JP5270179B2 - 研削装置 - Google Patents

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本発明は、チャックテーブルに吸引保持された被加工物に研削液を供給しながら研削する研削装置に関するものである。
半導体デバイスを製造するために用いられるシリコンウエーハなどの半導体基板は、まず、インゴット状態で成型されてからワイヤソーなどによって基板状にスライスされ、さらに、両面をラッピングや研削加工することで狙いの厚みに平坦度よく仕上げられていく。近年、研削加工では、インフィード型平面研削装置が多用されている。このインフィード研削では、スピンドルに固設された研削砥石とチャックテーブルに保持されたウエーハが、研削砥石の側端部がチャックテーブルの回転軸の軸心に一致するように互いにずらして対向配置されている。そして、研削加工時には、スピンドルおよびチャックテーブルをそれぞれ回転駆動させながら、所定の送り速度で研削砥石をウエーハに押圧することで、ウエーハ表面を平面研削するようにしている(例えば、特許文献1参照)。
この際、チャックテーブルは、セラミックス製のポーラス機構で構成され、下面から吸引することでウエーハ全面を吸着している。研削加工時には、研削箇所の研削粉除去や冷却のために研削ホイールから研削液を供給しながら研削を行うようにしている。
特開2003−236736号公報 特開2004−79749号公報
ここで、チャックテーブルは、吸引用の負圧リークを防止するため、ウエーハとほぼ同等の大きさに形成されている。しかしながら、ウエーハはチャックテーブルの吸着面に対して全面的に吸着保持されているため、ウエーハの周縁部からチャックテーブルのポーラス機構からなる吸着面に研削液が吸い込まれやすい。このため、ポーラス機構内に吸い込まれた研削液が、そのまま配管内へ吸引されてしまう。この際、吸引される研削液の量が多いため、ポーラス機構を支持する支持基板に経時的な温度変化が生じてしまう。このような温度変化による収縮によって支持基板に面内バラツキを生じてしまう。よって、経時的にウエーハを吸着保持する支持基板やポーラス機構の平面度を維持できず、研削加工されるウエーハの仕上がり形状が変動してしまうという不具合がある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、研削液を供給しながら被加工物を研削する際に、研削液の温度変化によるチャックテーブル側の面内バラツキの発生を抑制し、被加工物の仕上がり形状の変動を抑えることができる研削装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる研削装置は、被加工物を吸引保持して回転駆動されるチャックテーブルと、該チャックテーブル上に吸引保持された被加工物に研削液を供給しつつ研削する研削手段と、前記チャックテーブル上で研削された被加工物を保持して搬送する搬出機構とを備える研削装置において、前記チャックテーブルは、前記被加工物と同等の大きさに形成されかつ多孔質材で構成されて被加工物を吸着保持するチャック板と、該チャック板を支持する支持基板とからなり、前記支持基板は、平面的に見て内周側吸引吹上げ領域と外周側の領域とに区分けされ、前記内周側吸引吹上げ領域および前記外周側の領域のそれぞれに負圧または吹上げ圧を作用させることが可能な吸引吹上げ手段を備え、被加工物の研削時には、前記内周側吸引吹上げ領域にのみ負圧を作用させて前記被加工物を前記チャック板上に吸着保持し、被加工物の搬送時には、前記内周側吸引吹上げ領域および前記外周側の領域に吹上げ圧を作用させて前記チャック板の全面で均一に吹上げ圧を作用させるよう制御する制御手段を備えることを特徴とする。
本発明にかかる研削装置によれば、チャックテーブルを構成する支持基板を、平面的に見て内周側吸引吹上げ領域と外周側吸引吹上げ領域とに区分けし、被加工物の研削時には、内周側吸引吹上げ領域にのみ吸引吹上げ手段による負圧を作用させるようにしたので、被加工物の周縁部からチャックテーブルのチャック板より吸い込まれる研削液を少なくすることができ、よって、経時的に、被加工物を吸着保持するチャック板や支持基板の平面度を維持し、研削加工される被加工物の仕上がり形状の変動を抑制することができるという効果を奏する。研削後の搬送時には、内周側吸引吹上げ領域および外周側吸引吹上げ領域に吸引吹上げ手段による吹上げ圧を作用させるので、被加工物に歪みを生ずることなく搬出機構による保持搬送を良好に行わせることができるという効果を奏する。
以下、本発明を実施するための最良の形態である研削装置について図面を参照して説明する。まず、図1〜図4を参照して、本実施の形態で用いる研削装置について説明する。図1は、本実施の形態の研削装置の構成例を示す外観斜視図であり、図2は、その研削手段付近の構成例を拡大して示す斜視図であり、図3は、図2の正面図であり、図4は、研削部付近に対する研削液の供給構造を示す断面図である。
本実施の形態で用いる研削装置10は、立軸回転テーブル型のインフィード型平面研削装置であり、被加工物Wを載置固定するチャックテーブル20と、研削手段30とを備える。研削手段30は、主として、研削砥石31aを保持する研削ホイール31と、フランジ32を介して研削ホイール31に一体化されて研削砥石31aを回転させるスピンドル33と、スピンドル33を回転駆動するためのスピンドルモータ34と、スピンドル33を回転自在に保持するハウジング35とを備える。また、チャックテーブル20は、後述するように被加工物Wを吸着保持するものであり、テーブル回転手段(図示せず)によって回転可能に構成され、載置された被加工物Wを例えば毎分80〜120なる回転速度で回転させる。ここで、本実施の形態の研削装置10は、インデックステーブル21上に2個のチャックテーブル20を有し、インデックステーブル21の180度回転により被加工物Wが載置されたチャックテーブル20を交互に研削手段30による研削位置に位置付け可能とされている。
ここで、被加工物Wは、特に制約されないが、例えばシリコンウエーハ等からなる半導体ウエーハであり、例えば略円盤形状に形成されたものが用いられる。
また、研削砥石31aは、例えば#2000〜#8000などのメッシュサイズのファインメッシュ砥粒からなり、全体的には、例えば略リング形状に形成されたものである。また、研削砥石31aは、スピンドルモータ34によって例えば毎分3000〜5000回転するよう、回転駆動される。このような研削砥石31aを回転させながら被加工物Wに押圧することにより、加工面を削り取ることができる。なお、被加工物Wと研削砥石31aの回転は独立したものであり、相互の回転数を自由に調整できる上に、回転方向も、互いに同一方向であっても逆方向であってもよい。
また、研削手段30は、砥石送り手段40により例えば垂直方向(Z軸方向)に昇降可能とされている。砥石送り手段40は、ハウジング35に一体化されたZ軸スライダ41と、筐体42の一部に設けられてZ軸スライダ41をZ軸方向にスライド自在にガイドするZ軸リニアガイド43と、一部がZ軸スライダ41に螺合したボールねじ44と、このボールねじ44を回転させるモータ45とからなる。この砥石送り手段40によって、研削砥石31aは、チャックテーブル20上の被加工物Wに対して加工送りまたは退避送りされる。
ここで、本実施の形態では、研削砥石31aとこの研削砥石31aに対向するチャックテーブル20上の被加工物Wとは、図2および図3に示すように、研削砥石31aの側端部がチャックテーブル20の回転軸の軸心に一致するように互いにX軸方向にずらして対向配置されている。また、図4に示すように、研削手段30の内部においては、図示しない研削液供給源から供給される研削液を、上下方向に貫通して研削ホイール31の研削面側に向けて供給する供給経路36が形成されている。この供給経路36は、スピンドル33の軸心とフランジ32の軸心とに形成された供給孔36aと、フランジ32内で軸心の供給孔36aから水平方向に複数に分岐されて下面側に開口させた分岐経路36bと、研削液を研削ホイール31の凹部31b内に受け入れるように各分岐経路36bに対応させて厚み方向に貫通させて研削ホイール31に形成された複数の水噴出孔36cとからなり、凹部31bによる内周側から研削砥石31aの研削面側に向けて研削液の噴出供給が可能とされている。
これにより、基本的には、被加工物Wおよび研削砥石31aを回転させながら、研削砥石31aを所定の送り速度で加工面に対して軸送りし、研削砥石31aを被加工物Wの加工面に押圧することにより、被加工物Wを目的の厚さとなるまで連続的にインフィード研削することができる。研削時には、研削箇所の研削粉除去や冷却のために、供給経路36から水噴出孔36cを介して研削液が研削部に供給される。
なお、研削対象となる被加工物Wは、供給側のカセット11からロボットアーム12により取り出され、位置決めピン13aを有する位置決めテーブル13でセンタリングされた後、ローディングアーム14によって待機側のチャックテーブル20上に供給セットされる。また、研削後の被加工物Wは、待機側に移動したチャックテーブル20上からアンローディングアーム15aを有する搬出機構15によって吸着保持されて取り出されてスピンナユニット16に搬送され、スピンナユニット16において洗浄水によって洗浄され、乾燥した後、ロボットアーム12により回収側のカセット11に収納される。また、インデックステーブル22の待機側チャックテーブル20付近には、チャックテーブル20を洗浄するための洗浄水供給ノズル17を有する。
また、研削手段30に対向する研削位置側のチャックテーブル20に対しては、このチャックテーブル20上の被加工物Wの厚みを測定する測定手段50を有する。測定手段50は、例えば、図2に示すように、厚みゲージを利用したものであり、チャックテーブル20の載置面の高さを測定するアウタ厚みゲージプローブ51aを有するアウタ厚みゲージ51と、チャックテーブル20に載置された被加工物Wの表面の高さを測定するインナ厚みゲージプローブ52aを有するインナ厚みゲージ52とを厚みゲージスタンド53に一体化された厚みゲージ台53a上に搭載してなる。すなわち、チャックテーブル20の載置面の高さと被加工物Wの表面の高さとの差から、被加工物Wの厚みを測定するものである。測定手段50は、厚みゲージスタンド53の回動によりチャックテーブル20や被加工物Wから退避可能とされている。
つづいて、本実施の形態のチャックテーブル20の構造について図5および図6を参照して説明する。図5は、チャックテーブル20の内部構造を示す概略断面図であり、図6は、支持基板を示す概略平面図である。
本実施の形態のチャックテーブル20は、被加工物Wを吸引保持して回転駆動されるもので、多孔質材で構成されて被加工物Wを吸着保持する吸着面を形成するチャック板22と、このチャック板22を支持する支持板23と、支持板23がボルト24等により固定されるSUS製やセラミックス製のベース板25とからなる。チャック板22は、吸着保持対象となる被加工物Wの大きさとほぼ同等の大きさに形成された円盤形状からなる。チャック板22の下面に位置する支持板23の上面側には、回転中心回りに吸引吹上げ領域を内周側吸引吹上げ領域26aと外周側吸引吹上げ領域26bとに区分けする環状リブ26cが形成されている。ここで、チャック板22の大きさを例えば直径360mmとした場合、環状リブ26cは、例えば直径180mmの位置に形成され、内周側吸引吹上げ領域26aと外周側吸引吹上げ領域26bとが同心円をなすように形成されている。
これらの内周側吸引吹上げ領域26a、外周側吸引吹上げ領域26bに対しては、支持板23およびベース板25を貫通する分岐吸引孔27a,27bが連通している。これら分岐吸引孔27a,27bは、途中で合流して、吸引孔27cとなり、適宜箇所に配設された吸引吹上げ手段28に連結されている。吸引吹上げ手段28は、内周側吸引吹上げ領域26a、外周側吸引吹上げ領域26bのそれぞれに対して被加工物Wを吸着保持させるための負圧を作用させること、および、被加工物Wを剥がすための吹上げ用の吹上げ圧(ブロー)を作用させることが可能とされている。また、分岐吸引孔27a,27bの経路中には、分岐吸引孔27a,27bを介しての負圧または吹上げ圧の作用をオン・オフするための電磁弁29a,29bを有する。そして、これら電磁弁29a,29bおよび吸引吹上げ手段28を制御する制御手段60を備える。この制御手段60は、被加工物Wの研削時には、内周側吸引吹上げ領域26aにのみ負圧を作用させ、被加工物Wの搬送時には、内周側吸引吹上げ領域26aおよび外周側吸引吹上げ領域26bに吹上げ圧を作用させるように電磁弁29a,29bおよび吸引吹上げ手段28を制御する。
このような構成において、研削時には、対象となる被加工物Wを回転するチャックテーブル20のチャック板22上に吸着保持した状態で、研削部に研削液を供給しながら、回転する研削砥石21aによって被加工物Wの表面を研削する。このような研削時には、制御手段60は、チャックテーブル20において支持基板23の内周側吸引吹上げ領域26aにのみ負圧を作用させるように吸着状態を制御する。これにより、被加工物Wの吸着保持に支障を来たすことなく、チャック板22上の被加工物Wの外周側吸引吹上げ領域26bに対応する部分に対する吸着力を弱くすることができる。よって、研削時に研削部に供給されて被加工物Wの周縁部に存在する研削液に対する吸い込み力も極めて弱いものとなり、チャック板22を通して支持基板23側に吸い込まれる研削液の量は少ないものとなる。この結果、支持基板23に吸い込まれた研削液の温度変化による面内バラツキの発生を抑制し、経時的に、支持基板23やチャック板22の平面度を維持して、良好なる研削動作を継続させることができる。
研削終了後の搬送時には、チャックテーブル20を待機側位置に移動させ、制御手段60によって内周側吸引吹上げ領域26aおよび外周側吸引吹上げ領域26bに吹上げ圧を作用させるように電磁弁29a,29bおよび吸引吹上げ手段28を制御するとともに、アンローディングアーム15aを有する搬出機構15によって被加工物Wを全面的に吸着保持してスピンナユニット16に搬出する。このような搬送時には、内周側吸引吹上げ領域26aのみでなく、外周側吸引吹上げ領域26bを含む全面で均一に吹上げ圧を作用させて被加工物Wをチャック板22から剥がすようにしているので、被加工物Wに歪みを生ずることなく搬出させることができる。
本発明は、上述した実施の形態に限らず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲であれば、種々の変形が可能である。例えば、本実施の形態では、内周側吸引吹上げ領域26aと外周側吸引吹上げ領域26bとをそれぞれ単一領域として形成した例で説明したが、要は、半径方向において内周側吸引吹上げ領域26aと外周側吸引吹上げ領域26bとに区分けされていればよく、その区分けの仕方(区分け形状、区分け位置、内部構造等)は適宜設定すればよい。例えば、各領域26a,26b内をそれぞれ複数の環状または円弧状のリブで複数の領域に分割形成してもよく、或いは、各領域26a,26bを複数の環状または円弧状の溝形状に形成してもよい。また、吸引吹上げ手段28は、領域26a,26b毎に独立して設けるようにしてもよい。
本発明の実施の形態の研削装置の構成例を示す外観斜視図である。 図1の研削手段付近の構成例を拡大して示す斜視図である。 図2の正面図である。 研削部付近に対する研削液の供給構造を示す断面図である。 チャックテーブルの内部構造を示す概略断面図である。 支持基板を示す概略平面図である。
符号の説明
10 研削装置
15 搬出機構
20 チャックテーブル
22 チャック板
23 支持基板
26a 内周側吸引吹上げ領域
26b 外周側吸引吹上げ領域
28 吸引吹上げ手段
30 研削手段
60 制御手段

Claims (1)

  1. 被加工物を吸引保持して回転駆動されるチャックテーブルと、該チャックテーブル上に吸引保持された被加工物に研削液を供給しつつ研削する研削手段と、前記チャックテーブル上で研削された被加工物を保持して搬送する搬出機構とを備える研削装置において、
    前記チャックテーブルは、前記被加工物と同等の大きさに形成されかつ多孔質材で構成されて被加工物を吸着保持するチャック板と、該チャック板を支持する支持基板とからなり、
    前記支持基板は、平面的に見て内周側吸引吹上げ領域と外周側の領域とに区分けされ、
    前記内周側吸引吹上げ領域および前記外周側の領域のそれぞれに負圧または吹上げ圧を作用させることが可能な吸引吹上げ手段を備え、
    被加工物の研削時には、前記内周側吸引吹上げ領域にのみ負圧を作用させて前記被加工物を前記チャック板上に吸着保持し、被加工物の搬送時には、前記内周側吸引吹上げ領域および前記外周側の領域に吹上げ圧を作用させて前記チャック板の全面で均一に吹上げ圧を作用させるよう制御する制御手段を備えることを特徴とする研削装置。
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