JP3692847B2 - 酸素濃度検出装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は酸素濃度検出装置に関し、特に、内燃機関(以下、機関と記す)の排気空燃比を検出する空燃比センサの活性化前にはヒータ抵抗値を目標抵抗値にするようにヒータに供給する電力を制御し、空燃比センサの活性化後には空燃比センサの素子インピーダンスをフィードバックして空燃比センサの素子温を活性化温度に維持するようにヒータに供給する電力を制御する酸素濃度検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年の機関の空燃比制御においては、機関の排気系に空燃比センサと触媒とを配設し、触媒により排気ガス中の有害成分(HC、CO、NOx 等)を最大限浄化するため、空燃比センサにより検出される機関の排気空燃比が目標空燃比、例えば理論空燃比になるようにフィードバック制御されている。この空燃比センサとして、機関から排出される排気ガス中に含まれる酸素濃度に比例して限界電流を出力する限界電流式の酸素濃度検出素子(酸素センサ)が用いられている。限界電流式酸素濃度検出素子は、酸素濃度から機関の排気空燃比を広域かつリニアに検出するものであり、空燃比制御精度を向上させたり、リッチ〜理論空燃比(ストイキ)〜リーンの広域空燃比の間で機関の排気空燃比を目標空燃比にするよう制御するために有用である。
【0003】
上記酸素濃度検出素子は、空燃比の検出精度を維持するため活性状態に保たれることが不可欠であり、通常、機関始動時から同素子に付設されたヒータを通電することにより同素子を加熱し、早期活性化させてその活性状態を維持するようヒータの通電制御を行っている。
特開平4−248454号公報開示の酸素濃度検出センサのヒータ制御装置は、酸素濃度検出センサに設置されたヒータの抵抗値を目標抵抗値にするようにヒータへの供給電力を可変制御するものである。
【0004】
特開平8−278279号公報開示の酸素センサのヒータ制御装置は、ヒータへの通電初期にセンサ素子の早期活性化のためヒータ温度が所定温度に達するまでは全電力をヒータに供給し、ヒータ温度が所定温度に達するとヒータ温度に応じた電力をヒータに供給し、センサ素子の温度が所定温度に達すると酸素センサの素子温度に応じた電力をヒータに供給するものである。また、このセンサ素子の温度は素子インピーダンス値から推定されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特開平4−248454号公報開示の酸素濃度検出センサのヒータ制御装置において、上記特開平8−278279号公報に開示されているように空燃比センサの素子インピーダンスを目標値にフィードバックしてヒータへの電力供給を制御する場合、例えば、ヒータが温度的限界に達しないようにするためには、ヒータ抵抗値の上限値を設定し、ヒータ抵抗値がこのヒータ抵抗上限値を超えないようにヒータ抵抗値を監視する必要があるが、ヒータ温度とヒータ抵抗値との関係を正しく取得しなければならず、この関係を取得するためにヒータ供給電力に基づく別のルーチンの実行を必要とし、ヒータの温度とヒータの抵抗値との関係の取得に時間がかかるという問題がある。
【0006】
また、上記の場合、機関の排気温度が低温のときまたは空燃比センサが経年変化したとき等のように、空燃比センサの素子温度と素子インピーダンスとの関係が空燃比センサが初期品のときの同関係と異なるとき、素子温や素子インピーダンスが変化し不安定となりヒータ抵抗値も不安定となるので、ヒータの温度とヒータの抵抗値との関係を誤って取得してしまうという問題がある。
【0007】
それゆえ、本発明は上記問題を解決し、ヒータの温度とヒータの抵抗値との関係を取得するために別のルーチンを設けることなく、短時間にヒータの温度とヒータの抵抗値との関係を取得できる酸素濃度検出装置を提供することを主目的とする。また、素子温度と素子インピーダンスとの関係が崩れた場合のヒータの温度とヒータの抵抗との関係の誤取得を防止することを他の目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
前記問題を解決する本発明による酸素濃度検出装置は、内燃機関の排気通路に設けられた空燃比センサと、該空燃比センサを加熱するヒータと、該ヒータに供給する電力を制御するヒータ制御手段と、を備えた酸素濃度検出装置において、前記空燃比センサの活性化後に該空燃比センサの活性状態を維持するため行う、該空燃比センサの素子インピーダンスフィードバックによる前記ヒータへの供給電力の制御中に、前記内燃機関の特定の運転状態において取得される該ヒータの抵抗値に基づいて、前記ヒータの温度と該ヒータの抵抗値との関係を取得し、前記空燃比センサの素子温度と素子インピーダンスとの関係が該空燃比センサが初期品のときの同関係と異なるとき、前記ヒータの温度と該ヒータの抵抗値との関係の取得を禁止する、ことを特徴とする。
【0009】
上記構成により、ヒータ温度とヒータ抵抗値との関係を取得するために別のルーチンを設けることなく、短時間にヒータ温度とヒータ抵抗値との関係を取得できる。
【0010】
上記構成により、空燃比センサの経年変化するようなヒータ抵抗値が不安定なときのヒータ温度とヒータ抵抗値との関係の誤った取得を回避できる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図1は本発明による酸素濃度検出装置を備えた内燃機関の一実施形態の概略構成図である。図1以降、同一のものは同一符号で示す。図1中、参照番号1はシリンダブロック、2はピストン、3はシリンダヘッド、4は燃焼室、5は吸気マニホルド、6は排気マニホルドをそれぞれ示す。吸気マニホルド5は、サージタンク7、吸気ダクト8およびエアフローメータ9を介してエアクリーナ10に接続される。吸気ダクト8内にはスロットル弁11が配設され、吸気マニホルド5には燃料噴射弁12が吸気ポート13へ向けて配設される。排気マニホルド6には排気管14が接続され、この排気管14の途中にはHC、CO、NOxの3成分を同時に浄化するとともに酸素ストレージ効果を有する三元触媒を内蔵した触媒コンバータ15が配設される。
【0012】
電子制御ユニット(ECU)100は、デジタルコンピュータからなり、双方向性バス41によって相互に接続されたROM42、RAM43、バックアップ用のB.RAM44、CPU45、入力ポート46および出力ポート47、等を具備する。エアフローメータ9は吸入空気量に比例した出力電圧を発生し、その出力電圧の信号をA/D変換器48を介して入力ポート46に入力する。排気マニホルド6内の上流側には空燃比センサ101が配設され、空燃比センサ101は排気ガス中の酸素濃度を検出し、その出力信号を空燃比センサ回路103、A/D変換器48を介して入力ポート46に入力する。
【0013】
吸気ダクト8内のスロットル弁11の開度はアクセルペダル(図示せず)の踏込み動作に連動して可変される。スロットル弁11にはスロットル開度の全閉状態を検出するアイドルスイッチを有するスロットルポジションセンサ18が設けられており、スロットルポジションセンサ18はECU100に接続されECU100の入力ポート46にアイドルスイッチのオンオフ信号XIDLEを入力するとともに、A/D変換器48を介して入力ポート46にスロットル開度に比例したアナログ電圧の信号を入力する。
【0014】
サージタンク7には吸気通路内の絶対圧を検出する圧力センサ19が設けられ、圧力センサ19は吸気圧に比例したアナログ電圧の信号をA/D変換器48を介して入力ポート46に入力する。
シリンダブロック1にはウォータジャケット内の機関200の冷却水温を検出する水温センサ20が取付けられており、水温センサ20は機関200の冷却水温に比例したアナログ電圧の信号をA/D変換器48を介して入力ポート46に入力する。
【0015】
バッテリ105の電圧もECU100に接続され、バッテリ105の電圧はECU100内のA/D変換器48を介して入力ポート46に入力される。また、機関200が搭載される車両の車速を検出する車速センサ21もECU100に接続され、車速センサ21のアナログ電圧出力は、ECU100内のA/D変換器48を介して入力ポート46に入力される。
【0016】
ディストリビュータ16には2つのクランク角センサ33、34が設けられ、クランク角センサ33はクランク角に換算して720°CA毎の基準位置を検出して出力パルス信号を発生し、クランク角センサ34はクランク角に換算して30°CA毎の位置を検出して出力パルス信号を発生する。これらの出力パルス信号は入力ポート46に入力され、クランク角センサ34の出力パルス信号はCPU45の割込端子にも入力される。クランク角センサ33、34の出力パルス信号から、例えば機関200の回転数が演算される。
【0017】
一方、出力ポート47は駆動回路49を介して燃料噴射弁12に接続される。燃料噴射弁12から吸気ポート13へ向けて吸気通路17へ噴射される燃料噴射量は、空燃比が目標空燃比、本実施形態では理論空燃比になるように駆動回路49により開弁される燃料噴射弁12の開弁時間を可変することにより制御される。出力ポート47は駆動回路49を介してアラーム22にも接続され、アラーム22は空燃比センサ素子102やヒータ104が劣化したと判定されたときに付勢される。
【0018】
なお、CPU45の割込は、A/D変換器によるA/D変換終了時やクランク角センサ34の出力パルス信号の受信時に発生する。A/D変換器48を介して入力ポート46へ入力されたデジタルデータはA/D変換毎に読取られ、RAM43に格納される。機関200の回転数NEもクランク角センサ34の出力パルス信号がCPU45の割込端子に入力される毎に演算されRAM43に格納される。つまりRAM43に格納される機関200のデータは絶えず更新される。
【0019】
また、ヒータ104は空燃比センサ101に内蔵されセンサ素子を活性化するために加熱するためのものであるが、後述の処理によりCPU45により演算されたデジタルデータを出力ポート47を介してD/A変換器50でアナログ電圧に変換しヒータ回路106を介してヒータ104へ電力が供給される。
図2は図1に示す空燃比センサ101およびヒータ104の制御を示す図である。図1に示す機関200の排気空燃比を検出する空燃比センサ101は、空燃比センサ素子(以下、センサ素子と記す)102とヒータ104とを有する。空燃比センサ回路(以下、センサ回路と記す)103がECU100内に設けられ、センサ素子102に電圧を印加する。センサ回路103は、デジタルコンピュータからなるECU100内で空燃比センサ1を制御する役割を担う制御ユニット、すなわち空燃比センサ制御ユニットA/FCU110からアナログの印加電圧を受けこれに応じた電圧をセンサ素子102に印加する。A/FCU110は後述の処理にしたがって算出したデジタルデータを内部に設けられたD/A変換器50によりアナログ電圧に変換してセンサ回路103へ出力する。この電圧の印加に伴いA/FCU110は被検出ガス中、すなわち排気ガス中の酸素濃度に比例して変化するセンサ素子102を流れる電流を検出する。A/FCU110はこの電流を検出するため内部に設けられたA/D変換器48によりセンサ回路103からセンサ素子102を流れる電流に相当するアナログ電圧を受ける。A/FCU110はこのアナログ電圧をデジタルデータに変換し、変換したデジタルデータを後述する処理に使用する。
【0020】
空燃比センサ101はセンサ素子102が活性状態にならないとその出力を空燃比制御に使用できない。このため、A/FCU110は機関始動時にバッテリ105からヒータ104へ電力供給してヒータ104を通電し、センサ素子102の早期活性化を行い、センサ素子102が活性化された後はその活性状態を維持するようヒータ104へ電力供給する。空燃比センサ回路103は内部に積分回路が設けられており、A/FCU110から空燃比センサ回路103へ入力された矩形パルスを正弦波状のパルスに変換した電圧をセンサ素子102に印加するようになっている。これにより高周波ノイズによるセンサ素子の出力電流の検出エラーを防止している。
【0021】
図3は酸素濃度検出素子の温度とインピーダンスの相関関係を示す図である。上記酸素濃度検出素子(以下、単に素子と記す)の温度とインピーダンスとの間には図3に太線で示すような相関関係、すなわち素子温度の上昇に連れて素子のインピーダンスが減衰するという関係がある。この関係に着目し、上記のようなヒータの通電制御においては、素子のインピーダンスを検出して素子温度を導き出し、その素子温度が所望の活性化温度、例えば700°Cになるようにフィードバック制御を行っている。例えば、図3の太線に示すように、素子のインピーダンスZacが、初期制御素子温700°Cに相当する素子のインピーダンス30Ω以上とき(Zac≧30)、すなわち素子温が700°C以下のとき、ヒータを通電し、Zacが30Ωより小のとき(Zac<30)、すなわち素子温が700°Cを超えるとき、ヒータの通電を解除する制御を行うことで、素子の温度を活性化温度700°C以上に保ち、素子の活性状態を維持している。また、ヒータ通電時は、素子のインピーダンスとその目標値との偏差(Zac−30)をなくすために必要な通電量を求め、その通電量を供給するようデューティ制御を行っている。
【0022】
図3に示すように、センサ素子102の抵抗がセンサ素子102の温度に依存すること、すなわちセンサ素子温度の増大に連れて減衰することに着目し、センサ素子102の抵抗がセンサ素子102の活性状態を維持する温度に相当する抵抗値、例えば30Ωとなるようヒータ104へ電力供給することによりセンサ素子102の温度を目標温度、例えば700°Cに維持する制御が行われている。また、A/FCU110は内部に設けられたA/D変換器48によりヒータ回路106からヒータ104の電圧と電流に相当するアナログ電圧を受けデジタルデータに変換してこのデジタルデータを後述する処理に使用する。例えば、ヒータ104の抵抗値を算出し、この抵抗値に基づき機関の運転状態に応じた電力供給をヒータ104に行うとともにヒータ104の過昇温(OT)を防止するようヒータ104の温度制御を行う。
【0023】
図4はヒータ制御のタイムチャートである。図4において、横軸は時間、縦軸は、上段がヒータへ供給する電力のデューティ比、中段がヒータ温度、下段が素子インピーダンスをそれぞれ示す。機関始動に伴い、ヒータへの通電が開始された時刻t0 からヒータが目標(上限)温度、例えば1200°Cに到達するまでの時刻t1 まではデューティ比100%の全通電制御が行われ、時刻t1 からセンサ素子が活性化された温度700°Cに相当するインピーダンス30Ωに到達した時刻t2 まではヒータの温度を目標温度に維持するヒータ温フィードバック制御が行われ、時刻t2 以降はセンサ素子の温度を素子活性化温度700°Cに維持する素子温フィードバック制御が行われる。このヒータ制御ルーチンをフローチャートに基づき以下に説明する。
【0024】
図5はヒータ制御ルーチンのフローチャートである。本ルーチンは、所定の周期、例えば100msec毎に実行される。先ず、ステップ501では、イグニッションスイッチ(図示せず)がONかOFFかを判別し、イグニッションスイッチがONのときはステップ502へ進み、イグニッションスイッチがOFFのときは本ルーチンを終了する。ステップ502では、ヒータ抵抗RHをヒータへの印加電圧とヒータの通電電流とから算出する。ステップ503では、ステップ502で算出したヒータ抵抗RHとヒータ抵抗学習値RHGとを比較し、RH≧RHGのときはステップ504へ進み、RH<RHGのときはステップ505へ進む。ここで、ヒータ抵抗学習値RHGとはヒータ温度が目標温度(1200°C)のときの抵抗値を製品毎や経時変化によるバラツキを解消できるように学習した値であり、後述する図10のステップ1008でバックアップRAMに記憶されるヒータ全通電目標ヒータ抵抗学習値HTRLMTである。また、このヒータ抵抗学習値はヒータの温度的限界を考慮してヒータの抵抗がその目標抵抗値である状態であり続けた(空燃比センサが活性化される迄の間)としても、ヒータ寿命への影響が少ないと判断される抵抗値を目標抵抗値として学習される。
【0025】
ステップ504では、素子インピーダンスZacを読取る。ステップ506では読取ったZacとセンサ素子の活性温度に相当する30Ωとを比較し、Zac>30のときはセンサ素子が非活性状態であると判断してステップ507へ進み、Zac≦30のときはセンサ素子が活性状態であると判断してステップ508へ進む。ステップ505では全通電(100%デューティ)制御を行い、ステップ507ではヒータ温フィードバック制御を行い、ステップ508では素子温フィードバック制御を行う。
【0026】
また、図4、図5に示したヒータ制御において、ヒータおよびセンサ素子の過昇温(Over Temperature)を防止するため、特定周波数5KHzに対する空燃比センサの素子インピーダンスZacが劣化補正後の素子温制御目標値Zactgより所定値、例えば5Ωを超えるか否か(Zac≦Zactg−5(Ω))を判別し、その判別結果がYESのときは正常、すなわちヒータおよびセンサ素子は過昇温になっていないものと判定し、図5のフローチャートで示したヒータ制御ルーチンを実行し、その判別結果がNOのときは異常、すなわちヒータおよびセンサ素子は過昇温になっていると判定し、DUTY(i) =0に設定する処理を行う。
【0027】
次に、機関アイドル時の素子劣化補正ルーチンおよびヒータ抵抗学習値を算出するヒータ抵抗学習ルーチンについて以下に説明する。
図6は機関アイドル時の素子劣化補正およびヒータ抵抗学習ルーチンの前半部フローチャートであり、図7は同ルーチンの後半部フローチャートである。本ルーチンは、所定の周期、例えば128msec毎に実行される。先ず、ステップ601では、現在、ヒータ抵抗を流れる電流HTIi とヒータ抵抗へ印加する電圧HTVi とヒータ電力供給のデューティ比DUTYi とを読取りヒータへ供給する電力HTWi (=HTIi ×HTVi ×DUTYi )を算出する。
【0028】
ステップ602では、機関アイドル時の学習条件が成立しているか否かを判別し、その判別結果がYESのときはステップ603へ進み、その判別結果がNOのときは本ルーチンを終了する。機関アイドル時の学習条件は、機関が完全暖機定常アイドル状態であることを示す下記の各条件を満足したとき成立とみなす。
・機関始動時水温THWstが所定温度範囲内(THW1≦THWst≦THW2)
・バッテリ電圧BATが所定値KBAT以上(KBAT≦BAT)
・空燃比センサの素子インピーダンスZac(Ω)が所定値範囲内(KZac1 ≦Zac≦Kac2 )
・機関回転数NE(rpm )が所定値以下(NE≦KNE)
・機関吸気圧PM(mmHg)が所定値以下(PM≦KPM)
・車速SPD(km/h)が所定値以下(SPD≦KSPD)
・機関アイドルスイッチがオンステップ603では、学習条件成立後、所定時間経過したかを判別し、その判別結果がYESのときはステップ604へ進み、その判別結果がNOのときは本ルーチンを終了する。ステップ604では学習条件成立フラグ(XZACG )をオンとする。
【0029】
ステップ605では、前回処理周期で学習条件成立フラグ(XZACG )がオンかオフかを判別し、オフ(XZACG =0)のときステップ606へ進み、オン(XZACG =1)のときステップ607へ進む。
ステップ606では、積算電力量ΣHTWi を0にクリアし、積算ヒータ抵抗値ΣHTRi を0にクリアし、かつ学習領域内経過時間カウンタCZACGTを0にクリアする。
【0030】
ステップ607では、学習領域内経過時間カウンタCZACGTをインクリメント(CZACGT=CZACGT+1)する。
ステップ608では、今回処理周期の積算電力量ΣHTWi を次式から算出する。
ΣHTWi =ΣHTWi-1 +HTWi
ここで、ΣHTWi-1 は前回処理周期の積算電力量を示し、イグニッションスイッチをオンに切換え機関を始動した直後に0にクリアされる。
【0031】
ステップ609では、積算ヒータ抵抗値ΣHTRi を次式から算出する。
ΣHTRi =ΣHTRi-1 +HTRi
ここで、ΣHTRi-1 は前回処理周期のヒータ抵抗値を示し、イグニッションスイッチをオンに切換え機関を始動した直後に0にクリアされる。
ステップ610では、学習領域内経過時間カウンタCZACGTが所定値KZACGT以上(CZACGT≧KZACGT)か否かを判別し、その判別結果がYESのときはステップ611へ進み、その判別結果がNOのときは図7のステップ701ヘ進む。ステップ611では学習完了フラグ(XZACGE)をオンに設定する。ステップ611実行後は図7に示すフローチャートのステップ701へ進む。
【0032】
図7のステップ701では、学習完了フラグ(XZACGE)がオンかオフかを判別し、学習完了フラグがオン(XZACGE=1)のとき、ステップ702へ進み、学習完了フラグがオフ(XZACGE=0)のときは本ルーチンを終了する。ステップ702では、空燃比センサの故障判定を行う。すなわち、今回処理周期の積算電力量ΣHTWi が所定値KΣHTW以上か否かを判別し(ΣHTWi ≧KΣHTW)、その判別結果がYESにおときは空燃比センサは故障であると判断しステップ703へ進み、その判別結果がNOのときはステップ704へ進む。ステップ703では空燃比センサの故障フラグ(XAFSF )をオンに設定し、本ルーチンを終了する。
【0033】
ステップ704では、図8を用いて後述するヒータ積算電力量ΣHTWi から素子温制御目標学習値Zactgg を算出するルーチンを実行する。ステップ705では積算ヒータ抵抗値ΣHTRi からヒータ抵抗学習値HTRGを算出する(図10)。ステップ706では学習完了フラグ(XZACGE)をオフにクリアする。次に、図7のステップ704の処理、すなわちヒータ積算電力量から素子温制御目標値を算出するルーチンについて説明する。
【0034】
図8は素子温制御目標学習値算出ルーチンのフローチャートである。本ルーチンは、所定の周期、例えば128msec毎に実行される。先ず、ステップ801では、ヒータの積算電力量ΣHTWi から平均電力量HTWAVを次式から算出する。
HTWAV=ΣHTWi /積算回数
ステップ802では、図9に示すマップを用いて平均電力量HTWAV(watt・h )からセンサ素子の劣化を推定する素子温制御目標学習値Zactgg の補正量 ZACOT(Ω)を算出する。ステップ803では、今回処理周期の素子温制御目標学習値Zactggiを次式から算出する。
【0035】
Zactggi=Zactggi-1 + ZACOT
ここで、Zactggi-1は前回処理周期の素子温制御目標学習値である。ステップ804では、バッテリバックアップのSRAMに上記のように学習した素子温制御目標学習値Zactggiを次式のように更新して記憶する。
Zactggb=Zactggi
図9はヒータ平均電力量から素子温制御目標学習値の補正量を算出するマップである。図9のマップから判るように、補正量 ZACOTは平均電力量HTWAVの増大に伴い大きい値に設定されている。これは、空燃比センサの劣化に伴い、センサ素子のインピーダンス特性が変化し、センサ素子の温度を高温にする制御、すなわち素子温制御目標学習値Zactggiを低くする制御が行われ、このためヒータへ供給する電力量は大となる。本発明は、それゆえ、ヒータへの供給電力量の平均電力量を算出し、算出した平均電力量が増大したとき素子のインピーダンスを増大するよう制御することにより、センサ素子やヒータ抵抗の過加熱を防止している。また、センサ素子やヒータ抵抗の過加熱を防止することにより、センサ素子やヒータ抵抗の早期劣化を防止し寿命を延ばすことができる。次に、図7のステップ705の処理、すなわち積算ヒータ抵抗値からヒータ抵抗学習値を算出するルーチンについて以下に説明する。
【0036】
図10はヒータ抵抗学習値算出ルーチンのフローチャートである。ステップ1001では、空燃比センサの素子インピーダンスフィードバックによるヒータの平均電力量HTWAVが所定範囲内か否かを判別する。このヒータの平均電力量HTWAVは、図8のステップ801で算出されたものを用いる。HTWAVが所定範囲内か否かの判別は、機関の排気温度が安定した機関の特定の運転状態、例えば機関アイドル時の学習条件が成立したときのHTWAVが、空燃比センサの初期品時のヒータ制御温度に相当するヒータ供給電力量HTWのワット数以内か否かにより判別する。上記判別結果がYESのとき、すなわち機関の特定の運転状態、例えば機関アイドル時の学習条件が成立したときは機関の排気温度が安定していると推定されるので、素子インピーダンスや素子温が変化せず安定している。したがって、ヒータ抵抗も安定していると判断されるのでステップ1002〜1008に進み、ステップ1002〜1008ではヒータ抵抗学習値HTRGおよび全通電目標ヒータ抵抗学習値HTRLMTの更新処理を実行する。一方、上記判別結果がNOのとき、すなわち機関アイドル時の学習条件が不成立のときは機関の排気温度が不安定であると推定されるので、素子インピーダンスや素子温が変化し不安定である。したがって、ヒータ抵抗も不安定であると判断されるのでヒータ抵抗学習値HTRGおよび全通電目標ヒータ抵抗学習値HTRLMTの更新処理を実行せず本ルーチンを終了する。
【0037】
ステップ1002では、図6のステップ606で算出した今回処理周期までのヒータ積算抵抗値ΣHTRi と積算回数とからヒータの平均抵抗値HTRAVを次式から算出する。
HTRAV=ΣHTRi /積算回数
ステップ1003では、前記学習条件成立時、すなわち機関アイドル時におけるヒータ抵抗学習値HTRGi をなまし演算により次式から算出する。
【0038】
HTRGi =(HTRGi-1 ×31+HTRAV)/32
このヒータ抵抗学習値HTRGi は、空燃比センサの暖機後、図5のステップ508における素子温フィードバック制御中のヒータ温度上限ガード値として、すなわち図5のステップ503のRHGとして使用される。すなわち、機関アイドル時は排気ガスの温度が低温で安定するのでヒータへの供給電力は一定となりヒータは高温で安定するので、この時のヒータ抵抗値を上限ガード値にし、ヒータの過加熱を防止してヒータの断線を防止する。
【0039】
ステップ1004では、機関始動時のヒータ全通電目標ヒータ抵抗値HTR1200を次式から算出する。
HTR1200=HTRG×k
ここで、kは温度係数である。上式により、ヒータ抵抗学習値HTRGが算出された学習条件下でのヒータ温度、例えば850°Cに対して空燃比センサ暖機時に制御目標となる1200°C相当のヒータ抵抗値HTR1200が求められる。この場合、温度係数kは、k=HTR1200/HTR850である。
【0040】
ステップ1005では、HTR1200が所定値KHTR1200GD以下か否かを判別し、HTR1200≦KHTR1200GDのときはステップ1006に進み、HTR1200>KHTR1200GDのときはステップ1007に進む。
ステップ1006では、機関始動時のヒータ全通電目標ヒータ抵抗学習値HTRLMTを次式から算出する。
【0041】
HTRLMT=HTR1200
ステップ1007では、下式のように、ヒータ全通電目標ヒータ抵抗学習値HTRLMTに所定値KHTR1200GDを設定し、上限ガードする。
HTRLMT=KHTR1200GD
ステップ1008では、ヒータ抵抗学習値HTRGi とヒータ全通電目標ヒータ抵抗学習値HTRLMTとをバックアップRAMに記憶する。
【0042】
上記ヒータ抵抗学習値HTRGi は、空燃比センサ暖機後の上限ヒータ温度ガード値として使用され、上記ヒータ全通電目標ヒータ抵抗学習値HTRLMTは、空燃比センサ暖機中の上限ヒータ温度ガード値として使用される。
以上図を用いて説明した本発明の実施形態において、ヒータの温度とヒータの抵抗値との関係の取得として、空燃比センサ活性化前に行うヒータの抵抗フィードバックによるヒータへの供給電力の制御におけるヒータの目標抵抗値としてのヒータ抵抗学習値の取得を例に上げて説明したが、本発明はこれに限定されるものでない。
【0043】
ヒータの温度とヒータ抵抗値との関係を取得することは、
1.ヒータの温度が或る温度(例:850℃、1200℃など)である時のヒータ抵抗値を取得すること、
2.ヒータが温度的な限界(それ以上電力供給して昇温させると断線等の異常を生ずる状態、もしくは、ヒータの寿命を考慮した場合に、それ以上の電力供給は望ましくない状態)である時のヒータ抵抗値を取得すること、または、
3.空燃比センサの素子インピーダンスフィードバック制御時におけるヒータの抵抗値の上限ガード値を取得すること、
を包含する。
【0044】
なお、上記3において、ヒータ抵抗がその目標抵抗値である状態であり続けたとしても、ヒータ寿命への影響が少ないと判断される抵抗値が上限ガード値としての目標抵抗値とされる。
本発明の他の実施形態として、例えば、
(1)空燃比センサ活性化前であっても、センサ素子インピーダンスによりセンサ素子温度を推定し、ヒータ供給電力を制御する装置において、ヒータ抵抗フィードバック制御はせずに、ヒータ抵抗値が、所定温度、例えば1200℃に対応する抵抗値を超えないようにガードする構成、および、
(2)空燃比センサ活性化前の上限ヒータ抵抗値についてはヒータ抵抗学習値を用いないで、ヒータ抵抗学習値は通常時の空燃比センサの素子インピーダンスフィードバック制御時における上限ヒータ抵抗値としてのみ用いる構成、
が考えられる。
【0045】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の酸素濃度検出装置によれば、ヒータ温度とヒータ抵抗値との関係を取得するために別のルーチンを設けることなく、短時間に上記関係を取得できる。
また、本発明の酸素濃度検出装置によれば、空燃比センサの素子温度と素子インピーダンスとの関係が空燃比センサが初期品のときの同関係と異なるとき、ヒータ温度とヒータ抵抗値との関係の取得を禁止するので、空燃比センサの経年変化するようなヒータ抵抗値が不安定なときのヒータ温度とヒータ抵抗値との関係の誤取得を回避できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による酸素濃度検出装置を備えた内燃機関の一実施形態の概略構成図である。
【図2】図1に示す空燃比センサおよびヒータの制御を示す図である。
【図3】酸素濃度検出素子の温度とインピーダンスの相関関係を示す図である。
【図4】ヒータ制御のタイムチャートである。
【図5】ヒータ制御ルーチンのフローチャートである。
【図6】機関アイドル時の素子劣化補正およびヒータ抵抗学習ルーチンの前半部フローチャートである。
【図7】機関アイドル時の素子劣化補正およびヒータ抵抗学習ルーチンの後半部フローチャートである。
【図8】素子温制御目標学習値算出算出ルーチンのフローチャートである。
【図9】ヒータ平均電力量から素子温制御目標学習値の補正量を算出するマップである。
【図10】ヒータ抵抗学習値算出ルーチンのフローチャートである。
【符号の説明】
1…シリンダブロック
9…エアフローメータ
18…スロットルポジションセンサ
19…吸気圧センサ
20…水温センサ
21…車速センサ
33、34…クランク角センサ
100…電子制御ユニット(ECU)
101…空燃比センサ
102…センサ素子
103…センサ回路
104…ヒータ
105…バッテリ
106…ヒータ回路
110…空燃比センサ制御ユニット(A/FCU)
200…機関

Claims (1)

  1. 内燃機関の排気通路に設けられた空燃比センサと、該空燃比センサを加熱するヒータと、該ヒータに供給する電力を制御するヒータ制御手段と、を備えた酸素濃度検出装置において、
    前記空燃比センサの活性化後に該空燃比センサの活性状態を維持するため行う、該空燃比センサの素子インピーダンスフィードバックによる前記ヒータへの供給電力の制御中に、前記内燃機関の特定の運転状態において取得される該ヒータの抵抗値に基づいて、前記ヒータの温度と該ヒータの抵抗値との関係を取得し、
    前記空燃比センサの素子温度と素子インピーダンスとの関係が該空燃比センサが初期品のときの同関係と異なるとき、前記ヒータの温度と該ヒータの抵抗値との関係の取得を禁止する、
    ことを特徴とする酸素濃度検出装置。
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