JP6822947B2 - 角形チップ抵抗器及びその製造法 - Google Patents

Description

本発明は、抵抗値調整のためのトリミング溝により生じる電流集中を抑制することができ、サージ電流等の過負荷に対する耐性に優れた角形チップ抵抗器及びその製造法に関する。

チップ抵抗器においてその抵抗値を調整する手段として、抵抗体にトリミング溝を形成する方法が良く知られている。従来、例えば、図９の（Ａ）及び（Ｂ）に示されるように、絶縁基板９０の上面両端に設けた一対の上面電極９１から抵抗体９２を流れる電流の方向に対して、ほぼ直角に直線状にカットして形成するトリミング溝９３ａ又はＬ字状にカットして形成するトリミング溝９３ｂが知られている。しかし、このようなトリミング溝は、先端付近や、Ｌ字に屈曲した部分において電流の流れ９４が乱れ、電流集中による局部発熱やマイクロクラックの発展進行による抵抗値の変動が生じる。
そこで、このような電流集中による問題を抑制するための技術が種々提案されている（特許文献１〜４等）。
しかし、これら従来技術におけるトリミング溝は、いずれも抵抗体に流れる電流の方向に対して、まず、ほぼ直角方向となるようにトリミング溝をカットして、直線状やL字状等に形成されるため、トリミング溝による電流の流れの乱れを十分に抑制することが困難である。
特許文献５には、抵抗体に流れる電流方向に対して平行に、抵抗体長さ方向全長にわたって直線状にカットしたトリミング溝の形成方法が提案されている。この方法では、トリミング溝の先端に生じるマイクロクラックを抑制するために、抵抗体に接する電極部分にまでトリミング溝を形成する必要がある。この場合、抵抗体はトリミング溝により電極と確実に切断されないため、該トリミング溝形成時における抵抗値設定を精度良く行うことが困難である。加えて、抵抗体がトリミング溝により通電可能状態で完全に分割されるため、該分割された狭い方の抵抗体領域において電流の負荷集中が生じるおそれがある。

特開平４−９７５０１号公報 特開平１０−１８９３１７号公報 特開２００１−２０３１０１号公報 特開２００９−１４１１７１号公報 特開昭６０−２８２０９号公報

本発明の課題は、トリミング溝により生じる電流集中を抑制することが可能であり、サージ電流等の過負荷に対して優れた耐性を示す角形チップ抵抗器を提供することにある。
本発明の別の課題は、精度に優れた抵抗値設定、及び広範囲にわたる抵抗値設定が可能であり、抵抗値の微調整も容易に対応できるため、トリミング溝により生じる電流集中を有効に抑制でき、電流の過負荷に対して優れた耐性を示す角形チップ抵抗器を効率良く製造することが可能な角形チップ抵抗器の製造法を提供することにある。
本発明の他の課題は、抵抗体をトリミングする際に生じるマイクロクラックによる電流集中や電流の過負荷等に対する影響を十分抑制することが可能な角形チップ抵抗器及びその製造法を提供することにある。

本発明によれば、絶縁基板、該絶縁基板上面の長手方向両端部に設けた一対の第１及び第２の上面電極、及び該上面電極に電気的に接触する抵抗体を含み、第１及び第２の上面電極は、絶縁基板の隅部において、相対向する内側に、切欠き部及び該切欠き部に対して突出する突出部をそれぞれ有し、第１の上面電極の切欠き部は、絶縁基板の長手方向の２つの辺の少なくとも一方から絶縁基板横断方向内方に向かっており、第２の上面電極の切欠き部は、第１の上面電極の切欠き部と絶縁基板中央に対して実質的に点対称の位置にあり、抵抗体は、第１及び第２の上面電極の各上記突出部において接触する接触部と、各上記切欠き部における上面電極に接触しない非接触部とを有し、前記抵抗体は、第１の上面電極側の１つの前記非接触部端辺の少なくとも１点を始端として絶縁基板の長手方向に延長した直線形状を含むトリミング溝、及び第２の上面電極側の１つの前記非接触部端辺の少なくとも１点を始端として絶縁基板の長手方向に延長した直線形状を含むトリミング溝を有する、ことを特徴とする角形チップ抵抗器が提供される。このように２か所以上の複数のトリミング溝を設けることにより、１つのトリミングカットの長さを短くし、電流集中をより低減することが可能になり、また、抵抗値の微細な調整を容易にすることができる。
前記トリミング溝の少なくとも１つの形状は、絶縁基板の長手方向に延長した直線形状に続いてその先端で絶縁基板横断方向外方に屈曲した、例えばＬ字状の形状とすることができる。このような形状のトリミング溝の形成を可能にすることにより、抵抗値設定をより広範囲で制御することができる。

