JP4443616B2 - 時間デジタル変換回路 - Google Patents
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Description
22 第2遅延素子(ノンインバータバッファ)
23 判定回路(フリップ・フロップ)
24 演算回路(エンコーダ回路)
Claims (4)
- 被測定信号の基準クロックに対する位相を検出する時間デジタル変換回路であって、
入力信号を第1遅延量で遅延する第1遅延素子を複数直列に接続し、初段の前記第1遅延素子に前記基準クロックが入力される第1ディレイラインと、
前記第1ディレイラインの複数の前記第1遅延素子の接続ノードまたは初段の前記第1遅延素子の入力ノードに接続され、入力信号を前記第1遅延量と異なる第2遅延量で遅延する第2遅延素子を少なくとも1つ以上直列に接続した第2ディレイライン群と、
前記被測定信号の変化エッジが、前記第1ディレイラインの複数の前記第1遅延素子および前記第2ディレイライン群の複数の前記第2遅延素子の出力する前記基準クロックを遅延した信号の変化エッジに対して進んでいるか遅れているかを判定する複数の判定回路と、
前記複数の判定回路の判定結果から、前記被測定信号の変化エッジの前記基準クロックに対する位相を算出する演算回路と、を備え、
前記第1遅延量と前記第2遅延量の差は、前記第1遅延量および前記第2遅延量より小さいことを特徴とする時間デジタル変換回路。 - 前記第1遅延量と前記第2遅延量の差は、前記第1遅延量の整数分の1である請求項1に記載の時間デジタル変換回路。
- 複数の前記第1遅延素子および複数の前記第2遅延素子は、出力する前記基準クロックを遅延した信号の遅延量が重複しない請求項1または2に記載の時間デジタル変換回路。
- 前記第1ディレイラインの複数の前記第1遅延素子の接続ノードまたは初段の前記第1遅延素子の入力ノードおよび前記第2ディレイライン群の複数の前記第2遅延素子の接続ノードに接続され、入力信号を前記第1遅延量および第2遅延量と異なる第3遅延量で遅延する第3遅延素子を少なくとも1つ以上直列に接続した第3ディレイライン群と、
前記被測定信号の変化エッジが、前記第3ディレイライン群の複数の前記第3遅延素子の出力する前記基準クロックを遅延した信号の変化エッジに対して進んでいるか遅れているかを判定する複数の追加判定回路と、をさらに備え、
前記演算回路は、前記複数の判定回路および前記複数の追加判定回路の判定結果から、前記被測定信号の変化エッジの前記基準クロックに対する位相を算出する請求項1から3のいずれか1項に記載の時間デジタル変換回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008058450A JP4443616B2 (ja) | 2008-03-07 | 2008-03-07 | 時間デジタル変換回路 |
US12/382,056 US7884751B2 (en) | 2008-03-07 | 2009-03-06 | Time-to-digital converter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008058450A JP4443616B2 (ja) | 2008-03-07 | 2008-03-07 | 時間デジタル変換回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009218729A JP2009218729A (ja) | 2009-09-24 |
JP4443616B2 true JP4443616B2 (ja) | 2010-03-31 |
Family
ID=41053453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008058450A Expired - Fee Related JP4443616B2 (ja) | 2008-03-07 | 2008-03-07 | 時間デジタル変換回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7884751B2 (ja) |
JP (1) | JP4443616B2 (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8243555B2 (en) * | 2008-08-07 | 2012-08-14 | Infineon Technologies Ag | Apparatus and system with a time delay path and method for propagating a timing event |
EP2192689B1 (en) * | 2008-12-01 | 2012-01-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Time-to-digital converter and all-digital phase-locked loop |
US8098085B2 (en) * | 2009-03-30 | 2012-01-17 | Qualcomm Incorporated | Time-to-digital converter (TDC) with improved resolution |
WO2011104778A1 (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-01 | パナソニック株式会社 | 時間差デジタル変換ステージおよびそれを備えた時間差デジタル変換器 |
US8106808B1 (en) * | 2010-07-21 | 2012-01-31 | Applied Micro Circuits Corporation | Successive time-to-digital converter for a digital phase-locked loop |
JP2012070087A (ja) * | 2010-09-21 | 2012-04-05 | Toshiba Corp | デジタル位相比較器及びデジタル位相同期回路 |
US8222607B2 (en) * | 2010-10-29 | 2012-07-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for time to digital conversion |
US8207770B1 (en) * | 2010-12-23 | 2012-06-26 | Intel Corporation | Digital phase lock loop |
WO2012120569A1 (ja) | 2011-03-07 | 2012-09-13 | パナソニック株式会社 | 時間差デジタル変換回路およびそれを備えた時間差デジタル変換器 |
WO2012137268A1 (ja) * | 2011-04-07 | 2012-10-11 | パナソニック株式会社 | 時間デジタル変換器及びそれを用いたpll周波数シンセサイザ |
KR101749583B1 (ko) | 2011-05-30 | 2017-06-21 | 삼성전자주식회사 | 시간차 가산기, 시간차 누산기, 시그마-델타 타임 디지털 변환기, 디지털 위상 고정 루프 및 온도 센서 |
JPWO2013018274A1 (ja) | 2011-08-01 | 2015-03-05 | パナソニック株式会社 | 時間差調整回路およびそれを備えた時間差デジタル変換器 |
JPWO2013021524A1 (ja) | 2011-08-11 | 2015-03-05 | パナソニック株式会社 | オーバーサンプリング型時間差デジタル変換器 |
US8669794B2 (en) | 2012-02-21 | 2014-03-11 | Qualcomm Incorporated | Circuit for detecting a voltage change using a time-to-digital converter |
US8471736B1 (en) * | 2012-04-06 | 2013-06-25 | Panasonic Corporation | Automatic adjusting circuit and method for calibrating vernier time to digital converters |
US8736338B2 (en) * | 2012-04-11 | 2014-05-27 | Freescale Semiconductor, Inc. | High precision single edge capture and delay measurement circuit |
US8558728B1 (en) * | 2012-07-27 | 2013-10-15 | Dust Networks, Inc. | Phase noise tolerant sampling |
JP2014045268A (ja) | 2012-08-24 | 2014-03-13 | Toshiba Corp | 時間デジタル変換回路、および、デジタル時間変換回路 |
US9098072B1 (en) * | 2012-09-05 | 2015-08-04 | IQ-Analog Corporation | Traveling pulse wave quantizer |
JPWO2014038124A1 (ja) * | 2012-09-07 | 2016-08-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 時間差デジタル変換ステージおよびそれを備えた時間差デジタル変換器 |
JP6043867B2 (ja) * | 2013-03-28 | 2016-12-14 | 株式会社日立製作所 | 超音波撮像装置 |
EP3004994B1 (en) | 2013-05-31 | 2017-08-30 | Cserey, György, Gábor | Device and method for determining timing of a measured signal |
JP2016181735A (ja) * | 2013-08-23 | 2016-10-13 | 株式会社東芝 | 位相−デジタル変換器および受信機 |
US9606228B1 (en) | 2014-02-20 | 2017-03-28 | Banner Engineering Corporation | High-precision digital time-of-flight measurement with coarse delay elements |
KR101639064B1 (ko) * | 2014-11-07 | 2016-07-12 | 서울대학교산학협력단 | 이종 샘플링 지연선 기반 시간-디지털 변환기 |
US9432025B1 (en) | 2014-11-28 | 2016-08-30 | Altera Corporation | Techniques for reducing skew between clock signals |
KR102154189B1 (ko) | 2014-12-01 | 2020-09-09 | 삼성전자 주식회사 | 추계적 위상 보간 방법을 이용한 시간-디지털 변환기 |
US9188961B1 (en) * | 2015-02-18 | 2015-11-17 | Micrel, Inc. | Time-to-digital converter |
CN106354001B (zh) * | 2016-08-31 | 2019-03-12 | 中国科学院上海高等研究院 | 时间数字转换电路 |
US10454483B2 (en) | 2016-10-24 | 2019-10-22 | Analog Devices, Inc. | Open loop oscillator time-to-digital conversion |
EP3340468B1 (en) * | 2016-12-22 | 2023-12-06 | NXP USA, Inc. | Tdc, digital synthesizer, communication unit and method therefor |
US10175655B2 (en) * | 2017-03-17 | 2019-01-08 | Intel Corporation | Time-to-digital converter |
US10230360B2 (en) | 2017-06-16 | 2019-03-12 | International Business Machines Corporation | Increasing resolution of on-chip timing uncertainty measurements |
US10965442B2 (en) * | 2018-10-02 | 2021-03-30 | Qualcomm Incorporated | Low-power, low-latency time-to-digital-converter-based serial link |
US11923856B2 (en) * | 2022-04-05 | 2024-03-05 | Xilinx, Inc. | Low-latency time-to-digital converter with reduced quantization step |
CN115509111B (zh) * | 2022-09-26 | 2023-09-01 | 西北核技术研究所 | 用于延时链型时间数字转换器的采样控制电路及控制方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0964197A (ja) | 1995-08-29 | 1997-03-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | バッファ回路 |
US5836004A (en) * | 1997-01-07 | 1998-11-10 | Industrial Technology Research Institute | Differential mode time to digital converter |
TW543245B (en) * | 2002-05-17 | 2003-07-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector and method making the same |
TW200641634A (en) * | 2005-05-20 | 2006-12-01 | Univ Nat Central | Interlaced network space module |
US7629915B2 (en) * | 2006-05-26 | 2009-12-08 | Realtek Semiconductor Corp. | High resolution time-to-digital converter and method thereof |
US7570182B2 (en) * | 2006-09-15 | 2009-08-04 | Texas Instruments Incorporated | Adaptive spectral noise shaping to improve time to digital converter quantization resolution using dithering |
KR100845133B1 (ko) * | 2006-11-15 | 2008-07-10 | 삼성전자주식회사 | 고해상도 타임투디지털컨버터 |
KR100852180B1 (ko) * | 2006-11-24 | 2008-08-13 | 삼성전자주식회사 | 타임투디지털컨버터 |
US7427940B2 (en) * | 2006-12-29 | 2008-09-23 | Texas Instruments Incorporated | Time-to-digital converter with non-inverting buffers, transmission gates and non-linearity corrector, SOC including such converter and method of phase detection for use in synthesizing a clock signal |
-
2008
- 2008-03-07 JP JP2008058450A patent/JP4443616B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-03-06 US US12/382,056 patent/US7884751B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009218729A (ja) | 2009-09-24 |
US7884751B2 (en) | 2011-02-08 |
US20090225631A1 (en) | 2009-09-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091201 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091215 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100112 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130122 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130122 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |