JP4074767B2 - 光ディスク装置の検査方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置の検査方法に関し、さらに詳しくは、ラジアルチルト補正機構を有する光ディスク装置の直交性検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスクドライブにおいて記録再生情報の高密度化が図られてきている。そのような高密度化に伴い、メディア方のレーザスポット径を小さくする必要性が出てきたため、ピックアップに使用される対物レンズは高ＮＡのものが用いられている。このような光学系では、従来の光学系に比べてメディアと光学系の光軸との傾き（チルト）が発生すると、光学系の収差が大きくなるといった問題があった。その結果、この収差はドライブの変調／復調回路のノイズとなって現れ、収差が大きくなると正常なドライブ動作を行うことができなくなる。このため、近年チルト補正手段を備えた光ディスク装置が増加している。これは、ラジアルまたはタンジェンシャルの、何れか一方のチルト補正機構を有する光ディスク装置であり、補正機構を有しない方向のチルトに関しては、工程でドライブの性能が最も良く発揮されるように、例えば、ＲＦ信号などを用いて情報記録媒体に光ビームが略垂直にあたるように調整される。
一方、図７に示すようにチルト補正機構の回転支点となる枢支軸の端部は、部品精度として必ずしも理想の円筒、球形状とはなっていないため、チルト補正機構を動作させると、補正を希望しない方向に傾斜する可能性がある。この傾斜は、工程での調整を最適の位置にしようとしても、必ずドライブの記録／再生性能を悪化させる方向に働くため、所定の部品精度を越えた大きな傾斜は許容できない。
ここで仮に、ラジアルチルト機構の動きに伴うタンジェンシャルチルトの発生量を測定する場合を考えると、外部測定系から観測した場合、ラジアル方向とタンジェンシャル方向を切り分けて測定することが困難である場合が多い。例えば、シークレールの傾きを、コリメータで測定しながらラジアルチルト補正機構を動作させた場合、その動作に伴ってコリメータの輝点がラジアル方向に移動していくことが測定されるが、それがどの程度のタンジェンシャル方向成分を含んでいるかは測定できない。
【０００３】
また、特開平９−３２０２１４号公報には、一つの自由度を有する調整部材を用いることで調整時のパラメータを簡略化でき、調整を容易とする光ディスク装置と、案内軸調整方法について開示されている。それによると、光ディスクに対してレーザ光を照射し信号を再生または記録するピックアップヘッドを備えた光ディスク装置において、上記ピックアップヘッドを光ディスクのラジアル方向に案内する第１の案内軸および第２の案内軸と、上記第１の案内軸および第２の案内軸を互いにラジアル方向に平行に保つ平行保持部と、上記光ディスクに対して垂直な回転軸に回転モーメントを加えることにより回動し、上記回動軸を中心に周方向に傾斜をもって設けられており前記光ディスクと軸受け面との距離が連続的に変化可能な軸受け部を有する上記第１の案内軸および第２の案内軸を受ける調整部材とを具備して実現している。
また、特開２００１−２３６７１９公報には、ジッタレベルを最小にするようチルトを調整するチルト調整方式において、製品のチルト−ジッタ特性のばらつき度合いに関わらず、短時間で精度よくチルト調整を行える光ディスク装置のチルト調整方法について開示されている。これによると、予め設定された所定のチルト測定ポイントの測定だけでは適正なジッタレベルを測定できない場合には、予め設定されているシフト量分ずつチルト測定ポイントをずらして自動的にジッタ測定を繰返すことにより最終的にジッタ最小チルト位置を算出するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記のラジアルチルト補正機構でのタンジェンシャル方向成分の問題を解決する一つの方法として、シャーシを精密な治具に固定してラジアル、タンジェンシャル方向を治具の精度によって得ることが考えられる。しかし、この方法では治具に対して測定対象であるドライブ、および測定器であるコリメータを精密に位置決めする必要があるので、非常に大掛かりで、かつ高価な治具が必要となる。そこで、従来このような不要な傾斜が発生しないように非常に厳しい寸法精度で回転軸を構成することが一般的であった。また、上記のような理由により簡易かつ安価にこのような傾斜を検出することは容易ではなかった。
また、特開平９−３２０２１４号公報は、２軸平行調整のためにリニアゲージを必要とし、調整のための設備が必ずしも簡単ではない。また、特開２００１−２３６７１９公報は、ジッタレベルをジッタメータにより取り込み、最終的にジッタ最小チルト位置を算出するので、前記と同じく調整のための設備が必ずしも簡単ではなかった。
本発明は、かかる課題に鑑み、高精度な治具を用いることなく、ラジアルチルト補正動作に伴うタンジェンシャル方向のチルトなど、不要な傾斜を簡易な方法で検出する検査方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明はかかる課題を解決するために、請求項１は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数のガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記複数のガイドシャフトの何れか一方の所定位置に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
ラジアル補正機構を備えた光ディスク装置では、スピンドルモータにセットされた記録媒体に対して、光学系のピックアップからレーザスポットを当てて、その光軸が記録媒体と垂直になるように、回動シャーシをラジアル方向に傾斜させて自動的に補正される。しかし、製造工程では必ずしも光学系のピックアップが実装されているとは限らないので、それに代わる検査方法として、光学系のピックアップをシークさせるガイドシャフトを利用し、そのガイドシャフトにミラーを搭載し、例えば、コリメータにより測定する場合に、コリメータからの平行光をそのミラーに当てて、平行であれば反射光が平行に戻る。しかし、傾斜していればその傾斜量に比例して反射光が移動する。この移動する光の軌跡を測定することにより前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを検出することができる。
かかる発明によれば、２本のガイドシャフトの何れか一方の所定位置に反射鏡を搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを測定する場合、その反射鏡に照射した光の輝点の軌跡を測定することにより、簡易な構成でしかも安価にラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを検出することができる。
【０００７】
請求項２は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数のガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記回動シャーシの所定位置に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
他の方法として、回動シャーシの面にミラーを搭載して測定する方法が考えられる。これは、前記の回動シャーシのような支持部材は、光ピックアップのガイドシャフトを支持しているので、シーク動作による光学軸の傾斜を避けるために一般的に高い平面度を有している。このため、この平面を測定治具として用いることができる。
かかる発明によれば、回動シャーシの所定位置にミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定するので、測定冶具を比較的簡単に設計することができる。
【０００８】
請求項３は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記複数のガイドシャフト間に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
また、他の方法として、２本のガイドシャフトをまたぐようにミラーを搭載して測定する方法が考えられる。これは、測定用ミラーを２本のガイドシャフト上に乗せて測定を行うものである。
かかる発明によれば、２本のガイドシャフトをまたぐようにミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定することで、より直接的に光ピックアップの傾斜を評価することが可能となる。また、光ピックアップを支持している部分と、測定用ミラーを支持する部分を同一の場所とすることで、より精度良く評価を行うことが可能となる。
【０００９】
