JP6008930B2 - 電力変換装置 - Google Patents

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Description

この発明は電力変換装置に関し、特に、半導体スイッチ素子をオン/オフ駆動する一連のパルス間に設定されるデッドタイムを負荷電流に応じて任意に制御可能とした電力変換装置に関する。
電力変換装置には、複数の半導体スイッチ素子が設けられている。半導体スイッチ素子は、例えばMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)から構成される。電力変換装置では、それらの半導体スイッチ素子のオン/オフを制御することにより、電力変換が行われる。
電力変換装置の複数の半導体スイッチ素子は、上アーム側と下アーム側とに分けて設けられている。上アーム側の半導体スイッチ素子と下アーム側の半導体スイッチ素子とは直列接続されている。このとき、直列接続された上アーム側の半導体スイッチ素子と下アーム側の半導体スイッチ素子が同時にオンとなると、アーム短絡が発生する可能性がある。従って、上アーム側の半導体スイッチ素子と下アーム側の半導体スイッチ素子とが同時にオンにならないように、デッドタイムを設けることは周知の技術である。
以下、デッドタイムについて簡単に説明する。上述したように、デッドタイムの期間内では、直列接続される上アーム側の半導体スイッチ素子と下アーム側の半導体スイッチ素子とが同時にオンすることはない。すなわち、デッドタイムとは、上アーム側の半導体スイッチ素子と下アーム側の半導体スイッチ素子との両方がオフになる時間のことである。半導体スイッチング素子を駆動させるパルス信号間に、このデッドタイムが設定される。このように、デッドタイムとは、上アーム側の半導体スイッチ素子をオフ(またはオン)させるタイミングと下アーム側の半導体スイッチ素子をオン(またはオフ)させるタイミングとの時間差のことである。
しかしながら、デッドタイム中は電力伝送が行われない。そのため、デッドタイムを必要以上に長くとると、電力変換装置の変換効率が低下する。
そこで、デッドタイムを減らすために、入力電圧に応じてデッドタイムを制御する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1では、入力電圧に対してデッドタイムを予め設定された値に変化させるデッドタイム制御電圧を発生するデッドタイム制御電圧発生回路が設けられている。入力電圧が第1の閾値Vx1より小さい場合には、デッドタイム制御電圧は、第1の勾配で減少する。また、入力電圧が第1の閾値Vx1以上で第2の閾値Vx2より小さい場合には、デッドタイム制御電圧は、第1の勾配より小さい第2の勾配で減少する。さらに、入力電圧が第2の閾値Vx2以上の場合には、デッドタイム制御電圧は、第3の勾配で増加する。
一方で、昨今、DC/DCコンバータに設けられているリアクトル、トランス、および、コンデンサの小型化のために、スイッチング周波数は高周波化する傾向にある。高周波化の際には、しばしば、ワイドバンドギャップ半導体から成る半導体スイッチ素子を用いる。
ワイドバンドギャップ半導体としては、例えば、SiC(Silicon-Carbide、炭化ケイ素)がある。SiC半導体は、Si半導体に比べて、バンドギャップが広い。そのため、SiC半導体は、高周波パワーデバイスに適している。
Si半導体は、ユニポーラ動作が困難な高電圧領域で使用可能である。Si半導体は、スイッチング時に発生するスイッチング損失を大幅に低減することができる。そのため、電力損失の大幅な低減が可能になる。
また、Si半導体は、電力損失が小さく、耐熱性が高い。そのため、Si半導体を用いて冷却部を備えたパワーモジュールを構成した場合、ヒートシンクの放熱フィンの小型化や、水冷部の空冷化が可能になる。それにより、半導体モジュールの一層の小型化が可能になる。
