JP5913866B2 - 基板検査用マスタデータ作成方法 - Google Patents
基板検査用マスタデータ作成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5913866B2 JP5913866B2 JP2011183594A JP2011183594A JP5913866B2 JP 5913866 B2 JP5913866 B2 JP 5913866B2 JP 2011183594 A JP2011183594 A JP 2011183594A JP 2011183594 A JP2011183594 A JP 2011183594A JP 5913866 B2 JP5913866 B2 JP 5913866B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- image data
- inspection
- master data
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 153
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 115
- 238000012557 master data creation Methods 0.000 title claims description 45
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 85
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 62
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 25
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 20
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 23
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 8
- 240000004050 Pentaglottis sempervirens Species 0.000 description 4
- 235000004522 Pentaglottis sempervirens Nutrition 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000007175 bidirectional communication Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000006071 cream Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T1/00—General purpose image data processing
- G06T1/0007—Image acquisition
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95684—Patterns showing highly reflecting parts, e.g. metallic elements
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
本実施形態においては、教示用の部品実装済みの基板を基板外観検査機に流すことにより、テンプレートデータを作成する。
まず、基板の生産ラインの構成について説明する。図1に、生産ラインの模式図を示す。図1に示すように、生産ライン9は、サーバ1と、複数の電子部品実装機6と、基板外観検査機7と、リフロー炉92と、を備えている。
次に、基板外観検査機の構成について説明する。図3に、同基板外観検査機の上面図を示す。なお、説明の便宜上、基板Bにハッチングを施す。図2、図3に示すように、基板外観検査機7は、ベース72と、基板搬送装置73と、XYロボット74と、検査ヘッド75と、制御装置76と、画像処理装置77と、を備えている。
次に、本実施形態の基板検査用マスタデータ作成方法について説明する。本実施形態の基板検査用マスタデータ作成方法は、データ作成工程と、検証工程と、を有している。
データ作成工程は、データ収集工程と、画面表示工程と、編集工程と、を有している。
本工程においては、教示用の部品実装済みの基板から、複数の部品の画像データを収集する。図5に、教示用の部品実装済みの基板の上面図を示す。図5に示すように、基板Bには、多数の部品Pa1〜Pa8、Pb〜Peが装着されている。すなわち、5種類の部品Pa1〜Pa8、Pb〜Peが、複数または単数、基板Bの所定の座標に装着されている。本実施形態においては、5種類の部品Pa1〜Pa8、Pb〜Peを代表して、同一の部品種の8個の部品Pa1〜Pa8のテンプレートデータを作成する場合について説明する。
本工程においては、収集した複数の画像データのうち、4個の画像データを、図2に示すモニタ13の画面130に表示する。具体的には、まず、ユーザが、図2に示すキーボード11で、図5に示す部品Pa1〜Pa8、Pb〜Peの画像データの中から、8個の部品Pa1〜Pa8の画像データD1〜D8を選択する。図2に示す制御装置14は、画面130に、8個の部品Pa1〜Pa8の画像データD1〜D8を表示する。次に、ユーザが、図2に示すマウス12で、画像データD1〜D8の中から、テンプレートデータの作成に用いたい画像データD1〜D4を、クリックする。図2に示す制御装置14は、選択された画像データD1〜D4を、画面130に表示する。
本工程においては、4個の画像データD1〜D4から、テンプレートデータを作成する。図7に、本実施形態の基板検査用マスタデータ作成方法の編集工程第一段階における画面の模式図を示す。図8に、同編集工程第二段階における画面の模式図を示す。図9に、同編集工程第三段階における画面の模式図を示す。
検証工程は、検証用画面表示工程と、データ比較工程と、を有している。
本工程においては、前記データ収集工程において収集した8個の部品Pa1〜Pa8の画像データD1〜D8の中から、4個の画像データD5〜D8を、図2に示すモニタ13の画面130に表示する。具体的には、まず、ユーザが、図2に示すキーボード11で、図5に示す部品Pa1〜Pa8、Pb〜Peの画像データの中から、8個の部品Pa1〜Pa8の画像データD1〜D8を選択する。図2に示す制御装置14は、画面130に、8個の部品Pa1〜Pa8の画像データD1〜D8を表示する。次に、ユーザが、図2に示すマウス12で、画像データD1〜D8の中から、テンプレートデータの作成に用いなかった画像データD5〜D8を、クリックする。図2に示す制御装置14は、選択された画像データD5〜D8を、画面130に表示する。
本工程においては、図10に示す画面130に表示された4個の画像データD5〜D8と、図2に示す記憶部141に格納されたテンプレートデータと、を比較する。そして、演算部142が、「4個の画像データD5〜D8がテンプレートデータに適合する」と判断するか否かを試行する。
次に、本実施形態の基板検査用マスタデータ作成方法の作用効果について説明する。本実施形態の基板検査用マスタデータ作成方法によると、データ作成工程により、同一の部品種の8個の部品Pa1〜Pa8に対して共用されるテンプレートデータ(シークラインL1〜L4)を作成することができる。
本実施形態の基板検査用マスタデータ作成方法と、第一実施形態の基板検査用マスタデータ作成方法との相違点は、作成対象となるマスタデータが、テンプレートデータではなく、基板を検査する際の部品の検査領域である点である。ここでは、相違点についてのみ説明する。なお、説明には、図2を援用する。
以上、本発明の基板検査用マスタデータ作成方法の実施の形態について説明した。しかしながら、実施の形態は上記形態に特に限定されるものではない。当業者が行いうる種々の変形的形態、改良的形態で実施することも可能である。
11:キーボード、12:マウス、13:モニタ、14:制御装置、20D:側射下段照明器、20M:側射上段照明器、20U:落射照明器、21D:側射下段光、21M:側射上段光、21U:落射光、72:ベース、73:基板搬送装置、74:XYロボット、75:検査ヘッド、76:制御装置、77:画像処理装置、92:リフロー炉。
130:画面、130a〜130d:照明ボタン、131:シークライン表示ボタン、132:検査領域表示ボタン、140:入出力インターフェイス、141:記憶部、142:演算部、200D:光源、200M:光源、200U:光源、201U:ハーフミラー、730f:コンベアベルト、730r:コンベアベルト、731:搬送モータ、740:Y軸スライド、741:X軸スライド、742:Y軸下スライド、743f:X軸下スライド、743r:X軸下スライド、744:X軸ボールねじ部、745:Y軸ボールねじ部、746:X軸モータ、747:Y軸モータ、750:フレーム、750D:ブラケット、750M:ブラケット、750U:ブラケット、760:入出力インターフェイス、761:記憶部、762:演算部。
B:基板、B1:撮像エリア、D1〜D8:画像データ、H:背景部、L1〜L4:シークライン(テンプレートデータ)、Pa1a〜Pa4a:基準マーク、Pa1〜Pa8:部品、R:検査領域(検査条件)、W:枠、θD:入射角、θM:入射角、θU:入射角。
Claims (4)
- 部品を実装した基板を検査する際に用いられ、同一の部品種の複数の部品に対して共用されるマスタデータを作成するデータ作成工程と、
該基板を検査して、作成した該マスタデータの妥当性を検証する検証工程と、
を有し、
前記データ作成工程は、
前記同一の部品種の複数の部品の一つが撮像された画像データを収集するデータ収集工程と、
収集した複数の該画像データのうち、少なくとも二つの該画像データを、単一の画面に同時に表示する画面表示工程と、
少なくとも二つの該画像データを単一の該画面に同時に表示しながら、前記マスタデータを作成する編集工程と、
を有する基板検査用マスタデータ作成方法。 - 前記検証工程は、
前記画面表示工程で単一の前記画面に同時に表示された複数の該画像データと、前記マスタデータと、を比較するデータ比較工程を有する請求項1に記載の基板検査用マスタデータ作成方法。 - 前記マスタデータは、前記基板を検査する際に部品種の同一性の判別に用いられるテンプレートデータである請求項1または請求項2に記載の基板検査用マスタデータ作成方法。
- 前記マスタデータは、前記基板を検査する際の前記部品の検査条件である請求項1または請求項2に記載の基板検査用マスタデータ作成方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011183594A JP5913866B2 (ja) | 2011-08-25 | 2011-08-25 | 基板検査用マスタデータ作成方法 |
PCT/JP2012/069592 WO2013027550A1 (ja) | 2011-08-25 | 2012-08-01 | 基板検査用マスタデータ作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011183594A JP5913866B2 (ja) | 2011-08-25 | 2011-08-25 | 基板検査用マスタデータ作成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013044663A JP2013044663A (ja) | 2013-03-04 |
JP5913866B2 true JP5913866B2 (ja) | 2016-04-27 |
Family
ID=47746301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011183594A Active JP5913866B2 (ja) | 2011-08-25 | 2011-08-25 | 基板検査用マスタデータ作成方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5913866B2 (ja) |
WO (1) | WO2013027550A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3264071A4 (en) * | 2015-02-26 | 2018-08-01 | Fuji Machine Mfg. Co., Ltd. | Inspection device and inspection method |
WO2024134866A1 (ja) * | 2022-12-23 | 2024-06-27 | 株式会社Fuji | 基板作業機 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2877088B2 (ja) * | 1996-07-29 | 1999-03-31 | 日本電気株式会社 | 配線の良/不良判定装置及び方法 |
JP3604119B2 (ja) * | 1998-04-16 | 2004-12-22 | 株式会社日立国際電気 | 測定装置の位置決め時に使用するパターンマッチングの処理方法 |
JP2002062112A (ja) * | 2000-08-21 | 2002-02-28 | Sony Corp | 位置決め装置及び位置決め方法 |
JP2005249615A (ja) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Denso Corp | 異品種混入検査方法 |
JP4801492B2 (ja) * | 2006-04-21 | 2011-10-26 | 株式会社日立製作所 | 外観検査装置および同装置を用いたプリント配線基板の検査方法 |
JP2008051781A (ja) * | 2006-08-28 | 2008-03-06 | I-Pulse Co Ltd | 基板の外観検査方法および装置 |
JP2009250707A (ja) * | 2008-04-03 | 2009-10-29 | Toyota Motor Corp | マスター画像選択方法 |
-
2011
- 2011-08-25 JP JP2011183594A patent/JP5913866B2/ja active Active
-
2012
- 2012-08-01 WO PCT/JP2012/069592 patent/WO2013027550A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013044663A (ja) | 2013-03-04 |
WO2013027550A1 (ja) | 2013-02-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0706027B1 (en) | Visual inspection apparatus for printed circuit boards and use thereof for solder control and correction | |
US9474195B2 (en) | Image generating apparatus and image generating method | |
CN103105671B (zh) | 放大观察装置 | |
JP2002024804A (ja) | 部品認識データ作成方法及び作成装置並びに電子部品実装装置及び記録媒体 | |
JP2013148361A (ja) | はんだ検査のための検査基準登録方法およびその方法を用いた基板検査装置 | |
JP2014055916A (ja) | 外観検査装置、外観検査法およびプログラム | |
JP2019100917A (ja) | 検査プログラム生成システム、検査プログラムの生成方法、及び検査プログラムの生成用プログラム | |
JP4612484B2 (ja) | 基板検査結果の分析支援方法、およびこの方法を用いた基板検査結果の分析支援装置ならびにプログラム | |
TW201907153A (zh) | 圖像檢查裝置、生產系統、圖像檢查方法、程式及記憶媒體 | |
KR101802843B1 (ko) | 자동 비전 검사 시스템 | |
JP2007017424A (ja) | XYθステージによる位置アライメントシステム | |
US20150373884A1 (en) | Support pin arrangement determination assisting apparatus and support pin arrangement determination assisting method | |
JP5913866B2 (ja) | 基板検査用マスタデータ作成方法 | |
JP2014055915A (ja) | 外観検査装置、外観検査法およびプログラム | |
US11971367B2 (en) | Inspection device and inspection method | |
JP6055241B2 (ja) | 撮像条件最適化方法および撮像条件最適化システム | |
JP2022047946A (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、検査装置およびプログラム | |
JP2023100956A (ja) | 画像合成装置 | |
JP5407754B2 (ja) | 基板検査用の検査領域の設定データ作成方法および検査データ作成システム | |
JP6184746B2 (ja) | 欠陥検出装置、欠陥修正装置および欠陥検出方法 | |
JP4369158B2 (ja) | 表示用パネルの検査方法 | |
TWI755460B (zh) | 外觀檢查方法 | |
JP2014102206A (ja) | ハンダ検査方法 | |
JP2014055914A (ja) | 外観検査装置、外観検査法およびプログラム | |
JP2800406B2 (ja) | 電子部品外観検査におけるカメラの視野枠の設定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150908 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151102 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160322 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160404 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5913866 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |