JP5093164B2 - サンプリング機構 - Google Patents
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Description
吸引・吐出機構3を駆動することによって先端部から液体試料の吸引・吐出を行なうためのプローブ2を備えている。プローブ2はプローブ駆動機構4によって上下方向と平面内方向へ移動することができる。また、プローブ2には例えば静電容量センサからなる液面センサ6が接続されており、プローブ2先端部の液面への接触を検知することができる。
プローブ2は水平方向に配置された支持部材22の先端部に取り付けられている。支持部材22の他端は支持軸20によって鉛直下向きに支持されている。支持軸20はプローブ駆動機構4を構成する上下動駆動部4aと回転駆動部4bによって上下方向と回転方向に駆動される。支持軸20が上下方向に駆動されることによりプローブ2が上下方向に移動し、支持軸20が回転方向に駆動されることによりプローブ2が支持軸20を中心とする円弧上を移動する。支持部材22内に、プローブ2の静電容量変化に基づいて液面との接触を検知する液面センサを構成する静電容量センサ基板6が設けられている。
他方、液面センサ6が膜1bや気泡1cを液面として検知した場合(図5(A)や図6(A)の場合)には、液面検知後の下降時にプローブ2の先端が液面からΔVの深さまで到達することができず(図5(B)参照。)、吸引不良が発生する(図5(C)参照。)。この場合、試料吸引後の液面の高さは試料吸引前に比べてΔVだけ低下しないが、試料吸引前に計測した液面高さV1と比較すればΔV+α以上低くなる。
1a 試料
1b 膜
1c 気泡
2 プローブ
3 吸引・吐出機構
4 プローブ駆動機構
5 制御部
6 液面センサ
7 サンプリング動作制御手段
8 液面変化量予測手段
10 液面変化量計測手段
12 判定手段
16 入力部
18 記憶部
Claims (2)
- 試料容器内に収容された試料を先端から吸引するためのプローブと、
前記プローブに接続され、前記プローブ先端からの試料の吸引動作と吐出動作を行なう吸引・吐出機構と、
前記試料容器上の位置で前記プローブを上下動させるとともに、前記プローブを試料容器上の位置と所定の分注位置との間で平面内方向に移動させるためのプローブ駆動機構と、
前記プローブ先端が液面に接触したことを検知する液面センサと、
前記液面センサの検出信号を入力し、前記吸引・吐出機構及びプローブ駆動機構を制御する制御部と、を備え、
この制御部は、
前記試料容器の断面積及び予め設定された吸引量に基づいて、サンプリングにおける前記プローブによる試料の吸引の前後の前記試料容器内の試料の液面高さの変化量を予測する液面変化量予測手段と、
前記液面変化量予測手段による液面変化量の予測値に基づいて、試料の液面から前記吸引量に必要な深さまで前記プローブを下降させて試料を吸引した後、所定の分注位置まで前記プローブを移動させて試料の分注を行なうサンプリング動作制御手段と、
サンプリングにおけるプローブによる試料の吸引の前後の前記試料容器内の試料の液面高さの変化量を液面センサにより計測する液面変化量計測手段と、
前記液面変化量予測手段による予測値と前記液面変化量計測手段による計測値との差を予め設定されたしきい値と比較し、前記予測値と計測値との差がしきい値を超えない場合にのみ正常と判定する判定手段と、を備え、
前記液面変化量計測手段は、前記予測値と計測値との差がしきい値を超える場合に前記試料容器内の平面内の前回計測時と異なる位置で液面高さを計測し、その液面高さに基づいて求められる試料吸引前後の液面変化量を新たな計測値とするように構成されており、
前記判定手段は、前記予測値と前記新たな計測値との差がしきい値を超えない場合には正常と判定し、前記しきい値を超える場合には異常と判定するように構成されているサンプリング機構。 - 前記液面センサは前記プローブの静電容量変化に基づいて液面への接触を検知するものである請求項1に記載のサンプリング機構。
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