請求項４は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記光学系上に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
また、他の方法として、光ピックアップ上にミラーを搭載して測定する方法が考えられる。これは最も実際の構成に近い状態であり、測定時と実記での誤差が少なくなる方法である。例えば、小型の測定用ミラーのようなものを光ピックアップ上の任意の位置に取り付ける。その際に初期的な傾斜は問題とならないが、測定中にミラーの角度の変化が無いように固定しておく。この状態でコリメータ等を用いて傾斜を測定する。
かかる発明によれば、光ピックアップ上にミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定するので、ガイドシャフトと光ピックアップの嵌合のがたを含めて、最も直接的にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することが可能となる。
請求項５は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記光学系に光を照射することで生じる光の輝点に対して、前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
また、他の方法として、光ピックアップ上にある反射可能な面を利用して測定する方法が考えられる。これは、光ピックアップ上には様々な光学素子が搭載しており、これらを利用することで新たに測定用のミラーを搭載すること無く測定を行うことが可能である。例えば、この対物レンズのコバの部分はミラーとして用いることが可能となる。
かかる発明によれば、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、光ピックアップ上の光を反射可能な面に照射した光の輝点の軌跡を測定することにより検出するので、安価にしかも確実にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することができる。
【００１１】
請求項６は、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡によるタンジェンシャル方向のベクトルをａとし、前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡によるラジアル方向のベクトルをｂとするとき、ａ・ｂの内積を計算することにより、タンジェンシャル方向とラジアル方向の直交性を求めることを特徴とする。
ベクトルを正規化しておけば、内積の値から不必要な傾斜の発生が大きすぎる機構であるか否かを判定することが可能となる。また調整軸とチルト補正機構の軸が設計上正確に直交していない場合には、上記ベクトルを正規化した後の内積の値を用いて判定するか、または予め直交するように得られたベクトルのうちの片方を回転させてから内積を計算することで前記方法が適用可能となる。この方法は、別の測定器を用いて調整軸の方向のベクトル｛ａ｝と、チルト補正機構の回転軸｛ｂ｝が得られた場合にも容易に適用できる。
かかる技術手段によれば、タンジェンシャル補正機構によるタンジェンシャル方向のベクトルをａとし、ラジアル補正機構によるラジアル方向のベクトルをｂとして、ａ・ｂの内積を計算することにより、タンジェンシャル方向とラジアル方向の直交性を求めるので、直交性を数値により判定することができる。
請求項７は、前記タンジェンシャル補正機構、若しくは前記ラジアル補正機構の何れか一方を動作させる場合、該動作を行わない方の補正機構の補正方向における前記固定シャーシと前記回動シャーシのなす角が略水平になるような位置で検査を行うことを特徴とする。
ラジアルまたはタンジェンシャルに傾斜させる場合に、他方を略水平にして測定することを特徴とする。例えば、タンジェンシャル方向を水平にすると、ラジアル方向の角度が微小な範囲では原点をとおり角度に比例する軌跡を描く。しかし、タンジェンシャル方向が水平でないと、輝点の軌跡は曲線を描き、曲線になることで前記請求項７の方法で示したような計算を行う際の直交性の判定の誤差となってしまい、判定を誤る原因となってしまう。略水平とすることで正確に測定を行うことが可能となる。
かかる技術手段によれば、ラジアルまたはタンジェンシャルに傾斜させる場合に、他方を略水平にして測定するので、直交性を正確に測定することが可能となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図に示した実施形態を用いて詳細に説明する。但し、この実施形態に記載される構成要素、種類、組み合わせ、形状、その相対配置などは特定的な記載がない限り、この発明の範囲をそれのみに限定する主旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
本発明は光ピックアップを搭載し、情報の記録／再生を行い情報記録媒体と光ピックアップの傾き補正機構を有する光ディスク装置のローディング機構に適用する。図１は、本発明の一実施形態に係る光ディスクドライブの主な構成を示すブロック図である。本実施形態では記録再生型の光ディスクドライブについて説明するが、本願発明はこれに限られるものではなく、例えば、図１中の記録補償を省略した再生型の光ディスクドライブであってもよい。図１の構成は、信号の利用目的によりオーディオ回路や、画像圧縮／伸張回路、あるいはコンピュータと接続のためのインターフェイスが接続されている入力信号９、出力信号１０と、入力信号９を光ディスク上に記録しやすい信号に変調したり、逆に光ディスク上の信号を復調する変調・復調回路６と、記録信号によるレーザ変調を行う記録補償回路５と、読取り信号の波形整形などを行うＲＦ信号処理回路４と、読取り信号より誤差成分を検出し、光ピックアップやスピンドルモータにフィードバックして、フォーカスサーボやトラッキングサーボおよびスピンドルモータの回転を制御するサーボ回路７と、光ディスクに情報を記録したり、光ディスク上の情報を再生する光ピックアップ３と、光ディスクを回転制御するディスクモータ２により構成されている。また、前記サーボ系に加えて、情報記録媒体の記録面と光ピックアップの光学系の傾きを除去するチルトサーボ機構があってもよい。
【００１３】
次に、情報の再生動作について説明する。光ピックアップ３により光ディスク１上に記録された情報信号を読出し、その信号をＲＦ信号処理回路４に入力する。ＲＦ信号処理回路４では入力信号の波形整形等を行い、その後、信号を変調・復調回路６入力する。復調後、信号は出力信号９として図示しないホストコンピュータ等に出力される。また、情報の記録動作は、記録したい信号を入力信号１０として変調・復調回路６に入力して信号変調回路により、光ディスク上に記録しやすい信号に変調される。つぎに変調された信号は記録補償回路５に入力され、レーザ変調等を行い信号に応じたレーザ駆動電流を光ピックアップ３に流す。一般に情報記録時に流す電流は情報再生時よりも大きい。そして、入力信号に基づいて半導体レーザが発光され、光ピックアップ３からレーザを光ディスク１の記録面に照射することにより情報記録を行う。この動作の間、サーボ制御７は常になされている。
図２は、本発明の光ピックアップの構成を示す図である。構成は、半導体レーザ５１から発散光として照射された光ビーム（直線偏光）は、コリメータレンズ５２により平行光とされ、偏光ビームスプリッタ５３に入射する。ビームスプリッタ５３は、光の偏光方向の違いによって、貼り合せ面で光を透過又は反射させる働きをする。入射光は平行光であり、ビームスプリッタ５３の入射面に対して平行振動するため、透過する。透過した光ビームは、立上ミラー５４で方向を変えた後、１／４波長板５５に入射する。１／４波長板５５では直線偏光が円偏光に変換される。その後、光ビームは対物レンズ５６に入射する。対物レンズ５６に入射した光は、メディア５７の記録面上に集光される。記録面から反射した光は、再び対物レンズ５６、１／４波長板５５に入射する。このとき円偏光から再び直線偏光に変換されるが、最初に１／４波長板５５に入射した光に対して位相が９０度ずれ垂直振動する光となる。この光はビームスプリッタ５３により入射方向と垂直な方向に反射される。そして、集光レンズ５８により集光された後、受光素子５９により受光される。そして、この受光素子５９で受光した光量が電気信号に変換され、メディア５７に記録されている情報が再生される。また、受光素子５９を分割して、その分割された各々の受光素子が受光する光量に応じてトラッキングエラー信号、及びフォーカスエラー信号を生成する。そして、これらの信号に基づいてトラッキングコイル６０やフォーカシングコイル６１に電流を流し、トラッキングサーボやフォーカシングサーボを行っている。
【００１４】
本発明はラジアル、タンジェンシャルのいずれかのチルトを補正する機構を持ち、もう一方を工程において最良になるように調整されているドライブを対象とする。まず、ラジアル、タンジェンシャルについて図３を参照しながら説明する。
