JP5156186B2 - フラットパネル検出器をベースとしたスロット走査構成 - Google Patents

フラットパネル検出器をベースとしたスロット走査構成 Download PDF

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Description

本発明は、一般的に云えば、X線デバイス、システム又は装置を使用した診断用放射線医学を対象とする。本発明は特に、スロット走査構成でフラットパネル検出器を使用するX線デバイス、システム又は装置を対象とする。
散乱X線はコントラスト低減効果を有することが知られている。標準的なフラットパネル撮像を使用する際の最も重要な問題の一つは、対象物(例えば、患者)のX線撮像を行った後、X線像が直接透過X線よりも多量の散乱X線で構成され、従ってコントラストが低減することである。これは特に、厚い対象物(すなわち、重量のある患者)の場合に当てはまる。
診断用放射線医学システムにおいてコントラストを改善するために、空気間隙、電子装置の改良及び特定の形態の走査手法を用いることを含めて様々な努力がなされていた。しかしながら、このような既知の手法は一般に、高速の走査速度及び短い露出時間を維持しながら高い像品質を得るのに不満足なものであることが分かっている。例えば、単一の走査ビームを用いること等により、非常に低い走査速度により良好な品質の像を得ることは可能であるが、このような低速の走査手法は、患者をX線で検査している間に患者の身体部分及び器官が動くという事実に鑑み診断用放射線医学では実用的でない。例えば、腹部は、器官、骨及び体液の密度が比較的大きいことから身体の内で正確にX線で検査することが最も困難な部分であることが理解をされよう。
従って、X線像を得るために比較的長い露出時間が必要とされる場合、X線検査している器官及び身体部分の動きに起因して像がぼやけることがあり、診断用途には役に立たなくなる。1つの取り得る解決策は、散乱を低減又は無くすためにポストペイシェント(post-patient)コリメータを使用することである。従来使用されているポストペイシェント・コリメータに伴う1つの制約は、それらが散乱X線を完全に低減又は除去せず、しかも患者を通過して有用な照射線量を形成するX線を阻止することがあることである。
患者を通過する前に放射線を阻止するような異なる種類のスロット・スキャナ(例えば、プリペイシェント(pre-patient) スロット・スキャナ)を像検出器と共に使用することを含めて、X線散乱を低減し又は除去するための他の努力がなされている。このような態様では、スロットを通過した放射線のみが検出器に衝突する。検出器及びプリペイシェント・コリメータは患者を横切って掃引されて、それらの像を収集して一緒に貼り付けて1つの像を形成する。この種類のスロット・スキャナ構成は4〜10倍の照射線量の低減を生じることができると考えられる。スロット数を増大させると全走査時間が短縮される。
X線散乱を低減し又は除去するための従来の努力の一例が、米国特許第4096391号に開示されており、その記載全体を引用によって本書に取り入れる。この米国特許はフィルム(例えば、フィルム・カセット)を使用するスロット・スキャナ構成を開示している。この米国特許第4096391号は多重スロット走査方法及び装置を開示している。通常のX線管は患者の方向に連続X線ビームを投射する。記載されているように、前方スロット板が、X線ビームの通路内で患者の上方の所定の位置に配置される。前方スロット板は複数の狭いスロットを含んでおり、これらのスロットは、患者を走査するために一群の狭い平行なビーム・セグメントを通過させることができる。
患者に衝突したときに、これらの狭いビーム・セグメントは任意の数の任意の方向に部分的に除去され又は散乱する。これらの散乱ビーム部分は何ら有意な情報を担持していず、従って結果として生じるX線像においてコントラストをぼやけ又は低減させる傾向がある。他方、ビーム・セグメント又は部分の一部分は患者を直接に通過する。これらの通過するビーム部分は、患者の内部器官の構造上の構成に関する情報を担持している。
例えば腹部領域では、病気の正確な診断又は腫瘍及び他の不正な増殖の検出ができるようにするのに必要な精度を得るために、非常に明瞭で、高品質のX線像が不可欠である。しかしながら、腹部内の物質の厚さや高密度、及び腹部領域を撮像するために必要な大きい放射線場に起因して、多量のX線散乱が生じ、これは、前に述べたように、腹部の明瞭な放射線像を得ることを困難にする。従って、例えば、身体のこの腹部領域についてより一層明瞭なX線像を得ることは、腹部の診断用放射線医学の進歩にとって非常に望ましく且つ重要である。
米国特許第4096391号
このような従来使用されているスロット・スキャナ又はプリペイシェント・コリメータが様々な制約を有していることを理解されたい。それらは、発生源−像間距離(SID)(すなわち、X線管と検出器との間の距離)が固定であることを必要としている。このような従来の設計においてX線を検出するために使用され物質(例えば、単結晶シリコン及びキセノン・ガス)は、特定の用途(例えば、R&Fの放射線撮像)に使用される高kV撮像には有効に働かない。最後に、像を形成するために使用される機械的な走査では、蛍光透視撮像のような高フレーム速度の撮像が不可能ではないにしても困難である。
X線散乱を低減し又は除去するための他の1つの試みでは、キセノン・ガス及びアバランシェ検出に基づいたスロット・スキャナを使用している。X線散乱を低減し又は除去するための更に別の試みでは、X線の入射に対して直交方向に回転する単結晶シリコン・センサに基づいたスロット・スキャナを使用している。両方の試みは(スロット走査により)X線散乱及びフォトン計数を低減できると理解されるが、このような試みは一般にスロット・スキャナが走査されるとき有効であるに過ぎない。
一実施形態は、一般的に云えば、診断用放射線医学を実行するための診断用X線デバイス、システム又は装置、及びこのような診断用X線デバイス、システム又は装置を構成する方法に関する。より詳しく云えば、一実施形態は、コントラストを高めた、対象物の少なくとも1つの像を形成するための診断用システムに関する。本システムは、撮像用ビームを発生するのに適したビーム発生源と、撮像用ビームから少なくとも1つのビーム部分を形成するのに適しており且つ対象物を撮像するのに適しているマスク部材とを含んでいる。本システムは更に、対象物を通る少なくとも1つのビーム部分の通路内に配置され且つ対象物の少なくとも1つの像を形成するのに適しているフラットパネル検出器を含んでいる。
少なくとも1つの実施形態では、マスク部材は、撮像用ビームの通路内に配置された少なくとも1つのスロットを持つ少なくとも1つ又は複数の取外し可能なプリペイシェント・コリメータと、対象物を通る少なくとも1つのビーム部分の通路内に配置された少なくとも1つのスロットを持つポストペイシェント・コリメータと、その中に少なくとも1つのスロットを画成しているX線コリメータとの内の少なくとも1つ又は複数を含んでいる。
本システムの様々な実施形態ではX線システムを有し、撮像用ビームはX線ビームを有する。本システムは、対象物を支持するテーブルと、発生源−プリペイシェント・コリメータ間距離/発生源−像間距離の比を一定に維持するのに適した支持体とを持つことができる。本システムの更に別の実施形態は、散乱を測定し、又は相互接続部を提供し、又は散乱を測定し且つ相互接続部を提供するのに適したフラットパネル検出器を含む。
更に別の実施形態は、コントラストを高めた、対象物の少なくとも1つの像を形成するための診断用システムを構成する方法を含んでいる。この実施形態では、該方法は、走査部分及びフラットパネル検出器を構成する段階を含む。走査部分を構成する段階は、高フレーム速度の撮像及び低照射線量走査の撮像の内の少なくとも1つのために構成することを含む。フラットパネル検出器部分を構成する段階は、標準的なシンチレーション、直接変換、並びにシンチレーション及び直接変換のハイブリッド(hybrid:混成)の内の少なくとも1つのために構成することを含む。この方法は、このように構成されたシステムを使用して対象物の走査を実行し且つ像を形成する段階を含む。
また別の実施形態は、X線デバイスを使用して対象物の像を形成することを含む。この実施形態は、通常のX線源を使用してX線ビームを発生する段階と、X線ビームから複数のビーム・セグメントを生成する段階とを含む。この方法は更に、少なくとも1つのビーム部分を使用して対象物を走査する段階と、フラットパネル検出器上にX線像を生成する段階とを含む。この方法は、複数のビーム部分を形成するために取外し可能なプリペイシェント・コリメータを使用する段階と、少なくとも1つのビーム部分を通すポストペイシェント・コリメータを使用する段階との内の少なくとも1つを含むことができる。更に、この方法は収集時間を最小にする段階を含むことができる。
上記の本発明の概要並びに本発明の特定の実施形態についての以下の詳しい説明は、添付の図面を参照すればより良く理解されよう。本発明を例示する目的で、図面に特定の実施形態を示す。しかしながら、本発明が添付の図面に示した構成及び手段に制限されないことを理解されたい。
例えば密集した腹部領域において病気の正確な診断並びに腫瘍及び他の不正な増殖の検出ができるようにするのに必要な精度を得るためには、明瞭で、高品質のX線像が不可欠である。しかしながら、腹部内の物質の厚さや高密度、及びその領域を撮像するために必要な大きい放射線場に起因して、多量のX線が散乱され、これは、前に述べたように、明瞭な放射線像を得ることを困難にする。従って、明瞭なX線像を得ることは、診断用放射線医学(例えば、腹部の診断用放射線医学)の進歩にとって非常に望ましく且つ重要である。
少なくとも1つの実施形態は、一般的に云えば、診断用X線デバイス、システム又は装置を構成し、このような構成された診断用X線デバイス、システム又は装置を使用して診断用放射線医学を実行することに関する。より具体的に述べると、様々な実施形態は、標準的なX線コリメータ、取外し可能なプリペイシェント・スロット・コリメータ、ポストペイシェント・コリメータ及びフラットパネル検出器の内の少なくとも1つを持つX線デバイス、システム又は装置を対象とする。一実施形態は、高フレーム速度の撮像(例えば、蛍光透視撮像又は断層撮像)又は低照射線量スクリーニング用途のいずれかを実行するのに適している。更に、装置の実施形態は、高KV用途(「RAD」)のために低照射線量スロット走査の利益を得るのに適している。単に例示の目的で、以下の詳しい説明はX線デバイス、装置又はシステムの特定の実施形態に関して行う。しかしながら、それらの実施形態が他のデバイス、装置又は撮像システムに用いることができることは勿論である。
少なくとも1つの実施形態では、システムがスロット・スキャナとして用いられるように、プリペイシェント・スロット・コリメータがデバイス、システム又は装置内に配置される。更に、システムをスロット・スキャナ又は全視野(FOV)モードで使用することができるように、プリペイシェント・コリメータは取外し可能とすることができる。スロット・スキャナ・モードでは照射線量低減の利益が得られ、また全FOVモードでは(蛍光透視、断層、シネなどの)高速の像収集が行える。フラットパネル検出器はシンチレータ検出器又は直接変換検出器であってよく、プリペイシェント・コリメータの背後の検出器の陰影領域は、相互接続部のためのデッド・スペースとして、又は散乱を測定するためのアクティブ・ピクセルとして、或いはそれらのハイブリッド(混成)として使用することができる。少なくとも1つの実施形態では、ポストペイシェント・コリメータはアクティブ・ピクセル・ラン相互の間の散乱を阻止するが、陰になったピクセルにおける散乱を検出して、散乱像の測定を可能にするように最適化することができる。少なくとも1つの実施形態では、この構成のSIDは、発生源−プリペイシェント・コリメータ間距離/発生源−像間距離の比が一定に留まる限り、修正することができる。SIDが変更されるとき該比を維持するために、機械化支持体を使用することができる。
ここで図面を参照すると、幾つかの図面にわたって同一の又は対応する部品には同じ参照数字を付しており、先ず図1についてより具体的に述べると、走査装置及び方法の実施形態を概略した形で例示している。少なくとも1つの実施形態では、全体的に参照数字10で表したX線デバイス、システム又は装置が、少なくとも1つの走査及びフラットパネル検出器部分を有する。
図1は、図示のように焦点を持ち、対象物16の方向にX線ビーム(例えば、連続X線ビーム)14を投射する通常のX線源12を示している。現在利用可能なX線源は約2.0mm以下(例えば、0.3mm)の焦点寸法を持つ。X線検査される対象物は、少なくとも1つの実施形態が診断用放射線医学において最も有益であると思われることから「患者」とも称することができることが理解されよう。しかしながら、様々な実施形態が患者の他に多数の異なる種類の生物及び無生物の放射線研究に使用できることを理解されたい。
少なくとも1つの実施形態によれば、第1の、すなわち取外し可能なマスク部材18(例えば、プリペイシェント・スロット・コリメータ)が、X線ビーム14の通路内で患者16の上方の所定の位置に配置される。少なくとも1つの実施形態では、プリペイシェント・スロット18は、一般にX線ビームを通さない一種類の材料又は複数の種類の材料の組合せ(例えば、鉛、鋼及びタングステン)で形成されていて、患者16を走査するための少なくとも2つの(しかし一般的には、複数の)狭いビーム・セグメント又は部分42を通すことのできる少なくとも2つの(しかし一般的には、複数の)狭いスロット40を含んでいる。スロット40は例えば通常のX線源12の焦点寸法の少なくとも2倍の最小寸法を持っていてよいと考えられるが、他の寸法及び形状も考えられる。マスク部材は更に、全照射領域を制限するためにプリペイシェント・コリメータ18の上方又は下方に、或いはプリペイシェント・コリメータ18の代わりに配置される通常の視野制限用隔膜又は標準的なX線コリメータ(図4に最も良く示されている)を含むことができると考えられる。
1つ又は複数の狭いビーム・セグメント又は部分42は、患者16に衝突したとき、任意の数の任意の方向に部分的に除去され又は散乱する(例えば、図5参照)。これらの散乱したビーム部分は何ら有意な情報を持っていず、従って結果として得られるX線像においてコントラストをぼやけ又は低減させ、或いはコントラストにその他の影響を及ぼす傾向がある。他方、少なくとも1つの(しかし一般的には、2つ以上の)ビーム・セグメント又は部分42は直接に患者16を通過する。これらの通過するビーム・セグメント又は部分(これらは「一次放射線」とも称される)は、患者の内部器官の構造的構成に関する情報を担持する。
再び図1を参照して説明すると、患者16がテーブル20によって支持されることが示されており、テーブル20は少なくとも1つの実施形態ではX線透過性材料で構成され、テーブル20の下にはフラットパネル検出器22が配置されている。処理装置26(これは、一実施形態では、X線源12用の制御装置を含むことができる)が少なくともフラットパネル検出器22と通信するものとして示されている。処理装置26は、以前の既知の実施形態に対してコントラスト及び明瞭さを著しく向上させた像を受け取り、記憶し且つ処理するのに適したものとする。少なくとも1つの実施形態では、装置10は、コントラスト及び明瞭さを改善した像を(例えば、実時間で)表示するのに適したビデオ処理装置28及び表示装置30を含んでいる。処理装置26、ビデオ処理装置28及び表示装置30はハードワイヤ接続を介して通信するものとして示されているが、他の通信方法(例えば、無線接続)も考えられる。
動作について説明すると、少なくともプリペイシェント・コリメータ18が(任意の適当な駆動装置を使用して)移動可能であり、少なくとも1つの(しかし一般的には、複数の)ビーム・セグメント又は部分42を使用して患者16を走査する。この態様では、フラットパネル検出器22が、患者16を通過するビーム・セグメント又は部分42によって走査され、その結果、プリペイシェント・コリメータ18のいかなる陰やその存在の形跡を含まない明瞭な像が得られる。より重要な点は、少なくともプリペイシェント・コリメータ18の使用により、全てではないが殆どの散乱放射線を効果的に減衰させて、フラットパネル検出器22上の像が、このようなプリペイシェント・コリメータを使用せずに撮られた像と比べて著しく改善されたコントラスト及び明瞭さを持つと云うことである。少なくとも1つの実施形態では、プリペイシェント・コリメータ18は単独で又はフラットパネル検出器と同期して移動させることが考えられるが、他の実施形態では、患者16及びテーブル20をプリペイシェント・コリメータ18及びフラットパネル検出器22に対して移動してもよいことが考えられる。
少なくとも1つの実施形態では、システム10は、X線源12の焦点を通る軸線を中心にして旋回するアーム又は支持体を含むことができる。プリペイシェント・コリメータ40は、取付け手段を使用して支持体に取り付けることができ、取付け手段は支持体と一体に形成することができる。少なくとも1つの実施形態では、ポストペイシェント・コリメータを(例えば、ペグを使用して)支持体のベース部分に結合することができる。
少なくともプリペイシェント及び/又はポストペイシェント・コリメータの直線運動は、例えば、直線案内部材を使用して保証することができ、この直線案内部材にコリメータが通常のころ軸受によって、又は最小の摩擦で自由に直線運動させることのできる他の適当な結合手段によって結合される。通常の駆動装置(例えば、電気モータ)を使用することにより、例えば、ウォーム歯車駆動装置を介して支持体並びにプリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータを駆動することができる。ウォーム歯車駆動装置は、モータによって駆動され且つ歯車セグメントに係合するウォーム歯車を含む。ウォーム歯車駆動装置及び電気モータ組立体は全く従来のものである。ウォーム歯車及び電気駆動装置組立体は、ウォーム歯車装置が精密な運動を可能にし且つモータを付勢する電力が通常普通に利用可能であることから、本発明の実施形態に使用するのに適当である。
システムに動力を供給するために、流体圧装置及びベルト装置を含めて、多数の他の種類の駆動装置及び電源を使用することができると考えられる。異なる種類の駆動装置は、当業者によって本発明の教示を考慮して記述したシステムに容易に適合させることができる。
更に、モータを付勢するためにスイッチを使用することができると考えられる。付勢されたとき、モータはウォーム歯車駆動装置を介して支持体を駆動して、プリペイシェント及び/又はポストペイシェント・スロット・コリメータを移動させる。少なくとも1つのコリメータの動きを検出するために始動センサを使用することができ、始動センサは通常のリミット・スイッチ、光電池装置、又は任意の同様な種類の通常の装置であってよい。始動センサはX線源制御装置に結合され、このX線源制御装置はX線源12に結合されていて、始動センサがトリガされたときにX線源12を付勢する。始動センサと同様である通常の停止センサをX線源制御装置に結合することにより、プリペイシェント及び/又はポストペイシェント・スロット・コリメータがその走査運動を完了するように充分に移動した後にX線源12を停止させるようにすることができる。
図2は、本発明の特定の実施形態に従ったプリペイシェント・コリメータ及びフラットパネル検出器の平面図を含む(図1と同様な)診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の概要図である。
図1と同様に、図示のように焦点を持つ通常のX線源12が、患者16の方向にX線ビーム(例えば、連続X線ビーム)14を投射する。本発明の少なくとも1つの実施形態によれば、取外し可能なプリペイシェント・コリメータ18がX線ビーム14の通路内で患者16の上方の所定の位置に配置され、該プリペイシェント・コリメータ18は患者を通過する1つ又は複数のビーム・セグメント又は部分42を形成するのに適している。フラットパネル検出器22は、患者を通過するそれらの部分42によって走査するのに適している。
一実施形態では、フラットパネル検出器22は、図6に示されたものと同様なものであるが、1つ又は複数のアクティブ・ラインを持つ少なくとも標準的なシンチレータ又は直接変換フラットパネル検出器を含んでいる。少なくとも1つの実施形態では、1つ又は複数のラインは直接放射線を検出するのに適しており、他のデータ・ラインは(多分に、回折又は散乱の撮像のために)散乱を測定するのに適している。
図3は、本発明の特定の実施形態に従ったポストペイシェント・コリメータを含む(図1と同様な)診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の概要図である。図3は、図示のように焦点を持ち、患者216の方向にX線ビーム(例えば、連続X線ビーム)214を投射する通常のX線源212を示している。現在利用可能なX線源は約2.0mm以下(例えば、0.3mm)の焦点寸法を持つ。
少なくとも1つの実施形態によれば、取外し可能なプリペイシェント・コリメータ218はX線ビーム214の通路内で患者216の上方の所定の位置に配置される。少なくとも1つの実施形態では、マスク部材(例えば、取外し可能なプリペイシェント・コリメータ)が一般にX線ビームを通さない一種類の材料又は複数の種類の材料の組合せ(例えば、鉛、鋼及びタングステン)で形成されていて、患者216を走査するための少なくとも2つの(しかし一般的には、複数の)狭い平行なビーム・セグメント又は部分242を通すことのできる少なくとも2つの(しかし一般的には、複数の)狭いスロット240を含んでいる。スロット240は通常のX線源212の焦点寸法の少なくとも2倍の最小寸法を持っていてよいと考えられるが、他の寸法及び形状も考えられる。マスク部材は更に、全照射領域を制限するためにプリペイシェント・コリメータ218の上方又は下方に、或いはプリペイシェント・コリメータ218の代わりに配置される通常の視野制限用隔膜又は標準的なX線コリメータを含むことができると考えられる。
1つ又は複数の狭いビーム・セグメント又は部分242は、患者216に衝突したとき、任意の数の任意の方向に部分的に除去され又は散乱する(図5に最も良く示されている)。これらの散乱ビーム部分は何ら有意な情報を持っていず、従って結果として得られるX線像においてコントラストをぼやけ又は低減させ、或いはコントラストにその他の影響を及ぼす傾向がある。他方、少なくとも1つの(しかし一般的には、2つ以上の)ビーム・セグメント又は部分242が直接に患者216を通過する。これらの通過するビーム・セグメント又は部分(すなわち、一次放射線)は、患者の内部器官の構造的構成に関する情報を担持する。
再び図3を参照して説明すると、患者216がテーブル220によって支持されることが示されており、テーブル220は少なくとも1つの実施形態ではX線透過性材料で構成される。少なくとも1つの実施形態では、マスク部材が更に、テーブル220の下で且つフラットパネル検出器222の上方に配置された少なくともポストペイシェント・コリメータ又は後側スロット・プレート224を含む。少なくとも1つの実施形態では、ポストペイシェント・コリメータ224は任意の適当なX線を通さない材料(プリペイシェント・コリメータ218と同じ又は異なる材料)で構成されていて、走査のために少なくとも1つの(しかし一般的には、複数の)平行なビーム・セグメントを通すことができる少なくとも1つの(しかし一般的には、複数の)スロット244を含んでいる。
例示されているように、ポストペイシェント・コリメータ224は少なくとも1つの(しかし一般的には、複数の)スロット244を含んでおり、該スロット244の幅はその深さに比較して小さく、また、それらのスロット244は、患者216を通過したビーム・セグメント242を受け入れるのに充分であるように、プリペイシェント・コリメータ218のスロット240よりもかなり幅広い。プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ218及び224は共に同じ数のスロットを含み、且つ本質的に合同である。とはいえ、ポストペイシェント・コリメータ224はプリペイシェント・コリメータ218に対して寸法が実質的に拡大されている。プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ218及び224の比較寸法は後で説明する。
動作について説明すると、様々なビーム部分242を使用して患者216を効果的に走査するために、プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ218及び224が同期して動かされる。この態様では、フラットパネル検出器222は、患者216を通過する1つ又は複数のビーム・セグメント又は部分によって走査され、その結果、2つのコリメータ218及び224のいかなる陰やその存在の形跡を含まない明瞭な像が得られる。より重要な点は、コリメータ218及び224を使用した結果として、殆ど全ての散乱放射線の非常に効果的な減衰が生じて、フラットパネル検出器22上の像が、このように組み合わせたコリメータ218及び224を使用せずに撮られた像と比べて著しく改善されたコントラスト及び明瞭さを持つようになると云うことである。
中央処理装置226が少なくともフラットパネル検出器222と通信するものとして示されている。中央処理装置226は、以前の既知の実施形態に対してコントラスト及び明瞭さを著しく改善させた1つ又は複数の像を受け取り、記憶し且つ処理するのに適している。少なくとも1つの実施形態では、装置210は、コントラスト及び明瞭さを改善した1つ又は複数の像を(例えば、実時間で)表示するのに適したビデオ処理装置228及び表示装置230を含んでいる。中央処理装置226、ビデオ処理装置228及び表示装置230はハードワイヤ接続を介して通信するものとして示されているが、他の通信方法(例えば、無線接続)も考えられる。
図4は、本発明の特定の実施形態に従ったポストペイシェント・コリメータ及びフラットパネル検出器の平面図を含む(図3と同様な)診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の概要図である。
1つ又は複数の狭いビーム・セグメント又は部分242は、患者216に衝突したとき、多数の任意の方向に部分的に除去され又は散乱する。これらの散乱したビーム部分は何ら有意な情報を持っていず、従って結果として得られるX線像においてコントラストをぼやけ又は低減させ、或いはコントラストにその他の影響を及ぼす傾向がある。他方、ビーム・セグメント242(すなわち、一次放射線)の部分は直接に患者216を通過し、これらの通過するビーム部分は、患者の内部器官の構造的構成に関する情報を担持する。
(図7のものと同様な)図4のフラットパネル検出器222の少なくとも1つの実施形態では、プリペイシェント・コリメータ240の周波数(frequency) で分離された少なくとも2つのアクティブ・ラインを含む。アクティブ・ライン相互の間のデッド・スペースは相互接続部及びパッケージ化のために使用することができる。この実施形態は、検出器列が単結晶の直接変換物質で構成されている場合に特に有用である。この構成では、一次検出器列相互の間の領域は散乱を測定するための1つ又は複数のアクティブ列を持つことができる。
前に述べたように、露出時間は明瞭なX線像を得る際の重要な因子である。と云うのは、露出が長い期間にわたってなされている場合、器官などの不随意運動により許容できない程の像のぼやけが生じる恐れがあるからである。一般に、腹部の検査の場合、露出時間はほぼ1/2秒に制限すべきである。実施形態では、ほぼ1/2秒以下の短い走査間隔を容易に可能にする。
図5は、少なくとも1つの走査及びフラットパネル検出器部分を含む(図3と同様な)診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の部分的な側面図を示す。少なくとも1つの実施形態では、走査部分は少なくとも1つのマスク部材を含み、このマスク部材は標準的なX線コリメータ、プリペイシェント・コリメータ及びポストペイシェント・コリメータの内の少なくとも1つを含むことができる。
図5において、通常のX線源212が患者216の方向に連続X線ビーム214を投射する。システム210は、患者216の上方の所定の位置に配置された取外し可能なプリペイシェント・コリメータ218を含んでいる。プリペイシェント・コリメータ216は少なくとも1つの(しかし一般的には、複数の)狭いスロット240を含み、これらのスロット240は患者216を走査するために一群の狭い平行なビーム・セグメント242を通すことができる。通常の視野制限用隔膜又は標準的なX線コリメータ215が、既知の実例に従って全照射領域を制限するためにプリペイシェント・コリメータ218の上方又は下方に配置される。
狭いビーム・セグメント242は、患者216に衝突したとき、多数の任意の方向を指している複数の矢印241によって表されているように部分的に除去され又は散乱する。これらの散乱したビーム部分241は何ら有意な情報を持っていず、従って結果として得られるX線像においてコントラストをぼやけ又は低減させる傾向がある。他方、ビーム・セグメント242の部分は直接に患者216を通過し、これらの通過するビーム部分は、一次放射線243として知られており、患者の内部器官の構造的構成に関する情報を担持する。
再び図5を参照して説明すると、患者がテーブル220によって支持されることが示されており、テーブル220は比較的軽いX線透過性材料で構成される。テーブル220の下には、ポストペイシェント・コリメータ224がフラットパネル検出器222の上方に配置されている。ポストペイシェント・コリメータ224は複数のスロット244を含み、該スロット244の幅はその深さに比較して小さく、また、それらのスロット244は、患者216を通過した拡張したビーム・セグメント242を受け入れるのに充分な幅であるように、プリペイシェント・コリメータ218のスロット240よりも幅広い。スロット244は好ましくは、少なくとも4対1の深さ対幅比を持つ。一実施形態では、プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ218及び224は共に同じ数のスロットを含み、且つ本質的に合同である。とはいえ、ポストペイシェント・コリメータ224はプリペイシェント・コリメータ218に対して寸法が実質的に拡大されている。
動作について説明すると、様々なビーム・セグメント243を使用して患者216を効果的に走査するために、プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ218及び224が同期して動かされる。この態様では、フラットパネル検出器222は、患者216を通過する少なくとも1つのビーム・セグメント243によって走査され、その結果、コリメータのいかなる陰やその存在の形跡を含まない明瞭な像を生じる。より重要な点は、コリメータを使用した結果として、殆ど全ての散乱放射線を非常に効果的に減衰させて、フラットパネル検出器上の像が、本発明の組み合わせたスリット板構造の無い場合に撮られた像と比べて著しく改善されたコントラスト及び明瞭さを持つようになると云うことである。
本発明の実施形態を詳しく説明したので、次に一動作方法を要約して説明する。先ず、患者216をX線テーブル220上の適切な位置に配置する。次いで、モータをオンに切り換えることによってシステム210を始動する。始動センサが、プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ218及び224の内の少なくとも1つの動きを検出したときにX線源212をターンオンするようにX線テーブル制御装置を作動する。その後、停止センサが、プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ218及び224の内の少なくとも1つの動きによって作動される。そのとき、X線源212がX線管制御装置によって停止される。プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータの内の少なくとも1つは、一スロットの幅と一スロット分離部の幅との和に等しい最小距離、すなわち、例えば約2.5cmの合計距離、移動させなければならない。好ましくは、プリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ218及び224の内の少なくとも1つは、患者216の完全な且つ一様な走査を保証するために、この距離の2倍又は3倍(例えば、少なくとも5cm)移動させる。最小走査速度における5cmの走査は、例えば、腹部X線の場合の適切な最大露出時間である約1/2秒で達成されることが知られている。
像のコントラストの更なる改善は、コリメータの一方又は両方のスロットの深さを増大させ、スロット相互の間の分離を増大させ、スロットをより狭くし、又はより狭いスロットをより密な間隔にして数を多くすることによって、得ることができる。図示のようなコリメータの一方又は両方における細長のスロットの代わりに、四角、矩形、円形又は他の幾何学的形状の開口の内の1つ以上(例えば、複数)を使用して、システムの1つ又は複数の実施形態を生成することができる。すなわち、各スロットは事実上、1つ又は複数の四角、矩形、円形又は他の幾何学的形状に置き換えられ、また、近接している多数の開口は、システムが患者を走査するときフラットパネル検出器に対する放射線の露出が一様に生じるような態様でシフトされる。しかしながら、このようなシステムは、開口の間の整合が2次元で必要とされるので、製造の際に精度をより高くすることが要求される。
前に述べたように、少なくとも1つの実施形態は、一般的に云えば、診断用放射線走査を実行して、コントラストを高めた少くとも1つの対象物の像を形成するのに適した(前に説明した実施形態の1つ又は複数と同様な)診断用撮像X線デバイス、システム又は装置を構成することに関する。より具体的に述べると、1つ又は複数の実施形態は、シンチレータ、直接変換構成、又はこれらの2つのハイブリッドの内の少なくとも1つとして構成するのに適した(以前に提供されたものと同様な)フラットパネル検出器部分を持つX線デバイス、システム又は装置を対象とする。少なくとも1つの実施形態では、(例えば、プリペイシェント・コリメータの背後にあり、且つ図に陰影領域として示された)フラットパネル検出器の1つ又は複数の領域又は部分は、相互接続部のためのデッド・スペースとして又は散乱を測定するためのアクティブ・ピクセルとして用いることができる。更に、取外し可能なポストペイシェント・コリメータは、アクティブ・ピクセル・ラン相互の間の散乱を阻止するが、陰になったピクセルにおける散乱を許容して、散乱した像ビーム部分の測定を可能にするように最適化することができる。
少なくとも1つの実施形態では、X線デバイス、システム又は装置のフラットパネル部分は、標準的なシンチレーション、直接変換、並びにシンチレーション及び直接変換のハイブリッドの内の少なくとも1つのために構成可能である。このフラットパネル部分は、散乱を低減し且つコントラストを高めるのに適した検出器散乱防止用格子を含むことができる。構成用デバイス(例えば、FETスイッチ及び走査アーキテクチャ)は、スロット形プリペイシェント・コリメータによって露出されるデータ列についてのみ全てのデータ・ライン読出し電子装置を使用することを可能にし、選択されたチャンネルがプリペイシェント・コリメータにより陰になったチャンネルからの散乱を測定するための専用とされる。フラットパネル検出器(例えば、多重化読出し)は様々な形式で構成することができる。フラットパネルは全てのラインがアクティブである標準的なシンチレータとして構成し、標準的なフラットパネルとして読み出すことができる。この代わりに、フラットパネル検出器は、プリペイシェント・スロットの背後に複数列の単結晶直接変換物質を持つ多重化フラットパネルを使用して構成することができる。このような多重化フラットパネルは専用のスロット・スキャナ構成として構成することができるが、またフォトン計数・エネルギ弁別検出器として高kVで動作できるようにすることができる。この実施形態では、1つ又は複数の直接変換条片を所定の距離だけ分離させて、散乱を最小にすることができ(この場合、各条片は幾つかのピクセル列の幅を持っていてよい)、また幾つかの標準的なシンチレータと幾つかの直接変換列を持つ混合パネルとする。
デバイス、システム又は装置の少なくとも1つの実施形態は、修正することのできる発生源−像間距離(SID)を含むことができる。この実施形態では、発生源−プリペイシェント・コリメータ間距離/発生源−像間距離(SPC/SI)の比が一定に留まる限り、修正できる。少なくとも1つの実施形態では、SIDを変更又は修正するとき、SPC/SIを維持するために支持体(例えば、機械化支持体)を使用することができる。
少なくとも1つの実施形態は、スロット・システムとして構成されたデバイス、システム又は装置を含み、その場合、SIDは可変であるが、焦点、プリペイシェント格子、及び検出器の内の少なくとも1つは焦点合わせし且つ整列させた状態に保つ。この構成は、SIDを変更するときSPC/SIの比を一定に維持する支持体を使用して達成することができる。ビームを走査し且つコリメータのスロットを設計するために様々な構成が考えられる。少なくとも1つの実施形態では、スロットのビーム幅、間隔及び寸法の内の少なくとも1つを視野にわたって変えて、散乱の寄与を調整する(FOVにわたってIQ/照射線量をカスタマイズする)ことができる。1つ又は複数のスロットは(任意のパターンの)孔であってよく、また運動は2Dスロットにおいて行ってもよい。例えば、スロットは同心の複数の円とすることができ、走査機構により管−検出器間距離を変える(又は、管−検出器間距離を固定とするが、管−患者間距離を変える)。
一実施形態では、フラットパネル検出器部分は、図6に示されるように、少なくともライン650を持つ標準的なシンチレータ又は直接変換フラットパネル検出器600を有する。この実施形態では、全てのラインは650はアクティブである。少なくとも1つの実施形態では、1つ又は複数のライン652が直接放射線を検出するのに適しており、他のデータ・ライン654が(多分、回折又は散乱の撮像のために)散乱を測定するのに適している。
図7に示すフラットパネル検出器700の少なくとも1つの実施形態は、プリペイシェント・コリメータの周波数で分離された少なくとも2つのアクティブ条片752を有する。これらのアクティブ条片は検出器素子の1つ又は複数のアクティブ・ラインを含むことができる。アクティブ・ライン754相互の間のデッド・スペース764は接続及びパッケージ化のために使用することができる。この実施形態は、検出器列が単結晶の直接変換物質で構成される場合に特に有用なことがある。この構成では、一次検出器列相互の間の領域(すなわち、デッド・スペース754)が、散乱を測定するための1つ又は複数のアクティブ列を持つことができる。
一実施形態では、図8に示されているように、フラットパネル検出器800がハイブリッド構成である。この実施形態では、1つ又は複数の一次領域870において直接変換が構成され、それらの間の領域に1つ又は複数のシンチレータ列872が構成される。
図9、図10A及び図10Bは、特定の実施形態に従って診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置を構成し且つこのように構成されたシステムを使用して少なくとも1つの像を形成する方法を示す流れ図である。この方法の1つ又は複数の実施形態では、システムの走査及びフラットパネル検出器部分を構成する段階を含む。これらの実施形態の少なくとも1つでは、システムの走査部分を構成する段階が、高フレーム速度の撮像及び低照射線量の撮像の内の少なくとも1つのために走査部分を構成することを含む。前に述べたように、高フレーム平均化のために走査部分を構成する段階は、少なくとも取外し可能なプリペイシェント・スロット・コリメータを用いて、システムがスロット・スキャナとして用いられて、照射線量低減の利益を達成するようにすることを含む。低照射線量の撮像のために走査部分を構成する段階は、取外し可能なプリペイシェント・スロット・コリメータを用いないで、システムがFOVモードで用いられて、(蛍光透視、断層、シネなどの)高速の像収集を可能にするようにすることを含む。
これらの実施形態の少なくとも1つでは、フラットパネル検出器部分を構成する段階が、散乱の測定と、相互接続部及びパッケージ化の提供と、これらの散乱の測定及び相互接続部の提供のハイブリッドとの内の少なくとも1つを行うために、フラットパネル検出器部分を構成することを含む。前に述べたように、散乱を測定するようにフラットパネル検出器部分を構成する段階は、全てのデータ・ラインをアクティブにして、標準的なシンチレータ又は直接変換フラットパネルとしてフラットパネル検出器を構成することを含む。1つ又は複数のデータ・ラインは直接放射線を検出し、1つ又は複数の他のデータ・ラインは(例えば、回折又は散乱の撮像のために)散乱を測定するために使用される。相互接続部及びパッケージ化を提供するようにフラットパネル検出器部分を構成する段階は、プリペイシェント・コリメータの周波数で分離された少なくとも2つのアクティブ・データ・ラインを持つフラットパネル検出器を構成することを含む。アクティブ・データ・ライン相互の間のデッド・スペースは相互接続部及びパッケージ化のために使用することができる。この構成は、単結晶の直接変換物質で構成された検出器列を含むことができる。更に、この構成では、一次検出器列相互の間の領域は、散乱を測定するための1つ又は複数のアクティブ列を持つことができる。フラットパネル検出器部分をハイブリッド構成として構成する段階は、一次領域内で直接変換を行い且つこのような一次領域相互の間の1つ又は複数の領域内にシンチレータ列を持つフラットパネルを構成することを含む。
図9は、特定の実施形態に従って診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置を構成し且つこのように構成されたシステムを使用して少なくとも1つの像を形成する方法を示す詳細な高レベルの流れ図である。図9に示された方法900は、走査を実行することを決定する段階を含む(ブロック910)。走査を実行することを決定した後、方法900はシステムの走査及びフラットパネル検出器部分をそれぞれ構成する段階を含む(ブロック920及び930)。少なくとも1つの実施形態では、装置の走査部分を構成する段階(ブロック920)は、高フレーム速度の撮像及び低照射線量の撮像の内の少なくとも1つを行うために走査部分を構成することを含む。前に述べたように、高フレーム平均化のために走査部分を構成する段階は、少なくとも取外し可能なプリペイシェント・スロット・コリメータを用いて、システムがスロット・スキャナとして用いられて、照射線量低減の利益を達成するようにすることを含む。低照射線量の撮像のために走査部分を構成する段階は、取外し可能なプリペイシェント・スロット・コリメータを用いないで、システムがFOVモードで用いられて、(蛍光透視、断層、シネなどの)高速の像収集を可能にするようにすることを含む。
少なくとも1つの実施形態では、フラットパネル検出器部分を構成する段階(ブロック930)は、標準的なシンチレーション、直接変換、並びにシンチレーション及び直接変換のハイブリッドの内の少なくとも1つのためにフラットパネル検出器部分を構成することを含む。前に述べたように、標準的なシンチレータとしてフラットパネル検出器部分を構成する段階が、全てのデータ・ラインをアクティブにして、フラットパネル検出器を構成することを含む。1つ又は複数のデータ・ラインは直接放射線を検出することができ、また1つ又は複数の他のデータ・ラインは(例えば、回折又は散乱の撮像のために)散乱を測定するために使用することができる。
相互接続部及びパッケージ化を提供するようにフラットパネル検出器部分を構成する段階が、プリペイシェント・コリメータの周波数で分離された少なくとも2つのアクティブ・データ・ラインを持つフラットパネル検出器を構成することを含む。アクティブ・データ・ライン相互の間のデッド・スペースは相互接続部及びパッケージ化のために使用することができる。この構成は、(例えば、単結晶の直接変換物質で構成された)1つ又は複数の検出器列を含むことができる。更に、この構成では、一次検出器列相互の間の1つ又は複数の領域は、散乱を測定するための数個のアクティブ列を持つことができる。フラットパネル検出器部分をハイブリッド構成として構成する段階は、1つ又は複数の一次領域内に直接変換を持ち且つこのような一次領域相互の間の1つ又は複数の領域内にシンチレータ列を持つフラットパネルを構成することを含む。
図10A及び図10Bは、特定の実施形態に従って診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置を構成し且つこのように構成されたシステムを使用して少なくとも1つの像を形成する方法を示す詳細な流れ図である。図10A及び図10Bに示された方法1000は、走査を実行することを決定する段階を含む(ブロック1010)。少なくとも1つの実施形態では、方法1000は、低照射線量の走査が要求されているか判定する段階を含む(判定ブロック1012)。低照射線量の走査が要求されている場合、システムがFOVモードで用いられて、(蛍光透視、断層、シネなどの)高速の像収集を可能にするように、取外し可能なプリペイシェント・スロット・コリメータがシステムで使用され又は用いられる(ブロック1018)。低照射線量の走査が要求されていない場合、方法1000は、高フレーム速度の撮像が要求されているか判定する段階を含む(判定ブロック1014)。高フレーム速度の撮像が要求されている場合、取外し可能なプリペイシェント・スロット・コリメータが使用されない、又は用いられない、或いはシステムから取り外される(ブロック1016)。前に述べたように、高フレーム平均化のために走査部分を構成する段階は、照射線量低減の利益を与える。
方法1000の少なくとも1つの実施形態は、散乱の付加的な低減が要求されているか判定する段階を含む(判定ブロック1021)。散乱の付加的な低減が要求されている場合、少なくとも1つのポストペイシェント・コリメータをシステムで使用することができる(ブロック1022)。散乱の付加的な低減が要求されていない場合、方法1000は、直接放射線を検出し且つ散乱を測定することが要求されているか判定する段階を含む(判定ブロック1024)。直接放射線を検出し且つ散乱を測定することが要求されている場合、少なくとも1つの実施形態のフラットパネルは、全てのデータ・ラインをアクティブにした標準的なシンチレータ又は直接変換検出器として動作させることができる(ブロック1026)。従って、一部分のデータ・ラインが直接放射線を検出し、他のデータ・ラインは(例えば、回折又は散乱の撮像のために)散乱を検出するために使用することができる。
フラットパネル検出器を直接変換として(ブロック1026)、プリペイシェント・コリメータの周波数で分離されたアクティブ・ラインを持つものとして(ブロック1031)又はハイブリッドとして(ブロック1032)構成することは、システムの設計の際に行うことができることを理解されたい。しかしながら、このような構成を動作中に選択可能とすることができる実施形態も考えられる。
少なくとも1つの実施形態では、方法1000は、相互接続部及びパッケージ化のためのスペースがフラットパネル検出器に要求されているか判定する段階を含む(判定ブロック1028)。このようなスペースが要求されている場合、フラットパネル検出器は、プリペイシェント・コリメータの周波数で分離された2つ以上のアクティブ・データ・ラインを持つように構成される(ブロック1031)。しかしながら、このようなスペースが要求されていない場合、フラットパネル検出器は、一次領域に直接変換を持ち且つそれらの間の領域にシンチレータ列を持つハイブリッドとして構成することができる(ブロック1032)。方法1000は更に、上記のように構成されたシステムを使用して走査を実行して、少なくとも1つの像を形成する段階を含む。
本発明を様々な特定の実施形態について説明したが、当業者には、本発明の範囲から逸脱することなく、様々な変更を為すことができ、且つ等価物と置換することができることが理解されよう。その上、本発明の範囲から逸脱することなく、特定の状況又は材料を本発明の実施形態の教示に適合させるように多数の修正をなすことができる。従って、本発明は開示した特定の実施形態に制限されず、本発明は特許請求の範囲内に入る全ての実施形態を含むものとする。また、図面の符号に対応する特許請求の範囲中の符号は、単に本願発明の理解をより容易にするために用いられているものであり、本願発明の範囲を狭める意図で用いられたものではない。そして、本願の特許請求の範囲に記載した事項は、明細書に組み込まれ、明細書の記載事項の一部となる。
本発明の特定の実施形態に従った診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の概要図である。 本発明の特定の実施形態に従ったプリペイシェント・コリメータ及びフラットパネル検出器の平面図を含む(図1と同様な)診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の概要図である。 本発明の特定の実施形態に従ったポストペイシェント・コリメータを含む(図1と同様な)診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の概要図である。 本発明の特定の実施形態に従ったポストペイシェント・コリメータ及びフラットパネル検出器の平面図を含む(図3と同様な)診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の概要図である。 本発明の特定の実施形態に従ったプリペイシェント及びポストペイシェント・コリメータ並びにフラットパネル検出器の側面図を含む(図3と同様な)診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置の概要図である。 本発明の特定の実施形態に従った全てのラインをアクティブにしたシンチレータ又は直接変換フラットパネル検出器の略図である。 本発明の特定の実施形態に従ったプリペイシェント・コリメータの周波数で分離されたアクティブ・ラインを持つフラットパネル検出器の略図である。 本発明の特定の実施形態に従った1つ又は複数の領域における直接変換及び1つ又は複数の領域におけるシンチレータ列を持つハイブリッド・フラットパネル検出器の略図である。 本発明の特定の実施形態に従って診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置を構成し且つこのように構成されたシステムを使用して少なくとも1つの像を形成する方法を示す詳細な高レベルの流れ図である。 本発明の特定の実施形態に従って診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置を構成し且つこのように構成されたシステムを使用して少なくとも1つの像を形成する方法を示す詳細な流れ図の一部分である。 本発明の特定の実施形態に従って診断用放射線(X線)デバイス、システム又は装置を構成し且つこのように構成されたシステムを使用して少なくとも1つの像を形成する方法を示す詳細な流れ図の他の部分である。
符号の説明
10、210 X線システム
12、212 X線源
14、214 X線ビーム
16、216 患者
18、218 プリペイシェント・コリメータ
20、220 テーブル
22、222 フラットパネル検出器
26、226 処理装置
28、228 ビデオ処理装置
30、230 表示装置
40、240 スロット
42、242 ビーム・セグメント(ビーム部分)
215、219 X線コリメータ
224 ポストペイシェント・コリメータ
241 散乱したビーム部分
243 一次放射線
244 スロット
600 フラットパネル検出器
650、652 ライン
752 アクティブ条片
754 アクティブ・ライン
870 一次領域
872 シンチレータ列

Claims (2)

  1. X線デバイス(10,210)を使用して対象物(16,216)の像を形成する方法(900,1000)であって、
    複数のビームセグメント(42,242)の少なくとも1つを使用して対象物(16,216)を走査するスキャナ・モードと全視野(FOV)モードを選択する段階と、
    通常のX線源(12,212)を使用してX線ビーム(14,214)を発生する段階と、
    前記選択する段階でスキャナモードを選択した場合に、前記X線ビーム(14,214)から前記複数のビーム・セグメント(42,242)を生成する段階と、
    前記選択する段階でスキャナモードを選択した場合に、焦点からのX線を、スロットの内の少なくとも一つを通し形成されたビームセグメント(42,242)が、前記対象物(16,216)を走査するようにフラットパネル検出器(22,222)に対し相対的に移動するポストペイシェント・コリメータ(224)を使用する段階と、
    前記フラットパネル検出器(22,222)上にX線像を生成する段階と、
    を含んでいる方法(900,1000)。
  2. 取外し可能なプリペイシェント・コリメータ(18,218)を使用して前記複数のビームセグメント(42,242)を形成する段階を含んでいる、請求項1記載の方法(900,1000)。
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