JP3715472B2 - 電子部品認識装置及びライン型画像読取装置を用いた画像データの速度ムラ補正方法。 - Google Patents
電子部品認識装置及びライン型画像読取装置を用いた画像データの速度ムラ補正方法。 Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品の実装装置に設けられ、搬送途中の電子部品を認識する電子部品認識装置に係り、特に、搬送経路中にライン状の認識部が設けられ、この認識部を通過する際における搬送速度に変化があっても電子部品を正確に認識することができる電子部品認識装置及びライン型画像読取装置を用いた画像データの速度ムラ補正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
電子部品実装装置は、電子部品がストックされている供給部から、搬送部の吸着ノズルで電子部品を吸着し、実装部まで移動させて自動的にプリント基板等に装着する装置である。
この電子部品実装装置には、供給部と実装部の間に認識部が設けられ、電子部品の端子状態等を認識するようになっている。
特に、電子部品の小型化に伴いリード端子や、BGA等が狭ピッチ化されている。したがって、高速かつ高密度な実装を達成するためには、電子部品の各部の位置を高精度に検出し、端子やBGAの状態を正確に認識する必要が生じている。
【0003】
例えば、特開平10−51195号公報に開示されている装置の認識部は、電子部品に対してレーザ光を照射するものであり、レーザ光はポリゴンミラーによって電子部品を搬送方向Yと直交する方向Xに向けてライン状に走査し電子部品を認識する。
そして、電子部品が認識部を通過する際の搬送部の移動状態を検出して、ポリゴンミラーの回転量と比較することにより、認識時における速度ムラを得て、この認識時のデータの有効、無効を判断する構成である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の装置は、ポリゴンミラーが一定な速度で回転する構成であり、回転の慣性等により瞬時に回転速度を可変させることができないため、レーザ光の走査と、電子部品の搬送速度とを同期させることができない。
したがって、認識部を通過する際に速度ムラが生じて電子部品の認識時のデータが無効であった際には、このデータを活かすことができず、この電子部品をそのまま実装部で実装することができなかった。
【0005】
即ち、認識部を通過する際に電子部品に速度ムラが生じると、ライン状に走査した各ライン間の間隔が一定とならない。これにより、2次元化したデータのうち、電子部品の搬送方向のデータ間隔が実際の電子部品の状態と一致しなくなる。よって、電子部品の各部(例えば端子やBGA等)の座標を正確に認識することができないためこのデータを無効にしていた。
【0006】
この場合、電子部品が良品であっても搬送部の速度ムラによって、この電子部品を戻して再度搬送させて認識させるか、あるいはこの電子部品を不良品扱いとする等、何らかの不良時動作を行わねばならなかった。
【0007】
上記構成によれば、電子部品自体に不良箇所がない場合であっても、この電子部品を実装できない不都合が生じた。
また、この電子部品を不良時制御するための時間が必要となり、電子部品の実装タクトタイムの短縮化も図ることができない。
【0008】
上記問題点は、搬送部における搬送ムラを解消する構成、例えばベルト駆動に代えてボールネジ機構を使用する等により、機構的に搬送ムラの度合いを低減化させることができる。しかし、ボールネジ機構を用いたとしても搬送ムラを無くすことはできず、電子部品の高精度な認識は行えなかった。
【0009】
本発明は、上記課題を解決するものであり、電子部品を搬送させながら認識する際に、電子部品のデータと搬送速度とを同期させることができない場合であっても、電子部品の各部の座標を正確に得ることができる電子部品認識装置の提供を目的とする。また、ライン型画像読取装置を用いた画像データの生成時に電子部品の搬送速度にムラが生じてもこの速度ムラを補正できる補正方法の提供を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明の電子部品認識装置は、請求項1記載のように、電子部品(W)を直線状の搬送方向(Y)に一定速度で搬送させながら、電子部品通過時に前記搬送方向と直交する方向(X)に該電子部品を読み取るライン型の画像読取部(4)と、
