JP4986817B2 - 評価装置、評価方法、プログラム - Google Patents

Description

本発明は、光の照射によって信号の読み出しが行われる光記録媒体からの読み出し信号について評価値を得るための評価装置とその方法に関する。また、本発明の評価装置、評価方法を実現するために信号処理装置において実行されるべきプログラムに関する。

従来、例えばＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などといった光ディスク記録媒体（以下、単に光ディスクとする）の品質評価は、光ディスク上に形成されたピットのエッジ位置のばらつき具合を標準偏差値で表した、いわゆるジッタ（Jitter）という指標を用いて行われていた。具体的には、光ディスクからの読み出し信号のエッジ位置を複数検出した結果に基づき度数分布表を生成し、該度数分布表からエッジ位置についての標準偏差の値を計算するものである。このように計算されるジッタの値は、その値が大きいほどエッジ位置のばらつきが大きいことを表し、逆に値が小さければエッジ位置のばらつきが少ないことを表す。すなわち、ジッタの値が小さいほどエッジ位置のばらつきが少ない良好な光ディスクであると判断することができる。

なお、関連する従来技術については下記特許文献を挙げることができる。
特開２００６−３４４３３８号公報

しかしながら、特にＢＤなどの近年の高密度光ディスクにおいては、製造工程のばらつき等により度数分布の歪みが生じ、また歪みの態様も異なるケースが生じることが明らかになってきた。
図１９（ａ）（ｂ）（ｃ）は、その様子について説明するための図として、同一の測定機（評価装置）による、光ディスクごとの標準偏差測定結果をそれぞれ示している。なお、これらの各図では立ち上がり側のエッジ位置についての標準偏差測定結果（実線）と、立ち下がり側のエッジ位置についての標準偏差測定結果（破線）の双方を示している。

この図１９に示されるように、光ディスクによっては、エッジ位置の度数分布がほぼ正規分布に近いかたちで得られるもの（図１９（ｃ））もあれば、歪んだ形状で得られるものもある（図１９（ａ）、図１９（ｂ））。また、このように生じる歪みの方向としても、光ディスクごとに異なるものとなっていることが確認できる。

また、図２０（ａ）（ｂ）（ｃ）は、同一の光ディスクに対する測定機ごとの標準偏差測定結果を示している。なお、この図２０の各図においても立ち上がり側のエッジ位置についての標準偏差測定結果（実線）と、立ち下がり側のエッジ位置についての標準偏差測定結果（破線）の双方を示している。
この図２０に示す結果より、同じ光ディスクについて測定しても、測定機が異なることによって度数分布の歪みの有無、また歪みの方向も異なる場合があることが理解できる。

このようにして光ディスクの特性の違いや測定機の特性の違いにより、エッジ位置の度数分布の歪みの態様が異なるといった現象が生じる。
度数分布の歪みが大きい場合、信号品質は低いものとなるが、従来の評価値としての標準偏差の値では、このような歪みを表現することはできないものとなる。このため、実際には歪みの大きさに差が生じている場合にも、標準偏差の値としては同値が得られるといったケースも生じ得るものとなっており、この点を考慮すると、標準偏差値を評価指標とする従来手法では、信号品質を適正に評価することができないということになる。

ここで、従来では、光ディスクごとや測定機ごとの特性の違いによる標準偏差値の差を補正するための手法として、測定された標準偏差の値に所要の校正係数を与えるということが行われている。具体的には、測定された標準偏差値をｘ、測定値に与えるべき校正係数の値をｙとしたとき、「ｙ＝ａｘ＋ｂ」という式を用いて校正係数を求めるものである。
しかしながら、この手法は、測定された標準偏差値にのみ注目した校正を行うものであり、上述したような度数分布の歪みを考慮した校正を行うことはできない。具体的には、歪み０の場合を基準として一方の極性（方向）側に歪んだ度数分布が得られる場合と、他方の極性側に歪んだ度数分布となっている場合には、校正係数に大きな差が発生するという現象を解決することができない。

また、一方で、統計学の分野では、度数分布の歪みを表す指標として、以下の式で求まる「歪度」（γ1）が知られている。なお、下記式においてxi：度数分布表における各階級の値、fi：各階級の度数、F：度数の合計、A：加重平均値である。

この歪度γ1は、データが平均の周りに対象に分布していない度合いを示す尺度で、非対称度とも呼ばれ、度数分布の変形度合いを表現することができる。

しかしながら、この歪度γ1は、最終的に標準偏差の値で除算する形式が採られているため、偏差が小さい（良好な）ほど歪度の値が大きく（悪く）なってしまうという問題がある。この点で、歪度γ1は、度数分布の歪みを適正に表現しきれるものとはなっていない。

本発明は以上のような問題点に鑑み、エッジ位置の度数分布の歪みを信号品質評価指標として取り入れ、光記録媒体ごとや測定機ごとの特性の違いに起因して生じる度数分布の歪みをも考慮した適正な信号品質評価が可能となるようにすることを目的とするものである。

本発明の評価装置は、光記録媒体からの読み出し信号についての評価値を得るための評価装置であって、以下の各手段を備える。
すなわち、上記光記録媒体に記録された信号を読み出す読出手段と、上記読出手段によって得られる読み出し信号のエッジ位置を検出するエッジ位置検出手段とを備える。
また、上記エッジ位置検出手段により検出された上記読み出し信号の立ち上がりエッジ位置と立ち下がりエッジ位置の情報を集積した結果に基づき、上記立ち上がりエッジ位置と上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表をそれぞれ生成する度数分布表生成手段を備える。
また、上記度数分布表生成手段により生成された上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表に基づく標準偏差と、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表に基づく標準偏差とを計算する標準偏差計算手段を備える。
また、上記度数分布表生成手段により生成された度数分布表について、各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、

で表されるＴ度としての値を上記立ち上がりエッジ位置と上記立ち下がりエッジ位置の双方について計算する第１の計算手段を備える。
また、上記標準偏差計算手段により計算された上記立ち上がりエッジ位置についての標準偏差の値に対し上記第１の計算手段により計算された上記立ち上がりエッジ位置についてのＴ度の値を乗算し、上記標準偏差計算手段により計算された上記立ち下がりエッジ位置についての標準偏差の値に対し上記第１の計算手段により計算された上記立ち下がりエッジ位置についてのＴ度の値を乗算することで、立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差をそれぞれ計算する共に、これら立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差の値と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差の値との平均値を平均Ｔ偏差として計算する第２の計算手段を備える。
また、上記度数分布表生成手段により生成された上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数をf1i、度数の合計をF1とし、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数をf2i、度数の合計をF2、さらに任意係数ｋとしたとき、

で表されるバランス度としての値を計算するバランス度計算手段を備える。
さらに、上記バランス度計算手段により計算された上記バランス度の値を、上記第２の計算手段によって計算された上記平均Ｔ偏差の値に対して乗算して、バランストＴ偏差としての値を計算する第３の計算手段を備えるものである。

また、本発明では、上記による第１の構成としての評価装置に加え、以下に示す第２の構成としての評価装置を提案する。
すなわち、本発明の第２の構成としての評価装置は、光記録媒体からの読み出し信号についての評価値を得るための評価装置であって、上記光記録媒体に記録された信号を読み出す読出手段と、上記読出手段によって得られる読み出し信号のエッジ位置を検出するエッジ位置検出手段とを備える。
また、上記エッジ位置検出手段により検出された上記エッジ位置の情報を集積した結果に基づき、上記エッジ位置についての度数分布表を生成する度数分布表生成手段を備える。
また、上記度数分布表生成手段により生成された上記度数分布表について、各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、

で表されるＴ度としての値を計算する第１の計算手段を備える。
また、上記度数分布表生成手段により生成された上記度数分布表に基づき標準偏差の値を計算する標準偏差計算手段を備える。
さらに、上記第１の計算手段によって計算されたＴ度の値に基づき上記標準偏差の値を校正するための校正係数を求め、該校正係数を上記標準偏差の値に与えることで上記評価値としての値を計算する校正評価値計算手段を備えるものである。

ここで、上記Ｔ度によれば、(xi−A)の値を奇数乗しているので、度数分布（ヒストグラム）の歪みをその方向も併せて表現することができる。
そして、従来の歪度γ1のように、標準偏差の値を用いて除算するものではないことから、偏差が小さい場合にその値が大きくなるといった問題はなく、この点でより正確に度数分布の歪み度合いを表現することができる。
このように度数分布の歪み度合いを正確に表すことのできるＴ度の値に基づき信号品質評価を行う上記本発明によれば、エッジ位置の度数分布の歪みを適切に考慮した正確な信号品質評価を行うことができる。

本発明によれば、エッジ位置の度数分布の歪み方向や歪み度合いを正しく表現できるＴ度としての値を算出することで、光記録媒体ごとや測定機ごとの特性の違いに起因して生じるエッジ位置の度数分布の歪みを考慮した適正な信号品質評価を行うことができる。

以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
＜第１の実施の形態＞
[評価装置の全体構成]
図１は、本発明の実施の形態の評価装置としての、評価装置１の内部構成を示したブロック図である。
図１において、本実施の形態の評価装置１は、光の照射によって信号の読み出しが行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などの光ディスク記録媒体（以下、単に光ディスクとする）についての信号読み出しが可能に構成される。評価装置１が対応する図中の光ディスクＤとしては、例えばＢＤである場合を例示する。ＢＤに対しては、レーザ光の波長λ＝４０５nm、対物レンズの開口数NA＝0.85により信号の読み出しが行われる。

図１において、光ディスクＤは、評価装置１に装填されると図示しないターンテーブルに積載され、スピンドルモータ（ＳＰＭ）２によって例えば一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして、このように回転駆動される光ディスクＤに対し、光ピックアップ（ＯＰ）３による信号の読み出しが行われる。
図示は省略するが、光ピックアップ３内には、レーザ光源となるレーザダイオードや、反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系等が形成される。
また、光ピックアップ３内において、上記対物レンズは２軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。また光ピックアップ３はスレッド機構により光ディスクＤの半径方向に移動可能とされている。

光ディスクＤからの反射光情報は上記フォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてマトリクス回路４に供給される。
マトリクス回路４には、フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データに相当するＲＦ信号（再生データ信号）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成する。また、グルーブのウォブリングに係る信号、即ちウォブリングを検出する信号としてプッシュプル信号を生成することもできる。
図示は省略したが、上記フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号は、図示されないサーボ回路に供給され、サーボ回路がこれらエラー信号などに基づき上述した光ピックアップ３内の２軸機構を駆動制御することで、フォーカスサーボ制御やトラッキングサーボ制御などの各種サーボ制御が実現される。

マトリクス回路４から出力される再生データ信号（ＲＦ信号）は波形等化回路５に供給されて所定の波形等化処理が施された後、２値化回路６、クロック生成回路７にそれぞれ供給される。

２値化回路６は、上記再生データ信号の２値化処理を行い、これにより得られる２値化信号をエッジ位置検出回路８に対して供給する。
また、上記クロック生成回路７は、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行って再生クロックを生成し、該再生クロックをエッジ位置検出回路８に供給する。

エッジ位置検出回路８は、上記２値化信号のエッジ位置を検出する。この場合、エッジ位置検出回路８では、２値化信号の立ち上がりエッジ位置と立ち下がりエッジ位置とを個別に検出する。検出した立ち上がりエッジ位置の情報、及び立ち下がりエッジ位置の情報は、それぞれ評価値演算部１０に対して供給される。
なお、確認のために述べておくと、上記エッジ位置の情報は、再生クロックの１クロック区間内における２値化信号のエッジ位置を表す情報となる。

評価値演算部１０は、後述する実施の形態としての演算動作を行って、光ディスクＤからの読み出し信号についての品質評価指標となる評価値Ｅｖを算出する。この場合、評価値演算部１０はＤＳＰ（Digital Signal Processor）で構成され、上記評価値Ｅｖを算出するための演算動作は、当該ＤＳＰに対するプログラミングによって実現される。
具体的に、本例の場合、ＤＳＰとしての評価値演算部１０による演算動作は、当該評価値演算部１０が、メモリ９内に格納された評価値演算プログラム９ａに基づくデジタル信号処理を行うことで実現される。

[従来の評価値の問題点]
ここで、先にも述べたように、従来において光ディスクＤからの読み出し信号の品質評価指標としては、信号エッジ位置の標準偏差（σ）を計算するようにされていた。
確認のために、標準偏差σは、度数分布表における各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、次の[式１]で求められるものである。なお、加重平均値Aは、階級ごとに階級の値xiと度数fiを乗算し、その結果を合算した値を度数の合計Fによって除算したものである。

しかしながら、このような標準偏差σによっては、光ディスクＤごとや各測定機ごと（各評価装置１ごと）の特性の違いによって生じる、エッジ位置の度数分布の歪みを表現することはできない。
そこで、第１の実施の形態では、このような度数分布の歪みを考慮したより適正な信号品質評価指標を得ることができるようにするために、従来にはない、新たな評価指標を提案する。

[第１の実施の形態の第１例]

第１の実施の形態では、このような新たな評価指標として、Ｔ偏差としての評価指標を提案する。
ここで、先にも説明したように、度数分布の歪みを表現するものとしては、統計学において歪度γ1なる指標が知られている。しかしながら、この歪度γ1は、最終的に標準偏差σの値を用いた除算が行われる関係から、偏差が小さいほど歪度の値が大きくなってしまうといった問題がある。

そこで本例では、歪み度合いを表現する新たな指標として、Ｔ度なる指標を提案する。本例において、このＴ度としては、次の[式２]で表されるＴ度τを計算する。

このＴ度τによれば、（xi−A）の値を３乗（奇数乗）しているので、度数分布（ヒストグラム）の歪みをその方向も併せて表現することができる。
なお且つ、値を元のディメンジョンに戻すにあたっては、上述した歪度γ1のように３乗値を標準偏差σの３乗値で除算するものとはせず、３乗値を１／３乗するものとしているので、歪度γ1のように偏差が小さい場合にその値が大きくなるといったことはなく、この点でより正確に歪み度合いを表現できる評価指標を実現できる。

このＴ度τの値は、単体でも度数分布の歪み具合（ヒストグラムの倒れ具合）をその方向も含めて表現する評価指標として用いることができるが、この場合、エッジ位置についての評価指標としては、エッジ位置の分布具合も表現できるようにする。
このため本例では、Ｔ度τの値に対して、標準偏差σの値を乗算することで、度数分布の歪み具合（及び歪み方向）と共に、度数の分布具合も表現することのできる評価指標を実現する。すなわち、このような評価指標を、

Ｔ偏差 ： τ×σ

として新たに提案する。
第１の実施の形態の第１例では、上記Ｔ偏差の値を光ディスクＤからの読み出し信号品質を評価するための評価値Ｅｖとして計算する。

[Ｔ偏差計算のための構成]

図２は、上記Ｔ偏差の値を計算するための構成について説明するための図として、図１に示した評価値演算部１０により実現される各機能動作をブロック化して示している。すなわち、図１に示した評価値演算プログラム９ａに基づき、ＤＳＰとしての評価値演算部１０が実行するデジタル信号処理により実現される各機能動作を、ブロック化して示すものである。
なお、以下では説明の便宜上、各機能ブロックをそれぞれの機能動作を実行するハードウエアとして扱う。また、図２においては、図１に示したエッジ位置検出回路８も併せて示している。

図２において、評価値演算部１０には、立ち上がりエッジ度数分布表生成部１１Ａ、立ち下がりエッジ度数分布表生成部１１Ｂ、立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａ、立ち下がり側標準偏差計算部１２Ｂ、立ち上がり側Ｔ度計算部１３Ａ、立ち下がり側Ｔ度計算部１３Ｂ、立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ａ、立ち下がり側Ｔ偏差計算部１４Ｂ、及びＴ偏差平均値計算部１５が備えられる。

ここで、実施の形態では、先の図１において説明したように、立ち上がりエッジ位置と立ち下がりエッジ位置とを個別に検出するものとしている。これに対応させて、最終的に評価値Ｅｖとして求めるＴ偏差については、立ち上がりエッジ側と立ち下がりエッジ側でそれぞれ独立して計算された値の絶対値の平均値を求める。

図２において、立ち上がりエッジ度数分布表生成部１１Ａは、図１にも示したエッジ位置検出回路８にて逐次検出され供給される２値化信号の立ち上がりエッジの情報を集積し、その集積結果に基づき立ち上がりエッジ位置についての度数分布表（階級ごとにその度数を表す）を生成する。

立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａは、上記立ち上がりエッジ度数分布表生成部１１Ａにより生成された度数分布表に基づき先の[式１]による計算を行うことで、立ち上がりエッジ位置についての標準偏差σを計算する。なお、この立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａにて計算される標準偏差σは、立ち下がり側標準偏差計算部１２Ｂにて計算される標準偏差σの値と区別するために「σ1」と表記する。

立ち上がり側Ｔ度計算部１３Ａは、立ち上がりエッジ度数分布表生成部１１Ａにより生成された度数分布表に基づき先の[式２]による計算を行うことで、立ち上がりエッジ位置についてのＴ度τ（τ1と表記）を計算する。

立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ａは、上記立ち上がり側Ｔ度計算部１３Ａによって計算された立ち上がりエッジ位置についてのＴ度τ1の値に対し、上述した立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａによって計算された立ち上がりエッジ位置についての標準偏差σ1の値を乗算して、立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差の値を計算する。

一方、立ち下がりエッジ側について、立ち下がりエッジ度数分布表生成部１１Ｂは、上記エッジ位置検出回路８にて逐次検出され供給される２値化信号の立ち下がりエッジの情報を集積し、その集積結果に基づき立ち下がりエッジ位置についての度数分布表を生成する。

立ち下がり側標準偏差計算部１２Ｂは、上記立ち下がりエッジ度数分布表生成部１１Ｂにより生成された度数分布表に基づき先の[式１]による計算を行うことで、立ち下がりエッジ位置についての標準偏差σ（σ2と表記）を計算する。

また、立ち下がり側Ｔ度計算部１３Ｂは、立ち下がりエッジ度数分布表生成部１１Ｂにより生成された度数分布表に基づき先の[式２]による計算を行うことで、立ち下がりエッジ位置についてのＴ度τ（τ2と表記）を計算する。

立ち下がり側Ｔ偏差計算部１４Ｂは、上記立ち下がり側Ｔ度計算部１３Ｂによって計算された立ち下がりエッジ位置についてのＴ度τ2の値に対し、上述した立ち下がり側標準偏差計算部１２Ｂによって計算された立ち下がりエッジ位置についての標準偏差σ2の値を乗算して、立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差の値を計算する。

Ｔ偏差平均値計算部１５は、立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ａと立ち下がり側Ｔ偏差計算部１４Ｂによってそれぞれ計算されたＴ偏差の絶対値を平均することで、平均Ｔ偏差の値を計算する。
この平均Ｔ偏差の値が、評価値Ｅｖとして出力される。

［第１の実施の形態の第２例］

上記により説明した第１の実施の形態の第１例では、立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差の絶対値の平均を評価値Ｅｖとして算出するものとしたが、さらに評価値としての感度を向上させるため、第１の実施の形態の第２例では、立ち上がりエッジ側と立ち下がりエッジ側のヒストグラム形状の同一性も含めた評価を行うことができるようにする。
このために、第２例では、先ずは次の[式３]により、このようなヒストグラム形状の同一性を評価するためのバランス度βを計算する。但し、[式３]において、f1i、F1は、それぞれ立ち上がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数、度数の合計を表し、f2i、F2は立ち下がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数、度数の合計を表す。また、ｋは任意係数である。

このバランス度βによれば、立ち上がりエッジ位置についてのヒストグラムと立ち下がりエッジ位置についてのヒストグラムの形状について、それらが一致していないほど大きな値をとり、一致しているほど小さな値をとる評価指標を実現できる。すなわち、これによって各ヒストグラム形状の同一性について評価することができる。

そして、第２例では、このような各ヒストグラム形状の同一性も含めた信号品質の評価を行うことができるようにするために、バランス度βの値を、Ｔ偏差の値に対して乗算して、バランストＴ偏差なる評価値を計算する。すなわち、

バランストＴ偏差 ：Ｔ偏差×β＝σ×τ×β

である。

このようにＴ偏差の値に対してバランス度βを乗算すれば、Ｔ偏差の値に対し、各ヒストグラム形状にずれが生じるほどその値が大きくなる（悪化する）ように重み付けを行うことができる。すなわち、このようなバランストＴ偏差により、各ヒストグラム形状の同一性も含めたより適正な信号品質評価指標を得ることができる。

[バランストＴ偏差計算のための構成]

図３は、第１の実施の形態の第２例としての動作を実現するための構成について説明するための図として、第２例としての評価装置１が備える評価値演算部２０（ＤＳＰ）のデジタル信号処理によって実現される各機能動作を、先の図２の場合と同様にブロック化して示している。
なお、本例において、評価装置１の全体構成は先の図１に示したものと同様となるので改めての説明は省略する。この場合は、評価値演算部１０に代えて評価値演算部２０が備えられる。また、この場合はバランストＴ偏差の計算動作を評価値演算部２０のデジタル信号処理によって実行させるため、メモリ９内には、先の第１例で説明した評価値演算プログラム９ａに代えて評価値演算プログラム９ｂが格納される。

先ず、第２例の評価値演算部２０において、Ｔ偏差を計算するための構成（Ｔ偏差平均値計算部１５までの構成）は先の図２にて説明したものと同様となるので改めての説明は省略する。
この場合は、立ち上がりエッジ度数分布表生成部１１Ａにて生成された立ち上がりエッジ位置についての度数分布表と、立ち下がりエッジ度数分布表生成部１１Ｂにて生成された立ち下がりエッジ位置についての度数分布表とに基づいてバランス度βを計算する、バランス度計算部２１が追加される。具体的に、このバランス度計算部２１では、上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数f1i、度数の合計F1の情報と、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数f2i、度数F2の情報とに基づき、先の［式３］に示した計算を行ってバランス度βを算出する。
そして、このバランス度計算部２１により計算されたバランス度βの値を、Ｔ偏差平均値計算部１５で計算された平均Ｔ偏差の値に対して乗算してバランストＴ偏差としての値を計算するバランストＴ偏差計算部２２が設けられる。第２例の場合、当該バランストＴ偏差計算部２２にて計算されたバランストＴ偏差の値が、評価値Ｅｖとして出力される。

［実際の評価結果］

図４、図５は、第１の実施の形態の第１例、第２例の評価値を用いて実際に評価を行った結果について説明するための図である。図４（ａ）は、同一の光ディスクＤを用いた各測定機（各評価装置１）の評価結果を示し、図５（ａ）は同一測定機による光ディスクＤごとの評価結果を示している。これらの図において、（ｂ）〜（ｅ）図は、（ａ）図における丸印を打ったポイント（測定機または光ディスクＤ）での立ち上がりエッジ位置についての度数分布（実線）と立ち下がりエッジ位置についての度数分布（破線）を示す。
図４（ａ）においては、測定機（Ｍ０１〜Ｍ２０）ごとのＴ偏差（白抜き三角）、バランストＴ偏差（白抜き丸）、及びバランス度（白抜き四角）の計算結果を示し、図５（ａ）ではそれぞれ異なる光ディスクＤ（Ｄ０１〜Ｄ０７）についてのＴ偏差（白抜き三角）、バランストＴ偏差（白抜き丸）、及びバランス度（白抜き四角）の計算結果を示している。また、これらの図では比較のため、標準偏差の計算結果（黒丸）も併せて示している。

先ず、Ｔ偏差について着目してみると、図４（ａ）における測定機Ｍ０８，測定機Ｍ０９での測定結果では、標準偏差の値は大きく低下（良好）傾向となっているのに対し、Ｔ偏差の値としてはほぼ横ばいとなっていることが確認できる。また、図５（ａ）のディスクＤ０６についての測定結果を見てみると、標準偏差の値は低下傾向となっているのに対し、Ｔ偏差の値は上昇傾向となっていることが確認できる。
実際に、図４の測定機Ｍ０８、測定機Ｍ０９で得られたヒストグラム形状（図４（ｂ）、図４（ｃ））を参照してみると、比較的大きな歪み（特に立ち下がりエッジ側）が生じていることが示されている。従って、このことからも、Ｔ偏差によっては、度数分布の歪みも考慮したより適正な信号品質評価を行うことができるということが理解できる。

また、バランストＴ偏差について注目してみると、図４の測定機Ｍ０９と測定機Ｍ１７では、標準偏差の値が低下傾向となっているのに対し、バランストＴ偏差の値は上昇傾向となっていることが確認できる。特に、測定機Ｍ０９では、標準偏差の値と大きな差が生じている。この測定機Ｍ０９で得られたヒストグラム形状を示す図４（ｃ）を参照してみると、立ち上がりエッジ側と立ち下がりエッジ側とでヒストグラム形状に大きな差が生じていることが確認できる。

また、図５において、ディスクＤ０１、ディスクＤ０４についてみると、図５（ｂ）、図５（ｄ）に示されるように、これらの光ディスクＤについては特に立ち下がりエッジ側のヒストグラム形状が潰れており、標準偏差の値が大きくなることが予想されるが、図５（ａ）を参照すると、これらディスクＤ０１,Ｄ０４については、標準偏差の値よりもバランストＴ偏差の値の方がより上昇傾向となっていることが確認できる。

これらの点から、バランストＴ偏差によれば、立ち上がりエッジ側と立ち下がりエッジ側のヒストグラム形状の同一性も含めたより適正な信号品質評価が可能な評価指標が実現されていることが理解できる。

また、図４（ｄ）、図４（ｅ）に示されるように度数分布の歪みが少なく且つ立ち上がり側と立ち下がり側のヒストグラム形状もほぼ一致している測定機Ｍ１１、測定機Ｍ１８でのバランストＴ偏差の値と、度数分布に大きな歪みが生じて立ち上がり側と立ち下がり側のヒストグラム形状に大きな差が生じている測定機Ｍ０９でのバランストＴ偏差の値との差が、同じ比較での標準偏差の値の差に対して大きくなっている点や、図５において、図５（ｃ）、図５（ｅ）に示されるように度数分布の歪みが少なく且つ立ち上がり側と立ち下がり側のヒストグラム形状もほぼ一致しているディスクＤ０２、ディスクＤ０５でのバランストＴ偏差の値と、度数分布に大きな歪みが生じ立ち上がり側と立ち下がり側のヒストグラム形状に大きな差が生じているディスクＤ０４でのバランストＴ偏差の値との差が同じ比較での標準偏差の値の差に対して大きくなっているという点からすると、バランストＴ偏差の値は、標準偏差の値よりも評価値としての感度が向上したものとなっていることが理解できる。
このように評価値としての感度の向上が図られることで、従来の標準偏差によって評価を行っていた場合よりもさらに厳密な評価を行うことができ、光ディスクＤの品質管理の感度についても向上が図られる。

[評価値の用途]

ここで、第１の実施の形態の評価装置１で算出された評価値Ｅｖは、例えばスタンパ等を用いてピット形状を転写して生成される読み出し専用のＲＯＭディスクとしての光ディスクＤの品質管理を行うための評価指標として用いることができる。すなわち、図５に示されるようにして測定機ごとにそれぞれ異なる光ディスクＤについて評価値Ｅｖを算出し、該評価値Ｅｖが所定の閾値以下となるか否かを判定することで、基準となる品質を満たす光ディスクＤであるか否かを判定するものである。

或いは、評価値Ｅｖは、基準となる測定機（基準機）に対する、他の個々の測定機のばらつき度合いを表す指標として用いることもできる。つまりその場合は、先の図４のように同一の光ディスクＤを用いて、各測定機（評価装置１）で評価値Ｅｖを計算する。そして、基準機としての評価装置１で計算された評価値Ｅｖに対する、他の評価装置１で計算されたそれぞれの評価値Ｅｖの値のばらつきを調べるというものである。
これにより、測定機ごとの特性の違いに起因して生じる、各測定機ごとの基準機に対する評価値Ｅｖの計算誤差の値を把握することができ、その結果に応じて、各測定機での評価誤差を抑制するための対策を講じることができる。具体的には、評価値Ｅｖに対して校正値を与えるとした場合には、その校正値を決定することができる。また、校正そのものが必要であるか否かの判断も行うことができる。

或いは、評価値Ｅｖは、測定機ごとの特性のばらつきそのものを改善する用途にも用いることができる。例えば、同一ディスクについて計算される評価値Ｅｖの値がほぼ同値となる光学ユニット（例えば光ピックアップ３全体）を選別しておき、各測定機には、このように選別された光学ユニットを実装させる。
または、光学ユニットを構成する個々の部品を逐次交換しながらその都度評価値Ｅｖを計算させ、その結果から、測定機ごとのバラツキの原因となる部品を特定するといったこともできる。その原因部品について解析を行うことで、バラツキの要因を特定することができ、その結果に基づき改善した部品を実装させることで、各測定機のバラツキを防止し、計算誤差の防止を図ることができる。

＜第２の実施の形態＞

第２の実施の形態は、第１の実施の形態のように新たな評価指標を提案するといったものではなく、評価指標としては従来と同様の標準偏差σを用いるものとするが、この標準偏差σの値に対し、度数分布の歪みの影響を加味した校正係数を与えることで、より適正な評価が行われるように図るものである。
なお、第２の実施の形態において、評価装置１の全体構成は先の図１に示したものと同様となるので改めての説明は省略する。
また、確認のために述べておくと、このような第２の実施の形態としての標準偏差σを用いる評価手法では、立ち上がりエッジ側と立ち下がり側の評価をそれぞれ独立して行うものとなる。すなわち、評価値Ｅｖとしては立ち上がり側の評価値Ｅｖ(Ｅｖ-1とする)と、立ち下がり側の評価値Ｅｖ(Ｅｖ-2)とを個別に求める。

[第１例]

第２の実施の形態の第１例は、先の[式２]で計算されるＴ度τの符号に応じて、標準偏差σに与えるべき校正係数を切り替えるものである。
ここで、本出願人は、基準機と各測定機とでそれぞれ同じ光ディスクＤについて計算される標準偏差、及びＴ度について実験を行った結果、これら標準偏差とＴ度とに次のような相関があることを突き止めるに至った。すなわち、同じ光ディスクＤについて基準機と他の測定機とで標準偏差の値を計算した結果、測定機で計算された標準偏差の値が基準機で計算された標準偏差の値よりも小さい場合には、その光ディスクＤについて計算されるＴ度の値の符号（極性）が概ね[−]（マイナス）となり、逆に基準機よりも大きな標準偏差の値が得られる光ディスクＤについては、Ｔ度の値の符号が概ね[＋]になる、というものである。

図６は、このような標準偏差とＴ度との相関を表す実験結果を示す図として、それぞれ同じ光ディスクＤ（Ｄ０１〜Ｄ２７）について、基準機と他の測定機で計算された標準偏差σの計算結果を示している。図６において、太線による実線が基準機での計算結果を示し、他の測定機による計算結果はそれぞれ細線による実線で示している。

ここで、実施の形態におけるＴ度τは、度数分布表の各階級の値xiと加重平均値Aとの差の３乗（奇数乗）成分を含むため、符号を有するものとなる。図６では、視覚的にＴ度τと標準偏差σとの相関性が明示できるように、Ｔ度τの符号が[−]となる光ディスクＤについての標準偏差σの計算結果を、図中の左側に寄せてグルーピングして示している。

この図６からも明らかなように、それぞれ同じ光ディスクＤについて基準機と各測定機とで標準偏差σの計算を行った結果、基準機で計算される標準偏差σの値よりも小さな標準偏差σの値が得られる光ディスクＤについては、Ｔ度τの符号は概ね[−]となり、逆に基準機で計算される標準偏差σの値よりも大きな標準偏差σの値が得られる光ディスクＤについては、Ｔ度τの符号が概ね[＋]となることがわかる。
これは、Ｔ度τを基準として考えた場合、計算されたＴ度τの符号が[−]であれば標準偏差σの値は基準機での標準偏差σの値よりも小さく、逆にＴ度τの符号が[＋]であれば標準偏差σの値は基準機での標準偏差σの値よりも概ね大きくなる、ということを意味している。

