JP4816173B2 - 測定誤差補正方法及び電子部品特性測定装置 - Google Patents
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Description
GAKU KAMITANI(Murata manufacturing Co.,Ltd.)"A METHOD TO CORRECT DIFFERENCE OF IN−FIXTURE MEASUREMENTS AMONG FIXTURES ON RF DEVICES" APMC Vol.2, p1094−1097, 2003 J.P.DUNSMORE, L.BETTS (Agilent Technologies) "NEW METHODS FOR CORRELATING FIXTURED MEASUREMENTS" APMC Vol.1, p568−571, 2003
対象素子: 表面弾性波フィルタ
測定周波数: 1805MHz〜1880MHz
測定器: ネットワークアナライザ
治具: 図1の治具12に、基準治具と試験治具を使用
補正方法: 3ポートの場合の相対補正法を適用
補正データ取得用試料:表面弾性波フィルタの製作工程を利用して製作した補正データ取得用試料
対象素子: 表面弾性波フィルタ
測定周波数: 1805MHz〜1880MHz
測定器: ネットワークアナライザ(2台)
治具: 図2の回路を基準治具・試験治具として使用。
補正方法: 3ポートについて、相対補正法を適用
補正データ取得用試料:実施例1と同様に、表面弾性波フィルタの製造工程を利用して製作したものを2セット用意する。両試料間の特性差異は、反射係数振幅において−50dB以下である。
30 補正データ取得用試料
40 補正データ取得用試料
50 補正データ取得用試料
Claims (4)
- 試験治具に実装した状態で電子部品を測定した結果から、当該電子部品を基準治具に実装した状態で測定したならば得られるであろう前記電子部品の電気特性の推定値を算出する、測定誤差補正方法であって、
前記基準治具に実装した状態で、少なくとも3種類の第1の補正データ取得用試料をそれぞれ測定する第1のステップと、
前記試験治具に実装した状態で、前記第1のステップで測定したポートに対応するポートについて、前記各第1の補正データ取得用試料とそれぞれ同等の特性を有すると見なせる少なくとも3種類の第2の補正データ取得用試料をそれぞれ測定する第2のステップと、
前記第1及び第2のステップで得られた測定結果から、前記第1の補正データ取得用試料と前記第2の補正データ取得用試料とが同一試料であるとの前提で、前記試験治具に実装した状態で測定した測定値と前記基準治具に実装した状態で測定した測定値とを関連付ける数式を決定する第3のステップと、
任意の電子部品を前記試験治具に実装した状態で測定する第4のステップと、
前記第4のステップで得られた測定結果に基づいて、前記第3のステップで決定した前記数式を用いて、当該電子部品を前記基準治具に実装した状態で測定したならば得られるであろう前記電子部品の電気特性の推定値を算出する第5のステップとを備えることを特徴とする、測定誤差補正方法。 - 前記第1の補正データ取得用試料と前記第2の補正データ取得用試料とが、前記電子部品と同一方法により製作されることを特徴とする、請求項1に記載の測定誤差補正方法。
- 試験治具に実装した状態で電子部品を測定した結果から、当該電子部品を基準治具に実装した状態で測定したならば得られるであろう前記電子部品の電気特性の推定値を算出する、電子部品特性測定装置であって、
前記試験治具又は前記基準治具に実装した状態で前記電子部品を測定する測定手段と、
前記測定手段により、前記基準治具に実装した状態で、少なくとも3種類の第1の補正データ取得用試料をそれぞれ測定した第1の測定結果を記憶する記憶手段と、
前記試験治具に実装した状態で、前記第1の補正データ取得用試料を測定したポートに対応するポートについて、前記各第1の補正データ取得用試料とそれぞれ同等の特性を有すると見なせる少なくとも3種類の第2の補正データ取得用試料をそれぞれ測定した第2の測定結果を読み出す読出手段と、
前記記憶手段に記憶された前記第1の測定結果と前記読出手段により読み出された前記第2の測定結果とから、前記第1の補正データ取得用試料と前記第2の補正データ取得用試料とが同一試料であるとの前提で、前記試験治具に実装した状態で測定した測定値と前記基準治具に実装した状態で測定した測定値とを関連付ける数式を決定する数式決定手段と、
前記測定手段により、任意の電子部品を前記試験治具に実装した状態で測定した測定結果に基づいて、前記数式決定手段が決定した前記数式を用いて、当該電子部品を前記基準治具に実装した状態で測定したならば得られるであろう前記電子部品の電気特性の推定値を算出する電気特性推定手段とを備えることを特徴とする、電子部品特性測定装置。 - 前記第1の補正データ取得用試料と前記第2の補正データ取得用試料とが、前記電子部品と同一方法により製作されることを特徴とする、請求項3に記載の電子部品特性測定装置。
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JP2006300928A JP2006300928A (ja) | 2006-11-02 |
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WO2008065791A1 (fr) | 2006-11-30 | 2008-06-05 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Procédé de correction d'erreur de caractéristiques hautes fréquences d'un composant électronique |
WO2008066137A1 (fr) * | 2006-11-30 | 2008-06-05 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Procédé et dispositif de correction d'erreur de caractéristique haute fréquence de composant électronique |
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