JP6584333B2 - パワーモジュール - Google Patents

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Description

本発明は、例えば産業機器または民生機器のモータ制御に使用される回路基板に実装される電子部品の占有面積を削減することを目的とするパワーモジュールに関するものである。
従来のパワーモジュールは、駆動する際にオフサージ電圧が発生してしまい、そのサージ電圧によりパワーモジュールの最大定格以上の電圧が印加されると故障する可能性がある。そこで、サージ電圧を抑制するためにスナバコンデンサと呼ばれるフィルムコンデンサをパワーモジュール近傍の回路基板上に実装する必要があった。そこで、従来から、内部にコンデンサを埋め込んだパワーモジュールが提案されている(例えば特許文献1,2参照)。
しかし、コンデンサに使用される高誘電体材料は焼結体であり、内部にサイズの大きなコンデンサを形成する場合、リードと共に誘電体を高温で焼結することが困難であった。そのため、サイズが大きいコンデンサは、パワーモジュールの内部に実装できないという問題があった。
また、高耐圧、および高周波数特性を有するフィルムコンデンサはサイズが大きいため、回路基板に実装する際に大きなスペースが必要となることから、回路基板と、回路基板に実装されたパワーモジュールとの間にサイズの大きなコンデンサを実装することが困難である。そのため、回路基板において、パワーモジュールを実装した側の面とは反対側の面に高さのある電子部品を実装する必要があるなどの制約が発生するという問題があった。そこで、例えば、特許文献3には、パワーモジュールの外部にスナバコンデンサを配置した装置が開示されている。
特開2007−151331号公報 特開2005−328651号公報 特開2011−67045号公報
上記のように、特許文献1,2に記載の装置では、パワーモジュールの内部にコンデンサを配置しているが、サイズの大きなコンデンサを配置することは困難である。
さらに、特許文献3に記載の装置では、パワーモジュールの外部にコンデンサが配置されており、パワーモジュールと回路基板間に電極端子が外付けで接続されている。そのため、振動などによる外部応力によって電極端子の接触が悪くなるという問題がある。
そこで、本発明は、サイズの大きな電子部品を配置するためのスペースを確保するとともに、振動などによる外部応力に対する耐力を向上させることができるパワーモジュールを提供することを目的とする。
本発明に係るパワーモジュールは、絶縁基板と、前記絶縁基板上に実装される半導体素子と、前記絶縁基板と前記半導体素子とを封止し、かつ、パワーモジュールの外形を形成する封止材と、前記封止材上において、前記パワーモジュールの幅方向の両端部に立設される一対の端子とを備え、前記一対の端子の前記幅方向の間隔は、前記一対の端子の先端部に接続される回路基板の下面に実装される第1電子部品の幅よりも大きく形成され、前記一対の端子の前記幅方向に直交する高さ方向の長さは、前記第1電子部品の高さよりも長く形成され、前記一対の端子の幅はともに、前記第1電子部品の幅よりも大きいものである。


本発明によれば、一対の端子の幅方向の間隔は、一対の端子の先端部に接続される回路基板の下面に実装される第1電子部品の幅よりも大きく形成され、一対の端子の幅方向に直交する高さ方向の長さは、第1電子部品の高さよりも長く形成される。したがって、回路基板とパワーモジュールとの間にサイズの大きな電子部品を配置するためのスペースを確保することができる。
また、第1電子部品が実装される回路基板は、一対の端子の先端部に接続されるため、一対の端子で回路基板を支持することができる。これにより、パワーモジュールにおいて振動などによる外部応力に対する耐力を向上させることができる。
実施の形態1に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。 実施の形態2に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。 実施の形態3に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。 実施の形態4に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。 実施の形態5に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。 実施の形態6に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。 実施の形態7に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。 実施の形態8に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。 実施の形態9に係るパワーモジュールを制御基板に固定した状態を示す断面図である。
<実施の形態1>
本発明の実施の形態1について、図面を用いて以下に説明する。
図1は、実施の形態1に係るパワーモジュール10を制御基板16に固定した状態を示す断面図である。図1に示すように、パワーモジュール10は、ベース板11、絶縁基板12、半導体素子18、封止材30、および一対の端子15を備えている。ベース板11の上面には、絶縁基板12が固定されており、絶縁基板12の上面には、パターン13が形成されている。パターン13の上面には、はんだ14を介して半導体素子18が固定(実装)されている。絶縁基板12は、絶縁性および熱伝導性に優れた材料で構成されている。
ここで、絶縁基板12およびベース板11は、一体型の構造を採用することも可能である。また、半導体素子18は、IGBTまたはフリーホイールダイオード(以下「FWDi」という)であり、炭化ケイ素(SiC)素子等のワイドバンドギャップ半導体を用いることも可能である。
封止材30は、絶縁基板12および半導体素子18(より具体的には、ベース板11、絶縁基板12、および半導体素子18)を封止し、かつ、パワーモジュール10の外形を形成している。一対の端子15は、封止材30上において、パワーモジュール10の幅方向の両端部に立設され固定されている。なお、パワーモジュール10の幅方向とは、図1における左右方向である。また、パワーモジュール10の幅方向を単に幅方向ともいうこととする。
パワーモジュール10の上側に、制御基板16(回路基板)が配置され、パワーモジュール10は、一対の端子15を介して制御基板16と接合(接続)されている。より具体的には、制御基板16は、一対の端子15の先端部に接合されている。制御基板16の下面には、フィルムコンデンサ17(第1電子部品)が実装されている。
一対の端子15の幅方向の間隔は、一対の端子15の先端部に接合される制御基板16の下面に実装されるフィルムコンデンサ17の幅よりも大きく形成されている。一対の端子15の高さ方向の長さは、フィルムコンデンサ17の高さよりも長く形成されている。すなわち、一対の端子15は、パワーモジュール10の内部(制御基板16とパワーモジュール10との間)、より具体的には、制御基板16と封止材30との間であって一対の端子15の間にフィルムコンデンサ17を配置するために必要なスペースを確保するための高さを有している。ここで、高さ方向とは、パワーモジュール10の幅方向に直交する方向である。
以上のように、実施の形態1に係るパワーモジュール10では、一対の端子15の幅方向の間隔は、一対の端子15の先端部に接続される制御基板16の下面に実装されるフィルムコンデンサ17の幅よりも大きく形成され、一対の端子15の高さ方向の長さは、フィルムコンデンサ17の高さよりも長く形成される。したがって、パワーモジュール10の内部である制御基板16とパワーモジュール10との間にサイズの大きな電子部品である、例えばフィルムコンデンサ17を配置するためのスペースを確保することができる。
これにより、制御基板16の上面にフィルムコンデンサ17を配置するためのスペースを確保する必要がなくなることから、制御基板16のサイズを縮小することができる。よって、制御基板16を備える制御機器の小型化、包装の小型化、および輸送方法の効率化を実現することが可能となる。これらに伴って、制御機器の製作コストの削減およびエネルギー消費量の削減を実現することが可能となる。
また、フィルムコンデンサ17が実装される制御基板16は、一対の端子15の先端部に接続されるため、一対の端子15で制御基板16を支持することができる。これにより、パワーモジュール10において振動などによる外部応力に対する耐力を向上させることができる。
<実施の形態2>
次に、実施の形態2に係るパワーモジュール10Aについて説明する。図2は、実施の形態2に係るパワーモジュール10Aを制御基板16に固定した状態を示す断面図である。なお、実施の形態2において、実施の形態1で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
実施の形態2では、パワーモジュール10Aは、一対の端子15に代えて一対の端子15aを備えている。一対の端子15aの幅はともに、フィルムコンデンサ17の幅よりも大きく形成されており、一対の端子15aの幅方向内側の側面は、フィルムコンデンサ17の側面に隣接している。
以上のように、実施の形態2に係るパワーモジュール10Aでは、一対の端子15aの幅はともに、フィルムコンデンサ17の幅よりも大きいため、実施の形態1の場合よりも、振動などによる外部応力に対する耐力をさらに向上させることができる。
<実施の形態3>
次に、実施の形態3に係るパワーモジュール10Bについて説明する。図3は、実施の形態3に係るパワーモジュール10Bを制御基板16に固定した状態を示す断面図である。なお、実施の形態3において、実施の形態1,2で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
実施の形態3では、パワーモジュール10Bは、実施の形態1に対して、一対の端子15に代えて一対の端子15bを備えている。フィルムコンデンサ17およびセメント抵抗19(第2電子部品)が制御基板16の下面に実装されている。セメント抵抗19は、制御基板16の下面において、フィルムコンデンサ17に隣接する位置に実装されている。
一対の端子15bの幅方向の間隔は、フィルムコンデンサ17の幅と、セメント抵抗19の幅とを加えた長さよりも大きく形成されている。一対の端子15bの高さ方向の長さは、フィルムコンデンサ17およびセメント抵抗19の高さよりも長く形成されている。より具体的には、セメント抵抗19の高さは、フィルムコンデンサ17の高さよりも高く形成されており、一対の端子15bの高さ方向の長さは、セメント抵抗19の高さよりも長く形成されている。なお、一対の端子15bの幅は一対の端子15の幅と同じである。
したがって、パワーモジュール10Bの内部である制御基板16とパワーモジュール10Bとの間にサイズの大きな電子部品である、例えばフィルムコンデンサ17およびセメント抵抗19を配置するためのスペースを確保することができる。なお、セメント抵抗19は、過電流検出回路または電流モニタ用に使用される大電力用途の抵抗である。
以上のように、実施の形態3に係るパワーモジュール10Bでは、一対の端子15bの幅方向の間隔は、フィルムコンデンサ17の幅と、制御基板16の下面においてフィルムコンデンサ17に隣接する位置に実装されるセメント抵抗19の幅とを加えた長さよりも大きく形成され、一対の端子15bの高さ方向の長さは、フィルムコンデンサ17およびセメント抵抗19の高さよりも長く形成される。したがって、パワーモジュール10Bの内部にサイズの大きな電子部品である、例えばフィルムコンデンサ17およびセメント抵抗19を配置するためのスペースを確保することができる。
<実施の形態4>
次に、実施の形態4に係るパワーモジュール10Cについて説明する。図4は、実施の形態4に係るパワーモジュール10Cを制御基板16に固定した状態を示す断面図である。なお、実施の形態4において、実施の形態1〜3で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
実施の形態4では、パワーモジュール10Cは、実施の形態3に対して、一対の端子15bに代えて一対の端子15cを備えている。一対の端子15bの幅はともに、フィルムコンデンサ17の幅またはセメント抵抗19の幅よりも大きく形成されており、一対の端子15cの幅方向内側の側面は、それぞれフィルムコンデンサ17またはセメント抵抗19の側面に隣接している。
以上のように、実施の形態4に係るパワーモジュール10Cでは、一対の端子15cの幅はともに、フィルムコンデンサ17の幅またはセメント抵抗19の幅よりも大きいため、実施の形態3の場合よりも、振動などによる外部応力に対する耐力をさらに向上させることができる。
<実施の形態5>
次に、実施の形態5に係るパワーモジュール10Dについて説明する。図5は、実施の形態5に係るパワーモジュール10Dを制御基板16に固定した状態を示す断面図である。なお、実施の形態5において、実施の形態1〜4で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
実施の形態5では、フィルムコンデンサ17a,17bが制御基板16の下面に実装されている。また、パワーモジュール10Dは、実施の形態1に対して、封止材30上において、パワーモジュール10Dの幅方向の中央部に立設されかつ制御基板16と先端部で接続される端子20をさらに備えている。無電極である端子20は、フィルムコンデンサ17a,17bの間に配置されており、端子20の高さ方向の長さおよび幅は、一対の端子15の高さ方向の長さおよび幅とそれぞれ同じである。
以上のように、実施の形態5に係るパワーモジュール10Dでは、封止材30上において、パワーモジュール10Dの幅方向の中央部に立設されかつ制御基板16と先端部で接続される端子20をさらに備える。したがって、実施の形態1の場合よりも、振動などによる外部応力に対する耐力をさらに向上させることができる。
<実施の形態6>
次に、実施の形態6に係るパワーモジュール10Eについて説明する。図6は、実施の形態6に係るパワーモジュール10Eを制御基板16に固定した状態を示す断面図である。なお、実施の形態6において、実施の形態1〜5で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
フィルムコンデンサ17は、実施の形態1では、制御基板16の下面に実装されていたが、実施の形態6では、封止材30の上面に設置されている。パワーモジュール10Eは、封止材30上にフィルムコンデンサ17を設置するための端子21をさらに備えている。一対の端子15の高さ方向の長さは、フィルムコンデンサ17が端子21に設置された状態の高さよりも長く形成されている。
以上のように、実施の形態6に係るパワーモジュール10Eは、封止材30上にフィルムコンデンサ17を設置するための端子21をさらに備えるため、制御基板16の下面に設けられていたフィルムコンデンサ17を配置するためのスペースを削減することができる。
<実施の形態7>
次に、実施の形態7に係るパワーモジュール10Fについて説明する。図7は、実施の形態7に係るパワーモジュール10Fを制御基板16に固定した状態を示す断面図である。なお、実施の形態7において、実施の形態1〜6で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
実施の形態7では、パワーモジュール10Fは、実施の形態6に対して、一対の端子15に代えて一対の端子15dを備えている。一対の端子15dの幅はともに、フィルムコンデンサ17の幅よりも大きく形成されている。
以上のように、実施の形態7に係るパワーモジュール10Fでは、一対の端子15dの幅はともに、フィルムコンデンサ17の幅よりも大きいため、実施の形態6の場合よりも、振動などによる外部応力に対する耐力をさらに向上させることができる。
<実施の形態8>
次に、実施の形態8に係るパワーモジュール10Gについて説明する。図8は、実施の形態8に係るパワーモジュール10Gを制御基板16に固定した状態を示す断面図である。なお、実施の形態8において、実施の形態1〜7で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
実施の形態8では、パワーモジュール10Gは、6in1と呼ばれる構成であるIGBTチップと還流用のFWDiチップを6つずつ備えたモジュールであり、3相ブリッジを構成している。パワーモジュール10Gは、3相ブリッジの各アームに対して3つ(複数)のフィルムコンデンサ17c,17d,17eをそれぞれ接続するための複数(3つ)の端子21a,21b,21cを備えている。
すなわち、3つのフィルムコンデンサ17c,17d,17eは、封止材30の上面において、パワーモジュール10Gの幅方向に互いに隣接する位置に実装されている。パワーモジュール10Gは、封止材30上に3つのフィルムコンデンサ17c,17d,17eをそれぞれ設置するための3つの端子21a,21b,21cをさらに備えている。
以上のように、実施の形態8に係るパワーモジュール10Gでは、3つのフィルムコンデンサ17c,17d,17eは、パワーモジュール10Gの幅方向に互いに隣接する位置に実装され、パワーモジュール10Gは、封止材30上に複数のフィルムコンデンサ17c,17d,17eをそれぞれ設置するための複数の端子21a,21b,21cをさらに備えている。したがって、パワーモジュール10Gの内部にある半導体素子18に隣接した位置でコンデンサ容量を稼ぐことができることから、半導体素子18に発生するサージ電圧を最小限に抑えることができる。
<実施の形態9>
次に、実施の形態9に係るパワーモジュール10Hについて説明する。図9は、実施の形態9に係るパワーモジュール10Hを制御基板16に固定した状態を示す断面図である。なお、実施の形態9において、実施の形態1〜8で説明したものと同一の構成要素については同一符号を付して説明は省略する。
