JP2011023069A - 再生信号評価方法及び記録調整方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】着目するエッジに対して左右にエッジシフトした目標信号のユークリッド距離差に従って、符号付きで加算することによって、評価指標L−SEATを算出し、再生信号の品質を評価する。これを用いて記録調整を実施することで、SNRに依存しない、かつ良好な調整精度をもつを記録調整が可能になる。
【選択図】図1
Description
(1)SbER等やビットエラー率等が十分に小さいこと、
(2)1台のドライブ装置で記録したデータの品質は他のドライブ装置においても、SbER等やビットエラー率等が十分に小さいこと、
の少なくとも2点が求められる。以上の2つの要求性能の観点から、従来技術とそれらの組み合わせから類推される技術の課題について説明する。
非特許文献1、特許文献1、特許文献2に記載の方法は、共に理想ユークリッド距離=14のエッジシフトだけに着目する方法である。このため、図2に示したように、高密度条件下では、エッジシフトに比較して、2Tシフト(ハミング距離2以上)方が分布の広がりが大きく、記録調整において無視することができない。したがって、これらの従来技術では高密度条件での記録調整方法として、前述の要求性能(1)に鑑みて十分とは言えないことが判る。
(1)2値化ビット列に判定ビット列「000111」もしくは「111000」が含まれる場合
マスクビット列「001000」を用いて左シフトビット列を、マスクビット列「000100」を用いて右シフトビット列をそれぞれ生成し、式(D3-1)に従って拡張エッジシフトを算出する。
(2)2値化ビット列に判定ビット列「000110」もしくは「111001」が含まれる場合
マスクビット列「001000」を用いて左シフトビット列を生成し、式(D3-2)に従って拡張エッジシフトを算出する。
(3)2値化ビット列に判定ビット列「100111」もしくは「011000」が含まれる場合
マスクビット列「000100」を用いて右シフトビット列を生成し、式(D3-3)に従って拡張エッジシフトを算出する。
(4)2値化ビット列に判定ビット列「1110011000」もしくは「0001100111」が含まれる場合
マスクビット列「0010100000」を用いて前記左シフトビット列を、マスクビット列「0000010100」を用いて右シフトビット列をそれぞれ生成し、式(D3-1)に従って拡張エッジシフトを算出する。
図4は、図2の結果において、先行スペースが2Tである2Tマークの分布とSAM分布を示す。図4(a)に見られるように、エッジシフトがゼロの場合、L,Rの分布の平均値は理想ユークリッド距離差(=1)とは異なるが、両者は誤差範囲で同じ平均値を持つ。一方、図4(b)に見られるように、エッジシフトがゼロでない場合には、L,Rの分布の平均値は逆方向に分離する。したがって、L,Rシフトの分布の平均値が一致するように記録パルスのパラメータを調整することによって、良好な記録条件を得ることができることが判った。L,Rシフトに対して符号つきでエッジシフトを評価するため、L−SEATシフト=0の条件は、それぞれの分布の平均値が等しいことを意味する。したがって、両者の平均値が理想値(=1)と異なっている場合に対応することが可能となる。
図7はタップ数が13の対称型適応等化器の構成例を示すブロック図である。実際のドライブ装置又は評価装置では、適応等化器のタップ係数の非対称性に基づく再生信号の時間軸方向の非対称が発生する。これらの時間軸方向の再生信号のひずみは、エッジシフトとして検出されるため、再生互換に優れた記録調整の障害となりうる。ここに示した対称型適応等化器はその解決手段を提供する。図において、図示しない光ディスク媒体から再生された再生信号51は図示しないA/D変換器によってディジタルデータに変換され、適応等化器22によって等化された後PRMLデコーダ23によって2値化され、2値化ビット列52が出力される。適応等化器の各タップ係数C0,C1,C2,…は2値化ビット列52に基づく目標信号と適応等化器22の出力信号のRMS誤差が最小になるように、自動的な学習処理が実施される。このアルゴリズムは一般的にLMS(Least Mean Square)法と呼ばれ、LMS回路62により実施される。本構成において、LMS回路によって更新されたタップ係数a0,a1,a2,…は一旦バッファ64に蓄えられ、FIRフィルタの実際の動作に用いるワークレジスタ65には、図示するように、時間軸方向に対称な位置のタップ係数(a0とa12等)の間で平均化された値を設定するようにする。このような構成によって、FIRフィルタによって構成された適応等化器はタップ係数が対称化され、記録マークのエッジシフトを歪めて再生することを防ぐことができるようになる。
22 適応等化器
23 PRMLデコーダ
30 再生信号の評価回路
31 主ビット列判別回路
32 評価ビット列生成回路
33 ユークリッド距離計算回路
34 記録パルス対応パターン仕分け器
35 評価値集計回路
51 再生信号
52 2値化信号
53 等化再生信号
Claims (4)
- 最短ラン長が2Tの符号を用いて情報の記録を行い、適応等化方式とPR(1,2,2,2,1)ML方式を用いて前記情報の再生を行う光ディスクにおける再生信号評価方法であって、
前記適応等化方式として、FIRフィルタのタップ係数が中心対称となるような制限を設けたものを用いる工程と、
前記光ディスクから得た再生信号を前記PR(1,2,2,2,1)ML方式によって2値化して、最尤ビット列を得る工程と、
前記最尤ビット列の中から、着目する記録マークのエッジを左に1Tシフトさせ、最短ラン長が2T以上の制限を満たす左シフトビット列と、
前記最尤ビット列の中から、着目する記録マークのエッジを右に1Tシフトさせ、最短ラン長が2T以上の制限を満たす右シフトビット列と、
のうち、少なくとも1つを生成する工程と、
前記最尤ビット列と、前記左シフトビット列と前記右シフトビット列の少なくとも何れかに対応する目標信号を生成する工程と、
前記目標信号と前記再生信号のユークリッド距離差に基づいて、前記着目する記録マークの評価指標としてエッジシフト、長さ、もしくは位置を算出し、これらに基づいて前記再生信号の品質を評価する工程とを有し、
前記左シフトビット列及び前記右シフトビット列は、最尤ビット列とマスクビット列との排他的論理和演算によって得られるものであって、
前記最尤ビット列に「000111」もしくは「111000」が含まれる場合には、マスクビット列「001000」を用いて前記左シフトビット列を、マスクビット列「000100」を用いて前記右シフトビット列をそれぞれ生成する工程、
前記最尤ビット列に「000110」もしくは「111001」が含まれる場合には、マスクビット列「001000」を用いて前記左シフトビット列を生成する工程、
前記最尤ビット列に「100111」もしくは「011000」が含まれる場合には、マスクビット列「000100」を用いて前記右シフトビット列を生成する工程、
前記最尤ビット列に「1110011000」もしくは「0001100111」が含まれる場合には、マスクビット列「0010100000」を用いて前記左シフトビット列を、マスクビット列「0000010100」を用いて前記右シフトビット列をそれぞれ生成する工程、
を含むことを特徴とする再生信号評価方法。 - 最短ラン長が2Tの符号を用いて情報の記録を行い、適応等化方式とPR(1,2,2,2,1)ML方式を用いて前記情報の再生を行う光ディスクにおける再生信号評価方法であって、
前記適応等化方式として、FIRフィルタのタップ係数が中心対称となるような制限を設けたものを用いる工程と、
前記光ディスクから得た再生信号を前記PR(1,2,2,2,1)ML方式によって2値化し、第1の2値化ビット列を得る工程と、
前記第1の2値化ビット列の中から、着目する記録マークのエッジを左又は右に1Tシフトさせたビット列として最短ラン長が2T以上の第2もしくは第3の2値化ビット列を生成する工程と、
前記第1から第3の2値化ビット列に対応する第1及び、第2と第3の少なくともいずれかの目標信号を生成する工程と、
前記第2の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離と前記第1の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離の差である第1のユークリッド距離差、及び前記第3の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離と前記第1の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離の差である第2のユークリッド距離差の少なくとも何れかを算出する工程と、
少なくとも、前記第1のユークリッド距離差と前記第2のユークリッド距離差のいずれかを用いて、前記着目する記録マークの評価指標としてエッジシフト、長さ、もしくは位置を算出し、これらに基づいて前記再生信号の品質を評価する工程とを有し、
前記着目する記録マークが2Tであり、かつそれに先行もしくは後続するスペースが2Tの場合には、前記第2及び第3の2値化ビット列と前記第1の2値化ビット列とのハミング距離が共に2であり、前記第1及び第2のユークリッド距離差に基づいて前記評価指標を算出し、
前記着目する記録マークが3T以上であり、かつそれに先行もしくは後続するスペースが3T以上の場合には、前記第2及び第3の2値化ビット列と前記第1の2値化ビット列とのハミング距離が共に1であり、前記第1及び第2のユークリッド距離差に基づいて前記評価指標を算出し、
前記着目する記録マークが2Tであり、かつそれに先行もしくは後続するスペースが3T以上の場合には、前記第2の2値化ビット列と前記第1の2値化ビット列とのハミング距離が1であり、前記第1のユークリッド距離差に基づいて前記評価指標を算出することを特徴とする再生信号評価方法。 - 最短ラン長が2Tの符号を用いて情報の記録を行い、適応等化方式とPR(1,2,2,2,1)ML方式を用いて前記情報の再生を行う光ディスクにおける記録調整方法であって、
前記適応等化方式として、FIRフィルタのタップ係数が中心対称となるような制限を設けたものを用いる工程と、
前記光ディスクから得た再生信号を前記PR(1,2,2,2,1)ML方式によって2値化して、最尤ビット列を得る工程と、
前記最尤ビット列の中から、着目する記録マークのエッジを左に1Tシフトさせ、最短ラン長が2T以上の制限を満たす左シフトビット列と、
前記最尤ビット列の中から、着目する記録マークのエッジを右に1Tシフトさせ、最短ラン長が2T以上の制限を満たす右シフトビット列と、
のうち、少なくとも1つを生成する工程と、
前記最尤ビット列と、前記左シフトビット列と前記右シフトビット列の少なくとも何れかに対応する目標信号を生成する工程と、
該目標信号と前記再生信号のユークリッド距離差に基づいて、前記着目する記録マークの評価指標としてエッジシフト、長さ、もしくは位置を算出し、これらに基づいて前記情報を記録するための条件を調整する工程とを有し、
前記左シフトビット列及び前記右シフトビット列は、最尤ビット列とマスクビット列との排他的論理和演算によって得られるものであって、
前記最尤ビット列に「000111」もしくは「111000」が含まれる場合には、マスクビット列「001000」を用いて前記左シフトビット列を、マスクビット列「000100」を用いて前記右シフトビット列をそれぞれ生成する工程、
前記最尤ビット列に「000110」もしくは「111001」が含まれる場合には、マスクビット列「001000」を用いて前記左シフトビット列を生成する工程、
前記最尤ビット列に「100111」もしくは「011000」が含まれる場合には、マスクビット列「000100」を用いて前記右シフトビット列を生成する工程、
前記最尤ビット列に「1110011000」もしくは「0001100111」が含まれる場合には、マスクビット列「0010100000」を用いて前記左シフトビット列を、マスクビット列「0000010100」を用いて前記右シフトビット列をそれぞれ生成する工程、
を含むことを特徴とする記録調整方法。 - 最短ラン長が2Tの符号を用いて情報の記録を行い、適応等化方式とPR(1,2,2,2,1)ML方式を用いて前記情報の再生を行う光ディスクにおける記録調整方法であって、
前記適応等化方式として、FIRフィルタのタップ係数が中心対称となるような制限を設けたものを用いる工程と、
前記光ディスクから得た再生信号を前記PR(1,2,2,2,1)ML方式によって2値化し、第1の2値化ビット列を得る工程と、
前記第1の2値化ビット列の中から、着目する記録マークのエッジを左又は右に1Tシフトさせたビット列として最短ラン長が2T以上の第2もしくは第3の2値化ビット列を生成する工程と、
前記第1から第3の2値化ビット列に対応する第1及び、第2と第3の少なくともいずれかの目標信号を生成する工程と、
前記第2の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離と前記第1の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離の差である第1のユークリッド距離差、及び前記第3の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離と前記第1の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離の差である第2のユークリッド距離差少なくとも何れかをを算出する工程と、
少なくとも、前記第1のユークリッド距離差と前記第2のユークリッド距離差のいずれかを用いて、前記着目する記録マークの評価指標としてエッジシフト、長さ、もしくは位置を算出し、これらに基づいて前記情報を記録するための条件を調整する工程とを有し、
前記着目する記録マークが2Tであり、かつそれに先行もしくは後続するスペースが2Tの場合には、前記第2及び第3の2値化ビット列と前記第1の2値化ビット列とのハミング距離が共に2であり、前記第1及び第2のユークリッド距離差に基づいて前記評価指標を算出し、
前記着目する記録マークが3T以上であり、かつそれに先行もしくは後続するスペースが3T以上の場合には、前記第2及び第3の2値化ビット列と前記第1の2値化ビット列とのハミング距離が共に1であり、前記第1及び第2のユークリッド距離差に基づいて前記評価指標を算出し、
前記着目する記録マークが2Tであり、かつそれに先行もしくは後続するスペースが3T以上の場合には、前記第2の2値化ビット列と前記第1の2値化ビット列とのハミング距離が1であり、前記第1のユークリッド距離差に基づいて前記評価指標を算出することを特徴とする記録調整方法。
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