JP5243364B2 - 研究室の保存・搬出システムおよび研究室試料試験管を取り扱う方法 - Google Patents
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Description
14 保存区画
18 処理装置
220 ロボットアーム
222 一次ラック用把持部
310 再仕分けステーション
312 保存ラックドッキング要素
314 保存部
320 第2ロボットアーム
340、346 凹み
350、352、354 ロック機構
Claims (13)
- 試料試験管を保存し、また保存している試料試験管を取り出す研究室の搬入・搬出システムであって、
ラック取扱部(12)と保存区画(14)とを有し、
前記ラック取扱部(12)は搬送システムと判定ユニットとを有し、前記搬送システムは試料試験管(S)を収容している搬入一次ラック(PR)を受け入れ、さらに前記試料試験管(S)の予め決められた仕分基準に係る少なくとも1つの所定のパラメータを判定するために前記判定ユニットに搬送し、前記仕分基準は前記試料試験管(S)の径を含み、前記判定ユニットは少なくとも前記試料試験管(S)の形状についてのパラメータを分析する画像解析ユニットを含んでなり、
前記搬送システムは分析済みの前記一次ラック(PR)から前記試料試験管を取り出し、前記予め決められた仕分基準を満たさない前記試料試験管(S)を分析済みの前記一次ラック(PR)に留め置き、さらに前記保存区画(14)内の保存ラックの保存のための、判定された仕分基準パラメータにしたがって、前記取り出された試料試験管を適切な保存ラック(SR)に再仕分けし、
該保存ラック(SR)が、第1の径を有する試料試験管(S)を受け入れるための第1の径を有する開口を備える第1の保存ラックと、第2の径を有する試料試験管(S)を受け入れるための第2の径を有する開口を備える第2の保存ラックとを含んでなる研究室の搬入・搬出システム。 - 前記仕分基準は、前記試料試験管の内容物、前記試料試験管の高さおよび前記試料試験管の保存期限からなるパラメータの群から選択された1のパラメータをさらに含むことを特徴とする請求項1記載の研究室の搬入・搬出システム。
- 前記搬送システムは、搬入一次ラック(PR)を取り扱うための少なくとも1つの第1のロボットアーム(220)と、試料試験管(S)を一次ラック(PR)から保存ラック(SR)に再仕分けするための少なくとも1つの第2のロボットアーム(320)とを有することを特徴とする請求項1記載の研究室の搬入・搬出システム。
- 前記保存区画(14)は前記保存ラック(SR)を搬送し、また取り扱うための保存・搬送システムを有し、前記保存・搬送システムは保存ラック内の前記試料試験管の保存期限が切れたときに前記保存ラックを自動的に取り出すとともに、そこに収容されている前記試料試験管を自動的に廃棄できるようになっていることを特徴とする請求項1記載の研究室の搬入・搬出システム。
- 前記保存区画(14)の外側に配置されている再仕分けステーション(310)をさらに有し、前記再仕分けステーション(310)は、保存ラック(SR)を保持するために少なくとも2つの保持部(314)を有することを特徴とする請求項1記載の研究室の搬入・搬出システム。
- 前記保存区画(14)は、内蔵式の処理装置(18)をさらに有することを特徴とする請求項4記載の研究室の搬入・搬出システム。
- 前記第2のロボットアーム(320)により搬出または搬入される一次ラック(PR)を受承するための一次ラックドッキング要素(340)をさらに有し、前記一次ラックドッキング要素(340)は一次ラック(PR)を受承できるようになっている少なくとも1つの凹み(346)を有し、前記凹み(346)は、前記一次ラック(PR)をそのドッキング位置に固定するための固定機構(350、352、354)が設けられていることを特徴とする請求項3記載の研究室の搬入・搬出システム。
- 前記固定機構(350、352、354)は、前記第1のロボットアーム(220)の一次ラック用把持部(222)が作動させるようになっていることを特徴とする請求項7記載の研究室の搬入・搬出システム。
- 保存ラックドッキング要素(312)をさらに有し、前記保存区画(14)から取り出す対象の試料試験管は、それらの保存ラック(SR)に収容された状態で前記保存ラックドッキング要素(312)に移送され、前記取り出す対象の試料試験管が、搬出一次ラックに再仕分けされることを特徴とする請求項1記載の研究室の搬入・搬出システム。
- 研究室試料試験管を保存し、また保存している試料試験管を取り出すための研究室の搬入・搬出システムにおいて研究室試料試験管を取り扱うための方法であって、前記研究室の搬入・搬出システムは、ラック取扱部(12)と冷蔵または保存区画(14)とを有し、
−前記ラック取扱部(12)において、試料試験管(S)を収容している搬入一次ラック(PR)を第1のロボットアーム(220)により判定ユニットに移送し、前記試料試験管(S)の予め決められた仕分基準に係る少なくとも1つの所定のパラメータを判定する段階と、
−第2のロボットアーム(320)により、分析済みの前記一次ラック(PR)から試料試験管を取り出し、前記仕分基準を満たさない前記試料試験管(S)を分析済みの前記一次ラック(PR)に留め置き、判定された仕分基準にしたがって前記試料試験管(S)を保存ラック(SR)に再仕分けする段階と、
−前記保存ラック(SR)を前記冷蔵または保存区画(14)に保存する段階とを含み、前記仕分基準が前記試料試験管(S)の径を含み、
−前記判定ユニットは少なくとも前記試料試験管(S)の形状についてのパラメータを分析する画像解析ユニット(250)を含み、
前記保存ラック(SR)が、前記一次ラック(PR)とは異なり、前記保存ラック(SR)が、第1の径を有する試料試験管(S)を受け入れるための第1の径を有する開口を備える第1の保存ラックと、第2の径を有する試料試験管(S)を受け入れるための第2の径を有する開口を備える第2の保存ラックとを含むことを特徴とする方法。 - 前記仕分基準は、前記試料試験管の内容物、前記試料試験管の高さおよび前記試料試験管の保存期限からなるパラメータの群から選択された1のパラメータをさらに含むことを特徴とする請求項10記載の方法。
- 前記判定ユニットを用いて、前記一次ラック(PR)にある試料試験管がシステム不適合であるかどうかを判定する段階をさらに含み、前記一次ラック中に存在するシステム不適合の試料試験管はすべて、前記一次ラック(PR)に留め置かれることを特徴とする請求項10記載の方法。
- −保存ラック(SR)を前記保存区画(14)から取り出す段階と、
−分析を行うことが望ましい試料試験管を、取り出した前記保存ラックから搬出一次ラックに再仕分けする段階と、
−前記搬出ラックを外部位置に移送する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項10記載の方法。
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