JP6043679B2 - 静電容量検出回路及び入力デバイス - Google Patents
静電容量検出回路及び入力デバイス Download PDFInfo
- Publication number
- JP6043679B2 JP6043679B2 JP2013096474A JP2013096474A JP6043679B2 JP 6043679 B2 JP6043679 B2 JP 6043679B2 JP 2013096474 A JP2013096474 A JP 2013096474A JP 2013096474 A JP2013096474 A JP 2013096474A JP 6043679 B2 JP6043679 B2 JP 6043679B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charge
- output
- circuit
- capacitor
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
- G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R35/00—Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
- G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
- G06F3/04182—Filtering of noise external to the device and not generated by digitiser components
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0446—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
- H03K2217/96—Touch switches
- H03K2217/9607—Capacitive touch switches
- H03K2217/96071—Capacitive touch switches characterised by the detection principle
- H03K2217/960725—Charge-transfer
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
さらに、チャージアンプの出力を時間差で擬似差動出力とすることで出力信号のダイナミックレンジが拡大し、ノイズの影響を少なくしてアナログ/ディジタル変換する事が可能となる。
また、駆動信号の立ち上りと立ち下りの両エッジで電荷転送が可能となり、低周波のノイズが演算増幅器の帰還経路のキャパシタで連続的に積分する事が可能となることで、外来ノイズを平均化する事ができる。また、2系統の積分回路を用いることがないことから、最小限の回路構成で外来ノイズ耐性を大幅に向上できる。
さらに、チャージアンプの出力を被検出容量の変化のダイナミックレンジに合わせて効率よくアナログ/ディジタル変換する事が可能となる。
その上、少ない分解能のアナログ/ディジタル変換器を用いてより分解能の高いデルタシグマ−アナログ/ディジタル変換器を実現する事が可能となる。
また、駆動信号の立ち上りと立ち下りの両エッジで電荷転送が可能となり、低周波のノイズが演算増幅器の帰還経路のキャパシタで連続的に積分する事が可能となることで、外来ノイズを平均化する事ができる。また、2系統の積分回路を用いることがないことから、最小限の回路構成で外来ノイズ耐性を大幅に向上できる。
さらに、チャージアンプの出力を被検出容量の変化のダイナミックレンジに合わせて効率よくアナログ/ディジタル変換する事が可能となる。
その上、チャージアンプの出力を擬似差動化しノイズの影響を少なくして、少ない分解能のアナログ/ディジタル変換器を用いてより分解能及びSN比の高いデルタシグマ−アナログ/ディジタル変換器を実現する事が可能となる。
また、第1の電流出力回路と第2の電流出力回路のカレントミラー比の設計自由度があることから、その設定により積分キャパシタのサイズを小さくする事が可能となり、全体として回路規模を小さくする事が可能となる。
(実施の形態1)
図1には、本実施の形態1に係る静電容量検出回路1に対して、タッチパッド、タッチセンサ等のセンサ電極2が接続されている状態が示されている。センサ電極2は、2次元の平面に形成され、互いに直交するX電極群3とY電極群4とがマトリックス状に配置されている。センサ電極2のX電極群3とY電極群4をマトリックス状に配置することで、人間の指の近接の位置を検出できるようにしている。
ΔAout=VDD×Cm/Cfb (1)
次に、チャージアンプ10の一部を変形した実施の形態2について説明する。
信号φ1、φ2で制御される切替回路(切替スイッチSW4−1、5−1、4−2、5−2)は通常はスイッチが互いに同時にONしないように制御されるため、信号φ1、φ2は、図8に示すようなノンオーバーラップ信号となる。また、実際のスイッチはデータ信号が搬送され、スイッチに対して入出力されるデータ信号入出力部とスイッチを制御する制御信号が入力される制御信号入力部との間に静電容量結合が生じる。設計上その結合をキャンセルするためにダミートランジスタを設けるなどの手法がとられるが、無視できない影響が残る場合がある。この場合、図8、図9に示すように、スパイク状のノイズNinが発生する可能性がある。ノイズ発生時に信号φ1、φ2がともにOFFとなっている期間では、演算増幅器11には負帰還がかからずオープンループとなってしまう事から、出力Aoutに大きな出力変化が起こってしまう。この状態から次に信号φ1ないしφ2がONすると帰還容量Cfbに不要な電荷が流入してチャージアンプ出力のSN比の劣化が生じる場合がある。
次に、本発明の実施の形態3について説明する。本実施の形態3は、出力Aoutを駆動電極ノードSinの立ち上りエッジの時はサンプリング容量Csnにサンプリングし、駆動電極ノードSinの立ち下がりエッジの時はサンプリング容量Cspにサンプリングする。
次に、本発明の実施の形態4について説明する。本実施の形態4は、アナログ/ディジタル変換器20として、1ビット出力のコンパレータ24を用いてデルタシグマ型のアナログ/ディジタル変換器を実現したものである。
Qds=VDD×Cds (2)
次に、本発明の実施の形態5について説明する。本実施の形態5は、アナログ/ディジタル変換器20として、1ビット出力のコンパレータ24を用いてデルタシグマ型のアナログ/ディジタル変換器を実現したものである。基本的な構成及び動作は実施の形態4と同様であるので、ここでは主に実施の形態4との相違点について説明する。
実施の形態6に係る静電容量検出回路は、図1に示す静電容量検出回路1と同様に、センサ電極2を構成するX電極群3とY電極群4とに接続されていて、指の近接位置を特定するために、X電極とY電極の各交点に形成される電極間容量Cmの大きさに応じた電荷量を検出する。
ΔA’=B×VDD×Cm/Cint (3)
Bは電流出力回路gmA,gmBのカレントミラー比を示す。第1の電流出力回路gmAと第2の電流出力回路gmBの電流出力をI1、I2とすると、B=I2/I1である。よって、この時の積分キャパシタCintの端子間の電位差(A’−Aout)はVR−ΔA’となる。次にスイッチSWf1、SWf2をOFFして、センサ電極2からの転送電荷に比例した電圧のΔA’分だけ参照電位VRから変化した積分キャパシタCintの電圧が保持される。その後、PUによりスイッチSW1がOFFになる。
次に本発明の実施の形態7について説明する。本実施の形態7は、実施の形態4と同様に、アナログ/ディジタル変換器20として、1ビット出力のコンパレータを用いてデルタシグマ型のアナログ/ディジタル変換器を実現したものである。電荷積分回路110は実施の形態6における図18または変形例(図20)と同一構成を採ることができる。
Qds=VDD×Cds×B (4)
Bは実施の形態6と同様に第1及び第2の電流出力回路gmA、gmBのカレントミラー比である。その電荷に対応する出力Aoutの出力波形を図23中に2点鎖線で示すが、駆動電極ノードSinに印加される駆動信号による転送電荷で矢印の方向に電荷が差し引かれる事で破線の波形(A’)となる。このような動作が駆動信号の次のエッジとなる立下りで同様に行われ、信号Ddsによる初期電荷はタイミングT1、T2の両エッジで積分キャパシタCintへ転送されるため、トータルで(4)式で計算される電荷の2倍の電荷が初期電荷として転送される。
2 センサ電極
3 X電極群
4 Y電極群
10 チャージアンプ
11 演算増幅器
12 抵抗素子
20 アナログ/ディジタル変換器
21、24、121 コンパレータ
22 ラッチ回路
23 トラック/ホールド回路 25 ディジタルフィルタ
30 デルタシグマ帰還制御ロジック
110 電荷積分回路
111 差動増幅器
112 帰還経路
Cfb 帰還容量
SW1,SW2 スイッチ
SW3 捕捉スイッチ
SW4−1、5−1、4−2、5−2、SWf1、SWf2、SWr1、SWr2 切替スイッチ(切替回路)
Cm 電極間容量
Cp GND容量
Csn、Csp サンプリング容量
Cds デルタシグマ帰還容量
gmA 第1の電流出力回路
gmB 第2の電流出力回路
gm1、gm2、gm1’、gm2’ 相互コンダクタンス素子
Claims (11)
- センサ電極の電極間容量の検出電荷及び外来ノイズによる電荷を含む信号が流入する電荷積分回路と、前記電荷積分回路の出力をアナログ信号からディジタル信号に変換するA/D変換器と、を備え、
前記電荷積分回路は、前記電極間容量との間で転送される電荷を蓄積するキャパシタを備え、前記センサ電極の駆動側電極に与える駆動信号により転送される電荷を前記キャパシタで連続的に積分する静電容量検出回路であって、
前記電荷積分回路は、
帰還経路に前記キャパシタが設けられた演算増幅器を有するチャージアンプと、
前記キャパシタに印加される信号の向きを切り替える複数の切替スイッチを有し、前記センサ電極の駆動側電極に印加される駆動信号により前記センサ電極の検出側電極から流入する電荷の向きに応じて前記キャパシタの接続を切り替える切替回路と、
を具備し、
前記A/D変換器は、前記駆動信号の立ち上りエッジに対応する前記チャージアンプの出力電位と、前記駆動信号の立ち下りエッジに対応する前記チャージアンプの出力電位との差分の電位からなるアナログ信号をディジタル信号に変換することを特徴とする静電容量検出回路。 - センサ電極の電極間容量の検出電荷及び外来ノイズによる電荷を含む信号が流入する電荷積分回路と、前記電荷積分回路の出力をアナログ信号からディジタル信号に変換するA/D変換器と、を備え、
前記電荷積分回路は、前記電極間容量との間で転送される電荷を蓄積するキャパシタを備え、前記センサ電極の駆動側電極に与える駆動信号により転送される電荷を前記キャパシタで連続的に積分する静電容量検出回路であって、
前記電荷積分回路は、
帰還経路に前記キャパシタが設けられた演算増幅器を有するチャージアンプと、
前記キャパシタに印加される信号の向きを切り替える複数の切替スイッチを有し、前記センサ電極の駆動側電極に印加される駆動信号により前記センサ電極の検出側電極から流入する電荷の向きに応じて前記キャパシタの接続を切り替える切替回路と、
を具備し、
前記A/D変換器は、前記チャージアンプの出力電位と参照電位との差分の電位からなるアナログ信号をディジタル信号に変換するものであって、
前記チャージアンプの出力電位と参照電位との差分の電位からなるアナログ信号をディジタル信号に変換した出力に応じた信号を前記チャージアンプの入力に帰還する帰還回路を備えたことを特徴とする静電容量検出回路。 - センサ電極の電極間容量の検出電荷及び外来ノイズによる電荷を含む信号が流入する電荷積分回路と、前記電荷積分回路の出力をアナログ信号からディジタル信号に変換するA/D変換器と、を備え、
前記電荷積分回路は、前記電極間容量との間で転送される電荷を蓄積するキャパシタを備え、前記センサ電極の駆動側電極に与える駆動信号により転送される電荷を前記キャパシタで連続的に積分する静電容量検出回路であって、
前記電荷積分回路は、
帰還経路に前記キャパシタが設けられた演算増幅器を有するチャージアンプと、
前記キャパシタに印加される信号の向きを切り替える複数の切替スイッチを有し、前記センサ電極の駆動側電極に印加される駆動信号により前記センサ電極の検出側電極から流入する電荷の向きに応じて前記キャパシタの接続を切り替える切替回路と、
を具備し、
前記A/D変換器は、前記チャージアンプの出力電位と参照電位との差分の電位からなるアナログ信号をディジタル信号に変換するものであって、
前記駆動信号の立ち上りエッジに対応する前記チャージアンプの出力電位と、前記駆動信号の立ち下りエッジに対応する前記チャージアンプの出力電位との差分の電位からなるアナログ信号をディジタル信号に変換した出力に応じた信号を前記チャージアンプの入力に帰還する帰還回路を備えたことを特徴とする静電容量検出回路。 - 前記信号の前記チャージアンプへの流入期間を制御する捕捉スイッチを有し、この捕捉スイッチによってチャージアンプ出力となるアナログ信号を、アナログ/ディジタル変換のタイミングにあわせて捕捉することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の静電容量検出回路。
- 前記演算増幅器の帰還経路に、抵抗素子、インピーダンス素子、能動素子又はインピーダンス素子及び能動素子を組み合わせた回路網のいずれかを前記帰還径路に対して並列に接続したことを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の静電容量検出回路。
- センサ電極の電極間容量の検出電荷及び外来ノイズによる電荷を含む信号が流入する電荷積分回路と、前記電荷積分回路の出力をアナログ信号からディジタル信号に変換するA/D変換器と、を備え、
前記電荷積分回路は、前記電極間容量との間で転送される電荷を蓄積するキャパシタを備え、前記センサ電極の駆動側電極に与える駆動信号により転送される電荷を前記キャパシタで連続的に積分する静電容量検出回路であって、
前記電荷積分回路は、
前記センサ電極の検出側電極の電位と参照電位とが入力される差動増幅器と、前記差動増幅器の出力電圧で出力電流が制御される第1の電流出力回路と、前記第1の電流出力回路の出力電流を前記差動増幅器の入力へ帰還する帰還経路と、前記第1の電流出力回路とカレントミラーを構成する第2の電流出力回路とを備えた電流コンベア回路と、
前記第2の電流出力回路の出力電流を積分する前記キャパシタの電位を初期化するとともに、前記センサ電極の検出側電極から流入する電荷の向きに応じて前記電流コンベア回路の出力と前記キャパシタとの接続を切り替える切替回路と、を備えたことを特徴とする静電容量検出回路。 - 前記切替回路は、
前記第2の電流出力回路の出力と前記キャパシタの一端との間に接続された第1のスイッチと、前記第2の電流出力回路の出力と前記キャパシタの他端との間に接続された第2のスイッチと、前記キャパシタの他端とグラウンドとの間に接続された第3のスイッチと、前記キャパシタの一端と電圧源との間に接続された第4のスイッチと、参照電位端と前記キャパシタの一端との間に接続された第5のスイッチと、を有することを特徴とする請求項6記載の静電容量検出回路。 - 前記切替回路は、
前記第2の電流出力回路の出力と前記キャパシタの一端との間に接続された第1のスイッチと、前記第2の電流出力回路の出力と前記キャパシタの他端との間に接続された第2のスイッチと、前記キャパシタの他端と参照電位端との間に接続された第3のスイッチと、前記キャパシタの一端と参照電位端との間に接続された第4のスイッチと、を有することを特徴とする請求項6記載の静電容量検出回路。 - センサ電極の電極間容量の検出電荷及び外来ノイズによる電荷を含む信号が流入する電荷積分回路と、前記電荷積分回路の出力をアナログ信号からディジタル信号に変換するA/D変換器と、を備え、
