JP3513376B2 - フリップフロップ回路 - Google Patents

フリップフロップ回路

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JP3513376B2
JP3513376B2 JP31791297A JP31791297A JP3513376B2 JP 3513376 B2 JP3513376 B2 JP 3513376B2 JP 31791297 A JP31791297 A JP 31791297A JP 31791297 A JP31791297 A JP 31791297A JP 3513376 B2 JP3513376 B2 JP 3513376B2
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/3562Bistable circuits of the master-slave type
    • H03K3/35625Bistable circuits of the master-slave type using complementary field-effect transistors

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はスタティック型マス
タースレーブ方式のフリップフロップ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】微細加工技術等の進展により、LSI
(Large Scale Integrated circuit)の高速化、高集積
化が進んでいるが、高速で動作する大規模集積回路を実
用化するためには、LSIの低消費電力化は重要な技術
のひとつとなっている。すなわち、LSIを高速で動作
させると、消費電力は大きなものになり、安定に動作さ
せるためには発熱対策としてセラミック・パッケージの
採用や放熱フィン等が必要になるのでコストが高くなる
という問題があった。
【0003】また、近年の小型で軽量の携帯機器におい
ては電池で動作させるので使用時間の面からも低消費電
力化は重要である。特に高速クロックで動作するフリッ
プフロップ回路は消費電力が大きくなりやすいので、回
路構成により低消費電力化を図ることは有効である。
【0004】従来、以下説明するスタティック型マスタ
ー・スレーブ方式のフリップフロップ回路がCMOS
(Complementary Metal Oxide Semiconductor Field Ef
fect Transistor)の採用により、高速で比較的低消費
電力のためによく利用されている。図10にこの従来の
スタティック型マスタースレーブ方式フリップフロップ
回路を示す。
【0005】図10において、Dはデータ入力信号、C
Kはクロック入力信号、Qはデータ出力信号である。フ
リップフロップ回路に入力されるクロック信号CKはイ
ンバータ回路200で反転されて信号CKXとなり、さ
らに信号CKXはインバータ回路201で反転されて信
号CK1となる。信号CKXとCK1はトランスファー
ゲート202、205、206、209に印加され、こ
れらをオン/オフ制御する。
【0006】図11は1個のトランスファーゲートをト
ランジスタレベルで図示したものである。トランスファ
ーゲートはNチャネル型MOSFET(以下単に「NM
OS」という)210とPチャネルMOSFET(以下
単に「PMOS」という)211を並列となるように接
続したもので、NMOS210とPMOS211の各ゲ
ートには互いに反転した信号CK、CKXの入力により
オン/オフ制御を行う。
【0007】例えば、信号CKがハイレベル(以下
「H」と略す)で、信号CKXがロウレベル(以下
「L」と略す)である場合、NMOS210とPMOS
211はともにオンし、トランスファーゲートの両端の
AとYは接続される。一方、信号CKがLで信号CKX
がHである場合、NMOS210とPMOS211はと
もにオフし、トランスファーゲートの両端AとYは遮断
される。
【0008】図10の回路図において、クロック入力信
号CKがLである場合、インバータ回路200、201
により信号CKXはHとなり、信号CK1はLとなる。
したがって、トランスファーゲート202はオンし、マ
スターラッチではノード220にデータ入力信号Dが導
出される。データ入力信号DがLである場合で説明する
と、インバータ回路203によってノード221はHと
なり、さらにインバータ回路204によってノード22
2はLとなる。このとき、トランスファーゲート20
5、206はオフしており、マスターラッチに導出され
たデータはスレーブラッチには伝えられない。
【0009】次に、クロック信号CKがHとなると、イ
ンバータ回路200、201により信号CKXはLに、
信号CK1はHとなる。するとトランスファーゲート2
02はオフし、トランスファーゲート205、206は
オンする。これにより、マスターラッチでは、インバー
タ回路203、204とトランスファーゲート205に
よって読み込まれたデータの保持が行われる。
【0010】また、トランスファーゲート206がオン
することによりノード221の信号はスレーブラッチの
ノード223に導出される。そして、インバータ回路2
07によりデータ出力信号QはLになる。さらに、イン
バータ回路208によりノード224はHとなる。この
とき、トランスファーゲート209はオフしている。
【0011】次に、クロック信号CKがLとなると、ト
ランスファーゲート206がオフし、トランスファーゲ
ート209がオンするので、スレーブラッチではデータ
出力信号QがLとなるようにデータの保持が行われる。
【0012】したがって、クロック信号CKがLのとき
にデータ入力信号Dがマスターラッチに読み込まれ、ク
ロック信号CKがHとなったときにスレーブラッチにそ
のデータが転送され、データ出力信号Qが出力される。
それから、再びクロック信号CKがLとなったときに、
スレーブラッチによりデータ出力信号Qは保持される。
また、データ入力信号DがHであっても同様の動作によ
りデータ出力信号QがHとして出力されることになる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
フリップフロップ回路(図10)では、データ入力信号
Dの値にかかわらずクロック入力信号CKが変化する
と、インバータ回路200、201及びトランスファー
ゲート202、205、206、209を構成する6個
のPMOSと6個のNMOSでのゲート容量と、インバ
ータ回路200、201のドレイン容量の充放電による
電流が流れる。
【0014】また、インバータ回路200、201では
それぞれPMOSとNMOSが直列に接続されている
が、クロック入力信号CKが変化する際にインバータ回
路200、201におけるPMOS及びNMOSが同時
にオンする期間が存在し、その期間に電源電圧とグラン
ドレベルGNDとの間に貫通電流が流れるので消費電流
が大きいという問題があった。
【0015】また、図12に示すように、PMOSはゲ
ート電圧が電源電圧VDDよりしきい値電圧VthP下
がった電圧VDD−VthPより低い範囲R1でオン
し、一方、NMOSはゲート電圧がしきい値電圧Vth
nより高い範囲R2でオンする。
【0016】例えば、あるインバータ回路において入力
されるクロック信号の立ち上がり時では、まずクロック
信号がLであるためにPMOSはオンし、NMOSはオ
フしているが、信号がVthnまで上昇すると、クロッ
ク信号がゲートに入力されているNMOSがオンする。
さらにVDD−VthPまで上昇するとPMOSがオフ
する。
【0017】したがって、信号CKXの立ち上がりで
は、クロック信号CKXがVthnからVDD−Vth
Pに到達するまでトランスファーゲート202のNMO
Sと、トランスファーゲート205のPMOSが同時に
オンする期間が存在する。また、信号CK1の立ち下が
りでは、トランスファーゲート202のPMOSと、ト
ランスファーゲート205のNMOSが同時にオンする
期間が存在する。
【0018】そのため、マスターラッチで保持している
データと異なるデータを読み込む際に、データ入力信号
Dとインバータ回路204の出力側でトランスファーゲ
ート202、205を介して貫通電流が流れるという問
題があった。また、マスターラッチ側からスレーブラッ
チにデータを読み出すときに、インバータ回路203の
出力とインバータ回路208の出力が異なるときにもト
ランスファーゲート206、209を介して貫通電流が
流れてしまっていた。
【0019】また、信号CKX、CK1はインバータ回
路200、201で生成されているので、位相差が生ず
る。そのため、トランスファーゲート202、205は
必ずしも同時にオン/オフ動作しない。このことは、デ
ータ入力信号Dとインバータ回路204の出力とが異な
るときにはトランスファーゲート202、205を介し
て貫通電流が流れる原因となっていた。
【0020】さらには、この従来のフリップフロップ回
路(図10)では、クロック信号CKの入力からインバ
ータ回路200、201で信号CKX、CK1を生成
し、これらの信号CKX、CK1で動作しているので、
クロック入力信号CKよりも動作が遅延しており、クロ
ック入力信号CKの立ち下がりの際にマスターラッチに
データが保持されるまでのデータホールドタイムを十分
に長くする必要があるという問題もあった。
【0021】本発明は上記課題を解決するもので、その
目的は低消費電力で動作するCMOSフリップフロップ
回路を提供することにある。
【0022】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明では、マスターラッチとスレーブラッチから成
り、データ入力信号及びクロック入力信号の入力により
動作するCMOSスタティック型のフリップフロップ回
路において、前記マスターラッチは、前記クロック入力
信号が第1のレベルのときに前記データ入力信号に基づ
いて第1のノードの状態を設定するデータ読込回路と、
前記クロック入力信号が第2のレベルのときに前記デー
タ読込回路によって設定された状態を保持する第1のデ
ータ保持回路と、前記クロック入力信号及び前記第1の
ノードの状態を入力し、前記クロック入力信号が前記第
1のレベルのときに第2のノードの状態を一定の状態に
保持し、一方、前記クロック入力信号が前記第2のレベ
ルのときに前記第1のノードの状態に基づいて前記第2
の状態を設定する信号切換回路とを有し、前記スレーブ
ラッチは、前記クロック入力信号が前記第2のレベルの
ときに前記第2のノードの状態に基づいて第3のノード
の状態を設定するデータ読出回路と、前記クロック入力
信号が前記第1のレベルのときに前記第3のノードを前
記データ読出回路で設定された状態を保持する第2のデ
ータ保持回路とを有するようにしている。
【0023】このような構成によると、フリップフロッ
プ回路はクロック入力信号が例えばLであるように第1
のレベルであるときに、マスターラッチにおけるデータ
読込回路でデータ入力信号を読み込み、第1のノードの
状態をデータ入力信号の反転した信号状態等に設定す
る。信号切換回路では第1のノードの状態にかかわりな
く、第2のノードを例えばHのように一定に保持する。
これにより、スレーブラッチではデータ読出回路での読
み取りが行われず、データの伝搬は禁止される。次に、
クロック入力信号が例えばHであるように第2のレベル
となると、マスターラッチでは、第1のデータ保持回路
が動作し、第1のノードの状態を保持する。そして、信
号切換回路では第1のノードの状態に基づいて第2のノ
ードの状態を設定する。スレーブラッチではデータ読出
回路によって第2のノードの状態を読み取り、その状態
に基づいて第3のノードの設定を行う。この第3のノー
ドの状態からフリップフロップ回路の出力が得られる。
再びクロック入力信号が第1のレベルとなると、マスタ
ーラッチではデータの読み込みが行われ、一方、スレー
ブラッチでは第2のデータ保持回路によってデータの保
持が行われる。これにより、第3のノードの状態を一定
に保ってフリップフロップ回路の出力を安定に保つ。
【0024】また、本発明では上記構成において、さら
に、前記クロック入力信号がゲートに接続されているト
ランジスタを有する回路を、前記データ読込回路と前記
第2のデータ保持回路とで共用するようにしている。
【0025】このような構成では、データ読込回路と第
2のデータ保持回路はともに前記クロック入力信号が第
1のレベルであるときに動作する回路であるので、クロ
ック入力信号がゲートに接続されているトランジスタを
有する回路を共用することにより、フリップフロップ回
路では全体としてトランジスタ数を少なくすることがで
きる。また、第1のデータ保持回路とデータ読出回路に
ついても同様にクロック入力信号が第2のレベルである
とき動作する回路であるので、クロック入力信号がゲー
トに接続されているトランジスタを有する回路を共用す
ることにより、トランジスタ数を少なくすることができ
る。
【0026】また、本発明では上記構成において、さら
に、前記第1のノードを入力するインバータ回路と、前
記インバータ回路の出力に基づいて前記第1のノードと
一定電圧との接続を遮断制御するトランジスタとを備え
るようにしている。
【0027】このような構成によると、フリップフロッ
プ回路はクロック入力信号が第1のレベルから第2のレ
ベルに変化するときにあらかじめ電源電圧又はグランド
レベル等の一定電圧と遮断されているので第1のノード
では貫通電流が流れないようになっている。
【0028】また、本発明では上記構成において、さら
に、前記信号切換回路はNAND回路であり、前記NA
ND回路を構成する2個の直列に接続されたNMOSの
うち、ソースが一定電圧に接続されている一方の前記N
MOSのゲートは前記第1のノードに接続され、他方の
前記NMOSのゲートには前記クロック入力信号が入力
されるようにしている。
【0029】このような構成によると、クロック入力信
号の変化によりNMOSがオンし、第2のノードの状態
がHからLに変化する場合に、トランジスタ等のドレイ
ン容量によって蓄積された電荷が充放電電流となって流
れるが、上記NMOSを逆に配置したときよりもトラン
ジスタ1個分ドレイン容量が小さいため充放電電流が小
さくなる。また、信号切換回路がNOR回路であるとき
にも、同様に直列に接続されたPMOSについて、一定
電圧側に接続されている方を第1のノードに接続し、他
方にクロック入力信号が入力されるようにすることによ
って充放電電流を小さくしている。
【0030】また、本発明では上記構成において、さら
に、前記信号切換回路の一部と、前記インバータ回路の
一部を共用している。例えば、信号切換回路がNAND
回路の場合には、第1のノードに接続されているNMO
Sをインバータ回路のNMOSとして共用することがで
きる。これによって、フリップフロップ回路では全体と
してトランジスタ数を少なくすることができる。
【0031】また、本発明では上記構成において、さら
に、前記信号切換回路はNAND回路であり、前記第1
のデータ保持回路では、前記第1のノードと一定電圧の
間に前記一定電圧側から前記インバータ回路の出力がゲ
ートに入力される第1のNMOSと、前記クロック入力
信号がゲートに入力される第2のNMOSとが直列とな
るように挿入されており、前記データ読出回路では、前
記第2のノードにゲートが接続されているPMOSと、
前記クロック入力信号がゲートに入力され、ソースが前
記第1のNMOSと前記第2のNMOSとの接続中点に
接続されている第3のNMOSとが設けられ、前記PM
OSと前記第3のNMOSの接続中点が前記第3のノー
ドに接続されるようにしている。
【0032】このような構成によると、フリップフロッ
プ回路は第1のNMOSによってクロック入力信号の切
換時に第1のノードに貫通電流が流れないようになって
いる。また、このNMOSをスレーブラッチでのデータ
読出回路で共用されているので、トランジスタ数の減少
が図られている。
【0033】また、本発明では上記構成において、さら
に、前記信号切換回路はNOR回路であり、前記第1の
データ保持回路では、前記第1のノードと一定電圧の間
に前記一定電圧側から前記インバータ回路の出力がゲー
トに入力される第1のPMOSと、前記クロック入力信
号がゲートに入力される第2のPMOSとが直列となる
ように挿入されており、前記データ読出回路では、前記
第2のノードにゲートが接続されているNMOSと、前
記クロック入力信号がゲートに入力され、ソースが前記
第1のPMOSと前記第2のPMOSとの接続中点に接
続されている第3のPMOSとが設けられ、前記NMO
Sと前記第3のPMOSの接続中点が前記第3のノード
に接続されるようにしている。このような構成では、前
述の構成と同様に、貫通電流の抑制とトランジスタ数の
減少が図られている。
【0034】また、本発明では上記構成において、さら
に、前記信号切換回路はNAND回路であり、前記NA
ND回路を構成する2個の直列に接続されたNMOSの
うち、ゲートに前記クロック入力信号が入力される前記
NMOSは一定電圧側に接続され、他方の前記NMOS
のゲートは前記第1のノードに接続され、ソースが前記
直列に接続されたNMOSの接続中点に、ドレインが前
記第1のノードに、ゲートが前記インバータ回路の出力
に接続されているNMOSが設けられている。
【0035】このような構成では、クロック入力信号の
切り換え時に第1のノードに貫通電流が流れないように
なっており、また、NAND回路のNMOSが第1のデ
ータ保持回路に共用することができるので、トランジス
タ数を少なくすることが可能である。
【0036】また、本発明では上記構成において、さら
に、前記信号切り換え回路はNOR回路であり、前記N
OR回路を構成する2個の直列に接続されたPMOSの
うち、ゲートに前記クロック入力信号が入力される前記
PMOSは一定電圧側に接続され、他方の前記PMOS
のゲートは前記第1のノードに接続され、ソースが前記
直列に接続されたPMOSの接続中点に、ドレインが前
記第1のノードに、ゲートが前記インバータ回路の出力
に接続されているPMOSが設けられている。このよう
な構成では、前述の構成と同様にクロック入力信号の切
り換え時に第1のノードに貫通電流が流れないようにな
っており、また、NOR回路のPMOSが第1のデータ
保持回路で共用することができ、トランジスタ数を少な
くすることが可能である。
【0037】しかして、本発明のフリップフロップ回路
は、請求項1のように、ソースが電源に接続され、ゲー
トにクロック入力信号が与えられる第1PMOSトラン
ジスタ(11)と、ソースが第1PMOSトランジスタ
のドレインに接続され、ゲートにデータ入力信号が入力
される第2PMOSトランジスタ(12)と、ドレイン
が第2PMOSトランジスタのドレインに接続され、ゲ
ートが第2ノード(2)に接続された第1NMOSトラ
ンジスタ(21)と、ドレインが第1NMOSトランジ
スタのソースに接続され、ゲートに前記データ入力信号
が与えられ、ソースがグランドに接続された第2NMO
Sトランジスタ(22)と、ゲートに前記クロック入力
信号が与えられ、ドレインが第2NMOSトランジスタ
のドレインに接続されソースがグランドに接続された第
3NMOSトランジスタ(23)と、第2PMOSトラ
ンジスタのドレインと第1NMOSトランジスタのドレ
インの接続点である第1ノード(1)にゲートが接続さ
れ、ソースが電源に接続され、ドレインが第2ノードに
接続された第3PMOSトランジスタ(14)と、ゲー
トに前記クロック入力信号が与えられ、ドレインが第2
ノード(2)に接続された第4NMOSトランジスタ
(24)と、ゲートが第1ノードに接続され、ソースが
グランドに接続され、ドレインが第4NMOSトランジ
スタのソースに接続された第5NMOSトランジスタ
(25)と、ゲートに前記クロック入力信号が与えら
れ、ソースが電源に接続され、ドレインが第2ノードに
接続された第4PMOSトランジスタ(15)と、ゲー
トが第2ノードに接続されソースが電源に接続され、ド
レインが第1ノードに接続された第5PMOSトランジ
スタ(13)と、ゲートが第2ノードに接続されソース
が電源に接続され、ドレインが第3ノード(3)に接続
された第6PMOSトランジスタ(16)と、ゲートが
第2ノードに接続され、ドレインが第3ノードに接続さ
れた第6NMOSトランジスタ(26)と、ゲートに前
記クロック入力信号が与えられ、ソースがグランドに接
続され、ドレインが第6NMOSトランジスタのソース
に接続された第7NMOSトランジスタ(27)と、ゲ
ートが出力端子(Q)に接続され、ドレインが第6NM
OSトランジスタのソースに接続され、ソースがグラン
ドに接続された第8NMOSトランジスタ(28)と、
第3ノードの出力を反転して出力端子に導出するインバ
ータ(20)と、ゲートが出力端子に接続され、ドレイ
ンが第3ノードに接続されソースが第1PMOSトラン
ジスタのドレインに接続された第7PMOSトランジス
タ(17)と、から成っている。なお、上記において、
()内の数字、記号は図面に記載のものである。ここ
で、第1PMOSトランジスタ(11)、第2PMOS
トランジスタ(12)、第1NMOSトランジスタ(2
1)、第2NMOSトランジスタ(22)はデータ読込
回路(102)を構成し、第5PMOSトランジスタ
(13)は第1のデータ保持回路(103)を構成し、
第3PMOSトランジスタ(14)、第4PMOSトラ
ンジスタ(15)、第4NMOSトランジスタ(2
4)、第5NMOSトランジスタ(25)は切換回路
(104)を構成し、第6PMOSトランジスタ(1
6)、第6NMOSトランジスタ(26)、第7NMO
Sトランジスタ(27)はデータ読出回路(105)を
構成し、第7PMOSトランジスタ(17)、第8NM
OSトランジスタ(28は第2データ保持回路(10
6)を構成している。また、本発明では、請求項2のよ
うに、フリップフロップは、ソースがグランドに接続さ
れ、ゲートにクロック入力信号が与られる第1NMOS
トランジスタ(41)と、ソースが第1NMOSトラン
ジスタのドレインに接続され、ゲートにデータ入力信号
が入力される第2NMOSトランジスタ(42)と、
レインが第2NMOSトランジスタのドレインに接続さ
れ、ゲートが第2ノード(2)に接続された第1PMO
Sトランジスタ(31)と、ドレインが第1PMOSト
ランジスタのソースに接続され、ゲートに前記データ入
力信号が与えられ、ソースが電源に接続された第2PM
OSトランジスタ(32)と、ゲートに前記クロック入
力信号が与えられ、ドレインが第2PMOSトランジス
タのドレインに接続され、ソースが電源に接続された第
3PMOSトランジスタ(33)と、第2NMOSトラ
ンジスタのドレインと第1PMOSトランジスタのドレ
インの接続点である第1ノード(1)にゲートが接続さ
れ、ソースがグランドに接続され、ドレインが第2ノー
ドに接続された第3NMOSトランジスタ(44)と、
ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ドレインが
第2ノード(2)に接続された第4PMOSトランジス
タ(34)と、ゲートが第1ノードに接続され、ソース
が電源に接続され、ドレインが第4PMOSトランジス
タのソースに接続された第5PMOSトランジスタ(3
5)と、ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソ
ースがグランドに接続され、ドレインが第2ノードに接
続された第4NMOSトランジスタ(45)と、ゲート
が第2ノードに接続され、ソースがグランドに接続さ
れ、ドレインが第1ノードに接続された第5NMOSト
ランジスタ(43)と、ゲートが第2ノードに接続さ
れ、ソースがグランドに接続され、ドレインが第3ノー
ド(3)に接続された第6NMOSトランジスタ(4
6)と、ゲートが第2ノードに接続され、ドレインが第
3ノードに接続された第6PMOSトランジスタ(3
6)と、ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソ
ースが電源に接続され、ドレインが第6PMOSトラン
ジスタのソースに接続された第7PMOSトランジスタ
(37)と、ゲートが出力端子(Q)に接続され、ドレ
インが第6PMOSトランジスタのソースに接続され、
ソースが電源に接続された第8PMOSトランジスタ
(38)と、第3ノードの出力を反転して出力端子に導
出するインバータ(40)と、ゲートが出力端子に接続
され、ドレインが第3ノードに接続され、ソースが第1
NMOSトランジスタのドレインに接続された第7NM
OSトランジスタ(47)と、から成っている。また、
本発明では、請求項3のように、フリップフロップは、
ソースが電源に接続され、ゲートにクロック入力信号が
与えられる第1PMOSトランジスタ(11)と、ソー
スが第1PMOSトランジスタのドレインに接続され、
ゲートにデータ入力信号が入力される第2PMOSトラ
ンジスタ(12)と、ドレインが第2PMOSトランジ
スタのドレインに接続され、ゲートが第2ノードに接続
された第1NMOSトランジスタ(21)と、ドレイン
が第1NMOSトランジスタのソースに接続され、ゲー
トに前記データ入力信号が与えられ、ソースがグランド
に接続された第2NMOSトランジスタ(22)と、第
2PMOSトランジスタのドレインと第1NMOSトラ
ンジスタのドレインの接続点である第1ノード(1)に
ゲートが接続され、ソースが電源に接続され、ドレイン
が第2ノードに接続された第3PMOSトランジスタ