通常、Ｔ０〜Ｔ３はＴ０を基準とする同一平面上に設置されており、これを基準位置としている。ここで、前述のタンジェンシャル方向へピックアップを傾ける場合は、（Ｔ０、Ｔ１）と（Ｔ２、Ｔ３）の組み合せで移動させる。（Ｔ０、Ｔ１）は一点鎖線で示された同一高さに固定されており、（Ｔ２、Ｔ３）が移動可能となっている。ここで、Ｔ２、Ｔ３における位置調整部材が等量上昇または下降すると、Ｔ０、Ｔ１の平面に対してタンジェンシャル方向の角度が形成される（図３（ａ）参照）。また、前述のラジアル方向へピックアップ２を傾ける場合は、（Ｔ０、Ｔ２）と（Ｔ１、Ｔ３）の組み合せで移動させる。（Ｔ０、Ｔ２）は一点鎖線で示された同一の高さに固定されており、（Ｔ１、Ｔ３）が移動可能となっている。ここで、Ｔ１、Ｔ３における位置調整部材が等量上昇または下降すると、Ｔ０、Ｔ２が存在している平面に対してラジアル方向の角度が形成される（図３（ｂ）参照）。
図４は、本発明のドライブシャーシの例を示す概略図である。図では説明に必要な構成要素のみを図示しており、他は省略している。この構成は、固定用ネジ穴２２を有する固定シャーシ２３と、このシャーシに固定され、図示しないディスクを回転するスピンドルモータ２０と、直線Ａ−Ａを支点としてシーソーのようにラジアル方向及びタンジェンシャル方向に傾斜する回動シャーシ２１と、この回動シャーシ２１にシャフト軸受け２４により固定され、図示しないアクチュエータをスライドさせる２本のガイドシャフト２７、２８と、回動シャーシ２１を固定シャーシ２３に保持している板バネ２５、２６から構成されている。
【００１５】
図５は板バネ２５、２６の部分を直線Ａ−Ａで切断した拡大断面図であり、（ａ）がＢ部拡大図であり、（ｂ）がＣ部拡大図である。同じ構成要素には同じ参照番号が付されている。（ａ）の構成は、固定シャーシ２３にネジ２５ａにより板バネ２５が固定されている。また、調整ネジ２５ｂは固定シャーシ２３に形成された雌ネジ部に嵌合してシャーシを貫通し、その先端部で回動シャーシ２１を下から支えている。また、調整ネジ２５ｂの先端が板バネ２５により圧接されており、それと同時に回動シャーシ２１の浮を防止している。この構成によるタンジェンシャル方向の調整は、調整ネジ２５ｂを所定の方向に回転すると、そのネジピッチ量に応じて調整ネジ２５ｂが矢印の方向に上下する。回動シャーシ２１は調整ネジ２５ｂの先端部で支えられているので、調整ネジ２５ｂと共に上下に移動する。一方、（ｂ）の構成は、固定シャーシ２３にネジ２５ｂにより板バネ２６が固定されている。また、先端が半円球の枢支軸２６ａは、支点Ｐを中心として回動シャーシ２１が矢印の方向に回転するように、すり鉢状の支持台２６ｃにより支持されている。また、枢支軸２６ａの先端が板バネ２６により圧接されており、枢支軸２６ａの浮を防止している。また、枢支軸２６ａと回動シャーシ２１は図示しない方法により、ほぼ直角に固定されている。従って、前記調整ネジ２５ｂを所定の方向に回転すると、そのネジピッチ量に応じて調整ネジ２５ｂが矢印の方向に上下し、回動シャーシ２１は調整ネジ２５ｂの先端部で支えられているので、調整ネジ２５ｂと共に上下に移動する。その結果、枢支軸２６ａが支点Ｐを中心に矢印の方向に回転して、タンジェンシャルの調整が可能となる。
図６は、本発明の実施形態に係るドライブシャーシの側面概略図である。同じ構成要素には同じ参照番号が付されている。図では説明に必要な構成要素のみを図示しており、他は省略している。この構成は、ディスク３３を軸３０に固定して回転するスピンドルモータ２０と、図示しないガイドシャフト上に設置され、矢印の方向に図示しないシーク機構によりスライドするアクチュエータ３１と、前記ガイドシャフトを支持している回動シャーシ２１と、回動シャーシ２１のほぼ中点を支点として、点Ｐを中心に矢印の方向（ラジアル方向）にシーソー回転する枢支軸２６ａと、この枢支軸２６ａを支えるすり鉢状の支持台２６ｃと、回動シャーシ２１の一端を支持してラジアル方向に回動シャーシ２１を回転するラジアルチルト補正機構２ら構成される。この例では、ラジアルチルト補正機構３２を有しており、工程においてタンジェンシャル方向を所望の角度に調整する構成を示している。図６において、図示しないチルトセンサによってディスク３３とアクチュエータ３１の傾斜を測定する。その値を基にチルトモータにチルト補償のための電圧が印加され、チルトによる信号の劣化の発生がなくなるように制御される。図６の例では、ラジアルチルトを回動シャーシ２１を傾斜させることにより補償する。また、工程においては図５（ａ）に示す調整ネジ２５ｂを回転させることにより、枢支軸２６ａを回転させてタンジェンシャル方向のチルトを調整する。
【００１６】
ここで、第１の検査方法としてラジアルチルト補正動作に伴うタンジェンシャル方向の傾きを検出する場合を、図４と図５を併せて参照しながら説明する。仮にコリメータを使って測定する場合を説明するが、測定機具は何でも良い。図４のガイドシャフト２７、２８の何れかの上に測定用の反射鏡を乗せ、コリメータを用いて輝点の軌跡を測定する。この時の輝点の動きを図８に模式的に示す。先ず調整ネジ２５ｂを回転させると輝点が４０から４１に移動する。図８では上下方向に移動するように書いてあるが、コリメータとシャーシの相対的な位置によって決まるので、必ずしも上下方向になっている必要はない。次に、ラジアルチルト補正機構を動作させると、先ほどの輝点の軌跡に対して略垂直に輝点が４２から４３に動く。ここで、ラジアル補正機構を動作させたときにタンジェンシャル方向の傾きがなければ、２本の軌跡は直交する。このように、輝点の軌跡の直交性をみることにより、大掛かりな治具を用いること無くチルト補正動作に伴う不必要な傾斜を検出することが可能となる。
【００１７】
また第２の検査方法として、前記第１の方法のチルト補正機構を動作させた際に傾斜する回動シャーシの傾斜を測定することによって実現することを特徴とする。図６を参照しながら説明する。図６において、光ピックアップ３３を支持する回動シャーシ２１ は図示しないシークモータを支持しており、チルト補正機構３２を動作させることによりスピンドルモータ２０に対して光ピックアップ３１を傾斜させる。本発明はスピンドルモータ２０、光ピックアップ３１のどちらかを相対的に動作させる機構を有しており、その際に動作する側の支持部材であれば適用できる。上記の回動シャーシ２１のような支持部材は、図４の光ピックアップ３１のガイドシャフト２７、２８を支持しているので、シーク動作による光学軸の傾斜を避けるために一般的に高い平面度を有している。このため、この平面を測定治具として用いることができる。また、光ピックアップ３１などを測定する場合に比べて、測定可能な部材の面積が大きいため、治具設計が比較的容易であるという利点がある。例えば、コリメータ等の測定器を用いて観測すると、図８のような軌跡が観測される。図８の輝点４０が調整ネジ２５ｂを回転させる前の輝点の位置、輝点４１が調整ネジ２５ｂを回転させた後の輝点の位置、輝点４２、輝点４３がそれぞれチルト補正機構を動作させたときの輝点の端点とすると、輝点４０から輝点４１へ向かう方向は、コリメータの観測方向を法線とする平面上で調整の回転軸と直交する。同様に輝点４２から輝点４３に向かう方向は、上記平面上でラジアルチルト補正機構３５の回転軸と直交する。この直交性からラジアルチルト補正機構３２を動作させた際の不要なチルトを算出できる。
【００１８】
また第３の検査方法として、前記第１の方法に加え光ピックアップ３１を案内するガイドシャフト２７、２８上に測定治具を搭載して、この測定治具の傾斜を測定することを特徴とする。例えば、図１０のように測定用ミラー４５をガイドシャフト２７、２８上に乗せて測定を行う。このようにすることで、前記第２の方法に比べて、より直接的に光ピックアップの傾斜を評価することが可能となる。また、光ピックアップを支持している部分と、測定用ミラ４５ーを支持する部分を同一の場所とすることで、より精度良く評価を行うことが可能となる。
また第４の検査方法として、前記第１の方法に加え、光ピックアップ上に測定治具を取り付けて、この測定治具の傾斜を測定することを特徴とする。例えば、小型の測定用ミラーのようなものを光ピックアップ上の任意の位置に取り付ける。その際に初期的な傾斜は問題とならないが、測定中にミラーの角度の変化が無いように固定しておく。この状態で前記第１、２の方法のようにコリメータ等を用いて傾斜を測定する。本発明によれば、ガイドシャフト２７、２８と光ピックアップの嵌合のがたを含めて、最も直接的にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することが可能となる。
【００１９】
また第５の検査方法として、前記第４の方法に加え、既に光ピックアップに搭載してある部材の反射面を利用することを特徴とする。光ピックアップ上には様々な光学素子が搭載しており、これらを利用することで新たに測定用のミラーを搭載すること無く測定を行うことが可能である。例えば、図１１に示すように、この対物レンズ４５のコバの部分４６はミラーとして用いることが可能となる。この例では対物レンズを用いる場合を示したが、もちろん別の部材を用いることも可能である。
また第６の検査方法として、前記第１の方法に加え、それぞれのベクトルの内積を用いることを特徴とする。図８の輝点４０が調整ネジ２５ｂを回転させる前の輝点の位置、輝点４１が調整ネジ２５ｂを回転させた後の輝点の位置、輝点４２、輝点４３がそれぞれチルト補正機構を動作させたときの輝点の端点とすると、輝点４０から輝点４１へ向かう方向は、コリメータの観測方向を法線とする平面上で調整の回転軸と直交する。同様に輝点４２から輝点４３に向かう方向は、前記平面上でラジアルチルト補正機構の回転軸と直交する。これらのベクトルをそれぞれ｛ａ’｝、｛ｂ’｝とすると、｛ａ’｝・｛ｂ’｝を計算することで調整軸とチルト補正機構の回転軸の直交性を求めることができる。例えば、ベクトルを正規化しておけば、内積の値から不必要な傾斜の発生が大きすぎる機構であるか否かを判定することが可能となる。また調整軸とチルト補正機構の軸が設計上正確に直交していない場合には、上記ベクトルを正規化した後の内積の値を用いて判定するか、または予め直交するように得られたベクトルのうちの片方を回転させてから内積を計算することで前記方法が適用可能となる。この方法は、別の測定器を用いて調整軸の方向のベクトル｛ａ｝と、チルト補正機構の回転軸｛ｂ｝が得られた場合にも容易に適用できる。
【００２０】
また第７の検査方法として、前記第６の方法に加え、ラジアルまたはタンジェンシャルに傾斜させる場合に、他方を略水平にして測定することを特徴とする。仮にドライブのトラッキングの外周方向にＸ軸を取り、フォーカスの対物レンズから情報記録媒体に向かう方向にＺ軸を取り左手系を形成するようにＹ軸を設定したとする。ここで図４に示すドライブを考えると、調整はタンジェンシャルチルトなので理想的にはＸ軸周りの回転となる。同様にラジアルチルト補正動作はＹ軸周りの回転となる。ここでタンジェンシャル方向の回転角をθとし、ラジアル方向の回転角度をφとすると、それぞれの回転に対応する行列は式（１）、（２）のようになる。ここで測定は、ガイドシャフト２７、２８上に測定用ミラーのような測定治具を置き、フォーカス方向にコリメータを用いて行ったとすると、その時観察される輝点の軌跡はＺ方向の単位ベクトルを上記の行列で回転させ、それをＸ、Ｙ平面に投影したベクトルが観測される。具体的には式（４）のベクトルのうちＸ、Ｙ成分のみが観測される。ここで、タンジェンシャル方向の調整ねじを固定してラジアルチルト補正機構を動作させる場合を考えると、θを固定してφを変化させる場合に対応する。この場合θ＝０であれば式（４）は単に式（５）のように記載され、このうちＸ、Ｙ成分のみが観測されるので、φが微小な範囲では原点をとおり角度に比例する軌跡を描く。しかし、θ≠０の場合輝点の軌跡は図９のような曲線を描く。曲線になることで前記第６の方法で示したような計算を行う際の直交性の判定の誤差となってしまい、判定を誤る原因となってしまう。略水平とすることでｓｉｎθ≒０となり正確に測定を行うことが可能となる。
【００２２】
【発明の効果】
以上記載のごとく請求項１の発明によれば、２本のガイドシャフトの何れか一方の所定位置に反射鏡を搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを測定する場合、その反射鏡に照射した光の輝点の軌跡を測定することにより、簡易な構成でしかも安価にラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを検出することができる。
また請求項２では、回動シャーシの所定位置にミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定するので、測定冶具を比較的簡単に設計することができる。
また請求項３では、２本のガイドシャフトをまたぐようにミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定することで、前記請求項２の方法に比べて、より直接的に光ピックアップの傾斜を評価することが可能となる。また、光ピックアップを支持している部分と、測定用ミラーを支持する部分を同一の場所とすることで、より精度良く評価を行うことが可能となる。
また請求項４では、光ピックアップ上にミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定するので、ガイドシャフトと光ピックアップの嵌合のがたを含めて、最も直接的にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することが可能となる。
【００２３】
また請求項５では、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、光ピックアップ上の光を反射可能な面に照射した光の輝点の軌跡を測定することにより検出するので、安価にしかも確実にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することができる。
また請求項６では、タンジェンシャル補正機構によるタンジェンシャル方向のベクトルをａとし、ラジアル補正機構によるラジアル方向のベクトルをｂとして、ａ・ｂの内積を計算することにより、タンジェンシャル方向とラジアル方向の直交性を求めるので、直交性を数値により判定することができる。
また請求項７では、ラジアルまたはタンジェンシャルに傾斜させる場合に、他方を略水平にして測定するので、直交性を正確に測定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスクドライブの主な構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の光ピックアップの構成を示す図である。
【図３】（ａ）（ｂ）は本発明のラジアル、タンジェンシャルを説明する図である。
【図４】本発明のシャーシの構成を示す上面図である。
【図５】本発明の板バネの部分を直線Ａ−Ａで切断した拡大断面図であり、（ａ）はＢ部拡大図、（ｂ）はＣ部拡大図である。
【図６】本発明の実施形態に係るドライブシャーシの側面概略図である。
【図７】本発明のチルト補正機構の回転支点となる枢支軸の端部の図である。
【図８】本発明のコリメータで観測した場合の輝点の軌跡図である。
【図９】本発明の測定時の輝点の軌跡図である。
【図１０】本発明の測定用ミラーをガイドシャフト上に乗せた図である。
【図１１】本発明の対物レンズの外観図である。
【図１２】（１）〜（５）は本発明のラジアル方向とタンジェンシャル方向の回転角に対応する行列式を示す図である。
【符号の説明】
２０ スピンドルモータ、２１ 回動シャーシ、２３ 固定シャーシ、２４ シャフト軸受け、２５、２６ 板バネ
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置の検査方法に関し、さらに詳しくは、ラジアルチルト補正機構を有する光ディスク装置の直交性検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、光ディスクドライブにおいて記録再生情報の高密度化が図られてきている。そのような高密度化に伴い、メディア方のレーザスポット径を小さくする必要性が出てきたため、ピックアップに使用される対物レンズは高ＮＡのものが用いられている。このような光学系では、従来の光学系に比べてメディアと光学系の光軸との傾き（チルト）が発生すると、光学系の収差が大きくなるといった問題があった。その結果、この収差はドライブの変調／復調回路のノイズとなって現れ、収差が大きくなると正常なドライブ動作を行うことができなくなる。このため、近年チルト補正手段を備えた光ディスク装置が増加している。これは、ラジアルまたはタンジェンシャルの、何れか一方のチルト補正機構を有する光ディスク装置であり、補正機構を有しない方向のチルトに関しては、工程でドライブの性能が最も良く発揮されるように、例えば、ＲＦ信号などを用いて情報記録媒体に光ビームが略垂直にあたるように調整される。
一方、図７に示すようにチルト補正機構の回転支点となる枢支軸の端部は、部品精度として必ずしも理想の円筒、球形状とはなっていないため、チルト補正機構を動作させると、補正を希望しない方向に傾斜する可能性がある。この傾斜は、工程での調整を最適の位置にしようとしても、必ずドライブの記録／再生性能を悪化させる方向に働くため、所定の部品精度を越えた大きな傾斜は許容できない。
ここで仮に、ラジアルチルト機構の動きに伴うタンジェンシャルチルトの発生量を測定する場合を考えると、外部測定系から観測した場合、ラジアル方向とタンジェンシャル方向を切り分けて測定することが困難である場合が多い。例えば、シークレールの傾きを、コリメータで測定しながらラジアルチルト補正機構を動作させた場合、その動作に伴ってコリメータの輝点がラジアル方向に移動していくことが測定されるが、それがどの程度のタンジェンシャル方向成分を含んでいるかは測定できない。
【０００３】
また、特開平９−３２０２１４号公報には、一つの自由度を有する調整部材を用いることで調整時のパラメータを簡略化でき、調整を容易とする光ディスク装置と、案内軸調整方法について開示されている。それによると、光ディスクに対してレーザ光を照射し信号を再生または記録するピックアップヘッドを備えた光ディスク装置において、上記ピックアップヘッドを光ディスクのラジアル方向に案内する第１の案内軸および第２の案内軸と、上記第１の案内軸および第２の案内軸を互いにラジアル方向に平行に保つ平行保持部と、上記光ディスクに対して垂直な回転軸に回転モーメントを加えることにより回動し、上記回動軸を中心に周方向に傾斜をもって設けられており前記光ディスクと軸受け面との距離が連続的に変化可能な軸受け部を有する上記第１の案内軸および第２の案内軸を受ける調整部材とを具備して実現している。
また、特開２００１−２３６７１９公報には、ジッタレベルを最小にするようチルトを調整するチルト調整方式において、製品のチルト−ジッタ特性のばらつき度合いに関わらず、短時間で精度よくチルト調整を行える光ディスク装置のチルト調整方法について開示されている。これによると、予め設定された所定のチルト測定ポイントの測定だけでは適正なジッタレベルを測定できない場合には、予め設定されているシフト量分ずつチルト測定ポイントをずらして自動的にジッタ測定を繰返すことにより最終的にジッタ最小チルト位置を算出するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記のラジアルチルト補正機構でのタンジェンシャル方向成分の問題を解決する一つの方法として、シャーシを精密な治具に固定してラジアル、タンジェンシャル方向を治具の精度によって得ることが考えられる。しかし、この方法では治具に対して測定対象であるドライブ、および測定器であるコリメータを精密に位置決めする必要があるので、非常に大掛かりで、かつ高価な治具が必要となる。そこで、従来このような不要な傾斜が発生しないように非常に厳しい寸法精度で回転軸を構成することが一般的であった。また、上記のような理由により簡易かつ安価にこのような傾斜を検出することは容易ではなかった。
また、特開平９−３２０２１４号公報は、２軸平行調整のためにリニアゲージを必要とし、調整のための設備が必ずしも簡単ではない。また、特開２００１−２３６７１９公報は、ジッタレベルをジッタメータにより取り込み、最終的にジッタ最小チルト位置を算出するので、前記と同じく調整のための設備が必ずしも簡単ではなかった。
本発明は、かかる課題に鑑み、高精度な治具を用いることなく、ラジアルチルト補正動作に伴うタンジェンシャル方向のチルトなど、不要な傾斜を簡易な方法で検出する検査方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明はかかる課題を解決するために、請求項１は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数のガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記複数のガイドシャフトの何れか一方の所定位置に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
ラジアル補正機構を備えた光ディスク装置では、スピンドルモータにセットされた記録媒体に対して、光学系のピックアップからレーザスポットを当てて、その光軸が記録媒体と垂直になるように、回動シャーシをラジアル方向に傾斜させて自動的に補正される。しかし、製造工程では必ずしも光学系のピックアップが実装されているとは限らないので、それに代わる検査方法として、光学系のピックアップをシークさせるガイドシャフトを利用し、そのガイドシャフトにミラーを搭載し、例えば、コリメータにより測定する場合に、コリメータからの平行光をそのミラーに当てて、平行であれば反射光が平行に戻る。しかし、傾斜していればその傾斜量に比例して反射光が移動する。この移動する光の軌跡を測定することにより前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを検出することができる。
かかる発明によれば、２本のガイドシャフトの何れか一方の所定位置に反射鏡を搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを測定する場合、その反射鏡に照射した光の輝点の軌跡を測定することにより、簡易な構成でしかも安価にラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを検出することができる。
【０００７】
請求項２は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数のガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記回動シャーシの所定位置に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
他の方法として、回動シャーシの面にミラーを搭載して測定する方法が考えられる。これは、前記の回動シャーシのような支持部材は、光ピックアップのガイドシャフトを支持しているので、シーク動作による光学軸の傾斜を避けるために一般的に高い平面度を有している。このため、この平面を測定治具として用いることができる。
かかる発明によれば、回動シャーシの所定位置にミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定するので、測定冶具を比較的簡単に設計することができる。
【０００８】
請求項３は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記複数のガイドシャフト間に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
また、他の方法として、２本のガイドシャフトをまたぐようにミラーを搭載して測定する方法が考えられる。これは、測定用ミラーを２本のガイドシャフト上に乗せて測定を行うものである。
かかる発明によれば、２本のガイドシャフトをまたぐようにミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定することで、より直接的に光ピックアップの傾斜を評価することが可能となる。また、光ピックアップを支持している部分と、測定用ミラーを支持する部分を同一の場所とすることで、より精度良く評価を行うことが可能となる。
【０００９】
請求項４は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記光学系上に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
また、他の方法として、光ピックアップ上にミラーを搭載して測定する方法が考えられる。これは最も実際の構成に近い状態であり、測定時と実記での誤差が少なくなる方法である。例えば、小型の測定用ミラーのようなものを光ピックアップ上の任意の位置に取り付ける。その際に初期的な傾斜は問題とならないが、測定中にミラーの角度の変化が無いように固定しておく。この状態でコリメータ等を用いて傾斜を測定する。
かかる発明によれば、光ピックアップ上にミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定するので、ガイドシャフトと光ピックアップの嵌合のがたを含めて、最も直接的にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することが可能となる。
請求項５は、情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記光学系に光を照射することで生じる光の輝点に対して、前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする。
また、他の方法として、光ピックアップ上にある反射可能な面を利用して測定する方法が考えられる。これは、光ピックアップ上には様々な光学素子が搭載しており、これらを利用することで新たに測定用のミラーを搭載すること無く測定を行うことが可能である。例えば、この対物レンズのコバの部分はミラーとして用いることが可能となる。
かかる発明によれば、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、光ピックアップ上の光を反射可能な面に照射した光の輝点の軌跡を測定することにより検出するので、安価にしかも確実にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することができる。
【００１１】
請求項６は、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡によるタンジェンシャル方向のベクトルをａとし、前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡によるラジアル方向のベクトルをｂとするとき、ａ・ｂの内積を計算することにより、タンジェンシャル方向とラジアル方向の直交性を求めることを特徴とする。
ベクトルを正規化しておけば、内積の値から不必要な傾斜の発生が大きすぎる機構であるか否かを判定することが可能となる。また調整軸とチルト補正機構の軸が設計上正確に直交していない場合には、上記ベクトルを正規化した後の内積の値を用いて判定するか、または予め直交するように得られたベクトルのうちの片方を回転させてから内積を計算することで前記方法が適用可能となる。この方法は、別の測定器を用いて調整軸の方向のベクトル｛ａ｝と、チルト補正機構の回転軸｛ｂ｝が得られた場合にも容易に適用できる。
かかる技術手段によれば、タンジェンシャル補正機構によるタンジェンシャル方向のベクトルをａとし、ラジアル補正機構によるラジアル方向のベクトルをｂとして、ａ・ｂの内積を計算することにより、タンジェンシャル方向とラジアル方向の直交性を求めるので、直交性を数値により判定することができる。
請求項７は、前記タンジェンシャル補正機構、若しくは前記ラジアル補正機構の何れか一方を動作させる場合、該動作を行わない方の補正機構の補正方向における前記固定シャーシと前記回動シャーシのなす角が略水平になるような位置で検査を行うことを特徴とする。
ラジアルまたはタンジェンシャルに傾斜させる場合に、他方を略水平にして測定することを特徴とする。例えば、タンジェンシャル方向を水平にすると、ラジアル方向の角度が微小な範囲では原点をとおり角度に比例する軌跡を描く。しかし、タンジェンシャル方向が水平でないと、輝点の軌跡は曲線を描き、曲線になることで前記請求項７の方法で示したような計算を行う際の直交性の判定の誤差となってしまい、判定を誤る原因となってしまう。略水平とすることで正確に測定を行うことが可能となる。
かかる技術手段によれば、ラジアルまたはタンジェンシャルに傾斜させる場合に、他方を略水平にして測定するので、直交性を正確に測定することが可能となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を図に示した実施形態を用いて詳細に説明する。但し、この実施形態に記載される構成要素、種類、組み合わせ、形状、その相対配置などは特定的な記載がない限り、この発明の範囲をそれのみに限定する主旨ではなく単なる説明例に過ぎない。
本発明は光ピックアップを搭載し、情報の記録／再生を行い情報記録媒体と光ピックアップの傾き補正機構を有する光ディスク装置のローディング機構に適用する。図１は、本発明の一実施形態に係る光ディスクドライブの主な構成を示すブロック図である。本実施形態では記録再生型の光ディスクドライブについて説明するが、本願発明はこれに限られるものではなく、例えば、図１中の記録補償を省略した再生型の光ディスクドライブであってもよい。図１の構成は、信号の利用目的によりオーディオ回路や、画像圧縮／伸張回路、あるいはコンピュータと接続のためのインターフェイスが接続されている入力信号９、出力信号１０と、入力信号９を光ディスク上に記録しやすい信号に変調したり、逆に光ディスク上の信号を復調する変調・復調回路６と、記録信号によるレーザ変調を行う記録補償回路５と、読取り信号の波形整形などを行うＲＦ信号処理回路４と、読取り信号より誤差成分を検出し、光ピックアップやスピンドルモータにフィードバックして、フォーカスサーボやトラッキングサーボおよびスピンドルモータの回転を制御するサーボ回路７と、光ディスクに情報を記録したり、光ディスク上の情報を再生する光ピックアップ３と、光ディスクを回転制御するディスクモータ２により構成されている。また、前記サーボ系に加えて、情報記録媒体の記録面と光ピックアップの光学系の傾きを除去するチルトサーボ機構があってもよい。
【００１３】
次に、情報の再生動作について説明する。光ピックアップ３により光ディスク１上に記録された情報信号を読出し、その信号をＲＦ信号処理回路４に入力する。ＲＦ信号処理回路４では入力信号の波形整形等を行い、その後、信号を変調・復調回路６入力する。復調後、信号は出力信号９として図示しないホストコンピュータ等に出力される。また、情報の記録動作は、記録したい信号を入力信号１０として変調・復調回路６に入力して信号変調回路により、光ディスク上に記録しやすい信号に変調される。つぎに変調された信号は記録補償回路５に入力され、レーザ変調等を行い信号に応じたレーザ駆動電流を光ピックアップ３に流す。一般に情報記録時に流す電流は情報再生時よりも大きい。そして、入力信号に基づいて半導体レーザが発光され、光ピックアップ３からレーザを光ディスク１の記録面に照射することにより情報記録を行う。この動作の間、サーボ制御７は常になされている。
図２は、本発明の光ピックアップの構成を示す図である。構成は、半導体レーザ５１から発散光として照射された光ビーム（直線偏光）は、コリメータレンズ５２により平行光とされ、偏光ビームスプリッタ５３に入射する。ビームスプリッタ５３は、光の偏光方向の違いによって、貼り合せ面で光を透過又は反射させる働きをする。入射光は平行光であり、ビームスプリッタ５３の入射面に対して平行振動するため、透過する。透過した光ビームは、立上ミラー５４で方向を変えた後、１／４波長板５５に入射する。１／４波長板５５では直線偏光が円偏光に変換される。その後、光ビームは対物レンズ５６に入射する。対物レンズ５６に入射した光は、メディア５７の記録面上に集光される。記録面から反射した光は、再び対物レンズ５６、１／４波長板５５に入射する。このとき円偏光から再び直線偏光に変換されるが、最初に１／４波長板５５に入射した光に対して位相が９０度ずれ垂直振動する光となる。この光はビームスプリッタ５３により入射方向と垂直な方向に反射される。そして、集光レンズ５８により集光された後、受光素子５９により受光される。そして、この受光素子５９で受光した光量が電気信号に変換され、メディア５７に記録されている情報が再生される。また、受光素子５９を分割して、その分割された各々の受光素子が受光する光量に応じてトラッキングエラー信号、及びフォーカスエラー信号を生成する。そして、これらの信号に基づいてトラッキングコイル６０やフォーカシングコイル６１に電流を流し、トラッキングサーボやフォーカシングサーボを行っている。
【００１４】
本発明はラジアル、タンジェンシャルのいずれかのチルトを補正する機構を持ち、もう一方を工程において最良になるように調整されているドライブを対象とする。まず、ラジアル、タンジェンシャルについて図３を参照しながら説明する。
通常、Ｔ０〜Ｔ３はＴ０を基準とする同一平面上に設置されており、これを基準位置としている。ここで、前述のタンジェンシャル方向へピックアップを傾ける場合は、（Ｔ０、Ｔ１）と（Ｔ２、Ｔ３）の組み合せで移動させる。（Ｔ０、Ｔ１）は一点鎖線で示された同一高さに固定されており、（Ｔ２、Ｔ３）が移動可能となっている。ここで、Ｔ２、Ｔ３における位置調整部材が等量上昇または下降すると、Ｔ０、Ｔ１の平面に対してタンジェンシャル方向の角度が形成される（図３（ａ）参照）。また、前述のラジアル方向へピックアップ２を傾ける場合は、（Ｔ０、Ｔ２）と（Ｔ１、Ｔ３）の組み合せで移動させる。（Ｔ０、Ｔ２）は一点鎖線で示された同一の高さに固定されており、（Ｔ１、Ｔ３）が移動可能となっている。ここで、Ｔ１、Ｔ３における位置調整部材が等量上昇または下降すると、Ｔ０、Ｔ２が存在している平面に対してラジアル方向の角度が形成される（図３（ｂ）参照）。
図４は、本発明のドライブシャーシの例を示す概略図である。図では説明に必要な構成要素のみを図示しており、他は省略している。この構成は、固定用ネジ穴２２を有する固定シャーシ２３と、このシャーシに固定され、図示しないディスクを回転するスピンドルモータ２０と、直線Ａ−Ａを支点としてシーソーのようにラジアル方向及びタンジェンシャル方向に傾斜する回動シャーシ２１と、この回動シャーシ２１にシャフト軸受け２４により固定され、図示しないアクチュエータをスライドさせる２本のガイドシャフト２７、２８と、回動シャーシ２１を固定シャーシ２３に保持している板バネ２５、２６から構成されている。
【００１５】
図５は板バネ２５、２６の部分を直線Ａ−Ａで切断した拡大断面図であり、（ａ）がＢ部拡大図であり、（ｂ）がＣ部拡大図である。同じ構成要素には同じ参照番号が付されている。（ａ）の構成は、固定シャーシ２３にネジ２５ａにより板バネ２５が固定されている。また、調整ネジ２５ｂは固定シャーシ２３に形成された雌ネジ部に嵌合してシャーシを貫通し、その先端部で回動シャーシ２１を下から支えている。また、調整ネジ２５ｂの先端が板バネ２５により圧接されており、それと同時に回動シャーシ２１の浮を防止している。この構成によるタンジェンシャル方向の調整は、調整ネジ２５ｂを所定の方向に回転すると、そのネジピッチ量に応じて調整ネジ２５ｂが矢印の方向に上下する。回動シャーシ２１は調整ネジ２５ｂの先端部で支えられているので、調整ネジ２５ｂと共に上下に移動する。一方、（ｂ）の構成は、固定シャーシ２３にネジ２５ｂにより板バネ２６が固定されている。また、先端が半円球の枢支軸２６ａは、支点Ｐを中心として回動シャーシ２１が矢印の方向に回転するように、すり鉢状の支持台２６ｃにより支持されている。また、枢支軸２６ａの先端が板バネ２６により圧接されており、枢支軸２６ａの浮を防止している。また、枢支軸２６ａと回動シャーシ２１は図示しない方法により、ほぼ直角に固定されている。従って、前記調整ネジ２５ｂを所定の方向に回転すると、そのネジピッチ量に応じて調整ネジ２５ｂが矢印の方向に上下し、回動シャーシ２１は調整ネジ２５ｂの先端部で支えられているので、調整ネジ２５ｂと共に上下に移動する。その結果、枢支軸２６ａが支点Ｐを中心に矢印の方向に回転して、タンジェンシャルの調整が可能となる。
図６は、本発明の実施形態に係るドライブシャーシの側面概略図である。同じ構成要素には同じ参照番号が付されている。図では説明に必要な構成要素のみを図示しており、他は省略している。この構成は、ディスク３３を軸３０に固定して回転するスピンドルモータ２０と、図示しないガイドシャフト上に設置され、矢印の方向に図示しないシーク機構によりスライドするアクチュエータ３１と、前記ガイドシャフトを支持している回動シャーシ２１と、回動シャーシ２１のほぼ中点を支点として、点Ｐを中心に矢印の方向（ラジアル方向）にシーソー回転する枢支軸２６ａと、この枢支軸２６ａを支えるすり鉢状の支持台２６ｃと、回動シャーシ２１の一端を支持してラジアル方向に回動シャーシ２１を回転するラジアルチルト補正機構２ら構成される。この例では、ラジアルチルト補正機構３２を有しており、工程においてタンジェンシャル方向を所望の角度に調整する構成を示している。図６において、図示しないチルトセンサによってディスク３３とアクチュエータ３１の傾斜を測定する。その値を基にチルトモータにチルト補償のための電圧が印加され、チルトによる信号の劣化の発生がなくなるように制御される。図６の例では、ラジアルチルトを回動シャーシ２１を傾斜させることにより補償する。また、工程においては図５（ａ）に示す調整ネジ２５ｂを回転させることにより、枢支軸２６ａを回転させてタンジェンシャル方向のチルトを調整する。
【００１６】
ここで、第１の検査方法としてラジアルチルト補正動作に伴うタンジェンシャル方向の傾きを検出する場合を、図４と図５を併せて参照しながら説明する。仮にコリメータを使って測定する場合を説明するが、測定機具は何でも良い。図４のガイドシャフト２７、２８の何れかの上に測定用の反射鏡を乗せ、コリメータを用いて輝点の軌跡を測定する。この時の輝点の動きを図８に模式的に示す。先ず調整ネジ２５ｂを回転させると輝点が４０から４１に移動する。図８では上下方向に移動するように書いてあるが、コリメータとシャーシの相対的な位置によって決まるので、必ずしも上下方向になっている必要はない。次に、ラジアルチルト補正機構を動作させると、先ほどの輝点の軌跡に対して略垂直に輝点が４２から４３に動く。ここで、ラジアル補正機構を動作させたときにタンジェンシャル方向の傾きがなければ、２本の軌跡は直交する。このように、輝点の軌跡の直交性をみることにより、大掛かりな治具を用いること無くチルト補正動作に伴う不必要な傾斜を検出することが可能となる。
【００１７】
また第２の検査方法として、前記第１の方法のチルト補正機構を動作させた際に傾斜する回動シャーシの傾斜を測定することによって実現することを特徴とする。図６を参照しながら説明する。図６において、光ピックアップ３３を支持する回動シャーシ２１ は図示しないシークモータを支持しており、チルト補正機構３２を動作させることによりスピンドルモータ２０に対して光ピックアップ３１を傾斜させる。本発明はスピンドルモータ２０、光ピックアップ３１のどちらかを相対的に動作させる機構を有しており、その際に動作する側の支持部材であれば適用できる。上記の回動シャーシ２１のような支持部材は、図４の光ピックアップ３１のガイドシャフト２７、２８を支持しているので、シーク動作による光学軸の傾斜を避けるために一般的に高い平面度を有している。このため、この平面を測定治具として用いることができる。また、光ピックアップ３１などを測定する場合に比べて、測定可能な部材の面積が大きいため、治具設計が比較的容易であるという利点がある。例えば、コリメータ等の測定器を用いて観測すると、図８のような軌跡が観測される。図８の輝点４０が調整ネジ２５ｂを回転させる前の輝点の位置、輝点４１が調整ネジ２５ｂを回転させた後の輝点の位置、輝点４２、輝点４３がそれぞれチルト補正機構を動作させたときの輝点の端点とすると、輝点４０から輝点４１へ向かう方向は、コリメータの観測方向を法線とする平面上で調整の回転軸と直交する。同様に輝点４２から輝点４３に向かう方向は、上記平面上でラジアルチルト補正機構３５の回転軸と直交する。この直交性からラジアルチルト補正機構３２を動作させた際の不要なチルトを算出できる。
【００１８】
また第３の検査方法として、前記第１の方法に加え光ピックアップ３１を案内するガイドシャフト２７、２８上に測定治具を搭載して、この測定治具の傾斜を測定することを特徴とする。例えば、図１０のように測定用ミラー４５をガイドシャフト２７、２８上に乗せて測定を行う。このようにすることで、前記第２の方法に比べて、より直接的に光ピックアップの傾斜を評価することが可能となる。また、光ピックアップを支持している部分と、測定用ミラ４５ーを支持する部分を同一の場所とすることで、より精度良く評価を行うことが可能となる。
また第４の検査方法として、前記第１の方法に加え、光ピックアップ上に測定治具を取り付けて、この測定治具の傾斜を測定することを特徴とする。例えば、小型の測定用ミラーのようなものを光ピックアップ上の任意の位置に取り付ける。その際に初期的な傾斜は問題とならないが、測定中にミラーの角度の変化が無いように固定しておく。この状態で前記第１、２の方法のようにコリメータ等を用いて傾斜を測定する。本発明によれば、ガイドシャフト２７、２８と光ピックアップの嵌合のがたを含めて、最も直接的にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することが可能となる。
【００１９】
また第５の検査方法として、前記第４の方法に加え、既に光ピックアップに搭載してある部材の反射面を利用することを特徴とする。光ピックアップ上には様々な光学素子が搭載しており、これらを利用することで新たに測定用のミラーを搭載すること無く測定を行うことが可能である。例えば、図１１に示すように、この対物レンズ４５のコバの部分４６はミラーとして用いることが可能となる。この例では対物レンズを用いる場合を示したが、もちろん別の部材を用いることも可能である。
また第６の検査方法として、前記第１の方法に加え、それぞれのベクトルの内積を用いることを特徴とする。図８の輝点４０が調整ネジ２５ｂを回転させる前の輝点の位置、輝点４１が調整ネジ２５ｂを回転させた後の輝点の位置、輝点４２、輝点４３がそれぞれチルト補正機構を動作させたときの輝点の端点とすると、輝点４０から輝点４１へ向かう方向は、コリメータの観測方向を法線とする平面上で調整の回転軸と直交する。同様に輝点４２から輝点４３に向かう方向は、前記平面上でラジアルチルト補正機構の回転軸と直交する。これらのベクトルをそれぞれ｛ａ’｝、｛ｂ’｝とすると、｛ａ’｝・｛ｂ’｝を計算することで調整軸とチルト補正機構の回転軸の直交性を求めることができる。例えば、ベクトルを正規化しておけば、内積の値から不必要な傾斜の発生が大きすぎる機構であるか否かを判定することが可能となる。また調整軸とチルト補正機構の軸が設計上正確に直交していない場合には、上記ベクトルを正規化した後の内積の値を用いて判定するか、または予め直交するように得られたベクトルのうちの片方を回転させてから内積を計算することで前記方法が適用可能となる。この方法は、別の測定器を用いて調整軸の方向のベクトル｛ａ｝と、チルト補正機構の回転軸｛ｂ｝が得られた場合にも容易に適用できる。
【００２０】
また第７の検査方法として、前記第６の方法に加え、ラジアルまたはタンジェンシャルに傾斜させる場合に、他方を略水平にして測定することを特徴とする。仮にドライブのトラッキングの外周方向にＸ軸を取り、フォーカスの対物レンズから情報記録媒体に向かう方向にＺ軸を取り左手系を形成するようにＹ軸を設定したとする。ここで図４に示すドライブを考えると、調整はタンジェンシャルチルトなので理想的にはＸ軸周りの回転となる。同様にラジアルチルト補正動作はＹ軸周りの回転となる。ここでタンジェンシャル方向の回転角をθとし、ラジアル方向の回転角度をφとすると、それぞれの回転に対応する行列は式（１）、（２）のようになる。ここで測定は、ガイドシャフト２７、２８上に測定用ミラーのような測定治具を置き、フォーカス方向にコリメータを用いて行ったとすると、その時観察される輝点の軌跡はＺ方向の単位ベクトルを上記の行列で回転させ、それをＸ、Ｙ平面に投影したベクトルが観測される。具体的には式（４）のベクトルのうちＸ、Ｙ成分のみが観測される。ここで、タンジェンシャル方向の調整ねじを固定してラジアルチルト補正機構を動作させる場合を考えると、θを固定してφを変化させる場合に対応する。この場合θ＝０であれば式（４）は単に式（５）のように記載され、このうちＸ、Ｙ成分のみが観測されるので、φが微小な範囲では原点をとおり角度に比例する軌跡を描く。しかし、θ≠０の場合輝点の軌跡は図９のような曲線を描く。曲線になることで前記第６の方法で示したような計算を行う際の直交性の判定の誤差となってしまい、判定を誤る原因となってしまう。略水平とすることでｓｉｎθ≒０となり正確に測定を行うことが可能となる。
【００２２】
【発明の効果】
以上記載のごとく請求項１の発明によれば、２本のガイドシャフトの何れか一方の所定位置に反射鏡を搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを測定する場合、その反射鏡に照射した光の輝点の軌跡を測定することにより、簡易な構成でしかも安価にラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを検出することができる。
また請求項２では、回動シャーシの所定位置にミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定するので、測定冶具を比較的簡単に設計することができる。
また請求項３では、２本のガイドシャフトをまたぐようにミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定することで、前記請求項２の方法に比べて、より直接的に光ピックアップの傾斜を評価することが可能となる。また、光ピックアップを支持している部分と、測定用ミラーを支持する部分を同一の場所とすることで、より精度良く評価を行うことが可能となる。
また請求項４では、光ピックアップ上にミラーを搭載し、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、ミラーに照射した光の輝点の軌跡を測定するので、ガイドシャフトと光ピックアップの嵌合のがたを含めて、最も直接的にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することが可能となる。
【００２３】
また請求項５では、ラジアル補正機構によりガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、光ピックアップ上の光を反射可能な面に照射した光の輝点の軌跡を測定することにより検出するので、安価にしかも確実にチルト補正機構が動作した場合の不要なチルトの発生を評価することができる。
また請求項６では、タンジェンシャル補正機構によるタンジェンシャル方向のベクトルをａとし、ラジアル補正機構によるラジアル方向のベクトルをｂとして、ａ・ｂの内積を計算することにより、タンジェンシャル方向とラジアル方向の直交性を求めるので、直交性を数値により判定することができる。
また請求項７では、ラジアルまたはタンジェンシャルに傾斜させる場合に、他方を略水平にして測定するので、直交性を正確に測定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスクドライブの主な構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の光ピックアップの構成を示す図である。
【図３】（ａ）（ｂ）は本発明のラジアル、タンジェンシャルを説明する図である。
【図４】本発明のシャーシの構成を示す上面図である。
【図５】本発明の板バネの部分を直線Ａ−Ａで切断した拡大断面図であり、（ａ）はＢ部拡大図、（ｂ）はＣ部拡大図である。
【図６】本発明の実施形態に係るドライブシャーシの側面概略図である。
【図７】本発明のチルト補正機構の回転支点となる枢支軸の端部の図である。
【図８】本発明のコリメータで観測した場合の輝点の軌跡図である。
【図９】本発明の測定時の輝点の軌跡図である。
【図１０】本発明の測定用ミラーをガイドシャフト上に乗せた図である。
【図１１】本発明の対物レンズの外観図である。
【図１２】（１）〜（５）は本発明のラジアル方向とタンジェンシャル方向の回転角に対応する行列式を示す図である。
【符号の説明】
２０ スピンドルモータ、２１ 回動シャーシ、２３ 固定シャーシ、２４ シャフト軸受け、２５、２６ 板バネ
Claims (7)
- 情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、
前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数のガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、
前記複数のガイドシャフトの何れか一方の所定位置に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする光ディスク装置の検査方法。 - 情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、
前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数のガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、
前記回動シャーシの所定位置に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする光ディスク装置の検査方法。 - 情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、
前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、
前記複数のガイドシャフト間に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする光ディスク装置の検査方法。 - 情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、
前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、
前記光学系上に反射鏡を搭載し、前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記反射鏡に光を照射しながら前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生す る輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする光ディスク装置の検査方法。 - 情報記録媒体と光学系の光軸とのラジアル方向の傾きを補正するラジアル補正機構を備えた光ディスク装置の検査方法において、
前記光ディスク装置は、前記光学系を固定する固定シャーシと、該固定シャーシと分離されラジアル方向に可動する回動シャーシと、該回動シャーシに固定され、前記光学系のトラッキング及びフォーカッシング動作を行うアクチュエータをスライドさせる複数ガイドシャフトと、前記回動シャーシをタンジェンシャル方向に傾けるタンジェンシャル補正機構と、を備え、
前記ラジアル補正機構により前記ガイドシャフトのラジアル方向の傾きを補正した際に発生するタンジェンシャル方向の傾きを、前記光学系に光を照射することで生じる光の輝点に対して、前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡と、前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡とが互いに直交するか否かにより検出することを特徴とする光ディスク装置の検査方法。 - 前記タンジェンシャル補正機構によりタンジェンシャル方向に傾きを与えた際の輝点の軌跡によるタンジェンシャル方向のベクトルをａとし、前記ラジアル補正機構によりラジアル方向の傾きを補正した際に発生する輝点の軌跡によるラジアル方向のベクトルをｂとするとき、ａ・ｂの内積を計算することにより、タンジェンシャル方向とラジアル方向の直交性を求めることを特徴とする請求項１乃至５の何れかに記載の光ディスク装置の検査方法。
- 前記タンジェンシャル補正機構、若しくは前記ラジアル補正機構の何れか一方を動作させる場合、該動作を行わない方の補正機構の補正方向における前記固定シャーシと前記回動シャーシのなす角が略水平になるような位置で検査を行うことを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置の検査方法。
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