JP3848580B2 - 粒径分布測定装置 - Google Patents

粒径分布測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3848580B2
JP3848580B2 JP2002029961A JP2002029961A JP3848580B2 JP 3848580 B2 JP3848580 B2 JP 3848580B2 JP 2002029961 A JP2002029961 A JP 2002029961A JP 2002029961 A JP2002029961 A JP 2002029961A JP 3848580 B2 JP3848580 B2 JP 3848580B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layout
sample
measurement
particle size
size distribution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002029961A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003232715A (ja
Inventor
達夫 伊串
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP2002029961A priority Critical patent/JP3848580B2/ja
Publication of JP2003232715A publication Critical patent/JP2003232715A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3848580B2 publication Critical patent/JP3848580B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ回折/散乱式の粒径分布測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、粒径分布測定装置で粒径分布を演算する際、測定対象試料に光を照射することによって生ずる回折光および/または散乱光の強度分布を測定対象試料の周囲に配置された複数の検出器によって検出し、各検出器からの検出値データを基に粒径分布を演算する。このような粒径分布測定装置は大きく分けて粒径分布の測定部と、操作部とからなり、操作部にはパーソナルコンピュータなどの演算処理装置(以下、パソコンという)が用いられている。
【0003】
前記パソコンの基本ソフトウェアとして、近年ではWindows(マイクロソフト社の登録商標)などの、GUI(Graphical User Interface)を用いたOSが多く使われている。
【0004】
一方、粒径分布測定装置は近年ますます多種多様な機能を有するようになっており、各機能を呼び出すための種々の分析操作を組み合わせることにより、あらゆる測定対象試料を測定可能とするものがある。前記種々の分析操作によって操作可能である機能の中には、例えば超音波による測定対象試料の凝集を解きほぐす機能や、循環系に混入した気泡の除去を速やかにおこなう機能など測定対象試料の取扱処理内容にかかわるものがある。
【0005】
また、GUI環境のOSにおいては、粒径分布測定装置が有する種々の機能は、所定の操作ボタンに関連付けられてウィンドウ内に配置される。したがって、装置使用者がこれらの操作ボタンを操作して測定対象試料を適切な方法で分析しその粒径分布を測定することができる。
【0006】
加えて、GUI環境を利用したアプリケーションの中には各ウィンドウ単位で操作ボタンの配置などのレイアウトを自由に変更できるものがある。つまり、操作ボタンの配置(その表示位置のみならず表示するかどうかの選択を含む)を設定することにより、各ウィンドウ単位(粒径分布測定を行なうアプリケーション毎)で測定対象試料の取扱処理内容を取捨選択できるものもある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記従来のウィンドウ単位における機能の選択は、装置使用者が手動で設定するものであるから、測定対象試料が変わると、その測定ごとに最適な条件となるように設定を変更しなおす必要があった。
【0008】
すなわち、測定対象試料の種類によっては分散媒に対する混合拡散の段階で、超音波をかけて測定対象試料をできるだけ細かい粒子にした状態で測定を行う必要があるが、別の測定対象試料の場合、例えば薬品などの場合は測定対象試料を意図的に凝結させており、超音波をかけない状態における粒径分布を測定する必要がある場合がある。そこで、超音波の照射機能に関連付けられた操作ボタンの表示/非表示を測定対象試料に合わせて設定を行ったり、設定を適宜変更することは、操作ミスの発生を抑えるために重要である。
【0009】
同様に、測定対象試料の種類によっては分散媒に界面活性剤を混入させて、その分散状態を維持する必要があるものもあり、界面活性剤の混入によって生じる気泡を念入りに取り除く脱泡処理を行う必要があるものもあるが、この時間のかかる脱泡処理を飛ばして迅速な測定を行なう必要のあるものもある。この場合も、装置使用者の操作ミスを防ぐために操作画面のレイアウトを変更することが望ましい。しかしながら、測定対象試料を変える毎に操作画面のレイアウトを変えることには煩わしさが伴っていた。
【0010】
また、測定対象試料は同じであっても、装置使用者が変われば操作しやすい馴染みのある操作画面のレイアウトが異なる場合もあった。そこで、装置使用者が常に操作しやすいレイアウトを得るためには、直前に粒径分布測定装置を使用した装置使用者による操作画面のレイアウトを適宜変更していた。ところが、このレイアウトの変更にも時間と手間がかかるため、大半の装置使用者は操作画面のレイアウトが多少使いづらいものであっても、そのまま測定を行なうことが多く、これが操作ミスを招くこともあった。
【0011】
つまり、上述したウィンドウレイアウトの変更は何れも面倒であるから、同じ測定対象試料を用いた測定を何回も繰り返して行わないかぎり、ウィンドウのレイアウトを逐次変更することはあまり行われておらず、不要な機能が操作画面上に現れていることが操作ミスを誘発することもあった。
【0012】
本発明は、上述の事柄を考慮に入れてなされたものであって、その目的は、測定操作画面のレイアウトを装置使用者や測定対象試料に関連付けて設定または変更可能として、操作ミスを可及的に少なくし測定結果の信頼性を向上することができる粒径分布測定装置を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明の粒径分布測定装置は、測定対象試料に光を照射することによって生ずる回折光および/または散乱光を所定の角度毎に検出する複数の検出器を備え、各検出器からの出力に基づいて、測定対象試料の粒径分布を求める粒径分布測定装置であって、複数種類の測定対象試料の情報および操作レベル毎に設定して予め登録した複数の装置使用者の操作レベルに対応する測定条件と関連付けて編成した操作画面、並びに、装置使用者の標準の操作画面の各レイアウトを保存する手段と、装置使用者と測定対象試料が特定された場合、その特定された装置使用者の操作レベルおよび測定対象試 料の情報に基いて測定条件の呼び出しが行なわれ、その測定条件が呼び出されたとき、当該測定条件と関連付けられた装置使用者の操作レベルに対応した操作画面のレイアウトの一つを選択的に呼び出し、かつ、装置使用者及び測定対象試料が特定されず、測定条件の呼び出しを行なわなかった場合、前記標準の操作画面のレイアウトを呼び出す手段と、呼び出した操作画面のレイアウトを用いて測定対象試料の粒径分布の測定時に前記装置使用者が当該操作画面のレイアウトを変更した場合、その変更した操作画面のレイアウトを再度呼び出し可能な形式で保存する手段と、を有することを特徴としている。
【0014】
したがって、装置使用者の入力によって当該装置使用者が特定されると、操作画面のレイアウトは、この装置使用者がこの測定対象試料を測定するために予め編成し保存された自己(装置使用者)の操作レベルに対応するレイアウトに変更されるので、この装置使用者にとって操作が簡単となる。これにより操作性が向上し、装置使用者の不注意による操作ミスを減少させ、測定の信頼性を向上できる。
【0015】
ここで、前記操作画面レイアウトの保存手段が、複数種類の測定対象試料の情報及び複数の装置使用者の操作レベルに対応する測定条件と関連付けて編成し保存する機能を有し、かつ、操作画面レイアウト呼び出し手段が、装置使用者と測定対象試料が特定された場合、その特定された装置使用者の操作レベルに関連付けられた測定条件に基いて当該装置使用者の操作レベルに対応した操作画面のレイアウトの一つを選択的に呼び出すように構成されているので、測定対象試料の変更に対しても常に装置使用者のレベルに対応した操作画面のレイアウトを呼び出すことができる。
また、前記操作画面のレイアウトが前記測定対象試料の取扱処理内容を示す操作ボタンの表示/非表示及び表示位置調節を含んだ配置を含み、この操作ボタンの配置によって前記取扱処理内容を選択可能とした場合には、操作ボタンの配置(操作ボタンなどの表示位置のみならず、これを表示するかどうかの選択を含む)を変えることにより、操作性の向上のみならずこの操作ボタンに関連付けられた機能の取捨選択を行うことにつながる。つまり、操作ボタンの配置変えを行うことによって操作性がさらに向上し、装置使用者の不注意による操作ミスをさらに減少させ、測定の品質を向上できる。
【0016】
さらに、前記操作画面レイアウトの保存手段が、前記操作画面のレイアウトを測定条件に関連付けて保存する機能を有する場合には、装置使用者が測定対象試料の粘度や屈折率などの測定条件と関連付けて操作画面のレイアウトを保存できるので、次回の測定時には測定条件を選択すると同時にこれに適合した操作画面のレイアウトも呼び出すことができる。また、未知の測定対象試料の場合、循環ポンプの回転速度、超音波の照射時間、屈折率、粘度などの測定条件も新たに設定する必要があるが、これと同時に操作画面のレイアウトも関連付けて設定することにより、管理が容易となる。なお、測定対象試料が未知であるときのように測定条件が定まらない場合には、粒径分布測定装置の全ての機能を引き出すことができる標準の操作画面のレイアウトを表示させる。
【0017】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の粒径分布測定装置1の構成を概略的に示す図である。図1において、2は粒径分布測定装置1の測定部、3はこの測定部2に接続された演算処理部(以下、パソコンという)、Sx,S1 ,S2 …は測定対象粒子である。これらの測定対象粒子Sx,S1 ,S2 …を適宜の分散媒内で分散させたものが測定対象試料Sである。
【0018】
また、2aは前記測定対象粒子Sx,S1 ,S2 …を測定部2に自動供給するオートサンプラ、2bはこれらの測定対象粒子Sx,S1 ,S2 …を混合拡散させる分散媒を供給する自動希釈ユニット、3aは前記パソコン3の表示部、Wx,W1 ,W2 …はこの表示部3aに表示する一例の操作画面である。なお、本発明の粒径分布測定装置1は厳密には測定対象粒子Sx,S1 ,S2 …を適宜の分散媒に分散させた状態のものを測定対象試料Sとして測定するが、以下の説明においては、説明を簡潔に行うために測定対象試料S(Sx,S1 ,S2 …)を測定すると表現する。
【0019】
装置使用者は前記測定対象試料Sx,S1 ,S2 …をオートサンプラ2aにセットし、パソコン3を操作することにより、これらの測定対象試料Sの粒径分布を求め、これを表示部3aに表示したり、データとして保存または転送できるように構成されている。
【0020】
図2は前記パソコン3を用いて粒径分布を測定する手順の一例を示す図であり、図3〜6は図2に示す処理を行なうときに前記表示部3aに表示される画面の一例を示す図である。以下、図1〜6を用いて、測定手順の一例を説明する。
【0021】
図2において、S1は装置使用者の入力を行なって、装置使用者を特定するステップである。ここで入力される装置使用者は例えば予め登録されており、各装置使用者は測定者や管理者、研究者など、使う人の操作レベルが設定され、かつ、前記操作レベル毎に基本となる標準操作画面のレイアウトとしての、各操作ボタンの表示/非表示が定められている。すなわち、これによって装置使用者ごとに操作範囲が設定されている。また、装置使用者の登録は、名前、番号、コードなど種々の形態で行われてもよい。
【0022】
また、前記標準操作画面Wx(後述する)のレイアウトは装置使用者に関連付けられた情報として、例えば、標準の測定条件と共に標準の測定条件ファイルFx(図外)としてパソコン3内の記憶媒体に記憶されている。
【0023】
図3は研究者レベルの標準操作画面Wxの一例を示す図である。図3において、B1 〜B13は測定部2を操作し、測定結果を表示するための種々の機能に関係付けられた操作ボタンであり、D1 〜D3 は測定結果に関連する種々の情報を表示する表示部である。研究者レベルの標準操作画面Wxにおいては、全ての操作ボタンB1 〜B13と表示部D1〜D3 が適宜にレイアウトされている。また、この標準操作画面Wxのレイアウトは例えば標準的な測定条件と共に装置使用者に関連付けられた一つの標準測定条件ファイルとしてパソコン3内の記憶媒体に記憶されている。
【0024】
図2における、S2は測定対象試料および測定条件の呼び出しを行なうステップであり、図4はこのステップS2において表示されポップアップウィンドウWpを示す図である。
【0025】
図4において、I1 は測定条件ファイルF1 ,F2 …が格納されている場所を指定する入力部、L1 はこの入力部I1 によって指定された場所に格納されている測定条件ファイルF1 ,F2 …の一覧、I2 はこの一覧L1 の中から選択した測定条件ファイルのファイル名を入力する入力部、O1 は前記入力部I2 によって指定した測定条件ファイルを開いて測定条件を呼び出す操作ボタン、C1 は測定条件ファイルF1 ,F2 …の呼び出しを取り止める操作ボタン、S1 は後述の測定条件の保存を行なう操作ボタンである。
【0026】
また、本例の場合は測定条件ファイルF1 ,F2 …を格納する場所に前記ステップS1によって入力された装置使用者の名前(もしくは番号、コードなど)が付されることにより、これらの測定条件ファイルF1 ,F2 …が装置使用者に関係付けられて保存されている。加えて、測定条件ファイルF1 ,F2 …には例えば測定対象試料S1 ,S2 …の名称が付けられている。したがって、前記操作ボタンO1 によって測定条件ファイルF1 ,F2 …の中から一つを選択して呼び出した測定条件は装置使用者と測定対象試料の情報に基づいて呼び出されたものとなる。
【0027】
再び図2に戻って、S3は測定条件の呼び出しを行ったかどうかを判断するステップである。このステップS3において、測定条件を呼び出したと判断した場合には、続くステップS4を実行し、測定条件の呼び出しをキャンセルした場合には後述のステップS5を実行する。
【0028】
S4は呼び出した測定条件ファイルの中から操作画面のレイアウトを呼び出すステップである。すなわち、特定の測定対象試料S1 ,S2 …を測定するための特定の操作画面のレイアウトは測定条件ファイルF1 ,F2 …内に共に記録することにより、測定条件に関連付けて保存されている。
【0029】
図5は前記ステップS2において例えば測定対象試料S1 (製品1)の測定条件ファイルF1 を選択して、これを呼び出した場合の操作画面W1 を示す図である。図5においては、前記操作ボタンのうち、7つの操作ボタンB1 ,B3 〜B6 ,B8 ,B11だけを表示するように配置しており、この装置使用者(使用者A)が測定対象試料S1 (製品1)を測定するために不必要と考える操作ボタンB2 ,B7 ,B9 ,B10,B12,B13を表示しないように配置している。
【0030】
また、使用者Aが製品1を測定するために都合が良いように、使用者Aの好みに合わせた操作ボタンおよび表示部D1 〜D3 の大きさを適宜に調節して配置しており、操作ボタンB6 ,B8 ,B11の位置も調節して配置している。これらの操作ボタンB1 〜B13の表示/非表示を含む配置および表示部D1 〜D3 の配置は任意に変更することができる。
【0031】
ここでは、操作ボタンB6 ,B8 ,B11を表示部D1 〜D3 の横に位置させることにより、表示部D1 〜D3 の縦方向の長さを延ばすことができるので、表示部D1 〜D3 に表示されるグラフの表示精度を上げている。また、不要な操作ボタンB2 ,B7 ,B9 ,B10,B12,B13を表示しないことにより、操作ミスの発生を未然に防ぐことができ
る。
【0032】
図6は前記ステップS2において例えば測定対象試料S2 (薬品2)の測定条件ファイルF1 を選択して、これを呼び出した場合の操作画面W2 を示す図である。図6においては、測定対象試料Sの透過率や各検出器からの出力データの表示部D1 ,D2 を省略し、表示部D3 のみを表示させることにより、この表示部D3 をさらに大きくとり、粒径分布をより精度良く表示している。また、測定に最低限必要となる操作ボタンB6 ,B8 ,B11のみを表示させることにより、操作を一層容易にしている。
【0033】
図6に示すような操作画面W2 のレイアウトは常に同じ測定対象試料S2 を品質管理のために測定する場合に有用である。また、測定対象試料S2 の取扱いに注意が必要な場合に、不要な操作ボタンをあえて表示させないことにより、操作ミスの発生を防止することが可能となる。
【0034】
一例として、例えば本例で例示する薬品2は、粉末状の薬剤を意図的に凝結してなるものである。この場合、測定対象試料Sに施す前処理としての超音波照射を行ってしまうと、薬品2を砕いた状態における粒径分布を測定する可能性があるため、超音波照射に関連する操作ボタンB5 を意図的に非表示とすることが有用である。
【0035】
なお、図5,6に示すような操作画面W1 ,W2 のレイアウトは、測定対象試料S1 ,S2 …の測定条件と共にファイルF1 ,F2 …内に保存されるものであるから、ステップS2において測定対象試料S1 ,S2 …を選ぶことにより、適宜に変更される。これによって、装置使用者は毎回操作画面をカスタマイズし直す必要なく、最も使い勝手の良いレイアウトにて粒径分布測定を行うことが可能となる。
【0036】
図2に示す、S5は前記ステップS2においてパソコン3内の前記記憶媒体から測定条件の呼び出しを行わなかった場合に、実行されるステップであり、このステップS5においては図3に示したような装置使用者の標準の操作画面のレイアウトを呼び出す。すなわち、測定対象試料Sが未知試料である場合や、最適な測定操作が分からないような測定対象試料Sを測定する場合には、装置使用者に許される全ての操作ボタンB1 〜B13が表示されて、その粒径分布を測定可能とする。
【0037】
なお、装置使用者の操作レベルが低い場合には、図3に示す標準の操作画面Wxに表示されない操作ボタンを設定することも可能である。また、この標準の操作画面Wxのレイアウトとして、操作ボタンB1 〜B13の位置や表示部D1 〜D3 の位置、さらにはこれらB1 〜B13,D1 〜D3 の非表示設定などの設定を、操作者の好みに合わせて行えるようにすることも考えられる。
【0038】
さらには、例えば使用者Bにとっては測定対象試料S2 の粒径分布測定が初めてである場合に、使用者Aが測定対象試料S2 を測定するために既に設定している測定条件ファイルF2 を流用して用いることも考えられる。この場合、操作ボタンB1 〜B13の位置や表示部D1 〜D3 の位置は使用者Bの好みに合わせた標準の操作画面Wx’(図3に示す標準操作画面Wxの変形で、使用者Bの操作レベルに合わせて設定した操作画面のことで、図示を省略する)のレイアウトを用い、これらB1 〜B13,D1 〜D3 の非表示設定は使用者Aの測定条件ファイルF2 を参照して設定することなどの変形も考えられる。
【0039】
S6は装置使用者によってカスタマイズされた操作画面Wx,W1 ,W2 …を用いて測定対象試料Sの粒径分布を測定するステップである。なお、これらの操作画面Wx,W1 ,W2 …のレイアウトおよび最適な測定条件は随時かつ任意に変更可能である。
【0040】
S7は前記操作画面Wx,W1 ,W2 …のレイアウトまたは測定条件が変更されているかどうかを判断するステップである。そして、変更が無い場合は、続くステップS8の処理を省略する。
【0041】
S8は変更された操作画面Wx,W1 ,W2 …のレイアウトを測定条件と共に測定条件ファイルFx,F1 ,F2 …に記録するステップである。ここで再び図4に示すポップアップウィンドウWpが表示され、入力部I2 に新たな測定対象試料Sの名前を入力し、保存ボタンS1 を操作することにより、再度呼び出し可能な形式で新たな測定条件ファイルを生成し保存することも可能である。一方、入力部I2 に対するファイル名の入力を行わないで、保存ボタンS1 を操作することにより、標準操作画面Wxのレイアウトを変更することも可能である。
【0042】
なお、本明細書においては、操作画面のレイアウトの変更を中心に説明しているので、測定条件の変更についてはその説明を省略しているが、測定対象試料Sを循環させるポンプの回転速度、超音波の照射時間、循環系に混入した気泡の脱泡処理手順、屈折率、粘度、繰り返し演算回数などの各種定数なども同じ測定条件ファイルに設定可能であることはいうまでもない。
【0043】
また、本例においては操作画面のレイアウトを測定条件ファイルに含ませることにより、設定用のファイルの数が増えることを防止し、管理を容易としているが、本発明はこの点に限定するものではない。すなわち、操作画面のレイアウトを前記測定条件ファイルとは別途保存することも可能である。なお、この場合、前記操作画面Wx,W1 ,W2 …のレイアウトの設定が測定条件ファイルの呼び出しに連動して行われるようにすることが望ましい。
【0044】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、粒径分布測定装置の操作画面のレイアウトを装置使用者の操作レベルに合わせて、また、測定対象試料に合わせて自動的に設定し保存して、装置使用者の入力によって当該装置使用者の操作レベルに対応して呼び出すことが可能であるから、操作性を向上でき、装置使用者の操作ミスを可及的に少なくして、測定結果に対する信頼性を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の粒径分布測定装置の全体構成を示す図である。
【図2】 前記粒径分布測定装置を用いた測定手順の一例を示す図である。
【図3】 前記標準の操作画面のレイアウトの一例を示す図である。
【図4】 前記粒径分布測定装置を用いて測定条件の呼出し例または設定例を示す図である。
【図5】 測定対象試料に合わせた操作画面のレイアウトの一例を示す図である。
【図6】 別の測定対象試料に合わせた操作画面のレイアウトの一例を示す図である。
【符号の説明】
1…粒径分布測定装置、B1 〜B13…操作ボタン、F1 ,F2 …測定条件に関連付けて保存されたファイル、S(S1 ,S2 …)…測定対象試料、S1…装置使用者を特定するステップ、S2…測定対象試料を選択するステップ、S4,S5…操作画面のレイアウトを呼び出すステップ、S8…変更したレイアウトを保存するステップ、Wx,W1 ,W2 …操作画面。

Claims (2)

  1. 測定対象試料に光を照射することによって生ずる回折光および/または散乱光を所定の角度毎に検出する複数の検出器を備え、各検出器からの出力に基づいて、測定対象試料の粒径分布を求める粒径分布測定装置であって、
    複数種類の測定対象試料の情報および操作レベル毎に設定して予め登録した複数の装置使用者の操作レベルに対応する測定条件と関連付けて編成した操作画面、並びに、装置使用者の標準の操作画面の各レイアウトを保存する手段と、
    装置使用者と測定対象試料が特定された場合、その特定された装置使用者の操作レベルおよび測定対象試料の情報に基いて測定条件の呼び出しが行なわれ、その測定条件が呼び出されたとき、当該測定条件と関連付けられた装置使用者の操作レベルに対応した操作画面のレイアウトの一つを選択的に呼び出し、かつ、装置使用者及び測定対象試料が特定されず、測定条件の呼び出しを行なわなかった場合、前記標準の操作画面のレイアウトを呼び出す手段と、
    呼び出した操作画面のレイアウトを用いて測定対象試料の粒径分布の測定時に前記装置使用者が当該操作画面のレイアウトを変更した場合、その変更した操作画面のレイアウトを再度呼び出し可能な形式で保存する手段と、を有することを特徴とする粒径分布測定装置。
  2. 前記操作画面のレイアウトが前記測定対象試料の取扱処理内容を示す操作ボタンの表示/非表示及び表示位置調節を含んだ配置を含み、この操作ボタンの配置変更によって前記取扱処理内容を選択可能とした請求項1に記載の粒径分布測定装置。
JP2002029961A 2002-02-06 2002-02-06 粒径分布測定装置 Expired - Fee Related JP3848580B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002029961A JP3848580B2 (ja) 2002-02-06 2002-02-06 粒径分布測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002029961A JP3848580B2 (ja) 2002-02-06 2002-02-06 粒径分布測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003232715A JP2003232715A (ja) 2003-08-22
JP3848580B2 true JP3848580B2 (ja) 2006-11-22

Family

ID=27773926

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002029961A Expired - Fee Related JP3848580B2 (ja) 2002-02-06 2002-02-06 粒径分布測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3848580B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011179899A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Horiba Ltd 粒度分布測定装置

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4578205B2 (ja) * 2004-08-31 2010-11-10 株式会社堀場製作所 粒径分布測定装置
JP2008012116A (ja) * 2006-07-06 2008-01-24 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 磁気共鳴イメージング装置
JP2008157828A (ja) * 2006-12-26 2008-07-10 Yokogawa Electric Corp 半導体試験装置、データ収集方法及びプログラム
JP6189985B2 (ja) * 2016-02-15 2017-08-30 株式会社堀場製作所 粒度分布測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011179899A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Horiba Ltd 粒度分布測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003232715A (ja) 2003-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4576307B2 (ja) 自動分析装置
JP2008299870A (ja) ユーザインターフェースのために受動的ルックアヘッドを供給するための方法と装置
US8790577B2 (en) Sample analyzer
WO2012070363A1 (ja) 分析装置の操作メニュー表示制御方法及び装置
JP2007040905A (ja) クロマトグラフデータ処理装置
JP2011141220A (ja) 分析装置制御システム及び該システム用プログラム
JP3848580B2 (ja) 粒径分布測定装置
JP6245361B2 (ja) 質量分析用データ処理装置及び同装置用プログラム
JP2006189282A (ja) 自動分析装置
JP2003194702A (ja) 粒度分布測定装置、表示プログラムおよび記録媒体
JP5002356B2 (ja) 分析装置
JP4619892B2 (ja) 自動分析装置
JP4285131B2 (ja) 分析機器のデータ処理装置
JP4281220B2 (ja) 分析機器用データ管理装置
JP2010256375A (ja) クロマトグラフデータ処理装置
JP3140975B2 (ja) 分析装置
JP2006084453A (ja) 分析装置
JP4871615B2 (ja) 自動分析装置
JP2000311146A (ja) 蛍光x線分析装置
JP4578205B2 (ja) 粒径分布測定装置
CN115904207A (zh) 样本分析***及信息编辑方法
JP2003075204A (ja) 分析データライタ、分析データファイル、分析データリーダ、及び分析データファイル頒布方法
JP3757155B2 (ja) 分光分析装置
JP6147557B2 (ja) 自動分析装置
US20220391799A1 (en) Customized laboratory training based on user role and laboratory configuration

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040401

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050729

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050816

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051017

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060404

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060605

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060822

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060825

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120901

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120901

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees