JP5087533B2 - ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体 - Google Patents

ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体 Download PDF

Info

Publication number
JP5087533B2
JP5087533B2 JP2008330822A JP2008330822A JP5087533B2 JP 5087533 B2 JP5087533 B2 JP 5087533B2 JP 2008330822 A JP2008330822 A JP 2008330822A JP 2008330822 A JP2008330822 A JP 2008330822A JP 5087533 B2 JP5087533 B2 JP 5087533B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
input signal
measurement
reflected
system error
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008330822A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009103707A (ja
Inventor
喜和 中山
将人 春田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP2008330822A priority Critical patent/JP5087533B2/ja
Publication of JP2009103707A publication Critical patent/JP2009103707A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5087533B2 publication Critical patent/JP5087533B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/28Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Description

本発明は、被測定物の回路パラメータを演算計測するネットワークアナライザに関する。
従来より、被測定物(DUT:Device
Under Test)の回路パラメータ(例えば、Sパラメータ)を測定することが行われている。従来技術にかかる被測定物(DUT)の回路パラメータの測定法を図20を参照して説明する。
信号源110から周波数f1の信号をDUT200を介して受信部120に送信する。この信号は受信部120により受信される。受信部120により受信された信号の周波数をf2とする。受信部120により受信された信号を測定することによりDUT200のSパラメータや周波数特性を取得することができる。
このとき、信号源110等の測定系とDUT200との不整合などにより測定に測定系誤差が生ずる。この測定系誤差は、例えばEd:ブリッジの方向性に起因する誤差、Er:周波数トラッキングに起因する誤差、Es:ソースマッチングに起因する誤差、である。周波数f1=f2の場合の信号源110に関するシグナルフローグラフを図21に示す。RF INは、信号源110からDUT200等に入力する信号、S11mはDUT200等から反射されてきた信号から求められたDUT200等のSパラメータ、S11aは測定系誤差の無い真のDUT200等のSパラメータである。
周波数f1=f2の場合は、例えば特開平11−38054号に記載のようにして誤差を補正することができる。このような補正をキャリブレーションという。キャリブレーションについて概説する。信号源110に校正キットを接続し、オープン(開放)、ショート(短絡)、ロード(標準負荷Z0)の三種類の状態を実現する。このときの校正キットから反射された信号をブリッジにより取得して三種類の状態に対応した三種類のSパラメータ(S11m)を求める。三種類のSパラメータから三種類の変数Ed、Er、Esを求める。
しかしながら、周波数f1が周波数f2と等しくない場合がある。例えば、DUT200がミキサ等の周波数変換機能を有するデバイスである場合である。このような場合は、上記のようなキャリブレーションでは誤差を補正できない。周波数f1が周波数f2と等しくない場合の信号源110に関するシグナルフローグラフを図22に示す。Ed、Esは周波数f1が周波数f2と等しい場合と同様であるが、ErはEr1およびEr2に分かれてしまう。上記のようなキャリブレーションでは三種類のSパラメータ(S11m)しか求めないため、Ed、Es、Er1・Er2しか求めることができない。よって、Er1およびEr2を求めることができない。
さらに、周波数f1が周波数f2と等しくない場合は、受信部120による測定系誤差も無視できない。信号源110と受信部120とを直結した場合のシグナルフローグラフを図23に示す。S21mは、受信部120が受信した信号から求められたDUT200等のSパラメータである。図23に示すように、Et、ELという受信部120による測定系誤差が生ずる。これについても、上記のようなキャリブレーションでは求めることができない。
よって、周波数f1が周波数f2と等しくない場合は、測定系誤差を求めることができず、誤差を含んだおよその値を測定することになる。
そこで、本発明は、被測定物の入力信号の周波数と出力信号の周波数とが異なる場合であっても測定系の誤差を補正することができるようにすることを課題とする。
本発明にかかるネットワークアナライザは、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、入力信号測定手段、反射信号測定手段および信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段とを備えるように構成される。
信号出力取得手段は、入力信号に関する所定のパラメータを測定系誤差要因の生じた後に取得する。これにより、周波数トラッキングに起因する誤差などを向きに応じて分離することができる。
被測定物の入力信号の周波数と出力信号の周波数とが異なる場合は、周波数トラッキングに起因する誤差などが向きによって異なる。よって、向きに応じて測定系誤差要因を分離することにより、測定系の誤差の補正が可能となる。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、反射信号測定手段は、ネットワークアナライザに接続された校正用具から入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、校正用具は、開放、短絡および標準負荷の三種類の状態を実現するものであるように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、入力信号が出力された後に入力信号を受信信号として受信する受信手段を備え、受信手段は、受信信号に関する所定のパラメータを測定する受信信号測定手段を有し、測定系誤差要因取得手段は、入力信号測定手段、反射信号測定手段、信号出力取得手段および受信信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得するように構成されるようにしてもよい。
受信信号測定手段が、受信信号に関する所定のパラメータ(例えばSパラメータ)を測定するため、受信手段における測定系誤差要因を取得できる。
被測定物の入力信号の周波数と出力信号の周波数とが異なる場合は、受信手段における測定系誤差要因を無視できない。よって、受信手段における測定系誤差要因を取得することにより、測定系の誤差の補正が可能となる。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、受信手段は、入力信号が出力された後に被測定物を介して入力信号を受信信号として受信し、入力信号測定手段、反射信号測定手段ならびに受信信号測定手段の被測定物に関する測定結果および測定系誤差要因に基づき被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定手段を備えたように構成されるようにしてもよい。
向きに応じて測定系誤差要因を分離し、しかも受信手段における測定系誤差要因を取得したので、入力信号測定手段、反射信号測定手段および受信信号測定手段の被測定物に関する測定結果と組み合わせれば、被測定物に関する所定のパラメータ(例えばSパラメータ)を誤差を補正しながら測定できる。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、受信手段は、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する受信側入力信号測定手段と、入力信号が受信手段から出力されて反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定する受信側反射信号測定手段と、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する受信側信号出力取得手段と、受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段および受信側信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する受信側測定系誤差要因取得手段とを備えるように構成されるようにしてもよい。
受信側信号出力取得手段は、入力信号に関する所定のパラメータ(例えばSパラメータ)を測定系誤差要因の生じた後に取得する。これにより、受信側において周波数トラッキングに起因する誤差などを向きに応じて分離することができる。
被測定物の入力信号の周波数と出力信号の周波数とが異なる場合は、受信側においても周波数トラッキングに起因する誤差などが向きによって異なる。よって、向きに応じて受信側においても測定系誤差要因を分離することにより、測定系の誤差の補正が可能となる。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、受信側反射信号測定手段は受信信号測定手段であるように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、受信側反射信号測定手段は、ネットワークアナライザに接続された校正用具から入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、校正用具は、開放、短絡および標準負荷の三種類の状態を実現するものであるように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、反射信号測定手段は入力信号が受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータを測定し、受信側測定系誤差要因取得手段は、受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段、受信側信号出力取得手段および反射信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得するように構成されるようにしてもよい。
反射信号測定手段が、入力信号が受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータ(例えばSパラメータ)を測定するため、信号出力手段側において信号を受信した場合の測定系誤差要因を取得できる。
被測定物の入力信号の周波数と出力信号の周波数とが異なる場合は、信号出力手段側において信号を受信した場合の測定系誤差要因を無視できない。よって、信号出力手段側において信号を受信した場合の測定系誤差要因を取得することにより、測定系の誤差の補正が可能となる。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、入力信号が直接に被測定物に与えられる時に、反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、受信手段は、入力信号が出力された後に被測定物を介して入力信号を受信信号として受信し、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時に、受信側反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定し、反射信号測定手段は、入力信号が受信手段から出力された後に被測定物を介して入力信号を受信して所定のパラメータを測定し、入力信号が直接に被測定物に与えられる時の入力信号測定手段、反射信号測定手段ならびに受信信号測定手段の被測定物に関する測定結果と、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時の受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段ならびに反射信号測定手段の被測定物に関する測定結果と、測定系誤差要因とに基づき被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定手段を備えるように構成されるようにしてもよい。
入力信号が信号出力手段から直接に被測定物に与えられる時は、向きに応じて測定系誤差要因を分離し、しかも受信手段における測定系誤差要因を取得する。さらに、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時は、受信側においても測定系誤差要因を分離し、しかも信号出力手段側において信号を受信した場合の測定系誤差要因を取得する。よって、被測定物に関する測定結果と組み合わせれば、被測定物に関する所定のパラメータ(例えばSパラメータ)を誤差を補正しながら測定できる。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、入力信号を直接に被測定物に与えるか、あるいは受信手段を介して被測定物に与えるかを選択する選択手段を備えるように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、被測定物の入力周波数と出力周波数とが異なるように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、被測定物がミキサであるように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワークアナライザは、所定のパラメータはSパラメータあるいはパワーであるように構成されるようにしてもよい。
本発明にかかるネットワーク解析方法は、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定工程と、入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定工程と、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得工程と、入力信号測定工程、反射信号測定工程および信号出力取得工程の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得工程とを備えるように構成される。
なお、本発明にかかるネットワーク解析方法は、入力信号が出力された後に入力信号を受信信号として受信する受信手段を有するネットワークアナライザによってネットワーク解析を行うネットワーク解析方法であって、受信手段において受信信号に関する所定のパラメータを測定する受信信号測定工程を有し、測定系誤差要因取得工程は、入力信号測定工程、反射信号測定工程、信号出力取得工程および受信信号測定工程の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得するように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワーク解析方法は、反射信号測定工程は、入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、受信手段は、入力信号が出力された後に被測定物を介して入力信号を受信信号として受信し、入力信号測定工程、反射信号測定工程ならびに受信信号測定工程の被測定物に関する測定結果および測定系誤差要因に基づき被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定工程を備えるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワーク解析方法は、受信手段において、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する受信側入力信号測定工程と、入力信号が受信手段から出力されて反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定する受信側反射信号測定工程と、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する受信側信号出力取得工程と、受信側入力信号測定工程、受信側反射信号測定工程および受信側信号出力取得工程の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する受信側測定系誤差要因取得工程とを備えるように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワーク解析方法は、反射信号測定工程は入力信号が受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータを測定し、受信側測定系誤差要因取得工程は、受信側入力信号測定工程、受信側反射信号測定工程、受信側信号出力取得工程および反射信号測定工程の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得するように構成されるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるネットワーク解析方法は、入力信号が直接に被測定物に与えられる時に、反射信号測定工程は、入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、受信手段は、入力信号が出力された後に被測定物を介して入力信号を受信信号として受信し、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時に、受信側反射信号測定工程は、入力信号が被測定物から反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定し、反射信号測定工程は、入力信号が受信工程から出力された後に被測定物を介して入力信号を受信して所定のパラメータを測定し、入力信号が直接に被測定物に与えられる時の入力信号測定工程、反射信号測定工程ならびに受信信号測定工程の被測定物に関する測定結果と、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時の受信側入力信号測定工程、受信側反射信号測定工程ならびに反射信号測定工程の被測定物に関する測定結果と、測定系誤差要因とに基づき被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定工程を備えるように構成されるようにしてもよい。