前記電荷積分回路は、前記電極間容量との間で転送される電荷を蓄積するキャパシタを備え、前記センサ電極の駆動側電極に与える駆動信号により転送される電荷を前記キャパシタで連続的に積分する静電容量検出回路であって、
前記電荷積分回路は、
前記センサ電極の検出側電極の電位と参照電位とが入力される第1の差動増幅器と、前記第1の差動増幅器の出力電圧で出力電流が制御される第1の電流出力回路と、前記第1の電流出力回路の出力電流が前記第1の差動増幅器の入力へ帰還する帰還経路と、を備えた第1の演算増幅器と、
前記センサ電極の検出側電極の電位と前記参照電位とが入力する第2の差動増幅器と、前記第2の差動増幅器の出力電圧で出力電流が制御される第2の電流出力回路と、を備えた第2の演算増幅器と、
前記第2の電流出力回路の出力電流を積分する前記キャパシタの電位を初期化するとともに、前記センサ電極の検出側電極から流入する電荷の向きに応じて前記第2の演算増幅器の出力と前記キャパシタとの接続を切り替える切替回路と、
を備えたことを特徴とする静電容量検出回路。 - 前記A/D変換器は、デルタシグマ型変換器であることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれかに記載の静電容量検出回路。
- 請求項1から請求項10のいずれかに記載の静電容量検出回路を備えたことを特徴とする入力デバイス。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013096474A JP6043679B2 (ja) | 2012-08-01 | 2013-05-01 | 静電容量検出回路及び入力デバイス |
US13/949,676 US9678191B2 (en) | 2012-08-01 | 2013-07-24 | Electrostatic capacitance detection circuit and input device |
CN201310331780.3A CN103577015B (zh) | 2012-08-01 | 2013-08-01 | 静电电容检测电路以及输入设备 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012171177 | 2012-08-01 | ||
JP2012171177 | 2012-08-01 | ||
JP2013096474A JP6043679B2 (ja) | 2012-08-01 | 2013-05-01 | 静電容量検出回路及び入力デバイス |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014045475A JP2014045475A (ja) | 2014-03-13 |
JP6043679B2 true JP6043679B2 (ja) | 2016-12-14 |
Family
ID=50024863
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013096474A Active JP6043679B2 (ja) | 2012-08-01 | 2013-05-01 | 静電容量検出回路及び入力デバイス |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9678191B2 (ja) |
JP (1) | JP6043679B2 (ja) |
CN (1) | CN103577015B (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9176633B2 (en) * | 2014-03-31 | 2015-11-03 | Synaptics Incorporated | Sensor device and method for estimating noise in a capacitive sensing device |
JP6400944B2 (ja) * | 2014-05-26 | 2018-10-03 | シナプティクス・ジャパン合同会社 | 容量検出回路、タッチ検出回路及びそれを備える半導体集積回路 |
US9891763B2 (en) * | 2014-09-30 | 2018-02-13 | Synaptics Incorporated | Current feedback techniques for capacitive sensing |
WO2016059967A1 (ja) * | 2014-10-15 | 2016-04-21 | アルプス電気株式会社 | 入力装置 |
CN105763041B (zh) * | 2014-12-18 | 2018-10-26 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 取样电路与取样方法 |
CN104484070B (zh) | 2014-12-19 | 2017-11-24 | 京东方科技集团股份有限公司 | 触摸装置的驱动电路、驱动方法、触摸装置和显示装置 |
CN105138986A (zh) * | 2015-08-25 | 2015-12-09 | 敦泰电子有限公司 | 一种指纹检测电路、指纹检测装置及触控面板 |
JP6246783B2 (ja) * | 2015-12-28 | 2017-12-13 | アルプス電気株式会社 | 静電容量検出装置及び入力装置 |
CN106775143B (zh) | 2015-12-31 | 2020-01-03 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 积分电路及电容感测电路 |
JP2017126196A (ja) * | 2016-01-14 | 2017-07-20 | 株式会社東海理化電機製作所 | 操作装置 |
US10019122B2 (en) | 2016-03-31 | 2018-07-10 | Synaptics Incorporated | Capacitive sensing using non-integer excitation |
JP6615683B2 (ja) * | 2016-04-14 | 2019-12-04 | ローム株式会社 | 容量測定回路、それを用いた入力装置、電子機器 |
US9983749B2 (en) * | 2016-05-19 | 2018-05-29 | Atmel Corporation | Touch detection |
US10061415B2 (en) * | 2016-06-30 | 2018-08-28 | Synaptics Incorporated | Input device receiver with delta-sigma modulator |
KR102056018B1 (ko) * | 2016-10-26 | 2019-12-13 | 선전 구딕스 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 커패시턴스 변화량 검출 회로 및 터치스크린, 터치 감지 방법 |
KR20180049357A (ko) * | 2016-10-31 | 2018-05-11 | 엘지디스플레이 주식회사 | 구동 회로, 터치 디스플레이 장치 |
US10133435B2 (en) * | 2017-01-03 | 2018-11-20 | Synaptics Incorporated | Reduced capacitive baseline shift via switching elements |
JP6555666B2 (ja) * | 2017-02-08 | 2019-08-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 静電容量センサおよびグリップセンサ |
DE102018107477A1 (de) * | 2017-09-14 | 2019-03-14 | Huf Hülsbeck & Fürst Gmbh & Co. Kg | Anordnung für ein Fahrzeug |
JP6872031B2 (ja) * | 2017-10-02 | 2021-05-19 | アルプスアルパイン株式会社 | 入力装置 |
KR102533653B1 (ko) | 2017-12-14 | 2023-05-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 적분기, 터치 표시 장치 및 이의 구동 방법 |
US10503319B2 (en) * | 2017-12-27 | 2019-12-10 | Novatek Microelectronics Corp. | Signal processing circuit for processing sensing signal from touch panel |
CN108255348B (zh) * | 2018-01-29 | 2021-09-14 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种信号累加方式切换电路、触摸屏检测电路 |
US10635228B2 (en) * | 2018-02-22 | 2020-04-28 | Samsung Display Co., Ltd. | System and method for mutual capacitance sensing |
US11054942B2 (en) * | 2018-04-05 | 2021-07-06 | Synaptics Incorporated | Noise suppression circuit |
CN110609064A (zh) * | 2018-06-14 | 2019-12-24 | 深圳碳森科技有限公司 | 一种差分阻抗电位型生物传感器及其制造方法 |
JP6909764B2 (ja) * | 2018-08-24 | 2021-07-28 | 日立Astemo株式会社 | 流量センサ |
CN111103440B (zh) * | 2018-10-26 | 2022-05-31 | 航天科工惯性技术有限公司 | 一种加速度计表芯的测试装置、***及方法 |
CN109884711B (zh) * | 2018-11-23 | 2022-09-13 | 辽宁大学 | 一种基于感应原理的非接触式煤、岩带电监测传感器 |
US11015914B2 (en) * | 2019-01-21 | 2021-05-25 | Novatek Microelectronics Corp. | Capacitive image sensing device and capacitive image sensing method |
KR102623568B1 (ko) * | 2020-03-03 | 2024-01-11 | 선전 구딕스 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드 | 커패시턴스 검출 회로, 센서, 칩 및 전자 기기 |
JP7405653B2 (ja) * | 2020-03-11 | 2023-12-26 | Tianma Japan株式会社 | イメージセンサ |
JP7432419B2 (ja) | 2020-03-27 | 2024-02-16 | ローム株式会社 | 容量検出回路、入力装置 |
CN111865313B (zh) * | 2020-09-22 | 2021-07-06 | 上海海栎创科技股份有限公司 | 快速电容感应装置及电容信号检测方法 |
KR102440297B1 (ko) * | 2021-04-12 | 2022-09-06 | 주식회사 지니틱스 | 노이즈 필터를 갖는 단일 누적연산증폭기를 이용한 정전용량 감지장치 |
TWI792765B (zh) * | 2021-12-14 | 2023-02-11 | 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 | 可規劃偏移電壓之放大器、電容式觸控晶片、電容式觸控顯示裝置及資訊處理裝置 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5543588A (en) * | 1992-06-08 | 1996-08-06 | Synaptics, Incorporated | Touch pad driven handheld computing device |
US6452514B1 (en) | 1999-01-26 | 2002-09-17 | Harald Philipp | Capacitive sensor and array |
US20030222661A1 (en) * | 2002-01-11 | 2003-12-04 | Fasen Donald J. | Capacitance-based position sensor with integrating demodulator |
JP5395429B2 (ja) * | 2005-06-03 | 2014-01-22 | シナプティクス インコーポレイテッド | シグマデルタ測定法を使用してキャパシタンスを検出するための方法およびシステム |
US7830267B2 (en) * | 2006-01-10 | 2010-11-09 | Guardian Industries Corp. | Rain sensor embedded on printed circuit board |
JP2010049608A (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | Seiko Instruments Inc | 近接検出装置および近接検出方法 |
JP5324297B2 (ja) * | 2009-04-15 | 2013-10-23 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 座標入力装置、およびそれを備える表示装置 |
CN101788873B (zh) * | 2009-01-22 | 2012-05-30 | 义隆电子股份有限公司 | 电容式触控板的切换电容电路及检测方法 |
US8253706B2 (en) * | 2009-06-26 | 2012-08-28 | Atmel Corporation | Apparatus using a differential analog-to-digital converter |
JP2011089937A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Seiko Instruments Inc | 静電検出装置及びそれを用いた静電検出方法 |
US8854107B2 (en) | 2010-05-04 | 2014-10-07 | Zinitix Co., Ltd. | Integrator circuit with inverting integrator and non-inverting integrator |
KR101169253B1 (ko) * | 2010-05-14 | 2012-08-02 | 주식회사 지니틱스 | 반전 적분회로 및 비반전 적분회로가 결합된 적분회로 |
KR101178731B1 (ko) * | 2010-05-13 | 2012-08-31 | 주식회사 실리콘웍스 | 터치스크린의 터치라인신호 처리회로 |
WO2011143594A2 (en) * | 2010-05-14 | 2011-11-17 | Tyco Electronic Corporation | System and method for detecting locations of touches on a touch sensor |
JP5766928B2 (ja) * | 2010-09-29 | 2015-08-19 | 株式会社ジャパンディスプレイ | タッチ検出機能付き表示装置および電子機器 |
TWI571788B (zh) * | 2011-03-21 | 2017-02-21 | 宸鴻光電科技股份有限公司 | 觸控感測裝置及其掃描方法 |
-
2013
- 2013-05-01 JP JP2013096474A patent/JP6043679B2/ja active Active
- 2013-07-24 US US13/949,676 patent/US9678191B2/en active Active
- 2013-08-01 CN CN201310331780.3A patent/CN103577015B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9678191B2 (en) | 2017-06-13 |
CN103577015A (zh) | 2014-02-12 |
JP2014045475A (ja) | 2014-03-13 |
US20140035601A1 (en) | 2014-02-06 |
CN103577015B (zh) | 2017-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6043679B2 (ja) | 静電容量検出回路及び入力デバイス | |
JP4966777B2 (ja) | A/d変換器 | |
US7679422B1 (en) | Configurable switched capacitor block | |
Mohan et al. | A 0.6-v, 0.015-mm 2, time-based ecg readout for ambulatory applications in 40-nm cmos | |
JP5836020B2 (ja) | A/d変換器 | |
JP6228019B2 (ja) | 静電容量検出回路及び入力デバイス | |
CN112042117A (zh) | 具有多个独立输出级的d类放大器 | |
JP5945832B2 (ja) | アナログ−デジタル変換回路及びその駆動方法 | |
JP5648690B2 (ja) | コンパレータ及びそれを備えるad変換器 | |
JP2010147992A (ja) | 増幅回路及びa/d変換器 | |
US9565379B2 (en) | Ramp signal generator and CMOS image sensor having the same | |
US7068198B2 (en) | Double-sampled integrator system and method thereof | |
TW201349757A (zh) | 積分三角轉換器中用於將參考電流自輸入信號分隔開之方法及裝置 | |
CN111342840A (zh) | 精密的电流到数字转换器 | |
WO2010131640A1 (ja) | 静電容量検出回路 | |
JP2009260605A (ja) | Δς変調器及びδς型ad変換器 | |
JP6362915B2 (ja) | センサ回路構成 | |
US10305452B2 (en) | Five-level switched-capacitance DAC using bootstrapped switches | |
US9160948B2 (en) | Replica noise generator using pixel modeling and ramp signal generator including the same | |
JP2000022500A (ja) | スイッチトキャパシタ回路 | |
CN114356135B (zh) | 采样电路、信号处理电路、显示装置及信号处理方法 | |
Xing et al. | High sensitive readout circuit for capacitance touch panel with large size | |
KR101484335B1 (ko) | 파이프라인 전하―도메인 신호―처리 회로에서 공통―모드 전하 제어 | |
JP2005260307A (ja) | 演算増幅器およびそれを用いたアナログデジタル変換器 | |
CN114327135B (zh) | 触控采样电路及触控采样方法、显示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20131226 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20151109 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160714 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160816 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160921 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161025 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161114 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6043679 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |