JP5120233B2 - 撮像モジュールの検査装置及び撮像モジュールの検査方法及び電子機器モジュールの製造方法 - Google Patents
撮像モジュールの検査装置及び撮像モジュールの検査方法及び電子機器モジュールの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5120233B2 JP5120233B2 JP2008305233A JP2008305233A JP5120233B2 JP 5120233 B2 JP5120233 B2 JP 5120233B2 JP 2008305233 A JP2008305233 A JP 2008305233A JP 2008305233 A JP2008305233 A JP 2008305233A JP 5120233 B2 JP5120233 B2 JP 5120233B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- imaging module
- housing
- image
- respect
- module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Description
筐体に実装された撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する撮像モジュールの検査装置において、
前記撮像モジュールと対向配置された鏡部材と、
前記筐体を照明する照明装置と、
前記撮像モジュールに接続されており、前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する実装ずれ検出手段とを有する撮像モジュールの検査装置により解決することができる。
筐体に実装された撮像モジュールと対向配置された鏡部材と、
前記撮像モジュールに接続されており、前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する実装ずれ検出手段とを有し、
前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する検査装置を用いた撮像モジュールの検査方法であって、
前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像を二値化処理し二値化画像を生成するステップと、
前記二値化画像に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを求める基準となる基準軸を求めるステップと、
前記基準軸と画像の座標軸に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを求めるステップとを有する撮像モジュールの検査方法により解決することができる。
筐体に撮像モジュールが実装された電子機器モジュールを製造する際、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する実装ずれ検出工程を含む電子機器モジュールの製造方法において、
前記実装ずれ検出工程は、
筐体に実装された撮像モジュールと対向配置された鏡部材と、前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像に基づき前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する実装ずれ検出手段とを有し、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する検査装置を用いると共に、
前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像を二値化処理し二値化画像を生成するステップと、
前記二値化画像に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを求める基準となる基準軸を求めるステップと、
前記基準軸と画像の座標軸に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを求めるステップとを有する電子機器モジュールの製造方法により解決することができる。
2 筐体
3 撮像モジュール
5 X座標軸
6 Y座標軸
20A〜20C 検査装置
21,35 支持台
22 透明固定治具
23 反射防止板
24,38 ガラス板
25 ハーフミラー
26 ライトボックス
27 撮像制御装置
28 パーソナルコンピュータ
30 慣性主軸
31 撮影画像
32 撮像視野
33 二値化画像
36 面照明
37 拡散板
39 ミラー
40 陰影画像
42 凹面ハーフミラー
θ:実装ずれ角度
Claims (9)
- 筐体に実装された撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する撮像モジュールの検査装置において、
前記撮像モジュールと対向配置された鏡部材と、
前記撮像モジュールに接続されており、前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する実装ずれ検出手段と
を有する撮像モジュールの検査装置。 - 実装ずれ検出手段は、
前記撮影画像に表示された前記筐体の慣性主軸を求め、前記撮影画像の座標軸に対する前記慣性主軸の傾きに基づき前記実装ずれを検出する請求項1記載の撮像モジュールの検査装置。 - 前記鏡部材をハーフミラーとし、
前記筐体を照明する前記照明装置を該ハーフミラーの前記筐体と対向する面とは反対側の面と対向するよう配置し、
前記照明装置の発生する照明光が、該ハーフミラーを透過して前記筐体に照射される請求項1または2に記載の撮像モジュールの検査装置。 - 前記鏡部材は凹面鏡である請求項1乃至3のいずれか一項に記載の撮像モジュールの検査装置。
- 前記鏡部材を全反射ミラーとし、
前記筐体を照明する前記照明装置を該筐体の前記全反射ミラーと対向する側とは反対側に配置し、
前記照明装置の発生する照明光が前記筐体の前記撮像モジュールの実装面と反対側面に照射され、前記撮像モジュールは前記全反射ミラーに写った前記筐体の影を撮影する請求項1に記載の撮像モジュールの検査装置。 - 筐体に実装された撮像モジュールと対向配置された鏡部材と、
前記撮像モジュールに接続されており、前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する実装ずれ検出手段とを有し、
前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する検査装置を用いた撮像モジュールの検査方法であって、
前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像を二値化処理し二値化画像を生成するステップと、
前記二値化画像に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを求める基準となる基準軸を求めるステップと、
前記基準軸と画像の座標軸に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを求めるステップとを有する撮像モジュールの検査方法。 - 前記基準軸を求めるステップでは、前記基準軸として慣性主軸を求める請求項6記載の撮像モジュールの検査方法。
- 筐体に撮像モジュールが実装された電子機器モジュールを製造する際、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する実装ずれ検出工程を含む電子機器モジュールの製造方法において、
前記実装ずれ検出工程は、
筐体に実装された撮像モジュールと対向配置された鏡部材と、前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像に基づき前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する実装ずれ検出手段とを有し、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを検出する検査装置を用いると共に、
前記画像モジュールにより撮影された前記鏡部材に映った前記筐体の撮影画像を二値化処理し二値化画像を生成するステップと、
前記二値化画像に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを求める基準となる基準軸を求めるステップと、
前記基準軸と画像の座標軸に基づき、前記撮像モジュールの前記筐体に対する実装ずれを求めるステップとを有する電子機器モジュールの製造方法。 - 前記基準軸を求めるステップでは、前記基準軸として慣性主軸を求める請求項8記載の電子機器モジュールの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008305233A JP5120233B2 (ja) | 2008-11-28 | 2008-11-28 | 撮像モジュールの検査装置及び撮像モジュールの検査方法及び電子機器モジュールの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008305233A JP5120233B2 (ja) | 2008-11-28 | 2008-11-28 | 撮像モジュールの検査装置及び撮像モジュールの検査方法及び電子機器モジュールの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010130545A JP2010130545A (ja) | 2010-06-10 |
JP5120233B2 true JP5120233B2 (ja) | 2013-01-16 |
Family
ID=42330562
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008305233A Expired - Fee Related JP5120233B2 (ja) | 2008-11-28 | 2008-11-28 | 撮像モジュールの検査装置及び撮像モジュールの検査方法及び電子機器モジュールの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5120233B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6417396B2 (ja) * | 2013-04-22 | 2018-11-07 | サノフィ−アベンティス・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 注射ペンのためのカメラモジュールを含む補助デバイスの組立て方法および前記補助デバイス |
MX2020000475A (es) * | 2017-07-14 | 2020-08-17 | A La Carte Media Inc | Quioscos computarizados de bajo costo para recoleccion remota de dispositivos electronicos de valor. |
CN113494884B (zh) * | 2020-04-08 | 2022-12-27 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | 电子设备镜片检测装置及方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03182175A (ja) * | 1989-12-11 | 1991-08-08 | Sharp Corp | ビデオカメラ |
JPH04253481A (ja) * | 1991-01-30 | 1992-09-09 | Matsushita Electron Corp | 固体撮像装置 |
JP3385056B2 (ja) * | 1993-03-18 | 2003-03-10 | 株式会社キーエンス | 慣性主軸角演算装置、画像パターン用傾斜修正装置及び画像処理装置 |
JPH08261955A (ja) * | 1995-03-23 | 1996-10-11 | Technical Syst:Kk | 画像認識用撮像カメラおよびこれを用いた検査装置 |
JP3050388U (ja) * | 1997-03-17 | 1998-07-14 | 信 木田 | 画像素子利用カメラの斜め画像修正装置 |
-
2008
- 2008-11-28 JP JP2008305233A patent/JP5120233B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010130545A (ja) | 2010-06-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108291854B (zh) | 光学检查装置、透镜以及光学检查方法 | |
TWI388798B (zh) | 表面檢查裝置及表面檢查方法 | |
TWI663381B (zh) | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 | |
TWI408361B (zh) | 外觀檢查裝置 | |
TWI475218B (zh) | Observation device and observation method | |
JPWO2007141857A1 (ja) | 外観検査装置 | |
JPWO2009025016A1 (ja) | 部品実装装置及び方法 | |
JP2006319544A (ja) | 撮像素子の傾き測定装置及びその測定方法 | |
JP5120233B2 (ja) | 撮像モジュールの検査装置及び撮像モジュールの検査方法及び電子機器モジュールの製造方法 | |
TWI673502B (zh) | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 | |
JP5272784B2 (ja) | 光学的検査方法および光学的検査装置 | |
JP2012122753A (ja) | レンズシートの欠陥検査装置、欠陥検査方法及び製造装置 | |
JP2014131121A (ja) | 肌撮影システム | |
KR100370608B1 (ko) | 화상 포착 장치 | |
CN106461382B (zh) | 五轴光学检测*** | |
JP2021086121A (ja) | 撮像装置及び表面検査装置 | |
CN109655005B (zh) | 膜厚测量装置、基板检查装置、膜厚测量方法以及基板检查方法 | |
JP5778551B2 (ja) | 撮像素子の異物検出方法及びその装置 | |
CN219810497U (zh) | 一种烟支外观指标检测装置 | |
KR20190125684A (ko) | 카메라 모듈 검사장치 | |
JP2008241662A (ja) | 画像ブレ防止装置 | |
KR102303187B1 (ko) | 카메라 모듈의 이동렌즈별 변위오차 검사장치 및 이의 운용방법 | |
JP2009036696A (ja) | 画像検査装置 | |
CN111915563A (zh) | 一种外观检查方法、***、设备及存储介质 | |
JP2005114683A (ja) | レンズ位置ずれ検出方法及びレンズ位置ずれ検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110808 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120919 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120925 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121008 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151102 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |