウェーハの該裏面に金属ペーストを介してドレスウェーハを配設して複合ウェーハを形成するドレスウェーハ配設ステップと、
    該ドレスウェーハ配設ステップを実施した後、該複合ウェーハの該表面から切削ブレードを該ドレスウェーハに至るまで切り込ませつつ該切削ブレードで該分割予定ラインに沿って該金属ペーストとともにデバイスウェーハを切断する切断ステップと、
    該切断ステップを実施した後、該金属ペーストに至るまで該複合ウェーハの裏面を研削することで該ドレスウェーハを除去するドレスウェーハ除去ステップと、を備えたチップの形成方法。
  2. 前記ドレスウェーハは、前記デバイスウェーハと同じ材質からなる、請求項1に記載のチップの形成方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP3013786B2 (ja) * 1996-09-11 2000-02-28 日本電気株式会社 半導体装置の製造方法
JP2006049419A (ja) * 2004-08-02 2006-02-16 Nec Tokin Corp ダイシング方法
JP2008258412A (ja) * 2007-04-05 2008-10-23 Shinko Electric Ind Co Ltd シリコンウエハの個片化方法
JP5498857B2 (ja) * 2010-05-26 2014-05-21 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
US9478453B2 (en) * 2014-09-17 2016-10-25 International Business Machines Corporation Sacrificial carrier dicing of semiconductor wafers
JP2016086006A (ja) * 2014-10-23 2016-05-19 パナソニックIpマネジメント株式会社 半導体装置及びその製造方法

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