ここで、先にも述べたように従来では、標準偏差値をｘ、校正係数をｙとして、ｙ＝ａｘ＋ｂによる一次式で校正係数を求め、これを標準偏差値に与えることで校正を行っていたが、図６に示す結果は、このような標準偏差値ｘに応じた校正係数ｙを求める従来手法では適正な校正を行うことができないことを示唆している。すなわち、この従来手法では、歪みについては全く考慮が為されていないため、Ｔ度τの符号（つまり度数分布の歪み方向）が一方のときには比較的適正な校正が可能となるが、他方の符号の場合には、校正によってさらに差を広げてしまうものとなり、結果として、適正な校正を行うことができなくなってしまう。

そこで、第２の実施の形態の第１例では、次の図７に示されるようにして、計算されるＴ度τの極性に応じて、標準偏差σの値に与えるべき校正係数を切り替えるという手法を採る。
具体的には、図７中の実線で示すように、Ｔ度τの極性が[−]の場合には、校正係数としては１．０より大きな値（第１係数とする）を選択し、逆にＴ度τの極性が[＋]である場合には、校正係数として１．０より小さな値（第２係数）を選択する。
なお、この図では確認のために、従来手法によって与えられる校正係数を一点鎖線により示している。

この図７に示す手法とすることで、基準機よりも小さな標準偏差σの値が得られると推測される場合には１．０より大きな校正係数を与えることができ、また基準機よりも大きな標準偏差σの値が得られると推測される場合には１．０より小さな校正係数を与えることができる。この結果、従来手法とする場合よりも適正な校正を行うことができる。すなわち、基準機に対する評価誤差を効果的に抑制し、複数の評価装置１を用いた光ディスクＤの評価をより適正に行うことができる。

[Ｔ度の極性に応じた校正を行うための構成]

図８は、上記により説明したＴ度τの極性に応じた校正を行うための構成について説明するための図として、第２の実施の形態の第１例としての評価装置１が備える評価値演算部２５（ＤＳＰ）のデジタル信号処理によって実現される各機能動作を、先の図２の場合と同様にブロック化して示した図である。
なお、この場合、メモリ９内には、本例としての校正動作を実現するための評価値演算プログラム９ｃが格納され、評価値演算部２５は、この評価値演算プログラム９ｃに基づくデジタル信号処理により図中の各機能ブロックにより示される機能動作を実現する。

この図８に示されるように、評価値演算部２５において、Ｔ度τ（τ1・τ2の平均値）、及び標準偏差σ（σ1・σ2の平均値）の計算のための構成は、先の図２に示した評価値演算部１０の場合と同様となる。
この場合は、Ｔ偏差計算のための構成（１４Ａ,１４Ｂ,１５）は省略され、立ち上がり側Ｔ度計算部１３Ａ、立ち下がり側Ｔ度計算部１３Ｂにより計算されるＴ度τ1、τ2について、それぞれ極性判定を行う立ち上がり側極性判定部２６Ａ,立ち下がり側極性判定部２６Ｂとしての機能ブロックが設けられる。また、上記立ち上がり側極性判定部２６Ａ,立ち下がり側極性判定部２６Ｂによる極性判定結果に基づき、第１係数と第２係数を択一的に選択する立ち上がり側係数選択部２７Ａ,立ち下がり側係数選択部２７Ｂと、立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａ,立ち下がり側標準偏差計算部１２Ｂにより計算された標準偏差σ1、σ2の値に対し、立ち上がり側、立ち上がり側ごとに校正係数を与える乗算部２８Ａ,乗算部２８Ｂとしての機能ブロックが設けられる。
なお、図８において、立ち上がり側と立ち下がり側での処理内容は同様となるので、ここでは代表して立ち上がり側の各部の動作のみについて説明を行い、立ち下がり側の各部の動作については説明を省略する。立ち下がり側については、以下の説明における「立ち上がり」を「立ち下がり」に置き換えて考えればよい。

上記立ち上がり側極性判定部２６Ａは、上記立ち上がり側Ｔ度計算部１３Ａによって計算されたＴ度τ1の値の極性（符号）の別を判定する。
また、上記立ち上がり側係数選択部２７Ａは、上記立ち上がり側極性判定部２６Ａによる判定結果に基づき、校正係数として、第１係数と第２係数のうち何れかを選択する。具体的に、立ち上がり側極性判定部２６Ａの判定結果が極性[−]を表すものである場合は第１係数（１．０より大）を選択し、極性[＋]を示すものである場合は第２係数（１．０より小）を選択する。
立ち上がり側乗算部２８Ａは、上記立ち上がり側係数選択部２７Ａによって選択された校正係数を立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａによって計算された標準偏差σ1の値に対して乗算し、その結果を評価値Ｅｖ-1として出力する。
これによって、Ｔ度τの極性に応じて、標準偏差σの値を適正に校正した評価値Ｅｖを得ることができる。

[実験結果]

図９は、このような第２の実施の形態の第１例による校正結果として、Ｔ度の極性を利用した校正結果を示している。この図９では、それぞれ同じ光ディスクＤ（Ｄ０１〜Ｄ２７）について各測定機で得られる校正後の標準偏差σの値を示している（図中細線の実線）。なおこの場合、基準機（太線の実線）については校正が行われないことは言うまでもない。
また、この図においても先の図６と同様に、Ｔ度τの符号が[−]となる光ディスクＤについての結果はグルーピングして示してある。

この図９に示す結果と、先の図６に示した結果とを比較してわかるように、本例の校正を行うことで、基準機で得られる評価値と各測定機で得られる評価値との差を適正に校正することができるものとなる。

なお、本例では、Ｔ度τの極性が[−]の場合には、校正係数として１．０より大きな値を選択し、極性が[＋]である場合には校正係数として１．０より小さな値を選択するとしたが、基準機の選び方によっては、この逆の係数を選択する場合もあることは明らかである。また、極性により、選択する係数は、必ずしも１．０を境界にする必要はなく、選択する係数が１．２と１．１などのように、両方とも１．１より大きい場合や、逆に両方とも小さい場合もありえることも明らかである。

[第２例]

第２の実施の形態の第２例は、先の第１例のように２種の校正係数から１種を択一的に選択するものとはせず、σ×τで表されるＴ偏差と、校正係数との相関関係を表す関数を求め、該関数と、上記Ｔ偏差の値とによって一意に定まる校正係数を用いて、標準偏差σの値を校正するものである。
特に第２例においては、上記関数として、Ｔ偏差の値をｘ、校正係数をｙとしたときに、「ｙ＝ａｘ＋ｂ」で表される一次関数を用いて校正係数を求めるという手法を採る。

ここで、本出願人は、Ｔ偏差の値と標準偏差σの値とについて、それらの相関関係を調査するための実験を行った。その結果を次の図１０に示す。
この図１０では、横軸にＴ偏差、縦軸に標準偏差σをとり、各光ディスクＤについて計算されたＴ偏差の値と標準偏差σの値との関係を、基準機（Ｍ０１）、及びその他の各測定機（Ｍ０２〜Ｍ１６）についてそれぞれ示している。基準機、及び個々の測定機の別は、プロット点のマークの別により表している。

この図１０に示す結果より、各測定機において、標準偏差σの値はＴ偏差の値に対し二次関数で近似できることが判明した。図１０では一例として、基準機Ｍ０１についての二次近似結果を実線により、また測定機Ｍ１６についての二次近似結果を破線によりそれぞれ示している。
また、これら基準機Ｍ０１、測定機Ｍ１６の二次近似結果からも理解されるように、二次近似して得られる二次曲線は、各測定機ごとに異なることも判明した。

ここで、Ｔ偏差の値は、σ×τで表されることからも理解されるように、歪みに関するＴ度τの値と相関性を有するものとなる。また同時に、標準偏差σの値にも相関性を有するものとなる。
このように標準偏差σの値と相関性を有することから、上記のようにして測定機ごとにＴ偏差の値と標準偏差σの値との相関関係を二次近似して表すことができるという点については理解できる。
一方で、測定機ごとに二次曲線が一致しないのは、測定機ごとの特性の違いに由来して、測定機ごとに度数分布の歪み態様が異なる点に起因するものと考えられる。

但し、図１０に示す実験結果を参照してみると、それぞれの二次曲線の形状は概ね相似なものとなっており、このことからも、それぞれの二次曲線は何らかの相関関係を有しているということが予測できる。具体的に、これらの二次曲線について、縦軸（標準偏差σ）の値の差（比）について注目してみると、Ｔ偏差の値に対し、標準偏差σの値の差（比）は何らかの相関性をもって変化していることが覗える。

この図１０に示した結果を踏まえ本出願人は、基準機で計算される標準偏差σの値と測定機で計算される標準偏差σの値の比の値と、測定機にて計算されるＴ偏差の値との相関関係を表す関数の導出を試みるものとした。
ここで、確認のために述べておくと、基準機で計算される標準偏差σと測定機で計算される標準偏差σとの比（基準機／測定機）の値は、校正係数に相当するものである。従って、このような基準機の標準偏差σと測定機の標準偏差σの比率が、Ｔ偏差の値に対して相関性を以て変化するものであるとすれば、その相関関係を表す関数を求めることで、該関数とＴ偏差の値とを用いて適正な校正係数を求めることができることになる。

図１１は、このようなＴ偏差の値と標準偏差の比率（標準偏差比）の値との相関関係を表す関数導出のために行った実験結果として、基準機の標準偏差σの値と各測定機の標準偏差σの値の比率（基準機Ｍ０１／測定機）を、測定機のＴ偏差の値ごとに算出した結果を示している。
なお、この図１１においても、基準機、及び個々の測定機の別はプロット点のマークの別により表している。なおこの場合、基準機についての結果は「１」で一定となることは言うまでもない（図中実線）。

この図１１に破線で示すように、基準機と測定機の標準偏差比（つまり校正係数）の値は、測定機のＴ偏差の値に対して一次関数で近似できることが判明した。すなわち、このことから校正係数は、測定機のＴ偏差の値をｘ、校正係数をｙとしたときに、「ｙ＝ａｘ＋ｂ」で表される一次関数を用いて求めることができる。

図１２は、このような一次関数を用いて校正係数を求める、第２の実施の形態の第２例としての校正動作について説明するための図である。
この図において、横軸（ｘ）はＴ偏差、縦軸（ｙ）は校正係数（標準偏差比）である。
また、この図１２においても比較のため、従来の校正係数を一点鎖線により示している。

先ず、上記一次関数を求めるにあたっては、実測値として、最低２点の測定値が必要である。すなわち、上記一次関数における傾き値ａ（ゲインａ）と、オフセットｂとを求めるにあたって、２つの座標点となるべき２点の測定値が必要となる。

ここで、上記一次関数において、ｙの値は基準機と測定機の標準偏差比である。従って、上記２つの座標点を得るにあたっては、基準機側と測定機側の双方において、それぞれＴ偏差の値が異なる２つの光ディスクＤ（それぞれＤ-A,Ｄ-Bとする）について標準偏差σの値をそれぞれ計算しておく必要がある。

このとき、上記光ディスクＤ-A、光ディスクＤ-Bについては、予めエッジ位置についての度数分布の歪みが大きなものとなる光ディスクＤを選定しておくものとする。具体的に、一方の光ディスクＤ-Aとしては、Ｔ偏差の値が[−]方向に大きな光ディスクＤを選定しておき、光ディスクＤ-Bについては逆にＴ偏差の値が[＋]方向に大きな光ディスクＤを選定しておく。
なお、これら光ディスクＤ-A,Ｄ-Bは、校正を行うにあたっての関数導出用に用いられるものであることから、以下、校正用ディスクと呼ぶこととする。光ディスクＤ-Aについては−側校正用ディスク（又は単に校正用ディスクＡ）、光ディスクＤ-Bについては＋側校正用ディスク（校正用ディスクＢ）とする。

基準機側では、これら校正用ディスクＡ、校正用ディスクＢのそれぞれについて標準偏差σの値を計算する。このように基準機側で計算される、校正用ディスクＡについての標準偏差σは標準偏差σ-Ar、校正用ディスクＢについての標準偏差σは標準偏差σ-Brとする。

一方、個々の測定機側では、先ずは同じ校正用ディスクＡ,校正用ディスクＢを用いて標準偏差σの値をそれぞれ計算する（σ-As,σ-Bsとする）。
また、各測定機では、校正用ディスクＡ、校正用ディスクＢについて、Ｔ偏差の値も計算する。校正用ディスクＡについて計算されたＴ偏差はＴ偏差Ｔ-As、校正用ディスクＢについて計算されたＴ偏差はＴ偏差Ｔ-Bsとする。
その上で、上述のようにして基準機で校正用ディスクＡについて計算された標準偏差σ-Arと、上記のように計算した標準偏差σ-Asとを用いて、標準偏差σ-Ar／標準偏差σ-Asを計算する。これにより、Ｔ偏差Ｔ-Asのときの標準偏差比（σ-Ar／σ-As）が求まる。すなわち、ｘ座標＝Ｔ-As、ｙ座標＝σ-Ar／σ-Asによる１点目の座標が求まる。
同様に、基準機で校正用ディスクＢについて計算された標準偏差σ-Brと、校正用ディスクＢについて計算した標準偏差σ-Bsとを用いて、標準偏差σ-Br／標準偏差σ-Bsを計算し、これによってｘ座標＝Ｔ-Bs、ｙ座標＝σ-Br／σ-Bsによる２点目の座標を求める。

このようにして２つの座標点を求めた上で、それらを通る直線の式（一次関数）を求める。
すなわち、

σ-Ar／σ-As＝ａ×Ｔ-As＋ｂ
σ-Br／σ-Bs＝ａ×Ｔ-Bs＋ｂ

による連立方程式を解くことで、ｙ＝ａｘ＋ｂのゲインａとオフセットｂを求める。

以上のような計算により、各測定機においてＴ偏差と校正係数との相関関係を表す一次関数を求める。その上で、各測定機では、実際の評価対象としての光ディスクＤについて評価値Ｅｖの計算を行う。
具体的には、先ずは標準偏差σの値を計算する。また、これと共に、Ｔ偏差を計算し、該Ｔ偏差の値を一次関数におけるｘの値として代入してこれを解くことで、ｙの値としての校正係数を求める。その上で、求められた校正係数を上記標準偏差σの値に乗算することで、最終的な評価値Ｅｖを計算する。

このような第２の実施の形態の第２例としての校正動作によれば、先の第１例の校正動作のように校正係数を２種で切り替えるとした場合と比較して、Ｔ偏差の値（度数分布の歪み方向・歪み具合）に応じてより詳細に校正係数を選択することができ、この点で、より適正な校正を行うことができる。
また、測定機ごとに一次関数を求めているので、測定機ごとに基準機との関係を表す適正な一次関数を求めることができ、この結果、校正をより適正に行うことができる。

[一次関数を用いた校正を行うための構成]

図１３、図１４は、上記により説明した第２例としての校正動作を実現するための構成について説明するための図として、第２の実施の形態の第２例としての評価装置１が備える評価値演算部３０（ＤＳＰ）のデジタル信号処理によって実現される各機能動作を、先の図２の場合と同様にブロック化して示した図である。
この場合、メモリ９内には、本例としての校正動作を実現するための評価値演算プログラム９ｄが格納され、評価値演算部３０は、この評価値演算プログラム９ｄに基づくデジタル信号処理により各図中の機能ブロックにより示される各機能動作を実現する。

先ず、先の説明からも理解されるように、第２例の場合は、実際に評価対象とする光ディスクＤについて評価値Ｅｖを計算するのに先立ち、一次関数を求めるための処理を行う必要がある。具体的にこの場合、一次関数を求めるにあたっては、各測定機では、少なくとも校正用ディスクＡ、校正用ディスクＢについて標準偏差σ-As,σ-Bsの値と、Ｔ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsの値とを事前に計算しておく必要がある。
このことからすると、この場合の評価装置１では、上記標準偏差σ-As,σ-Bs、及びＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsを得るために、装填された光ディスクＤについて標準偏差σ、Ｔ偏差のみを計算する動作モードと、装填された光ディスクＤについて評価値Ｅｖを計算する動作モードとの切り替えが可能に構成されている必要がある。
本例の評価装置１では、図１３、図１４に示される準備モード設定信号、測定モード設定信号により、評価値演算部３０に各モードの切替を指示するようにされる。図示は省略したが、これら各モード設定信号は、評価装置１の全体制御を行うコントローラから供給されることになる。

ここで、一例として、この場合の上記準備モードでは、標準偏差σ-As,σ-Bs、及び御Ｔ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsを計算してそれらをメモリ９に格納するまでの動作を行うものとする。
一方、上記測定モードでは、予めメモリ９に格納される基準機側で計算された標準偏差σ-Ar,σ-Br、及び上記のように格納された標準偏差σ-As,σ-BsとＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsの値に基づいて一次関数を計算する動作、及び装填された光ディスクＤについて標準偏差σ、及びＴ偏差を計算し、これらの値と上記一次関数とに基づき評価値Ｅｖを計算する動作を行うものとする。

なお確認のために述べておくと、この場合、各測定機としての評価装置１には、基準機としての評価装置１にて校正用ディスクＡ,Ｂについてそれぞれ計算された標準偏差σ-Ar,σ-Brの値が入力され、これがメモリ９に格納される（図中符号９ｅ）。ここでは一例として、このように基準機で校正用ディスクＡ,Ｂについて計算された値９ｅが格納された上で、準備モードとしての標準偏差σ-As,σ-Bs及びＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsの計算が行われる場合を説明するが、これら標準偏差σ-As,σ-Bs及びＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsの計算後に基準機からの値９ｅを入力・格納することも勿論可能である。

また、この場合としても、評価値Ｅｖについては、立ち上がり側（Ｅｖ-1）と立ち下がり側（Ｅｖ-2）とでそれぞれ独立して計算することになる。
図１３、図１４では図示の都合上、立ち上がり側の評価値Ｅｖ-1の計算のための機能ブロックのみを示しているが、実際には、立ち下がり側についても、各図に示す立ち上がり側の各機能ブロックによる機能動作と同様の機能動作が行われることになる。この場合も、立ち下がり側の機能動作については以下で説明する立ち上がり側についての機能動作と同様となることから、その説明は省略する。
また、立ち下がり側についての評価値Ｅｖ-2を計算するにあたっては、メモリ９内において、基準機において校正用ディスクＡ,Ｂの立ち下がりエッジ位置について計算された標準偏差σ-Ar,σ-Brの値も格納されることになる。ここでは基準機において校正用ディスクＡ,Ｂの立ち上がりエッジ位置について計算された標準偏差σ-Ar,σ-Brの値（図中９ｅ）のみが格納されるものとして示しているが、実際には、このように立ち下がりエッジ位置について計算された標準偏差σ-Ar,σ-Brの値も格納され、該立ち下がりエッジ位置についての標準偏差σ-Ar,σ-Brの値を用いて、立ち下がり側の評価値Ｅｖ-2を計算するための関数の計算が行われることになる。

先ず、図１３により、準備モード時に対応して行われる機能動作ついて説明する。
準備モード時の機能動作としては、先の図２に示した機能ブロックが表す機能動作のうち、Ｔ偏差の計算までに必要な機能動作のみが行われることなる。具体的には、立ち上がりエッジ度数分布表生成部１１Ａ、立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａ、立ち上がり側Ｔ度計算部１３Ａ、及びＴ偏差平均値計算部１４Ａとしての機能動作が行われる。

準備モード時においては、これらの各機能動作によって、校正用ディスクＡ,校正用ディスクＢについて、それぞれ標準偏差σの値、及びＴ偏差の値が計算される。
この場合の立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａは、校正用ディスクＡについて計算した標準偏差σの値（例えば準備モード設定後に最初に装填された光ディスクＤについて計算した標準偏差σの値）を、標準偏差σ-Asとしてメモリ９に格納する。
また、校正用ディスクＢについて計算した標準偏差σの値（例えば準備モード設定後に２番目に装填された光ディスクＤについて計算した標準偏差σの値）を、標準偏差σ-Bsとしてメモリ９に格納する。

また、この場合の立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ａは、校正用ディスクＡについて計算したＴ偏差の値（例えば準備モード設定後に最初に装填された光ディスクＤについて計算したＴ偏差の値）を、Ｔ偏差Ｔ-Asとしてメモリ９に格納する。
また、校正用ディスクＢについて計算したＴ偏差の値（例えば準備モード設定後に２番目に装填された光ディスクＤについて計算したＴ偏差の値）を、Ｔ偏差Ｔ-Bsとしてメモリ９に格納する。

なお確認のために述べておくと、実際には立ち下がり側についても、上記により説明した各機能動作と同様の機能動作が行われて、立ち下がりエッジ位置についての標準偏差σ-As,σ-Bs、及びＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsがメモリ９に格納されることになる。

続いて、図１４により、測定モード時に対応して行われる機能動作について説明する。
先ず、測定モード時には、先の準備モード時の動作が実行されたことで、メモリ９内には標準偏差σ-As,σ-Bsの値（図中符号９ｇ）、及びＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsの値（図中９ｆ）が格納された状態にある。
図１４において、測定モード時の機能動作としては、図２に示した各機能ブロックとしての機能動作のうち、Ｔ偏差の計算までに必要な機能動作が行われる（立ち上がり側度数分布表生成部１１Ａ〜立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ａ）。その上で、基準機と自機の標準偏差比を計算するための立ち上がり側標準偏差比計算部３１Ａ、一次関数を計算により求める立ち上がり側関数計算部３２Ａ、Ｔ偏差と一次関数とに基づく校正係数の計算を行う立ち上がり側校正係数計算部３３Ａ、及び立ち上がり側乗算部２８Ａとしての機能動作が行われる。

立ち上がり側標準偏差比計算部３１Ａは、メモリ９内に格納される基準機で計算された標準偏差σ-Ar,σ-Br（９ｅ）と、先の準備モードによって自機で計算した標準偏差σ-As,σ-Bs（９ｇ）に基づき、σ-Ar／σ-As、σ-Br／σ-Bsで表される２つの標準偏差比の値を計算する（図中ではr/sA、r/sBと表記）。

立ち上がり側関数計算部３２Ａは、上記立ち上がり側標準偏差比計算部３１Ａで計算された標準偏差比σ-Ar／σ-As,σ-Ar／σ-Asと、メモリ９内に格納されるＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsに基づき、基準機と自機の標準偏差比（校正係数）とＴ偏差との相関関係を表す一次関数（ゲインａ、オフセットｂ）を計算する。
すなわち、先に説明した、

σ-Ar／σ-As＝ａ×Ｔ-As＋ｂ
σ-Br／σ-Bs＝ａ×Ｔ-Bs＋ｂ

による連立方程式の解を求めることで、ゲインａとオフセットｂを計算する。

立ち上がり側校正係数計算部３３Ａは、立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ａにより計算されたＴ偏差の値と上記立ち上がり側関数計算部３２Ａによって計算されたゲインａとオフセットｂの値とに基づき、校正係数を計算する。すなわち、一次関数「ｙ＝ａｘ＋ｂ」について、ｘの値として上記Ｔ偏差の値を代入してｙの値であるところの校正係数を計算により求める。

立ち上がり側乗算部２８Ａは、上記立ち上がり側校正係数計算部３３Ａにて計算された校正係数の値を、立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａにて計算された標準偏差σの値に乗算する。そして、その乗算結果を、評価値Ｅｖ-1として出力する。

なお確認のために述べておくと、この場合、図示を省略した立ち下がり側についての標準偏差比計算部（３１Ｂ）では、メモリ９内に格納される立ち下がりエッジ位置についての標準偏差σ-Ar,σ-Brと、先の準備モードによって自機で計算した立ち下がりエッジ位置についての標準偏差σ-As,σ-Bsの値に基づき、立ち下がり側の標準偏差比σ-Ar／σ-As,σ-Br／σ-Bsの値を計算する。また、立ち下がり側の関数計算部（３２Ｂ）では、上記立ち下がり側の標準偏差比計算部で計算された標準偏差比σ-Ar／σ-As,σ-Ar／σ-Asと、メモリ９内に格納される立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsに基づき、立ち下がりエッジ位置について基準機と自機の標準偏差比（校正係数）とＴ偏差との相関関係を表す一次関数を計算する。また、立ち下がり側の校正係数計算部（３３Ｂ）では、立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ｂにて計算されたＴ偏差と上記立ち下がり側について計算された一次関数とを用いて、立ち上がり側についての校正係数を計算することになる。このように求められた校正係数が、立ち上がり側の乗算器（２８Ｂ）によって立ち下がり側標準偏差計算部１２Ｂで計算された標準偏差σの値に乗算されることで、図中の立ち下がり側の評価値Ｅｖ-2が得られる。

[第３例]

ここで、第２の実施の形態では、光ディスクＤについて計算したＴ偏差の値を基準として、校正係数を求めるものとしているが、このＴ偏差の値は、その絶対値によって度数分布の歪み量を表すものである。但し、先の第１の実施の形態の説明によると、このＴ偏差は、その計算にあたって３乗根を使用しているため、実際の歪み量に対してその値がリニアには反応しないものとなる。具体的には、度数分布の歪みが０近傍となる領域では、歪み量が大きな領域と比較してＴ偏差の値が大きく変化する傾向となる。

このことによると、先の第２例の校正動作のように、１つの一次関数としてのリニアな特性に基づき校正係数を求めた場合には、特に歪み量が０付近の良好な光ディスクＤについて、本来与えられるべき校正係数よりも大きな係数が与えられてしまう可能性があり、この結果、歪みの少ない光ディスクＤについては正しく校正できる場合とそうでない場合とのバラツキを生じさせる傾向となってしまうことが懸念される。

そこで、この点について改善を図るとした場合には、次の図１５に示されるようにして、Ｔ偏差＝０近傍の領域に傾きを０（ゼロ）で固定とした不感帯を設けるものとする。
ここで、先に述べたようにしてＴ偏差の値は実際の度数分布の歪みが０近傍となる領域でその値が大きく変化する傾向となることを考慮すれば、Ｔ偏差＝０近傍となる領域では、実際の度数分布の歪み量の変化はほぼ無いものとみなすことができる。第３例では、このようにＴ偏差＝０近傍の領域では実際の歪み量がほぼ同程度であるとの前提に立ち、Ｔ偏差＝０近傍の領域では傾きを０で一定とし、これによって実際の歪み量に応じたより適正な校正係数が得られるようにする。

なお、確認のために述べておくと、図１５における横軸の値を実際の歪み量に置き換えた場合には、不感帯の幅は、図１５に示されるものよりもはるかに狭いものとなり、その場合、校正係数との相関を表す関数は、不感帯がほぼ無い一次関数とみなすことができる。すなわち、実際の歪み量と校正係数との関係で捉えた場合、この図に示す関数は、一次関数に相当するものとなることに変わりはない。換言すれば、この第３例としても、先の第２例のように歪み量と校正係数との関係は一次関数で近似できるという前提に立つものであることに変わりはない。

図１６は、図１５に示される関数を求めるにあたって行われるべき動作について説明するための図である。なお、この図においても横軸（ｘ）をＴ偏差、縦軸（ｙ）を校正係数としてそれらの相関関係を表す関数を示している。
先ず、第３例の場合、予め不感帯としてのＴ偏差の範囲情報が設定される。すなわち、図中におけるｘ２、ｘ３によるＴ偏差についての範囲情報が設定される。

また、この場合も関数を求めるにあたっては、２点の実測値が必要となる。具体的には、図中の座標（ｘ４,ｙ４）により示す校正用ディスクＡについてのＴ偏差（Ｔ-As）及び標準偏差比（σ-Ar／σ-As）と、座標（ｘ１,ｙ１）により示す校正用ディスクＢについてのＴ偏差（Ｔ-Bs）及び標準偏差比（σ-Br／σ-Bs）とが必要となる。

先の第２例の説明からも理解されるように、これらＴ偏差Ｔ-As、標準偏差比σ-Ar／σ-As、Ｔ偏差Ｔ-Bs、標準偏差比σ-Br／σ-Bsの値は、予め基準機、各測定機で計算するものとしているので、関数を求めるにあたっては既知の値となる。すなわち、座標（ｘ４,ｙ４）、（ｘ１,ｙ１）は既知の値となる。
また、上記不感帯を設定するためのｘ２、ｘ３の値も既知となる。

ここで、上記もしているように第３例としても、先の第２例のように歪み量と校正係数との関係は一次関数で近似できるという前提に立つものであることから、図中の不感帯によって分断される２つの一次式「ｙ＝ａｘ＋ｂ」「ｙ＝ｃｘ＋ｄ」については、それぞれの傾きａ、ｃが一致することを条件とする。また、不感帯において、傾きは０で一定とすることから、ｙ２＝ｙ３も条件となる。

これら２つの条件と、上述したそれぞれの既知の値が与えられることで、２つの一次式「ｙ＝ａｘ＋ｂ」「ｙ＝ｃｘ＋ｄ」におけるａ、ｂ、ｃ、ｄの値を求めることができる。
先ず、座標（ｘ１,ｙ１）と（ｘ２,ｙ２）を結ぶ直線ｙ＝ａｘ＋ｂの傾きａは、

ａ＝（ｙ１−ｙ２）／（ｘ１−ｘ２）

で表すことができる。
また、座標（ｘ３,ｙ３）と（ｘ４,ｙ４）を結ぶ直線ｙ＝ｃｘ＋ｄの傾きｃは、

ｃ＝（ｙ３−ｙ４）／（ｘ３−ｘ４）

で表される。

ここで、ａ＝ｃ、ｙ２＝ｙ３（＝ｙrとする）の条件より、

ｙr＝[ｙ１（ｘ３−ｘ４）＋ｙ４（ｘ１−ｘ２）]／[（ｘ３−ｘ４）＋（ｘ１−ｘ２）]

となる。つまりこれによりｙ２、ｙ３の値が求まる。

このように求まったｙ２＝ｙ３＝ｙrを用いて、ａ、ｂ、ｃ、ｄを求める。
すなわち、

ａ＝（ｙ１−ｙr）／（ｘ１−ｘ２）
ｂ＝（ｙr×ｘ１−ｙ１×ｘ２）／（ｘ１−ｘ２）
ｃ＝（ｙr−ｙ４）／（ｘ３−ｘ４）
ｄ＝（ｙ４×ｘ３−ｙr×ｘ４）／（ｘ３−ｘ４）

を計算する。

この場合、関数を用いた校正係数の計算は、上記計算により求まった２つの一次関数、及びＴ偏差の値についての場合分けの条件に基づき行う。
すなわち、

ｘ＞ｘ２のとき・・・・・・ｙ＝ａｘ＋ｂ
ｘ３≦ｘ≦ｘ２のとき・・・ｙ＝ｙr
ｘ＜ｘ３のとき・・・・・・ｙ＝ｃｘ＋ｄ

により校正係数を求めるものである。

このような第３例としての校正動作によれば、Ｔ偏差＝０近傍となる領域で与えられる校正係数を一定値とすることができるので、歪み量の少ない良好な光ディスクＤについて、本来与えられるべき校正係数よりも大きな係数が与えられてしまうといった事態の発生を効果的に防止することができ、この結果、より良好な校正を行うことができる。

[不感帯を設けた校正動作を行うための構成]

図１７は、上記により説明した第３例としての校正動作を実現するための構成について説明するための図として、第３の実施の形態の第３例としての評価装置１が備える評価値演算部３５（ＤＳＰ）のデジタル信号処理によって実現される各機能動作を、先の図２の場合と同様にブロック化して示した図である。
この場合、メモリ９内には、本例としての校正動作を実現するための評価値演算プログラム９ｈが格納され、評価値演算部３５は、この評価値演算プログラム９ｈに基づくデジタル信号処理により第３例としての各機能動作を実現する。

なお、先の説明からも理解されるように、第３例の場合においても、準備モードとして、校正用ディスクＡ、校正用ディスクＢについて標準偏差σ-As,σ-Bs、及びＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsの値を事前に計算しこれをメモリ９内に格納ておくようにされる（図中符号９ｇ、９ｆ）。このような準備モード時に対応して評価値演算部３５にて行われるべき各機能動作については先の図１３で説明したものと同様となるので改めての説明は省略する。
なお、この場合もメモリ９内には、予め基準機にて計算された標準偏差σ-Ar,σ-Brの値（９ｅ）が格納されることは言うまでもない。
また、この場合も実際には立ち下がり側についての評価値Ｅｖ-2が計算されるので、測定モード時には、メモリ９内に立ち下がりエッジ位置について求められた標準偏差σ-As,σ-Bs、Ｔ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bs、及び標準偏差σ-Ar,σ-Brの値が格納された状態にあるようにする。
さらにこの場合、メモリ９内には予め不感帯を設定するための情報（例えば２つのＴ偏差の値）が、図中の不感帯設定値９ｉとして格納される。

図１７に示されるように、第３例としての評価値演算部３５が測定モード時に対応して行う機能動作としては、先の図１４にて説明したものとほぼ同様となる。但しこの場合、先の図１４に示した立ち上がり側関数計算部３２Ａ、立ち上がり側校正係数計算部３３Ａとしての機能動作に代えて、以下で説明する立ち上がり側関数計算部３６Ａ、立ち上がり側校正係数計算部３７Ａとしての機能動作が行われる。
なお、この場合も機能動作は立ち上がり側についてのみ図示による説明を行い、立ち下がり側については立ち上がり側と同様の機能動作が行われればよいことから図示及び説明は省略する。

立ち上がり側関数計算部３６Ａでは、標準偏差比計算部３１で計算された標準偏差比σ-Ar／σ-As、及び標準偏差比σ-Br／σ-Bsの値と、メモリ９に格納されたＴ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsの値（つまり先に説明した座標（ｘ１,ｙ１）と（ｘ４,ｙ４）に相当する値）、及び不感帯設定値９ｉとしての２つのＴ偏差の値（ｘ２とｘ３に相当）とに基づき、先に説明した手順により２つの二次関数（ａ、ｂ、ｃ、ｄ）とｙ２＝ｙ３＝ｙrの値を計算する。

そして、立ち上がり側校正係数計算部３７Ａでは、上記立ち上がり側関数計算部３６Ａにより求められた２つの二次関数及びｙrの値と、メモリ９に格納された不感帯設定値９ｉとに基づき、立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ａにて計算されたＴ偏差の値に応じた校正係数の値を計算する。
すなわち、立ち上がり側Ｔ偏差計算部１４Ａにて計算されるＴ偏差の値をｘ、校正係数の値をｙとし、且つ不感帯設定値９ｉとして[＋]極性の値をｘ２、[−]極性の値をｘ３としたとき、
ｘ＞ｘ２のとき・・・・・・ｙ＝ａｘ＋ｂ
ｘ３≦ｘ≦ｘ２のとき・・・ｙ＝ｙr
ｘ＜ｘ３のとき・・・・・・ｙ＝ｃｘ＋ｄ
により校正係数を求める。

このようにして求まった校正係数は、立ち上がり側乗算部２８Ａによって、立ち上がり側標準偏差計算部１２Ａにて計算された標準偏差σの値に対して乗算され、該乗算結果が評価値Ｅｖ-1として出力される。

[第２例、第３例の変形例]

続いて、第２の実施の形態の第２例、第３例の変形例について、次の図１８を参照して説明する。なお、図１８では一例として、第２例に対して当該変形例を適用した場合について示している。
ここで説明する変形例は、Ｔ偏差の値（絶対値）が所定の閾値より大となる領域では、校正係数の値にリミットをかけるというものである。具体的にこの場合は、Ｔ偏差の値から校正係数を求めるにあたって、計算されたＴ偏差の値が校正用ディスクＡについて計算されたＴ偏差Ｔ-Asよりも大となる場合、またＴ偏差の値が校正用ディスクＢについて計算されたＴ偏差Ｔ-Bsの値よりも小となる場合に、校正係数として所定の一定値を選択するものとしている。

ここで、先に説明したように実施の形態では、校正用ディスクＡ,Ｂについて、予めＴ偏差の値が比較的大きなものを選定しておくことを前提としている。例えば実際には、評価対象としての光ディスクＤで想定され得る最大付近の歪み量を有するものを選定しておくようにされる。
このことを踏まえると、上記Ｔ偏差Ｔ-As,Ｔ-Bsを超える領域においても一次関数に基づく校正係数を求めることとした場合には、その領域で求まる校正係数の値は相当に大きな値となることが理解できる。このように校正係数が大きくなるということは、実際の計算値からかけ離れた値が評価値Ｅｖとして算出されてしまうことを意味し、従ってその場合の評価値Ｅｖとしては、異常値が計算されてしまう虞がある。

そこで、このような過剰な校正が行われてしまうことの防止を図るために、Ｔ偏差の値が所定値を超える場合には、所定の一定値による校正係数を選択する。これにより、評価値Ｅｖとしてあまりにも異常な値が計算されてしまうことを防止することができる。

なお、確認のための述べておくと、このような変形例としての動作を実現するとした場合には、立ち上がり側、立ち下がり側の双方において、第２例の校正係数計算部３３、第３例の校正係数計算部３７が、Ｔ偏差計算部１４にて計算されたＴ偏差の値がＴ偏差Ｔ-Asより大となる、またはＴ偏差Ｔ-Bsよりも小となる場合に、予め設定された所定値による校正係数を選択するものとすればよい。

＜変形例＞

以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでに説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、各実施例における評価値演算部（１０,２０,２５,３０,３５）としての動作がＤＳＰによるデジタル信号処理によって実現される場合を例示したが、各評価値演算部としての動作がアナログ回路によって実現されるように構成することもできる。

また、これまでの説明では、Ｔ度τとして、(xi−A)の値を３乗する場合を例示したが、少なくとも計算結果が符号付きとなるようにすべく、(xi−A)の値は奇数乗されればよい。すなわち、２ｍ＋１乗（ｍは０以外の自然数）であればよい。

また、第２の実施の形態では、校正係数を用いた標準偏差値の校正を１度のみ行うものとしたが、校正後の値を用いて、例えば最小二乗法などにより基準機の標準偏差値と自機の標準偏差値との相関を表す関数を求めた上で、該関数によって再度校正係数を計算し、標準偏差値に再度校正をかけるといったこともできる。これにより、校正の精度のさらなる向上を図ることができる。

また、これまでの説明では、読み出し信号の立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの双方を検出する場合を例示したが、何れか一方のエッジについてのみエッジ位置検出・評価値計算を行うようにすることもできる。
また、第１の実施の形態において、立ち上がり側と立ち下がり側について計算したそれぞれのＴ偏差の値を平均化せずに、それぞれを立ち上がり側の評価値Ｅｖ-1、立ち下がり側の評価値Ｅｖ-2として出力するように構成することもできる。

また、第２の実施の形態の第３例では、不感帯において傾きを無くすものとしたが、不感帯に所要の傾きを与えるようにすることもできる。

また、これまでの説明では、本発明による評価手法を、ＲＯＭディスクの品質管理にあたっての評価値を計算する用途に用いる場合を例示したが、本発明としては、光の照射によって信号読み出しが行われる光記録媒体について、その読み出し信号の品質を評価する用途全般に広く好適に適用することができるものである。

実施の形態としての評価装置の内部構成について示したブロック図である。 第１の実施の形態の第１例としての動作を実現するための構成について説明するための図である。 第１の実施の形態の第２例としての動作を実現するための構成について説明するための図である。 第１の実施の形態の第１例、第２例の評価値を用いて実際に評価を行った結果について説明するための図として、同一ディスクを用いた各測定機の評価結果について主に示した図である。 第１の実施の形態の第１例、第２例の評価値を用いて実際に評価を行った結果について説明するための図として、同一測定機によるディスクごとの評価結果について主に示した図である。 標準偏差とＴ度との相関を表す実験結果を示す図として、それぞれ同じディスクについて、基準機と他の測定機で計算された標準偏差の計算結果を示した図である。 第２の実施の形態の第１例としての動作について説明するための図である。 第２の実施の形態の第１例としての動作を実現するための構成について説明するための図である。 第２の実施の形態の第１例としての校正動作による校正結果を示した図である。 標準偏差とＴ偏差との相関関係について説明するための図である。 基準機の標準偏差と各測定機の標準偏差との比率の値と、Ｔ偏差の値との相関関係について説明するための図である。 第２の実施の形態の第２例としての動作について説明するための図である。 第２の実施の形態の第２例としての動作として、準備モード時に対応して行われるべき動作を実現するための構成について説明するための図である。 第２の実施の形態の第２例としての動作として、測定モード時に対応して行われるべき動作を実現するための構成について説明するための図である。 第２の実施の形態の第３例としての動作によって求まる関数について例示した図である。 図１５に示される関数を求めるにあたって行われるべき動作について説明するための図である。 第２の実施の形態の第３例としての動作を実現するための構成について説明するための図である。 第２の実施の形態の第２例、第３例の変形例について説明するための図である。 読み出し信号のエッジ位置についての度数分布の態様について説明するための図として、同一測定機によるディスクごとの標準偏差測定結果を示した図である。 読み出し信号のエッジ位置についての度数分布の態様について説明するための図として、同一ディスクに対する測定機ごとの標準偏差測定結果を示した図である。

符号の説明

１ 評価装置、２ スピンドルモータ（ＳＰＭ）、３ 光ピックアップ（ＯＰ）、４ マトリクス回路、５ 波形等化回路、６ ２値化回路、７ クロック生成回路、８ エッジ位置検出回路、９ メモリ、９ａ,９ｂ,９ｃ,９ｄ,９ｈ 評価値演算プログラム、１０,２０,２５,３０,３５ 評価値演算部、１１Ａ 立ち上がりエッジ度数分布表生成部、１１Ｂ 立ち下がりエッジ度数分布表生成部、１２Ａ 立ち上がり側標準偏差計算部、１２Ｂ 立ち下がり側標準偏差計算部、１３Ａ 立ち上がり側Ｔ度計算部、１３Ｂ 立ち下がり側Ｔ度計算部、１４ 標準偏差平均値計算部、１５ Ｔ度平均値計算部、１６ Ｔ偏差計算部、２１ バランス度計算部、２２ バランストＴ偏差計算部、２６ 極性判定部、２７ 係数選択部、２８ 乗算部、３１ 標準偏差比計算部、３２,３６ 関数計算部、３３,３７ 校正係数計算部

Claims (14)

1. 光記録媒体からの読み出し信号についての評価値を得るための評価装置であって、
   上記光記録媒体に記録された信号を読み出す読出手段と、
   上記読出手段によって得られる読み出し信号のエッジ位置を検出するエッジ位置検出手段と、
   上記エッジ位置検出手段により検出された上記読み出し信号の立ち上がりエッジ位置と立ち下がりエッジ位置の情報を集積した結果に基づき、上記立ち上がりエッジ位置と上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表をそれぞれ生成する度数分布表生成手段と、
   上記度数分布表生成手段により生成された上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表に基づく標準偏差と、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表に基づく標準偏差とを計算する標準偏差計算手段と、
   上記度数分布表生成手段により生成された上記度数分布表について、各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、
   
   

   

   
   で表されるＴ度としての値を上記立ち上がりエッジ位置と上記立ち下がりエッジ位置の双方について計算する第１の計算手段と、
   上記標準偏差計算手段により計算された上記立ち上がりエッジ位置についての標準偏差の値に対し上記第１の計算手段により計算された上記立ち上がりエッジ位置についてのＴ度の値を乗算し、上記標準偏差計算手段により計算された上記立ち下がりエッジ位置についての標準偏差の値に対し上記第１の計算手段により計算された上記立ち下がりエッジ位置についてのＴ度の値を乗算することで、立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差をそれぞれ計算する共に、これら立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差の値と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差の値との平均値を平均Ｔ偏差として計算する第２の計算手段と、
   上記度数分布表生成手段により生成された上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数をf1i、度数の合計をF1とし、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数をf2i、度数の合計をF2、さらに任意係数ｋとしたとき、
   
   

   

   
   で表されるバランス度としての値を計算するバランス度計算手段と、
   上記バランス度計算手段により計算された上記バランス度の値を、上記第２の計算手段によって計算された上記平均Ｔ偏差の値に対して乗算して、バランストＴ偏差としての値を計算する第３の計算手段と
   を備える評価装置。
2. 光記録媒体からの読み出し信号についての評価値を得るための評価装置であって、
   上記光記録媒体に記録された信号を読み出す読出手段と、
   上記読出手段によって得られる読み出し信号のエッジ位置を検出するエッジ位置検出手段と、
   上記エッジ位置検出手段により検出された上記エッジ位置の情報を集積した結果に基づき、上記エッジ位置についての度数分布表を生成する度数分布表生成手段と、
   上記度数分布表生成手段により生成された上記度数分布表について、各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、
   
   

   

   
   で表されるＴ度としての値を計算する第１の計算手段と、
   上記度数分布表生成手段により生成された上記度数分布表に基づき標準偏差の値を計算する標準偏差計算手段と、
   上記第１の計算手段によって計算されたＴ度の値に基づき上記標準偏差の値を校正するための校正係数を求め、該校正係数を上記標準偏差の値に与えることで上記評価値としての値を計算する校正評価値計算手段と
   を備える評価装置。
3. 上記校正評価値計算手段は、
   上記Ｔ度の値の極性に応じて選択した上記校正係数を、上記標準偏差の値に乗算する
   請求項２に記載の評価装置。
4. 上記校正評価値計算手段は、
   予め定められた所定の２つの校正用光記録媒体について上記標準偏差計算手段によって計算された２つの上記標準偏差の値に対し、上記第１の計算手段によって上記２つの校正用光記録媒体について計算された２つの上記Ｔ度の値を上記校正用光記録媒体ごとに乗算することで、２つのＴ偏差の値を計算すると共に、
   上記２つのＴ偏差の値と、予め定められた基準機としての他の評価装置において上記２つの校正用光記録媒体についてそれぞれ計算された２つの標準偏差の値とに基づき求められる、上記Ｔ偏差と上記校正係数との相関関係を表す関数の情報に基づき、上記校正係数を計算により求める
   請求項２に記載の評価装置。
5. 上記校正評価値計算手段は、
   上記関数を、一方の上記校正用光記録媒体について上記基準機と自機とで計算されたそれぞれの標準偏差の値の比率の値と、他方の上記校正用光記録媒体について上記基準機と自機とで計算されたそれぞれの標準偏差の値の比率の値と、さらに自機において各校正用光記録媒体について計算した２つのＴ偏差の値とを用いた計算を行って求める
   請求項４に記載の評価装置。
6. 上記関数は、
   上記基準機と自機とで計算されたそれぞれの標準偏差の値の比率の値をｙ軸、自機のＴ偏差の値をｘ軸においたとき、上記基準機と自機とで一方の上記校正用光記録媒体について計算されたそれぞれの標準偏差の値の比率の値と、自機において上記一方の校正用光記録媒体について計算したＴ偏差の値とで定まる座標点と、上記基準機と自機とで他方の上記校正用光記録媒体について計算されたそれぞれの標準偏差の値の比率の値と自機において上記他方の校正用光記録媒体について計算したＴ偏差の値とで定まる座標点とを通過する直線を表す一次関数として求められる
   請求項４に記載の評価装置。
7. 上記関数は、傾きに段階的な変化が与えられている請求項４に記載の評価装置。
8. 上記関数は、
   上記Ｔ偏差の絶対値が所定値以下となる領域では傾きがゼロとなり、それ以外の領域では傾きが所定値で一定となる関数とされる
   請求項４に記載の評価装置。
9. 上記基準機と自機とで計算されたそれぞれの標準偏差の値の比率の値をｙ軸、自機のＴ偏差の値をｘ軸においたとき、上記傾きがゼロとなる領域でのｙ軸の値、及び上記傾きがゼロとなる領域以外の領域における傾きの値は、
   上記傾きをゼロとする領域を定義するために設定されたそれぞれのｘ軸の値のときのｙ軸の値が等しく、且つ上記傾きがゼロとなる領域以外の領域ではそれぞれの一次関数の傾きが等しくなるという条件をもとに、一方の上記校正用光記録媒体について上記基準機と自機とで計算されたそれぞれの標準偏差の値の比率と、他方の上記校正用光記録媒体について上記基準機と自機とで計算されたそれぞれの標準偏差の値の比率と、自機において上記一方の校正用光記録媒体と上記他方の校正用光記録媒体についてそれぞれ計算した２つのＴ偏差の値と、上記傾きをゼロとする領域を定義するために設定された２つのＴ偏差の値とに基づく計算によって求められる
   請求項８に記載の評価装置。
10. 上記関数は、
    上記Ｔ偏差の絶対値が所定値を超える領域では傾きがゼロとなる関数とされる
    請求項４に記載の評価装置。
11. 光記録媒体からの読み出し信号についての評価値を得るための評価方法であって、
    上記光記録媒体に記録された信号を読み出して得られる読み出し信号について検出された立ち上がりエッジ位置と立ち下がりエッジ位置の情報を集積した結果に基づき、上記立ち上がりエッジ位置と上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表をそれぞれ生成する度数分布表生成手順と、
    上記度数分布表生成手順により生成した上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表に基づく標準偏差と、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表に基づく標準偏差とを計算する標準偏差計算手順と、
    上記度数分布表生成手順により生成した上記度数分布表について、各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、
    
    

    

    
    で表されるＴ度としての値を上記立ち上がりエッジ位置と上記立ち下がりエッジ位置の双方について計算する第１の計算手順と、
    上記標準偏差計算手順により計算した上記立ち上がりエッジ位置についての標準偏差の値に対し上記第１の計算手順により計算した上記立ち上がりエッジ位置についてのＴ度の値を乗算し、上記標準偏差計算手順により計算した上記立ち下がりエッジ位置についての標準偏差の値に対し上記第１の計算手順により計算した上記立ち下がりエッジ位置についてのＴ度の値を乗算することで、立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差をそれぞれ計算する共に、これら立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差の値と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差の値との平均値を平均Ｔ偏差として計算する第２の計算手順と、
    上記度数分布表生成手順により生成した上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数をf1i、度数の合計をF1とし、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数をf2i、度数の合計をF2、さらに任意係数ｋとしたとき、
    
    

    

    
    で表されるバランス度としての値を計算するバランス度計算手順と、
    上記バランス度計算手順により計算した上記バランス度の値を、上記第２の計算手順によって計算した上記平均Ｔ偏差の値に対して乗算して、バランストＴ偏差としての値を計算する第３の計算手順と
    を有する評価方法。
12. 光記録媒体からの読み出し信号についての評価値を得るために信号処理装置において実行されるべきプログラムであって、
    上記光記録媒体に記録された信号を読み出して得られる読み出し信号について検出された立ち上がりエッジ位置と立ち下がりエッジ位置の情報を集積した結果に基づき、上記立ち上がりエッジ位置と上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表をそれぞれ生成する度数分布表生成処理と、
    上記度数分布表生成処理により生成した上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表に基づく標準偏差と、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表に基づく標準偏差とを計算する標準偏差計算処理と、
    上記度数分布表生成処理により生成した上記度数分布表について、各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、
    
    

    

    
    で表されるＴ度としての値を上記立ち上がりエッジ位置と上記立ち下がりエッジ位置の双方について計算する第１の計算処理と、
    上記標準偏差計算処理により計算した上記立ち上がりエッジ位置についての標準偏差の値に対し上記第１の計算処理により計算した上記立ち上がりエッジ位置についてのＴ度の値を乗算し、上記標準偏差計算処理により計算した上記立ち下がりエッジ位置についての標準偏差の値に対し上記第１の計算処理により計算した上記立ち下がりエッジ位置についてのＴ度の値を乗算することで、立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差をそれぞれ計算する共に、これら立ち上がりエッジ位置についてのＴ偏差の値と立ち下がりエッジ位置についてのＴ偏差の値との平均値を平均Ｔ偏差として計算する第２の計算処理と、
    上記度数分布表生成処理により生成した上記立ち上がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数をf1i、度数の合計をF1とし、上記立ち下がりエッジ位置についての度数分布表における各階級の度数をf2i、度数の合計をF2、さらに任意係数ｋとしたとき、
    
    

    

    
    で表されるバランス度としての値を計算するバランス度計算処理と、
    上記バランス度計算処理により計算した上記バランス度の値を、上記第２の計算処理によって計算した上記平均Ｔ偏差の値に対して乗算して、バランストＴ偏差としての値を計算する第３の計算処理と
    を上記信号処理装置に実行させるプログラム。
13. 光記録媒体からの読み出し信号についての評価値を得るための評価方法であって、
    上記光記録媒体に記録された信号を読み出して得られる読み出し信号について検出されたエッジ位置の情報を集積した結果に基づき、上記エッジ位置についての度数分布表を生成する度数分布表生成手順と、
    上記度数分布表生成手順により生成した度数分布表について、各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、
    
    

    

    
    で表されるＴ度としての値を計算する第１の計算手順と、
    上記度数分布表生成手順により生成した上記度数分布表に基づき標準偏差の値を計算する標準偏差計算手順と、
    上記第１の計算手順によって計算したＴ度の値に基づき上記標準偏差の値を校正するための校正係数を求め、該校正係数を上記標準偏差の値に与えることで上記評価値としての値を計算する校正評価値計算手順と
    を有する評価方法。
14. 光記録媒体からの読み出し信号についての評価値を得るために信号処理装置において実行されるべきプログラムであって、
    上記光記録媒体に記録された信号を読み出して得られる読み出し信号について検出されたエッジ位置の情報を集積した結果に基づき、上記エッジ位置についての度数分布表を生成する度数分布表生成処理と、
    上記度数分布表生成処理により生成した度数分布表について、各階級の値をxi、各階級の度数をfi、度数の合計をF、加重平均値をAとしたとき、
    
    

    

    
    で表されるＴ度としての値を計算する第１の計算処理と、
    上記度数分布表生成処理により生成した上記度数分布表に基づき標準偏差の値を計算する標準偏差計算処理と、
    上記第１の計算処理によって計算したＴ度の値に基づき上記標準偏差の値を校正するための校正係数を求め、該校正係数を上記標準偏差の値に与えることで上記評価値としての値を計算する校正評価値計算処理と
    を上記信号処理装置に実行させるプログラム。

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