JP3859415B2 - 光走査装置 - Google Patents
光走査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3859415B2 JP3859415B2 JP2000023930A JP2000023930A JP3859415B2 JP 3859415 B2 JP3859415 B2 JP 3859415B2 JP 2000023930 A JP2000023930 A JP 2000023930A JP 2000023930 A JP2000023930 A JP 2000023930A JP 3859415 B2 JP3859415 B2 JP 3859415B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning direction
- sub
- focal position
- temperature
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Laser Beam Printer (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタル複写機やレーザプリンターなどの光走査装置に関するものであり、特に、画像形成装置、計測器、検査装置などに適用可能な光走査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から温度変動による光ビームの焦点位置のずれを調整することができる光走査装置が提案されている。例えば、特開平４−１０７５８１号公報に記載されているものは、温度変動を検知すると共に、温度が変動したときの被走査面上での光ビームの結像状態を検知することにより、これらの検知信号に基づいて補正レンズを光軸方向に移動させて温度変動による光ビームの焦点位置を調整している。上記公報記載のものは、温度変動を検知するだけでは光ビームの焦点位置を調整することができず、結像状態も検知しなければならないため、結像状態を検知する手段を必要とし、コストが高くなってしまう。また、光ビームの焦点位置の調整をコリメータレンズ系やレーザ光源の位置を調整することにより行っているため、主走査方向の焦点位置を最適に調整することはできても、副走査方向の焦点位置を最適に調整することは困難である。
【０００３】
そこで、温度変動のみを検知し、その変動量に応じて、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置をそれぞれ独立に調整することができる光走査装置が考えられている。この装置によれば、温度変動のみを検知することにより光ビームの焦点位置を調整することができるので、結像状態を検知する手段を不要とし、上記公報記載のものに比べてコストを低くすることができると共に、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置をそれぞれ独立に調整することができるため、光ビームの焦点位置を最適に調整することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
複数の光ビームを一括して走査する場合には、光ビームの主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置をそれぞれ独立に調整しようとすると、副走査方向のビームピッチが変動してしまうが、上記温度変動のみを検知して調整する装置は、副走査方向のビームピッチを調整する手段が設けられていないため、複数の光ビームを一括して走査する場合において、光ビームの焦点位置を調整することはできても、副走査方向のビームピッチは調整することができないという問題がある。
【０００５】
本発明は以上のような従来技術の問題点を解消するためになされたものであり、温度変動のみを検知し、その変動量に応じて、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置をそれぞれ独立に調整することができると共に、副走査方向のビームピッチを調整することができる光走査装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、光ビームを放射する複数の光源と、上記複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して被走査面上に集光させる走査光学系と、温度を検知する温度検知手段と、上記被走査面上の光ビームの主走査方向の焦点位置を調整する補正レンズを光軸方向に移動させる第２調整手段と、副走査方向の焦点位置を調整する補正レンズを光軸方向に移動させる第３調整手段と、副走査方向のビームピッチを調整する光源ユニットを光軸方向に移動させる第１調整手段とからなる調整手段を有する光走査装置において、上記第２調整手段による補正レンズの光軸方向への移動に対する主走査方向の焦点位置の変動量の傾きをあらかじめ求め、上記第３調整手段による補正レンズの光軸方向への移動に対する副走査方向の焦点位置の変動量の傾きをあらかじめ求め、上記光源ユニットの光軸方向への移動に対する副走査方向のビームピッチの変動量の傾きをあらかじめ求め、温度の変動量に対する、上記被走査面上の光ビームの主走査方向の焦点位置ずれ、副走査方向の焦点位置ずれおよび副走査方向のビームピッチずれをあらかじめ求め、上記主走査方向の焦点位置の変動量の傾き、上記副走査方向の焦点位置の変動量の傾きならびに上記副走査方向のビームピッチの変動量の傾きと、上記被走査面上の主走査方向焦点位置ずれ、副走査方向焦点位置ずれならびに副走査方向のビームピッチずれに基づいて、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じた上記調整手段の移動量を算出し、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする。
【０００７】
請求項２記載の発明は、光ビームを放射する複数の光源と、
上記複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して被走査面上に集光させる走査光学系と、
温度を検知する温度検知手段と、
上記被走査面上の光ビームの、副走査方向のビームピッチを調整する第１調整手段、主走査方向の焦点位置を調整する第２調整手段、および副走査方向の焦点位置を調整する第３調整手段を有する光走査装置において、
温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれをＭ、温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれをＳ、温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれをＰとし、上記第２調整手段による補正レンズの光軸方向の移動量をＸ２、上記第３調整手段による補正レンズの光軸方向の移動量をＸ３、上記第１調整手段による光源ユニットの光軸方向の移動量をＸ１、これら第２、第３および第１調整手段による上記補正レンズおよび光源ユニットの光軸方向への移動に対する、主走査方向の焦点位置の変動量の傾きをそれぞれａ １２ 、ａ １３ 、ａ １１ 、副走査方向の焦点位置の変動量の傾きをそれぞれａ ２２ 、ａ ２３ 、ａ ２１ 、副走査方向のビームピッチの変動量の傾きをそれぞれａ ３２ 、ａ ３３ 、ａ ３１ としたとき、
を解いて上記調整手段の変動量を算出し、上記各調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする。
【０００８】
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、あらかじめ上記調整手段の移動量に対して求めた、主走査方向および副走査方向の焦点位置の変動量と、副走査方向のビームピッチの変動量から、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする。