一方、SiCを用いたMOSFETは、ボディダイオードに通電すると特性が劣化するという問題がある。そのため、SBD(Schottky Barrier Diode)をMOSFETに並列接続する方法が提案されている(例えば、特許文献2参照)。当該方法では、SBDに電流が流れるように、素子の寄生インダクタンスの特性を制御する。
特許第3484625号公報 特許第5525917号公報
高周波化により、スイッチング周波数を増大させると、スイッチング周期に対するデッドタイムの割合が増加する。その結果、電力伝送時間が減少し、電力変換装置の効率が低下する。そのため、デッドタイムを低減させる必要がある。
しかしながら、特許文献1では、高周波化についての考慮がない。高周波化対応のためには、特許文献1の方法では、デッドタイムの低減が不十分であり、更なるデッドタイムの低減が必要である。
また、特許文献2は、インダクタンス作り込みのための空間が必要である。そのため、半導体スイッチ素子の寸法増大を招く。その結果、電力変換装置の大型化やコスト増という問題が発生する。さらに、特許文献2では、MOSFETにSBDを並列接続しているため、同期整流を行う場合であっても、電流値によってはデッドタイム中にボディダイオードに通電し得るため、ボディダイオードの通電劣化が問題である。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、デッドタイムを負荷電流に応じて制御可能とすることで、スイッチング素子の寸法が増大することなく、電力変換の効率を向上させることが可能な電力変換装置を得ることを目的とする。
この発明は、半導体スイッチ素子と、上記半導体スイッチ素子に流れる電流を検出する電流検出部と、上記半導体スイッチ素子に対してデッドタイムが設定されたゲートパルス信号を印加して、上記半導体スイッチ素子のオン/オフを制御する制御器とを備え、上記制御器は、上記電流検出部によって検出された上記電流の値に応じて、上記半導体スイッチ素子のスイッチング周期に対する上記デッドタイムの割合を制御するものであって、上記制御器は、上記半導体スイッチ素子に流れる電流の変化量に対して上記デッドタイムの変化量が負特性を有するように、上記半導体スイッチ素子のスイッチング周期に対する上記デッドタイムの割合を制御し、上記半導体スイッチに流れる電流の変化量と上記デッドタイムの変化量との関係は、上記電流の変化量に対する上記デッドタイムの変化量の傾きが変化する変曲点を有し、上記変曲点を境にして、上記電流が大きい領域に比べて上記電流が小さい領域においては上記デッドタイムの変化量の傾きが大きく、且つ、後述する関係式(1)を満たし、ここで、maxdutyはデューティの最大値(上記スイッチング周期Tswの一周期に対する電力伝送期間の割合を最大値0.5で表した場合)、tdは上記デッドタイム、Tswは上記スイッチング周期である、電力変換装置である。
この発明に係る電力変換装置は、半導体スイッチ素子に流れる電流の値に応じて、スイッチング周期に対するデッドタイムの割合を制御するようにしたので、スイッチング素子の寸法が増大することなく、電力変換装置の変換効率の向上および電力変換装置の長寿命化を実現することができる。
スイッチング遅延時間の電流依存性をグラフで示した説明図である。 この発明の実施の形態1に係る電力変換装置の構成を示す構成図である。 この発明の実施の形態1に係る電力変換装置に設けられた制御器の構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態1に係る電力変換装置における電流と許容最大デューティとの関係をグラフで示した説明図である。 この発明の実施の形態1に係る電力変換装置における電流とデッドタイムとの関係をグラフで示した説明図である。 この発明の実施の形態1に係る電力変換装置におけるゲート駆動信号生成方法を示した説明図である。 この発明の実施の形態1に係る電力変換装置のスイッチング素子に流れる電流の算出方法を示した説明図である。 この発明の他の実施の形態に係る電力変換装置のスイッチング素子に流れる電流の算出方法を示した説明図である。
この発明は、デッドタイムの下限値を負荷電流に応じて制御する電力変換装置に関する。この発明の電力変換装置においては、半導体スイッチ素子に流れる電流値に応じて、半導体スイッチ素子のスイッチング周期に対するデッドタイムの割合を制御する。
図1は、スイッチング遅延時間の電流依存性データを示すグラフである。図1のグラフにおいて、横軸は電流[A]、縦軸はスイッチング遅延時間[ns]である。図1に示されるように、ターンオン時間Tonとターンオフ時間Toffは共に電流依存性がある。しかしながら、ターンオン時間Tonとターンオフ時間Toffの変化度合は異なっている。電流増加に伴うターンオフ時間Toffの減少度合のほうが、ターンオン時間Tonの増加度合より大きい。そのため、ターンオン時間Tonとターンオフ時間Toffとの差(Toff−Ton)は、電流が増加するにつれて、減少する傾向にあることがわかる。
この差(Toff−Ton)は、最低限必要なデッドタイムである。従って、以下の関係が成り立つ。
電流が小さい領域での最低限必要なデッドタイム >
電流が大きい領域での最低限必要なデッドタイム
電流依存性を考慮しない場合、最低限必要なデッドタイムは、電流が小さい領域の値を元に一定値に設定することになる。そのため、電流が大きい領域では、デッドタイムに余裕がある状態となる。すなわち、電流が大きい領域では、デッドタイムの減縮が可能である。
よって、この発明では、半導体スイッチ素子に流れる電流の値に応じて、半導体スイッチ素子のスイッチング周期に対するデッドタイムの割合を変化させる。具体的には、電流値の増加に応じて、デッドタイムの割合を低下させる。これにより、デッドタイムの時間長を全体として削減することができる。その結果、電力変換装置の電力伝達時間を向上させることができる。
以下に、添付図面を参照し、この発明の実施の形態に係る電力変換装置について説明する。なお、以下に示す実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
実施の形態1.
図2は、本発明の実施の形態1に係る電力変換装置の構成を示す図である。実施の形態1に係る電力変換装置は、図2に示すように、1次側及び2次側ともにフルブリッジ回路の絶縁型DC/DCコンバータである。
図2の構成について説明する。
DC/DCコンバータ2は、図2に示す、バッテリ1(外部直流電源)から負荷12(外部負荷)までの構成要素で構成されている。DC/DCコンバータ2は、1次側の第1のモジュール20と、2次側の第2のモジュール21と、トランス6と、制御器14とから構成されている。トランス6は、第1のモジュール20と第2のモジュール21との間に接続されている。また、第1のモジュール20はバッテリ1に接続されている。第2のモジュール21は負荷12に接続されている。
まず、第1のモジュール20の構成について説明する。
第1のモジュール20には、4つの1次側スイッチング素子5a〜5dが設けられている。スイッチング素子5a〜5dは、例えば、MOSFETから構成されている。スイッチング素子5a〜5dは、フルブリッジ回路を構成している。スイッチング素子5a,5cが上アーム側、スイッチング素子5b,5dが下アーム側に配置されている。また、スイッチング素子5a,5bは直列に接続されている。以下、スイッチング素子5aとスイッチング素子5bとの接続点を、接続点16eと呼ぶ。同様に、スイッチング素子5c,5dは直列に接続されている。以下、スイッチング素子5cとスイッチング素子5dとの接続点を、接続点16fと呼ぶ。接続点16eと接続点16fには、トランス6の1次巻線6aが接続されている。1次巻線6aは、トランス6のコアに巻き回されている。また、スイッチング素子5a,5bから構成される直列体の両端16a,16b、および、スイッチング素子5c,5dから構成される直列体の両端16c,16dには、第1の電圧検出回路4と第1の平滑コンデンサ3とが並列に接続されている。第1の電圧検出回路4は、スイッチング素子5a〜5dのうちのオン状態のスイッチング素子に印加される電圧を検出する。さらに、バッテリ1が、第1の電圧検出回路4と第1の平滑コンデンサ3とに並列に接続されている。
このように、スイッチング素子5a〜5d、第1の電圧検出回路4、および、第1の平滑コンデンサ3は、第1のモジュール20を構成している。
