JP5726579B2 - 二次電池保護用icの検査方法 - Google Patents
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Description
電池パック1は、リチウムイオン二次電池やリチウムポリマー二次電池等の二次電池3と、二次電池保護モジュール5で構成されている。二次電池保護モジュール5は4つの端子BATT+,BATT−,OUT+,OUT−を備えている。端子BATT+,BATT−は二次電池3に接続されている。端子OUT+,OUT−は充電器7、又は携帯電話やノートパソコン、PDA等の負荷に接続される。
二次電池保護モジュール5の主要部を構成する二次電池保護用IC9は、おおまかには過充電検出回路11、過放電検出回路13、放電過電流検出回路15、充電過電流検出回路17、短絡検出回路19、発振回路21とカウンタ23で構成される遅延回路25、論理回路27,29、レベルシフト回路31及び遅延回路33で構成されている。二次電池保護用IC9は、外部接続端子として電源電圧端子VDD、グランド端子VSS、過充電検出出力端子COUT、過放電検出出力端子DOUT及び充電器マイナス電位入力端子V−を備えている。
過充電検出回路11、過放電検出回路13、放電過電流検出回路15、充電過電流検出回路17又は短絡検出回路19により、過充電、過放電、放電過電流、充電過電流又は短絡が検出されると、発振回路21が動作を開始し、カウンタ23が計数を始める。
カウンタ23によって、それぞれの検出時に予め設定されている遅延時間がカウントされると、過充電又は充電過電流の場合は論理回路27及びレベルシフト回路31を通して過充電検出出力端子COUTの出力がローレベルになって充電制御用FETQ1がオフにされ、過放電、放電過電流、又は短絡の場合は論理回路29を通して過放電検出出力端子DOUTの出力がローレベルになり放電制御用FETQ2がオフにされる。
各検出電圧を測定する際には、設定されている遅延時間分だけ待ちながら測定を行なわなければならず、二次電池保護用ICのテストに長時間を要するという問題があった。
同様に、放電過電流検出電圧の測定時間及び充電過電流検出電圧の測定時間は放電過電流検出遅延時間tVDET3又は充電過電流検出遅延時間tVDET4とステップ数により決まる。例えば、放電過電流検出遅延時間tVDET3及び充電過電流検出遅延時間tVDET4が10ミリ秒、ステップ数が20回の場合、「10ミリ秒×20回=200ミリ秒」の時間が放電過電流検出電圧測定及び充電過電流検出電圧測定に際してそれぞれ必要になる。
しかし、テストモード回路による検出遅延時間の短縮には限界がある。また、テストモード回路を用いた場合、真の測定値から多少なりともズレがあるため、歩留まりを低下させるという問題もあった。
電源電圧端子の電流値変化の監視は電流計を用いることにより行なうことができるので、本発明は、特別な測定機能を用いることなく、安価で低機能な半導体検査装置でも実現できる。
さらに、本発明は、テストモード回路を用いる必要がないので、二次電池保護用ICの回路構成の複雑化及び歩留まりの低下を防止できる。
例えば、過充電検出電圧の設計値は4.2V、電源電圧端子VDDに供給するテスト開始時電圧は4.193V、充電器マイナス電位入力端子V−に供給する電圧は−3Vであり、このときの電源電圧端子VDDの電流値(テスト開始時電流)は約4.0μA(マイクロアンペア)である。
例えば、放電過電流検出電圧の設計値は0.2V、充電器マイナス電位入力端子V−に供給するテスト開始時電圧は0.193V、電源電圧端子に供給する電圧は3Vであり、このときの電源電圧端子VDDの電流値(テスト開始時電流)は約4.0μAである。
例えば、充電過電流検出電圧の設計値は−0.2V、充電器マイナス電位入力端子V−に供給するテスト開始時電圧は−0.193V、電源電圧端子に供給する電圧は3Vであり、このときの電源電圧端子VDDの電流値(テスト開始時電流)は約4.0μAである。
例えば、上記実施例は、電源電圧端子の電流値変化を検出するための基準値として、測定開始時の電源電圧端子の電流値を用いているが、当該基準値はこれに限定されない。例えば、当該基準値は、1回前の電圧上昇ステップ又は電圧降下ステップにおける電流値であってもよいし、予め設定された所定の電流値であってもよい。
9 二次電池保護用IC
11 過充電検出回路
15 放電過電流検出回路
17 充電過電流検出回路
25 遅延回路
VDD 電源電圧端子
V− 充電器マイナス電位入力端子
Claims (3)
- 二次電池の過充電を検出するための過充電検出回路と、過充電の検出時間を所定の遅延時間で遅延させるための遅延回路とを備えた二次電池保護用ICについて過充電検出電圧を測定するための二次電池保護用ICの検査方法において、
前記二次電池保護用ICの電源電圧端子の電流値を監視しつつ、前記遅延時間よりも短い時間間隔で段階的に、前記電源電圧端子の電圧を過充電検出電圧の設計値よりも低い電圧から上昇させ、前記電源電圧端子の電流値の変化に基づいて過充電検出電圧を測定する際に、
前記遅延時間よりも短い時間間隔で段階的に前記電源電圧端子の電圧を上昇させるときに当該電圧を所定量だけ上昇させるステップを電圧上昇ステップとし、前記電源電圧端子の電流値の変化を検出するための基準値として1回前の電圧上昇ステップにおける電流値を用いることを特徴とする二次電池保護用ICの検査方法。 - 二次電池の放電過電流を検出するための放電過電流検出回路と、放電過電流の検出時間を所定の遅延時間で遅延させるための遅延回路とを備えた二次電池保護用ICについて放電過電流検出電圧を測定するための二次電池保護用ICの検査方法において、
前記二次電池保護用ICの電源電圧端子の電流値を監視しつつ、前記遅延時間よりも短い時間間隔で段階的に、前記二次電池保護用ICの充電器マイナス電位入力端子の電圧を放電過電流検出電圧の設計値よりも高い電圧から降下させ、前記電源電圧端子の電流値の変化に基づいて放電過電流検出電圧を測定する際に、
前記遅延時間よりも短い時間間隔で段階的に前記充電器マイナス電位入力端子の電圧を降下させるときに当該電圧を所定量だけ降下させるステップを電圧降下ステップとし、前記電源電圧端子の電流値の変化を検出するための基準値として1回前の電圧降下ステップにおける電流値を用いることを特徴とする二次電池保護用ICの検査方法。 - 二次電池の充電過電流を検出するための充電過電流検出回路と、充電過電流の検出時間を所定の遅延時間で遅延させるための遅延回路とを備えた二次電池保護用ICについて充電過電流検出電圧を測定するための二次電池保護用ICの検査方法において、
前記二次電池保護用ICの電源電圧端子の電流値を監視しつつ、前記遅延時間よりも短い時間間隔で段階的に、前記二次電池保護用ICの充電器マイナス電位入力端子の電圧を充電過電流検出電圧の設計値よりも低い電圧から上昇させ、前記電源電圧端子の電流値の変化に基づいて充電過電流検出電圧を測定する際に、
前記遅延時間よりも短い時間間隔で段階的に前記充電器マイナス電位入力端子の電圧を上昇させるときに当該電圧を所定量だけ上昇させるステップを電圧上昇ステップとし、前記電源電圧端子の電流値の変化を検出するための基準値として1回前の電圧上昇ステップにおける電流値を用いることを特徴とする二次電池保護用ICの検査方法。
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