本発明は、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段とを有するネットワークアナライザにおけるネットワーク解析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、入力信号測定手段、反射信号測定手段および信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラムである。
なお、本発明にかかるプログラムは、ネットワークアナライザは、入力信号が出力された後に入力信号を受信信号として受信する受信手段を備え、受信手段は、受信信号に関する所定のパラメータを測定する受信信号測定手段を有し、測定系誤差要因取得処理は、入力信号測定手段、反射信号測定手段、信号出力取得手段および受信信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得するプログラムであるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるプログラムは、反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、受信手段は、入力信号が出力された後に被測定物を介して入力信号を受信信号として受信し、入力信号測定手段、反射信号測定手段ならびに受信信号測定手段の被測定物に関する測定結果および測定系誤差要因に基づき被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるプログラムは、受信手段は、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する受信側入力信号測定手段と、入力信号が受信手段から出力されて反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定する受信側反射信号測定手段と、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する受信側信号出力取得手段とを有し、受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段および受信側信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する受信側測定系誤差要因取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるプログラムは、反射信号測定手段は入力信号が受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータを測定し、受信側測定系誤差要因取得処理は、受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段、受信側信号出力取得手段および反射信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得するプログラムであるようにしてもよい。
なお、本発明にかかるプログラムは、入力信号が直接に被測定物に与えられる時に、反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、受信手段は、入力信号が出力された後に被測定物を介して入力信号を受信信号として受信し、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時に、受信側反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定し、反射信号測定手段は、入力信号が受信手段から出力された後に被測定物を介して入力信号を受信して所定のパラメータを測定し、入力信号が直接に被測定物に与えられる時の入力信号測定手段、反射信号測定手段ならびに受信信号測定手段の被測定物に関する測定結果と、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時の受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段ならびに反射信号測定手段の被測定物に関する測定結果と、測定系誤差要因とに基づき被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであるようにしてもよい。
本発明は、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段とを有するネットワークアナライザにおけるネットワーク解析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、入力信号測定手段、反射信号測定手段および信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
なお、本発明にかかる記録媒体は、ネットワークアナライザは、入力信号が出力された後に入力信号を受信信号として受信する受信手段を備え、受信手段は、受信信号に関する所定のパラメータを測定する受信信号測定手段を有し、測定系誤差要因取得処理は、入力信号測定手段、反射信号測定手段、信号出力取得手段および受信信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得するプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる記録媒体は、反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、受信手段は、入力信号が出力された後に被測定物を介して入力信号を受信信号として受信し、入力信号測定手段、反射信号測定手段ならびに受信信号測定手段の被測定物に関する測定結果および測定系誤差要因に基づき被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる記録媒体は、受信手段は、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する受信側入力信号測定手段と、入力信号が受信手段から出力されて反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定する受信側反射信号測定手段と、入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する受信側信号出力取得手段とを有し、受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段および受信側信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する受信側測定系誤差要因取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる記録媒体は、反射信号測定手段は入力信号が受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータを測定し、受信側測定系誤差要因取得処理は、受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段、受信側信号出力取得手段および反射信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、プログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であるようにしてもよい。
なお、本発明にかかる記録媒体は、入力信号が直接に被測定物に与えられる時に、反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、受信手段は、入力信号が出力された後に被測定物を介して入力信号を受信信号として受信し、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時に、受信側反射信号測定手段は、入力信号が被測定物から反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定し、反射信号測定手段は、入力信号が受信手段から出力された後に被測定物を介して入力信号を受信して所定のパラメータを測定し、入力信号が直接に被測定物に与えられる時の入力信号測定手段、反射信号測定手段ならびに受信信号測定手段の被測定物に関する測定結果と、入力信号が受信手段を介して被測定物に与えられる時の受信側入力信号測定手段、受信側反射信号測定手段ならびに反射信号測定手段の被測定物に関する測定結果と、測定系誤差要因とに基づき被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であるようにしてもよい。
本発明にかかる自動校正器は、(a)入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、(b)入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、(c)入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、(d)入力信号測定手段、反射信号測定手段および信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、(e)入力信号が出力された後に入力信号を受信信号として受信する受信手段と、を備えたネットワークアナライザに接続する自動校正器であって、それぞれが異なる状態を実現する複数の校正用具と、校正用具のいずれか一つあるいは受信手段を自動的に選択して入力信号を供給する入力信号供給手段とを備えるように構成される。
なお、本発明にかかる自動校正器は、入力信号供給手段は、校正用具のいずれか一つ、受信手段あるいは信号出力取得手段を自動的に選択して入力信号を供給するように構成されるようにしてもよい。
本発明は(a)入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、(b)入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、(c)入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、(d)入力信号測定手段、反射信号測定手段および信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、(e)入力信号が出力された後に入力信号を受信信号として受信する受信手段と、を備えたネットワークアナライザに接続する、それぞれが異なる状態を実現する複数の校正用具を備えた自動校正器における校正方法であって、校正用具のいずれか一つあるいは受信手段を自動的に選択して入力信号を供給する入力信号供給工程を備えるように構成される。
本発明は(a)入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、(b)入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、(c)入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、(d)入力信号測定手段、反射信号測定手段および信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、(e)入力信号が出力された後に入力信号を受信信号として受信する受信手段と、を備えたネットワークアナライザに接続する、それぞれが異なる状態を実現する複数の校正用具を備えた自動校正器における校正処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、校正用具のいずれか一つあるいは受信手段を自動的に選択して入力信号を供給する入力信号供給処理をコンピュータに実行させるためのプログラムである。
本発明は(a)入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、(b)入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、(c)入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、(d)入力信号測定手段、反射信号測定手段および信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、(e)入力信号が出力された後に入力信号を受信信号として受信する受信手段と、を備えたネットワークアナライザに接続する、それぞれが異なる状態を実現する複数の校正用具を備えた自動校正器における校正処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、校正用具のいずれか一つあるいは受信手段を自動的に選択して入力信号を供給する入力信号供給処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
第一の実施形態
図1は、第一の実施の形態に係るネットワークアナライザ1の構成を示したブロック図である。ネットワークアナライザ1には、DUT(Device Under Test:被測定物)2が接続されている。ネットワークアナライザ1は、DUT2の回路パラメータ、例えばSパラメータを測定する。DUT2は入力端子2a、出力端子2bを有する。入力端子2aにおける信号の周波数f1と、出力端子2bにおける信号の周波数f2とは異なっていてもよい。例えば、DUT2が周波数変化機能を有するもの(例、ミキサ)であればf1≠f2である。
ネットワークアナライザ1は、信号源10、受信手段20、測定系誤差要因記録部30、回路パラメータ測定部40、測定系誤差要因取得部50、パワーメータ用端子60、信号出力取得部62を備える。
信号源10は、DUT2に信号を供給する。信号源10は、信号出力部12、ブリッジ14a、14b、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)、出力端子18を有する。
信号出力部12は、所定の周波数f1の入力信号を出力する。なお、所定の周波数は変更可能である。
ブリッジ14aは、信号出力部12から出力された信号をレシーバ(RS)16aに供給する。ブリッジ14aが供給する信号は、信号源10による測定系誤差要因の影響を受けていない信号といえる。ブリッジ14bは、入力信号が出力端子18から出力され、さらに反射して戻ってきた反射信号をレシーバ(TS)16bに供給する。なお、ブリッジ14a、14bはパワースプリッタでもよい。以後において説明する、その他のブリッジについてもパワースプリッタで代用可能である。
レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)は、ブリッジ14aを介して受けた信号のSパラメータを測定する。よって、レシーバ(RS)16aは、信号源10による測定系誤差要因の影響の生ずる前に、入力信号に関するSパラメータを測定する。
レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)は、ブリッジ14bを介して受けた信号のSパラメータを測定する。よって、レシーバ(TS)16bは、反射信号に関するSパラメータを測定する。
出力端子18は、入力信号を出力するための端子である。
受信手段20は、入力信号が出力端子18から出力された後に、入力信号を受信信号として受信する。図1の例ではDUT2を介して入力信号を受信信号として受信する。受信手段20は、ブリッジ24a、レシーバ(TR)26a、入力端子28を有する。
ブリッジ24aは、入力端子28から入力された信号をレシーバ(TR)26aに供給する。レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)は、受信信号のSパラメータを測定する。入力端子28は、受信手段20が信号を受けるための端子である。図1に示すような場合は、入力端子28は、DUT2を介して入力信号を受ける。
測定系誤差要因記録部30は、ネットワークアナライザ1の測定系誤差要因を記録する。測定系誤差要因は、Ed(ブリッジの方向性に起因する誤差)、Er1、Er2(周波数トラッキングに起因する誤差)、Es(ソースマッチングに起因する誤差)、Etがある。図1に示す状態をシグナルフローグラフで表現したものを図2に示す。S11a、S21a、S12a、S22aはDUT2の真の(測定系誤差要因の影響を排除した)Sパラメータであり、ELはさらなる測定系誤差要因である。ただし、S12a、S22a、ELは第一の実施形態においては無視する。
回路パラメータ測定部40は、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)、レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)のDUT2に関する測定データ(Sパラメータ)と、測定系誤差要因記録部30の記録する測定系誤差要因とに基づき、DUT2の真の(測定系誤差要因の影響を排除した)Sパラメータ(S11a、S21a)を測定する。ただし、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)のDUT2に関する測定データはR、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)のDUT2に関する測定データはS11m、レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)のDUT2に関する測定データはS21mである(図2参照)。
なお、レシーバ(RS)16a等のDUT2に関する測定データとは、ネットワークアナライザ1にDUT2が接続された時の、レシーバ(RS)16a等により測定されるデータを意味する。
レシーバ(RS)16aのDUT2に関する測定データは、ネットワークアナライザ1にDUT2が接続された時の、レシーバ(RS)16aにより測定されるデータである。レシーバ(TS)16bのDUT2に関する測定データは、
ネットワークアナライザ1にDUT2が接続された時の、入力信号がDUT2から反射された反射信号をレシーバ(TS)16bが測定したデータである。また、入力信号が出力端子18から出力された後に、DUT2を介して入力信号を受信信号として受信手段20が受信する。この受信信号に関するレシーバ(TR)26aによる測定データが、レシーバ(TR)26aのDUT2に関する測定データである。
回路パラメータ測定部40は、下記の数式にのっとってS11a、S21aを測定する。
Figure 0005087533

