JP2800406B2 - 電子部品外観検査におけるカメラの視野枠の設定方法 - Google Patents
電子部品外観検査におけるカメラの視野枠の設定方法Info
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- JP2800406B2 JP2800406B2 JP2323633A JP32363390A JP2800406B2 JP 2800406 B2 JP2800406 B2 JP 2800406B2 JP 2323633 A JP2323633 A JP 2323633A JP 32363390 A JP32363390 A JP 32363390A JP 2800406 B2 JP2800406 B2 JP 2800406B2
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- Japan
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- frame
- field
- inspection
- electronic component
- camera
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、基板に搭載された電子部品の外観検査の為
に、基板にカメラの視野枠を設定するための方法に関す
る。
に、基板にカメラの視野枠を設定するための方法に関す
る。
（従来の技術） 基板に搭載された電子部品の位置ずれ、表裏反転、欠
品、半田付状態の良否等の外観検査を、カメラにより行
うことが知られている。
品、半田付状態の良否等の外観検査を、カメラにより行
うことが知られている。
このようなカメラによる自動外観検査を行うにあたっ
ては、その前準備として、カメラの視野枠を基板に設定
しなければならない。この場合、できるだけ少い視野枠
数で基板の全面をカバーできるように、基板上に視野枠
を設定することが、外観検査の作業能率上有利である。
従来、このような視野枠の設定は、サンプル基板をモニ
ター画面に映出し、作業者がこの画面を見て視野枠を動
かしながらマニュアル的に行っていた。
ては、その前準備として、カメラの視野枠を基板に設定
しなければならない。この場合、できるだけ少い視野枠
数で基板の全面をカバーできるように、基板上に視野枠
を設定することが、外観検査の作業能率上有利である。
従来、このような視野枠の設定は、サンプル基板をモニ
ター画面に映出し、作業者がこの画面を見て視野枠を動
かしながらマニュアル的に行っていた。
（発明が解決しようとする課題） しかしながら上記従来手段は、作業者のマニュアル作
業であったため、多大な時間と労力を要するものであっ
た。しかも基板には、その全面に、大小様々の電子部品
がきわめて多数個搭載されていることから、作業者が電
子部品を見逃し、何れの視野枠にも包含されない電子部
品が発生しやすい問題があった。このように見逃された
電子部品は外観検査の対象から洩れてしまうこととな
る。
業であったため、多大な時間と労力を要するものであっ
た。しかも基板には、その全面に、大小様々の電子部品
がきわめて多数個搭載されていることから、作業者が電
子部品を見逃し、何れの視野枠にも包含されない電子部
品が発生しやすい問題があった。このように見逃された
電子部品は外観検査の対象から洩れてしまうこととな
る。
そこで本発明は、より少い視野枠数で、しかも基板全
面の電子部品を見逃すことなく、自動的に視野枠を設定
できる方法を提供することを目的とする。
面の電子部品を見逃すことなく、自動的に視野枠を設定
できる方法を提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段） 本発明は、 （１）基板に搭載される多数の電子部品について，これ
らの電子部品をそれぞれ包含する検査枠を設定して電子
部品マップを作成したうえで、 （２）上記電子部品マップの検査枠の中から、第１の検
査枠を選択し、且つこの第１の検査枠がカメラの視野枠
の第１コーナーに位置するように、カメラの視野枠を設
定する第１ステップと、 （３）次いで上記第１の検査枠以外の他の検査枠を上記
視野枠に取り込むべく、上記第１の検査枠が上記視野枠
の第２のコーナーに位置するように、上記視野枠を移動
させる第２ステップと、 （４）次いで更に他の検査枠を上記視野枠に取り込むべ
く、上記第１の検査枠が、上記視野枠の第３のコーナー
に位置するように、上記視野枠を移動させる第３ステッ
プと、 （５）次いで更に他の検査枠を上記視野枠に取り込むべ
く、他の検査枠が、上記視野枠の第４のコーナーに位置
するべく、上記視野枠を移動させる第４ステップ、 とからカメラの視野枠を設定し、 上記カメラの視野枠の設定作業を、基板の全面につい
て繰り返すようにしている。
らの電子部品をそれぞれ包含する検査枠を設定して電子
部品マップを作成したうえで、 （２）上記電子部品マップの検査枠の中から、第１の検
査枠を選択し、且つこの第１の検査枠がカメラの視野枠
の第１コーナーに位置するように、カメラの視野枠を設
定する第１ステップと、 （３）次いで上記第１の検査枠以外の他の検査枠を上記
視野枠に取り込むべく、上記第１の検査枠が上記視野枠
の第２のコーナーに位置するように、上記視野枠を移動
させる第２ステップと、 （４）次いで更に他の検査枠を上記視野枠に取り込むべ
く、上記第１の検査枠が、上記視野枠の第３のコーナー
に位置するように、上記視野枠を移動させる第３ステッ
プと、 （５）次いで更に他の検査枠を上記視野枠に取り込むべ
く、他の検査枠が、上記視野枠の第４のコーナーに位置
するべく、上記視野枠を移動させる第４ステップ、 とからカメラの視野枠を設定し、 上記カメラの視野枠の設定作業を、基板の全面につい
て繰り返すようにしている。
（作用） 上記構成によれば、基板の全面に搭載される多数の電
子部品について、各電子部品を見逃すことなく、且つよ
り少い視野枠数で、視野枠を自動的に設定することがで
きる。
子部品について、各電子部品を見逃すことなく、且つよ
り少い視野枠数で、視野枠を自動的に設定することがで
きる。
（実施例） 次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明す
る。
る。
第１図は電子部品マップ図である。１はサンプル基板
であり、この基板１には、多品種多数の電子部品Ｐ（P1
〜Pn）が搭載されている。Ａ（A1〜An）は、電子部品Ｐ
を包含するように設定された検査枠である。
であり、この基板１には、多品種多数の電子部品Ｐ（P1
〜Pn）が搭載されている。Ａ（A1〜An）は、電子部品Ｐ
を包含するように設定された検査枠である。
第７図は、電子部品Ｐと検査枠Ａの位置関係を示して
いる。Ｓは電子部品Ｐを基板１に接着する半田である。
外観検査は、電子部品Ｐの位置ずれ、欠品、表裏反転等
だけでなく、半田付状態の良否判定も行われる。また電
子部品Ｐは若干の位置ずれを有することから、検査枠Ａ
は、電子部品Ｐや半田Ｓを余裕をもって包含できる大き
さに設定されている。
いる。Ｓは電子部品Ｐを基板１に接着する半田である。
外観検査は、電子部品Ｐの位置ずれ、欠品、表裏反転等
だけでなく、半田付状態の良否判定も行われる。また電
子部品Ｐは若干の位置ずれを有することから、検査枠Ａ
は、電子部品Ｐや半田Ｓを余裕をもって包含できる大き
さに設定されている。
本方法は、カメラの視野枠を設定するに先立ち、その
前準備として、サンプル基板１の電子部品P1〜Pnを包含
する検査枠A1〜Anを設定して、第１図に示す電子部品マ
ップを作成する。この電子部品マップは、既知の実装デ
ータや部品サイズデータにより簡単に作成することもで
きる。すなわち、基板に搭載される電子部品のサイズや
位置は、この実装データや部品サイズデータから既知で
あり、したがって電子マップはサンプル基板によらずに
この実装データや部品サイズデータに基いて作成するこ
ともできる。
前準備として、サンプル基板１の電子部品P1〜Pnを包含
する検査枠A1〜Anを設定して、第１図に示す電子部品マ
ップを作成する。この電子部品マップは、既知の実装デ
ータや部品サイズデータにより簡単に作成することもで
きる。すなわち、基板に搭載される電子部品のサイズや
位置は、この実装データや部品サイズデータから既知で
あり、したがって電子マップはサンプル基板によらずに
この実装データや部品サイズデータに基いて作成するこ
ともできる。
次いで、第２図に示す第１ステップを行う。このステ
ップは、任意に設定された基準原点Ｏに最も近い第１の
検査枠A1を選択し、カメラの視野枠B1の第１のコーナー
K1を、この第１の検査枠A1に合致させる。
ップは、任意に設定された基準原点Ｏに最も近い第１の
検査枠A1を選択し、カメラの視野枠B1の第１のコーナー
K1を、この第１の検査枠A1に合致させる。
次いで、上記第１の検査枠A1以外の検査枠を視野枠B1
に取り込むべく、第３図に示す第２ステップを行う。こ
のステップは、第１ステップで取り込んだ検査枠A1が収
まるように、視野枠B1を下方（矢印Y1方向）に移動させ
て、第２のコーナーK2を上記検査枠A1に合致させ、この
視野枠B1に新しく入った他の検査枠A2を検出する。
に取り込むべく、第３図に示す第２ステップを行う。こ
のステップは、第１ステップで取り込んだ検査枠A1が収
まるように、視野枠B1を下方（矢印Y1方向）に移動させ
て、第２のコーナーK2を上記検査枠A1に合致させ、この
視野枠B1に新しく入った他の検査枠A2を検出する。
次いで、更に他の検査枠を視野枠B1に取り込むべく、
第４図に示す第３ステップを行う。このステップは、取
込済の検査枠A1、A2がすべて収まるように、視野枠B1を
X1方向に移動させ、上記検査枠A1を第３のコーナーK3に
合致させ、新たな検査枠A3、A4を視野枠B1に取り込む。
第４図に示す第３ステップを行う。このステップは、取
込済の検査枠A1、A2がすべて収まるように、視野枠B1を
X1方向に移動させ、上記検査枠A1を第３のコーナーK3に
合致させ、新たな検査枠A3、A4を視野枠B1に取り込む。
次いで、第５図に示す第４ステップを行う。このステ
ップは、視野枠B1をY2方向に移動させ、第４のコーナー
K4に検査枠A2を合致させる。
ップは、視野枠B1をY2方向に移動させ、第４のコーナー
K4に検査枠A2を合致させる。
上記第１〜第４のステップは、何れも、視野枠B1に検
査枠Ａを最大限取り込むべく、取込済の検査枠Ａを視野
枠B1内に収めながら、視野枠B1をXY方向に最大限移動さ
せるものであり、上記ステップを行うことにより、視野
枠B1に最大限取り込める検査枠A1〜A4が決定する。
査枠Ａを最大限取り込むべく、取込済の検査枠Ａを視野
枠B1内に収めながら、視野枠B1をXY方向に最大限移動さ
せるものであり、上記ステップを行うことにより、視野
枠B1に最大限取り込める検査枠A1〜A4が決定する。
次いで第６図に示すように、視野枠B1をXY方向に移動
させ、検査枠A1〜A4視野枠B1の中央に位置させる（第５
ステップ）。これは、検査枠A1〜A4を視野枠B1の中央に
位置させて余裕マージンａ、ｂを確保した方が外観検査
を行いやすいためである。
させ、検査枠A1〜A4視野枠B1の中央に位置させる（第５
ステップ）。これは、検査枠A1〜A4を視野枠B1の中央に
位置させて余裕マージンａ、ｂを確保した方が外観検査
を行いやすいためである。
上記第１〜第６ステップにより、第１番目の視野枠B1
の位置が決定される。
の位置が決定される。
次いで第６図鎖線に示すように、新たに基準点Ｏに最
も近い検査枠A5を選択し、上記第１〜第５のステップを
繰り返して、第２番目の視野枠B2を決定する。このよう
なステップを繰り返すことにより、基板１の全面につい
て、視野枠B1、B2・・・を順次設定していく。
も近い検査枠A5を選択し、上記第１〜第５のステップを
繰り返して、第２番目の視野枠B2を決定する。このよう
なステップを繰り返すことにより、基板１の全面につい
て、視野枠B1、B2・・・を順次設定していく。
第８図は、上記方法により、基板１に最終的に設定さ
れた視野枠B1〜B5を示している。各々の視野枠B1〜B5に
ついて外観検査を行う場合、視野枠B1〜B5を、より短い
最適順路で移動するのが作業上有利である。そこで次
に、視野枠Ｂの最適順路の決定方法を説明する。
れた視野枠B1〜B5を示している。各々の視野枠B1〜B5に
ついて外観検査を行う場合、視野枠B1〜B5を、より短い
最適順路で移動するのが作業上有利である。そこで次
に、視野枠Ｂの最適順路の決定方法を説明する。
まず、各々の視野枠B1〜B5について、任意のポイント
、、、、を決定する。本実施例では、視野枠
B1〜B5の左上の角に設定している。本方法は、視野枠全
体を、ポイント〜を結ぶリング構造とし、ポイント
同士を交換しながら、全ポイントの距離が最短若しくは
より短くなる順路を求めるものである。
、、、、を決定する。本実施例では、視野枠
B1〜B5の左上の角に設定している。本方法は、視野枠全
体を、ポイント〜を結ぶリング構造とし、ポイント
同士を交換しながら、全ポイントの距離が最短若しくは
より短くなる順路を求めるものである。
第９図は、隣り同士のポイントを交換しながら、最適
順路を求めている様子を示している。まず同図（ａ）の
順路の順路長L1を求める。次いで相隣るポイントとポ
イントを交換し、同様に順路長L2を求める（同図
（ｂ））。以下同様にして、相隣るポイントを交換しな
がら、順路長L1、L2、L3・・・を順に求めていく。次い
で全順路長L1、L2、L3・・・のうち、最短のものを抽出
することにより、最適順路が求められる。この場合、相
隣るポイントを交換してみて、順路長が短くなれば、交
換OKとする。また交換してみて、順路長が長くなれば、
交換NGであって、交換を中止し、他の交換を行う。
順路を求めている様子を示している。まず同図（ａ）の
順路の順路長L1を求める。次いで相隣るポイントとポ
イントを交換し、同様に順路長L2を求める（同図
（ｂ））。以下同様にして、相隣るポイントを交換しな
がら、順路長L1、L2、L3・・・を順に求めていく。次い
で全順路長L1、L2、L3・・・のうち、最短のものを抽出
することにより、最適順路が求められる。この場合、相
隣るポイントを交換してみて、順路長が短くなれば、交
換OKとする。また交換してみて、順路長が長くなれば、
交換NGであって、交換を中止し、他の交換を行う。
上記方法は、ポイントの順列組合せにより、各々の順
路長を求めていくことから、ポイント数が多くなると、
演算に多大な時間を要する。そこで例えば乱数表による
偶発性を利用し、相隣るポイント同士の交換だけでな
く、相離れたポイント同士の交換を行いながら、最適順
路を求めることが望ましい。このようにすれば、順列組
合せによる全ての順路の演算は行わないが、代表的な順
路はほぼ演算できることとなり、より短い最適順路を求
めることができる。
路長を求めていくことから、ポイント数が多くなると、
演算に多大な時間を要する。そこで例えば乱数表による
偶発性を利用し、相隣るポイント同士の交換だけでな
く、相離れたポイント同士の交換を行いながら、最適順
路を求めることが望ましい。このようにすれば、順列組
合せによる全ての順路の演算は行わないが、代表的な順
路はほぼ演算できることとなり、より短い最適順路を求
めることができる。
（発明の効果） 本発明によれば、基板の全面に搭載される多数の電子
部品について、各電子部品を見逃すことなく、且つより
少い視野枠数で、視野枠を自動的に設定することができ
る。
部品について、各電子部品を見逃すことなく、且つより
少い視野枠数で、視野枠を自動的に設定することができ
る。
図は本発明の実施例を示すものであって、第１図は電子
部品マップ図、第２図、第３図、第４図、第５図、第６
図は視野枠の設定作業を示す平面図、第７図は検査枠
図、第８図は視野枠図、第９図は最適順路設定図であ
る。 Ａ……検査枠 Ｂ……視野枠 K1〜K4……コーナー Ｏ……基準原点 Ｐ……電子部品
部品マップ図、第２図、第３図、第４図、第５図、第６
図は視野枠の設定作業を示す平面図、第７図は検査枠
図、第８図は視野枠図、第９図は最適順路設定図であ
る。 Ａ……検査枠 Ｂ……視野枠 K1〜K4……コーナー Ｏ……基準原点 Ｐ……電子部品
Claims (1)
- 【請求項１】（１）基板に搭載される多数の電子部品に
ついて、これらの電子部品をそれぞれ包含する検査枠を
設定して電子部品マップを作成したうえで、 （２）上記電子部品マップの検査枠の中から、第１の検
査枠を選択し、且つこの第１の検査枠がカメラの視野枠
の第１コーナーに位置するように、カメラの視野枠を設
定する第１ステップと、 （３）次いで上記第１の検査枠以外の他の検査枠を上記
視野枠に取り込むべく、上記第１の検査枠が上記視野枠
の第２のコーナーに位置するように、上記視野枠を移動
させる第２ステップと、 （４）次いで更に他の検査枠を上記視野枠に取り込むべ
く、上記第１の検査枠が、上記視野枠の第３のコーナー
に位置するように、上記視野枠を移動させる第３ステッ
プと、 （５）次いで更に他の検査枠を上記視野枠に取り込むべ
く、他の検査枠が、上記視野枠の第４のコーナーに位置
するべく、上記視野枠を移動させる第４ステップ、とか
らカメラの視野枠を設定し、 上記カメラの視野枠の設定作業を、電子部品マップの全
面について繰り返すことを特徴とする電子部品外観検査
におけるカメラの視野枠の設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2323633A JP2800406B2 (ja) | 1990-11-26 | 1990-11-26 | 電子部品外観検査におけるカメラの視野枠の設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2323633A JP2800406B2 (ja) | 1990-11-26 | 1990-11-26 | 電子部品外観検査におけるカメラの視野枠の設定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04196200A JPH04196200A (ja) | 1992-07-15 |
| JP2800406B2 true JP2800406B2 (ja) | 1998-09-21 |
Family
ID=18156906
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2323633A Expired - Fee Related JP2800406B2 (ja) | 1990-11-26 | 1990-11-26 | 電子部品外観検査におけるカメラの視野枠の設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2800406B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012204743A (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-22 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 電子部品の装着方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6357622B2 (ja) * | 2014-03-28 | 2018-07-18 | 石川県 | 作業支援装置、作業支援システム、作業支援方法およびプログラム |
| WO2016098184A1 (ja) * | 2014-12-16 | 2016-06-23 | 富士機械製造株式会社 | 部品実装装置および部品実装システム |
-
1990
- 1990-11-26 JP JP2323633A patent/JP2800406B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012204743A (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-22 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 電子部品の装着方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04196200A (ja) | 1992-07-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080710 Year of fee payment: 10 |
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