第１及び第２の上面電極の前記突出部はそれぞれ２つの頂点を有する形状とすることができ、前記抵抗体はこれら頂点に接触する接触点を有し、上記抵抗体は、これら接触点を直線で連結して囲まれた矩形状領域と、該矩形状領域以外の領域との、二種の仮想領域に分割することにより、該矩形状領域以外の、第１及び第２の上面電極に接していない領域をトリミング溝形成領域とすることができる。このようなトリミング溝形成領域を設定することにより、前記矩形状領域における電流の流れを乱すことなく、抵抗値の設定のためのトリミング溝の形成をより簡便に行うことが可能になる。また、前記矩形状領域において、２組の対向する角の一方の組の角度を調整することにより、該矩形状領域における電流の流れを十分に確保することができ、トリミング溝における電流集中の不具合を十分に緩和することができるとともに、抵抗器の定格電力を高くした場合であっても過負荷電圧に対して抵抗値変化率を低く抑えることが可能となり、更には限界電力を上げることもできる。

また本発明によれば、絶縁基板上面の長手方向両端部に、一対の第１及び第２の上面電極を形成する工程（Ａ）、第１及び第２の上面電極と電気的に接触するように抵抗体を形成する工程（Ｂ）、及び抵抗値調整のために抵抗体にトリミング溝を設ける工程（Ｃ）を含み、工程（Ａ）において、第１の上面電極は、第２の上面電極に対向する内側に、絶縁基板の長手方向の２つの辺の少なくとも一方から絶縁基板横断方向内方に向かって切欠き部を有するように、かつ該切欠き部に対して突出する突出部を有するように形成し、第２の上面電極は、第１の上面電極に対向する内側に、第１の上面電極の切欠き部と絶縁基板中央に対して実質的に点対称の位置に切欠き部を有するように、かつ該切欠き部に対して突出する突出部を有するように形成し、工程（Ｂ）において抵抗体は、第１及び第２の上面電極の上記各突出部に接触する接触部と、各上記切欠き部における、上面電極に接触しない少なくとも各１つの非接触部とを有する形状とし、工程（Ｃ）においてトリミング溝は、抵抗体の上記非接触部端辺上の少なくとも１点を始端として、絶縁基板の長手方向に延長する直線形状を含むように、前記始端側からレーザートリミングして形成することを特徴とする角形チップ抵抗器の製造法が提供される。

前記工程（Ｃ）において、少なくとも１つのトリミング溝は、上記非接触部の始端から、絶縁基板の長手方向にレーザートリミングし、続いて絶縁基板横断方向外方に屈曲させてレーザートリミングすることにより形成することもできる。このようにトリミング溝を絶縁基板の長手方向に向かって形成することにより、例えば、屈曲させた部分等に生じるマイクロクラックによるノイズの発生を抑えることでき、抵抗値の変化を抑制することができる。また、マイクロクラックの発生方向が、絶縁基板の長手方向側に向く割合が高くなるので、生じたマイクロクラックにおける電流集中や電流の過負荷等に対する影響も十分に抑制することが可能である。

前記工程（Ｃ）において、抵抗体の上記非接触部端辺上の複数点を始端として、絶縁基板の長手方向に延長する複数のトリミング溝を形成するにあたり、トリミングする領域をその方向に沿って一部重なるようにレーザートリミングすることができる。このようにレーザートリミングすることにより、先のトリミングにより生じた抵抗体の切り滓を除去しながら次のトリミングを行うことができる。

本発明の角形チップ抵抗器（以下、本発明の抵抗器と略すことがある）は、上記構成、特に、第１及び第２の上面電極が抵抗体と接触する部分と、接触しない部分とを明確に分離すると共に、抵抗体における当該接触しない非接触部端辺上の少なくとも１点を始端として、長手方向に延長した直線形状を含むトリミング溝を有するので、抵抗体において、トリミング溝に影響を受けずに流れる電流の領域を十分に確保することができ、しかも、トリミング溝が形成された領域においても該トリミング溝の形成方向を電流の流れる方向とほぼ一致させて電流集中を抑制することができる。加えて、上記抵抗体における第１及び第２の上面電極と接触する部分の接触部長さ及び接触しない部分の非接触部端辺の長さを適宜制御し、かつトリミング溝の長さや本数などを制御することにより、所望の抵抗値の範囲を広く確保することが可能となる。従って、上述の構成を採用することで、従来よりもトリミング溝における電流集中による問題解決が容易になり、過負荷な電流に対する耐性も向上させることができ、更には抵抗器の定格電力を高くした場合でも抵抗値の変化率を十分抑制することができ、限界電力を向上させることもできる。
本発明の製造法は、上記構成、特に、工程（Ａ）における切欠き部及び突出部の形成工程を行い、工程（Ｂ）において抵抗体に上記接触部及び非接触部を完全に分離して設けることができるので、トリミング溝に影響を受けずに流れる電流の領域を十分確保することが可能になるとともに、トリミング溝の形成領域を明確にすることができる。従って、精度の良い抵抗値設定の制御が容易となり、しかも抵抗値の調整範囲を広く設定することができ、抵抗値の微調整も容易に行うことができる。更に、工程（Ｃ）におけるトリミングにより生じる場合があるマイクロクラックも、絶縁基板の長手方向側に向く割合が高くなるので、生じたマイクロクラックにおける電流集中や電流の過負荷等に対する影響も十分に抑制することができる。

図１（ａ）及び図１（ｂ）は、本発明の抵抗器における第１及び第２の上面電極と抵抗体との関係を説明するための一実施形態を示す平面図である。 図２（ａ）及び図２（ｂ）は、本発明の抵抗器における第１及び第２の上面電極と抵抗体との関係を説明するための他の一実施形態を示す平面図である。 図３（ａ）及び図３（ｂ）は、本発明の抵抗器における第１及び第２の上面電極と抵抗体との関係を説明するための別の一実施形態示す平面図である。 本発明の抵抗器において、トリミング溝の形状及び形成箇所を説明するための一実施形態を示す平面図である。 本発明の抵抗器において、トリミング溝の形状及び形成箇所を説明するための他の一実施形態を示す平面図である。 本発明の抵抗器において、トリミング溝の形状及び形成箇所を説明するための別の一実施形態を示す平面図である。 図７（ａ）及び図７（ｂ）は、本発明の抵抗器において、トリミング溝の形成方法の２つの例を説明するための概略図である。 本発明の抵抗器に係る一実施形態の構成を説明するための断面図である。 図９（ａ）及び図９（ｂ）は、それぞれチップ抵抗器において従来一般に形成されているトリミング溝の例及びその際の抵抗体における電流の流れを説明するためのチップ抵抗器の平面図である。

以下本発明の実施の形態を、図面を参照して説明するが本発明はこれらに限定されない。
図１（ａ）及び図１（ｂ）、図２（ａ）及び図２（ｂ）、並びに図３（ａ）及び図３（ｂ）は、本発明の抵抗器において、第１及び第２の上面電極と抵抗体との関係及びこれらの形状等を説明するための、トリミング溝を形成する前の抵抗器の実施形態のそれぞれ異なる一例を示す平面図である。

図１〜図３の（ａ）及び（ｂ）において、１０，２０及び３０は絶縁基板であり、該絶縁基板は、上面の長手方向両端部にスクリーン印刷により設けた、一対の第１の上面電極（１１ｘ，２１ｘ，３１ｘ）及び第２の上面電極（１１ｙ，２１ｙ，３１ｙ，）と、これら上面電極に電気的に接触するようにスクリーン印刷により設けた抵抗体（１２，２２，３２）とを備える。

図１〜図３の（ａ）において第１の上面電極（１１ｘ，２１ｘ，３１ｘ）は、絶縁基板（１０，２０，３０）の長手方向の２つの辺の各々から絶縁基板横断方向内方に向かって２か所の切欠き部（１１ａ，２１ａ，３１ａ）を有し、これらに対して突出した１つの突出部（１１ｂ，２１ｂ，３１ｂ）を有する。一方、第２の上面電極（１１ｙ，２１ｙ，３１ｙ）は、第１の上面電極の切欠き部（１１ａ，２１ａ，３１ａ）及び突出部（１１ｂ，２１ｂ，３１ｂ）と絶縁基板（１０，２０，３０）中央に対して実質的に点対称の位置に、図示するように第１の上面電極に対向して、切欠き部（１１ａ，２１ａ，３１ａ）及び突出部（１１ｂ，２１ｂ，３１ｂ）を備える。即ち、図１〜３の（ａ）において第１及び第２の上面電極はそれぞれ２つの切欠き部及び１つの突出部を有し、実質的に点対称に略同一の形状を有する。
ここで、本発明において用いる「実質的に点対称」という意味は、第１の上面電極の形状と第２の上面電極の形状とが、完全に同一形状である場合の他、略同一形状である場合をも含むことを意味する。例えば、第１及び第２の上面電極を印刷等により形成する場合、設計上は同一形状に印刷しても、多少のひずみが生じて形状を完全に一致させることが困難である場合がある。また、本発明の特徴とする課題解決も、第１及び第２の上面電極が完全に同一形状でなければ得られないというものではない。従って、「実質的に点対称」という表現は、上記のような意味であって、本発明の課題が解決しうる範囲であれば、第１の上面電極の形状と第２の上面電極の形状との相違は許容される。

図１〜図３の（ｂ）において第１の上面電極（１１ｘ，２１ｘ，３１ｘ）は、絶縁基板（１０，２０，３０）の長手方向の２つの辺の一方から絶縁基板横断方向内方に向かって１か所の切欠き部（１１ａ，２１ａ，３１ａ）を有し、これに対して突出した突出部（１１ｂ，２１ｂ，３１ｂ）を有する。一方、第２の上面電極（１１ｙ，２１ｙ，３１ｙ）は、第１の上面電極の切欠き部（１１ａ，２１ａ，３１ａ）及び突出部（１１ｂ，２１ｂ，３１ｂ）と絶縁基板（１０，２０，３０）中央に対して実質的に点対称の位置に、図示するように第１の上面電極に対向して、切欠き部（１１ａ，２１ａ，３１ａ）及び突出部（１１ｂ，２１ｂ，３１ｂ）を備える。即ち、図１〜３の（ｂ）において第１及び第２の上面電極はそれぞれ１つの切欠き部及び１つの突出部を有し、実質的に点対称に略同一の形状を有する。

図１（ａ）及び図１（ｂ）において抵抗体１２は、長方形状であり、第１及び第２の上面電極の各突出部１１ｂの２つの頂点に接する抵抗体１２のそれぞれ２つの接触点１２ａを含む２か所の接触部１２ｂにおいて、第１及び第２の上面電極に電気的に接触している。
図１（ａ）において第１及び第２の上面電極（１１ｘ，１１ｙ）のそれぞれ２つの切欠き部１１ａ、又は図１（ｂ）において第１及び第２の上面電極（１１ｘ，１１ｙ）のそれぞれ１つの切欠き部１１ａは、図示するように第１及び第２の上面電極（１１ｘ，１１ｙ）が抵抗体１２に接触しないようにそれぞれ間隙を形成している。このような間隙を形成する切欠き部１１ａにより、抵抗体１２に、第１及び第２の上面電極（１１ｘ，１１ｙ）に接触しない非接触部１２ｃを設けている。

図２（ａ）及び図２（ｂ）において抵抗体２２は、図示するように、６つの９０°凸状内角及び２つの２７０°凹状内角を有する八角形状であり、第１及び第２の上面電極の各突出部２１ｂの２つの頂点に接する抵抗体２２のそれぞれ２つの接触点２２ａを含む２か所の接触部２２ｂにおいて、第１及び第２の上面電極に電気的に接触している。
図２（ａ）において第１及び第２の上面電極（２１ｘ，２１ｙ）のそれぞれ２つの切欠き部２１ａ、又は図２（ｂ）において第１及び第２の上面電極（２１ｘ，２１ｙ）のそれぞれ１つの切欠き部２１ａ、及び八角形状の上記抵抗体２２における凹部内角外側の切欠き形状部分は、図示するように第１及び第２の上面電極（２１ｘ，２１ｙ）が抵抗体２２に接触しないようにそれぞれ間隙を形成している。このような間隙を形成する切欠き部２１ａ等により、抵抗体２２が、第１及び第２の上面電極（２１ｘ，２１ｙ）に接触しない非接触部２２ｃを設けている。

図３（ａ）及び図３（ｂ）において抵抗体３２は、図示するように、２つの９０°内角及び４つの１３５°内角を有する六角形状であり、第１及び第２の上面電極の各突出部３１ｂの２つの頂点に接する抵抗体３２のそれぞれ２つの接触点３２ａを含む２か所の接触部３２ｂにおいて、第１及び第２の上面電極に電気的に接触している。
図３（ａ）において第１及び第２の上面電極（３１ｘ，３１ｙ）のそれぞれ２つの切欠き部３１ａ、又は図３（ｂ）において第１及び第２の上面電極（３１ｘ，３１ｙ）のそれぞれ１つの切欠き部３１ａ、及び六角形状の上記抵抗体３２における１３５°の４つの内角外側の切欠き形状部分は、図示するように第１及び第２の上面電極（３１ｘ，３１ｙ）が抵抗体３２に接触しないようにそれぞれ間隙を形成している。このような間隙を形成する切欠き部３１ａ等により、抵抗体３２が、第１及び第２の上面電極（３１ｘ，３１ｙ）に接触しない非接触部３２ｃを設けている。

図４〜図６は、上記図１（ａ）を参照して説明した第１及び第２の上面電極（１１ｘ，１１ｙ）と抵抗体１２とを用いた本発明の抵抗器におけるトリミング溝の形状及び形成箇所の例を説明するための平面図であって、図１（ａ）と同一の構成については同一番号を付し、その詳細説明は省略する。また、図７（ａ）及び（ｂ）は、本発明の抵抗器においてトリミング溝を形成する方法の例を示す概略図である。

図４〜６において抵抗体１２は、４つの接触点１２ａを直線で連結して囲まれた矩形状領域、即ち、２本の辺をなす二つの接触部１２ｂと図中の２本の点線とで囲まれた仮想の平行四辺形の領域（４１，５１，６１）と、該平行四辺形の領域以外の、第１及び第２の上面電極（１１ｘ，１１ｙ）に接触していない領域、即ち、図中の点線の外側における抵抗体領域である２つのトリミング溝形成領域（４２，５２，６２）とからなる。
前記平行四辺形の領域（４１，５１，６１）は、好ましくはトリミング溝が形成されない領域であり、第１及び第２の上面電極（１１ｘ，１１ｙ）からの電流の流れが乱されることがない。従って、このような領域を広範囲で確保することにより、本発明における所望の目的が得られ易くなる。この点を考慮した場合、図中に示す角度θは、好ましくは７０°〜９０°、より好ましくは７５°〜９０°、特に好ましくは８０°〜９０°である。このような領域（４１，５１，６１）をより広範囲に確保し、かつトリミング溝形成領域（４２，５２，６２）において特定方向にトリミング溝を形成する構成を採用することにより、トリミング溝における電流集中の不具合をより十分に緩和することができるとともに、抵抗器の定格電力を高くした場合であっても過負荷電圧に対して抵抗値変化率をより低く抑えることが可能となり、更には限界電力を更に上げることが可能になる。

図４は、２つのトリミング溝形成領域４２の一方のみにトリミング溝４３を形成した本発明の抵抗器の一実施形態を示す平面図である。図４においてトリミング溝４３は、非接触部１２ｃの端辺上の２点を始端として、絶縁基板１０の長手方向に２本の異なる長さの直線形状として形成している。トリミング溝の本数、長さ及び幅等は、所望の抵抗値や定格電力等を考慮して適宜決定することができる。トリミング溝の形成は、例えば、抵抗体にプローブ針を接触させて抵抗値を測定しながらレーザーカットする公知の方法により行うことができる。
本発明の抵抗器においては、例えば、図４に示されるとおり、第２の上面電極１１ｙに接触していない非接触部１２ｃの端辺を、トリミング溝４３を形成する際の始端とし、かつ該始端から絶縁基板１０の長手方向、即ち、抵抗体１２を流れる電流方向に沿うように、直線形状にトリミング溝４３を形成するので、該トリミング溝４３における電流集中が十分抑制される。

図５は、２つのトリミング溝形成領域５２のそれぞれにトリミング溝（５３ａ，５３ｂ）を形成した本発明の抵抗器の一実施形態を示す平面図である。図５においてトリミング溝（５３ａ，５３ｂ）は、非接触部１２ｃの端辺上の２点及び１点をそれぞれ始端として、絶縁基板１０の長手方向に直線形状として形成している。このように２つのトリミング溝形成領域のそれぞれにトリミング溝を形成することにより、抵抗値をより広範囲に設定することが可能になり、また、１本のトリミング溝の長さや幅を調整する範囲も広がるので、電流集中の抑制をより容易に行うことが可能になる。

図６は、２つのトリミング溝形成領域６２の一方のみにトリミング溝６３を形成した本発明の抵抗器の一実施形態を示す平面図である。図６においてトリミング溝６３は、非接触部１２ｃの端辺上の１点を始端として、絶縁基板１０の長手方向に直線形状にカットし、続いて絶縁基板１０の横断方向外方に直角に屈曲させてカットし、Ｌ字形状に形成している。このようなＬ字形状にトリミング溝を形成する場合、通常、屈曲させた箇所等にマイクロクラックが発生し易いが、本発明においては、上述のとおりトリミング溝６３の形成を、まず、非接触部１２ｃの端辺上の１点を始端として絶縁基板１０の長手方向、即ち、電流の流れ方向に直線形状にカットするので、発生するマイクロクラックは電流の流れ方向に形成され易くなり、発生したマイクロクラックによる電流集中による不具合やノイズの発生が抑制され易くなる。

図７（ａ）及び図７（ｂ）は、本発明の抵抗器において、トリミング溝の形成方法を説明するための概略図である。図７（ａ）は、同一幅のトリミング溝７０を同一長さから異なる長さに隣の溝に接するように形成した例を示す。このように同一幅で複数のトリミング溝を設けることにより、抵抗値の微調整を容易に行うことができる。
図７（ｂ）は、同一幅のトリミング溝７１を同一長さから異なる長さに隣の溝に重なるように形成した例を示す。このように同一幅で複数のトリミング溝を設けることにより、抵抗値の微調整を容易に行うことができ、しかも先に形成したトリミング溝に重なるように次のトリミング溝を形成することにより、先のトリミングにより生じた抵抗体の切り滓を除去しながら次のトリミングを行うことができる。
本発明の抵抗器において、トリミング溝の形状は、上述の絶縁基板の長手方向に延長する直線形状を含む形状であれば種々選択することができ、所望の抵抗値を得るために、その本数、長さ、幅等も上述の所定の箇所に適宜形成することが可能である。

以下に、本発明の抵抗器の構成を説明するための一実施形態及び本発明の製造法の一実施形態について図面を参照して説明するが、本発明の抵抗器の製造法は、本発明の製造法に限定されない。
図８は、本発明の抵抗器に係る一実施形態の構成を説明するための断面図であって、８０は絶縁基板である。絶縁基板８０の上面は、その両端に一対の第１の上面電極８１ｘ及び第２の上面電極８１ｙを備え、これら第１及び第２の上面電極に電気的に接触するように抵抗体８２を備える。これら上面電極及び抵抗体の関係は、図１〜図３において説明したとおりである。
絶縁基板８０の下面は、その両端に一対の下面電極８１ｚを備える。抵抗体８２はガラス系の保護膜８３ａ及び樹脂系保護膜８３ｂにより図示するように保護されている。また、抵抗体８２には、図示しないが図４〜図７において説明したとおり、トリミング溝が形成されている。
第１及び第２の上面電極（８１ｘ，８１ｙ）並びに下面電極８１ｚは、端面電極８４により接続されている。上面、下面及び端面電極は、ニッケルめっき層８５に覆われており、その上にオーバーコートとしてスズめっき層８６が施されている。
以上の図８に示す構成は一例であって、本発明の抵抗器はこれに限定されない。また各構成に用いる材料は、公知の材料等により適宜選択することができる。

本発明の製造法は、絶縁基板上面の長手方向両端部に、一対の第１及び第２の上面電極を形成する工程（Ａ）、第１及び第２の上面電極と電気的に接触するように抵抗体を形成する工程（Ｂ）、及び抵抗値調整のために抵抗体にトリミング溝を設ける工程（Ｃ）を含む。なお、以下の各工程の説明においては、切欠き部等の形成をスクリーン印刷法で形成した例により説明するが、レーザーによるパターニング法やエッチング法等の他の形成方法で行うことも本発明の範囲に含まれる。

工程（Ａ）及び工程（Ｂ）において上面電極及び抵抗体の絶縁基板上への形成は、上述したような所望の形状となるように、通常スクリーン印刷等により行うことができる。
工程（Ａ）において第１の上面電極は、第２の上面電極に対向する内側に、絶縁基板の長手方向の２つの辺の少なくとも一方から絶縁基板横断方向内方に向かって切欠き部を有するように、かつ該切欠き部に対して突出する突出部を有するように形成し、第２の上面電極は、第１の上面電極に対向する内側に、第１の上面電極の切欠き部と絶縁基板中央に対して実質的に点対称の位置に切欠き部を有するように、かつ該切欠き部に対して突出する突出部を有するように形成する。この際、切欠き部はスクリーン印刷法で形成する例で説明したが、上面電極を形成後に、レーザーによるパターニング法やエッチング法により形成することも可能である。
工程（Ｂ）において抵抗体は、第１及び第２の上面電極の上記各突出部に接触する接触部と、各上記切欠き部における上面電極に接触しない少なくとも各１つの非接触部とを有する形状とする。
このような上面電極及び抵抗体の所望形状については、図１〜図３等において説明したとおりである。

工程（Ｃ）においてトリミング溝の形成は、上述したとおり、例えば、抵抗体の抵抗値を測定しながらレーザーカットする公知の方法により行うことができる。
工程（Ｃ）において、抵抗体端辺の非接触部上の少なくとも１点を始端として、絶縁基板の長手方向に延長する直線形状を含むように、前記始端側からレーザートリミングして形成する点については、上述の図４〜図６において説明したとおりである。

本発明の製造法においては、上記工程（Ａ）〜工程（Ｃ）に加えて、上記図８において説明したように、例えば、公知の方法等により、下面及び端面電極や、保護膜並びにめっき層を形成する工程を行うことにより、本発明の抵抗器を製造することができる。

以下、本発明を実施例により更に詳細に説明するが本発明はこれらに限定されない。
実施例１−１〜１−３
図８に示す抵抗器において、第１及び第２の上面電極、並びにトリミング溝を備える抵抗体として、図５に示す形態のものを用いて、定格電力０．１Ｗ、０．２５Ｗ、０．３３Ｗ及び０．４Ｗの抵抗器を製造した。絶縁基板としては９６％アルミナ基板を、上面電極としては銀パラジウム系金属膜を、下面電極としては銀系金属膜を、抵抗体としては酸化ルテニウム系の特殊抵抗材を用いた抵抗膜を、端面電極はスパッタにより形成したニッケル−クロム系金属膜を、保護膜８３ａはガラス系膜を、保護膜８３ｂは銀パラジウム系膜を、めっき層８５はニッケルめっき層を、めっき層８６はスズめっき層をそれぞれ用いた。
図５に示すθを７０°に設定したものを実施例１−１、７９°に設定したものを実施例１−２、及び８７°に設定したものを実施例１−３とした。

製造した各抵抗器に、定格電圧の２．５倍の電圧、即ち、定格電力０．１Ｗの抵抗器には１４．１４Ｖ、定格電力０．２５Ｗの抵抗器には２２．３６Ｖ、定格電力０．３３Ｗの抵抗器には２５．６９Ｖ、定格電力０．４Ｗの抵抗器には２８．２８Ｖの電圧を５秒間印加して、抵抗値変化率（ΔＲ／Ｒ）の最大値、最小値及び平均値を測定することにより、短時間過負荷試験を行った。結果を表１に示す。なお、抵抗値変化率が±１．０％以内を合格とした。また、表１中の空欄は測定不能を意味する。

比較例１
上面電極及び抵抗体として、図９（ａ）に示す形態のものとし、抵抗体に形成されるトリミング溝を図９（ａ）に示される２本に代えて、異なる長さの３本とした以外は実施例１−１と同様に抵抗器を製造した。得られた抵抗器を用いて、実施例１−１と同様に短時間過負荷試験を行った。結果を表１に示す。

表１の結果より、本発明の抵抗器は比較例に比して定格電力が高くなっても過負荷電圧に対する耐性に優れることが分かる。また、本発明の抵抗器においてθが大きくなるにしたがってその効果が更に改善されることがわかる。

実施例２−１〜２−３及び比較例２
実施例１−１〜１−３及び比較例１と同様に、定格電力０．１Ｗ、０．２５Ｗ及び０．３３Ｗの抵抗器を製造した。
製造した各抵抗器に、定格電圧の２．５倍の電圧を１秒間印加し、２５秒間印加しないサイクルを１００００回行い、抵抗値変化率（ΔＲ／Ｒ）の最大値、最小値及び平均値を測定することにより、断続過負荷試験を行った。結果を表２に示す。なお、抵抗値変化率が±１．０％以内を合格とした。また、表２中の空欄は測定不能を意味する。

表２の結果より、本発明の抵抗器は断続過負荷試験において、θが大きいほど定格電圧が高くなってもその耐性に優れることがわかる。

実施例３−１〜３−３及び比較例３
実施例１−１〜１−３及び比較例１と同様に抵抗器を製造した。
製造した抵抗器に、電圧Ｖを印加時間１ｍｓ印加してワンパルス限界電力（電圧Ｖ×印加時間ｔ＝限界電力（Ｗ））を測定した。結果を表３に示す。なお、限界電力は抵抗値変化率が±１．０％以内のものとした。

表３の結果より、本発明の抵抗器では、θの角度を制御することにより、限界電力を高くすることが可能であることがわかる。

実施例４−１〜４−３及び比較例４
実施例１−１〜１−３及び比較例１と同様に抵抗器を製造した。
製造した各抵抗器について、JIS C 5201-1 にしたがって固定抵抗器の電流雑音試験を行い、抵抗器から発生する雑音（ノイズ）電圧を測定し、規定された式により算出した雑音電圧の最大値、最小値及び平均値を求めた。更に最大値から最小値まで雑音を求めた。結果を表４に示す。なお、結果は、直流印加電圧に対する雑音電圧の比となり、マイナスの値が大きいほど良い結果を示す。

表４の結果より、本発明の抵抗器は比較例に比してノイズ電圧が抑制され、特に、θが大きくなるにしたがってその傾向が高いことがわかる。

１０，２０，３０，８０：絶縁基板
１１ｘ，２１ｘ，３１ｘ，８１ｘ：第１の上面電極
１１ｙ，２１ｙ，３１ｙ，８１ｙ：第２の上面電極
１２，２２，３２，８２：抵抗体
１１ａ，２１ａ，３１ａ：切欠き部
１１ｂ，２１ｂ，３１ｂ：突出部
１２ｂ，２２ｂ，３２ｂ：接触部
１２ｃ，２２ｃ，３２ｃ：非接触部
４３，５３ａ，５３ｂ，６３，７０，７１：トリミング溝
４１，５１，６１：平行四辺形の領域
４２，５２，６２：トリミング溝形成領域

Claims (8)

1. 絶縁基板、該絶縁基板上面の長手方向両端部に設けた一対の第１及び第２の上面電極、及び該上面電極に電気的に接触する抵抗体を含み、
   第１及び第２の上面電極は、絶縁基板の隅部において、相対向する内側に、切欠き部及び該切欠き部に対して突出する突出部をそれぞれ有し、第１の上面電極の切欠き部は、絶縁基板の長手方向の２つの辺の少なくとも一方から絶縁基板横断方向内方に向かっており、第２の上面電極の切欠き部は、第１の上面電極の切欠き部と絶縁基板中央に対して実質的に点対称の位置にあり、
   抵抗体は、第１及び第２の上面電極の各上記突出部において接触する接触部と、各上記切欠き部における上面電極に接触しない非接触部とを有し、
   前記抵抗体は、第１の上面電極側の１つの前記非接触部端辺の少なくとも１点を始端として絶縁基板の長手方向に延長した直線形状を含むトリミング溝、及び第２の上面電極側の１つの前記非接触部端辺の少なくとも１点を始端として絶縁基板の長手方向に延長した直線形状を含むトリミング溝を有する、
   ことを特徴とする角形チップ抵抗器。
2. トリミング溝の少なくとも１つの形状は、絶縁基板の長手方向に延長した直線形状に続いてその先端で絶縁基板横断方向外方に屈曲した形状である請求項１記載の角形チップ抵抗器。
3. トリミング溝が、マイクロクラックを有する請求項１又は２記載の角形チップ抵抗器。
4. 第１及び第２の上面電極の突出部はそれぞれ２つの頂点を有し、上記抵抗体はこれら頂点に接触する接触点を有し、上記抵抗体は、これら接触点を直線で連結して囲まれた矩形状領域と該矩形状領域以外の領域とからなり、該矩形状領域以外の、第１及び第２の上面電極に接していない領域をトリミング溝形成領域とした請求項１〜３のいずれか１項記載の角形チップ抵抗器。
5. 上記矩形状領域において、２組の対向する角の一方の組の角度が７０°〜９０°である請求項４記載の角形チップ抵抗器。
6. 絶縁基板上面の長手方向両端部に、一対の第１及び第２の上面電極を形成する工程（Ａ）、第１及び第２の上面電極と電気的に接触するように抵抗体を形成する工程（Ｂ）、及び抵抗値調整のために抵抗体にトリミング溝を設ける工程（Ｃ）を含み、
   工程（Ａ）において、第１の上面電極は、第２の上面電極に対向する内側に、絶縁基板の長手方向の２つの辺の少なくとも一方の隅部から絶縁基板横断方向内方に向かって切欠き部を有するように、かつ該切欠き部に対して突出する突出部を有するように形成し、第２の上面電極は、第１の上面電極に対向する内側に、第１の上面電極の切欠き部と絶縁基板中央に対して実質的に点対称の位置に切欠き部を有するように、かつ該切欠き部に対して突出する突出部を有するように形成し、
   工程（Ｂ）において抵抗体は、第１及び第２の上面電極の上記各突出部に接触する接触部と、各上記切欠き部における上面電極に接触しない少なくとも各１つの非接触部とを有する形状とし、
   工程（Ｃ）においてトリミング溝は、抵抗体の上記非接触部端辺上の少なくとも１点を始端として、絶縁基板の長手方向に延長する直線形状を含むように、前記始端側からレーザートリミングして形成することを特徴とする角形チップ抵抗器の製造法。
7. 工程（Ｃ）において、少なくとも１つのトリミング溝を、上記非接触部の始端から、絶縁基板の長手方向にレーザートリミングし、続いて絶縁基板横断方向外方に屈曲させてレーザートリミングすることにより形成する請求項６記載の製造法。
8. 工程（Ｃ）において、抵抗体の上記非接触部端辺上の複数点を始端として、絶縁基板の長手方向に延長する複数のトリミング溝を形成するにあたり、トリミングする領域をその方向に沿って一部重なるようにレーザートリミングする請求項６又は７記載の製造法。

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