次に、第2のモジュール21の構成について説明する。
第2のモジュール21には、4つの2次側整流ダイオード7a〜7dが設けられている。整流ダイオード7a〜7dは、フルブリッジ回路を構成している。整流ダイオード7a,7cが上アーム側、整流ダイオード7b,7dが下アーム側に配置されている。また、整流ダイオード7a,7bは直列に接続されている。以下、整流ダイオード7aと整流ダイオード7bとの接続点を、接続点17eと呼ぶ。同様に、整流ダイオード7c,7dは直列に接続されている。以下、整流ダイオード7cと整流ダイオード7dとの接続点を、接続点17fと呼ぶ。接続点17eと接続点17fには、トランス6の2次巻線6bが接続されている。2次巻線6bは、トランス6のコアに巻き回されている。また、整流ダイオード7a,7bから構成される直列体の両端17a,17b、および、整流ダイオード7c,7dから構成される直列体の両端17c,17dには、第2の電圧検出回路10と第2の平滑コンデンサ11とが並列に接続されている。さらに、負荷12が、第2の電圧検出回路10と第2の平滑コンデンサ11とに並列に接続されている。また、整流ダイオード7cのカソード側と、第2の電圧検出回路10との間には、平滑リアクトル8と電流検出回路9とが直列に接続されている。
このように、整流ダイオード7a〜7d、第2の電圧検出回路10、第2の平滑コンデンサ11、平滑リアクトル8、および、電流検出回路9は、第2のモジュール21を構成している。
制御器14は、スイッチング素子5a〜5dに、制御線15a〜15dを介して接続されている。制御器14は、制御線15a〜15dを介して、ゲート駆動信号を出力し、スイッチング素子5a〜5dのオン/オフを制御する。なお、制御器14には、以下の信号(1)〜(3)が入力される。ただし、図の簡略化のため、図3では、信号(1)〜(3)を入力するための信号線は図示を省略している。
(1)第2の電圧検出回路10で検出された電圧値Vout
(2)電流検出回路9で検出された電流値Iout
(3)スイッチング素子5a〜5dに流れる電流値Ids
制御器14は、これらの信号(1)〜(3)に基づいてPWM制御を行い、スイッチング素子5a〜5dを制御する。制御器14の内部構成および動作については、後述する。
次に、実施の形態1に係るDC/DCコンバータ2の動作について説明する。
図2において、スイッチング素子5a〜5dのうちのいずれか2つがオンされると、バッテリ1から、トランス6の1次巻線6aに電流が流れる。これにより、1次巻線6aに磁束が発生する。このとき、磁束増加を妨げるように起電力(逆起電力)が発生する。また、トランス6のコアを通じた1次巻線6aの磁束は、2次巻線6bに反作用磁束を発生させる。これにより、起電力(誘導起電力)が発生して、負荷12に電流(誘導電流)が流れる。なお、オンされるスイッチング素子の位置が変わることにより、電流の向きは逆になる。このように、スイッチング素子5a〜5dは、誘導性負荷である負荷12を駆動している。
図3は、PWM制御を行う制御器14の構成を示したブロック図である。
図3に示すように、制御器14は、除算部140と、減算部141と、PI制御部142と、比例制御部143と、リミッター144と、PWM制御部145と、ゲート駆動信号生成部146と、第1のルックアップテーブル部147と、第2のルックアップテーブル部148とを備えている。
以下、制御器14の動作について説明する。
まず、除算部140に、目標値Pout*が入力される。この目標値Pout*は、DC/DCコンバータ2が負荷12に供給する出力電力Poutに対する目標値である。目標値Pout*は一定値であり、当該値は、負荷12に合わせて、予め設定されて、制御器14内に予め保持されている。あるいは、目標値Pout*を、外部(例えば負荷12)からの指令値として、電力変換装置に入力するようにしてもよい。さらに、除算部140には、第2の電圧検出回路10で検出した出力電圧Voutが入力される。除算部140は、目標値Pout*を出力電圧Voutで除算することで、出力電流目標値100(Iout*)を生成する。
出力電流目標値100(Iout*)は、減算部141に入力される。減算部141には、さらに、電流検出回路9で検出した出力電流Ioutが入力される。減算部141は、出力電流目標値100(Iout*)から出力電流Ioutを減算して、それらの差分101を計算する。
差分101は、PI制御部142に入力される。PI制御部142は、差分101から平滑リアクトル8に印可する電圧102を計算する。
電圧102は、比例制御部143に入力される。比例制御部143は、電圧102から必要デューティ103を計算する。
第1のルックアップテーブル部147には、スイッチング素子5a〜5dに流れる電流Idsと許容最大デューティとの関係を示す第1のルックアップテーブルが予め記憶されている。
図4に、第1のルックアップテーブルの例を示す。図4の例1及び例2において、横軸が電流Ids、縦軸が許容最大デューティ(デューティ上限)である。第1のルックアップテーブルは、図4の例1に示すように、許容最大デューティと電流Idsとの関係が、勾配(傾き)が一定の1次関数でも良い。あるいは、例2に示すように、許容最大デューティと電流Idsとの関係が、勾配(傾き)が変化する変曲点を1以上有する2次以上の関数でも良い。
第1のルックアップテーブル部147は、図4の第1のルックアップテーブルを用いることにより、電流Idsに対応する許容最大デューティの値を一意に求めることができる。
第1のルックアップテーブル部147には、スイッチング素子5a〜5dに流れる電流Idsが入力される。電流Idsは、第1の電圧検出回路4で検出された電圧と、オン状態のスイッチング素子5a〜5dの抵抗値とから演算により求める。電流Idsの算出方法については後述する。または、スイッチング素子5a〜5dに対して電流検出回路を設けておき、電流検出回路により電流Idsを検出するようにしてもよい。第1のルックアップテーブル部147は、入力された電流Idsに基づき、図4に示す第1のルックアップテーブルから、許容最大デューティ104を求める。
ここで、電流Idsの算出方法について説明する。電流Idsの算出方法としては、例えば、以下の(1)〜(3)の方法がある。従って、これらのうちのいずれかの方法で電流Idsを求めるようにすればよい。ただし、これらは単に一例であり、他の方法により電流Idsを求めてもよいこととする。
(1)図7のように、トランス6の1次巻線6aに、第2の電流検出回路13を設け、電流検出回路13で検出した電流値の絶対値を、電流Idsとする。
(2)図2及び図7は電力変換装置がDC/DCコンバータの場合を示しているが、電力変換装置がインバータの場合には、図8の構成となる。この場合には、図8に示すように、負荷12であるモータのU,V,Wの各相に対して、電流検出回路18をそれぞれ設け、これらの3相電流の測定値を、電流Idsとする。
(3)図2の構成の場合には、電流検出回路9で検出した電流値を用いて、電流Idsを算出する。トランス6の特性から、以下の関係が成り立つ。
(1次巻線電流)=(2次巻線電流)×(1次巻線の巻き数/2次巻線の巻き数)
このとき、トランス6の1次巻線6aの巻き数、および、2次巻線6bの巻き数は、それぞれ、設計値であり、既知の値である。従って、この式の「2次巻線電流」に、電流検出回路9で検出した電流値を代入することで、1次巻線電流を算出することができる。こうして算出した1次巻線電流の絶対値を、電流Idsとする。
このように、例えば(1)〜(3)の算出方法のいずれかを用いることにより、スイッチング素子5a〜5dのドレイン端子及びソース端子の電流を直接測定しなくても、電流Idsを求めることができる。
リミッター144には、比例制御部143からの必要デューティ103と、第1のルックアップテーブル部147からの許容最大デューティ104とが入力される。リミッター144は、必要デューティ103と許容最大デューティ104とを比較し、比較結果に基づいて、動作デューティ105を出力する。すなわち、必要デューティ103が許容最大デューティ104より大きい場合は、リミッター144は、許容最大デューティ104の値を出力する。一方、必要デューティ103が許容最大デューティ104以下の場合は、リミッター144は、必要デューティ103を出力する。このように、リミッター144は、必要デューティ103と許容最大デューティ104とを比較し、それらのうちの小さい方の値を出力する。