測定系誤差要因取得部50は、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)、レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)および信号出力取得部62の測定結果に基づき測定系誤差要因(Ed、Er1、Er2、Es、Et)を取得する。測定系誤差要因の取得にあたっては、信号源10に校正用具4、パワーメータ6、受信手段20を順々に接続していく。
測定系誤差要因取得部50の構成を図3に示す。測定系誤差要因取得部50は、切替器52、第一測定系誤差要因取得部54、第二測定系誤差要因取得部56、第三測定系誤差要因取得部58を有する。
切替器52は、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)およびレシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)から測定データ(例えばSパラメータ)を受け、信号源10に接続されるものの種類に応じ、これらの信号を、第一測定系誤差要因取得部54、第二測定系誤差要因取得部56および第三測定系誤差要因取得部58のいずれか一つに出力する。
すなわち、切替器52は、信号源10に校正用具4が接続されている時は第一測定系誤差要因取得部54に、信号源10にパワーメータ6が接続されている時は第二測定系誤差要因取得部56に、信号源10に受信手段20が接続されている時は第三測定系誤差要因取得部58に、レシーバ(RS)16aおよびレシーバ(TS)16bから受けた測定データ(例えばSパラメータ)を出力する。ただし、第二測定系誤差要因取得部56および第三測定系誤差要因取得部58にはレシーバ(TS)16bから受けた測定データを出力しなくてもよい。
第一測定系誤差要因取得部54は、信号源10に校正用具4が接続されている時に、レシーバ(RS)16aおよびレシーバ(TS)16bの測定データを受け、Ed、Es、Er1・Er2(Er1とEr2との積)を取得する。信号源10に校正用具4が接続されている状態を図4(a)に示す。校正用具4の端子4aと信号源10の出力端子18とが接続されている。なお、ネットワークアナライザ1の信号源10以外の部分は図4(a)においては省略している。校正用具4は、特開平11−38054号に記載のようにオープン(開放)、ショート(短絡)、ロード(標準負荷Z0)の三種類の状態を実現する周知のものである。
校正用具4の外観は図4(b)に示すようなものであり、校正用具4は、コネクタ4a、本体4bを有する。図4(c)はオープン素子で端末4cは開放されているが浮遊容量Cが存在する。図4(d)はショート素子で端末4dは短絡されている。図4(e)はロード素子で端末4eは標準負荷(インピーダンス)Z0で終端されている。
信号源10に校正用具4が接続されている状態をシグナルフローグラフで表現したものを図5に示す。ここで、レシーバ(RS)16aの測定データはR、レシーバ(TS)16bの測定データはTである。RとTとの関係は、下記の数式の通りである
Figure 0005087533

ここで、校正用具4が三種類接続されるため、RとTとの組み合わせは三種類求められる。よって、求められる変数もEd、Es、Er1・Er2という三種類の変数である。
第二測定系誤差要因取得部56は、信号源10およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6が接続されている時に、レシーバ(RS)16aの測定データ、Ed、Es、Er1・Er2(第一測定系誤差要因取得部54の取得した測定系誤差要因)、および信号出力取得部62の出力(パワーP)を受け、Er1、Er2を取得する。
信号源10およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6が接続されている状態を図6に示す。なお、ネットワークアナライザ1の信号源10およびパワーメータ用端子60以外の部分は図6においては省略している。パワーメータ6の端子6aは信号源10の出力端子18に接続されている。パワーメータ6の端子6bはパワーメータ用端子60に接続されている。パワーメータ6は、端子6aを介して受けた信号のパワーを測定する。信号出力取得部62はパワーメータ用端子60および端子6bを介して、パワーPを取得し、第二測定系誤差要因取得部56に出力する。
信号源10およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6が接続されている状態をシグナルフローグラフで表現したものを図7に示す。ここで、レシーバ(RS)16aの測定データはR、パワーメータ6の測定データはPである。図7から明らかなように、Pは入力信号に関するパラメータであり、測定系誤差要因が生じた後に取得されたものである。RとPとの関係は、下記の数式の通りである
Figure 0005087533

ここで、Esは既知、Epは測定可能なので、Er1を求めることができる。Er1・Er2は既知なので、Er2もまた求めることができる。このように、Er1・Er2から、シグナルフローグラフ(図7参照)においては互いに逆向きのEr1、Er2を求めることができる。いわば、Er1・Er2において一体となっていたEr1およびEr2を分離できる。
第一測定系誤差要因取得部54は、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)およびレシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)の測定データを受け、Ed、Es、Er1・Er2を取得する。第二測定系誤差要因取得部56は、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)および信号出力取得部62の測定データを受け、Er1、Er2を取得する。よって、第一測定系誤差要因取得部54および第二測定系誤差要因取得部56は、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)および信号出力取得部62の測定データに基づき測定系誤差要因(Ed、Es、Er1、Er2)を取得する。
第三測定系誤差要因取得部58は、信号源10に受信手段20が接続されている時に、レシーバ(RS)16aの測定データ、Ed、Es、Er1、Er2(第二測定系誤差要因取得部56の取得した測定系誤差要因)、およびレシーバ(TR)26aの測定データを受け、Etを取得する。
信号源10に受信手段20が接続されている状態を図8に示す。信号源10の出力端子18と、受信手段20の入力端子28とが接続されている。なお、ネットワークアナライザ1の信号源10および受信手段20以外の部分は図8においては省略している。
信号源10に受信手段20が接続されている状態をシグナルフローグラフで表現したものを図9に示す。ここで、レシーバ(RS)16aの測定データはR、レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)の測定データはTR/Sである。RとTR/Sとの関係は、下記の数式の通りである
Figure 0005087533

ここで、Er1は既知なので、Etを求めることができる。第三測定系誤差要因取得部58は、Ed、Es、Er1、Er2、Etを測定系誤差要因記録部30に出力する。
パワーメータ用端子60は、パワーメータ6の端子6bに接続される。信号出力取得部62は、パワーメータ用端子60および端子6bを介して、パワーPを取得し、第二測定系誤差要因取得部56に出力する。
次に、第一の実施形態の動作を説明する。図10は、第一の実施形態の動作を示すフローチャートである。
まず、ネットワークアナライザ1は、測定系誤差要因(Ed、Es、Er1、Er2、Et)を測定する(S10)。測定された測定系誤差要因は、測定系誤差要因記録部30に記録される。測定系誤差要因の測定の際の動作を図11のフローチャートを参照して説明する。
まず、信号源10に三種類の校正用具4を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RS)16aが測定する。入力信号は、出力端子18を介して校正用具4に入力される。そして、校正用具4から反射された反射信号をレシーバ(TS)16bが測定する。第一測定系誤差要因取得部54はレシーバ(RS)16aおよびレシーバ(TS)16bの測定データを受け、Ed、Es、Er1・Er2(Er1とEr2との積)を取得する(S102)。
次に、信号源10およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RS)16aが測定する。入力信号は、出力端子18および端子6aを介してパワーメータ6に入力される。パワーメータ6は、この入力信号のパワーPを測定する。そして、信号出力取得部62はパワーメータ用端子60および端子6bを介して、パワーPを取得し、第二測定系誤差要因取得部56に出力する。第二測定系誤差要因取得部56は、レシーバ(RS)16aの測定データ、Ed、Es、Er1・Er2(第一測定系誤差要因取得部54の取得した測定系誤差要因)、および信号出力取得部62の出力(パワーP)を受け、Er1、Er2を取得する(S104)。
最後に、信号源10に受信手段20を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RS)16aが測定する。入力信号は、出力端子18および入力端子28を介して、受信手段20に受信信号として受信される。レシーバ(TR)26aは、この受信信号を測定する。そして、第三測定系誤差要因取得部58は、レシーバ(RS)16aの測定データ、Ed、Es、Er1、Er2(第二測定系誤差要因取得部56の取得した測定系誤差要因)、およびレシーバ(TR)26aの測定データを受け、Etを取得する(S106)。
ここで、図10に戻り、ネットワークアナライザ1にはDUT2が接続され(図1参照)、DUT2のSパラメータ等(R、S11m、S21m)が実測される(S20)。すなわち、信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RS)16aが測定する。この測定により得られたデータがRである。入力信号は、出力端子18を介してDUT2に入力される。そして、DUT2から反射された反射信号をレシーバ(TS)16bが測定する。この測定により得られたデータがS11mである。入力信号が出力端子18から出力された後に、DUT2を介して入力信号を受信信号として受信手段20が受信する。この受信信号をレシーバ(TR)26aが測定する。この測定により得られたデータがS21mである。これらの実測されたデータは、回路パラメータ測定部40に送られる。
最後に、回路パラメータ測定部40が、レシーバ(RS)16a、レシーバ(TS)16b、レシーバ(TR)26aのDUT2に関するSパラメータと、測定系誤差要因記録部30の記録する測定系誤差要因とに基づき、DUT2の真のSパラメータ(S11a、S21a)を測定する(S30)。
第一の実施形態によれば、信号出力取得部62は、入力信号に関するパワーPを測定系誤差要因の生じた後に取得する。これにより、周波数トラッキングに起因する誤差Er1、Er2などを(シグナルフローグラフにおける)向きに応じて分離することができる。DUT2の入力信号の周波数f1と出力信号の周波数f2とが異なる場合は、周波数トラッキングに起因する誤差Er1、Er2などが向きによって異なる。よって、向きに応じて測定系誤差要因を分離することにより、測定系の誤差の補正が可能となる。
また、レシーバ(TR)26aが、受信信号に関するSパラメータを測定するため、受信手段20における測定系誤差要因Etを取得できる。DUT2の入力信号の周波数f1と出力信号の周波数f2とが異なる場合は、受信手段20における測定系誤差要因Etを無視できない。よって、受信手段20における測定系誤差要因Etを取得することにより、測定系の誤差の補正が可能となる。
このように、向きに応じて測定系誤差要因Er1、Er2を分離し、しかも受信手段20における測定系誤差要因Etを取得したので、レシーバ(RS)16a、レシーバ(TS)16bおよびレシーバ(TR)26aのDUT2に関する測定結果と組み合わせれば、DUT2に関するSパラメータを誤差を補正しながら測定できる。
第二の実施形態
第二の実施形態は、第一の実施形態において無視したDUT2の真の(測定系誤差要因の影響を排除した)SパラメータS12a、S22aをも測定可能とした点が第一の実施形態と異なる。
図12は、第二の実施の形態に係るネットワークアナライザ1の構成を示したブロック図である。ネットワークアナライザ1は、信号源10、受信手段20、測定系誤差要因記録部30、回路パラメータ測定部40、測定系誤差要因取得部50、パワーメータ用端子60、信号出力取得部62、受信側測定系誤差要因記録部70を備える。以下、第一の実施形態と同様な部分は同一の番号を付して説明を省略する。
信号源10は、信号出力部12、スイッチ13、ブリッジ14a、14b、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)、出力端子18を有する。スイッチ13以外は、第一の実施形態と同様である。
スイッチ13は、信号出力部12の出力する入力信号を直接にDUT2に与えるか、受信手段20を介してDUT2に与えるかを選択するためのスイッチである。スイッチ13は、端子13a、13b、13cを有する。端子13aは出力端子18に、端子13bは受信手段20に、端子13cは信号出力部12に接続されている。端子13aと端子13cとを接続する、すなわちスイッチ13を端子13aの側にすれば入力信号を直接にDUT2に与えることになる。このとき、信号生成部12は周波数f1の信号を出力する。端子13aと端子13bとを接続する、すなわちスイッチ13を端子13bの側にすれば入力信号を受信手段20を介してDUT2に与えることになる。このとき、信号生成部12は周波数f2の信号を出力する。
なお、入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える場合は、出力端子18から信号が信号源10に入力されることになる。ここで、ブリッジ14bは、この信号をレシーバ(TS)16bに供給する。
受信手段20は、ブリッジ24a、24b、レシーバ(TR)26a、レシーバ(RR)26b、入力端子28を有する。入力端子28は、第一の実施形態と同様である。なお、ブリッジ24a、レシーバ(TR)26aは、入力信号を直接にDUT2に与える場合は、第一の実施形態と同様の機能を果たす。しかし、ブリッジ24a、レシーバ(TR)26aは、入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える場合は、第一の実施形態とは異なった機能を果たす。これについては後述する。
スイッチ13を端子13bの側にすれば、信号出力部12の出力する入力信号がスイッチ13を介して受信手段20に送られる。ブリッジ24bは、この入力信号をレシーバ(RR)26bに供給する。ブリッジ24bが供給する信号は、受信手段20における測定系誤差要因の影響を受けていない信号といえる。ブリッジ24aは、入力信号が入力端子28から出力されさらに反射して戻ってきた受信側反射信号をレシーバ(TR)26aに供給する。
レシーバ(TR)26a(受信側反射信号測定手段)は、ブリッジ24aを介して受けた受信側反射信号のSパラメータを測定する。レシーバ(TR)26aは、受信信号測定手段と受信側反射信号測定手段との機能を果たす。
レシーバ(RR)26b(受信側入力信号測定手段)は、ブリッジ24bを介して受けた入力信号のSパラメータを測定する。よって、レシーバ(RR)26bは、受信手段20における測定系誤差要因の影響の生ずる前に、入力信号に関するSパラメータを測定する。
測定系誤差要因記録部30は、ネットワークアナライザ1の測定系誤差要因を記録する。測定系誤差要因は、Ed、Er1、Er2、Es、Et、ELがある。ただし、入力信号を直接にDUT2に与える場合と、入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える場合とがあり、前者の場合をf(forward)、後者の場合をr(reverse)という添字を付して区別する。すなわち、測定系誤差要因は、Edf、Er1f、Er2f、Esf、Etf、ELfおよびEdr、Er1r、Er2r、Esr、Etr、ELrがある。
図12に示す状態をシグナルフローグラフで表現したものを図13に示す。図13(a)は入力信号を直接にDUT2に与える状態を示し、図13(b)は入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える状態を示す。
回路パラメータ測定部40は、
(1)入力信号を直接にDUT2に与える場合のレシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)、レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)のDUT2に関する測定データ(Sパラメータ)、
(2)入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える場合のレシーバ(RR)26b(受信側入力信号測定手段)、レシーバ(TR)26a(受信側反射信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)のDUT2に関する測定データ(Sパラメータ)、
(3)測定系誤差要因記録部30の記録する測定系誤差要因、
とに基づき、DUT2の真の(測定系誤差要因の影響を排除した)Sパラメータ(S11a、S21a、S12a、S22a)を測定する。
ただし、入力信号を直接にDUT2に与える場合の、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)のDUT2に関する測定データはR、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)のDUT2に関する測定データはS11m、レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)のDUT2に関する測定データはS21mである(図13(a)参照)。
また、入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える場合の、レシーバ(RR)26b(受信側入力信号測定手段)に関する測定データはR、レシーバ(TR)26a(受信側反射信号測定手段)のDUT2に関する測定データはS22m、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)のDUT2に関する測定データはS12mである(図13(b)参照)。
なお、レシーバ(RS)16a等のDUT2に関する測定データとは、ネットワークアナライザ1にDUT2が接続された時の、レシーバ(RS)16a等により測定されるデータを意味する。
レシーバ(RS)16aのDUT2に関する測定データは、ネットワークアナライザ1にDUT2が接続された時の、レシーバ(RS)16aにより測定されるデータである。レシーバ(TS)16bのDUT2に関する測定データは、
ネットワークアナライザ1にDUT2が接続された時の、入力信号がDUT2から反射された反射信号をレシーバ(TS)16bが測定したデータである。また、入力信号が出力端子18から出力された後に、DUT2を介して入力信号を受信信号として受信手段20が受信する。この受信信号に関するレシーバ(TR)26aによる測定データが、レシーバ(TR)26aのDUT2に関する測定データである。これらは、信号出力部12の出力する入力信号を直接にDUT2に与える場合のことである。
レシーバ(RR)26bのDUT2に関する測定データは、ネットワークアナライザ1にDUT2が接続された時の、レシーバ(RR)26bにより測定されるデータである。レシーバ(TR)26aのDUT2に関する測定データは、
ネットワークアナライザ1にDUT2が接続された時の、入力信号がDUT2から反射された反射信号をレシーバ(TR)26aが測定したデータである。また、入力信号が入力端子28から出力された後に、DUT2を介して入力信号を信号源10が受信する。この信号に関するレシーバ(TS)16bによる測定データが、レシーバ(TS)16bのDUT2に関する測定データである。これらは、信号出力部12の出力する入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える場合のことである。
回路パラメータ測定部40は、下記の数式にのっとってS11a、S21a、S12a、S22aを測定する。
Figure 0005087533

測定系誤差要因取得部50は、レシーバ(RS)16a(入力信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)、レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)および信号出力取得部62の測定結果に基づき測定系誤差要因(Edf、Er1f、Er2f、Esf、Etf、ELf)を取得する。測定系誤差要因の取得にあたっては、信号源10に校正用具4、パワーメータ6、受信手段20を順々に接続していく。
測定系誤差要因取得部50の構成は第一の実施形態と同様である(図3参照)。ただし、切替器52は、第三測定系誤差要因取得部58にはレシーバ(TS)16bから受けた測定データをも出力する。また、第三測定系誤差要因取得部58は、EtfのみならずELfをも求める。
信号源10に受信手段20が接続されている状態をシグナルフローグラフで表現したものを図9に示した通りである。ここで、レシーバ(RS)16aの測定データはR、レシーバ(TR)26a(受信信号測定手段)の測定データはTR/S、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)の測定データはTS/Rである。RとTR/Sとの関係およびRとTS/Rとの関係は、下記の数式の通りである。ただし、添字fは省略してある。
Figure 0005087533

RとTS/Rとの関係からELfが求められ、RとTR/Sとの関係にELfを代入すればEtfが求められる。
パワーメータ用端子60は、パワーメータ6の端子6bに接続される。信号出力取得部62(受信側信号出力手段)は、パワーメータ用端子60および端子6bを介して、パワーPを取得し、第二測定系誤差要因取得部56および後述する第二受信側測定系誤差要因取得部76に出力する。
受信側測定系誤差要因取得部70は、レシーバ(RR)26b(受信側入力信号測定手段)、レシーバ(TR)26a(受信側反射信号測定手段)、レシーバ(TS)16b(反射信号測定手段)および信号出力取得部62の測定結果に基づき測定系誤差要因(Edr、Er1r、Er2r、Esr、Etr、ELr)を取得する。測定系誤差要因の取得にあたっては、受信手段20の入力端子28に校正用具4、パワーメータ6、信号源10を順々に接続していく。
受信側測定系誤差要因取得部70の構成を図14に示す。受信側測定系誤差要因取得部70は、切替器72、第一受信側測定系誤差要因取得部74、第二受信側測定系誤差要因取得部76、第三受信側測定系誤差要因取得部78を有する。
切替器72は、レシーバ(RR)26b(受信側入力信号測定手段)およびレシーバ(TR)26a(受信側反射信号測定手段)から測定データ(例えばSパラメータ)を受け、受信手段20に接続されるものの種類に応じ、これらの信号を、第一受信側測定系誤差要因取得部74、第二受信側測定系誤差要因取得部76および第三受信側測定系誤差要因取得部78のいずれか一つに出力する。
すなわち、切替器72は、受信手段20に校正用具4が接続されている時は第一受信側測定系誤差要因取得部74に、受信手段20にパワーメータ6が接続されている時は第二受信側測定系誤差要因取得部76に、受信手段20に信号源10が接続されている時は第三受信側測定系誤差要因取得部78に、レシーバ(RR)26bおよびレシーバ(TR)26aから受けた測定データ(例えばSパラメータ)を出力する。ただし、第二受信側測定系誤差要因取得部76にはレシーバ(TR)26aから受けた測定データを出力しなくてもよい。
第一受信側測定系誤差要因取得部74は、受信手段20に校正用具4が接続されている時に、レシーバ(RR)26bおよびレシーバ(TR)26aの測定データを受け、Edr、Esr、Er1r・Er2r(Er1rとEr2rとの積)を取得する。Edr、Esr、Er1r・Er2rの取得法は第一の実施形態における第一測定系誤差要因取得部54と同様である。
第二受信側測定系誤差要因取得部76は、受信手段20およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6が接続されている時に、レシーバ(RR)26bの測定データ、Edr、Esr、Er1r・Er2r(第一受信側測定系誤差要因取得部74の取得した測定系誤差要因)、および信号出力取得部62の出力(パワーP)を受け、Er1r、Er2rを取得する。Er1r、Er2rの取得法は第一の実施形態における第二測定系誤差要因取得部56と同様である。
第一受信側測定系誤差要因取得部74は、レシーバ(RR)26b(受信側入力信号測定手段)およびレシーバ(TR)26a(受信側反射信号測定手段)の測定データを受け、Edr、Esr、Er1r・Er2rを取得する。第二受信側測定系誤差要因取得部76は、レシーバ(RR)26b(受信側入力信号測定手段)および信号出力取得部62の測定データを受け、Er1r、Er2rを取得する。よって、第一受信側測定系誤差要因取得部74および第二受信側測定系誤差要因取得部76は、レシーバ(RR)26b(受信側入力信号測定手段)、レシーバ(TR)26a(受信側反射信号測定手段)および信号出力取得部62(受信側信号出力取得手段)の測定データに基づき受信側の測定系誤差要因(Edr、Esr、Er1r、Er2r)を取得する。
第三受信側測定系誤差要因取得部78は、受信手段20に信号源10が接続されている時に、レシーバ(RR)26bおよびレシーバ(TR)26aの測定データ、Edr、Esr、Er1r、Er2r(第二受信側測定系誤差要因取得部76の取得した測定系誤差要因)、およびレシーバ(TS)16bの測定データを受け、Etr、ELrを取得する。Etr、ELrの取得法は、第二の実施形態における第三測定系誤差要因取得部58と同様である。
第三受信側測定系誤差要因取得部78は、Edr、Esr、Er1r、Er2r、Etr、ELrを測定系誤差要因記録部30に出力する。
次に、第二の実施形態の動作を説明する。図15は、第二の実施形態の動作を示すフローチャートである。
まず、ネットワークアナライザ1は、測定系誤差要因(Edf、Esf、Er1f、Er2f、Etf、ELf)を測定する(S10)。測定された測定系誤差要因は、測定系誤差要因記録部30に記録される。測定系誤差要因の測定の際の動作を図16のフローチャートを参照して説明する。
まず、スイッチ13を端子13aの側にする(S101)。そして、信号源10に三種類の校正用具4を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RS)16aが測定する。入力信号は、出力端子18を介して校正用具4に入力される。そして、校正用具4から反射された反射信号をレシーバ(TS)16bが測定する。第一測定系誤差要因取得部54はレシーバ(RS)16aおよびレシーバ(TS)16bの測定データを受け、Edf、Esf、Er1f・Er2f(Er1fとEr2fとの積)を取得する(S102)。
次に、信号源10およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RS)16aが測定する。入力信号は、出力端子18および端子6aを介してパワーメータ6に入力される。パワーメータ6は、この入力信号のパワーPを測定する。そして、信号出力取得部62はパワーメータ用端子60および端子6bを介して、パワーPを取得し、第二測定系誤差要因取得部56に出力する。第二測定系誤差要因取得部56は、レシーバ(RS)16aの測定データ、Edf、Esf、Er1f・Er2f(第一測定系誤差要因取得部54の取得した測定系誤差要因)、および信号出力取得部62の出力(パワーP)を受け、Er1f、Er2fを取得する(S104)。
最後に、信号源10に受信手段20を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RS)16aが測定する。入力信号は、出力端子18および入力端子28を介して、受信手段20に受信信号として受信される。レシーバ(TR)26aは、この受信信号を測定する。また、入力信号が受信手段20から反射された反射信号をレシーバ(TS)16bが測定する。そして、第三測定系誤差要因取得部58は、レシーバ(RS)16aの測定データ、Edf、Esf、Er1f、Er2f(第二測定系誤差要因取得部56の取得した測定系誤差要因)、レシーバ(TS)16bおよびレシーバ(TR)26aの測定データを受け、Etf、ELfを取得する(S107)。
次に、ネットワークアナライザ1は、測定系誤差要因(Edr、Esr、Er1r、Er2r、Etr、ELr)を測定する(S12)。測定された測定系誤差要因は、測定系誤差要因記録部30に記録される。測定系誤差要因の測定の際の動作を図17のフローチャートを参照して説明する。
まず、スイッチ13を端子13bの側にする(S121)。そして、受信手段20に三種類の校正用具4を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RR)26bが測定する。入力信号は、入力端子28を介して校正用具4に入力される。そして、校正用具4から反射された反射信号をレシーバ(TR)26aが測定する。第一受信側測定系誤差要因取得部74はレシーバ(RR)26bおよびレシーバ(TR)26aの測定データを受け、Edr、Esr、Er1r・Er2r(Er1rとEr2rとの積)を取得する(S122)。
次に、受信手段20およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RR)26bが測定する。入力信号は、入力端子28および端子6aを介してパワーメータ6に入力される。パワーメータ6は、この入力信号のパワーPを測定する。そして、信号出力取得部62はパワーメータ用端子60および端子6bを介して、パワーPを取得し、第二受信側測定系誤差要因取得部76に出力する。第二受信側測定系誤差要因取得部76は、レシーバ(RR)26bの測定データ、Edr、Esr、Er1r・Er2r(第一受信側測定系誤差要因取得部74の取得した測定系誤差要因)、および信号出力取得部62の出力(パワーP)を受け、Er1r、Er2rを取得する(S124)。
最後に、信号源10に受信手段20を接続する。信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RR)26bが測定する。入力信号は、入力端子28および出力端子18を介して、信号源10が受信する。レシーバ(TS)16bは、この信号を測定する。そして、信号源10から反射された反射信号をレシーバ(TR)26aが測定する。そして、第三測定系誤差要因取得部58は、レシーバ(RR)26bの測定データ、Edr、Esr、Er1r、Er2r(第二受信側測定系誤差要因取得部76の取得した測定系誤差要因)、レシーバ(TR)26aおよびレシーバ(TS)16bの測定データを受け、Etr、ELrを取得する(S127)。
ここで、図15に戻り、ネットワークアナライザ1にはDUT2が接続され(図1参照)、DUT2のSパラメータ等(R、S11m、S21m、S12m、S22m)が実測される(S20)。
すなわち、スイッチ13を端子13aの側にする。このとき、信号出力部12は入力信号を出力する。このときの入力信号をレシーバ(RS)16aが測定する。この測定により得られたデータがRである。入力信号は、出力端子18を介してDUT2に入力される。そして、DUT2から反射された反射信号をレシーバ(TS)16bが測定する。この測定により得られたデータがS11mである。入力信号が出力端子18から出力された後に、DUT2を介して入力信号を受信信号として受信手段20が受信する。この受信信号をレシーバ(TR)26aが測定する。この測定により得られたデータがS21mである(図13(a)参照)。
また、スイッチ13を端子13bの側にする。このとき、信号出力部12は入力信号を出力し、受信手段20に供給する。このときの入力信号をレシーバ(RR)26bが測定する。この測定により得られたデータがRである。入力信号は、入力端子28を介してDUT2に入力される。そして、DUT2から反射された反射信号をレシーバ(TR)26aが測定する。この測定により得られたデータがS22mである。入力信号が入力端子28から出力された後に、DUT2を介して信号源10が受信する。この信号をレシーバ(TS)16bが測定する。この測定により得られたデータがS12mである(図13(b)参照)。
これらの実測されたデータは、回路パラメータ測定部40に送られる。
最後に、回路パラメータ測定部40が、入力信号を直接にDUT2に与える場合のレシーバ(RS)16a、レシーバ(TS)16b、レシーバ(TR)26aのDUT2に関するSパラメータと、入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える場合のレシーバ(RR)26b、レシーバ(TR)26a、レシーバ(TS)16bのDUT2に関するSパラメータと、測定系誤差要因記録部30の記録する測定系誤差要因とに基づき、DUT2の真のSパラメータ(S11a、S21a、S12a、S22a)を測定する(S30)。
第二の実施形態によれば、信号出力取得部62は、入力信号に関するパワーPを受信側の測定系誤差要因の生じた後に取得する。これにより、周波数トラッキングに起因する誤差Er1r、Er2r(Er1f、Er2f)を(シグナルフローグラフにおける)向きに応じて分離することができる。DUT2の入力信号の周波数f1と出力信号の周波数f2とが異なる場合は、周波数トラッキングに起因する誤差Er1、Er2などが向きによって異なる。よって、向きに応じて受信側の測定系誤差要因を分離することにより、測定系の誤差の補正が可能となる。
また、レシーバ(TS)16bが、信号源10が受信した信号に関するSパラメータを測定するため、信号源10における測定系誤差要因Etr、ELrを取得できる。DUT2の入力信号の周波数f1と出力信号の周波数f2とが異なる場合は、信号源10における測定系誤差要因Etr、ELrを無視できない。よって、信号源10における測定系誤差要因Etr、ELrを取得することにより、測定系の誤差の補正が可能となる。なお、レシーバ(TR)26aが受信信号関するSパラメータを測定するため、受信手段20における測定系誤差要因Etf、ELfも取得できる。
このように、向きに応じて測定系誤差要因Er1r、Er2r(Er1f、Er2f)を分離し、しかも信号源10における測定系誤差要因Etr、ELrおよび受信手段20における測定系誤差要因Etf、ELfを取得したので、入力信号を直接にDUT2に与える場合のレシーバ(RS)16a、レシーバ(TS)16bおよびレシーバ(TR)26aのDUT2に関する測定結果と、入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える場合のレシーバ(RR)26b、レシーバ(TR)26a、レシーバ(TS)16bのDUT2に関する測定結果と組み合わせれば、DUT2に関するSパラメータを誤差を補正しながら測定できる。
なお、図12においては、スイッチ13をブリッジ14aと信号出力部12との間に配置してある。しかし、スイッチ13をブリッジ14aとブリッジ14bとの間に配置することも可能である。スイッチ13をブリッジ14aとブリッジ14bとの間に配置した場合の構成を図18に示す。端子13cはブリッジ14aを介して信号出力部12に接続されている。
また、DUT2としては図19に示すようなミキサを用いることができる。DUT2は、入力端子2a、出力端子2b、ローカル信号発生器2c、乗算器2dを有する。入力端子2aおよび出力端子2bは上述の通りである。ローカル信号発生器2cは周波数fLo(可変)のローカル信号を乗算器2dに供給する。乗算器2dは、入力端子2aから供給される信号(周波数f1)とローカル信号(周波数fLo)とを乗算して出力端子2bに供給する。このような場合は、f2=f1±fLoとなるため、f1≠f2となる。このような場合にも上記の実施形態は適合する。
なお、上記の実施形態において、CPU、ハードディスク、メディア(フロッピーディスク、CD−ROMなど)読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、ネットワークアナライザを実現できる。
また、第一の実施形態においては、信号源10に校正用具4、パワーメータ6、受信手段20を順々に接続していくこととしている。しかし、校正用具4等を順々に接続していくことは多大な労力を要する。そこで、以下のように、第一の実施形態について、様々な変形例が考えられる。
第一の実施形態の変形例(その1)
図24は、直結(信号源10と受信手段20)、オープン(開放)、ショート(短絡)、ロード(標準負荷Z0)の四種類の状態を実現できるキャリブレーションキット80を、信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。なお、図24においては、信号源10の構成要素は、出力端子18を除いて、図示省略している。また、受信手段20の構成要素は、入力端子28を除いて、図示省略している。
キャリブレーションキット80は、第一切替器(第一入力信号供給手段)82、直結部84a、第一オープン部84b、第一ショート部84c、第一ロード部84dを有する。
第一切替器(第一入力信号供給手段)82は、直結部84a、第一オープン部84b、第一ショート部84cおよび第一ロード部84dのいずれか一つと、信号源10の出力端子18とを接続する。出力端子18と接続するものは切り替えることができる。この切替は、自動的に行うようにすることが好ましい。ここでいう、「自動的」とは、利用者が手動で切替動作を行わなくても切替が行われることを意味する。
直結部84aは、受信手段20の入力端子28と、第一切替器82とを直結する。第一オープン部84bは、校正用具4のうち、オープン(開放)を実現するためのものである。第一ショート部84cは、校正用具4のうち、ショート(短絡)を実現するためのものである。第一ロード部84dは、校正用具4のうち、ロード(標準負荷Z0)を実現するためのものである。
第一切替器82が出力端子18と直結部84aとを接続すれば、信号源10と受信手段20とが直結される。第一切替器82が出力端子18と第一オープン部84bとを接続し、次に出力端子18と第一ショート部84cとを接続し、さらに出力端子18と第一ロード部84dとを接続すれば、三種類の校正用具4が信号源10と接続されることになる。
第一切替器82は、出力端子18と接続するものを切り替えると、切替器52に、出力端子18と何を接続しているかを示す情報を送るようにするとよい。これにより、切替器52は、第一切替器82による出力端子18と接続するものの切り替えに応じて動作できる。
このようにすれば、信号源10に校正用具4および受信手段20を接続していくことが自動化できる。
第一の実施形態の変形例(その2)
図25は、図24に示したキャリブレーションキット80に(第一)パワーメータ6を常に接続したままとしたものを信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。以下、図24に示したものと同様な部分は、同一の番号を付して説明を省略する。
第一切替器82は、直結部84a、第一オープン部84b、第一ショート部84c、第一ロード部84dおよびパワーメータ6のいずれか一つと、信号源10の出力端子18とを接続する。出力端子18と接続するものは切り替えることができる。この切替は、自動的に行うようにすることが好ましい。
なお、(第一)パワーメータ6の端子6aは第一切替器82に、パワーメータ6の端子6bはパワーメータ用端子60に接続されている。
第一切替器82が出力端子18と端子6aとを接続すれば、信号源10とパワーメータ6とが接続される。
このようにすれば、信号源10に校正用具4、(第一)パワーメータ6および受信手段20を接続していくことが自動化できる。
第一の実施形態の変形例(その3)
図26は、図24に示したキャリブレーションキット80に第一パワーセンサ6dを含めたものを信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。以下、図24および図25に示したものと同様な部分は、同一の番号を付して説明を省略する。
第一切替器82は、直結部84a、第一オープン部84b、第一ショート部84c、第一ロード部84dおよび第一パワーセンサ6dのいずれか一つと、信号源10の出力端子18とを接続する。出力端子18と接続するものは切り替えることができる。この切替は、自動的に行うようにすることが好ましい。
なお、第一パワーセンサ6dは、受けた信号のパワーを所定の物理量(例えば、電圧など)に変換するためのものである。第一パワーセンサ6dの出力は第一パワーメータ本体6eにより処理され、第一パワーセンサ6dが受けた信号のパワーが測定される。これは、第一パワーセンサ6dおよび第一パワーメータ本体6eが、(第一)パワーメータ6の機能を果たすことを意味する。
キャリブレーションキット80に内蔵された第一パワーセンサ6dはパワーメータ用端子60を介して第一パワーメータ本体6eに接続されている。第一パワーメータ本体6eは、ネットワークアナライザ1の内部に設けられ、信号出力取得部62に接続されている。
第一切替器82が出力端子18と第一パワーセンサ6dとを接続すれば、信号源10と、第一パワーセンサ6dおよび第一パワーメータ本体6e(パワーメータ6の機能を果たす)とが接続される。
このようにすれば、信号源10に校正用具4、(第一)パワーメータ6および受信手段20を接続していくことが自動化できる。しかも、(第一)パワーメータ6そのものをキャリブレーションキット80に接続し続ける必要もない。
また、第二の実施形態においては、信号源10に校正用具4、パワーメータ6、受信手段20を順々に接続していくことに加え、受信手段20に校正用具4、パワーメータ6、信号源10を順々に接続していくこととしている。しかし、校正用具4等を順々に接続していくことは多大な労力を要する。そこで、以下のように、第二の実施形態について、様々な変形例が考えられる。
第二の実施形態の変形例(その1)
図27は、直結(信号源10と受信手段20)と、信号源10および受信手段20についてオープン(開放)、ショート(短絡)、ロード(標準負荷Z0)の状態を実現できるキャリブレーションキット80を、信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。なお、図27においては、信号源10の構成要素は、出力端子18を除いて、図示省略している。また、受信手段20の構成要素は、入力端子28を除いて、図示省略している。
キャリブレーションキット80は、第一切替器82、第二切替器88、直結部84a、第一オープン部84b、第二オープン部86b、第一ショート部84c、第二ショート部86c、第一ロード部84d、第二ロード部86dを有する。
第一切替器82、直結部84a、第一オープン部84b、第一ショート部84c、第一ロード部84dは図24に示したものと同様であり説明を省略する。ただし、直結部84aは、第一切替器82と第二切替器88とを直結する。
第二オープン部86bは、校正用具4のうち、オープン(開放)を実現するためのものである。第二ショート部86cは、校正用具4のうち、ショート(短絡)を実現するためのものである。第二ロード部86dは、校正用具4のうち、ロード(標準負荷Z0)を実現するためのものである。
切替器88は、直結部84a、第二オープン部86b、第二ショート部86cおよび第二ロード部86dのいずれか一つと、受信手段20の入力端子28とを接続する。入力端子28と接続するものは切り替えることができる。この切替は、自動的に行うようにすることが好ましい。また、切替器82が出力端子18と直結部84aとを接続したときは、切替器88もまた入力端子28と直結部84aとを接続するようにする。
切替器82が出力端子18と直結部84aとを接続すれば、切替器88も入力端子28と直結部84aとを接続するため、信号源10と受信手段20とが直結される。切替器82が出力端子18と第一オープン部84bとを接続し、次に出力端子18と第一ショート部84cとを接続し、さらに出力端子18と第一ロード部84dとを接続すれば、三種類の校正用具4が信号源10と接続されることになる。
切替器82は、出力端子18と接続するものを切り替えると、切替器52に、出力端子18と何を接続しているかを示す情報を送るようにするとよい。これにより、切替器52は、切替器82による出力端子18と接続するものの切り替えに応じて動作できる。
このようにすれば、信号源10に校正用具4および受信手段20を接続していくことが自動化できる。
切替器88が入力端子28と第二オープン部86bとを接続し、次に入力端子28と第二ショート部86cとを接続し、さらに入力端子28と第二ロード部86dとを接続すれば、三種類の校正用具4が受信手段20と接続されることになる。
切替器88は、に入力端子28と接続するものを切り替えると、切替器72に、入力端子28と何を接続しているかを示す情報を送るようにするとよい。これにより、切替器72は、切替器88による入力端子28と接続するものの切り替えに応じて動作できる。
このようにすれば、受信手段20に校正用具4および信号源10を接続していくことが自動化できる。
第二の実施形態の変形例(その2)
図28は、図27に示したキャリブレーションキット80に第一パワーメータ6、第二パワーメータ6’を常に接続したままとしたものを信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。以下、図27に示したものと同様な部分は、同一の番号を付して説明を省略する。
切替器82は、直結部84a、第一オープン部84b、第一ショート部84c、第一ロード部84dおよび第一パワーメータ6のいずれか一つと、信号源10の出力端子18とを接続する。出力端子18と接続するものは切り替えることができる。この切替は、自動的に行うようにすることが好ましい。
なお、第一パワーメータ6の端子6aは切替器82に、第一パワーメータ6の端子6bはパワーメータ用端子60aに接続されている。
切替器88は、直結部84a、第二オープン部86b、第二ショート部86c、第二ロード部86dおよび第二パワーメータ6’のいずれか一つと、受信手段20の入力端子28とを接続する。入力端子28と接続するものは切り替えることができる。この切替は、自動的に行うようにすることが好ましい。また、切替器82が出力端子18と直結部84aとを接続したときは、切替器88もまた入力端子28と直結部84aとを接続するようにする。
なお、第二パワーメータ6’の端子6a’は切替器88に、第二パワーメータ6’の端子6b’はパワーメータ用端子60bに接続されている。なお、端子6a’、6b’の機能は端子6a、6bの機能と同様である。
また、パワーメータ用端子60a、bは、信号出力取得部62に接続されている。
切替器82が出力端子18と端子6aとを接続すれば、信号源10とパワーメータ6とが接続される。切替器88が入力端子28と端子6a’とを接続すれば、受信手段20と第二パワーメータ6’とが接続される。
このようにすれば、信号源10に校正用具4、パワーメータ6および受信手段20を接続していくことが自動化できる。さらに、受信手段20に校正用具4、パワーメータ6および信号源10を接続していくことが自動化できる。
第二の実施形態の変形例(その3)
図29は、図27に示したキャリブレーションキット80にパワーセンサ6d、6d’を含めたものを信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。以下、図27および図28に示したものと同様な部分は、同一の番号を付して説明を省略する。
切替器88は、直結部84a、第二オープン部86b、第二ショート部86c、第二ロード部86dおよび第二パワーセンサ6d’のいずれか一つと、受信手段20の入力端子28とを接続する。入力端子28と接続するものは切り替えることができる。この切替は、自動的に行うようにすることが好ましい。
なお、第二パワーセンサ6d’は、受けた信号のパワーを所定の物理量(例えば、電圧など)に変換するためのものである。第二パワーセンサ6d’の出力は第二パワーメータ本体6e’により処理され、第二パワーセンサ6d’が受けた信号のパワーが測定される。これは、第二パワーセンサ6d’および第二パワーメータ本体6e’が、パワーメータ6の機能を果たすことを意味する。
キャリブレーションキット80に内蔵された第二パワーセンサ6d’はパワーメータ用端子60bを介して第二パワーメータ本体6e’に接続されている。第二パワーメータ本体6e’は、ネットワークアナライザ1の内部に設けられ、信号出力取得部62に接続されている。
なお、パワーセンサ6dはパワーメータ用端子60aを介してパワーメータ本体6eに接続されている。パワーメータ本体6eは、ネットワークアナライザ1の内部に設けられ、信号出力取得部62に接続されている。
切替器82が出力端子18とパワーセンサ6dとを接続すれば、信号源10と、パワーセンサ6dおよびパワーメータ本体6e(パワーメータ6の機能を果たす)とが接続される。
このようにすれば、信号源10に校正用具4、パワーメータ6および受信手段20を接続していくことが自動化できる。しかも、パワーメータ6そのものをキャリブレーションキット80に接続し続ける必要もない。
切替器88が入力端子28と第二パワーセンサ6d’とを接続すれば、受信手段20と、第二パワーセンサ6d’および第二パワーメータ本体6e’(パワーメータ6の機能を果たす)とが接続される。
このようにすれば、受信手段20に校正用具4、パワーメータ6および信号源10を接続していくことが自動化できる。しかも、パワーメータ6そのものをキャリブレーションキット80に接続し続ける必要もない。
本発明によれば、向きに応じて測定系誤差要因を分離し、しかも受信手段における測定系誤差要因を取得したので、入力信号測定手段、反射信号測定手段および受信信号測定手段の被測定物に関する測定結果と組み合わせれば、被測定物に関する所定のパラメータ(例えばSパラメータ)を誤差を補正しながら測定できる。
第一の実施の形態に係るネットワークアナライザ1の構成を示したブロック図である。 図1に示す状態をシグナルフローグラフで表現した図である。 測定系誤差要因取得部50の構成を示すブロック図である。 信号源10に校正用具4が接続されている状態を示すブロック図(図4(a))、校正用具4の外観を示す図(図4(b)〜(e))である。 信号源10に校正用具4が接続されている状態をシグナルフローグラフで表現した図である。 信号源10およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6が接続されている状態を示す図である。 信号源10およびパワーメータ用端子60にパワーメータ6が接続されている状態をシグナルフローグラフで表現した図である。 信号源10に受信手段20が接続されている状態を示す図である。 信号源10に受信手段20が接続されている状態をシグナルフローグラフで表現した図である。 第一の実施形態の動作を示すフローチャートである。 測定系誤差要因の測定の際の動作を示すフローチャートである。 第二の実施の形態に係るネットワークアナライザ1の構成を示したブロック図である。 図12に示す状態をシグナルフローグラフで表現した図であり、入力信号を直接にDUT2に与える状態(図13(a))、入力信号を受信手段20を介してDUT2に与える状態(図13(b))を示す図である。 受信側測定系誤差要因取得部70の構成を示すブロック図である。 第二の実施形態の動作を示すフローチャートである。 測定系誤差要因の測定の際の動作を示すフローチャートである。 測定系誤差要因の測定の際の動作を示すフローチャートである。 スイッチ13をブリッジ14aとブリッジ14bとの間に配置した場合の構成を示すブロック図である。 DUT2としてミキサを用いた場合のDUT2の構成を示す図である。 従来技術にかかる被測定物(DUT)の回路パラメータの測定法を説明する図である。 従来技術にかかる周波数f1=f2の場合の信号源110に関するシグナルフローグラフである。 従来技術にかかる周波数f1が周波数f2と等しくない場合の信号源110に関するシグナルフローグラフである。 従来技術にかかる信号源110と受信部120とを直結した場合のシグナルフローグラフである。 第一の実施形態の変形例(その1)におけるキャリブレーションキット80を、信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。 第一の実施形態の変形例(その2)におけるキャリブレーションキット80を、信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。 第一の実施形態の変形例(その3)におけるキャリブレーションキット80を、信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。 第二の実施形態の変形例(その1)におけるキャリブレーションキット80を、信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。 第二の実施形態の変形例(その2)におけるキャリブレーションキット80を、信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。 第二の実施形態の変形例(その3)におけるキャリブレーションキット80を、信号源10および受信手段20に接続した状態を示す図である。
符号の説明
1 ネットワークアナライザ
2 DUT
10 信号源
12 信号出力部
13 スイッチ
14a、14b ブリッジ
16a レシーバ(RS)(入力信号測定手段)
16b レシーバ(TS)(反射信号測定手段)
18 出力端子
20 受信手段
24a、24b ブリッジ
26a レシーバ(TR)
26b レシーバ(RR)
28 入力端子
30 測定系誤差要因記録部
40 回路パラメータ測定部
50 測定系誤差要因取得部
52 切替器
54 第一測定系誤差要因取得部
56 第二測定系誤差要因取得部
58 第三測定系誤差要因取得部
60 パワーメータ用端子
62 信号出力取得部
70 受信側測定系誤差要因記録部
72 切替器
74 第一受信側測定系誤差要因取得部
76 第二受信側測定系誤差要因取得部
78 第三受信側測定系誤差要因取得部

Claims (35)

  1. 入力信号を出力する出力端子と、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、
    前記入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、
    前記出力端子に直接に接続されたパワーメータから、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、
    前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段および前記信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、
    を備えたネットワークアナライザ。
  2. 請求項1に記載のネットワークアナライザであって、
    前記反射信号測定手段は、前記ネットワークアナライザに接続された校正用具から前記入力信号が反射された前記反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記校正用具は、開放、短絡および標準負荷の三種類の状態を実現するものであるネットワークアナライザ。
  3. 請求項1または2に記載のネットワークアナライザであって、
    前記入力信号が出力された後に前記入力信号を受信信号として受信する受信手段を備え、
    前記受信手段は、前記受信信号に関する所定のパラメータを測定する受信信号測定手段を有し、
    前記測定系誤差要因取得手段は、前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段、前記信号出力取得手段および前記受信信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、
    ネットワークアナライザ。
  4. 請求項3に記載のネットワークアナライザであって、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記受信手段は、前記入力信号が出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を前記受信信号として受信し、
    前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段ならびに前記受信信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果および前記測定系誤差要因に基づき前記被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定手段を備えたネットワークアナライザ。
  5. 請求項3に記載のネットワークアナライザであって、
    前記受信手段は、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する受信側入力信号測定手段と、
    前記入力信号が前記受信手段から出力されて反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定する受信側反射信号測定手段と、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する受信側信号出力取得手段と、
    前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段および前記受信側信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する受信側測定系誤差要因取得手段と、
    を備えたネットワークアナライザ。
  6. 請求項5に記載のネットワークアナライザであって、
    前記受信側反射信号測定手段は前記受信信号測定手段であるネットワークアナライザ。
  7. 請求項5または6に記載のネットワークアナライザであって、
    前記受信側反射信号測定手段は、前記ネットワークアナライザに接続された校正用具から前記入力信号が反射された前記反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記校正用具は、開放、短絡および標準負荷の三種類の状態を実現するものであるネットワークアナライザ。
  8. 請求項5ないし7のいずれか一項に記載のネットワークアナライザであって、
    前記反射信号測定手段は前記入力信号が前記受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータを測定し、
    前記受信側測定系誤差要因取得手段は、前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段、前記受信側信号出力取得手段および前記反射信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、
    ネットワークアナライザ。
  9. 請求項8に記載のネットワークアナライザであって、
    前記入力信号が直接に被測定物に与えられる時に、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が前記被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記受信手段は、前記入力信号が出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を前記受信信号として受信し、
    前記入力信号が前記受信手段を介して前記被測定物に与えられる時に、
    前記受信側反射信号測定手段は、前記入力信号が前記被測定物から反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が前記受信手段から出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を受信して所定のパラメータを測定し、
    前記入力信号が直接に前記被測定物に与えられる時の前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段ならびに前記受信信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果と、前記入力信号が前記受信手段を介して前記被測定物に与えられる時の前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段ならびに前記反射信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果と、前記測定系誤差要因とに基づき前記被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定手段を備えたネットワークアナライザ。
  10. 請求項9に記載のネットワークアナライザであって、
    前記入力信号を直接に前記被測定物に与えるか、あるいは前記受信手段を介して前記被測定物に与えるかを選択する選択手段を備えたネットワークアナライザ。
  11. 請求項4、9および10のいずれか一項に記載のネットワークアナライザであって、
    前記被測定物の入力周波数と出力周波数とが異なるネットワークアナライザ。
  12. 請求項11に記載のネットワークアナライザであって、
    前記被測定物がミキサであるネットワークアナライザ。
  13. 請求項1ないし12のいずれか一項に記載のネットワークアナライザであって、
    前記所定のパラメータはSパラメータあるいはパワーであるネットワークアナライザ。
  14. 入力信号を出力する出力端子を備えたネットワークアナライザにおけるネットワーク解析方法であって、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定工程と、
    前記入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定工程と、
    前記出力端子に直接に接続されたパワーメータから、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得工程と、
    前記入力信号測定工程、前記反射信号測定工程および前記信号出力取得工程の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得工程と、
    を備えたネットワーク解析方法。
  15. 前記入力信号が出力された後に前記入力信号を受信信号として受信する受信手段を有するネットワークアナライザによってネットワーク解析を行う請求項14に記載のネットワーク解析方法であって、
    前記受信手段において前記受信信号に関する所定のパラメータを測定する受信信号測定工程を有し、
    前記測定系誤差要因取得工程は、前記入力信号測定工程、前記反射信号測定工程、前記信号出力取得工程および前記受信信号測定工程の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、
    ネットワーク解析方法。
  16. 請求項15に記載のネットワーク解析方法であって、
    前記反射信号測定工程は、前記入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記受信手段は、前記入力信号が出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を前記受信信号として受信し、
    前記入力信号測定工程、前記反射信号測定工程ならびに前記受信信号測定工程の前記被測定物に関する測定結果および前記測定系誤差要因に基づき前記被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定工程を備えたネットワーク解析方法。
  17. 請求項15に記載のネットワーク解析方法であって、
    前記受信手段において、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する受信側入力信号測定工程と、
    前記入力信号が前記受信手段から出力されて反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定する受信側反射信号測定工程と、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する受信側信号出力取得工程と、
    前記受信側入力信号測定工程、前記受信側反射信号測定工程および前記受信側信号出力取得工程の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する受信側測定系誤差要因取得工程と、
    を備えたネットワーク解析方法。
  18. 請求項17に記載のネットワーク解析方法であって、
    前記反射信号測定工程は前記入力信号が前記受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータを測定し、
    前記受信側測定系誤差要因取得工程は、前記受信側入力信号測定工程、前記受信側反射信号測定工程、前記受信側信号出力取得工程および前記反射信号測定工程の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、
    ネットワーク解析方法。
  19. 請求項18に記載のネットワーク解析方法であって、
    前記入力信号が直接に被測定物に与えられる時に、
    前記反射信号測定工程は、前記入力信号が前記被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記受信手段は、前記入力信号が出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を前記受信信号として受信し、
    前記入力信号が前記受信手段を介して前記被測定物に与えられる時に、
    前記受信側反射信号測定工程は、前記入力信号が前記被測定物から反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記反射信号測定工程は、前記入力信号が前記受信工程から出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を受信して所定のパラメータを測定し、
    前記入力信号が直接に前記被測定物に与えられる時の前記入力信号測定工程、前記反射信号測定工程ならびに前記受信信号測定工程の前記被測定物に関する測定結果と、前記入力信号が前記受信手段を介して前記被測定物に与えられる時の前記受信側入力信号測定工程、前記受信側反射信号測定工程ならびに前記反射信号測定工程の前記被測定物に関する測定結果と、前記測定系誤差要因とに基づき前記被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定工程を備えたネットワーク解析方法。
  20. 入力信号を出力する出力端子と、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、前記入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、前記出力端子に直接に接続されたパワーメータから、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段とを有するネットワークアナライザにおけるネットワーク解析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
    前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段および前記信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
  21. 請求項20に記載のプログラムであって、
    前記ネットワークアナライザは、
    前記入力信号が出力された後に前記入力信号を受信信号として受信する受信手段を備え、
    前記受信手段は、前記受信信号に関する所定のパラメータを測定する受信信号測定手段を有し、
    前記測定系誤差要因取得処理は、前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段、前記信号出力取得手段および前記受信信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、
    プログラム。
  22. 請求項21に記載のプログラムであって、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記受信手段は、前記入力信号が出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を前記受信信号として受信し、
    前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段ならびに前記受信信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果および前記測定系誤差要因に基づき前記被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
  23. 請求項21に記載のプログラムであって、
    前記受信手段は、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する受信側入力信号測定手段と、
    前記入力信号が前記受信手段から出力されて反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定する受信側反射信号測定手段と、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する受信側信号出力取得手段と、
    を有し、
    前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段および前記受信側信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する受信側測定系誤差要因取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
  24. 請求項23に記載のプログラムであって、
    前記反射信号測定手段は前記入力信号が前記受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータを測定し、
    前記受信側測定系誤差要因取得処理は、前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段、前記受信側信号出力取得手段および前記反射信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、
    プログラム。
  25. 請求項24に記載のプログラムであって、
    前記入力信号が直接に被測定物に与えられる時に、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が前記被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記受信手段は、前記入力信号が出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を前記受信信号として受信し、
    前記入力信号が前記受信手段を介して前記被測定物に与えられる時に、
    前記受信側反射信号測定手段は、前記入力信号が前記被測定物から反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が前記受信手段から出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を受信して所定のパラメータを測定し、
    前記入力信号が直接に前記被測定物に与えられる時の前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段ならびに前記受信信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果と、前記入力信号が前記受信手段を介して前記被測定物に与えられる時の前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段ならびに前記反射信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果と、前記測定系誤差要因とに基づき前記被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。
  26. 入力信号を出力する出力端子と、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、前記入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、前記出力端子に直接に接続されたパワーメータから、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段とを有するネットワークアナライザにおけるネットワーク解析処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
    前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段および前記信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
  27. 請求項26に記載のプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
    前記ネットワークアナライザは、
    前記入力信号が出力された後に前記入力信号を受信信号として受信する受信手段を備え、
    前記受信手段は、前記受信信号に関する所定のパラメータを測定する受信信号測定手段を有し、
    前記測定系誤差要因取得処理は、前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段、前記信号出力取得手段および前記受信信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、
    プログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
  28. 請求項27に記載のプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記受信手段は、前記入力信号が出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を前記受信信号として受信し、
    前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段ならびに前記受信信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果および前記測定系誤差要因に基づき前記被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
  29. 請求項27に記載のプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
    前記受信手段は、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する受信側入力信号測定手段と、
    前記入力信号が前記受信手段から出力されて反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定する受信側反射信号測定手段と、
    前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する受信側信号出力取得手段と、
    を有し、
    前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段および前記受信側信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する受信側測定系誤差要因取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
  30. 請求項29に記載のプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
    前記反射信号測定手段は前記入力信号が前記受信手段から出力された後に受信して所定のパラメータを測定し、
    前記受信側測定系誤差要因取得処理は、前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段、前記受信側信号出力取得手段および前記反射信号測定手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する、
    プログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
  31. 請求項30に記載のプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
    前記入力信号が直接に被測定物に与えられる時に、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が前記被測定物から反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記受信手段は、前記入力信号が出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を前記受信信号として受信し、
    前記入力信号が前記受信手段を介して前記被測定物に与えられる時に、
    前記受信側反射信号測定手段は、前記入力信号が前記被測定物から反射された受信側反射信号に関する所定のパラメータを測定し、
    前記反射信号測定手段は、前記入力信号が前記受信手段から出力された後に前記被測定物を介して前記入力信号を受信して所定のパラメータを測定し、
    前記入力信号が直接に前記被測定物に与えられる時の前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段ならびに前記受信信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果と、前記入力信号が前記受信手段を介して前記被測定物に与えられる時の前記受信側入力信号測定手段、前記受信側反射信号測定手段ならびに前記反射信号測定手段の前記被測定物に関する測定結果と、前記測定系誤差要因とに基づき前記被測定物に関する所定のパラメータを測定するパラメータ測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
  32. 入力信号を出力する出力端子と、(a)前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、(b)前記入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、(c)前記出力端子に直接に接続されたパワーメータから、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、(d)前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段および前記信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、(e)前記入力信号が出力された後に前記入力信号を受信信号として受信する受信手段と、を備えたネットワークアナライザに接続する自動校正器であって、
    それぞれが異なる状態を実現する複数の校正用具と、
    前記校正用具のいずれか一つあるいは前記受信手段を自動的に選択して前記入力信号を供給する入力信号供給手段と、
    を備え、
    前記入力信号供給手段は、前記校正用具のいずれか一つ、前記受信手段あるいは前記信号出力取得手段を自動的に選択して前記入力信号を供給する、
    自動校正器。
  33. 入力信号を出力する出力端子と、(a)前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、(b)前記入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、(c)前記出力端子に直接に接続されたパワーメータから、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、(d)前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段および前記信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、(e)前記入力信号が出力された後に前記入力信号を受信信号として受信する受信手段と、を備えたネットワークアナライザに接続する、それぞれが異なる状態を実現する複数の校正用具を備えた自動校正器における校正方法であって、
    前記校正用具のいずれか一つあるいは前記受信手段を自動的に選択して前記入力信号を供給する入力信号供給工程、
    を備えた校正方法。
  34. 入力信号を出力する出力端子と、(a)前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、(b)前記入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、(c)前記出力端子に直接に接続されたパワーメータから、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、(d)前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段および前記信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、(e)前記入力信号が出力された後に前記入力信号を受信信号として受信する受信手段と、を備えたネットワークアナライザに接続する、それぞれが異なる状態を実現する複数の校正用具を備えた自動校正器における校正処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
    前記校正用具のいずれか一つあるいは前記受信手段を自動的に選択して前記入力信号を供給する入力信号供給処理、
    をコンピュータに実行させるためのプログラム。
  35. 入力信号を出力する出力端子と、(a)前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生ずる前に測定する入力信号測定手段と、(b)前記入力信号が反射された反射信号に関する所定のパラメータを測定する反射信号測定手段と、(c)前記出力端子に直接に接続されたパワーメータから、前記入力信号に関する所定のパラメータを、測定系誤差要因の生じた後に取得する信号出力取得手段と、(d)前記入力信号測定手段、前記反射信号測定手段および前記信号出力取得手段の測定結果に基づき、測定系誤差要因を取得する測定系誤差要因取得手段と、(e)前記入力信号が出力された後に前記入力信号を受信信号として受信する受信手段と、を備えたネットワークアナライザに接続する、それぞれが異なる状態を実現する複数の校正用具を備えた自動校正器における校正処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
    前記校正用具のいずれか一つあるいは前記受信手段を自動的に選択して前記入力信号を供給する入力信号供給処理、
    をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
JP2008330822A 2002-04-17 2008-12-25 ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体 Expired - Fee Related JP5087533B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008330822A JP5087533B2 (ja) 2002-04-17 2008-12-25 ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002115265 2002-04-17
JP2002115265 2002-04-17
JP2008330822A JP5087533B2 (ja) 2002-04-17 2008-12-25 ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003584744A Division JP4255017B2 (ja) 2002-04-17 2003-04-17 自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009103707A JP2009103707A (ja) 2009-05-14
JP5087533B2 true JP5087533B2 (ja) 2012-12-05

Family

ID=29243419

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003584744A Expired - Fee Related JP4255017B2 (ja) 2002-04-17 2003-04-17 自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体
JP2008330822A Expired - Fee Related JP5087533B2 (ja) 2002-04-17 2008-12-25 ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003584744A Expired - Fee Related JP4255017B2 (ja) 2002-04-17 2003-04-17 自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7652482B2 (ja)
JP (2) JP4255017B2 (ja)
WO (1) WO2003087856A1 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5242881B2 (ja) 2004-02-23 2013-07-24 ローデ ウント シュワルツ ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、プログラムおよび記録媒体
JP4462979B2 (ja) 2004-03-26 2010-05-12 株式会社アドバンテスト ネットワークアナライザ、伝送トラッキング測定方法、ネットワーク解析方法、プログラムおよび記録媒体
TW200817688A (en) * 2006-08-30 2008-04-16 Advantest Corp Element judging device, method, program, recording medium and measuring device
JP4215798B2 (ja) * 2006-12-18 2009-01-28 株式会社アドバンテスト 測定装置、測定方法、校正装置および校正方法
US7761253B2 (en) 2007-07-23 2010-07-20 Advantest Corporation Device, method, program, and recording medium for error factor measurement, and output measurement device and input measurement device provided with the device for error factor measurement
US7616007B2 (en) * 2007-07-23 2009-11-10 Advantest Corporation Device, method, program, and recording medium for error factor measurement, and output correction device and reflection coefficient measurement device provided with the device for error factor measurement
US8319502B2 (en) * 2008-06-26 2012-11-27 Dune Medical Devices Ltd. RF calibration device and method
KR101080905B1 (ko) * 2010-09-14 2011-11-08 주식회사 이노와이어리스 Dvb-h 테스트장치의 변조 파워 캘리브레이션 방법
CN102565741B (zh) * 2011-12-30 2014-09-17 浙江省电力公司 基于对称光原理的网络记录分析仪性能动态模拟检测方法
DE102013014175B4 (de) * 2013-08-26 2018-01-11 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Kalibrierung eines Messaufbaus
DE102014200517B4 (de) * 2013-10-07 2023-05-11 Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft Verfahren, Kalibriereinheit und System zur Ermittlung von Systemfehlern und Leistungswerten für die Kalibrierung eines Netzwerkanalysators
CN104569893B (zh) * 2015-01-26 2017-11-03 南京信息职业技术学院 一种电磁辐射计校准装置及方法
US10361945B2 (en) * 2015-10-08 2019-07-23 Fluke Corporation System and method to reconcile cabling test results with cabling test configurations
US10367713B2 (en) 2015-10-15 2019-07-30 Fluke Corporation Cloud based system and method for managing testing configurations for cable test devices
US10097443B2 (en) 2015-12-16 2018-10-09 Fluke Corporation System and method for secure communications between a computer test tool and a cloud-based server
CN106405323A (zh) * 2016-08-19 2017-02-15 山东康威通信技术股份有限公司 基于单端口测量校准模型的电缆扫频定位分析***和方法
CN111693924B (zh) * 2020-06-08 2022-07-01 中国电力科学研究院有限公司 检测电压互感器在线监测装置的监测性能的***及方法
US11474137B2 (en) * 2020-09-18 2022-10-18 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Test system
CN113945879B (zh) * 2021-10-19 2022-06-28 四川九洲电器集团有限责任公司 一种空中交通告警***应答器信号源的检测方法和***

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55141078U (ja) * 1979-03-30 1980-10-08
US5748000A (en) * 1996-08-01 1998-05-05 Hewlett-Packard Company Error correction method for transmission measurements in vector network analyzers
JPH10132914A (ja) * 1996-10-29 1998-05-22 Sony Corp 生産ライン用測定器の校正方法及び装置
JP4124841B2 (ja) 1997-07-18 2008-07-23 株式会社アドバンテスト ネットワーク・アナライザ、高周波周波数特性測定装置および誤差要因測定方法
US6147501A (en) * 1997-08-26 2000-11-14 Hewlett-Packard Company Automatic calibration of a network analyzer
US6018246A (en) * 1997-10-17 2000-01-25 Hewlett-Packard Company Network analyzer measurement method for high dynamic range devices
JPH11211766A (ja) 1998-01-26 1999-08-06 Advantest Corp 自動キャリブレーション装置
US6188968B1 (en) * 1998-05-18 2001-02-13 Agilent Technologies Inc. Removing effects of adapters present during vector network analyzer calibration
US6606583B1 (en) * 1998-09-21 2003-08-12 Ben K. Sternberg Real-time error-suppression method and apparatus therefor
US6347382B1 (en) * 1998-11-30 2002-02-12 Advantest Corp. Multi-port device analysis apparatus and method
US6421624B1 (en) * 1999-02-05 2002-07-16 Advantest Corp. Multi-port device analysis apparatus and method and calibration method thereof
US6397160B1 (en) * 1999-06-04 2002-05-28 Teradyne, Inc. Power sensor module for microwave test systems
JP2001153904A (ja) * 1999-11-25 2001-06-08 Advantest Corp ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法および記録媒体
US6690722B1 (en) * 2000-06-09 2004-02-10 Agilent Technologies, Inc. Method for characterizing frequency translation devices
US6653848B2 (en) * 2000-09-18 2003-11-25 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for linear characterization of multi-terminal single-ended or balanced devices

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009103707A (ja) 2009-05-14
JP4255017B2 (ja) 2009-04-15
JPWO2003087856A1 (ja) 2005-08-25
US7652482B2 (en) 2010-01-26
WO2003087856A1 (fr) 2003-10-23
US20060005065A1 (en) 2006-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5087533B2 (ja) ネットワークアナライザ、ネットワーク解析方法、自動校正器、校正方法、プログラムおよび記録媒体
US7511508B2 (en) Fixture characteristic measuring device, method, program, recording medium, network analyzer, and semiconductor test device
US8339141B2 (en) Method and apparatus for locating a fault in an electrical conductor, with interference compensation
US7561987B2 (en) Network analyzer, network analyzing method, program, and recording medium
JP4127849B2 (ja) 素子判定装置、方法、プログラム、記録媒体および測定装置
US7519509B2 (en) Network analyzer, transmission tracking error measuring method, network analyzing method, program, and recording medium
US7348784B2 (en) Error factor acquisition device, method, program, and recording medium
JP4475520B2 (ja) 電力供給装置、方法、プログラム、記録媒体、ネットワークアナライザおよびスペクトラムアナライザ
JP4002940B1 (ja) 誤差要因測定装置、方法、プログラム、記録媒体および該装置を備えた出力補正装置、反射係数測定装置
TWI363182B (ja)
US7761253B2 (en) Device, method, program, and recording medium for error factor measurement, and output measurement device and input measurement device provided with the device for error factor measurement
JP5153456B2 (ja) 過剰雑音比導出装置、雑音指数導出装置、方法、プログラム、記録媒体
JP2015129648A (ja) 試験システム及び試験方法
JPH10332756A (ja) 機器の電気的物理量試験装置
JPH1164463A (ja) 半導体装置のテスト方法および半導体装置
JPH09292456A (ja) 通信航法装置の試験システム及びその制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120403

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120528

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120830

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120910

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5087533

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150914

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees