JP4451208B2 - 多層回路基板 - Google Patents

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Description

この発明は、回路基板が多層構造でなる多層回路基板に関するもので、特に多層構造の回路内に構成された層ずれを検出するための高周波回路パターンに関するものである。
従来の層ずれを検出する検査用パターンを持つ多層基板として、予め定められた幅を有する検査用パターンをそれぞれの階層の縦側面と横側面に導出して設けたものがある。このような多層基板においては、検査用パターンが多層基板の側面に露出するので、加工時のパターン幅のばらつき、パターンの厚みのばらつき、あるいは各層間のパターンずれをあらかじめ外部より目視で把握することができる(例えば、特許公報1参照)。
特開平8−250862号公報(明細書第2−3頁、図1)
しかしながら、上述した従来の多層基板においては、検査用パターンを多層基板の外周をはみ出すように配置する必要があり、加工が困難であるという欠点がある。これを避けるために、基板外周のやや内側にパターンを設けた場合には基板を一度切断し、切断面を研磨する必要があるという欠点がある。
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、目視ではなく、外部の測定器により多層構造の基板内部の層ずれを検出するための高周波回路パターンの電気的特性を計測することで、特定層のずれ量を検出することができる多層回路基板を得ることを目的とするものである。
この発明に係る多層回路基板は、回路基板が多層構造でなる多層回路基板において、特定層の導体パターンとそれ以外の層の導体パターンとにより分割して形成され、特定層が特定方向にずれたときに共振周波数が変化し、反対方向または特定方向とは平行でない方向にずれた場合には変化しない構造の共振回路と、最外層に設けられた入出力端子とを有する高周波回路パターンを備え、前記共振回路は、特定層の導体パターンとそれ以外の層の導体パターンとにより分割して形成されるコンデンサと、1つの層の導体パターンからなるコイルとで形成され、前記コンデンサは、層によって幅の異なる歯電極部を有し、一部が重なるように特定層とそれ以外の層とに櫛歯電極パターンを対向配置することで形成されることを特徴とする。
また、回路基板が多層構造でなる多層回路基板において、特定層の導体パターンとそれ以外の層の導体パターンとにより分割して形成され、特定層が特定方向にずれたときに共振周波数が変化し、反対方向または特定方向とは平行でない方向にずれた場合には変化しない構造の共振回路と、最外層に設けられた入出力端子とを有する高周波回路パターンを備え、前記共振回路は、特定層の導体パターンとそれ以外の層の導体パターンとにより分割して形成されるコンデンサと、1つの層の導体パターンからなるコイルとで形成され、前記コンデンサは、ずれの大きさまたは方向によって重なる対向面積が変化する幅の異なる歯電極部を有する櫛歯電極パターンを特定層とそれ以外の層とに配置することで形成されることを特徴とする
この発明によれば、目視ではなく、外部の測定器により多層構造の基板内部の高周波回路パターンの電気的特性を計測することで、特定層のずれ量を検出することである。
実施の形態1.
図1と図2及び図3は、この発明の実施の形態1に係る多層回路基板の特定の第1層と第2層に設けられる共振器を有する高周波回路パターンの斜視図と平面図及び断面図である。この高周波回路パターンとして、多層回路基板の第1層に、導体パターンとして、歯電極部101,102,103及び104を有する櫛歯電極パターン105が設けられると共に、この櫛歯電極パターン105に接続されたコイルパターン106が設けられている。そして、コイルパターン106は、その一端がビアホール122を介してグランド層に接続され、最外層に設けられる入出力端子の一方がビアホール123を介してグランド層へ接続されるようになっている。また、最外層に設けられる入出力端子のもう一方はビアホール124を介して第1層の櫛歯電極パターン105と第1層のコイルパターン106に接続されるようになっている。
また、多層回路基板の第2層に、導体パターンとして、櫛歯電極パターン105の歯電極部101,102,103及び104に対向する位置に歯電極部111,112,113及び114が配設された櫛歯電極パターン115が設けられ、櫛歯電極パターン105と櫛歯電極パターン115とでコンデンサを形成している。櫛歯電極パターン115の一端はビアホール121を介してグランド層に接続される。
ここで、図2の平面図及び図3の断面図のように、櫛歯電極パターン105を実線、櫛歯電極パターン115を波線で示すように、櫛歯電極パターン105の各歯電極部101〜104は同じ幅及び間隔を有する。例えば、図2に示すように、各歯電極部の幅と歯電極部間の間隔は1:3の長さを有する。
これに重なるよう対向配置される櫛歯電極パターン115の各歯電極部111〜114は、歯電極部の長手方向の長さが歯電極部101〜104と同じであるが、各歯電極部111〜114の幅、つまり櫛歯電極の長手方向の幅は、コイルパターン106への接続側に向けて順次太くなる一方、間隔が順次狭まるようになっている。すなわち、歯電極部111の幅と間隔は、1:3であるのに対し、歯電極部112の幅と間隔は、2:2、歯電極部113の幅と間隔は、3:1、歯電極部114は全幅が歯電極となっている。つまり、櫛歯電極パターン105の各歯電極部101〜104の幅と隣接する歯電極部間の間隔とを足した長さと櫛歯電極パターン115の各歯電極部111〜114の幅と隣接する歯電極部間の間隔とを足した長さとは一定の同じ長さを有する。そして、歯電極部101と111との幅は同じ幅を有し、ずれない状態では歯電極部101と111とが完全に重なるよう対向配置される。
このため、第1層の櫛歯電極パターン105がコイルパターン106側方向にずれて移動しても、第2層の櫛歯電極パターン115の各歯電極部の幅が太いため、第1層の櫛歯電極パターン105と第2層の櫛歯電極パターン115とが重なる対向面積はそれほど変わらないが、その反対側方向にずれて移動した場合には、重なる対向面積が極端に減ることになる。
また、第2層の櫛歯電極パターン115の各歯電極部111〜114を接続する接続電極部の幅は、第1層の櫛歯電極パターン105の各歯電極部101〜104を接続する接続電極部の幅より2倍太く、層がずれない状態では、第1層の櫛歯電極パターン105の接続電極部は、第2層の櫛歯電極パターン115の接続電極部の幅方向中央に配置される。このため、第1層の櫛歯電極パターン105の接続電極部が歯電極部の長手方向に沿って多少ずれても第1層の櫛歯電極パターン105と第2層の櫛歯電極パターン115との接続電極部が重なる対向面積は変わらないようになっている。
なお、図3において、130はグランド層、131、132、133はグランド層130を最下面の主たるグランドへ接続するためのビアホールである。
次に動作について説明する。図4に示す等価回路図のように、第1層の櫛歯電極パターン105と第2層の櫛歯電極パターン115によりコンデンサ141が形成され、コイルパターン106がこれに並列接続されるコイル142を形成する。このコンデンサ141とコイル142との共振回路は、入力端子124と等価な入力端子144とグランド143との間に設けられる。実施の形態1は、電気的にこのように表されるため、コンデンサ141の容量をC、コイル142のインダクタンスをLとすると、1/(2・√(LC))で表される共振周波数fにおいて、入力端子144からみた位相は、図5に示すように0度となり、回路に損失がある場合には反射するエネルギーが小さくなる。
第1層の櫛歯電極パターン105が第2層の櫛歯電極パターン115に対してずれていない場合には、図6に示す断面図のように、各歯電極部101〜104と111〜114とは対向するが、図6において、第1層の櫛歯電極パターン105が図中右側にずれた場合は図7のようになり、対向する面積にさほど変化がなくコンデンサの容量はあまり低下しない。一方、図中左側にずれた場合は図8のようになり、対向面積が極端に減りコンデンサの容量は大きく低下する。このため、ずれた距離と共振周波数fの関係は、図9のようになる。なお、図9では、層のずれの−方向は、図6の状態から図8に示すように第1層の櫛歯電極パターン105が第2層の櫛歯電極パターン115に対して図中左方向にずれる方向を示し、+方向はその逆方向を示す。
このように、層のずれた量に対して共振周波数fが変化し、かつ特定の方向にのみ変化量が多いので、平面内に少なくとも3つ以上の方向にこのような検査用パターンとしての高周波回路パターンを配置することで、ずれた量と方向を特定することができる。
また、第2層の櫛歯電極パターン115の各歯電極部111〜114の幅が対向配置される第1層の櫛歯電極パターン105の各歯電極部101〜104の幅よりも長いので、櫛歯電極の長手方向、つまり接続電極部の長手方向に沿ってコイルパターン106側にずれても、コンデンサの容量の変化は非常に小さい。
図10は、個別部品のダイシングを行う前の多層構造の電子回路基板の一部に4つの検査用パターンを4つの方向に向けて配置した例を示す図である。図10では、ダイシングを行う前の多層構造の電子回路基板200に、図中左側へのずれに対して共振周波数fが大きく変化する検査用パターン201、図中下側へのずれに対して共振周波数fが大きく変化する検査用パターン202、図中上側へのずれに対して共振周波数fが大きく変化する検査用パターン203、図中右側へのずれに対して共振周波数fが大きく変化する検査用パターン204を配置している。なお、205は検査後に切り出される電子回路基板を示す。
このように、検査用パターンとして高周波回路パターンを配置することで、電子部品を多層基板上に実装する前に基板の特定の層のずれがわかるので、内部の部品の特性のずれが把握でき、実装する部品を変更することで、所望の特性になるように修正できる。また、ずれが大きい場合には、高価な電子部品を実装せずに廃棄できるので、歩留まりによるコストの上昇を抑えることができる。
また、図4に示す等価回路に対し、入出力端子145を追加して、図11のような等価回路にすることも可能である。
なお、上記実施の形態では、図1〜図3に示すように、ずれの大きさまたは方向によって重なる対向面積が変化する幅の異なる歯電極部を有する櫛歯電極パターン105と115を第1層と第2層とに配置することでコンデンサ141を形成したが、櫛歯電極パターン115の歯電極部の幅を、櫛歯電極パターン105の歯電極部の幅より太くし、かつすべて同一の幅にして、層ずれの方向によって重なる対向面積が変化するよう櫛歯電極パターン105と115を第1層と第2層とに配置することでコンデンサを形成することもできる。
上述した実施の形態1によれば、目視ではなく、外部の測定器により多層構造の基板内部の検査用パターンの電気的特性を計測することで、特定の方向への層のずれ量を検出することである。
また、特定の方向にずれたときに共振周波数が大きく変化し、特定の方向とは反対の方向、あるいは歯電極部の長手方向にずれた場合にはほとんど変化しない構造の共振器を得ることができる。
この発明の実施の形態1に係る多層回路基板の特定の第1層と第2層に設けられる共振器を有する高周波回路パターンの斜視図である。 図1の平面図である。 図1の部分断面図である。 図1に示す高周波回路パターンの等価回路図である。 図4の等価回路の反射位相を示す図である。 この発明の実施の形態1に係るもので、第1層と第2層の櫛歯電極の歯電極部の対向配列にずれが無い場合の断面図である。 この発明の実施の形態1に係るもので、第1層の櫛歯電極の歯電極部の対向配列が図中右側にずれた場合の断面図である。 この発明の実施の形態1に係るもので、第1層の櫛歯電極の歯電極部の対向配列が図中左側にずれた場合の断面図である。 この発明の実施の形態1に係る歯電極部のずれと共振周波数の関係を示す図である。 この発明の実施の形態1が適用される多相回路基板を示す図である。 この発明の実施の形態1とは別の構造の共振回路の等価回路図である。
符号の説明
101〜104 コンデンサを形成する第1層の櫛歯電極の歯電極部、105 第1層の櫛歯電極、106 第1層のコイル、111〜114 コンデンサを形成する第2層の櫛歯電極の歯電極部、115 第2層の櫛歯電極、121〜124 ビアホール、130 グランド層、131〜133 ビアホール、141 コンデンサ、142 コイル、143 グランド、144 入力端子、200 ダイシングする前の多層構造の電子回路基板、201〜204 検査用パターン。

Claims (3)

  1. 回路基板が多層構造でなる多層回路基板において、
    特定層の導体パターンとそれ以外の層の導体パターンとにより分割して形成され、特定層が特定方向にずれたときに共振周波数が変化し、反対方向または特定方向とは平行でない方向にずれた場合には変化しない構造の共振回路と、
    最外層に設けられた入出力端子と
    を有する高周波回路パターンを備え
    前記共振回路は、特定層の導体パターンとそれ以外の層の導体パターンとにより分割して形成されるコンデンサと、1つの層の導体パターンからなるコイルとで形成され、
    前記コンデンサは、層によって幅の異なる歯電極部を有し、一部が重なるように特定層とそれ以外の層とに櫛歯電極パターンを対向配置することで形成される
    ことを特徴とする多層回路基板。
  2. 回路基板が多層構造でなる多層回路基板において、
    特定層の導体パターンとそれ以外の層の導体パターンとにより分割して形成され、特定層が特定方向にずれたときに共振周波数が変化し、反対方向または特定方向とは平行でない方向にずれた場合には変化しない構造の共振回路と、
    最外層に設けられた入出力端子と
    を有する高周波回路パターンを備え、
    前記共振回路は、特定層の導体パターンとそれ以外の層の導体パターンとにより分割して形成されるコンデンサと、1つの層の導体パターンからなるコイルとで形成され、
    前記コンデンサは、ずれの大きさまたは方向によって重なる対向面積が変化する幅の異なる歯電極部を有する櫛歯電極パターンを特定層とそれ以外の層とに配置することで形成される
    ことを特徴とする多層回路基板。
  3. 請求項1または2に記載の多層回路基板において、
    前記高周波回路パターンは、個別部品のダイシングを行う前の全体基板に、共振周波数が変化する特定方向を互いに異ならせて少なくとも3つ以上配置した
    ことを特徴とする多層回路基板。
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