【０００９】
請求項４記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、あらかじめ求めた温度に対する上記調整手段の位置情報を記録する記録手段を有し、この記録手段に記録された上記調整手段の位置情報に基づき、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする。
【００１０】
請求項５記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、温度検知手段は、光走査装置内に設けられた複数の温度検知センサーで構成され、この複数の温度検知センサーによって温度をそれぞれ検知し、この検知された温度を検知部位により重み付け平均して温度を検知することを特徴とする。
請求項６記載の発明は、請求項１ないし５のいずれかに記載の光走査装置を用いて画像形成装置を構成したことを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明にかかる光走査装置の実施の形態について説明する。図１に示す符号１は、光ビームを放射する複数の光源で構成された光源ユニット（以下、「ＬＤユニット」という）を示している。この光源ユニット１は、第１調整機構１２によって光軸方向に移動することができるようになっている。この第１調整機構１２によって光源ユニット１を光軸方向に移動させることにより、感光体６の被走査面上の光ビームの副走査方向のビームピッチを調整することができる。
【００１２】
上記光源ユニット１の放射側には、光源ユニット１から光ビームを偏向器としての回転多面鏡４へ導く補正レンズ２、補正レンズ３が配置されている。上記補正レンズ２は、主走査方向のみパワーをもっており、一方、上記補正レンズ３は、副走査方向のみパワーをもっているものである。上記補正レンズ２は、第２調整機構１３によって光軸方向に移動することができるようになっていて、この第２調整機構１３によって補正レンズ２を光軸方向に移動させることにより、感光体６の被走査面上の主走査方向における光ビームの焦点位置を調整することができる。また、上記補正レンズ３は、第３調整機構１４によって光軸方向に移動することができるようになっていて、この第３調整機構１４によって補正レンズ３を光軸方向に移動させることにより、感光体６の被走査面上の副走査方向における光ビームの焦点位置を調整することができる。上記補正レンズ２、３としてはシリンドリカルレンズを用いることができる。
【００１３】
上記第１調整機構１２、第２調整機構１３、第３調整機構１４は、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整する調整手段を構成していて、光源ユニット１、補正レンズ２、および補正レンズ３をそれぞれ独立に光軸方向に移動させるものであり、上記第１調整機構１２はピッチ制御部１１によって制御され、上記第２調整機構１３、第３調整機構１４は、ビーム径制御部１０によって制御されている。
【００１４】
上記回転多面鏡４の偏向反射面によって偏向された光ビームの反射光路上には、回転多面鏡４により偏向された複数の光ビームを感光体６の被走査面に対して走査線として結像させるためのｆθレンズ５と、このｆθレンズ５を透過した光ビームを感光体６の被走査面上に向けて反射させるための反射ミラー１５が配置されている。また、反射ミラー１５と感光体６の被走査面との間には、防塵ガラス１６が配置されていて、反射ミラー１５によって反射された光ビームは、防塵ガラス１６を透過して感光体８の被走査面上に集光する。上記回転多面鏡４、ｆθレンズ５、および反射ミラー１５は、前記光源ユニット１の複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して感光体６の被走査面上に集光させる走査光学系を構成している。
【００１５】
図１に示すように、上記ＬＤユニット１の複数の光源から放射された複数の光ビームは、補正レンズ２、補正レンズ３を透過し、補正レンズ３で副走査方向にのみ収束されて、回転多面鏡４の偏向反射面付近に主走査方向に長い線像として集光される。回転多面鏡４の偏向反射面付近に集光された光ビームは、回転多面鏡４の回転によって一括して偏向反射され、ｆθレンズ５を透過し、反射ミラー１５によって反射され、防塵ガラス１６を透過して感光体６の被走査面上に光スポットとして集光するとともに、被走査面上を走査する。この走査方向が主走査方向であり、これに直交する方向が副走査方向である。
【００１６】
次に、本発明の特徴について説明する。図１に示すように、感光体６の被走査面近傍には、温度を検知する温度検知手段としての温度検知センサー７が配置されている。この温度検知センサー７の検知信号は、温度計測部８に送信される。温度計測部８は温度検知センサー７から送信された検知信号を温度信号に変換するものである。温度計測部８によって変換された温度信号は、変動量演算部９に送信される。変動量演算部９は、温度計測部８から送信された温度信号の変動量に応じて、ＬＤユニット１、補正レンズ２、および補正レンズ３の光軸方向の移動量を算出する。
【００１７】
上記変動量演算部９における、ＬＤユニット１、補正レンズ２、補正レンズ３の光軸方向の移動量の算出についてより具体的に説明する。まず、あらかじめ前記調整手段による光源ユニット１、補正レンズ２、補正レンズ３の光軸方向の移動量に対する、主走査方向の焦点位置の変動量、副走査方向の焦点位置の変動量、および副走査方向のビームピッチの変動量を図２ないし図１０に示すようにシミュレーションもしくは実測で求めておく。図２には、第１調整機構１２による光源ユニット１の移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ11とする。図３には、第１調整機構１２による光源ユニット１の移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ21とする。図４には、第１調整機構１２による光源ユニット１の移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示していて、この変動量の傾きをａ31とする。
【００１８】
図５には、第２調整機構１３による補正レンズ２の移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ12とする。図６には、第２調整機構１３による補正レンズ２の移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ22とする。図７には、第２調整機構１３による補正レンズ２の移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示していて、この変動量の傾きをａ32とする。また、図８には、第３調整機構１４による補正レンズ３の移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ13とする。図９には、第３調整機構１４による補正レンズ３の移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ23とする。図１０には、第３調整機構１４による補正レンズ３の移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示していて、この変動量の傾きをａ33とする。
【００１９】
次に、温度の変動量に対する、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置のずれと、副走査方向のビームピッチのずれを図１１ないし図１３に示すようにあらかじめシミュレーションもしくは実測で求めておく。図１１には、温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれを示し、図１２には、温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれを示し、図１３には、温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれを示している。
【００２０】
ここで、温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれをＭ、温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれをＳ、温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれをＰとし、補正レンズ２の光軸方向の移動量をＸ２、補正レンズ３の光軸方向の移動量をＸ３、ＬＤユニット１の光軸方向の移動量をＸ１とすると、Ｍ、Ｓ、Ｐは、図２ないし図１０に示す変動量の傾きａ１１、ａ２１、ａ３１、ａ１２、ａ２２、ａ３２、ａ１３、ａ２３、ａ３３を用いて、
で示すことができ、従って、Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３は、
で示すことができ、この式からＬＤユニット１、補正レンズ２、補正レンズ３の光軸方向の移動量Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３を算出することができる。
【００２１】
上述のように、上記変動量演算部９によって算出された補正レンズ２の光軸方向の移動量Ｘ２は、電気信号としてビーム径制御部１０に送信される。ビーム径制御部１０は、この電気信号に基づいて第２調整機構１３を制御し、第２調整機構１３は補正レンズ２を上記移動量だけ光軸方向に移動させる。これによって、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向の焦点位置が調整される。同様に、上記変動量演算部９によって算出された補正レンズ３の光軸方向の移動量Ｘ３は、電気信号としてビーム径制御部１０に送信される。ビーム径制御部１０は、この電気信号に基づいて第３調整機構１４を制御し、第３調整機構１４は補正レンズ３を上記移動量だけ光軸方向に移動する。これによって、感光体６の被走査面上の光ビームの副走査方向の焦点位置が調整される。
【００２２】
また、上記変動量演算部９によって算出されたＬＤユニット１の光軸方向の移動量Ｘ１は、電気信号としてピッチ制御部１１に送信される。ピッチ制御部１１は、この電気信号に基づいて第１調整機構１２を制御し、第１調整機構１２は光源ユニット１を上記移動量だけ光軸方向に移動する。これによって、副走査方向のビームピッチが調整される。
【００２３】
上記実施の形態によれば、温度検知センサー７によって検知した温度の変動量に応じて、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整するようにしているため、結像状態を検知する手段を不要とし、従来のものに比べてコストを低くすることができる。また、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置および副走査方向のビームピッチをそれぞれ独立に調整することができるため、光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置および副走査方向のビームピッチを最適に調整することができる。
【００２４】
また、上記調整は、あらかじめ上記調整手段の移動量に対して求めた、主走査方向および副走査方向の焦点位置の変動量と、副走査方向のビームピッチの変動量から、温度検知センサー７により検知した温度の変動量に応じて行っているため、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを迅速に調整することができる。
【００２５】
また、あらかじめ求めた温度に対する上記調整手段の位置情報を記録する記録手段を設けておけば、この記録手段に記録された上記調整手段の位置情報に基づき、温度検知センサー７により検知した温度の変動量に応じて、被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチの調整を簡単に、かつ、最適に行うことができる。
【００２６】
また、上記実施の形態における温度検知手段は、感光体６の被走査面近傍に配置された一つの温度検知センサー７で構成されているが、上記温度検知手段を、光走査装置内の各検知部位に設けられた複数の温度検知センサーで構成することができる。この場合、各検知部位に設けられた温度検知センサーによる検知温度を検知部位により重み付け平均して温度を検知するようにする。より具体的に述べると、結像素子５近傍や光源ユニット１近傍など（図１参照）、温度変動の影響が大きい検知部位に設けられた温度検知センサーの検知温度を重要視してその重み付けを重くし、それぞれの温度検知センサーによる検知温度を平均化して温度を検知する。このようにすることにより、温度検知精度を高くすることができる。
【００２７】
なお、本発明にかかる光走査装置は、帯電、露光、現像、転写、定着、クリーニングなどのプロセスからなる電子写真プロセスによって画像を形成する画像形成装置に用いることができる。より具体的には、感光体６の被走査面上での光走査が、上記露光プロセスとなる。
【００２８】
【発明の効果】
請求項１記載の発明によれば、光ビームを放射する複数の光源と、上記複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して被走査面上に集光させる走査光学系と、温度を検知する温度検知手段と、上記被走査面上の光ビームの、副走査方向のビームピッチを調整する第１調整手段、主走査方向の焦点位置を調整する第２調整手段、および副走査方向の焦点位置を調整する第３調整手段とを有する光走査装置において、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整するため、結像状態を検知する手段を不要とし、従来のものに比べてコストを低くすることができる。また、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置および副走査方向のビームピッチをそれぞれ独立に調整することができるため、光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置および副走査方向のビームピッチを最適に調整することができる。
請求項２記載の発明によっても、同様の効果を得ることができる。
【００２９】
請求項３記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明において、あらかじめ上記調整手段の移動量に対して求めた、主走査方向および副走査方向の焦点位置の変動量と、副走査方向のビームピッチの変動量から、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整するため、被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを迅速に調整することができる。
【００３０】
請求項４記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明において、あらかじめ求めた温度に対する上記調整手段の位置情報を記録する記録手段を有し、この記録手段に記録された上記調整手段の位置情報に基づき、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整するため、被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチの調整を簡単に、かつ、最適に行うことができる。
【００３１】
請求項５記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明において、上記温度検知手段は、光走査装置内に設けられた複数の温度検知センサーで構成され、この複数の温度検知センサーによって温度をそれぞれ検知し、この検知された温度を検知部位により重み付け平均して温度を検知するため、温度検知精度を高くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にかかる光走査装置の実施の形態を示す光学配置図である。
【図２】上記実施の形態に適用された光源ユニットの移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図３】上記実施の形態に適用された光源ユニットの移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図４】上記実施の形態に適用された光源ユニットの移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示すグラフである。
【図５】上記実施の形態に適用された補正レンズの移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図６】上記実施の形態に適用された補正レンズの移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図７】上記実施の形態に適用された補正レンズの移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示すグラフである。
【図８】上記実施の形態に適用された別の補正レンズの移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図９】上記実施の形態に適用された別の補正レンズの移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図１０】上記実施の形態に適用された別の補正レンズの移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示すグラフである。
【図１１】上記実施の形態における温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれを示すグラフである。
【図１２】上記実施の形態における温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれを示すグラフである。
【図１３】上記実施の形態における温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれを示すグラフである。
【符号の説明】
１ 光源ユニット
２ 補正レンズ
３ 補正レンズ
４ 回転多面鏡
５ ｆθレンズ
６ 感光体
７ 温度検知センサー
８ 温度計測部
９ 変動量演算部
１０ ビーム径制御部
１１ ピッチ制御部
１２ 第１調整機構
１３ 第２調整機構
１４ 第３調整機構
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタル複写機やレーザプリンターなどの光走査装置に関するものであり、特に、画像形成装置、計測器、検査装置などに適用可能な光走査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から温度変動による光ビームの焦点位置のずれを調整することができる光走査装置が提案されている。例えば、特開平４−１０７５８１号公報に記載されているものは、温度変動を検知すると共に、温度が変動したときの被走査面上での光ビームの結像状態を検知することにより、これらの検知信号に基づいて補正レンズを光軸方向に移動させて温度変動による光ビームの焦点位置を調整している。上記公報記載のものは、温度変動を検知するだけでは光ビームの焦点位置を調整することができず、結像状態も検知しなければならないため、結像状態を検知する手段を必要とし、コストが高くなってしまう。また、光ビームの焦点位置の調整をコリメータレンズ系やレーザ光源の位置を調整することにより行っているため、主走査方向の焦点位置を最適に調整することはできても、副走査方向の焦点位置を最適に調整することは困難である。
【０００３】
そこで、温度変動のみを検知し、その変動量に応じて、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置をそれぞれ独立に調整することができる光走査装置が考えられている。この装置によれば、温度変動のみを検知することにより光ビームの焦点位置を調整することができるので、結像状態を検知する手段を不要とし、上記公報記載のものに比べてコストを低くすることができると共に、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置をそれぞれ独立に調整することができるため、光ビームの焦点位置を最適に調整することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
複数の光ビームを一括して走査する場合には、光ビームの主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置をそれぞれ独立に調整しようとすると、副走査方向のビームピッチが変動してしまうが、上記温度変動のみを検知して調整する装置は、副走査方向のビームピッチを調整する手段が設けられていないため、複数の光ビームを一括して走査する場合において、光ビームの焦点位置を調整することはできても、副走査方向のビームピッチは調整することができないという問題がある。
【０００５】
本発明は以上のような従来技術の問題点を解消するためになされたものであり、温度変動のみを検知し、その変動量に応じて、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置をそれぞれ独立に調整することができると共に、副走査方向のビームピッチを調整することができる光走査装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、光ビームを放射する複数の光源と、上記複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して被走査面上に集光させる走査光学系と、温度を検知する温度検知手段と、上記被走査面上の光ビームの主走査方向の焦点位置を調整する補正レンズを光軸方向に移動させる第２調整手段と、副走査方向の焦点位置を調整する補正レンズを光軸方向に移動させる第３調整手段と、副走査方向のビームピッチを調整する光源ユニットを光軸方向に移動させる第１調整手段とからなる調整手段を有する光走査装置において、上記第２調整手段による補正レンズの光軸方向への移動に対する主走査方向の焦点位置の変動量の傾きをあらかじめ求め、上記第３調整手段による補正レンズの光軸方向への移動に対する副走査方向の焦点位置の変動量の傾きをあらかじめ求め、上記光源ユニットの光軸方向への移動に対する副走査方向のビームピッチの変動量の傾きをあらかじめ求め、温度の変動量に対する、上記被走査面上の光ビームの主走査方向の焦点位置ずれ、副走査方向の焦点位置ずれおよび副走査方向のビームピッチずれをあらかじめ求め、上記主走査方向の焦点位置の変動量の傾き、上記副走査方向の焦点位置の変動量の傾きならびに上記副走査方向のビームピッチの変動量の傾きと、上記被走査面上の主走査方向焦点位置ずれ、副走査方向焦点位置ずれならびに副走査方向のビームピッチずれに基づいて、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じた上記調整手段の移動量を算出し、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする。
【０００７】
請求項２記載の発明は、光ビームを放射する複数の光源と、
上記複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して被走査面上に集光させる走査光学系と、
温度を検知する温度検知手段と、
上記被走査面上の光ビームの、副走査方向のビームピッチを調整する第１調整手段、主走査方向の焦点位置を調整する第２調整手段、および副走査方向の焦点位置を調整する第３調整手段を有する光走査装置において、
温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれをＭ、温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれをＳ、温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれをＰとし、上記第２調整手段による補正レンズの光軸方向の移動量をＸ２、上記第３調整手段による補正レンズの光軸方向の移動量をＸ３、上記第１調整手段による光源ユニットの光軸方向の移動量をＸ１、これら第２、第３および第１調整手段による上記補正レンズおよび光源ユニットの光軸方向への移動に対する、主走査方向の焦点位置の変動量の傾きをそれぞれａ １２ 、ａ １３ 、ａ １１ 、副走査方向の焦点位置の変動量の傾きをそれぞれａ ２２ 、ａ ２３ 、ａ ２１ 、副走査方向のビームピッチの変動量の傾きをそれぞれａ ３２ 、ａ ３３ 、ａ ３１ としたとき、
【０００８】
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、あらかじめ上記調整手段の移動量に対して求めた、主走査方向および副走査方向の焦点位置の変動量と、副走査方向のビームピッチの変動量から、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする。
【０００９】
請求項４記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、あらかじめ求めた温度に対する上記調整手段の位置情報を記録する記録手段を有し、この記録手段に記録された上記調整手段の位置情報に基づき、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする。
【００１０】
請求項５記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、温度検知手段は、光走査装置内に設けられた複数の温度検知センサーで構成され、この複数の温度検知センサーによって温度をそれぞれ検知し、この検知された温度を検知部位により重み付け平均して温度を検知することを特徴とする。
請求項６記載の発明は、請求項１ないし５のいずれかに記載の光走査装置を用いて画像形成装置を構成したことを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明にかかる光走査装置の実施の形態について説明する。図１に示す符号１は、光ビームを放射する複数の光源で構成された光源ユニット（以下、「ＬＤユニット」という）を示している。この光源ユニット１は、第１調整機構１２によって光軸方向に移動することができるようになっている。この第１調整機構１２によって光源ユニット１を光軸方向に移動させることにより、感光体６の被走査面上の光ビームの副走査方向のビームピッチを調整することができる。
【００１２】
上記光源ユニット１の放射側には、光源ユニット１から光ビームを偏向器としての回転多面鏡４へ導く補正レンズ２、補正レンズ３が配置されている。上記補正レンズ２は、主走査方向のみパワーをもっており、一方、上記補正レンズ３は、副走査方向のみパワーをもっているものである。上記補正レンズ２は、第２調整機構１３によって光軸方向に移動することができるようになっていて、この第２調整機構１３によって補正レンズ２を光軸方向に移動させることにより、感光体６の被走査面上の主走査方向における光ビームの焦点位置を調整することができる。また、上記補正レンズ３は、第３調整機構１４によって光軸方向に移動することができるようになっていて、この第３調整機構１４によって補正レンズ３を光軸方向に移動させることにより、感光体６の被走査面上の副走査方向における光ビームの焦点位置を調整することができる。上記補正レンズ２、３としてはシリンドリカルレンズを用いることができる。
【００１３】
上記第１調整機構１２、第２調整機構１３、第３調整機構１４は、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整する調整手段を構成していて、光源ユニット１、補正レンズ２、および補正レンズ３をそれぞれ独立に光軸方向に移動させるものであり、上記第１調整機構１２はピッチ制御部１１によって制御され、上記第２調整機構１３、第３調整機構１４は、ビーム径制御部１０によって制御されている。
【００１４】
上記回転多面鏡４の偏向反射面によって偏向された光ビームの反射光路上には、回転多面鏡４により偏向された複数の光ビームを感光体６の被走査面に対して走査線として結像させるためのｆθレンズ５と、このｆθレンズ５を透過した光ビームを感光体６の被走査面上に向けて反射させるための反射ミラー１５が配置されている。また、反射ミラー１５と感光体６の被走査面との間には、防塵ガラス１６が配置されていて、反射ミラー１５によって反射された光ビームは、防塵ガラス１６を透過して感光体８の被走査面上に集光する。上記回転多面鏡４、ｆθレンズ５、および反射ミラー１５は、前記光源ユニット１の複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して感光体６の被走査面上に集光させる走査光学系を構成している。
【００１５】
図１に示すように、上記ＬＤユニット１の複数の光源から放射された複数の光ビームは、補正レンズ２、補正レンズ３を透過し、補正レンズ３で副走査方向にのみ収束されて、回転多面鏡４の偏向反射面付近に主走査方向に長い線像として集光される。回転多面鏡４の偏向反射面付近に集光された光ビームは、回転多面鏡４の回転によって一括して偏向反射され、ｆθレンズ５を透過し、反射ミラー１５によって反射され、防塵ガラス１６を透過して感光体６の被走査面上に光スポットとして集光するとともに、被走査面上を走査する。この走査方向が主走査方向であり、これに直交する方向が副走査方向である。
【００１６】
次に、本発明の特徴について説明する。図１に示すように、感光体６の被走査面近傍には、温度を検知する温度検知手段としての温度検知センサー７が配置されている。この温度検知センサー７の検知信号は、温度計測部８に送信される。温度計測部８は温度検知センサー７から送信された検知信号を温度信号に変換するものである。温度計測部８によって変換された温度信号は、変動量演算部９に送信される。変動量演算部９は、温度計測部８から送信された温度信号の変動量に応じて、ＬＤユニット１、補正レンズ２、および補正レンズ３の光軸方向の移動量を算出する。
【００１７】
上記変動量演算部９における、ＬＤユニット１、補正レンズ２、補正レンズ３の光軸方向の移動量の算出についてより具体的に説明する。まず、あらかじめ前記調整手段による光源ユニット１、補正レンズ２、補正レンズ３の光軸方向の移動量に対する、主走査方向の焦点位置の変動量、副走査方向の焦点位置の変動量、および副走査方向のビームピッチの変動量を図２ないし図１０に示すようにシミュレーションもしくは実測で求めておく。図２には、第１調整機構１２による光源ユニット１の移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ11とする。図３には、第１調整機構１２による光源ユニット１の移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ21とする。図４には、第１調整機構１２による光源ユニット１の移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示していて、この変動量の傾きをａ31とする。
【００１８】
図５には、第２調整機構１３による補正レンズ２の移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ12とする。図６には、第２調整機構１３による補正レンズ２の移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ22とする。図７には、第２調整機構１３による補正レンズ２の移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示していて、この変動量の傾きをａ32とする。また、図８には、第３調整機構１４による補正レンズ３の移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ13とする。図９には、第３調整機構１４による補正レンズ３の移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示していて、この変動量の傾きをａ23とする。図１０には、第３調整機構１４による補正レンズ３の移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示していて、この変動量の傾きをａ33とする。
【００１９】
次に、温度の変動量に対する、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置のずれと、副走査方向のビームピッチのずれを図１１ないし図１３に示すようにあらかじめシミュレーションもしくは実測で求めておく。図１１には、温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれを示し、図１２には、温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれを示し、図１３には、温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれを示している。
【００２０】
ここで、温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれをＭ、温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれをＳ、温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれをＰとし、補正レンズ２の光軸方向の移動量をＸ２、補正レンズ３の光軸方向の移動量をＸ３、ＬＤユニット１の光軸方向の移動量をＸ１とすると、Ｍ、Ｓ、Ｐは、図２ないし図１０に示す変動量の傾きａ１１、ａ２１、ａ３１、ａ１２、ａ２２、ａ３２、ａ１３、ａ２３、ａ３３を用いて、
【００２１】
上述のように、上記変動量演算部９によって算出された補正レンズ２の光軸方向の移動量Ｘ２は、電気信号としてビーム径制御部１０に送信される。ビーム径制御部１０は、この電気信号に基づいて第２調整機構１３を制御し、第２調整機構１３は補正レンズ２を上記移動量だけ光軸方向に移動させる。これによって、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向の焦点位置が調整される。同様に、上記変動量演算部９によって算出された補正レンズ３の光軸方向の移動量Ｘ３は、電気信号としてビーム径制御部１０に送信される。ビーム径制御部１０は、この電気信号に基づいて第３調整機構１４を制御し、第３調整機構１４は補正レンズ３を上記移動量だけ光軸方向に移動する。これによって、感光体６の被走査面上の光ビームの副走査方向の焦点位置が調整される。
【００２２】
また、上記変動量演算部９によって算出されたＬＤユニット１の光軸方向の移動量Ｘ１は、電気信号としてピッチ制御部１１に送信される。ピッチ制御部１１は、この電気信号に基づいて第１調整機構１２を制御し、第１調整機構１２は光源ユニット１を上記移動量だけ光軸方向に移動する。これによって、副走査方向のビームピッチが調整される。
【００２３】
上記実施の形態によれば、温度検知センサー７によって検知した温度の変動量に応じて、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整するようにしているため、結像状態を検知する手段を不要とし、従来のものに比べてコストを低くすることができる。また、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置および副走査方向のビームピッチをそれぞれ独立に調整することができるため、光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置および副走査方向のビームピッチを最適に調整することができる。
【００２４】
また、上記調整は、あらかじめ上記調整手段の移動量に対して求めた、主走査方向および副走査方向の焦点位置の変動量と、副走査方向のビームピッチの変動量から、温度検知センサー７により検知した温度の変動量に応じて行っているため、感光体６の被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを迅速に調整することができる。
【００２５】
また、あらかじめ求めた温度に対する上記調整手段の位置情報を記録する記録手段を設けておけば、この記録手段に記録された上記調整手段の位置情報に基づき、温度検知センサー７により検知した温度の変動量に応じて、被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチの調整を簡単に、かつ、最適に行うことができる。
【００２６】
また、上記実施の形態における温度検知手段は、感光体６の被走査面近傍に配置された一つの温度検知センサー７で構成されているが、上記温度検知手段を、光走査装置内の各検知部位に設けられた複数の温度検知センサーで構成することができる。この場合、各検知部位に設けられた温度検知センサーによる検知温度を検知部位により重み付け平均して温度を検知するようにする。より具体的に述べると、結像素子５近傍や光源ユニット１近傍など（図１参照）、温度変動の影響が大きい検知部位に設けられた温度検知センサーの検知温度を重要視してその重み付けを重くし、それぞれの温度検知センサーによる検知温度を平均化して温度を検知する。このようにすることにより、温度検知精度を高くすることができる。
【００２７】
なお、本発明にかかる光走査装置は、帯電、露光、現像、転写、定着、クリーニングなどのプロセスからなる電子写真プロセスによって画像を形成する画像形成装置に用いることができる。より具体的には、感光体６の被走査面上での光走査が、上記露光プロセスとなる。
【００２８】
【発明の効果】
請求項１記載の発明によれば、光ビームを放射する複数の光源と、上記複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して被走査面上に集光させる走査光学系と、温度を検知する温度検知手段と、上記被走査面上の光ビームの、副走査方向のビームピッチを調整する第１調整手段、主走査方向の焦点位置を調整する第２調整手段、および副走査方向の焦点位置を調整する第３調整手段とを有する光走査装置において、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整するため、結像状態を検知する手段を不要とし、従来のものに比べてコストを低くすることができる。また、主走査方向の焦点位置と副走査方向の焦点位置および副走査方向のビームピッチをそれぞれ独立に調整することができるため、光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置および副走査方向のビームピッチを最適に調整することができる。
請求項２記載の発明によっても、同様の効果を得ることができる。
【００２９】
