(オフセット量測定方法に係る実施形態)
以下、本発明の実施形態に係るオフセット量測定方法について説明する。
本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態は、記録情報を記録するための第1記録トラックが形成されたディスク状の第1記録層と、該第1記録層を介して、前記記録情報を前記第1記録層の前記第1記録トラックと同一の又は反対の記録方向(即ち、パラレル方式又はオポジット方式)で記録するための第2記録トラックが形成されたディスク状の第2記録層とを少なくとも備えた情報記録媒体において、前記第1及び第2記録トラックに対して予め付与されたプリフォーマットアドレス(例えば、セクタ番号或いはセクタアドレス)によって相互に対応付けられる前記第1及び第2記録トラック上の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定方法であって、前記第1記録トラックに、前記プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ測定用情報を記録すると共に、前記第2記録トラックに、前記一の測定基準位置に対して前記プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置から前記所定区間又は前記所定長さだけ前記測定用情報を記録する測定用記録工程と、前記情報記録媒体の中心軸を基準として、前記第1記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第1記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第1未記録エリアとの境界である第1境界位置を、前記第1記録済みエリア及び前記第1未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第1検出工程と、前記中心軸を基準として、前記第2記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第2記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第2未記録エリアとの境界である第2境界位置を、前記第2記録済みエリア及び前記第2未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第2検出工程と、前記検出された第1及び第2境界位置に基づいて、前記オフセット量
を決定する決定工程とを備える。
本発明の実施形態に係るオフセット量測定方法によれば、その測定対象である情報記録媒体は、例えば、ディスク状の基板の一方の面上に、第1及び第2記録層が形成されており、二層型或いは多層型の例えばDVD或いは光ディスク等である。第1記録層には例えば、グルーブ(案内溝)から構成された第1記録トラックに沿って、音声、映像情報或いはコンテンツ情報等の記録情報が記録可能とされている。第2記録層には例えば、グルーブ(案内溝)から構成された第2記録トラックに沿って、音声、映像情報或いはコンテンツ情報等の記録情報が記録可能とされている。このように構成されているので、記録又は再生用レーザ光は、基板、第1記録層及び第2記録層の順番に照射される。より具体的には、特に、第1記録トラックは、前述した基板の内周側及び外周側のうち一方側から他方側へと向かい、第2記録トラックも、第1記録トラックと同様に、一方側から他方側へと向かうように構成してもよい。或いは、第2記録トラックは、第1記録トラックと逆に、他方側から一方側へと向かうように構成してもよい。即ち、当該二層型或いは多層型の情報記録媒体では、記録トラックが二つの記録層の間で同一方向を向いている“パラレル方式(即ち、パラレルトラック方式)”による連続記録が可能とされる。或いは、記録トラックが二つの記録層の間で逆方向を向いている“オポジット方式(即ち、オポジットトラック方式)”による連続記録が可能とされる。
このような情報記録媒体では、第1及び第2記録トラック上の半径位置或いは半径方向位置は、プリフォーマットアドレスによって相互に対応付けられている。例えば、パラレル方式であれば、同一のアドレス値の半径位置(例えば、同一セクタ番号の半径位置)が相互に対応付けられている。或いは、オポジット方式であれば、補数のアドレス値の半径位置(例えば、補数の関係にあるセクタ番号の半径位置)が相互に対応付けられている。そして、このように対応付けられている半径位置は、理想的には、言い換えれば第1及び第2記録層間における偏心や第1及び第2記録トラックピッチの偏差が存在しないとすれば、当該ディスク状の情報記録媒体における第1及び第2記録層の法線方向から見てズレ或いはオフセットはなく、重なっている。即ち、理想的には、オフセット量はゼロである。しかしながら実際には、このような偏心や偏差は、記録層の貼り合わせ誤差、相異なるスタンパやカッティングマシーンの使用等によって、大なり小なり生じる。
そこで本実施形態では、先ず、測定用工程によって、第1記録トラックに、プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ、例えば所定数のセクタに渡るように、測定用情報を記録する。これと相前後して、第2記録トラックにおける前記一の測定基準位置に対してプリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置から、係る所定区間又は所定長さだけ、例えば同数のセクタに渡るように、測定用情報を記録する。ここに本発明に係る「プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測定対応位置」とは、例えば、パラレル方式であれば、測定基準位置と同一半径位置(即ち、例えばセクタ番号等のアドレス値が同一である位置)であり、例えばオポジット方式であれば、測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ外周寄りの半径位置(即ち、例えばセクタ番号等のアドレス値が補数の関係にある位置から、所定区間又は所定長さだけ外周寄りの位置)である。
その後、第1検出工程によって、情報記録媒体の中心軸を基準として、第1記録トラックにおける第1記録済みエリアと第1未記録エリアとの境界である第1境界位置(例えば、第1記録済みエリアの外周寄り又は内周寄りの境界、若しくは、これら両方の境界)を、第1記録済みエリア及び第1未記録エリア間の反射率の差に基づいて、検出する。通常は、第1記録済みエリアでは、第1未記録エリアと比較して、記録層における相変化、形状変化等の物理的又は化学的な変化によって、反射率が低下するので、このような境界は、比較的容易且つ正確に測定できる。これと相前後して、第2検出工程によって、中心軸を基準として、第2記録トラックにおける第2記録済みエリアと第2未記録エリアとの境界である第2境界位置(例えば、第2記録済みエリアの外周寄り又は内周寄りの境界、若しくは、これら両方の境界)を、第2記録済みエリア及び第2未記録エリア間の反射率の差に基づいて、検出する。この場合にも通常は、第2記録済みエリアでは、第2未記録エリアと比較して、反射率が低下するので、このような境界は、比較的容易且つ正確に測定できる。
その後、決定工程によって、上述の如く検出された第1及び第2境界位置に基づいて、オフセット量を決定する。即ち、測定用情報が記録されたエリアの外周寄りの境界同士又は内周寄りの境界同士を比較することで、オフセット量を決定できる。このような決定は、例えばCPU(Central Processing Unit)等の処理装置を用いての、数学的な演算処理によって行なわれる。
従って、ユーザが当該情報記録媒体を使用する前、即ち、記録情報をデータエリア或いはユーザデータエリアに記録するのに先立って、第1及び第2記録層の貼り合わせ誤差、相異なるスタンパやカッティングマシーンの使用等によって、大なり小なり生じている筈の第1及び第2トラック間の偏心や、第1及び第2トラックピッチの偏差に応じて発生するオフセット量を、比較的容易にして且つ正確に測定することが可能となる。
このため例えば、パラレル方式の情報記録媒体について、第2記録トラックにおけるデータエリアの開始位置を示すためのプリフォーマットアドレスの基準となる第2場所が、第1記録トラックにおけるデータエリアの開始位置を示すためのプリフォーマットアドレスの基準となる第1場所より、予め設定された第1オフセット量だけ外周側に位置している構成を、上述の如き偏心対策或いは偏差対策として採用した場合に、該第1オフセット量を実際に測定することが可能となり、更に該第1オフセット量が意図した許容範囲内に入っているか否かを判定することも可能となる。或いは、オポジット方式の情報記録媒体について、第2記録トラックにおけるデータエリアの開始位置を示すためのプリフォーマットアドレスの基準となる第2場所が、第1記録トラックにおけるデータエリアの終了位置を示すためのプリフォーマットアドレスの基準となる第1場所より、予め設定された第1オフセット量だけ内周側に位置している構成を、上述の如き偏心対策或いは偏差対策として採用した場合に、該第1オフセット量を実際に測定することが可能となり、更に該第1オフセット量が意図した許容範囲内に入っているか否かを判定することも可能となる。そしてこのような対策を実施すれば、記録データが記録済み状態の第1記録層を介して第2記録層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、第2記録層の内周側に位置する記録領域の開始位置付近において、適切な記録を行うことができる。
以上のように本実施形態のオフセット量測定方法によれば、上述の如き偏心や偏差に応じてズレ或いはオフセットが生じても、オフセット量を測定することによって、これらがどの程度のものであるかを明らかにすることが可能となり、更にこれら偏心や偏差に対する対策の要否についても明らかにすることが可能となる。加えて、例えば意図的に施したオフセット量の検証を行うなど、何らかの対策を施した場合における該対策の良否についても明かにすることが可能となる。
本実施形態のオフセット量測定方法の一態様では、前記第1及び第2検出工程は、前記中心軸を中心として前記情報記録媒体を回転させつつ、前記第1及び第2記録層に対向配置される光学顕微鏡によって、前記第1及び第2境界位置を夫々検出する。
この態様によれば、光学顕微鏡で観察して、第1及び第2境界位置を夫々直読することで、第1及び第2境界位置を夫々、高精度で検出できる。これにより、高精度で、オフセット量を測定することが可能となる。
或いは本実施形態のオフセット量測定方法の他の態様では、前記第1及び第2検出工程は、前記第1及び第2記録層に対向配置され且つ前記第1及び第2記録層に対して平行に移動可能である2次元測長器によって、前記プリフォーマットアドレスにより特定される前記第1及び第2境界位置に存在する複数の点についての、前記中心軸を基準とする座標を夫々検出する。
この態様によれば、2次元測長器、或いは2次元測長システムによって、例えば、第1記録層における第1境界位置となる、第1記録トラック上の3点の座標を測定し、第2記録層における第2境界位置となる、第2記録トラック上の3点の座標を測定する。すると、それら複数の点についての測定結果たる複数の座標に基づいて、第1及び第2記録層の夫々についての中心座標と、各測定された点の半径位置とを算出すれば、第1及び第2記録層間におけるこれらの算出された半径位置の差分により、オフセット量を測定することが可能となる。
或いは本実施形態のオフセット量測定方法の他の態様では、前記第2記録トラックは前記第1記録トラックと同一の記録方向で記録するように形成されており、前記第2記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第2場所が、前記第1記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第1場所より、少なくとも予め設定された第1オフセット量だけ外周側に位置しており、前記決定されたオフセット量が前記第1オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かを判定する判定工程を更に備える。
この態様によれば、“パラレル方式”の情報記録媒体に対して、前述の如く第1及び第2記録層間における偏心や第1及び第2記録トラックピッチの偏差が存在しても、記録データが記録済み状態の第1記録層を介して第2記録層に記録データを記録できるようにするための対策として、第2場所が第1場所より第1オフセット量だけ外周側にオフセットされている。即ち、第2記録層の内周側に位置する、例えば、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスが“30000h”のデータエリアの開始位置を示す第2場所が、第1記録層の内周側に位置する、例えば、セクタ番号が“30000h”のデータエリアの開始位置を示す第1場所から、少なくとも第1オフセット量だけ外周側に位置するように設計されている。ここに、「第1オフセット量」とは、第2記録層の記録領域の最内周位置を第1記録層の記録領域の最内周位置より外周側に位置させるために定められた半径方向の長さに相当する基準値である。具体的には、例えば、第1記録層及び第2記録層における貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値以上の値とされる。尚、第1オフセット量は、光ディスクの半径方向の長さ(μm)として示され、セクタ数やECCブロック数に換算可能としてもよいし、アドレスの所定単位であるセクタ数やECCブロック数で直接的に示されてもよい。その結果、記録データが記録済み状態の第1記録層を介して第2記録層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、第2記録層の内周側に位置する記録領域の開始位置付近において、適切な記録を行うことができる。係る第2記録層の内周側に位置する記録領域の開始位置付近において、記録レーザパワーが切り替えられる必要もなく、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに応じて記録データを記録していけばよいため、記録手順自体も簡略化されるという利点も有する。加えて、この記録された記録データを再生する場合にも、良好な再生特性(例えば、アシンメトリ値、ジッタ値、変調度や再生エラーレート等)を得ることができる。
このように構成された情報記録媒体に対して決定工程が施された後に、判定工程によって、この決定されたオフセット量が、第1オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される。よって、第1オフセット量を与える上述の如き対策が適切に実施されているか否かを、例えばCPU等の処理装置を用いての比較演算処理によって、自動的に或いは半自動的に検証することが可能となる。尚、この場合、決定工程により決定されたオフセット量と既知である第1オフセット量との比較を、手動や目視等の人的手段によって行うことも可能である。
或いは本実施形態のオフセット量測定方法の他の態様では、前記第2記録トラックは前記第1記録トラックと反対の記録方向で記録するように形成されており、前記第2記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの開始位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第2場所が、前記第1記録トラックにおける前記記録情報を記録可能なデータエリアの終了位置を示すための前記プリフォーマットアドレスの基準となる第1場所より、少なくとも予め設定された第1オフセット量だけ内周側に位置しており、前記決定されたオフセット量が前記第1オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かを判定する判定工程を更に備える。
この態様によれば、“オポジット方式”の情報記録媒体に対して、前述の如く第1及び第2記録層間における偏心や第1及び第2記録トラックピッチの偏差が存在しても、記録データが記録済み状態の第1記録層を介して第2記録層に記録データを記録できるようにするための対策として、第2場所が第1場所より第1オフセット量だけ内周側にオフセットされている。即ち、第2記録層の外周側に位置する、例えば、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスが“E50000h”のデータエリアの開始位置を示す第2場所が、第1記録層の外周側に位置する、例えば、セクタ番号が“1AFFFFh”のデータエリアの終了位置を示す第1場所から、少なくとも第1オフセット量だけ内周側に位置するように設計されている。その結果、記録データが記録済み状態の第1記録層を介して第2記録層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、第2記録層の外周側に位置する記録領域の開始位置付近において、適切な記録を行うことができる。係る第2記録層の外周側に位置する記録領域の開始位置付近において、記録レーザパワーが切り替えられる必要もなく、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに応じて記録データを記録していけばよいため、記録手順自体も簡略化されるという利点も有する。加えて、この記録された記録データを再生する場合にも、良好な再生特性を得ることができる。
このように構成された情報記録媒体に対して決定工程が施された後に、判定工程によって、この決定されたオフセット量が、第1オフセット量に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される。よって、第1オフセット量を与える上述の如き対策が適切に実施されているか否かを、例えばCPU等の処理装置を用いての比較演算処理によって、自動的に或いは半自動的に検証することが可能となる。尚、この場合、決定工程により決定されたオフセット量と既知である第1オフセット量との比較を、手動や目視等の人的手段によって行うことも可能である。
尚、上述した二つの態様において、第1オフセット量を設定する対策を施す場合、貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値を考慮するのみならず、相異なるスタンパやカッティングマシーンを使用することによるトラックに係る偏差の最大値までも考慮して(例えば“偏心クリアランス”として)、第1オフセット量を設定してもよい。更に、第1記録層を介して第2記録層へ集光ビームを照射する場合に、完全に集光される前の所定半径を有する光束の縁付近が、第1記録層に照射される際の、該所定半径を考慮して(例えば、“照射範囲クリアランス”として)、第1オフセット量を設定してもよい。
上述の第1オフセット量が設定される態様では、前記第1オフセット量は、前記第1記録層と前記第2記録層との偏心量以上に設定されてもよい。
このように構成すれば、記録データが記録済み状態の第1記録層を介して第2記録層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、第2記録層の内周側、又は、外周側に位置する記録領域の開始位置付近において、第1及び第2記録層の偏心の影響を殆ど又は完全に受けることなく適切な記録を行うことができる。より具体的には、例えば、第1記録層の偏心の最大値が40μmであり、第2記録層の偏心の最大値が70μmであった場合、第1オフセット量は、第1記録層及び第2記録層の偏心の最大値の和、即ち、110μm(=40+70)である。加えて、第1オフセット量の上限値を200μmとすることにより、パラレル方式の2層DVD−ROMの規格に準拠することもできる。そして特に、判定工程によって、このように設定された第1オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。
或いは上述の第1オフセット量が設定される態様では、前記第1記録トラックにおけるトラックピッチに対する前記第2記録トラックにおけるトラックピッチの比が、1未満の所定値となるように、前記第1記録トラック及び前記第2記録トラックは構成されていてもよい。
このように構成すれば、第1記録トラックにおけるトラックピッチに対する第2記録トラックにおけるトラックピッチの比が、例えば、望ましくは、1未満の所定値となっているので、例えば、第2記録層の記録可能な外周側端部が、第1記録層の記録可能な外周側端部より所定量だけ内周側に位置するように調整することが可能である。ここに、「トラックピッチ」とは、ディスク状の情報記録媒体の第1又は第2記録トラックの半径方向における間隔(尚、単位は、例えば、(μm/トラック))である。また、ここに、「所定量」とは、第2記録層の記録領域の最外周位置を第1記録層の記録領域の最外周位置より内周側に位置させるために定められた半径方向の長さに相当する基準値である。具体的には、例えば、第1記録層及び第2記録層における貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値以上の値とされる。そして特に、判定工程によって、このように設定された第1オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。
或いは上述の第1オフセット量が設定される態様では、前記第1記録トラックにおけるトラックピッチに対する前記第2記録トラックにおけるトラックピッチの差が、負の所定値となるように、前記第1記録トラック及び前記第2記録トラックは構成されていてもよい。
このように構成すれば、第1記録トラックにおけるトラックピッチに対する第2記録トラックにおけるトラックピッチの差が、例えば、望ましくは、負の所定値となっているので、例えば、第2記録層の記録可能な外周側端部が、第1記録層の記録可能な外周側端部より所定量だけ内周側に位置するように調整することが可能である。その結果、前述したトラックピッチの比を調整した場合の効果と同様にして、第2記録層の記録に際して、未記録状態の第1記録層を透過することは殆ど又は完全にない。そして特に、判定工程によって、このように設定された第1オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。
上述のトラックピッチの比又は差に係る態様では、前記第2記録トラックにおけるデータエリアの外周側端部が、前記第1記録トラックにおけるデータエリアの外周側端部より少なくとも前記第1オフセット量だけ内周側に位置するように、前記比又は差が設定されていてもよい。
このように構成すれば、例えば、第2記録層の記録可能な外周側端部が、第1記録層の記録可能な外周側端部より少なくとも第1オフセット量だけ内周側に位置することができる。よって、情報記録装置による第2オフセット量の算出を省略することができる。情報記録装置は、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに従って記録動作を行えばよい。よって、トラックピッチの比又は差の設定によって、第2記録層の記録に際して、レーザ光が未記録状態の第1記録層を透過することが殆ど又は完全にないことをより簡便に実現することができる。そして特に、判定工程によって、このように設定された第1オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。
上述のトラックピッチの比又は差に係る態様では、前記情報記録媒体は、前記比又は差に関する情報が記録される第1管理エリアを更に備えてもよい。
このように構成すれば、情報記録装置によって、記録領域内に設けられた第1管理エリアから、より簡便且つ迅速に比又は差に関する情報を取得可能である。そして例えば、判定工程によって、第1管理エリアから取得される情報に基づいて、このように設定された第1オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。或いは例えば、情報記録装置又は情報再生装置において、第1管理エリアから取得される情報に基づいて、情報記録媒体に対する記録や再生動作を確実に行うことが可能となる。
上述の第1オフセット量が設定される態様では、前記情報記録媒体は、前記第1オフセット量に関する情報が記録される第2管理エリアを更に備えてもよい。
このように構成すれば、情報記録装置によって、記録領域内に設けられた第2管理エリアから第1オフセット量が取得され、該第1オフセット量に対応した第2オフセット量を迅速に決定することが可能である。そして例えば、判定工程によって、第2管理エリアから取得される情報に基づいて、このように設定された第1オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。或いは例えば、情報記録装置又は情報再生装置において、第2管理エリアから取得される情報に基づいて、情報記録媒体に対する記録や再生動作を確実に行うことが可能となる。
(オフセット量測定装置に係る実施形態)
以下、本発明の実施形態に係るオフセット量測定装置について説明する。
本発明のオフセット量測定装置に係る実施形態は、記録情報を記録するための第1記録トラックが形成されたディスク状の第1記録層と、該第1記録層を介して、前記記録情報を前記第1記録層の前記第1記録トラックと同一の又は反対の記録方向(即ち、パラレル方式又はオポジット方式)で記録するための第2記録トラックが形成されたディスク状の第2記録層とを少なくとも備えた情報記録媒体において、前記第1及び第2記録トラックに対して予め付与されたプリフォーマットアドレス(例えば、セクタ番号或いはセクタアドレス)によって相互に対応付けられる前記第1及び第2記録トラック上の半径位置相互間の半径方向のズレ量であるオフセット量を測定するオフセット量測定装置であって、前記第1記録トラックに、前記プリフォーマットアドレスにより特定される一の測定基準位置から所定区間又は所定長さだけ測定用情報を記録すると共に、前記第2記録トラックに、前記一の測定基準位置に対して前記プリフォーマットアドレスにより対応付けられる測
定対応位置から前記所定区間又は前記所定長さだけ前記測定用情報を記録する測定用記録手段と、前記情報記録媒体の中心軸を基準として、前記第1記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第1記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第1未記録エリアとの境界である第1境界位置を、前記第1記録済みエリア及び前記第1未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第1検出手段と、前記中心軸を基準として、前記第2記録トラックにおける前記測定用情報が記録された第2記録済みエリアと前記測定用情報が記録されていない第2未記録エリアとの境界である第2境界位置を、前記第2記録済みエリア及び前記第2未記録エリア間の反射率の差に基づいて検出する第2検出手段と、前記検出された第1及び第2境界位置に基づいて、前記オフセット量を決定する決定手段とを備える。
本発明のオフセット量測定装置に係る実施形態によれば、上述した本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態の場合と概ね同様に、例えば、半導体レーザ、光ピックアップ等の測定用記録手段と、例えば光ディテクタ、光ピックアップ等の第1検出手段と、例えば光ディテクタ、光ピックアップ等の第2検出手段と、例えばCPU、コントローラ等の決定手段とによって、上述した本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態の場合と同様に、前述の如き偏心や偏差に応じてズレ或いはオフセットが生じても、オフセット量を測定することによって、これらがどの程度のものであるかを明らかにすることが可能となり、更にこれら偏心や偏差に対する対策の要否についても明らかにすることが可能となる。加えて、例えば意図的に施したオフセット量の検証を行うなど、何らかの対策を施した場合における該対策の良否についても明かにすることが可能となる。
尚、本発明のオフセット量測定装置に係る実施形態においても、上述した本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態についての各種態様と同様の態様を適宜採ることが可能である。
本実施形態のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施例から明らかにされる。
以上説明したように、本発明のオフセット量測定方法に係る実施形態によれば、測定用記録工程、第1検出工程、第2検出工程及び決定工程を備えるので、また、本発明のオフセット量測定装置に係る実施形態によれば、測定用記録手段、第1検出手段、第2検出手段及び決定手段を備えるので、上述の如き偏心や偏差に応じてズレ或いはオフセットが生じても、オフセット量を測定することによって、これらがどの程度のものであるかを明らかにすることが可能となり、更にこれら偏心や偏差に対する対策の要否についても明らかにすることが可能となる。加えて、例えば意図的に施したオフセット量の検証を行うなど、何らかの対策を施した場合における該対策の良否についても明かにすることが可能となる。
(第1実施例)
図1から図8を参照して、本発明のオフセット量測定方法及び装置に係る第1実施例について詳細に説明する。
先ず図1を参照して、第1実施例の測定対象となる、光ディスクの基本構造について説明する。ここに、図1(a)は、第1実施例に係る、複数の記録領域を有する光ディスクの基本構造を示した概略平面図であり、図1(b)は、該光ディスクの概略断面図と、これに対応付けられた、その半径方向における記録領域構造の図式的概念図である。尚、図1(a)及び図1(b)はオポジットトラック方式のディスクを示している。
図1(a)及び図1(b)に示されるように、光ディスク100は、例えば、DVDと同じく直径12cm程度のディスク本体上の記録面に、センターホール1を中心として本実施例に係るリードインエリア101、データエリア102並びにリードアウトエリア103又はミドルエリア104が設けられている。そして、光ディスク100の例えば、透明基板106に、記録層等が積層されている。そして、この記録層の各記録領域には、例えば、センターホール1を中心にスパイラル状或いは同心円状に、例えば、グルーブトラック及びランドトラック等のトラック10が交互に設けられている。また、このトラック10上には、データがECCブロック11という単位で分割されて記録される。ECCブロック11は、記録情報がエラー訂正可能なデータ管理単位である。
尚、本発明は、このような三つのエリアを有する光ディスクには特に限定されない。例えば、リードインエリア101、リードアウトエリア103又はミドルエリア104が存在せずとも、以下に説明するデータ構造等の構築は可能である。また、後述するように、リードインエリア101、リードアウトエリア103又はミドルエリア104は更に細分化された構成であってもよい。
特に、本実施例に係る光ディスク100は、図1(b)に示されるように、例えば、透明基板106に、後述される本発明に係る第1及び第2記録層の一例を構成するL0層及びL1層が積層された構造をしている。このような二層型の光ディスク100の記録再生時には、図1(b)中、下側から上側に向かって照射されるレーザ光LBの集光位置をいずれの記録層に合わせるかに応じて、L0層における記録再生が行なわれるか又はL1層における記録再生が行われる。また、本実施例に係る光ディスク100は、2層片面、即ち、デュアルレイヤに限定されるものではなく、2層両面、即ちデュアルレイヤーダブルサイドであってもよい。更に、上述の如く2層の記録層を有する光ディスクに限られることなく、3層以上の多層型の光ディスクであってもよい。
尚、2層型光ディスクにおけるオポジット方式及びパラレル方式による記録再生手順及び各層におけるデータ構造については、後述される。
次に、図2及び図3を参照して、第1実施例に係る、2層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるECCブロックを構成する物理的セクタ番号、該光ディスクの記録領域におけるランドプリピットアドレス、並びに、該光ディスクのパラレル方式による記録又は再生手順について説明する。ここに、物理的セクタ番号(以下適宜、「セクタ番号」と称す)とは、光ディスクの記録領域における絶対的な物理的アドレスを示した位置情報である。ランドプリピットアドレス(以下適宜、「LPPアドレス」と称す)とは、セクタ番号に対応するプリフォーマットされた位置情報である。図2は、第1実施例に係る、2層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるECCブロックを構成するセクタ番号、並びに、該光ディスクのパラレル方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。図3は、第1実施例に係る、2層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるECCブロックを構成するセクタ番号、並びに、ランドプリピットアドレス、並びに、該光ディスクのパラレル方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。尚、図2及び図3中の縦軸は、16進数で表現されたセクタ番号に加えてランドプリピットアドレスを示し、横軸は、光ディスクの半径方向の相対的な位置を示す。
図2に示されるように、第1実施例に係る、2層型光ディスク100は、図示しない透明基板に形成された2層の記録層、即ち、L0層とL1層とを備えて構成されている。
具体的には、L0層には、内周側から外周側にかけて、リードインエリア101−0、データエリア102−0、及び、リードアウトエリア103−0が設けられている。このリードインエリア101−0には、OPC(Optimum Power Control)処理のためのPC(Power Calibration)エリアPCA及び記録管理情報が記録されている本発明に係る「第1及び第2管理エリア」の一例を構成するRM(Recording Management)エリアRMA等が設けられている。
他方、L1層には、内周側から外周側にかけて、リードインエリア101−1、データエリア102−1、及び、リードアウト103−1が設けられている。このリードインエリア101−1にも、図示しないPCA等が設けられていてもよい。
以上のように2層型光ディスク100は構成されているので、該光ディスク100の記録又は再生の際には、後述される本発明に係る情報記録再生装置の図示しない光ピックアップによって、レーザ光LBは、図示しない基板の側から、即ち、図2中の下側から上側に向けて照射され、その焦点距離等が制御されると共に、光ディスク100の半径方向における移動距離及び方向が制御される。これにより、夫々の記録層にデータが記録され、又は、記録されたデータが再生される。
特に、第1実施例に係る、2層型光ディスクの記録又は再生手順としてパラレル方式が採用されていてもよい。このパラレル方式では、L0層における記録又は再生が終了されると、L1層における記録又は再生が開始される時に、光ディスクの最外周にある光ピックアップが再度、最内周へ向かって移動する必要があるため、後述される“オポジット方式”と比較して、L0層からL1層への切り替え時間がその分だけ掛かってしまう。
具体的には、先ず、L0層において、光ピックアップがリードインエリア101−0、データエリア102−0及びリードアウトエリア103−0を内周側から外周側へ移動するにつれて光ディスク100の記録領域におけるセクタ番号は増加していく。より具体的には、光ピックアップが、セクタ番号が“02FFFFh”のリードインエリア101−0の終了位置(図2中のA地点を参照)、セクタ番号が“030000h”のデータエリア102−0の開始位置(図2中のB地点を参照)、セクタ番号が“1AFFFFh”のデータエリア102−0の終了位置(図2中のC地点を参照)に順次アクセスして、緩衝の役目を果たすリードアウトエリア103−0へと移動されることによって、L0層における記録又は再生が行われる。他方、L1層において、具体的には、光ピックアップがリードインエリア101−1、データエリア102−1及びリードアウトエリア103−1を内周側から外周側へ移動するにつれて光ディスク100の記録領域におけるセクタ番号は増加していく。より具体的には、光ピックアップが、緩衝の役目を果たすリードインエリア101−1、セクタ番号が“030000h”のデータエリア102−1の開始位置(図2中のB地点を参照)、セクタ番号が“1AFFEFh”のデータエリア102−1の終了位置(図2中のD地点を参照)に順次アクセスして、リードアウトエリア103−1へと移動されることによって、L1層における記録又は再生が行われる。
よって、コンテンツ情報は、例えば、L0層のデータエリア102−0のセクタ番号“030000h”から“1AFFFFh”及びL1層のデータエリア102−1のセクタ番号“030000h”から“1AFFEFh”において、光ピックアップが連続して移動されると同時に記録又は再生される。
以上説明したセクタ番号に対して、論理ブロックアドレス(LBA:Logical Block Address)が、1対1に割り付けられている。より具体的には、例えば、L0層におけるセクタ番号“030000h”には“000000”LBAが対応し、セクタ番号“1AFFFFh”には、“17FFFF”LBAが対応する。他方、L1層におけるセクタ番号“030000h”には“180000”LBAが対応し、セクタ番号“1AFFEFh”には、“2FFFEF”LBAが対応する。
次に、図3を参照して、第1実施例に係る、2層型光ディスクのパラレル方式におけるセクタ番号とLPPアドレスとの関係について説明する。
図3に示されるように、L0層及びL1層のLPPアドレスは、L0層及びL1層のセクタ番号から求めることが可能である。より具体的には、16進数のセクタ番号“0030000h”を2進数“0000000000110000000000000000”に変換してから、右から5ビット目から24ビット目までをビット反転(インバート:invert)“111111111100111111111111”させ、16進数“FFCFFFh”に再変換させることによって求められる。
また、データエリア102−0(102−1)の記録終了位置を記録層ごとに設定することが可能である。
次に、図4及び図5を参照して、第1実施例に係る、2層型光ディスクのデータ構造及び該光ディスクの記録領域におけるECCブロックを構成する物理的セクタ番号並びに該光ディスクのオポジット方式による記録又は再生手順について説明する。図4は、第1実施例に係る、2層型光ディスクのデータ構造及び該光ディスクの記録領域におけるECCブロックを構成する物理的セクタ番号並びに該光ディスクのオポジット方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。図5は、第1実施例に係る、2層型光ディスクのデータ構造、該光ディスクの記録領域におけるECCブロックを構成するセクタ番号、並びに、ランドプリピットアドレス、並びに、該光ディスクのオポジット方式による記録又は再生方法を示した概念的グラフ図である。尚、図4及び図5中の縦軸及び横軸等は、前述した図2及び図3と同様である。
図4に示されるように、第1実施例に係る、2層型光ディスク100は、図示しない透明基板に積層された2層の記録層、即ち、L0層とL1層とを備えて構成されている。
具体的には、L0層には、内周側から外周側にかけて、リードインエリア101−0、データエリア102−0及びミドルエリア104−0が設けられている。このリードインエリア101−0には、前述したPCエリアPCA及び前述したRMエリアRMA等が設けられている。また、ミドルエリア104−0は、L0層及びL1層に対する記録又は再生位置が基板外へ外れることを防止する基本機能を有するが、層間ジャンプの際に記録又は再生位置が基板外に外れることを防止する、言わば“ジャンプ緩衝用エリア”としての機能も有する。
他方、L1層には、外周側から内周側にかけて、ミドルエリア104−1、データエリア102−1、及び、リードアウトエリア103−1が設けられている。このリードアウトエリア103−1にも、図示しないPCA等が設けられていてもよい。
以上のように2層型光ディスク100は構成されているので、該光ディスク100の記録又は再生の際の焦点距離等の制御は、前述したパラレル方式と同様である。
特に、第1実施例に係る、2層型光ディスクの記録又は再生手順としてオポジット方式が採用されていてもよい。ここに、オポジット方式とは、より詳細には、2層型光ディスクの記録又は再生手順として、後述される情報記録再生装置の光ピックアップが、L0層において、内周側から外周側へ向かって、即ち、図4中の矢印の右方向へ移動するのとは逆に、L1層においては、光ピックアップが外周側から内周側へ向かって、即ち、図4中の矢印の左方向へ移動することによって、2層型光ディスクにおける記録又は再生が行われる方式である。このオポジット方式では、L0層における記録又は再生が終了されると、L1層における記録又は再生が開始される時に、光ディスクの最外周にある光ピックアップが再度、最内周へ向かって移動する必要はなく、L0層からL1層への焦点距離だけを切り替えればよいため、L0層からL1層への切り替え時間がパラレル方式と比較して短いという利点があるため大容量のコンテンツ情報の記録には採用されている。
具体的には、先ず、L0層において、光ピックアップがリードインエリア101−0、データエリア102−0及びミドルエリア104−0を内周側から外周側へ移動するにつれて光ディスク100の記録領域におけるセクタ番号は増加していく。より具体的には、光ピックアップが、セクタ番号が“02FFFFh”のリードインエリア101−0の終了位置(図4中のA地点を参照)、セクタ番号が“030000h”のデータエリア102−0の開始位置(図4中のB地点を参照)、セクタ番号が“1AFFFFh”のデータエリア102−0の終了位置(以下、適宜、L0層の「折り返し点」と称す:図4中のC地点を参照)に順次アクセスして、緩衝の役目を果たすミドルエリア104−0へと移動されることによって、L0層における記録又は再生が行われる。尚、本実施例において、“30000h”等の末尾の“h”とは16進数で表現されていることを示す。他方、L1層において、具体的には、光ピックアップがミドルエリア104−1、データエリア102−1及びリードアウトエリア103−1を外周側から内周側へ移動するにつれて光ディスク100の記録領域におけるセクタ番号は増加していく。より具体的には、光ピックアップが、緩衝の役目を果たすミドルエリア104−1、セクタ番号が“E50000h”のデータエリア102−1の開始位置(以下、適宜、L1層の「折り返し点」と称す:図4中のD地点を参照)、セクタ番号が“FCFFEFh”のデータエリア102−1の終了位置(図4中のE地点を参照)に順次アクセスして、リードアウトエリア103−1へと移動されることによって、L1層における記録又は再生が行われる。
以上説明したL0層とL1層とにおけるセクタ番号はすべて、16進数における15の補数の関係にある。より具体的には、例えば、L0層における折り返し点(セクタ番号“1AFFFFh”)とL1層における折り返し点(セクタ番号“E50000h”)は15の補数の関係にある。形式的には、“1AFFFFh”の補数は、16進数のセクタ番号“1AFFFFh”を2進数“000110101111111111111111”に変換してからビット反転(インバート:invert)“111001010000000000000000”させ、16進数“E50000h”に再変換させることによって求められる。
よって、コンテンツ情報は、例えば、L0層のデータエリア102−0のセクタ番号“030000h”から“1AFFFFh”及びL1層のデータエリア102−1のセクタ番号“E50000h”から“FCFFEFh”において、光ピックアップが連続して移動されると同時に記録又は再生される。
以上説明した物理的セクタ番号に対して、論理ブロックアドレス(LBA:Logical Block Address)が、1対1に割り付けられている。より具体的には、例えば、セクタ番号“030000h”には“000000”LBAが対応し、セクタ番号“1AFFFFh”には、“17FFFF”LBAが対応する。また、セクタ番号“E50000h”には、“180000”LBAが対応し、セクタ番号“FCFFEFh”には、“2FFFEF”LBAが対応する。よって、例えば、ホストコンピュータは、物理的セクタ番号に意識することなく、例えば、ファイルシステムによって管理された論理ブロックアドレスに従って記録及び再生動作を行うことが可能となる。
次に、図5を参照して、第1実施例に係る、2層型光ディスクのオポジット方式におけるセクタ番号とLPPアドレスとの関係について説明する。
図5に示されるように、L0層及びL1層のLPPアドレスは、パラレル方式と同様に、L0層及びL1層のセクタ番号から求めることが可能である。従って、L0層とL1層とにおけるLPPアドレスはすべて、セクタ番号と同様に、16進数における15の補数の関係にある。
また、パラレル方式と同様に、オポジット方式においてもデータエリア102−0(102−1)の記録終了位置を記録層ごとに設定することが可能である。
以上図1から図5を参照して説明したように、第1実施例の測定対象となる、光ディスク100においては、L0層のトラック10上の半径位置と、L1層のトラック10上の半径位置は、本発明に係る「プリフォーマットアドレス」の一例たるセクタ番号によって相互に対応付けられている。そして、このように対応付けられている半径位置は、L0層及びL1層間における偏心や、L0層のトラック10のピッチとL1層のトラック10のピッチとの偏差が存在しないとすれば、光ディスク100の基板面の法線方向から見てオフセットはなく重なっている。即ち、理想的にはオフセット量はゼロである。しかしながら実際には、このような偏心や偏差は、L0層とL1層との貼り合わせ誤差、L0層形成時とL1層形成時とで、相異なるスタンパやカッティングマシーンを使用すること等によって、大なり小なり生じている。
そこで次に図6から図8を参照して説明するように、第1実施例に係るオフセット量測定装置及び方法は、上述の如くに生じるオフセット量を測定するように構成されている。ここに図6は、第1実施例に係るオフセット量測定装置及び方法を図式的に示す概念図である。図7は、第1実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。図8は、このうち測定用記録工程を図式的に示す概念図である。
図6の上段側に図式的なブロック図として示すように、本実施例に係るオフセット量測定装置は、マイクロスコープ801、測定用記録装置803、及び処理装置804を備えて構成されている。
マイクロスコープ801は、本発明に係る「第1検出手段」及び「第2検出手段」の一例として、更に「光学顕微鏡」の一例として機能する。マイクロスコープ801は、光ディスク100のセンターホール1を基準として、光ディスク100の記録面に沿って矢印802のように移動可能に構成されている。また、その焦点を、処理装置804による制御下で、選択的にL0層又はL1層に合わせることができるように構成されている。
測定用記録装置803は、半導体レーザ803aと、集光レンズ、接眼レンズ等のレンズ803bを有し、処理装置804による制御下で、光ディスク100の記録面に沿って矢印805のように移動可能であり、所望の記録層(即ち、L0層又はL1層)における所望の半径位置に、書き込み用レーザたるレーザ光LBを照射するように構成されている。測定用記録装置803は、本発明に係る「測定用記録手段」の一例として機能する。
処理装置804は、CPU或いはコントローラ、メモリ等を有し、マイクロスコープ802の動作制御及びその出力情報の収集を行うと共に、測定用記録装置803の動作制御を行うように構成されている。処理装置804は、本発明に係る「決定手段」の一例として機能する。
図6の下段側に図式的な平面図として示すように、ディスク100は、積層されたL0層とL1層との間で、貼り合せ誤差等に起因してのオフセットOFFrが存在している。
図7に示すように、本実施例では先ず、このようなオフセットOFFrを有する光ディスク100が、図6に示したオフセット量測定装置にセットされる(ステップS10)。続いて、図6に示したように、センターホール1を中心軸として、光ディスク100が回転される(ステップS11)。この際の回転条件は、通常の情報記録装置における回転条件と同じでもよいし、当該オフセット量測定装置に固有であってもよい。例えば、後述の情報記録装置が有するスピンドルモータと同様のモータにより、回転される。この状態で、測定用情報の記録が行われる。即ち、測定用記録工程が実施される(ステップS12)
具体的には図8(a)に示したように、“パラレル方式”の場合には、L0層のトラック10に、セクタ番号により特定される、本発明に係る「測定基準位置」の一例としての半径位置B01から、矢印901に沿って(即ち、内周側から外周側に向かって)所定数のセクタだけ、レーザ光LBによって測定用情報が記録される。この際のレーザ光LBは、処理装置804による制御下で、測定用記録装置803が有する半導体レーザ803aからL0層に集光される。これにより、半径位置B01から半径位置B02までの、図8(a)におけるL0層内にハッチングした領域に、測定用情報が記録される。これと相前後して、L1層のトラック10における、本発明に係る「測定対応位置」の一例たる、半径位置B01にセクタ番号により対応付けられた、即ち、同一セクタ番号を有する、半径位置B11から、矢印902に沿って(即ち、内周側から外周側に向かって)所定数のセクタだけ、レーザ光LBによって測定用情報が記録される。この際のレーザ光LBは、L0層を介してL1層に集光される。これにより、半径位置B11から半径位置B12までの、図8(a)におけるL1層内にハッチングした領域に、測定用情報が記録される。この場合、前述のオフセットが、本発明に係る「第1境界位置」の一例でもある半径位置B01と、本発明に係る「第2境界位置」の一例でもある半径位置B11との間に、貼り合せ誤差等に応じたオフセット量OFFrだけ存在している。同様に、前述のオフセットが、本発明に係る「第1境界位置」の一例でもある半径位置B02と、本発明に係る「第2境界位置」の一例でもある半径位置B12との間に、貼り合せ誤差等に応じたオフセット量OFFrだけ存在している。測定用情報のサイズが大きくなければ、これらの、ディスク外周寄りのオフセットとディスク内周寄りのオフセットとは、殆ど同じであり、いずれのオフセット量OFFrを測定対象としても大差はない。測定用情報のサイズは、測定用情報の記録と未記録とによる反射率の差を、次に説明する第1及び第2検出工程により夫々検出可能な限りにおいて、小さい方が好ましい。
他方、図8(b)に示したように、“オポジット方式”の場合には、L0層のトラック10に、セクタ番号により特定される、本発明に係る「測定基準位置」の一例としての半径位置B01から、矢印911に沿って(即ち、内周側から外周側に向かって)所定数のセクタだけ、レーザ光LBによって測定用情報が記録される。これにより、半径位置B01から半径位置B02までの、図8(b)におけるL0層内にハッチングした領域に、測定用情報が記録される。これと相前後して、L1層のトラック10における、本発明に係る「測定対応位置」の一例たる、半径位置B01にセクタ番号により対応付けられた、即ち、これと補数の関係を有するセクタ番号から所定数のセクタだけ外周寄りである、半径位置B12から、矢印912(即ち、外周側から内周側に向かって)に沿って所定数のセクタだけ、レーザ光LBによって測定用情報が記録される。これにより、半径位置B12から半径位置B11までの、図8(b)におけるL1層内にハッチングした領域に、測定用情報が記録される。この“オポジット方式”の場合にも、“パラレル方式”の場合(図7(a)参照)と同様に、前述のオフセットが、半径位置B01と半径位置B11との間に、オフセット量OFFrだけ存在しており、半径位置B02と半径位置B12との間に、オフセット量OFFrだけ存在している。
再び図7において、その後、以上のように測定用情報を記録した後の光ディスク100に対して、第1検出工程が施される(ステップS13)。
具体的には、図6に示したマイクロスコープ801により撮像を行うことで、処理装置804によって自動的に図8に示した「第1境界位置」の一例たる半径位置B01又はB02が検出される。但し、このような検出は、人的に行われてもよい。この際の検出は、L0層において、測定用情報が記録済みである第1記録済みエリアと、測定用情報が未記録である第1未記録エリアと間の反射率の差に基づいて、行なわれる。即ち、測定用情報を記録済みの第1記録済みエリアでは、反射率が低下するので、このような「第1境界位置」の一例たる半径位置B01又はB02は、比較的容易且つ正確に測定できる。この際、センターホール1を基準にして矢印802の如く光ディスク100の半径方向に沿って移動可能であるので、高倍率のマイクロスコープ801を使用して、半径位置B01又はB02の検出を高精度で行うことが可能とされる。マイクロスコープ801で検出された半径位置B01又はB02を示す情報は、処理装置804へと入力される。尚、図6の上段側に図式的な断面図として示したように光ディスク100の透明な基板106を介して、マイクロスコープ801は、反射膜、不透明膜等を含む膜107上で、反射率の直接的な測定を行う。
本実施例では、以上のように検出された半径位置B01又はB02は、処理装置804に内蔵されたメモリに記憶される。但し、処理装置804に外部接続された又はマイクロスコープに内蔵されたメモリに記憶されてもよい。
再び図7において、その後、以上のように測定用情報を記録した後の光ディスク100に対して、第2検出工程が施される(ステップS14)。これにより、第1検出工程の場合と同様にして、L1層について検出が行なわれることで、本発明に係る「第2境界位置」の一例たる半径位置B11又はB12が検出される。
本実施例では、以上のように検出された半径位置B11又はB12は、前述した半径位置B01又はB02の場合と同様に、処理装置804に内蔵されたメモリ等に記憶される。
その後、処理装置804により、本発明に係る「決定工程」の一例として、上述の如く検出された第1境界位置の一例たる半径位置B01又はB02と、第2境界位置の一例たる半径位置B11又はB12とに基づいて、オフセット量が決定される(ステップS15)。より具体的には、セクタ番号により対応付けられているL0層の半径位置B01とL1層の半径位置B11との差分(即ち、境界間の距離)を演算することで、オフセット量OFFrが決定される。或いは、これに代えて又は加えて、セクタ番号により対応付けられているL0層の半径位置B11とL1層の半径位置B12との差分を演算することで、オフセット量OFFrが決定される。尚、これら半径位置B01、B02、B11又はB12の値は夫々、ステップS13及びS14にて既に、この値を記憶し保持している、処理装置804に内蔵されたメモリ等から読み出して、上述の如き演算に用いればよい。
以上詳細に説明したように本実施例によれば、オフセット量OFFrを効率良く且つ高精度で測定することが可能となる。このため、オフセット量が、例えば規格内に入っているか否かなど、どの程度のものであるかを明らかにできる。例えば、光ディスク100が線速度一定で記録再生される型の場合、オフセット量OFFrは、内周側で大きく、外周側で小さくなる。これに伴い、各半径位置(言い換えれば、各アドレス)におけるオフセット量OFFrの許容範囲は、規格等により予め設定されているので、本実施例によって、このオフセット量OFFrが許容範囲内か否かを検証できることになる。或いは、これら偏心や偏差に対する対策の要否についても、オフセット量を把握することで、明らかにできる。従ってまた、後述の情報記録装置において、ユーザが当該情報記録媒体を使用する以前に、例えば、光ディスク100に、オフセット量OFFrを示す情報を記録しておくことも可能となる。
(第2実施例)
図9から図13を参照して、本発明のオフセット量測定方法及び装置に係る第2実施例について詳細に説明する。尚、第2実施例において、図1から図8を参照して説明した第1実施例と同様の構成要素や同様の工程は同様の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。
先ず図9及び図10を参照して、第2実施例の測定対象となる、2層型光ディスクのデータ構造及びセクタ番号で示された記録領域、並びに該光ディスクのパラレル方式及びオポジット方式による記録手順についてより詳細に説明する。ここに、図9は、第2実施例に係る、2層型光ディスクのデータ構造及びセクタ番号で示された記録領域を示したパラレル方式及びオポジット方式の下での概念図である。図10は、第2実施例に係る、2層型光ディスクのセクタ番号で示された記録領域及び該光ディスクのパラレル方式及びオポジット方式による記録手順を示した概念図である。
第2実施例に係る、光ディスク100は、パラレル方式の場合には、L1層のトラック10におけるデータエリアの開始位置を示すためのセクタ番号の基準となる、本発明に係る「第2場所」の一例たる、L1層のデータエリアの内周端が、L0層のトラック10におけるデータエリアの開始位置を示すためのセクタ番号の基準となる、本発明に係る「第1場所」の一例たる、L0層のデータエリアの内周端より、予め設定された第1オフセット量だけ外周側に位置している。或いは、オポジット方式の場合には、L1層のトラック10におけるデータエリアの終了位置を示すためのセクタ番号の基準となる、本発明に係る「第2場所」の一例たる、L1層のデータエリアの内周端が、L0層のトラック10におけるデータエリアの開始位置を示すためのセクタ番号の基準となる、本発明に係る「第1場所」の一例たる、L0層のデータエリアの内周端より、予め設定された第1オフセット量だけ外周側に位置している。
図9に示されるように、L1層のセクタ番号が“30000h”(パラレル方式の場合)又は“FCFFFFh”(オポジット方式の場合)のデータエリア102−1の最内周位置が、L0層のセクタ番号が“30000h”のデータエリア102−0の開始位置から、第1オフセット量だけ外周側に位置するように光ディスクが設計されている。ここに、「第1オフセット量」とは、L1層のデータエリア102−1の最内周位置をL0層のデータエリア102−0の最内周位置より外周側に位置させるために定められた基準値である。具体的には、L0層及びL1層における貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値である。より具体的には、L0層の偏心の最大値が40μmであり、L1層の偏心の最大値が70μmであった場合、第1オフセット量は、L0層及びL1層の偏心の最大値の和、即ち、110μm(=40+70)である。また、第1オフセット量の上限値を200μmとすることにより、DVD−ROM規格のパラレル方式に準拠することができる。尚、第1オフセット量は、光ディスクの半径方向の長さ(μm)として示され、セクタ数やECCブロック数に換算可能としてもよいし、アドレスの所定単位であるセクタ数やECCブロック数で直接的に示されてもよい。
パラレル方式のDVD−ROMの規格に準拠するためには、データエリア102の開始位置(セクタ番号が“30000h”の位置)を、直径が47.6mmから48.0mmの範囲に収める必要がある。従って、第1オフセット量の上限値は半径にして200μm((48.0−47.6)÷2=0.2mm)となる。よって、L0層のデータエリア102−0の開始位置(セクタ番号が“30000h”の位置)を、光ディスクの直径上、47.6mmから47.8mmの範囲に収めるようにしてもよい。と同時に、L1層のデータエリア102−1の開始位置(セクタ番号が“30000h”の位置)を、光ディスクの直径上、47.82mmから48.0mmの範囲に収めるようにしてもよい。
以上より、L0層とL1層のデータエリア102−0の開始位置(セクタ番号が“30000h”の位置)の半径上の差、即ち、第1オフセット量は、偏心に基づいた値の110μm(0.11mm)より大きくするとよく、且つ、パラレル方式の場合はDVD−ROMの規格に基づいた値の200μm(0.20mm)より小さくするとよい。
図10に示されるように、L0層及びL1層に交互に記録データの記録が行われる場合、例えば、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にL0層に記録され、次にL1層に続けて記録される(図10中のグレー部分を参照)。同様に、二番目のコンテンツデータである記録データが、最初にL0層に記録され、次にL1層に続けて記録される(図10中の右斜め上の斜線部分を参照)。更に、同様に、三番目のコンテンツデータである記録データが、最初にL0層に記録され、次にL1層に続けて記録される(図10中の斑点部分を参照)。
パラレル方式においては、コンテンツデータである記録データが夫々記録される際に、L1層においては、L0層と同じ方向で、即ち、内周側から外周側に向かって該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。より具体的には、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にL0層にデータエリア102−0の記録開始位置(セクタ番号が“30000h”)から記録され、続いて、L1層にデータエリア102−1の記録開始位置(セクタ番号が“30000h”)から記録される(図10中のグレー部分及び実線の矢印を参照)。他方、オポジット方式においては、コンテンツデータである記録データが夫々記録される際に、L1層においては、L0層と反対方向で、即ち、外周側から内周側に向かって該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。より具体的には、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にL0層にデータエリア102−0の記録開始位置(セクタ番号が“30000h”)から記録され、続いて、L1層にデータエリア102−1の記録終了位置(セクタ番号が“FCFFFFh”)へ向かって記録される(図10中のグレー部分及び点線の矢印を参照)。
特に、本発明の情報記録媒体の第2実施例に係る2層型光ディスクに対しては、L1層において記録データが記録されるデータエリア102−1の最外周位置が、L0層において記録データが記録されたデータエリア102−0の最外周位置から、第2オフセット量だけ内周側に位置するように該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。ここに、「第2オフセット量」とは、L1層のデータエリア102−1の最外周位置をL0層のデータエリア102−0の最外周位置より内周側に位置させるために定められた半径方向の長さに相当する基準値である。具体的には、L0層及びL1層における貼り合わせ誤差によって生じる偏心の最大値であり、前述した第1オフセット量と同様に、偏心に基づいた値の110μm(0.11mm)より大きくするとよい。加えて、パラレル方式の場合は、DVD−ROMの規格に準拠するには200μm(0.20mm)より小さくするとよい。尚、第2オフセット量も、第1オフセット量と同様にして、光ディスクの半径方向の長さ(μm)として示され、セクタ数やECCブロック数に換算可能としてもよいし、アドレスの所定単位であるセクタ数やECCブロック数で直接的に示されてもよい。また、該光ディスクに対する記録動作において、L1層の記録領域の最外周位置をL0層の記録領域の最外周位置より第2オフセット量だけ内周側に位置させるためには、L0層及びL1層に交互に記録データの記録を行うに際して、常にL1層の記録データ量をL0層の記録データ量より小さくしてもよい。或いは、L1層の最内周における記録データ量だけをL0層の記録データ量より小さくし、L1層の最内周以外における記録データ量をL0層の記録データ量と等しくしてもよい。
従って、パラレル方式においては、L1層における記録データの記録終了位置が、L0層における記録データの記録終了位置から、第2オフセット量だけ内周側に位置するように該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。他方、オポジット方式においては、L1層における記録データの記録開始位置が、L0層における記録データの記録終了位置から、第2オフセット量だけ内周側に位置するように該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。
以上のように、本発明の情報記録媒体の第2実施例に係る光ディスクによれば、L1層のセクタ番号が“30000h”(パラレル方式の場合)又は“FCFFFFh”(オポジット方式の場合)のデータエリア102−1の最内周位置が、L0層のセクタ番号が“30000h”のデータエリア102−0の開始位置から、第1オフセット量だけ外周側に位置するように光ディスクが設計されている。加えて、第2実施例に係る光ディスクに対しては、L1層において記録データが記録されるデータエリア102−1の最外周位置が、L0層において記録データが記録されたデータエリア102−0の最外周位置から、第2オフセット量だけ内周側に位置するように該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。従って、L0層及びL1層に交互に記録データの記録が行われる場合、L0層において記録データが記録された後で、L1層のデータエリア102−1の開始位置から記録データが記録される際に、記録用のレーザ光LBは、L0層及びL1層の偏心に関係なく、記録済み状態のL0層を透過する。即ち、L1層の記録に際して、未記録状態のL0層を透過することは殆ど又は完全にない。よって、L1層のデータエリア102−1の開始位置において記録された記録データの再生特性を安定させることが可能である。
一般に、2層型光ディスクにおいては、記録データが記録済みの状態であるL0層を介して照射されるレーザ光によりL1層にデータを記録する場合と、記録データが未記録状態であるL0層を介して照射されるレーザ光によりL1層に記録データを記録する場合とでは、L1層に記録された記録データの品質が異なることが知られている。即ち、この2つの場合の夫々において、同一の条件で照射されたレーザ光により記録データを記録する場合、いずれか一方は良好な記録特性を得られたとしても、いずれか他方においては必ずしも良好な記録特性が得られるとは限らないという技術的な問題点を有している。
これに対して、第2実施例に係る光ディスクによれば、記録データが記録済み状態のL0層を介して照射されるレーザ光LBによりL1層に記録データを記録することができる。よって、上述した技術的な問題点を解決することができる。その結果、記録データが記録済み状態のL0層を介してL1層に記録データを記録する場合における最適な記録レーザパワーによって、L1層のいずれの記録領域にも適切な記録を行うことができる。特に、記録レーザパワーが切り替えられる必要もなく、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに応じて記録データを記録していけばよいため、記録手順自体も簡略化されるという利点も有する。加えて、この記録された記録データを再生する場合にも、良好な再生特性(例えば、アシンメトリ値、ジッタ値、変調度や再生エラーレート等)を得ることができる。
尚、第2実施形態に係る光ディスクにおいては、上述の如く第1及び第2オフセット量を設定した以外の構成については、上述した第1実施例に係る光ディスク100と同様である。
そこで次に図11及び図12を参照して説明するように、第2実施例に係るオフセット量測定装置及び方法は、予め積極的に設定された第1及び第2オフセット量が、その許容範囲内に入っているか否かを判定する、言い換えれば、オフセット対策としての第1及び第2オフセット量の付与が適式に行なわれているかを検証可能なように構成されている。ここに図11は、第2実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。図12は、各ディスク半径位置に対して、基準オフセット量及び許容される上下限(即ち、許容範囲)を示す特性図である。
尚、第2実施例に係るオフセット量測定装置のハードウエア構成については、図6に示した第1実施例の場合と同様である。但し、ソフトウェア構成上における第1実施例との相異として、第2実施例では、処理装置804(図6参照)が、本発明に係る「判定工程」を行うように構成されている。
図11に示したように、このようにオフセット対策用に第1及び第2オフセット量が設定された光ディスクに対して、第1実施例における図6から図8に示したのと同様に、ステップS10からステップS15が行なわれる(ステップS10〜S15)。
ステップS15の後に、判定工程によって、ステップS15までで決定されたオフセット量OFFr(即ち、実測値)が、第1オフセット量OFF1に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される。或いは、ステップS15までで決定されたオフセット量OFFr(即ち、実測値)が、第2オフセット量OFF2に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される(ステップS21)。
図12に示すように、この判定は、第1オフセット量OFF1又は第2オフセット量OFF2の基準となる基準オフセット量を示す曲線を基準とする上限を示す曲線よりも、決定されたオフセット量OFFrが、各ディスク半径位置で小さく、且つ基準オフセット量を示す曲線を基準とする下限を示す曲線よりも、決定されたオフセット量OFFrが、各ディスク半径位置で大きいかという比較を実施することで行なわれる。より具体的には、図12の特性図上に、決定されたオフセット量OFFrを各半径位置についてプロットした際に、これらの上限を示す曲線と下限を示す曲線との間に入るか否かが、判例されることになる。
この様子を、第1実施例における図6上で示せば、図6の下段側にあるように、決定されたオフセット量OFFr(実測値)と、予め設定された第1オフセット量OFF1とが比較されるということになる。そして、ステップS15で決定されたオフセット量OFFrが上限下限に挟まれた許容範囲内に入っていなければ(ステップS21)、オフセット対策用としての第1オフセット量或いは第2オフセット量の付与が適切に行なわれていないことなる。逆に、ステップS15で決定されたオフセット量OFFrが上限下限に挟まれた許容範囲内に入っていれ(ステップS21)、オフセット対策用としての第1オフセット量或いは第2オフセット量の付与が適切に行なわれていることなる。
尚、第2実施例において、第1又は第2オフセット量を設定する対策を施す場合、貼り合わせ誤差によって生じるL0層とL1層との間の偏心の最大値を考慮するのみならず、光ディスク100の製造時に用いられる、相異なるスタンパやカッティングマシーンを使用することによるL0層のトラック10のピッチとL1層のトラック10のピッチとの間における偏差の最大値までも考慮して、第1又は第2オフセット量を設定してもよい。即ち、偏心クリアランスを設けることを前提としつつ、第1オフセット量や第2オフセット量を設定してもよい。更に、L0層を介してL1層へレーザ光LBを照射する場合に、完全に集光される前の所定半径を有する光束の縁付近が、L0に照射される際の、該所定半径を考慮して、第1又は第2オフセット量を設定してもよい。即ち、照射範囲クリアランスを設けることを前提としつつ、第1オフセット量や第2オフセット量を設定してもよい。
尚、第2実施例において、光ディスク100は、L0層のトラック10におけるトラックピッチに対する、L1層のトラック10におけるトラックピッチの比が、1未満の所定値となるように構成されていてもよい。或いは、光ディスク100は、L0層のトラック10におけるトラックピッチに対する、L1層のトラック10におけるトラックピッチの差が、負の所定値となるように構成されていてもよい。加えて、L1層のトラック10におけるデータエリアの外周側端部が、L0層のトラック10におけるデータエリアの外周側端部より少なくとも第1オフセット量だけ内周側に位置するように、これらの比又は差が設定されていてもよい。いずれの場合にも、処理装置804における判定工程によって、このように設定された第1又は第2オフセット量の検証を確実に行うことが可能となる。
次に、図13を参照して、第2実施例に係る2層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例について説明する。ここに、図13は、第2実施例に係る、2層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。尚、図13では、L1層のアドレスはパラレル方式のセクタ番号を示してある。
図13に示されるように、第2実施例に係る、2層型光ディスクによれば、L1層のデータエリア102−1の記録開始位置B点(セクタ番号:“30000h”、半径:24.00mm)は、L0層のデータエリア102−0の記録開始位置A点(セクタ番号:“30000h”、半径:23.85mm)より第1オフセット量(半径方向の幅が150μm)だけ外周側に位置している。また、L0層及びL1層に交互に記録データの記録を行う一連の該光ディスクに対する記録動作の完了後に、L1層のデータエリア102−1の最外周位置D点(セクタ番号:“228D2Ah”、半径:57.79mm)は、L0層のデータエリア102−0の最外周位置C点(セクタ番号:“22D43Bh”、半径:57.94mm)より第2オフセット量(半径方向の幅が150μm)だけ内周側に位置させるようにする。
特に、第2実施例に係る、2層型光ディスクの一具体例によれば、L0層及びL1層に交互に記録データの記録を行う該光ディスクに対する記録動作において、L1層のデータエリア102−1の記録終了位置をL0層のデータエリア102−0の記録終了位置より、第2オフセット量(半径方向の幅が150μm)だけ、常に内周側に位置させるようにする。このためには、第2オフセット量に加えて、第1オフセット量による影響を含めて、実際のL1層のデータエリア102−1の記録終了位置を決定する。尚、この記録終了位置の決定方法は、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により求めることが可能である。
具体的には、前述のように、L1層のデータエリア102−1の前述した記録開始位置B点は、L0層のデータエリア102−0の前述した記録開始位置A点より第1オフセット量(半径方向の幅が150μm)だけ外周側に位置している。仮に、第2オフセット量を考慮しない該光ディスクに対する記録動作の下では、L1層のデータエリア102−1の最外周位置D’点(セクタ番号:“22D43Bh”、半径:58.00mm)は、該最外周位置D’点と同じセクタ番号を持つL0層のデータエリア102−0の前述した最外周位置C点より半径方向で60μmだけ外周側に位置してしまう。一般に、光ディスクの最外周へ近づく程、半径が大きくなるため、第1オフセット量(150μm)である最内周におけるL0層とL1層との半径方向の位置の差は、最外周においては60μmに減少する。従って、図13に示されるように、実際のL1層のデータエリア102−1の最外周位置D点が、D’点より210μm(=150+60)だけ内周側に位置するように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。言い換えると、実際のL1層のデータエリア102−1の最外周位置D点のセクタ番号が、D’点のセクタ番号より“4711h”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。尚、この半径方向の長さからセクタ番号数への換算方法は、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により求めることが可能である。
以下、同様にして、パラレル方式においては、例えば、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にL0層のデータエリア102−0の前述した記録開始位置A点から記録終了位置E点(セクタ番号:“6C7E6h”、半径:30.00mm)まで記録される。続いて、L1層のデータエリア102−1の前述した記録開始位置B点から記録終了位置F点(セクタ番号:“698BFh”、半径:29.85mm)まで記録される(図13中のグレー部分を参照)。よって、E点とF点において、半径方向に、第2オフセット量(150μm)の差が得られる。言い換えると、L1層の記録終了位置F点のセクタ番号が、E点のセクタ番号より“2F27h”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。或いは、例えば、三番目のコンテンツデータである記録データが、L0層の記録終了位置G点(セクタ番号:“EC5B9h”、半径:40.00mm)まで記録される。続いて、L1層の記録終了位置H点(セクタ番号:“E8DBFh”、半径:39.85mm)まで記録される(図13中の斑点部分を参照)。よって、G点とH点において、半径方向に、第2オフセット量(150μm)の差が得られる。言い換えると、L1層の記録終了位置H点のセクタ番号が、G点のセクタ番号より“37FAh”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。
尚、オポジット方式においても、該光ディスクに対する記録動作完了後は、パラレル方式と同様の記録領域となるので説明を省略する。
以上詳細に説明したように第2実施例によれば、決定されたオフセット量が、第1オフセット量や第2オフセット量に対して、予め設定された許容範囲内にあるか否かを、自動的に検証することが可能となる。
(第2実施例による検証対象となる、光ディスクの各種具体例)
次に図14から図16を参照して、第2実施例に係る判定工程まで行うように構成されたオフセット量測定装置によって、第1オフセット量OFF1や第2オフセット量OFF2が好適に検証される、光ディスクの各種具体例について説明する。
先ず、第2実施例に係る、2層型光ディスクのデータ構造及びセクタ番号で示された記録領域並びに該光ディスクの記録手順についてより詳細に説明する。ここに、図14は、第2実施例に係る、2層型光ディスクにおいて、L1層のトラックピッチが調整されている場合の該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。図15は、第2実施例に係る、2層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の一具体例を示した概念図である。図16は、第2実施例に係る、2層型光ディスクにおいて、パラレル方式又はオポジット方式による該光ディスクに対する記録動作後の記録領域の他の具体例を示した概念図である。尚、これらの図では、L1層のアドレスはパラレル方式のセクタ番号を示してある。
先ず、図14及び図15を参照して、第2実施例に係る、2層型光ディスクの一具体例について説明する。
図14に示されるように、第2実施例に係る、光ディスクの一具体例においては、L1層のトラックピッチが調整されている。従って、該光ディスクに対して記録動作が行われた場合、L1層のデータエリア102−1の最外周位置は、該最外周位置と同じセクタ番号を持つL0層のデータエリア102−0の最外周位置より第3オフセット量だけ外周側に位置する。ここに、「第3オフセット量」とは、光ディスクに対してL0層及びL1層のトラックピッチの比又は差が調整されることによって、該光ディスクに対して記録動作が行なわれる際に、L1層のデータエリア102−1の最外周位置を、L0層のデータエリア102−0の最外周位置より所定範囲内に位置させるために定められた半径方向の長さに相当する基準値である。より具体的には、第2実施例におけるL1層のトラックピッチが調整された光ディスクに対して記録動作が行われ、L1層のデータエリア102−1の最外周位置K点(セクタ番号:“22D43Bh”、半径:58.14mm)は、該最外周位置K点と同じセクタ番号を持つL0層のデータエリア102−0の前述した最外周位置C点より半径方向で第3オフセット量として、200μmだけ外周側に位置するようにする。
尚、L1層のトラックピッチのみが調整されていてもよいし、L0層及びL1層のトラックピッチの比又は差が調整されていてもよい。
従って、図15に示されるように、光ディスクの一具体例によれば、L0層及びL1層に交互に記録データの記録が行われる場合において、L1層のデータエリア102−1の記録終了位置がL0層のデータエリア102−0の記録終了位置より、第2オフセット量(半径方向の幅が150μm)だけ、常に内周側に位置させるようにする。このため、後述される情報記録装置によって、第2オフセット量に加えて、第3オフセット量を含めて、実際のL1層のデータエリア102−1の記録終了位置が決定される。尚、この第3オフセット量を考慮した記録終了位置の決定方法は、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により求めることが可能である。
より具体的には、実際のL1層のデータエリア102−1の最外周位置L点が、K点より350μm(=200+150)だけ内周側に位置するように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。言い換えると、実際のL1層のデータエリア102−1の最外周位置L点のセクタ番号が、K点のセクタ番号より“75BBh”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。その結果、L1層のデータエリア102−1の最外周位置L点のセクタ番号は、“225E80h”となり、半径は、57.79mmとなる。前述の図8で説明した本発明の情報記録媒体の第1実施例に係る2層型光ディスクの一具体例と比較して、L1層のトラックピッチが大きい分だけセクタ番号が小さくなっていることが分かる。
以下、同様にして、パラレル方式においては、例えば、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にL0層のデータエリア102−0の前述した記録開始位置A点から前述した記録終了位置E点まで記録される。続いて、L1層のデータエリア102−1の前述した記録開始位置B点から記録終了位置M点(セクタ番号:“6935Eh”、半径:29.85mm)まで記録される(図15中のグレー部分を参照)。よって、E点とM点の半径位置において、第2オフセット量(150μm)の差が得られる。言い換えると、L1層の記録終了位置F点のセクタ番号が、E点のセクタ番号より“3488h”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれたことになる。或いは、例えば、三番目のコンテンツデータである記録データが、L0層の前述した記録終了位置G点まで記録される。続いて、L1層の記録終了位置N点(セクタ番号:“E7CA8h”、半径:39.85mm)まで記録される(図15中の斑点部分を参照)。よって、G点とN点の半径位置において、第2オフセット量(150μm)の差が得られる。言い換えると、L1層の記録終了位置N点のセクタ番号が、G点のセクタ番号より“4911h”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれたことになる。
尚、オポジット方式においても、該光ディスクに対する記録動作完了後は、パラレル方式と同様の記録領域となるので説明を省略する。
次に、図16に加えて前述した図15を適宜参照して、第2実施例に係る、2層型光ディスクの他の具体例について説明する。
図16に示されるように、図15で説明した一具体例と概ね同様に、L1層のトラックピッチが制御されている。
従って、図16に示されるように、第2実施例に係る、2層型光ディスクの他の具体例によれば、L0層及びL1層に交互に記録データの記録を行う該光ディスクに対する記録動作において、L1層のデータエリア102−1の記録終了位置のセクタ番号をL0層のデータエリア102−0の記録終了位置のセクタ番号より、常に第2オフセット量(一定のセクタ番号数)だけ小さくさせる。尚、この第2オフセット量である一定のセクタ番号数の決定方法は、図15で説明した一具体例と概ね同様に、例えば、実験的、経験的又は理論的若しくはシミュレーション等により求めることが可能である。また、他の具体例によれば、セクタ番号等のプリフォーマットアドレスに応じて記録データを記録していけばよいため、記録手順自体も簡略化されるという利点も有する。
より具体的には、実際のL1層のデータエリア102−1の最外周位置D点のセクタ番号が、L0層のデータエリア102−0の前述した最外周位置C点のセクタ番号より“75BBh”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。このように、最外周位置において、決定された一定のセクタ番号数を第2オフセット量とすると、この一定のセクタ番号数に対応される半径方向の幅は、半径の小さい内周側に向かうにつれて大きくなることは自明である。
以下、同様にして、パラレル方式においては、例えば、一番目のコンテンツデータである記録データが、最初にL0層のデータエリア102−0の前述した記録開始位置A点から前述した記録終了位置E点まで記録される。続いて、L1層のデータエリア102−1の前述した記録開始位置B点から記録終了位置O点(セクタ番号:“6522Bh”、半径:29.47mm)まで記録される(図16中のグレー部分を参照)。即ち、L1層の記録終了位置J点のセクタ番号が、I点のセクタ番号より“75BBh”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。よって、E点とO点の半径位置において、第2オフセット量(150μm)より大きな530μmの差が得られる。或いは、例えば、三番目のコンテンツデータである記録データが、L0層の前述した記録終了位置G点まで記録される。続いて、L1層の記録終了位置P点(セクタ番号:“E4FFEh”、半径:39.66mm)まで記録される(図16中の斑点部分を参照)。即ち、L1層の記録終了位置P点のセクタ番号が、G点のセクタ番号より“75BB”のセクタ番号数だけ小さくなるように、該光ディスクに対する記録動作が行なわれる。よって、G点とP点の半径位置において、第2オフセット量(150μm)より大きな340μmの差が得られる。
尚、オポジット方式においても、該光ディスクに対する記録動作完了後は、パラレル方式と同様の記録領域となるので説明を省略する。
(第3実施例)
図17及び図18を参照して、本発明のオフセット量測定方法及び装置に係る第3実施例について詳細に説明する。ここに図17は、第3実施例に係るオフセット量測定装置及び方法を図式的に示す概念図である。図18は、第3実施例に係るオフセット量測定方法のフローチャートである。尚、第3実施例において、図1から図8を参照して説明した第1実施例、又は図9から図13を参照して説明した第2実施例と同様の構成要素や同様の工程は同様の参照符合を付し、それらの説明は適宜省略する。
図6の上段側に図式的なブロック図として示すように、本実施例に係るオフセット量測定装置は、マイクロスコープ901、測定用記録装置803、及び処理装置804を備えて構成されている。
マイクロスコープ901は、本発明に係る「第1検出手段」及び「第2検出手段」の一例として、更に「2次元測長装置」の一例として機能する。マイクロスコープ901は、光ディスク100のセンターホール1を基準として、光ディスク100の記録面に沿って矢印922及び923のように2次元的に移動可能に構成されている。また、その焦点を、処理装置804による制御下で、選択的にL0層又はL1層に合わせることができるように構成されている。マイクロスコープは、例えばCCD(Charged Coupled Device)或いは固体撮像素子、光学顕微鏡等の2次元撮像素子を備えて構成される。
第3実施例では、第1実施例に係る光ディスクの如く、第1又は第2オフセット量が設定されていない型式の光ディスクを測定対象としてもよいが、ここでは、第2実施例に係る光ディスクの如く、第1又は第2オフセット量が設定されている型式の光ディスクを測定対象とする。そして、処理装置904は、次に説明するように測定用情報が記録されたトラック上の複数点の座標から、オフセット量OFFrを決定し、第1又は第2オフセット量の適否についての検証を行うように構成されている。
図18に示したように、このようにオフセット対策用に第1及び第2オフセット量が設定された光ディスクに対して、第1実施例における図6から図8に示したのと同様に、ステップS10からステップS12が行なわれる(ステップS10〜S12)。
ステップS12の後に、図17に示したマイクロスコープ901により撮像を行うことで、図17の下段側の平面図に示した、第1境界位置の一例たる半径RL0の円をなす、L0層のトラック10上にある3点C01、C02及びC03の座標が測定される(ステップS31)。この際の検出も、L0層において、測定用情報が記録済みである第1記録済みエリアと、測定用情報が未記録である第1未記録エリアと間の反射率の差に基づいて、行なわれる。この際、センターホール1を基準にして矢印922及び923の如く光ディスク100の記録面に沿って2次元的に移動可能であるので、高倍率のマイクロスコープ901を使用して、3点C01、C02及びC03の座標の検出を高精度で行うことが可能とされる。マイクロスコープ901で検出された3点C01、C02及びC03の座標を示す情報は、処理装置904へと入力される。
その後、第2境界位置の一例たる半径RL1の円をなす、L1層のトラック10上にある3点C11、C12及びC13の座標が測定される(ステップS32)。これと相前後して、センターホール1近傍のトラックについても、3点Ce1、Ce2及びCe3の座標が、同じ要領で測定される。
その後、処理装置904により、本発明に係る「決定工程」の一例として、上述の如く検出された第1境界位置の一例に係る3点C01、C02及びC03の座標と、上述の如く検出された第2境界位置の一例に係る3点C11、C12及びC13の座標とに基づいて、オフセット量が算出される(ステップS33)。より具体的には、それらの座標から先ずL0層及びL1層の中心座標が算出され、更に各点における半径が算出され、L0等の半径とL1層の半径との間の差分によって、オフセット量OFFsが算出される。このように算出することに鑑みれば、第1又は第2境界位置の一例に係る複数の点としては、例えば、データエリアの開始端近傍の所定のアドレスの場所、データエリアの中間の所定アドレスの場所、データエリアの終端近傍の所定のアドレスの場所などあることが好ましい。尚、いずれにせよ、トラックの全部について検出及び算出を行うのではなく、離散的な複数の点で行なえば、時間節約や労力軽減を図るために実践的に有利である。更に、生産ロット毎に抜き取りで検証することも可能である。
その後、判定工程によって、ステップS33で算出されたオフセット量OFFr(即ち、実測値)が、第1オフセット量OFF1に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される。或いは、ステップS33で算出されたオフセット量OFFr(即ち、実測値)が、第2オフセット量OFF2に対して予め設定された許容範囲内にあるか否かが判定される(ステップS21)。
以上詳細に説明したように第3実施例によれば、算出されたオフセット量OFFrが、第1オフセット量OFF1や第2オフセット量OFF2に対して、予め設定された許容範囲内にあるか否かを、自動的に検証することが可能となる。
(情報記録装置の実施例)
次に、図19を参照して、本発明の情報記録装置に係る実施例における情報記録再生装置300及び、ホストコンピュータ400の基本構成について説明する。特に、本実施例は、本発明に係る情報記録装置を光ディスク用の情報記録再生装置に適用した例である。ここに、図19は、本発明の情報記録装置に係る実施例における情報記録再生装置及び、ホストコンピュータの基本構成を示したブロック図である。尚、情報記録再生装置300は、光ディスク100に記録データを記録する機能と、光ディスク100に記録された記録データを再生する機能とを備える。
図19を参照して情報記録再生装置300の内部構成を説明する。情報記録再生装置300は、ドライブ用のCPU(Central Processing Unit)354の制御下で、光ディスク100に情報を記録すると共に、光ディスク100に記録された情報を読み取る装置である。
情報記録再生装置300は、光ディスク100、スピンドルモータ351、光ピックアップ352、信号記録再生手段353、CPU(ドライブ制御手段)354、メモリ355、データ入出力制御手段306、及びバス357を備えて構成されている。また、ホストコンピュータ400は、CPU359、メモリ360、操作制御手段307、操作ボタン310、表示パネル311、及びデータ入出力制御手段308を備えて構成される。
特に、情報記録再生装置300と、ホストコンピュータ400を同一筐体内に収めることにより、或いは、CPU(ドライブ制御手段)354、データ入出力制御手段306、及びバス357によって、本発明に係る通信手段が構成されていてもよい。
スピンドルモータ351は光ディスク100を回転及び停止させるもので、光ディスクへのアクセス時に動作する。より詳細には、スピンドルモータ351は、図示しないサーボユニット等によりスピンドルサーボを受けつつ所定速度で光ディスク100を回転及び停止させるように構成されている。
光ピックアップ352は光ディスク100への記録再生を行うもので、半導体レーザ装置とレンズから構成される。より詳細には、光ピックアップ352は、光ディスク100に対してレーザービーム等の光ビームを、再生時には読み取り光として第1のパワーで照射し、記録時には書き込み光として第2のパワーで且つ変調させながら照射する。
信号記録再生手段353は、スピンドルモータ351と光ピックアップ352を制御することで光ディスク100に対して記録再生を行う。より具体的には、信号記録再生手段353は、例えば、レーザダイオード(LD)ドライバ及びヘッドアンプ等によって構成されている。レーザダイオードドライバ(LDドライバ)は、光ピックアップ352内に設けられた図示しない半導体レーザを駆動する。ヘッドアンプは、光ピックアップ352の出力信号、即ち、光ビームの反射光を増幅し、該増幅した信号を出力する。より詳細には、信号記録再生手段353は、OPC(Optimum Power Control)処理時には、CPU354の制御下で、図示しないタイミング生成器等と共に、OPCパターンの記録及び再生処理により最適なレーザパワーの決定が行えるように、光ピックアップ352内に設けられた図示しない半導体レーザを駆動する。特に、信号記録再生手段353は、光ピックアップ352と共に、本発明に係る「書込手段」及び「取得手段」の一例を構成する。
メモリ355は、記録再生データのバッファ領域や、信号記録再生手段353で使用出来るデータに変換する時の中間バッファとして使用される領域など情報記録再生装置300におけるデータ処理全般及びOPC処理において使用される。また、メモリ355はこれらレコーダ機器としての動作を行うためのプログラム、即ちファームウェアが格納されるROM領域と、記録再生データの一時格納用バッファや、ファームウェアプログラム等の動作に必要な変数が格納されるRAM領域などから構成される。
CPU(ドライブ制御手段)354は、信号記録再生手段353及びメモリ355と、バス357を介して接続され、各種制御手段に指示を行うことで、情報記録再生装置300全体の制御を行う。通常、CPU354が動作するためのソフトウェア又はファームウェアは、メモリ355に格納されている。
データ入出力制御手段306は、情報記録再生装置300に対する外部からのデータ入出力を制御し、メモリ355上のデータバッファへの格納及び取り出しを行う。情報記録再生装置300とSCSIや、ATAPIなどのインターフェースを介して接続されている外部のホストコンピュータ400(以下、適宜、「ホスト」と称す)から発行されるドライブ制御命令は、データ入出力制御手段306を介してCPU354に伝達される。また、記録再生データも同様にデータ入出力制御手段306を介して、ホストコンピュータ400とやり取りされる。
操作制御手段307はホストコンピュータ400に対する動作指示受付と表示を行うもので、例えば記録又は再生といった操作ボタン310による指示をCPU359に伝える。CPU359は、操作制御手段307からの指示情報を元に、データ入出力手段308を介して、情報記録再生装置300に対して制御命令(コマンド)を送信し、情報記録再生装置300全体を制御する。同様に、CPU359は、情報記録再生装置300に対して、動作状態をホストに送信するように要求するコマンドを送信することができる。これにより、記録中や再生中といった情報記録再生装置300の動作状態が把握できるためCPU359は、操作制御手段307を介して蛍光管やLCDなどの表示パネル311に情報記録再生装置300の動作状態を出力することができる。
以上説明した、情報記録再生装置300とホストコンピュータ400を組み合わせて使用する一具体例は、映像を記録再生するレコーダ機器等の家庭用機器である。このレコーダ機器は放送受信チューナや外部接続端子からの映像信号をディスクに記録し、テレビなど外部表示機器にディスクから再生した映像信号を出力する機器である。メモリ360に格納されたプログラムをCPU359で実行させることでレコーダ機器としての動作を行っている。また、別の具体例では、情報記録再生装置300はディスクドライブ(以下、適宜、「ドライブ」と称す)であり、ホストコンピュータ400はパーソナルコンピュータやワークステーションである。パーソナルコンピュータ等のホストコンピュータとドライブはSCSIやATAPIといったデータ入出力制御手段306及び308を介して接続されており、ホストコンピュータにインストールされているライティングソフトウェア等のアプリケーションが、ディスクドライブを制御する。
本実施例に係る情報記録再生装置300では、上述のトラックピッチの比又は差に関する情報が記録される、光ディスク100上の第1管理エリアから、該情報を読み出して、記録再生動作に記録や再生動作を確実に行ってもよい。或いは、第1オフセット量に関する情報が記録される、光ディスク100上の第2管理エリアから、該情報を読み出して、記録再生動作に記録や再生動作を確実に行ってもよい。
本実施例では、情報記録媒体の一具体例として、例えば、2層型DVD−R/RW等の追記型又は書き換え型光ディスクについて説明したが、本発明は、例えば、3層型等のマルチプルレイヤ型の光ディスクにも適用可能である。更に、ブルーレーザーを記録再生に用いるディスク等の大容量記録媒体にも適用可能である。
本発明は、上述した実施例に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うオフセット量測定方法及び装置もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
100…光ディスク、101−0(101−1)…リードインエリア、102−0(102−1)…データエリア、103−0(103−1)…リードアウトエリア、104−0(104−1)…ミドルエリア、300…情報記録再生装置、306(308)…データ入出力制御手段、307…操作制御手段、310…操作ボタン、311…表示パネル、351…スピンドルモータ、352…光ピックアップ、353…信号記録再生手段、354…CPU(ドライブ制御手段)、355(360)…メモリ、359…CPU(ホスト用)、400…ホストコンピュータ、LB…レーザ光、801、901…マイクロスコープ、803…測定用記録装置、804…処理装置