実施の形態9では、パワーモジュール10Hは、実施の形態8に対して、封止材30上において、隣接するフィルムコンデンサの間に立設されかつ制御基板16と先端部で接続される端子22,23をさらに備えている。無電極である端子22,23は、フィルムコンデンサ17c、17d間、フィルムコンデンサ17d、17e間にそれぞれ配置されている。端子22,23の高さ方向の長さおよび幅は、一対の端子15の高さ方向の長さおよび幅とそれぞれ同じである。
以上のように、実施の形態9に係るパワーモジュール10Hは、封止材30上において、隣接するフィルムコンデンサの間に立設されかつ制御基板16と先端部で接続される端子22,23をさらに備える。したがって、実施の形態8の場合よりも、振動などによる外部応力に対する耐力をさらに向上させることができる。
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
10,10A,10B,10C,10D,10E,10F,10G,10H パワーモジュール、12 絶縁基板、15,15a,15b,15c,15d 端子、16 制御基板、17,17a,17b,17c,17d,17e フィルムコンデンサ、18 半導体素子、19 セメント抵抗、20,21,21a,21b,21c,22,23 端子、30 封止材。

Claims (6)

  1. 絶縁基板と、
    前記絶縁基板上に実装される半導体素子と、
    前記絶縁基板と前記半導体素子とを封止し、かつ、パワーモジュールの外形を形成する封止材と、
    前記封止材上において、前記パワーモジュールの幅方向の両端部に立設される一対の端子と、
    を備え、
    前記一対の端子の前記幅方向の間隔は、前記一対の端子の先端部に接続される回路基板の下面に実装される第1電子部品の幅よりも大きく形成され、
    前記一対の端子の前記幅方向に直交する高さ方向の長さは、前記第1電子部品の高さよりも長く形成され、
    前記一対の端子の幅はともに、前記第1電子部品の幅よりも大きい、パワーモジュール。
  2. 前記一対の端子の前記幅方向の間隔は、前記第1電子部品の幅と、前記回路基板の下面において前記第1電子部品に隣接する位置に実装される第2電子部品の幅とを加えた長さよりも大きく形成され、
    前記一対の端子の前記高さ方向の長さは、前記第1電子部品および前記第2電子部品の高さよりも長く形成される、請求項1記載のパワーモジュール。
  3. 前記一対の端子の幅はともに、前記第1電子部品の幅または前記第2電子部品の幅よりも大きい、請求項2記載のパワーモジュール。
  4. 絶縁基板と、
    前記絶縁基板上に実装される半導体素子と、
    前記絶縁基板と前記半導体素子とを封止し、かつ、パワーモジュールの外形を形成する封止材と、
    前記封止材上において、前記パワーモジュールの幅方向の両端部に立設される一対の端子と、
    前記封止材上に第1電子部品を設置するための端子と、
    を備え、
    前記一対の端子の前記幅方向の間隔は、前記第1電子部品の幅よりも大きく形成され、
    前記一対の端子の前記幅方向に直交する高さ方向の長さは、前記第1電子部品の高さよりも長く形成され
    前記一対の端子の幅はともに、前記第1電子部品の幅よりも大きい、パワーモジュール。
  5. 絶縁基板と、
    前記絶縁基板上に実装される半導体素子と、
    前記絶縁基板と前記半導体素子とを封止し、かつ、パワーモジュールの外形を形成する封止材と、
    前記封止材上において、前記パワーモジュールの幅方向の両端部に立設される一対の端子と、
    前記パワーモジュールの幅方向に互いに隣接する位置に実装される複数の第1電子部品と、
    前記封止材上に複数の前記第1電子部品をそれぞれ設置するための複数の端子と、
    を備え、
    前記一対の端子の前記幅方向の間隔は、前記第1電子部品の幅よりも大きく形成され、
    前記一対の端子の前記幅方向に直交する高さ方向の長さは、前記第1電子部品の高さよりも長く形成される、パワーモジュール。
  6. 前記封止材上において、隣接する前記第1電子部品の間に立設されかつ前記一対の端子の先端部に接続される回路基板と先端部で接続される端子をさらに備える、請求項記載のパワーモジュール。
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