請求項３記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明において、あらかじめ上記調整手段の移動量に対して求めた、主走査方向および副走査方向の焦点位置の変動量と、副走査方向のビームピッチの変動量から、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整するため、被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを迅速に調整することができる。
【００３０】
請求項４記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明において、あらかじめ求めた温度に対する上記調整手段の位置情報を記録する記録手段を有し、この記録手段に記録された上記調整手段の位置情報に基づき、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じて、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整するため、被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチの調整を簡単に、かつ、最適に行うことができる。
【００３１】
請求項５記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明において、上記温度検知手段は、光走査装置内に設けられた複数の温度検知センサーで構成され、この複数の温度検知センサーによって温度をそれぞれ検知し、この検知された温度を検知部位により重み付け平均して温度を検知するため、温度検知精度を高くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にかかる光走査装置の実施の形態を示す光学配置図である。
【図２】上記実施の形態に適用された光源ユニットの移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図３】上記実施の形態に適用された光源ユニットの移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図４】上記実施の形態に適用された光源ユニットの移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示すグラフである。
【図５】上記実施の形態に適用された補正レンズの移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図６】上記実施の形態に適用された補正レンズの移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図７】上記実施の形態に適用された補正レンズの移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示すグラフである。
【図８】上記実施の形態に適用された別の補正レンズの移動量に対する主走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図９】上記実施の形態に適用された別の補正レンズの移動量に対する副走査方向の焦点位置の変動量を示すグラフである。
【図１０】上記実施の形態に適用された別の補正レンズの移動量に対する副走査方向のビームピッチの変動量を示すグラフである。
【図１１】上記実施の形態における温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれを示すグラフである。
【図１２】上記実施の形態における温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれを示すグラフである。
【図１３】上記実施の形態における温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれを示すグラフである。
【符号の説明】
１ 光源ユニット
２ 補正レンズ
３ 補正レンズ
４ 回転多面鏡
５ ｆθレンズ
６ 感光体
７ 温度検知センサー
８ 温度計測部
９ 変動量演算部
１０ ビーム径制御部
１１ ピッチ制御部
１２ 第１調整機構
１３ 第２調整機構
１４ 第３調整機構
Claims (4)
- 光ビームを放射する複数の光源と、
上記複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して被走査面上に集光させる走査光学系と、
温度を検知する温度検知手段と、
上記被走査面上の光ビームの主走査方向の焦点位置を調整する補正レンズを光軸方向に移動させる第２調整手段と、副走査方向の焦点位置を調整する補正レンズを光軸方向に移動させる第３調整手段と、副走査方向のビームピッチを調整する光源ユニットを光軸方向に移動させる第１調整手段とからなる調整手段を有する光走査装置において、
上記第２調整手段による補正レンズの光軸方向への移動に対する主走査方向の焦点位置の変動量の傾きをあらかじめ求め、上記第３調整手段による補正レンズの光軸方向への移動に対する副走査方向の焦点位置の変動量の傾きをあらかじめ求め、上記光源ユニットの光軸方向への移動に対する副走査方向のビームピッチの変動量の傾きをあらかじめ求め、
温度の変動量に対する、上記被走査面上の光ビームの主走査方向の焦点位置ずれ、副走査方向の焦点位置ずれおよび副走査方向のビームピッチずれをあらかじめ求め、
上記主走査方向の焦点位置の変動量の傾き、上記副走査方向の焦点位置の変動量の傾きならびに上記副走査方向のビームピッチの変動量の傾きと、上記被走査面上の主走査方向焦点位置ずれ、副走査方向焦点位置ずれならびに副走査方向のビームピッチずれに基づいて、上記温度検知手段により検知した温度の変動量に応じた上記調整手段の移動量を算出し、上記調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする光走査装置。 - 光ビームを放射する複数の光源と、
上記複数の光源から放射された複数の光ビームを一括偏向して被走査面上に集光させる走査光学系と、
温度を検知する温度検知手段と、
上記被走査面上の光ビームの、副走査方向のビームピッチを調整する第１調整手段、主走査方向の焦点位置を調整する第２調整手段、および副走査方向の焦点位置を調整する第３調整手段を有する光走査装置において、
温度の変動量に対する光ビームの主走査方向の焦点位置のずれをＭ、温度の変動量に対する光ビームの副走査方向の焦点位置のずれをＳ、温度の変動量に対する副走査方向のビームピッチのずれをＰとし、上記第２調整手段による補正レンズの光軸方向の移動量をＸ２、上記第３調整手段による補正レンズの光軸方向の移動量をＸ３、上記第１調整手段による光源ユニットの光軸方向の移動量をＸ１、これら第２、第３および第１調整手段による上記補正レンズおよび光源ユニットの光軸方向への移動に対する、主走査方向の焦点位置の変動量の傾きをそれぞれａ １２ 、ａ １３ 、ａ １１ 、副走査方向の焦点位置の変動量の傾きをそれぞれａ ２２ 、ａ ２３ 、ａ ２１ 、副走査方向のビームピッチの変動量の傾きをそれぞれａ ３２ 、ａ ３３ 、ａ ３１ としたとき、
を解いて上記調整手段の変動量を算出し、上記各調整手段が上記被走査面上の光ビームの主走査方向および副走査方向の焦点位置と、副走査方向のビームピッチを調整することを特徴とする光走査装置。 - 上記温度検知手段は、光走査装置内に設けられた複数の温度検知センサーで構成され、この複数の温度検知センサーによって温度をそれぞれ検知し、この検知された温度を検知部位により重み付け平均して温度を検知することを特徴とする請求項１または２記載の光走査装置。
- 請求項１ないし３のいずれかに記載の光走査装置を用いたことを特徴とする画像形成装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000023930A JP3859415B2 (ja) | 2000-02-01 | 2000-02-01 | 光走査装置 |
| US09/716,949 US6785028B1 (en) | 1999-11-24 | 2000-11-22 | Optical scanning device having a temperature compensation unit |
| US10/912,231 US7012724B2 (en) | 1999-11-24 | 2004-08-06 | Optical scanning device having a temperature compensation unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000023930A JP3859415B2 (ja) | 2000-02-01 | 2000-02-01 | 光走査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001215422A JP2001215422A (ja) | 2001-08-10 |
| JP3859415B2 true JP3859415B2 (ja) | 2006-12-20 |
Family
ID=18550010
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000023930A Expired - Lifetime JP3859415B2 (ja) | 1999-11-24 | 2000-02-01 | 光走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3859415B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7271822B2 (en) * | 2004-07-28 | 2007-09-18 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Seamless stitching of multiple image fields in a wide-format laser printer |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08304724A (ja) * | 1995-04-28 | 1996-11-22 | Hitachi Koki Co Ltd | 光走査装置 |
| JP3448137B2 (ja) * | 1995-09-18 | 2003-09-16 | 株式会社リコー | 画像形成装置 |
| US5936717A (en) * | 1997-05-06 | 1999-08-10 | Agfa Corporation | Thermal compensation focus adjustment |
| JPH11295627A (ja) * | 1998-04-15 | 1999-10-29 | Ricoh Co Ltd | マルチビーム走査装置 |
-
2000
- 2000-02-01 JP JP2000023930A patent/JP3859415B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2001215422A (ja) | 2001-08-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6785028B1 (en) | Optical scanning device having a temperature compensation unit | |
| JP5009573B2 (ja) | 光走査装置および画像形成装置 | |
| JP2010134434A (ja) | 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置 | |
| JP2005234359A (ja) | 走査光学系光学特性測定装置、走査光学系光学特性測定装置校正方法、走査光学系及び画像形成装置 | |
| US7602554B2 (en) | Optical scanning apparatus | |
| JP2006301447A (ja) | 走査線曲がり測定装置及び光走査装置 | |
| JP4759179B2 (ja) | 走査光学装置及びそれを用いた画像形成装置 | |
| JP3859415B2 (ja) | 光走査装置 | |
| US9025197B2 (en) | Optical scanning device in image forming apparatus, and control method thereof | |
| US7889221B2 (en) | Optical scanning apparatus | |
| JP2000238329A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP5962267B2 (ja) | 光走査装置および画像形成装置 | |
| JP5094170B2 (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2018132537A (ja) | 画像書込装置、画像形成装置及びピッチムラ抑制方法 | |
| JP2007283690A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP3287945B2 (ja) | 走査光学装置 | |
| JP2017078800A (ja) | 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置 | |
| JP4634831B2 (ja) | 光走査装置・画像形成装置・走査線傾きの検出方法 | |
| JP4373800B2 (ja) | 光走査装置、カラー画像形成装置及びレーザビームの検出方法 | |
| JPH1184803A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2001264668A (ja) | 光走査装置 | |
| JP4197806B2 (ja) | 走査光学系およびその焦点位置調整方法 | |
| JP6512809B2 (ja) | 走査光学装置及び画像形成装置 | |
| JP2001194604A (ja) | 光走査装置 | |
| JP2008181080A (ja) | 走査光学装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20040203 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Effective date: 20040213 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 |
|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20040326 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060822 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060919 |
|
| R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090929 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100929 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110929 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120929 Year of fee payment: 6 |