前記電子部品の搬送に伴って前記画像読取部が読み取った該電子部品の画像データに基づき、前記電子部品に設けられる各端子の座標位置を抽出し座標データとして出力する端子抽出手段(32)と、
前記座標位置の抽出に並行して前記電子部品の読み取り時におけるライン数に対する該電子部品の搬送速度の変化を検出し、該各ラインでの変化に基づき、速度ムラが生じていない場合の直線状の理想特性線を基準とした偏差を得て搬送方向(Y)に対する速度ムラ補正用のデータを作成する速度ムラ補正手段(31)と、
前記座標データの各端子の搬送方向の座標位置を前記速度ムラ補正用のデータに基づき該搬送方向に対し補正して出力する座標変換手段(35)と、
を備えたことを特徴とする。
【0013】
また、請求項2記載のように、前記端子抽出手段(32)で抽出された電子部品の各端子の座標データを記憶する記憶手段(23)を備え、
前記座標変換手段(35)は、前記記憶手段から座標データを読み出して前記速度ムラ補正用のデータに基づき該座標データの各端子の座標位置を補正して前記記憶手段に更新して書き込む構成としてもよい。
【0014】
また、請求項3記載のように、前記画像読取部(4)は、電子部品にレーザ光を照射させ該レーザ光を一定な速度で前記走査方向(X)に沿って偏向させる偏向手段(16)を備え、前記電子部品の高さ方向(Z)の変位を検出可能な構成としてもよい。
【0015】
本発明の方法は、請求項4記載のように、電子部品(W)を直線状の搬送方向(Y)に一定速度で搬送させながら、電子部品通過時に前記搬送方向と直交する方向(X)に読み取るライン型の画像読取装置(4)を用いた画像データの速度ムラ補正方法であって、
前記画像読取装置から出力される画像データに基づき、前記電子部品に設けられる各端子の座標位置を抽出し座標データとして出力するステップと、
前記座標位置の抽出に並行して前記電子部品の読み取り時におけるライン数に対する該電子部品の搬送速度の変化を検出し、該各ラインでの変化に基づき、速度ムラが生じていない場合の直線状の理想特性線を基準とした偏差を得て搬送方向(Y)に対する速度ムラ補正用のデータを作成するステップと、
前記座標データの各端子の搬送方向の座標位置を前記速度ムラ補正用のデータに基づき該搬送方向に対し補正して出力するステップとを含むことを特徴とする。
【0016】
上記構成によれば、搬送部2は、電子部品Wを直線状の搬送方向Yに一定速度で搬送させる。電子部品Wは、搬送途中に設けられた画像読取部4にて搬送方向Yと直交する方向Xに沿って読み取られる。このとき、移動検出手段24は、搬送時における電子部品Wの搬送量を検出する。
画像生成手段20は、画像読取部4からの画像データを受け、電子部品Wの2次元の画像データを生成する。同時に、移動検出手段24からの検出信号に基づき、2次元の画像データについて搬送方向Yに沿った搬送量を算出する。
処理手段26は、得られた画像データと搬送量から速度ムラを算出し補正する。具体的には、処理手段26に設けられる端子抽出手段32は、画像データに基づき、電子部品Wの各端子の座標位置を抽出し座標データにする。速度ムラ補正手段31は、電子部品Wの読み取り時におけるライン数に対する電子部品Wの搬送速度の変化を検出し、各ラインでの変化に基づき、速度ムラが生じていない場合の直線状の理想特性線を基準とした偏差を得て搬送方向(Y)に対する速度ムラ補正用のデータを作成する。座標変換手段35は、座標データが示す搬送方向Yに沿った座標位置を、速度ムラ補正用のデータに基づき補正して出力する。
【0017】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の電子部品認識装置が適用される実装装置の要部を示す斜視図である。この実装装置は、電子部品Wをプリント基板上に実装させる搬送部2を有し、実装する電子部品Wを供給部から取り出して実装部まで搬送する。
搬送部2は、先端に電子部品Wを吸着する吸着ノズルが設けられたアーム3と、アーム3を実装部側のY方向に移動させる移動手段(不図示)で大略構成され、電子部品Wを吸着してY方向に搬送する。この搬送途中位置には、画像読取部4が設けられている。
【0018】
図2は、電子部品Wの裏面を示す図である。図示のように電子部品Wの裏面Wbには、X,Y方向に所定の配列で実装用のBGA(Ball Grid Array) が突出形成されている。
【0019】
電子部品Wは、1次元の方向Xに直線走査するライン型の画像読取部4で読み取られる。本実施の形態では画像読取部4として変位測定器を用いる。この変位測定器4は、電子部品Wを搬送する搬送経路の途中位置に設けられる。
具体的には、実装装置に設けられた電子部品Wの供給部と、プリント基板に電子部品Wを実装する実装部との間の位置に設けられる。
【0020】
そして、変位測定器4は、搬送されている電子部品Wの裏面Wbの画像データを順次読み取る。
即ち、変位測定器4は、搬送方向(Y方向)に直交するX方向に光を走査して電子部品Wの主走査方向の画像データを得る。そして、電子部品WのY方向への搬送により副走査方向の画像データを得る。これにより、電子部品Wの2次元の画像データが得られる。なお、後述するが、変位測定器4は電子部品Wの裏面Wbの高さ方向Zへの変位(即ち、BGAの突出量)を検出することができ、3次元の画像データを出力するようになっている。
【0021】
図3は、変位測定器4の測定原理を示す概要図である。この変位測定器4は、前記主走査時、同時に電子部品Wの高さ方向Z方向の変位(凹凸)を測定し画像データとして出力する。
即ち、図示の如く三角測量の原理により、投光部10からレーザ光を電子部品Wの表面に照射し、その照射点Pの像Kを受光部11の結像レンズ12によって受光素子13の受光面上に結像させる。
この受光素子13は、受光面13a上の結像点Kの位置からK’,K”へ移動すると、移動量zに対応した信号を出力する。
【0022】
この変位測定器4では、電子部品W上の凹凸(BGAの凹凸)により照射点Pが高さ方向Zに移動して照射点P’,P”に位置する。これにより、受光素子13の受光面13aの結像点Kがz方向に移動する。この信号の変化量から電子部品Wの高さ方向Zの変位が得られる。
【0023】
そして、図4は、変位測定器4の全体構成を示す斜視図である。
この変位測定器4の投光部10は、レーザー光を出射する光源15と、回転するポリゴンミラー等を備えた偏向手段16と、収束レンズ17で構成されている。
光源15から照射された照射光は、偏向手段16内のポリゴンミラーの一定速度の回転によって一定角度の範囲で偏向される。偏向された照射光は、収束レンズ17によってその光軸が1平面上で平行に移動する。そして、照射光は電子部品Wの表面(BGAが設けられた裏面)Wbに所定の入射角度を有して照射される。照射光により形成された照射点Pは、直線的に往復走査又は片道走査される。また、偏向手段16は、1ラインの走査を開始する都度、走査開始信号を出力する。
【0024】
照射光は、照射点Pの位置で受光部11に正反射される。照射点Pの像は、第1,第2の結像レンズ14a,14bによって受光素子13の受光面13aに結像される。
このようにして、電子部品Wに対しレーザ光を走査することにより、電子部品Wの変位を同走査方向Xに連続して得ることができる。出力される1走査分の画像データの各画素はそれぞれ電子部品Wの裏面Wbの変位情報を有している。
【0025】
以上のように電子部品Wに対しX方向に走査する変位測定器4を用い、図1記載の搬送部2で電子部品をY方向に搬送させることにより、電子部品Wの幅、長さ、高さ(X,Y,Z)の各方向の座標がそれぞれ得られ、3次元の画像データが得られる。
なお、図1記載の電子部品Wの裏面Wbが下方を向いている状態に対応して、図3,4に記載した変位測定器4は全体が上下逆に向く状態で用いられる。
【0026】
図5は、本発明の電子部品認識装置に設けられる画像生成手段20の構成を示すブロック図、図6は、画像読み取り時の信号を示すタイミングチャートである。
画像生成手段20は、カウンタ21と、画像生成部(CPU)22、CPU22制御用のプログラムを格納するROM,RAM等からなるメモリ、及び電子部品の画像データを格納する記憶手段23等により構成されている。
【0027】
移動検出手段24は、アーム3がY方向に移動した際の移動量を検出する(図6(d))。この移動検出手段24は、駆動源(モータ)に設けられたエンコーダ等で構成される。
移動検出手段24は、この他、アーム3の移動方向Yに沿って設けられるリニアスケールを用いることもできる。このエンコ−ダ24の出力は、カウンタ21に入力される。
【0028】
実装装置は、1個の電子部品Wを搬送する都度、測定開始信号を出力する(図6(a))。
カウンタ21は、測定開始信号(図6(a))の入力によりカウント値を0クリアする(図6の時期t0)。そして、偏向手段16の走査開始信号(図6(b))が入力される都度(時期t1,t2,…)カウント値を画像生成部22に出力する(図6(e))。
【0029】
画像生成部22は、変位測定器4から入力される画像データを順次記憶手段23に格納していく(図6(c))。
図7は、記憶手段23の記憶内容を示す図である。図示のように、画像データは1走査による複数nの画素からなり、各画素は変位情報を含んでいる。そして、画像生成部22は、画像データの1走査の終端毎にカウンタ21のカウント値を付加して格納していく。
【0030】
電子部品WがY方向に搬送されることにより、所定時期が経過すると電子部品W全体に対応したNラインの走査分の画像データが記憶手段23に格納される。これにより電子部品Wの2次元の画像データが格納されることになる。
なお、画像データの走査周期は、偏向装置16のポリゴンミラーの回転速度に対応するものであり、ポリゴンミラーは一定な速度で回転し一定な走査周期となっている。
【0031】
次に、図8は、処理手段26の内部構成を示すブロック図である。処理手段26は、画像データの速度ムラ補正処理を実行する。図9に示す速度ムラの状態を説明する図を併用して説明する。この速度ムラ補正の処理は、電子部品Wを1個搬送する毎に実行される。
処理手段26は、記憶手段23の画像データに基づき、電子部品WのBGAの配列状態を求める。そして、搬送部2に速度ムラが生じても搬送方向Yに沿ったBGAの配列状態が正確となるよう補正する。
そして、処理手段26は大別して画像データを扱う画像処理手段30と、速度ムラを補正する速度ムラ補正手段31で構成されている。
なお、上記記憶手段23は、速度ムラ補正前後の各データに対応する2つの記憶領域23a,23bからなるものとして説明する。記憶手段23aには、前記画像生成手段20が出力するカウント値が付加された画像データが格納されている。
【0032】
端子抽出手段32は、記憶手段23aに格納された電子部品Wの画像データを読み出し、各画素が有する変位情報(変位量)に基づき、電子部品W上の各BGAの座標位置を抽出する。具体的には、各画素の変位量に対し、所定の閾値を用いて比較処理することにより電子部品Wの裏面Wb部分(パッケージあるいはダイ)から突出形成されているBGAの座標位置を抽出する。
図9(a)は、元画像データを示す図、図9(b)は元画像データから抽出したBGAの座標位置を示す図である。
【0033】
速度ムラ補正手段31は、換算手段33と、速度変化検出手段34で構成されている。
換算手段33は、記憶手段23aの各ラインに格納されているカウント値を読み出し、搬送部2(アーム3)のY方向への時間当たりの移動量に換算する。図9(c)は各ライン毎のカウント値を示す図である。
【0034】
速度変化検出手段34は、換算手段33で換算されたライン数に対する移動量の変化を検出する。
【0035】
座標変換手段35は、端子抽出手段32で抽出された各BGAの端子の座標位置を、速度ムラ補正手段31で得られた速度ムラ補正用データを用いて搬送方向Yに沿った走査ピッチを補正する。補正後の画像データは、記憶手段23bに書込まれる。
【0036】
図10は、処理手段26の処理内容を示すフローチャートである。
始めに、画像処理手段30側では、端子抽出手段32が記憶手段23aから電子部品Wの画像データを読み出して2次元配列させ(S1)、各画素が有する変位情報(変位量)に基づき、電子部品W上の各BGAの座標位置を抽出した画像データ(座標データ)を作成する(S2)。
【0037】
2次元配列した画像データのうち、Y軸方向の各ラインの間隔は、搬送部2の速度ムラに対応して異なることとなる。
この速度ムラは、搬送部2のアーム3を移動させる機構の精度に起因して発生する。特に、アーム3を移動させる機構にベルトが用いられた実装装置の場合に発生する。また、ボールネジ機構であっても速度ムラを完全に無くすことはできない。
【0038】
例えば、図9(a)には、変位測定器4上を搬送部2のアーム3が通過した際の速度ムラが表されている。図上では便宜上、主走査を5ラインとし各ライン上にBGAが位置している。そして、3ライン目がほぼ規定の速度であるが、1,2ライン目は速度がやや早く(+の偏位)、4,5ライン目は速度がやや遅い(−の偏位)状態であったとする。
これにより、抽出されたBGAの各座標位置は、図9(a),(b)に示す如く、Y軸方向に対し1,2,4,5ラインがそれぞれ規定位置から外れる方向に偏位している。
【0039】
そして、上記の画像処理手段30による座標位置の抽出処理(S1,S2)と並行して、速度ムラ補正手段31は、速度ムラ補正用データの作成を実行する。換算手段33は、記憶手段23aの各ラインに格納されているカウント値を読み出し(S3)、アーム3の移動量に換算する(S4)(図9(c)参照)。
【0040】
次に、速度変化検出手段34は、ライン数に対する移動量の変化を検出し、各ラインでの移動量の変化から速度ムラ補正用データを作成する(S5)。この速度ムラ補正用データを、図9(d)に示す。速度ムラが生じていない場合には点線で示す直線状の理想特性線y=xとなるが、搬送部2に速度ムラが生じると、実線で示す如く速度の変動に対応した曲線となる。
【0041】
座標変換手段35は、端子抽出手段32で抽出された各BGAの端子の搬送方向Yに沿った座標位置を、速度ムラ補正手段31で得られた速度ムラ補正用データを用いて補正する(S6)。
具体的には、理想特性線を基準として速度ムラの曲線の偏差を得る。そして、この偏差が発生したラインを検出し、このラインに含まれる画素全体の座標位置Y(副走査ピッチに相当)を偏差が発生している方向と逆方向(絶対値±の逆方向)に移動させる(図9(d)の矢印方向)。
【0042】
これにより、図9(b)に示す如く、搬送方向YのBGAの座標位置は、図中点線から実線位置へと移動され、図9(e)に示すように速度ムラを補正した各BGAの座標位置を正確に得ることができるようになる。そして、Y軸方向の座標位置を補正した画像データを記憶手段23bに書込む。
【0043】
上記の速度ムラ補正は、電子部品Wを1個搬送する都度実行されるものであり、画像データの処理と、速度ムラの検出を並行することにより、短時間での速度ムラ補正が可能である。即ち、画像データ自体を画像処理するものではなく、抽出されたBGAの座標位置を書き換える簡単な構成であるため処理手段26に演算処理の負担をかけることなく処理の高速化を達成できる。
【0044】
また、上記実施形態では、1個の電子部品Wの幅及び長さに相当する2次元の画像データが揃った時点で速度ムラの補正演算を実行する構成としたが、これに限らず、より短時間で速度ムラの補正演算を実行することができる。
即ち、搬送速度の変化をより短時間で検出してその都度各ラインの画像データのY軸位置を補正していく構成としてもよい。この場合、速度変化検出手段34では、例えば2ライン分以上のカウント値に基づき移動量の変化を逐次検出し、座標変換手段35はその都度対応するラインのY軸位置を補正すればよい。
【0045】
そして、電子部品Wの画像を読み取る際に搬送部2のアーム3に速度ムラが生じてもBGAの配列状態を正確に得ることができるようになる。
例えば、搬送部2のアーム3を移動させる機構にベルトを用いた実装装置に適用した場合に、このアーム3の移動速度に速度ムラが生じてもこれを補正してBGAの座標位置を正確に得ることができるようになる。
【0046】
実装装置は、基本的に実装部においてプリント基板上で所定の精度で電子部品Wを位置決め実装できればよいとされていた。しかし、上記構成によれば、画像読み取り時に搬送速度に速度ムラが生じたとしても各BGAの座標位置を正確に得ることができるようになる。
【0047】
特に、変位測定器4等に設けられる偏向手段16が固定の走査速度である場合に有効である。偏向手段16は、上述したポリゴンミラーを用いた構成に限らず、音叉偏向器、ガルバノ偏向器、音響光学偏向器であっても同様に適用できる。このような偏向手段を用いた構成において、従来は速度ムラによって電子部品Wの画像データを正確に得ることができなかったが、本発明によれば、速度ムラが生じても正確な座標位置を得られるようになった。これに伴い、電子部品W搬送時の速度ムラの発生で実装が行えないといった従来の問題を解消できる。
【0048】
このように速度ムラが補正されたBGAの座標位置X,Yは、実装装置の実装制御部(不図示)に出力される。実装制御部は、入力された画像データに基づき、電子部品Wの良否(各BGAの有無等)を判定する。そして、BGAの欠損時にはプリント基板への実装を中止する等の制御を行なう。
また、BGAの座標位置に基づき電子部品Wの重心を求めて実装のための位置決めデータを求め、この位置決めデータを用いてプリント基板に実装する。
【0049】
ところで、上記説明した画像データは、各画素が変位情報を含む3次元画像データである。これにより、各BGAの有無、BGAを構成する半田ボールの高さと範囲が得られ、電子部品のBGAの状態を3次元で判断することができるようになっている。これにより、上記のように実装装置に適用した場合に、電子部品Wの実装の可否をより精度良く判断できるようになる。
なお、本発明は、画像データが3次元であることに限らず2次元画像データであっても速度ムラを補正した画像データを得られることは言うまでもない。
【0050】
上記実施形態では電子部品の裏面にBGAが設けられた構成を例に説明したが、この電子部品に限らず、他に、リード端子が延出して設けられた電子部品について、各リード端子を認識する構成であっても同様の作用効果を得ることができる。この場合、変位測定器4を用いることによって、各リード端子の変位量を測定しリードのエッジ、高さを得て、リードの曲がりや欠損を検出できるようになる。
【0051】
【発明の効果】
本発明の電子部品認識装置によれば、端子抽出手段が電子部品を読み取った画像データに基づき各端子の座標位置を抽出し、この座標位置の抽出に並行して、速度ムラ補正手段により電子部品の読み取り時における搬送速度の変化を検出して速度ムラが生じていない場合の直線状の理想特性線を基準とした偏差を得て速度ムラ補正用のデータを作成する。そして、座標変換手段により座標データの各端子の搬送方向の座標位置を前記速度ムラ補正用のデータに基づき該搬送方向に対し補正して出力する構成である。このように、画像データから抽出された端子の座標位置を補正することにより、電子部品に設けられた各端子の位置を簡単かつ精度良く速度ムラ補正できるようになる。しかも、画像データを読取ながら、画像データの搬送方向に沿った座標位置を補正していくことができ、速度ムラ補正の高速化を達成できるようになる。
【0052】
また、請求項2記載のように、記憶手段に対して抽出された電子部品の各端子の座標データを記憶させる構成とすれば、速度ムラ補正時に補正した座標データを記憶手段に更新して書き込むだけでよく、補正処理の負担を軽減できる。
本発明の装置を構成する画像読取部は、請求項3記載のように、電子部品の高さ方向の変位を検出可能な構成としてもよく、この場合電子部品の3次元の画像データを得ることができるようになる。この場合に用いられる偏向手段は、レーザ光を偏向させて画像を読み取る際の走査速度が一定であり可変できない為、搬送部の速度ムラに対応した走査制御が実行できないものであるが、画像データ取得後における上記速度ムラ補正によってこのような構成の画像読取部を用いて電子部品を認識できるようになる。
【0053】
本発明の方法は、請求項4記載のように、画像読取部での画像データの読み取りによる電子部品の各端子の搬送方向の座標位置の抽出と並行して電子部品の搬送速度の変化を検出する構成であり、画像データを読取ながら、画像データの搬送方向に沿った座標位置を補正していくことができ、速度ムラ補正の高速化を達成できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子部品認識装置が適用される実装装置の要部を示す斜視図。
【図2】電子部品の裏面を示す図。
【図3】変位測定器の測定原理を示す概要図。
【図4】変位測定器の全体構成を示す斜視図。
【図5】画像生成手段の内部構成を示すブロック図。
【図6】各部の信号を示すタイミングチャート。
【図7】記憶手段の記憶内容を示す図。
【図8】処理手段の内部機能を示すブロック図。
【図9】速度ムラの状態を説明するための図。
【図10】速度ムラ補正の処理動作を示すフローチャート。
【符号の説明】
2…搬送部、3…アーム、4…画像読取部(変位測定器)、16…偏向手段、20…画像生成手段、21…カウンタ、22…画像生成部、23(23a,23b)…記憶手段、24…移動検出手段(エンコーダ)、26…処理手段、30…画像処理手段、31…速度ムラ補正手段、32…端子抽出手段、33…換算手段、34…速度変化検出手段、35…座標変換手段。
Claims (4)
- 電子部品(W)を直線状の搬送方向(Y)に一定速度で搬送させながら、電子部品通過時に前記搬送方向と直交する方向(X)に該電子部品を読み取るライン型の画像読取部(4)と、
前記電子部品の搬送に伴って前記画像読取部が読み取った該電子部品の画像データに基づき、前記電子部品に設けられる各端子の座標位置を抽出し座標データとして出力する端子抽出手段(32)と、
前記座標位置の抽出に並行して前記電子部品の読み取り時におけるライン数に対する該電子部品の搬送速度の変化を検出し、該各ラインでの変化に基づき、速度ムラが生じていない場合の直線状の理想特性線を基準とした偏差を得て搬送方向(Y)に対する速度ムラ補正用のデータを作成する速度ムラ補正手段(31)と、
前記座標データの各端子の搬送方向の座標位置を前記速度ムラ補正用のデータに基づき該搬送方向に対し補正して出力する座標変換手段(35)と、
を備えたことを特徴とする電子部品認識装置。 - 前記端子抽出手段(32)で抽出された電子部品の各端子の座標データを記憶する記憶手段(23)を備え、
前記座標変換手段(35)は、前記記憶手段から座標データを読み出して前記速度ムラ補正用のデータに基づき該座標データの各端子の座標位置を補正して前記記憶手段に更新して書き込む構成である請求項1記載の電子部品認識装置。 - 前記画像読取部(4)は、電子部品にレーザ光を照射させ該レーザ光を一定な速度で前記走査方向(X)に沿って偏向させる偏向手段(16)を備え、前記電子部品の高さ方向(Z)の変位を検出可能な請求項1記載の電子部品認識装置。
- 電子部品(W)を直線状の搬送方向(Y)に一定速度で搬送させながら、電子部品通過時に前記搬送方向と直交する方向(X)に読み取るライン型の画像読取装置(4)を用いた画像データの速度ムラ補正方法であって、
前記画像読取装置から出力される画像データに基づき、前記電子部品に設けられる各端子の座標位置を抽出し座標データとして出力するステップと、
前記座標位置の抽出に並行して前記電子部品の読み取り時におけるライン数に対する該電子部品の搬送速度の変化を検出し、該各ラインでの変化に基づき、速度ムラが生じていない場合の直線状の理想特性線を基準とした偏差を得て搬送方向(Y)に対する速度ムラ補正用のデータを作成するステップと、
前記座標データの各端子の搬送方向の座標位置を前記速度ムラ補正用のデータに基づき該搬送方向に対し補正して出力するステップとを含むことを特徴とするライン型画像読取装置を用いた画像データの速度ムラ補正方法。
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