(14)と、第1ノードの電圧を反転する第1インバー
タ(51)と、ゲートに第1インバータの出力が与えら
れ、ドレインが第1ノードに接続された第3NMOSト
ランジスタ(52)と、ゲートが第1ノードに接続さ
れ、ドレインが第2ノード(2)に接続され、ソースが
第3NMOSトランジスタのソースに接続された第4N
MOSトランジスタ(53)と、ゲートに前記クロック
入力信号が与えられ、ソースがグランドに接続され、ド
レインが第4NMOSトランジスタのソースに接続され
た第5NMOSトランジスタ(54)と、ゲートに前記
クロック入力信号が与えられ、ソースが電源に接続さ
れ、ドレインが第2ノードに接続された第4PMOSト
ランジスタ(15)と、ゲートが第2ノードに接続され
ソースが電源に接続され、ドレインが第1ノードに接続
された第5PMOSトランジスタ(13)と、ゲートが
第2ノードに接続されソースが電源に接続され、ドレイ
ンが第3ノードに接続された第6PMOSトランジスタ
(16)と、ゲートが第2ノードに接続され、ドレイン
が第3ノードに接続された第6NMOSトランジスタ
(26)と、ゲートに前記クロック入力信号が与えら
れ、ソースがグランドに接続され、ドレインが第6NM
OSトランジスタのソースに接続された第7NMOSト
ランジスタ(27)と、ゲートが出力端子(Q)に接続
され、ドレインが第6NMOSトランジスタのソースに
接続され、ソースがグランドに接続された第8NMOS
トランジスタ(28)と、第3ノードの出力を反転して
出力端子に導出する第2インバータ(20)と、ゲート
が出力端子に接続され、ドレインが第3ノードに接続さ
れ、ソースが第1PMOSトランジスタのドレインに接
続された第7PMOSトランジスタ(17)と、から成
っている。また、本発明では、請求項4のように、フリ
ップフロップは、ソースが電源に接続され、ゲートにク
ロック入力信号が与えられる第1PMOSトランジスタ
(61)と、ソースが第1PMOSトランジスタのドレ
インに接続され、ゲートにデータ入力信号が入力される
第2PMOSトランジスタ(62)と、ドレインが第2
PMOSトランジスタのドレインに接続され、ゲートに
前記データ入力信号が与えられる第1NMOSトランジ
スタ(71)と、ドレインが第1NMOSトランジスタ
のソースに接続され、ゲートが第2ノード(2)に接続
され、ソースがグランドに接続された第2NMOSトラ
ンジスタ(72)と、第2PMOSトランジスタのドレ
インと第1NMOSトランジスタのドレインの接続点で
ある第1ノード(1)にドレインが接続され、ゲートに
前記クロック入力信号が与えられる第3NMOSトラン
ジスタ(73)と、ドレインが第3NMOSトランジス
タのソースに接続され、ソースがグランドに接続された
第4NMOSトランジスタ(74)と、第1ノード
(1)にゲートが接続され、ソースが電源に接続され、
ドレインが第2ノードに接続された第3PMOSトラン
ジスタ(64)と、第1ノード(1)にゲートが接続さ
れ、ソースが電源に接続され、ドレインが第4NMOS
トランジスタのドレインに接続された第4PMOSトラ
ンジスタ(65)と、ゲートに前記クロック入力信号が
与えられ、ドレインが第2ノード(2)に接続された第
5NMOSトランジスタ(75)と、ゲートが第1ノー
ドに接続され、ソースがグランドに接続され、ドレイン
が第4NMOSトランジスタのソースと第4PMOSト
ランジスタのドレインに接続された第6NMOSトラン
ジスタ(76)と、ゲートに前記クロック入力信号が与
えられ、ソースが電源に接続され、ドレインが第2ノー
ドに接続された第5PMOSトランジスタ(66)と、
ゲートが第2ノードに接続されソースが電源に接続さ
れ、ドレインが第1ノードに接続された第6PMOSト
ランジスタ(63)と、ゲートが第2ノードに接続さ
れ、ソースが電源に接続された第7PMOSトランジス
タ(67)と、ゲートに前記クロック入力信号が与えら
れ、ソースが第4NMOSトランジスタのドレインに接
続され、ドレインが第7PMOSトランジスタのドレイ
ンに接続された第7NMOSトランジスタ(77)と、
ゲートが出力端子(Q)に接続され、ドレインが第6P
MOSトランジスタのドレインと第7NMOSトランジ
スタのドレインの接続点である第3ノードに接続された
第8PMOSトランジスタ(68)と、第3ノードの出
力を反転して出力端子に導出するインバータ(70)
と、ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第3ノー
ドに接続されソースが第1NMOSトランジスタのソー
スに接続された第8NMOSトランジスタ(78)と、
から成っている。また、本発明では、請求項5のよう
に、フリップフロップは、ソースがグランドに接続さ
れ、ゲートにクロック入力信号が与えられる第1NMO
Sトランジスタ(91)と、ソースが第1NMOSトラ
ンジスタのドレインに接続され、ゲートにデータ入力信
号が入力される第2NMOSトランジスタ(92)と、
ドレインが第2NMOSトランジスタのドレインに接続
され、ゲートに前記データ入力信号が与えられる第1P
MOSトランジスタ(81)と、ドレインが第1PMO
Sトランジスタのソースに接続され、ゲートが第2ノー
ド(2)に接続され、ソースが電源に接続された第2P
MOSトランジスタ(82)と、第2NMOSトランジ
スタのドレインと第1PMOSトランジスタのドレイン
の接続点である第1ノード(1)にドレインが接続さ
れ、ゲートに前記クロック入力信号が与えられる第3P
MOSトランジスタ(83)と、ドレインが第3PMO
Sトランジスタのソースに接続され、ソースが電源に接
続された第4PMOSトランジスタ(84)と、第1ノ
ード(1)にゲートが接続され、ソースがグランドに接
続され、ドレインが第2ノードに接続された第3NMO
Sトランジスタ(94)と、第1ノード(1)にゲート
が接続され、ソースがグランドに接続され、ドレインが
第4PMOSトランジスタのゲートに接続された第4N
MOSトランジスタ(95)と、ゲートに前記クロック
入力信号が与えられ、ドレインが第2ノード(2)に接
続された第5PMOSトランジスタ(85)と、ゲート
が第1ノードに接続され、ソースが電源に接続され、ド
レインが第4PMOSトランジスタのソースと第4NM
OSトランジスタのドレインに接続された第6PMOS
トランジスタ(86)と、ゲートに前記クロック入力信
号が与えられ、ソースがグランドに接続され、ドレイン
が第2ノードに接続された第5NMOSトランジスタ
(96)と、ゲートが第2ノードに接続され、ソースが
グランドに接続され、ドレインが第1ノードに接続され
た第6PMOSトランジスタ(93)と、ゲートが第2
ノードに接続され、ソースがグランドに接続された第7
NMOSトランジスタ(97)と、ゲートに前記クロッ
ク入力信号が与えられ、ソースが第4PMOSトランジ
スタのドレインに接続され、ドレインが第7NMOSト
ランジスタのドレインに接続された第7PMOSトラン
ジスタ(87)と、ゲートが出力端子(Q)に接続さ
れ、ドレインが第7NMOSトランジスタのドレインと
第7PMOSトランジスタのドレインの接続点である第
3ノードに接続され、ソースが第1PMOSトランジス
タのソースに接続された第8PMOSトランジスタ(8
8)と、第3ノードの出力を反転して出力端子に導出す
るインバータ(90)と、ゲートが出力端子に接続さ
れ、ドレインが第3ノードに接続されソースが第2PM
OSトランジスタのソースに接続された第8PMOSト
ランジスタ(88)と、から成っている。また、本発明
では、請求項6のように、ソースがグランドに接続さ
れ、ゲートにクロック入力信号が与えられる第1NMO
Sトランジスタ(41)と、ソースが第1NMOSトラ
ンジスタのドレインに接続され、ゲートにデータ入力信
号が入力される第2NMOSトランジスタ(42)と、
ドレインが第2NMOSトランジスタのドレインに接続
され、ゲートが第2ノードに接続された第1PMOSト
ランジスタ(33)と、ドレインが第1PMOSトラン
ジスタのソースに接続され、ゲートに前記データ入力信
号が与えられ、ソースが電源に接続された第2PMOS
トランジスタ(32)と、第2NMOSトランジスタの
ドレインと第1PMOSトランジスタのドレインの接続
点である第1ノード(1)にゲートが接続され、ソース
がグランドに接続され、ドレインが第2ノードに接続さ
れた第3NMOSトランジスタ(44)と、 第1ノード
の電圧を反転する第1インバータ(120)と、ゲート
に第1インバータの出力が与えられ、ドレインが第1ノ
ードに接続された第3PMOSトランジスタ(121)
と、ゲートが第1ノードに接続され、ドレインが第2ノ
ード(2)に接続され、ソースが第3PMOSトランジ
スタのソースに接続された第4PMOSトランジスタ
(123)と、ゲートに前記クロック入力信号が与えら
れ、ソースが電源に接続され、ドレインが第4PMOS
トランジスタのソースに接続された第5PMOSトラン
ジスタ(122)と、ゲートに前記クロック入力信号が
与えられ、ソースがグランドに接続され、ドレインが第
2ノードに接続された第4NMOSトランジスタ(4
5)と、ゲートが第2ノードに接続されソースがグラン
ドに接続され、ドレインが第1ノードに接続された第5
NMOSトランジスタ(43)と、ゲートが第2ノード
に接続されソースがグランドに接続され、ドレインが第
3ノードに接続された第6NMOSトランジスタ(4
6)と、ゲートが第2ノードに接続され、ドレインが第
3ノードに接続された第6PMOSトランジスタ(3
6)と、ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソ
ースが電源に接続され、ドレインが第6PMOSトラン
ジスタのソースに接続された第7PMOSトランジスタ
(37)と、ゲートが出力端子(Q)に接続され、ドレ
インが第6PMOSトランジスタのソースに接続され、
ソースが電源に接続された第8PMOSトランジスタ
(38)と、第3ノードの出力を反転して出力端子に導
出する第2インバータ(40)と、ゲートが出力端子に
接続され、ドレインが第3ノードに接続され、ソースが
第1NMOSトランジスタのドレインに接続された第7
NMOSトランジスタ(47)と、から成っている。
【0038】
【発明の実施の形態】<第1の実施形態>以下、本発明
の実施形態について説明する。図1は後述する各実施形
態の基本的概念を示すブロック図である。フリップフロ
ップ回路はマスターラッチ100とスレーブラッチ10
1とから成る。マスターラッチ100はクロック入力信
号CKとデータ入力信号Dを入力する。マスターラッチ
100はデータ読込回路102、データ保持回路103
及び信号切換回路104を備える。一方、スレーブラッ
チ101はデータ読出回路105、データ保持回路10
6及びインバータ回路107を備える。
【0039】マスターラッチ100では、クロック入力
信号CKがHのように第1のレベルのときにデータ読込
回路102によってデータ入力信号Dが読み込まれ、ノ
ード1の状態をデータ入力信号Dに基づいて設定する。
そして、信号切換回路104はNAND回路やNOR回
路等であってクロック入力信号CKによってノード2を
Hのように一定の状態に保持する。このとき、スレーブ
ラッチ101ではデータ読出回路105でデータの読み
取りを行わず、データの伝搬が遮断される。
【0040】次に、クロック入力信号CKがLのように
第2のレベルとなると、データ保持回路103によって
データ入力信号Dの状態にかかわりなくノード1の状態
が前述の状態に保持される。そして、信号切換回路10
4はノード1の状態に基づいてノード2の状態を設定す
る。スレーブラッチ101ではノード2の状態をデータ
読出回路105で読み取り、ノード3の状態をノード2
の状態に基づいて設定する。図1ではノード3からイン
バータ回路107によってデータ出力信号Qが得られる
ようにしているが、本発明は特にこの構成に限るもので
ない。
【0041】次に、クロック入力信号CKが第1のレベ
ルとなると、マスターラッチではデータ読込回路102
によってデータ入力信号Dの読み込みが行われる。ま
た、スレーブラッチ101ではノード2からのデータの
読み出しを中止し、データ保持回路106によってノー
ド3の状態が保持される。これによって、データ出力信
号Qが安定に保たれる。
【0042】また、上記従来のフリップフロップ回路
(図10)では、トランスファーゲート(図11)を用
いた構成としてたが、以下説明するように各実施形態で
はトランスファーゲートを用いていないので1相でかつ
1極性のクロック入力信号CKで動作するようになって
いる。
【0043】図2は上述の基本概念に基づく第1の実施
形態のフリップフロップ回路の回路図である。本回路
は、PMOS11〜17、NMOS21〜28及びイン
バータ回路20から構成されている。
【0044】PMOS11のソースは電源電圧VDDに
接続され、ゲートはクロック入力信号CKに接続され、
ドレインはノード4に接続されている。尚、「ゲートは
クロック入力信号CKに接続され」とは、そのゲートに
クロック入力信号CKが入力されることを意味する。以
下、データ入力信号D等についても同様の意味で使用す
る。
【0045】PMOS12のソースはノード4に、ゲー
トはデータ入力信号Dに、ドレインはノード1に接続さ
れている。PMOS13のソースは電源電圧VDDに、
ゲートはノード2に、ドレインはノード1に接続されて
いる。NMOS21のソースはノード5に、ゲートはノ
ード2に、ドレインはノード1に接続されている。NM
OS22のソースはグランドレベルGNDに、ゲートは
データ入力信号Dに、ドレインはノード5に接続されて
いる。NMOS23のソースがグランドレベルGND
に、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインはノー
ド5に接続されている。
【0046】そして、PMOS14のソースは電源電圧
VDDに、ゲートはノード1に、ドレインはノード2に
接続されている。PMOS15のソースは電源電圧VD
Dに、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインはノ
ード2に接続されている。NMOS24のソースはノー
ド6に、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインは
ノード2に接続されている。NMOS25のソースはグ
ランドレベルGNDに、ゲートはノード1に、ドレイン
はノード6に接続されている。
【0047】以上、PMOS11〜15とNMOS21
〜25によってマスターラッチが構成されている。ま
た、PMOS14、15とNMOS24、25によって
NAND回路10が構成されている。
【0048】また、PMOS16のソースは電源電圧V
DDに、ゲートはノード2に、ドレインはノード3に接
続されている。PMOS17のソースはノード4に、ゲ
ートはデータ出力信号Qに、ドレインはノード3に接続
されている。NMOS26のソースはノード7に、ゲー
トはノード2に、ドレインはノード3に接続されてい
る。NMOS27のソースはグランドレベルGNDに、
ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインはノード7
に接続されている。
【0049】NMOS28のソースはグランドレベルG
NDに、ゲートはデータ出力信号Qに、ドレインはノー
ド7に接続されている。そして、ノード3はインバータ
回路20の入力に、インバータ回路20の出力がデータ
出力信号Qに接続されている。以上、PMOS16、1
7、NMOS26〜28及びインバータ回路20によっ
てスレーブラッチが構成されている。
【0050】上記マスターラッチは、クロック入力信号
CKがLの期間にデータ入力信号Dを読み込み、クロッ
ク入力信号CKがHの期間では読み込んだデータに基づ
いてノード2に保持する。一方、上記スレーブラッチ
は、クロック入力信号CKがHの期間にノード2の状態
を読み出してデータ出力信号Qの出力を行い、クロック
入力信号CKがLの期間にそのデータ出力の保持を行
う。
【0051】次に、その動作について詳しく説明する。
データ入力信号DがLでクロック入力信号CKがLであ
る場合、PMOS11、12はオンし、NMOS22、
23はオフしている。また、NAND回路10の入力は
ノード1とクロック入力信号CKであるが、この場合、
クロック入力信号CKがLであるので、NAND回路1
0の出力であるノード2はHとなっている。これによ
り、PMOS13はオフし、ノード1には電源電圧VD
Dが導出されてノード1はHとなる。
【0052】一方、スレーブラッチでは、ノード2がH
であるためPMOS16がオフし、クロック入力信号C
KがLであるためNMOS27はオフしている。したが
って、データ入力信号Dよりマスターラッチに読み込ま
れたデータは、スレーブラッチには伝搬されない。この
ときのノード1、2の状態を図3に真理値表の形式で示
している。
【0053】次に、クロック入力信号CKがHに立ち上
がると、ノード1がHの状態でクロック入力信号CKが
Hとなるので、NAND回路10の出力であるノード2
はLとなる。すると、PMOS13がオンしてNMOS
21がオフし、NMOS23がオンするので、データ入
力信号Dの値にかかわらずノード1はHに保持される。
一方、スレーブラッチでは、NMOS27がオンとな
り、ノード2がLとなるのでPMOS16がオンし、N
MOS26がオフする。これにより、ノード3はHとな
り、インバータ回路20によって出力信号Qはノード3
の状態を反転してLとなる。図3では前述の状態から次
段の状態となり、以下説明する各状態についても図3に
示している。
【0054】次に、クロック入力信号CKがLになる
と、マスターラッチでは新たなデータ入力の読み込みを
開始し、データ入力信号DがLであるときには、上述の
ようにノード1とノード2はともにHとなる。一方、ス
レーブラッチでは、PMOS16がオンし、NMOS2
7、28がオフとなるので、マスターラッチからのデー
タの読み出しは中止されて、PMOS11、17がオン
であるため、ノード3の状態はHに保持され、データ出
力信号QはLに保持される。
【0055】したがって、クロック入力信号CKがLで
ある時にマスターラッチに読み込まれたデータ入力信号
Dの値Lが、クロック入力信号CKの立ち上がりに同期
してスレーブラッチに読み出され、データ出力信号Qが
Lとなるマスタースレーブ方式のフリップフロップ回路
としての動作が実現されている。
【0056】また、データ入力信号DがHでクロック入
力信号CKがLである場合、NAND回路10の出力で
あるノード2はデータ入力信号DにかかわらずHで、ク
ロック入力信号CKはLであるため、スレーブラッチへ
のデータの読み出しは禁止されている。また、PMOS
12、13はオフし、NMOS21、22がオンするの
でノード1にはNMOS21、22を介してグランドレ
ベルGNDが導出されてLとなる。
【0057】次に、クロック入力信号CKがHに立ち上
がると、マスターラッチでは、ノード1がLの状態なの
でPMOS14がオンして、NNMOS25がオフして
いるので、ノード2はHのままとなる。クロック入力信
号CKがHとなるのでPMOS11がオフし、NMOS
23がオンする。そして、NMOS21がオンするの
で、データ入力信号Dの読み込みが中止され、ノード1
はLに保持される。
【0058】一方、スレーブラッチでは、PMOS16
がオフし、NMOS26、27がオンするので、ノード
3はLとなり、インバータ回路20によってデータ出力
信号QはHとなる。尚、このとき、PMOS11がオフ
しているのでPMOS17を介して電源電圧VDDがノ
ード3に導出されることはない。
【0059】次に、クロック入力信号CKがLになる
と、マスターラッチでは新たなデータ入力信号Dの読み
込みを開始し、データ入力信号DがHであるときには、
上述のようにノード1はLとなり、ノード2はHとな
る。一方、スレーブラッチでは、PMOS16、17が
オフし、NMOS26、28がオンであるため、ノード
3の状態はLに保持され、データ出力信号QもHに保持
される。以上が本実施形態のフリップフロップ回路の動
作である。
【0060】以上説明したように、本実施形態の回路は
マスターラッチとスレーブラッチから成るD型フリップ
フロップ回路であり、CMOSのNAND回路10を1
個有する構成としている。また、上記従来のフリップフ
ロップ回路(図10)ではクロック信号CKから2種の
信号CKXとCK1を生成して動作していたが、本実施
形態のフリップフロップ回路(図1)では1相でかつ1
極性のクロック入力信号CKだけで動作する。
【0061】そのため、上記従来のフリップフロップ回
路(図10)では、インバータ回路200、201を介
することにより信号CKX、CK1が遅延しているの
で、クロック入力信号CKの立ち上がりに対してデータ
入力信号Dがマスターラッチに保持されるまでのホール
ドタイムは少なくともインバータ回路200、201の
遅延時間よりも多く必要であるが、本実施形態ではクロ
ック入力信号CKに遅延がないので、上記従来のフリッ
プフロップ回路(図10)に比べてホールドタイムを小
さくすることができる。したがって、本実施形態のフリ
ップフロップ回路では、クロック入力信号CKの周期を
小さくし、高速に動作させることができる。
【0062】また、マスターラッチとスレーブラッチと
を接続しているノード2では、トランスファーゲートに
よって信号の遮断を行っていないので、回路の信号の変
化が全体として少なくなり、低消費電力となる。
【0063】また、上記従来のフリップフロップ回路
(図10)では、データ入力信号Dの値にかかわらずク
ロック入力信号CKが変化すると、インバータ回路20
0、201及びトランスファーゲート202、205、
206、209の6個のPMOSと6個のNMOSにお
いて、16個のトランジスタのゲート容量と、インバー
タ回路200、201のドレイン充放電電流があった
が、本実施形態ではデータ入力信号DがLである場合、
クロック入力信号CKに対して、9個のトランジスタ1
1、13、21、23、15、24、16、26、27
のゲート容量と、ノード2でのドレイン容量による充放
電電流であり、一方、データ入力信号DがHである場
合、5個のトランジスタ11、23、15、24、27
のゲート容量による充放電電流だけとなる。したがっ
て、低消費電力化が図られており、LSI等のパッケー
ジ等において発熱対策等の負担が軽減でき、低コスト化
を図ることができる。
【0064】また、本実施形態ではPMOS11をマス
ターラッチとスレーブラッチとで共用しているのでトラ
ンジスタ数の減少が図られている。上記従来のフリップ
フロップ回路(図10)では20個のトランジスタが必
要であった。これに対して、本実施形態のフリップフロ
ップ回路ではトランジスタ数は17個でよく、LSIで
は面積が小さくなるという利点もある。尚、インバータ
回路20は直列に接続された1個のPMOSと1個のN
MOSとから成る。
【0065】<第2の実施形態>図4は図1に示す基本
的概念に基づく第2の実施形態のフリップフロップ回路
の回路図である。本実施形態のフリップフロップ回路で
は、クロック入力信号CKがHである時にデータ入力信
号Dがマスターラッチに読み込まれ、クロック入力信号
CKの立ち下がりに同期してスレーブブラッチにそのデ
ータが読み出されてデータ出力信号QがLとなるように
している。
【0066】PMOS32のソースは電源電圧VDD
に、ゲートはデータ入力信号Dに、ドレインはノード5
に接続されている。PMOS33のソースは電源電圧V
DDに、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインは
ノード5に接続されている。PMOS31のソースはノ
ード5に、ゲートはノード2に、ドレインはノード1に
接続されている。
【0067】NMOS42のソースはノード4に、ゲー
トはデータ入力信号Dに、ドレインはノード1に接続さ
れている。NMOS41のソースはグランドレベルGN
Dに、ゲートはクロック入力信号CKにドレインはノー
ド4に接続されている。NMOS43のソースはグラン
ドレベルGNDに、ゲートはノード2に、ドレインはノ
ード1に接続されている。
【0068】PMOS35のソースは電源電圧VDD
に、ゲートはノード1に、ドレインはノード6の接続さ
れている。PMOS34のソースはノード6に、ゲート
はクロック入力信号CKに、ドレインはノード2に接続
されている。NMOS44のソースはグランドレベルG
NDに、ゲートはノード1に、ドレインはノード2に接
続されている。NMOS45のソースはグランドレベル
GNDに、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレイン
はノード2に接続されている。
【0069】以上、PMOS31〜35とNMOS41
〜45によってマスターラッチが構成されている。ま
た、PMOS34、35とNMOS44、45によって
NOR回路30が構成されている。
【0070】また、PMOS37のソースは電源電圧V
DDに、ゲートがクロック入力信号CKに、ドレインが
ノード7に接続されている。PMOS38のソースは電
源電圧VDDに、ゲートはデータ出力信号Qに、ドレイ
ンはノード7に接続されている。PMOS36のソース
はノード7に、ゲートはノード2に、ドレインはノード
3に接続されている。NMOS46のソースはグランド
レベルGNDに、ゲートはノード2に、ドレインはノー
ド3に接続されている。
【0071】NMOS47のソースはノード4に、ゲー
トはデータ出力信号Qに、ドレインはノード3に接続さ
れている。そして、ノード3はインバータ回路40の入
力に、インバータ回路40の出力がデータ出力信号Qに
接続されている。以上、PMOS36〜38、NMOS
46、47及びインバータ回路40によってスレーブラ
ッチが構成されている。
【0072】次に、本実施形態の回路の動作について説
明する。図5は図3と同形式で本実施形態の動作の様子
を示した図である。まず、データ入力信号DがHでクロ
ック入力信号CKがHである場合、PMOS31、32
がオフし、NMOS41、42がオンするのでノード1
はLとなる。また、ノード2はLに保持されるのでスレ
ーブラッチへのデータの読み出しは禁止される。
【0073】次に、クロック入力信号CKがLに立ち下
がると、ノード1がLでPMOS35がオンしている状
態からPMOS34がオンし、NMOS45がオフする
のでノード2はHとなる。そして、PMOS31がオフ
し、NMOS43がオンするので、データ入力信号Dの
読み込みが中止され、ノード1はLに保持される。一
方、スレーブラッチでは、PMOS36がオフし、NM
OS46がオンするのでノード3はLとなり、データ出
力信号QはHとなる。
【0074】次に、クロック入力信号CKがHになる
と、マスターラッチでは新たな入力信号Dの読み込みを
開始し、データ入力信号DがHであるときには、ノード
1及びノード2はLとなる。一方、スレーブラッチで
は、NMOS41、47がオンし、PMOS38はオフ
するのでノード3はLとなり、データ出力信号QはHに
保持される。
【0075】また、データ入力信号DがLでクロック入
力信号CKがHである場合、NOR回路30にクロック
入力信号CKのHが入力されるので、NOR回路30の
出力であるノード2はLとなっている。これにより、P
MOS31はオンし、NMOS43はオフする。データ
入力信号DがLであるので、PMOS32はオンし、N
MOS42はオフしているのでノード1には電源電圧V
DDが導出されてHとなる。
【0076】一方、スレーブラッチでは、ノード2がL
であるためNMOS46がオフし、クロック入力信号C
KがHであるためPMOS37がオフしている。したが
って、マスターラッチに読み込まれたデータは、スレー
ブラッチには伝搬されない。
【0077】次に、クロック入力信号CKがLに立ち下
がると、マスターラッチでは、ノード1がLの状態なの
でPMOS35がオンしており、PMOS34がオン
し、NMOS45がオフするのでノード2はLに保持さ
れる。また、PMOS31、33がオンしてNMOS4
1、43がオフしているので、データ入力信号Dの状態
にかかわらずノード1はHに保持される。一方、スレー
ブラッチでは、PMOS37がオンするのでPMOS3
6を介して電源電圧VDDが導出されてノード3はHと
なり、インバータ回路40によってデータ出力信号Qは
Lとなる。
【0078】次に、クロック入力信号CKがHになる
と、マスターラッチでは新たなデータ入力信号Dの読み
込みを開始し、データ入力信号DがLであるときには、
ノード1はHとなり、ノード2はLとなる。一方、スレ
ーブラッチではPMOS36、38がオンし、NMOS
47がオフしているので、ノード3の状態はHに保持さ
れ、データ出力信号QがLに保持される。以上の動作を
図4にまとめて図示している。
【0079】以上説明したように、本実施形態の回路は
マスターラッチとスレーブラッチから成るD型フリップ
フロップ回路であり、CMOSのNOR回路30を1個
有する構成としている。また、上記第1の実施形態のフ
リップフロップ回路(図1)と同様に1相でかつ1極性
のクロック入力信号CKだけで動作する。そのため、高
速動作させることができ、低消費電力とすることが可能
となっている。
【0080】また、本実施形態のフリップフロップ回路
では、データ入力信号DがHである場合、9個のトラン
ジスタ41、43、31、33、45、34、46、3
6、37のゲート容量と、ノード2のドレイン容量によ
る充放電電流であり、データ入力信号DがLである場
合、5個のトランジスタ41、33、45、34、37
のゲート容量による充放電電流だけであり、上記従来の
フリップフロップ回路(図10)に比べて低消費電力化
を図ることができる。
【0081】また、NMOS41をマスターラッチとス
レーブラッチとで共用しており、トランジスタ数の減少
を図っている。したがって、MOSトランジスタ数は1
7個でよいので、上記従来のフリップフロップ回路(図
10)に比べてLSIでは面積が小さくなるという利点
もある。
【0082】<第3の実施形態>図6は第3の実施形態
のフリップフロップ回路の回路図である。上記第1の実
施形態のフリップフロップ回路(図1)では、データ入
力信号DがLの状態でクロック入力信号CKがLからH
に立ち上がった時に、ノード2がHからLに変化するこ
とによりNMOS21がオフし、PMOS13がオンす
るまで、すなわちデータのホールドが完了するまでの
間、PMOS11、12、NMOS21、23及びPM
OS13、NMOS21、23の経路で貫通電流が流れ
てしまうという欠点がある。本実施形態の回路は、かか
る問題点を解決したものである。
【0083】図6において、図1に対応する部分につい
ては同一符号を付して説明を一部省略する。すなわち、
本実施形態ではPMOS11〜17と、NMOS21、
22、26〜28と、インバータ回路20は上記第1の
実施形態と同等に構成されている。
【0084】本実施形態では、さらにインバータ回路5
1の入力はノード1に接続され、出力はNMOS52の
ゲートに接続される。NMOS52のソースはノード6
に、ドレインはノード1に接続されている。NMOS5
3のソースはノード6に、ゲートはノード1に、ドレイ
ンはノード2に接続されている。NMOS54のソース
はグランドレベルGNDに、ゲートはクロック入力信号
CKに、ドレインはノード6に接続されている。PMO
S14、15及びNMOS53、54によってNAND
回路50が構成されている。
【0085】データ入力信号DがLの状態でクロック入
力信号CKがLである期間では、ノード1及びノード2
はHとなっている。したがって、インバータ回路51の
出力はLとなっている。NMOS52のゲートはLとな
っているので、クロック入力信号CKがHに立ち上がっ
た時に、NMOS52を経由して貫通電流が流れること
はない。そして、ノード2はLとなりPMOS13がオ
ンし、NMOS21はオフし、ノード1はHに安定に保
持される。これ以外については上述の第1の実施形態の
フリップフロップ回路と同様であり、図3に示すような
動作をする。
【0086】また、上記第1の実施形態では、マスター
ラッチにおいてデータ保持のために設けられていたNM
OS23(図2参照)を省略し、NAND回路50でグ
ランドレベルGND側に設けられたNMOS54を共用
しているのでトランジスタ数を少なくした構成となって
いる。
【0087】本実施形態では、データ入力信号DがLで
ある場合、クロック入力信号CKの変化に対して、8個
のMOSトランジスタ11、13、21、54、15、
16、26、27のゲート容量と、ノード2のドレイン
容量の充放電電流であり、一方、データ入力信号DがH
である場合、4個のMOSトランジスタ11、15、5
4、27のゲート容量の充放電電流だけであり、低消費
電力化を図ることができる。
【0088】また、マスターラッチとスレーブラッチで
は、クロック入力信号CKがゲートに入力されるPMO
S1を共用してMOSトランジスタ数の減少を図ってい
る。これにより、結局本実施形態ではMOSトランジス
タ数が19個でよく、上記従来のフリップフロップ回路
(図10)に比べてLSIの面積が小さくなるという利
点もある。
【0089】本実施形態のフリップフロップ回路は、1
相でかつ1極性のクロック入力信号CKで動作し、マス
ターラッチではデータを安定に保持するためのインバー
タ回路51を備えているので、ホールドタイムが上記第
1又は第2の実施形態に比べてさらに小さくなるので、
さらに高速動作させることが可能となっている。
【0090】<第4の実施形態>図7は図1に示す基本
的概念に基づく第4の実施形態のフリップフロップ回路
の回路図である。本実施形態のフリップフロップ回路
は、マスターラッチとスレーブラッチから成るD型フリ
ップフロップ回路であり、1相でかつ1極性だけのクロ
ック入力信号CKで動作する。また、マスターラッチの
データをスレーブラッチに読み出す際に流れる貫通電流
を軽減する効果を有している。以下、詳しく説明する。
【0091】PMOS61のソースは電源電圧VDD
に、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインはノー
ド4に接続されている。PMOS62のソースはノード
4に、ゲートはデータ入力信号Dに、ドレインはノード
1に接続されている。PMOS63のソースは電源電圧
VDDに、ゲートはノード2に、ドレインはノード1に
接続されている。
【0092】NMOS71のソースはノード8に、ゲー
トはデータ入力信号Dに、ドレインはノード1に接続さ
れている。NMOS72のソースはグランドレベルGN
Dに、ゲートはノード2に、ドレインはノード8に接続
されている。NMOS73のソースはノード9に、ゲー
トはクロック入力信号CKに、ドレインはノード1に接
続されている。NMOS74のソースはグランドレベル
GNDに、ゲートはノード6に、ドレインはノード9に
接続されている。
【0093】また、PMOS64のソースは電源電圧V
DDに、ゲートはノード1に、ドレインはノード2に接
続されている。PMOS65のソースは電源電圧VDD
に、ゲートはノード1に、ドレインはノード6に接続さ
れている。PMOS66のソースは電源電圧VDDに、
ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインはノード2
に接続されている。NMOS75のソースはノード6
に、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインはノー
ド2に接続されている。NMOS76のソースはグラン
ドレベルGNDに、ゲートはノード1に、ドレインはノ
ード6に接続されている。
【0094】以上、PMOS61〜66とNMOS71
〜76によってマスターラッチが構成されている。ま
た、PMOS64、66とNMOS75、76によって
NAND回路60が構成されている。さらに、PMOS
65とNMOS76によってインバータ回路69が構成
されており、NMOS76はNAND回路60とインバ
ータ回路69とで共用されている。
【0095】また、PMOS67のソースは電源電圧V
DDに、ゲートはノード2に、ドレインはノード3に接
続されている。PMOS68のソースはノード4に、ゲ
ートはデータ出力信号Qに、ドレインはノード3に接続
されている。NMOS77のソースはノード9に、ゲー
トはクロック入力信号CKに、ドレインはノード3に接
続されている。
【0096】NMOS78のソースはノード8に、ゲー
トはデータ出力信号Qに、ドレインはノード3に接続さ
れている。そして、ノード3はインバータ回路70の入
力に、インバータ回路70の出力がデータ出力信号Qに
接続されている。以上、PMOS67、68、61、N
MOS77、78、72、74及びインバータ回路70
によってスレーブラッチが構成されている。
【0097】本実施形態のフリップフロップ回路の動作
について説明する。尚、この回路の各ノード等の状態は
結果的には上記第1の実施形態の動作を示す図3と同一
となる。まず、データ入力信号DがLでクロック入力信
号CKがLである場合、PMOS61、62がオンし、
NMOS71、72がオフしている。また、PMOS6
6がオンし、NMOS75がオフしているので、ノード
2はHであり、PMOS63はオフしている。したがっ
て、ノード1にはPMOS61、62を介して電源電圧
VDDが導出されてノード1はHとなる。
【0098】インバータ回路69ではPMOS65とN
MOS76の各ゲートにノード1が接続されているた
め、インバータ回路69の出力はLとなる。したがっ
て、NMOS74はオフしている。そして、ノード1が
HであるためPMOS64はオフ、NMOS76はオン
している。また、ノード2がHであるためトランジスタ
67はオフし、クロック入力信号CKがLであるためN
MOS77はオフしているので、マスターラッチのデー
タがスレーブラッチに伝達されない。
【0099】ここでNAND回路60について、もしN
MOS75、76の接続関係が逆であるならば、すなわ
ちクロック入力信号CKがゲートに入力されているNM
OS75がグランドレベルGND側にあり、ノード1が
ゲート接続されているNMOS76がノード2に近くに
設けられているとすれば、ノード1がHであるためNM
OS76はオンしているので、NMOS76の飽和電圧
Vnとすると、ノード6は電圧VDD−Vnまで充電さ
れることになる。
【0100】そして、次にクロック入力信号CKがLか
らHに立ち上がった時に、グランドレベルGND側のN
MOS75がオンし、ノード6に充電されていた電荷は
NMOS75を介してグランドレベルGNDに放電され
ることになる。これに対して、本実施形態のフリップフ
ロップ回路では、上記条件であってもノード6が充電さ
れることはなく、その分低消費電力となる。
【0101】同様に、NMOS73、74の接続関係及
びNMOS74、77についてもクロック入力端子CK
がゲートに入力されるNMOS73、77はそれぞれN
MOS74よりもグランドレベルGNDから遠い側に設
けられているので充放電電流が低減され、低消費電力化
が図られている。
【0102】次に、クロック入力信号CKがLからHに
立ち上がると、PMOS61、66がオフし、NMOS
73、75がオンする。インバータ回路69の出力はク
ロック入力信号CKがHに立ち上がる前からLとなって
いる。したがって、NMOS74はオフしており、クロ
ック入力信号CKがHになってNMOS73がオンにな
っても、クロック入力信号CKの立ち上がり時にNMO
S73を経由して貫通電流が流れることはない。
【0103】また、ノード1がHであるときにクロック
入力信号CKがHとなるのでNMOS75がオンするこ
とにより、NMOS75、76を介しグランドレベルG
NDドがノード2に導出されてLとなる。すると、PM
OS63がオンし、NMOS72がオフするので、ノー
ド1はHに安定に保持される。また、ノード2がLとな
るのでPMOS67がオンし、NMOS72、77がオ
フする。これにより、ノード3には電圧VDDが導出さ
れてノード3はHとなる。そして、インバータ回路70
によってデータ出力信号QはLとなる。
【0104】次に、クロック入力信号CKがLに立ち下
がると、マスターラッチでは新たなデータ入力の読み込
みを開始し、データ入力信号DがLであるときには、上
述のようにノード1とノード2はともにHとなる。そし
て、ノード2がHとなり、クロック入力信号CKがLと
なるためマスターラッチからスレーブラッチへのデータ
の読み出しは中止される。また、PMOS61とNMO
S72がオンし、さらにはPMOS68がオンし、NM
OS78がオフするので、データ出力信号QはLに保持
される。
【0105】一方、データ入力信号DがHでクロック入
力信号CKがLである場合、PMOS66がオンするの
でNAND回路60の出力であるノード2はHとなる。
これにより、PMOS63はオフし、NMOS72はオ
ンする。そして、PMOS62とNMOS75がオフ
し、NMOS71がオンするので、NMOS71、72
を介してグランドレベルGNDがノード1に導出され、
ノード1はLとなる。すると、インバータ回路69の出
力はHとなり、NMOS74はオンする。このとき、ノ
ード2はHでクロック入力信号CKはLであるため、ス
レーブラッチへの読み出しは行われない。
【0106】次に、クロック入力信号CKがLからHに
立ち上がると、マスターラッチでは、PMOS61、6
6がオフする。インバータ回路69の出力であるノード
6はクロック入力信号CKがHに立ち上がる前からHで
あるため、クロック入力信号CKがHになりNMOS7
3がオンすると、データ入力信号Dの値にかかわらず、
NMOS73、74を介してノード1はLに安定に保持
される。
【0107】ノード1がLであるためPMOS64がオ
ンし、NMOS76がオフしてるため、ノード2はHの
ままとなる。一方、スレーブラッチでは、NMOS77
がオンすると、PMOS61、67がオフであるため、
NMOS74、77を介してノード3はLに保持され、
インバータ回路70によってデータ出力信号QはHに保
持される。
【0108】次に、クロック入力信号CKがLになる
と、マスターラッチでは新たなデータ入力信号Dの読み
込みを開始し、データ入力信号DがHであるときには、
上述のようにノード1はLとなり、ノード2はHとな
る。一方、スレーブラッチではNMOS72、78を介
してノード3はLに保持され、データ出力信号QはHに
保持される。
【0109】したがって、クロック入力信号CKがLで
ある時にマスターラッチに読み込まれたデータ入力信号
Dの値が、クロック入力信号CKの立ち上がりに同期し
てスレーブラッチに読み出され、データ出力信号Qとし
て保持されるマスタースレーブ方式のD型フリップフロ
ップ回路としての動作が実現されている。
【0110】以上説明したように、本実施形態のフリッ
プフロップ回路はCMOSのNAND回路60を1個有
する構成となっている。また、本実施形態のフリップフ
ロップ回路(図1)は1相でかつ1極性のクロック入力
信号CKだけで動作する。また、インバータ回路69に
よってマスターラッチでは読み込んだデータが安定に保
持されるのでホールドタイムが短くすることができる。
【0111】また、データ入力信号DがLである場合、
クロック入力信号CKの変化に対して、8個のMOSト
ランジスタ61、63、72、73、66、67、7
5、77のゲート容量と、ノード2のドレイン容量の充
放電電流であり、一方、データ入力信号DがHである場
合、5個のMOSトランジスタ61、66、73、7
5、77のゲート容量の充放電電流だけであり、また、
インバータ回路69及びNMOS74によって貫通電流
が流れないので、上記従来のフリップフロップ回路(図
10)に比べて低消費電力化を図ることができる。ま
た、マスターラッチとスレーブラッチではトランジスタ
61、72、73、74による回路を共用しているの
で、MOSトランジスタ数も18個でよく、LSIの面
積が小さくなるという利点もある。
【0112】<第5の実施形態>図8は図1に示す基本
概念に基づく第5の実施形態のフリップフロップ回路の
回路図である。本実施形態のフリップフロップ回路で
は、クロック入力信号CKがHである時にデータ入力信
号Dがマスターラッチに読み込まれ、クロック入力信号
CKの立ち下がりに同期してスレーブラッチに読み出さ
れてデータ出力信号QがLとなるマスタースレーブ方式
のフリップフロップ回路である。
【0113】クロック入力信号CKの立ち下がりでデー
タ出力信号Qに出力を行うために、基本的には上記第4
の実施形態のフリップフロップ回路(図7)におけるN
MOSとPMOSを入れ替えた構成となっているだけ
で、第4の実施形態のフリップフロップ回路(図6)と
同様に低消費電力化が図られている。
【0114】回路の構成について説明すると、PMOS
82のソースは電源電圧VDDに、ゲートはノード6
に、ドレインはノード8に接続されている。PMOS8
1のソースはノード8に、ゲートはデータ入力信号D
に、ドレインはノード1に接続されている。PMOS8
4のソースは電源電圧VDDに、ゲートはノード6に、
ドレインはノード9に接続されている。PMOS83の
ソースはノード9に、ゲートはクロック入力信号CK
に、ドレインはノード1に接続されている。
【0115】NMOS92のソースはノード4に、ゲー
トはデータ入力信号Dに、ドレインはノード1に接続さ
れている。NMOS91のソースはグランドレベルGN
Dに、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインはノ
ード4に接続されている。NMOS93のソースはグラ
ンドレベルGNDに、ゲートはノード2に、ドレインは
ノード1に接続されている。
【0116】PMOS86のソースは電源電圧VDD
に、ゲートはノード1に、ドレインはノード6に接続さ
れている。PMOS85のソースはノード6に、ゲート
はクロック入力信号CKに、ドレインはノード2に接続
されている。NMOS94のソースはグランドレベルG
NDに、ゲートはノード1に、ドレインはノード2に接
続されている。NMOS95のソースはグランドレベル
GNDに、ゲートはノード1に、ドレインはノード6に
接続されている。NMOS96のソースはグランドレベ
ルGNDに、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレイ
ンはノード2に接続されている。
【0117】以上、PMOS81〜86とNMOS91
〜96によってマスターラッチが構成されている。ま
た、PMOS85、86とNMOS94、96によって
NOR回路80が構成されている。さらに、PMOS8
6とNMOS95によってインバータ回路89が構成さ
れており、NMOS95はNOR回路80とインバータ
回路89とで共用されている。
【0118】また、PMOS87のソースはノード9
に、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレインはノー
ド3に接続されている。PMOS88のソースはノード
8に、ゲートはデータ出力信号Qに、ドレインはノード
3に接続されている。NMOS97のソースはグランド
レベルGNDに、ゲートはノード2に、ドレインはノー
ド3に接続されている。
【0119】NMOS98のソースはノード4に、ゲー
トはデータ出力信号Qに、ドレインはノード3に接続さ
れている。そして、ノード3はインバータ回路90の入
力に、インバータ回路90の出力がデータ出力信号Qに
接続されている。以上、PMOS87、88、NMOS
97、98及びインバータ回路90によってスレーブラ
ッチが構成されている。
【0120】次に、本実施形態の回路の動作について説
明する。尚、この回路の各ノード等の状態は結果的には
上記第2の実施形態の動作を示す図5と同一となる。ま
ず、データ入力信号DがHでクロック入力信号CKがH
である場合、PMOS85がオフし、NMOS96がオ
ンするのでノード2はLとなる。PMOS81、83が
オフし、NMOS91、92がオンするのでノード1は
Lとなる。また、ノード2がLに保持され、PMOS8
7がオフしているのでスレーブラッチへのデータの読み
出しは禁止される。また、インバータ回路89の出力に
よりPMOS84はオフしている。
【0121】次に、クロック入力信号CKがLに立ち下
がると、PMOS83、85がオンし、NMOS91、
96がオフする。インバータ回路89の出力はクロック
入力信号CKがLに立ち下がる前からLであり、PMO
S84がオフしているのでクロック入力信号CKの立ち
下がり時にPMOS84を経由して貫通電流が流れるこ
とはない。
【0122】また、PMOS85、86がオンし、NM
OS94、96がオフするのでノード2はHとなる。す
ると、PMOS82がオフし、NMOS93がオンする
のでノード1はLに安定に保持される。また、PMOS
87がオフし、NMOS97がオンするのでノード3は
Lとなる。そして、インバータ回路90によってデータ
出力信号QはHとなる。
【0123】次に、クロック入力信号CKがHに立ち上
がると、マスターラッチでは新たなデータ入力の読み込
みを開始し、データ入力信号DがHであるときには、ノ
ード1とノード2はともにLとなる。そして、マスター
ラッチからスレーブラッチへのデータの読み出しは中止
される。また、PMOS88がオフし、NMOS98が
オンするので、データ出力信号QはHに保持される。
【0124】これに対し、データ入力信号DがLでクロ
ック入力信号CKがHである場合、NAND回路80の
出力であるノード2はLとなる。PMOS81、82が
オンし、NMOS91、93がオフするのでノード1は
Hとなる。このとき、ノード2がLであるため、スレー
ブラッチへの読み出しは行われない。
【0125】次に、クロック入力信号CKがLに立ち下
がると、マスターラッチでは、PMOS83、84がオ
ンし、NMOS91、93がオフするのでノード1はH
に安定に保持される。そして、ノード2はLのままとな
る。一方、スレーブラッチでは、PMOS84、87が
オンし、NMOS97がオフするのでノード3はHとな
る。そして、データ出力信号Qはインバータ回路90に
よってLとなる。
【0126】次に、クロック入力信号CKがHになる
と、マスターラッチでは新たなデータ入力信号Dの読み
込みを開始し、データ入力信号DがLであるときには、
上述のようにノード1はHとなり、ノード2はLとな
る。一方、スレーブラッチではPMOS82、88がオ
ンし、NMOS98がオフするのでノード3はHに保持
され、データ出力信号QはHに保持される。
【0127】以上説明したように、本実施形態のフリッ
プフロップ回路はCMOSのNOR回路80を1個有す
る構成となっている。本実施形態のフリップフロップ回
路(図1)は1相でかつ1極性のクロック入力信号CK
だけで動作する。また、インバータ回路69によってマ
スターラッチでは読み込んだデータが安定に保持される
のでホールドタイムを短くすることができる。
【0128】信号遷移による容量での充放電電流及びP
MOS、NMOSを介した電源電圧VDDとグランドレ
ベルGND間の貫通電流も低減されており低消費電力の
フリップフロップ回路が実現されている。また、マスタ
ーラッチとスレーブラッチでは、PMOS82、NMO
S91及びPMOS83、84が共用されており、NO
R回路80とインバータ回路89ではPMOS86が共
用されており、トランジスタ数の減少が図られている。
したがって、トランジスタ数が18個でよいので上記従
来のフリップフロップ回路(図10)に比べてLSIの
面積が小さくなるという利点もある。
【0129】<第6の実施形態>図9は本発明の第6の
実施形態のフリップフロップ回路の回路図である。上記
第2の実施形態(図4)では、クロック入力信号CKが
HからLに変化する際に、データ入力信号DがLである
場合には、PMOS11、12及びNMOS21、23
を介して貫通電流がノード1に流れるという問題がある
が本実施形態は、かかる問題点を解決したものである。
また、上記第2の実施形態において設けられていたPM
OS33(図2参照)をNOR回路30(図9参照)と
で共用した構成とたものである。
【0130】図9において図4と同一部分については同
一符号を付して説明を省略する。すわなち、PMOS3
2、33、36〜38及びNMOS41〜47について
は上記第2の実施形態(図4)と同等に設けられてい
る。さらに、インバータ回路120の入力側はノード1
に接続され、出力側はPMOS121のゲートに接続さ
れている。PMOS121のソースはノード6に、ドレ
インはノード1に接続されている。
【0131】また、PMOS122のソースは電源電圧
VDDに、ゲートはクロック入力信号CKに、ドレイン
はノード6に接続されている。PMOS123のソース
はノード6に、ゲートはノード1に、ドレインはノード
2に接続されている。PMOS122、123とNMO
S44、45によってNOR回路130が構成されてい
る。また、PMOS122はノード1の状態を保持する
ための回路としても利用されており、フリップフロップ
回路のトランジスタ数の減少を図っている。すなわち、
本実施形態のフリップフロップ回路は19個のトランジ
スタによって構成されている。
【0132】これにより、クロック入力信号CKがHか
らLに変化する際に、データ入力信号DがLである場合
には、インバータ回路120及びPMOS121によっ
てあらかじめノード1と接続が遮断されているので貫通
電流が抑制される。したがって、低消費電力となる。
【0133】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、フ
リップフロップ回路は1相でかつ1極性のクロック入力
信号で動作するので、データホールドタイムを小さくで
き、そのため高速動作が可能となっている。また、マス
ターラッチに保持される値によっては信号切換回路の出
力はクロック入力信号にかかわらず固定となるようにし
ているので、マスターラッチとスレーブラッチを接続す
る第2のノードでは信号変化が小さくなる。そのため、
低消費電力となる。したがって、LSIのパッケージ等
において発熱対策の負担が軽減され、低コストとするこ
とが可能である。
【0134】データ読込回路と第2のデータ保持回路は
クロック入力信号が第1のレベルのときに動作状態とな
るので、クロック入力信号がゲートに接続されているト
ランジスタを共用することにより、フリップフロップ回
路のトランジスタ数を少なくすることができる。そのた
め、LSI等で面積を縮小することができる。
【0135】
【0136】
【0137】
【0138】
【0139】
【0140】
【0141】
【0142】
【0143】
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の各実施形態の基本的概念を示すブロ
ック図。
【図2】 本発明の第1の実施形態のフリップフロップ
回路の回路図。
【図3】 そのフリップフロップ回路の動作を示す図。
【図4】 本発明の第2の実施形態のフリップフロップ
回路の回路図。
【図5】 そのフリップフロップ回路の動作を示す図。
【図6】 本発明の第3の実施形態のフリップフロップ
回路の回路図。
【図7】 本発明の第4の実施形態のフリップフロップ
回路の回路図。
【図8】 本発明の第5の実施形態のフリップフロップ
回路の回路図。
【図9】 本発明の第6の実施形態のフリップフロップ
回路の回路図。
【図10】 従来のフリップフロップ回路の回路図。
【図11】 そのフリップフロップ回路のトランスファ
ーゲートの回路図。
【図12】 PMOSとNMOSについてゲート電圧と
オン/オフの関係を示す図。
【符号の説明】
1〜7 ノード 10 NAND回路 11〜17 PMOS 20 インバータ回路 21〜28 NMOS 30 NOR回路 51 インバータ回路 69 インバータ回路 100 マスターラッチ 101 スレーブラッチ 102 データ読込回路 103 データ保持回路 104 信号切換回路 105 データ読出回路 106 データ保持回路 CK クロック入力信号 N データ入力信号 Q データ出力信号 VDD 電源電圧 GND グランドレベル

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ソースが電源に接続され、ゲートにクロ
    ック入力信号が与えられる第1PMOSトランジスタ
    と、 ソースが第1PMOSトランジスタのドレインに接続さ
    れ、ゲートにデータ入力信号が入力される第2PMOS
    トランジスタと、 ドレインが第2PMOSトランジスタのドレインに接続
    され、ゲートが第2ノードに接続された第1NMOSト
    ランジスタと、 ドレインが第1NMOSトランジスタのソースに接続さ
    れ、ゲートに前記データ入力信号が与えられ、ソースが
    グランドに接続された第2NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ドレインが
    第2NMOSトランジスタのドレインに接続されソース
    がグランドに接続された第3NMOSトランジスタと、 第2PMOSトランジスタのドレインと第1NMOSト
    ランジスタのドレインの接続点である第1ノードにゲー
    トが接続され、ソースが電源に接続され、ドレインが第
    2ノードに接続された第3PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ドレインが
    第2ノードに接続された第4NMOSトランジスタと、 ゲートが第1ノードに接続され、ソースがグランドに接
    続され、ドレインが第4NMOSトランジスタのソース
    に接続された第5NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースが電
    源に接続され、ドレインが第2ノードに接続された第4
    PMOSトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続されソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第1ノードに接続された第5PMOSト
    ランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続されソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第3ノードに接続された第6PMOSト
    ランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ドレインが第3ノード
    に接続された第6NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースがグ
    ランドに接続され、ドレインが第6NMOSトランジス
    タのソースに接続された第7NMOSトランジスタと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第6NMOS
    トランジスタのソースに接続され、ソースがグランドに
    接続された第8NMOSトランジスタと、 第3ノードの出力を反転して出力端子に導出するインバ
    ータと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第3ノードに
    接続されソースが第1PMOSトランジスタのドレイン
    に接続された第7PMOSトランジスタと、 から成るフリップフロップ回路。
  2. 【請求項2】 ソースがグランドに接続され、ゲートに
    クロック入力信号が与られる第1NMOSトランジスタ
    と、 ソースが第1NMOSトランジスタのドレインに接続さ
    れ、ゲートにデータ入力信号が入力される第2NMOS
    トランジスタと、 ドレインが第2NMOSトランジスタのドレインに接続
    され、ゲートが第2ノードに接続された第1PMOSト
    ランジスタと、 ドレインが第1PMOSトランジスタのソースに接続さ
    れ、ゲートに前記データ入力信号が与えられ、ソースが
    電源に接続された第2PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ドレインが
    第2PMOSトランジスタのドレインに接続され、ソー
    スが電源に接続された第3PMOSトランジスタと、 第2NMOSトランジスタのドレインと第1PMOSト
    ランジスタのドレインの接続点である第1ノードにゲー
    トが接続され、ソースがグランドに接続され、ドレイン
    が第2ノードに接続された第3NMOSトランジスタ
    と、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ドレインが
    第2ノードに接続された第4PMOSトランジスタと、 ゲートが第1ノードに接続され、ソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第4PMOSト ランジスタのソースに接
    続された第5PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースがグ
    ランドに接続され、ドレインが第2ノードに接続された
    第4NMOSトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ソースがグランドに接
    続され、ドレインが第1ノードに接続された第5NMO
    Sトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ソースがグランドに接
    続され、ドレインが第3ノードに接続された第6NMO
    Sトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ドレインが第3ノード
    に接続された第6PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースが電
    源に接続され、ドレインが第6PMOSトランジスタの
    ソースに接続された第7PMOSトランジスタと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第6PMOS
    トランジスタのソースに接続され、ソースが電源に接続
    された第8PMOSトランジスタと、 第3ノードの出力を反転して出力端子に導出するインバ
    ータと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第3ノードに
    接続され、ソースが第1NMOSトランジスタのドレイ
    ンに接続された第7NMOSトランジスタと、 から成るフリップフロップ回路。
  3. 【請求項3】 ソースが電源に接続され、ゲートにクロ
    ック入力信号が与えられる第1PMOSトランジスタ
    と、 ソースが第1PMOSトランジスタのドレインに接続さ
    れ、ゲートにデータ入力信号が入力される第2PMOS
    トランジスタと、 ドレインが第2PMOSトランジスタのドレインに接続
    され、ゲートが第2ノードに接続された第1NMOSト
    ランジスタと、 ドレインが第1NMOSトランジスタのソースに接続さ
    れ、ゲートに前記データ入力信号が与えられ、ソースが
    グランドに接続された第2NMOSトランジスタと、 第2PMOSトランジスタのドレインと第1NMOSト
    ランジスタのドレインの接続点である第1ノードにゲー
    トが接続され、ソースが電源に接続され、ドレインが第
    2ノードに接続された第3PMOSトランジスタと、 第1ノードの電圧を反転する第1インバータと、 ゲートに第1インバータの出力が与えられ、ドレインが
    第1ノードに接続された第3NMOSトランジスタと、 ゲートが第1ノードに接続され、ドレインが第2ノード
    に接続され、ソースが第3NMOSトランジスタのソー
    スに接続された第4NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースがグ
    ランドに接続され、ドレインが第4NMOSトランジス
    タのソースに接続された第5NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースが電
    源に接続され、ドレインが第2ノードに接続された第4
    PMOSトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続されソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第1ノードに接続された第5PMOSト
    ランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続されソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第3ノードに接続された第6PMOSト
    ランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ドレインが第3ノード
    に接続された第6NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースがグ
    ランドに接続され、ドレインが第6NMOSトランジス
    タのソースに接続された第7NMOSトランジスタと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第6NMOS
    トランジスタのソースに接続され、ソースがグランドに
    接続された第8NMOSトランジスタと、 第3ノードの出力を反転して出力端子に導出する第2イ
    ンバータと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第3ノードに
    接続され、ソースが第1PMOSトランジスタのドレイ
    ンに接続された第7PMOSトランジスタと、 から成るフリップフロップ回路。
  4. 【請求項4】 ソースが電源に接続され、ゲートにクロ
    ック入力信号が与えられる第1PMOSトランジスタ
    と、 ソースが第1PMOSトランジスタのドレインに接続さ
    れ、ゲートにデータ入力信号が入力される第2PMOS
    トランジスタと、 ドレインが第2PMOSトランジスタのドレインに接続
    され、ゲートに前記データ入力信号が与えられる第1N
    MOSトランジスタと、 ドレインが第1NMOSトランジスタのソースに接続さ
    れ、ゲートが第2ノードに接続され、ソースがグランド
    に接続された第2NMOSトランジスタと、 第2PMOSトランジスタのドレインと第1NMOSト
    ランジスタのドレインの接続点である第1ノードにドレ
    インが接続され、ゲートに前記クロック入力信号が与え
    られる第3NMOSトランジスタと、 ドレインが第3NMOSトランジスタのソースに接続さ
    れ、ソースがグランドに接続された第4NMOSトラン
    ジスタと、 第1ノードにゲートが接続され、ソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第2ノードに接続された第3PMOSト
    ランジスタと、 第1ノードにゲートが接続され、ソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第4NMOSトランジスタのドレインに
    接続された第4PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ドレインが
    第2ノードに接続された第5NMOSトランジスタと、 ゲートが第1ノードに接続され、ソースがグランドに接
    続され、ドレインが第4NMOSトランジスタのソース
    と第4PMOSトランジスタのドレインに接続された第
    6NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースが電
    源に接続され、ドレインが第2ノードに接続された第5
    PMOSトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続されソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第1ノードに接続された第6PMOSト
    ランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ソースが電源に接続さ
    れた第7PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースが第
    4NMOSトランジスタのドレインに接続され、ドレイ
    ンが第7PMOSトランジスタのドレインに接続された
    第7NMOSトランジスタと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第6PMOS
    トランジスタのドレインと第7NMOSトランジスタの
    ドレインの接続点である第3ノードに接続された第8P
    MOSトランジスタと、 第3ノードの出力を反転して出力端子に導出するインバ
    ータと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第3ノードに
    接続されソースが第1NMOSトランジスタのソースに
    接続された第8NMOSトランジスタと、 から成るフリップフロップ回路。
  5. 【請求項5】 ソースがグランドに接続され、ゲートに
    クロック入力信号が与えられる第1NMOSトランジス
    タと、 ソースが第1NMOSトランジスタのドレインに接続さ
    れ、ゲートにデータ入力信号が入力される第2NMOS
    トランジスタと、 ドレインが第2NMOSトランジスタのドレインに接続
    され、ゲートに前記データ入力信号が与えられる第1P
    MOSトランジスタと、 ドレインが第1PMOSトランジスタのソースに接続さ
    れ、ゲートが第2ノードに接続され、ソースが電源に接
    続された第2PMOSトランジスタと、 第2NMOSトランジスタのドレインと第1PMOSト
    ランジスタのドレインの接続点である第1ノードにドレ
    インが接続され、ゲートに前記クロック入力信号が与え
    られる第3PMOSトランジスタと、 ドレインが第3PMOSトランジスタのソースに接続さ
    れ、ソースが電源に接続された第4PMOSトランジス
    タと、 第1ノードにゲートが接続され、ソースがグランドに接
    続され、ドレインが第2ノードに接続された第3NMO
    Sトランジスタと、 第1ノードにゲートが接続され、ソースがグランドに接
    続され、ドレインが第4PMOSトランジスタのゲート
    に接続された第4NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ドレインが
    第2ノードに接続された第5PMOSトランジスタと、 ゲートが第1ノードに接続され、ソースが電源に接続さ
    れ、ドレインが第4PMOSトランジスタのソースと第
    4NMOSトランジスタのドレインに接続された第6P
    MOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースがグ
    ランドに接続され、ドレインが第2ノードに接続された
    第5NMOSトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ソースがグランドに接
    続され、ドレインが第1ノードに接続された第6PMO
    Sトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ソースがグランドに接
    続された第7NMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースが第
    4PMOSトランジスタのドレインに接続され、ドレイ
    ンが第7NMOSトランジスタのドレインに接続された
    第7PMOSトランジスタと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第7NMOS
    トランジスタのドレインと第7PMOSトランジスタの
    ドレインの接続点である第3ノードに接続され、ソース
    が第1PMOSトランジスタのソースに接続された第8
    PMOSトランジスタと、 第3ノードの出力を反転して出力端子に導出するインバ
    ータと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第3ノードに
    接続されソースが第2PMOSトランジスタのソースに
    接続された第8PMOSトランジスタと、 から成るフリップフロップ回路。
  6. 【請求項6】 ソースがグランドに接続され、ゲートに
    クロック入力信号が与えられる第1NMOSトランジス
    タと、 ソースが第1NMOSトランジスタのドレインに接続さ
    れ、ゲートにデータ入力信号が入力される第2NMOS
    トランジスタと、 ドレインが第2NMOSトランジスタのドレインに接続
    され、ゲートが第2ノードに接続された第1PMOSト
    ランジスタと、 ドレインが第1PMOSトランジスタのソースに接続さ
    れ、ゲートに前記データ入力信号が与えられ、ソースが
    電源に接続された第2PMOSトランジスタと、 第2NMOSトランジスタのドレインと第1PMOSト
    ランジスタのドレインの接続点である第1ノードにゲー
    トが接続され、ソースがグランドに接続され、ドレイン
    が第2ノードに接続された第3NMOSトランジスタ
    と、 第1ノードの電圧を反転する第1インバータと、 ゲートに第1インバータの出力が与えられ、ドレインが
    第1ノードに接続された第3PMOSトランジスタと、 ゲートが第1ノードに接続され、ドレインが第2ノード
    に接続され、ソースが第3PMOSトランジスタのソー
    スに接続された第4PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースが電
    源に接続され、ドレインが第4PMOSトランジスタの
    ソースに接続された第5PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースがグ
    ランドに接続され、ドレインが第2ノードに接続された
    第4NMOSトランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続されソースがグランドに接続
    され、ドレインが第1ノードに接続された第5NMOS
    トランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続されソースがグランドに接続
    され、ドレインが第3ノードに 接続された第6NMOS
    トランジスタと、 ゲートが第2ノードに接続され、ドレインが第3ノード
    に接続された第6PMOSトランジスタと、 ゲートに前記クロック入力信号が与えられ、ソースが電
    源に接続され、ドレインが第6PMOSトランジスタの
    ソースに接続された第7PMOSトランジスタと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第6PMOS
    トランジスタのソースに接続され、ソースが電源に接続
    された第8PMOSトランジスタと、 第3ノードの出力を反転して出力端子に導出する第2イ
    ンバータと、 ゲートが出力端子に接続され、ドレインが第3ノードに
    接続され、ソースが第1NMOSトランジスタのドレイ
    ンに接続された第7NMOSトランジスタと、 から成るフリップフロップ回路。
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