PWM制御部145は、リミッター144からの動作デューティ105に基づいて、動作デューティ105を実現するためのPWM信号(Pulse Width Modulation信号)を出力する。ここで、PWM制御とは、周期は一定で、入力信号(動作デューティ105)の大きさに応じて、スイッチング素子5a〜5dを駆動するゲート駆動信号(ゲートパルス)のパルス幅のデューティ・サイクル(パルス幅のHとLの比)を変え、負荷12を制御する制御方法である。従って、PWM信号とは、ゲート駆動信号におけるHとLの比を指示する制御信号である。
ゲート駆動信号生成部146は、PWM信号に基づき、スイッチング素子5a〜5dのオン/オフを切り替えるためのゲート駆動信号を生成する。
図6を用いて、ゲート駆動信号生成部146のゲート駆動信号生成方法について説明する。
ゲート駆動信号生成部146には、図6の例1〜3に示すように、ゲート駆動信号を生成するための鋸状の基準波60が予め記憶されている。さらに、ゲート駆動信号生成部146には、各スイッチング素子5a〜5dのオン/オフのタイミングを判定するための判定閾値(5a_H,5a_L,5b_H,5b_L,5c_H,5c_L,5d_H,5d_L)が記憶されている。具体的には、以下の通りである。
<オンの判定閾値> <オフの判定閾値>
・スイッチング素子5a 5a_H 5a_L
・スイッチング素子5b 5b_H 5b_L
・スイッチング素子5c 5c_H 5c_L
・スイッチング素子5d 5d_H 5d_L
ゲート駆動信号生成部146は、基準波60と各判定閾値とを比較してスイッチング素子5a〜5dに対するゲート駆動信号を生成する。すなわち、ゲート駆動信号は、基準波60の値が各判定閾値に達したタイミングで、オン/オフ(H/L)が切り替わる。
具体的には、基準波60の値が、判定閾値5a_Hに達したタイミングで、スイッチング素子5aがオンになる。
また、基準波60の値が、判定閾値5a_Lに達したタイミングで、スイッチング素子5aがオフになる。
また、基準波60の値が、判定閾値5b_Hに達したタイミングで、スイッチング素子5bがオンになる。
また、基準波60の値が、判定閾値5b_Lに達したタイミングで、スイッチング素子5bがオフになる。
また、基準波60の値が、判定閾値5c_Hに達したタイミングで、スイッチング素子5cがオンになる。
また、基準波60の値が、判定閾値5c_Lに達したタイミングで、スイッチング素子5cがオフになる。
また、基準波60の値が、判定閾値5d_Hに達したタイミングで、スイッチング素子5dがオンになる。
また、基準波60の値が、判定閾値5d_Lに達したタイミングで、スイッチング素子5dがオフになる。
また、図6の例1及び例2では、各判定閾値のレベルは以下の関係になっている。
5a_L<5b_H≦5d_L<5c_H<5b_L<5a_H≦5c_L<5d_H
また、図6の例3では、各判定閾値のレベルは以下の関係になっている。
5b_H<5d_L<5c_H≦5b_L<5a_H<5c_L<5d_H≦5a_L
この中で、ゲート駆動信号にデッドタイムを設定する必要があるのは、直列に接続されたスイッチング素子5aと5bのゲートパルス信号間と、同様に、直列に接続されたスイッチング素子5cと5dのゲートパルス信号間に対してである。
すなわち、スイッチング素子5aがオフになるタイミングとスイッチング素子5bがオンになるタイミングとの間にデッドタイムが必要である。
また、スイッチング素子5bがオフになるタイミングとスイッチング素子5bがオンになるタイミングとの間にデッドタイムが必要である。
同様に、スイッチング素子5cがオフになるタイミングとスイッチング素子5dがオンになるタイミングとの間にデッドタイムが必要である。
また、スイッチング素子5dがオフになるタイミングとスイッチング素子5aがオンになるタイミングとの間にデッドタイムが必要である。
従って、デッドタイムが必要なゲートパルス信号のペアに対応する判定閾値ペアは、(5a_H、5b_L)、(5a_L、5b_H)、(5c_H、5d_L)、(5c_L、5d_H)となる。図6に示すように、判定閾値ペア(5a_H、5b_L)、(5a_L、5b_H)、(5c_H、5d_L)、(5c_L、5d_H)のレベル差はそれぞれ各デッドタイムの時間長に相当する値となっている。
なお、各判定閾値間のレベル差は、電流Idsに応じて変化させてもよい。
図5に、電流Idsとデッドタイムの時間長との関係を示す第2のルックアップテーブルの例を示す。第2のルックアップテーブルは、第2のルックアップテーブル部148に予め記憶されている。図5の例1及び例2において、横軸が電流Ids、縦軸がデッドタイムの時間長である。図5の例1に示すように、デッドタイムの時間長と電流Idsとの関係は、勾配(傾き)が一定の1次関数で良い。あるいは、例2に示すように、デッドタイムの時間長と電流Idsとの関係が、勾配(傾き)が変化する変曲点を1以上有する2次以上の関数でも良いが、次の関係式(1)を満たす必要がある。
Figure 0006008930
ここで、式(1)において、maxduty:最大デューティ(スイッチング周期Tswに対する電力伝送期間の割合)、td:デッドタイム、Tsw:スイッチング周期とする。
図5の例1および例2のいずれにおいても、電流Idsの増加に伴い、デッドタイムが減少する。すなわち、電流Idsの変化量に対して、デッドタイムの変化量(すなわち、スイッチング周期に対するデッドタイムの割合の変化量)が負特性を有している。
このように、第2のルックアップテーブル部148は、図5の第2のルックアップテーブルを用いることにより、電流Idsに対応するデッドタイムの時間長を一意に求めることができる。
ゲート駆動信号生成部146は、以上の動作により、各スイッチング素子5a〜5dに対する図6の例1〜3に示すようなゲート駆動信号を生成する。
制御器14は、ゲート駆動信号生成部146で生成されたゲート駆動信号に基づいて、スイッチング素子5a〜5dのオン・オフの切替制御を行う。
以上説明したように、実施の形態1の電力変換装置は、スイッチング素子(半導体スイッチ素子)5a〜5dと、スイッチング素子5a〜5dに流れる電流Idsを検出する第1の電圧検出回路4(電流検出部)と、スイッチング素子5a〜5dに対して、デッドタイムが設定されたゲート駆動信号(ゲートパルス信号)を印加して、スイッチング素子5a〜5dのオン/オフを制御する制御器14とを備え、制御器14が、検出された電流Idsの値に応じて、スイッチング素子5a〜5dのスイッチング周期に対するデッドタイムの割合を制御する構成を有している。このように、スイッチング素子5a〜5dを駆動する際に、電流Idsに応じてデッドタイムを変更する構成としたので、大電流域におけるデッドタイムを抑制することができ、電力変換装置の効率が向上する。
また、スイッチング素子5a〜5dをMOSFETで構成した場合には、デッドタイムの時間長を低減することで、MOSFETのボディダイオードに通電する時間を低減できるので、電力変換装置の長寿命化を期待できる。
また、実施の形態1では、許容最大デューティ及びデッドタイムともに変化させる実施の形態を示したが、デッドタイムのみを変化させても良い。その場合、スイッチング周波数を低減できるので、スイッチング損失が低下し、変換効率の向上、電力変換装置の小型化が期待できる。
実施の形態1においては、スイッチング素子5a〜5dをシリコン(Si)半導体から構成する実施の形態を示したが、スイッチング素子5a〜5dは、Si半導体よりもバンドギャップが広い非Si半導体材料から成るものでもよい。非Si半導体材料であるワイドバンドギャップ半導体としては,例えば,炭化珪素、窒化ガリウム系材料、又は、ダイヤモンドがある。
ワイドバンドギャップ半導体から成るスイッチング素子は,Si半導体ではユニポーラ動作が困難な高電圧領域で使用可能であり、スイッチング時に発生するスイッチング損失を大きく低減でき,電力損失の大きな低減が可能になる。また、電力損失が小さく、耐熱性も高いため、冷却部を備えてパワーモジュールを構成した場合、ヒートシンクの放熱フィンの小型化や、水冷部の空冷化が可能であるので、半導体モジュールの一層の小型化が可能になる。また、ワイドバンドギャップ半導体から成る電力用半導体スイッチング素子は、高周波スイッチング動作に適しており、高周波化の要求が大きいインバータやDC/DCコンバータに適用すると、スイッチング周波数の高周波化によって、インバータやDC/DCコンバータに接続されるリアクトルやコンデンサなどを小型化することもできる。よって、実施の形態1のゲート駆動信号生成部146は、炭化珪素などワイドギャップ半導体から成る電力用半導体スイッチング素子となる場合にも、同様な効果が得られる。
また、実施の形態1では、負荷12は、例えば、誘導性負荷である。誘導性負荷の例としては、例えば、リアクトル、または、モータのステータがある。
また、実施の形態1では、電力変換装置として、絶縁型DC/DCコンバータを例に挙げて説明したが、その場合に限らず、半導体スイッチング素子を用いた電力変換装置であれば、いずれのものにもこの発明が適用可能であることは言うまでもない。
1 バッテリ、2 DC/DCコンバータ、3 平滑コンデンサ、4 第1の電圧検出回路、5a,5b,5c,5d スイッチング素子、6 トランス、7a,7b,7c,7d 整流ダイオード、8 平滑リアクトル、9 電流検出回路、10 第2の電圧検出回路、11 平滑コンデンサ、12 負荷、13 第2の電流検出回路、14 制御器。

Claims (8)

  1. 半導体スイッチ素子と、
    上記半導体スイッチ素子に流れる電流を検出する電流検出部と、
    上記半導体スイッチ素子に対してデッドタイムが設定されたゲートパルス信号を印加して、上記半導体スイッチ素子のオン/オフを制御する制御器と
    を備え、
    上記制御器は、上記電流検出部によって検出された上記電流の値に応じて、上記半導体スイッチ素子のスイッチング周期に対する上記デッドタイムの割合を制御するものであって、
    上記制御器は、上記半導体スイッチ素子に流れる電流の変化量に対して上記デッドタイムの変化量が負特性を有するように、上記半導体スイッチ素子のスイッチング周期に対する上記デッドタイムの割合を制御し、
    上記半導体スイッチに流れる電流の変化量と上記デッドタイムの変化量との関係は、上記電流の変化量に対する上記デッドタイムの変化量の傾きが変化する変曲点を有し、上記変曲点を境にして、上記電流が大きい領域に比べて上記電流が小さい領域においては上記デッドタイムの変化量の傾きが大きく、且つ、下記の関係式を満たし、ここで、maxdutyはデューティの最大値(上記スイッチング周期Tswの一周期に対する電力伝送期間の割合を最大値0.5で表した場合)、tdは上記デッドタイム、Tswは上記スイッチング周期である、
    Figure 0006008930
    電力変換装置。
  2. 前記制御器は、上記電流検出部によって検出された上記電流の値に応じて、デューティ最大値を制御する
    請求項1に記載の電力変換装置。
  3. 上記半導体スイッチ素子は、誘導性負荷を駆動する
    請求項1または2に記載の電力変換装置。
  4. 上記誘導性負荷は、リアクトルである
    請求項3に記載の電力変換装置。
  5. 上記誘導性負荷は、モータのステータである
    請求項3に記載の電力変換装置。
  6. 上記半導体スイッチ素子は,ワイドバンドギャップ半導体にて形成されている
    請求項1から5までのいずれか1項に記載の電力変換装置。
  7. 上記ワイドバンドギャップ半導体は,炭化ケイ素、窒化ガリウム系材料又はダイヤモンドである
    請求項6に記載の電力変換装置。
  8. 上記半導体スイッチ素子は、MOSFETである
    請求項1から7までのいずれか1項に記載の電力変換装置。
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