JP3475546B2 - Mosfetの駆動回路 - Google Patents
Mosfetの駆動回路Info
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- JP3475546B2 JP3475546B2 JP02704395A JP2704395A JP3475546B2 JP 3475546 B2 JP3475546 B2 JP 3475546B2 JP 02704395 A JP02704395 A JP 02704395A JP 2704395 A JP2704395 A JP 2704395A JP 3475546 B2 JP3475546 B2 JP 3475546B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高耐圧、大電流の制御
に用いられるMOSFETの駆動回路に関するものであ
る。
に用いられるMOSFETの駆動回路に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】最近では、高耐圧、大電流を制御するこ
とができる半導体素子が提供されており、この種の半導
体素子を一般にパワー素子と称している。パワー素子と
してMOSFETを用いる駆動回路には、図4に示すよ
うな構成のものがある(特願平6−143664号、特
願平6−267251号)。図4に示す回路は、電源E
と負荷Zとの間にドレイン−ソース間を挿入したMOS
FETQ1 を駆動する駆動回路1であって、MOSF
ETQ1 を制御信号源2からの制御信号に応じて駆動
する。
とができる半導体素子が提供されており、この種の半導
体素子を一般にパワー素子と称している。パワー素子と
してMOSFETを用いる駆動回路には、図4に示すよ
うな構成のものがある(特願平6−143664号、特
願平6−267251号)。図4に示す回路は、電源E
と負荷Zとの間にドレイン−ソース間を挿入したMOS
FETQ1 を駆動する駆動回路1であって、MOSF
ETQ1 を制御信号源2からの制御信号に応じて駆動
する。
【0003】すなわち、この駆動回路1では、MOSF
ETQ1 のソース−ゲート間に接続したツェナーダイ
オードZD1 と分圧用の抵抗R1 との並列回路を有
し、抵抗R1 には一端をMOSFETQ1 のゲート
に接続した分圧用の抵抗R2 が直列接続される。両抵
抗R1 ,R2 の直列回路は、pnp形のトランジス
タQ2 のエミッタ−コレクタ間に並列接続される。こ
こに、トランジスタQ2 のエミッタは抵抗R2 を介
してMOSFETQ1 のゲートに接続されている。ま
た、トランジスタQ2 のエミッタおよびベースはそれ
ぞれ抵抗R3 ,R4 を介して制御信号源2に接続さ
れる。トランジスタQ2のコレクタはMOSFETQ
1 のソースとともに制御信号源2の接地側に接続され
る。
ETQ1 のソース−ゲート間に接続したツェナーダイ
オードZD1 と分圧用の抵抗R1 との並列回路を有
し、抵抗R1 には一端をMOSFETQ1 のゲート
に接続した分圧用の抵抗R2 が直列接続される。両抵
抗R1 ,R2 の直列回路は、pnp形のトランジス
タQ2 のエミッタ−コレクタ間に並列接続される。こ
こに、トランジスタQ2 のエミッタは抵抗R2 を介
してMOSFETQ1 のゲートに接続されている。ま
た、トランジスタQ2 のエミッタおよびベースはそれ
ぞれ抵抗R3 ,R4 を介して制御信号源2に接続さ
れる。トランジスタQ2のコレクタはMOSFETQ
1 のソースとともに制御信号源2の接地側に接続され
る。
【0004】いま、制御信号源2からの制御信号として
Hレベル(正電位)とLレベル(0V)との2値を取る
矩形波を入力するものとすると、上記駆動回路1は以下
のように動作する。まず、正常時であって制御信号がH
レベルのときには、トランジスタQ2 のベース電位と
エミッタ電位とに差が生じないからトランジスタQ2
はオフに保たれる。その結果、制御信号は抵抗R1 ,
R2 により分圧されてMOSFETQ1 のゲートに
印加され、MOSFETQ1 がオンになる。一方、制
御信号がLレベルのときには、MOSFETQ1 のゲ
ートには制御信号による電圧が印加されなくなるから、
MOSFETQ1 はオフ方向に制御されることにな
る。また、このときゲート−ソース間容量による残留電
荷でトランジスタQ2 のエミッタ−コレクタ間に電圧
が印加されるから、トランジスタQ2がオンになり、上
記残留電荷はトランジスタQ2 を通して放出され、M
OSFETQ1 は急速にオフになる。ツェナーダイオ
ードZD1 はMOSFETQ1 のゲート−ソース間
電圧をクランプする機能を有している。
Hレベル(正電位)とLレベル(0V)との2値を取る
矩形波を入力するものとすると、上記駆動回路1は以下
のように動作する。まず、正常時であって制御信号がH
レベルのときには、トランジスタQ2 のベース電位と
エミッタ電位とに差が生じないからトランジスタQ2
はオフに保たれる。その結果、制御信号は抵抗R1 ,
R2 により分圧されてMOSFETQ1 のゲートに
印加され、MOSFETQ1 がオンになる。一方、制
御信号がLレベルのときには、MOSFETQ1 のゲ
ートには制御信号による電圧が印加されなくなるから、
MOSFETQ1 はオフ方向に制御されることにな
る。また、このときゲート−ソース間容量による残留電
荷でトランジスタQ2 のエミッタ−コレクタ間に電圧
が印加されるから、トランジスタQ2がオンになり、上
記残留電荷はトランジスタQ2 を通して放出され、M
OSFETQ1 は急速にオフになる。ツェナーダイオ
ードZD1 はMOSFETQ1 のゲート−ソース間
電圧をクランプする機能を有している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した駆
動回路1では、MOSFETQ1 の破壊時にドレイン
−ゲート間が短絡状態になることがある。この場合、M
OSFETQ1 のドレイン側の高電圧がゲート側に印
加されることになり、駆動回路1や制御信号源2に急激
な電圧が変動が生じたり過大な電流が流れたりし、駆動
回路1や制御信号源2が破壊されることがある。
動回路1では、MOSFETQ1 の破壊時にドレイン
−ゲート間が短絡状態になることがある。この場合、M
OSFETQ1 のドレイン側の高電圧がゲート側に印
加されることになり、駆動回路1や制御信号源2に急激
な電圧が変動が生じたり過大な電流が流れたりし、駆動
回路1や制御信号源2が破壊されることがある。
【0006】本発明は上記事由に鑑みて為されたもので
あり、その目的は、MOSFETの破壊時に駆動回路や
制御信号源が破壊されることがないように保護する機能
を有したMOSFETの駆動回路を提供することにあ
る。
あり、その目的は、MOSFETの破壊時に駆動回路や
制御信号源が破壊されることがないように保護する機能
を有したMOSFETの駆動回路を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、電源
と負荷との間に挿入されるMOSFETのゲートと制御
信号を発生する制御信号源との間に挿入され、制御信号
に応じてMOSFETを制御する駆動回路であって、M
OSFETのドレインとゲートとの短絡時にMOSFE
Tのゲートから制御信号源に向かって電流が流れるとダ
イオードを介して充電されるコンデンサと、コンデンサ
の両端電圧が所定電圧以上になるとオンになる第1のス
イッチング素子と、制御信号源の一方の出力端子ととも
に電源の一端に共通に接続されるMOSFETのソース
とゲートとの間に第1のスイッチング素子との直列回路
が挿入された限流用抵抗とを備えることを特徴とする。
と負荷との間に挿入されるMOSFETのゲートと制御
信号を発生する制御信号源との間に挿入され、制御信号
に応じてMOSFETを制御する駆動回路であって、M
OSFETのドレインとゲートとの短絡時にMOSFE
Tのゲートから制御信号源に向かって電流が流れるとダ
イオードを介して充電されるコンデンサと、コンデンサ
の両端電圧が所定電圧以上になるとオンになる第1のス
イッチング素子と、制御信号源の一方の出力端子ととも
に電源の一端に共通に接続されるMOSFETのソース
とゲートとの間に第1のスイッチング素子との直列回路
が挿入された限流用抵抗とを備えることを特徴とする。
【0008】請求項2の発明は、電源と負荷との間に挿
入されるMOSFETのゲートと制御信号を発生する制
御信号源との間に挿入され、制御信号に応じてMOSF
ETを制御する駆動回路であって、MOSFETのドレ
インとゲートとの短絡時にMOSFETのゲートから制
御信号源に向かって電流が流れるとダイオードを介して
充電されるコンデンサと、コンデンサの両端電圧が所定
電圧以上になるとオンになる第1のスイッチング素子
と、制御信号源の出力端子間に接続され第1のスイッチ
ング素子のオン時にオンになるように限流用抵抗を介し
て第1のスイッチング素子がゲートに接続された第2の
スイッチング素子とを備えることを特徴とする。
入されるMOSFETのゲートと制御信号を発生する制
御信号源との間に挿入され、制御信号に応じてMOSF
ETを制御する駆動回路であって、MOSFETのドレ
インとゲートとの短絡時にMOSFETのゲートから制
御信号源に向かって電流が流れるとダイオードを介して
充電されるコンデンサと、コンデンサの両端電圧が所定
電圧以上になるとオンになる第1のスイッチング素子
と、制御信号源の出力端子間に接続され第1のスイッチ
ング素子のオン時にオンになるように限流用抵抗を介し
て第1のスイッチング素子がゲートに接続された第2の
スイッチング素子とを備えることを特徴とする。
【0009】請求項3の発明は、電源と負荷との間に挿
入されるMOSFETのゲートと制御信号を発生する制
御信号源との間に挿入され、制御信号に応じてMOSF
ETを制御する駆動回路であって、MOSFETのドレ
インとゲートとの短絡時にMOSFETのゲートから制
御信号源に向かって電流が流れるとダイオードを介して
充電されるコンデンサと、コンデンサの両端電圧が所定
電圧以上になるとオンになる第1のスイッチング素子
と、制御信号源の出力端子間に接続され第1のスイッチ
ング素子のオン時にオンになるように限流用抵抗を介し
て第1のスイッチング素子がゲートに接続された第2の
スイッチング素子と、制御信号源とMOSFETのゲー
トとの間に挿入され第2のスイッチング素子のオン時に
オフになる第3のスイッチング素子とを備えることを特
徴とする。
入されるMOSFETのゲートと制御信号を発生する制
御信号源との間に挿入され、制御信号に応じてMOSF
ETを制御する駆動回路であって、MOSFETのドレ
インとゲートとの短絡時にMOSFETのゲートから制
御信号源に向かって電流が流れるとダイオードを介して
充電されるコンデンサと、コンデンサの両端電圧が所定
電圧以上になるとオンになる第1のスイッチング素子
と、制御信号源の出力端子間に接続され第1のスイッチ
ング素子のオン時にオンになるように限流用抵抗を介し
て第1のスイッチング素子がゲートに接続された第2の
スイッチング素子と、制御信号源とMOSFETのゲー
トとの間に挿入され第2のスイッチング素子のオン時に
オフになる第3のスイッチング素子とを備えることを特
徴とする。
【0010】請求項4の発明は、互いに直列接続された
直列回路が制御信号源の出力端子間に接続された一対の
分圧用抵抗を設け、一方の分圧用抵抗をMOSFETの
ゲートとソースとの間に接続し、他方の分圧用抵抗を制
御信号源とMOSFETのゲートとの間に挿入し、上記
ダイオードと上記コンデンサとの直列回路を上記他方の
分圧用抵抗に並列接続し、上記第1のスイッチング素子
はpnp形のトランジスタであって、ダイオードのカソ
ードとコンデンサの一端との接続点にエミッタを接続
し、コンデンサの他端にベースを接続し、限流用抵抗の
一端にコレクタを接続して成ることを特徴とする。
直列回路が制御信号源の出力端子間に接続された一対の
分圧用抵抗を設け、一方の分圧用抵抗をMOSFETの
ゲートとソースとの間に接続し、他方の分圧用抵抗を制
御信号源とMOSFETのゲートとの間に挿入し、上記
ダイオードと上記コンデンサとの直列回路を上記他方の
分圧用抵抗に並列接続し、上記第1のスイッチング素子
はpnp形のトランジスタであって、ダイオードのカソ
ードとコンデンサの一端との接続点にエミッタを接続
し、コンデンサの他端にベースを接続し、限流用抵抗の
一端にコレクタを接続して成ることを特徴とする。
【0011】
【作用】請求項1の発明の構成によれば、MOSFET
の破壊によってドレインとゲートとが短絡して電源から
の電流がゲートから制御信号源に向かって流れようとす
ると、ダイオードを通してコンデンサが充電されること
により、第1のスイッチング素子がオンになる。その結
果、第1のスイッチング素子と限流用抵抗とを通してM
OSFETのゲートとソースとの間が接続され、MOS
FETのゲートから制御信号源に流れようとする電流が
バイパスされることになり、制御信号源への過電流の流
れ込みによる制御信号源の破壊を防止することができ
る。また、MOSFETの破壊直後にゲートの電位が急
激に変動しようとするが、コンデンサによってある程度
吸収されるから、この種の変動による制御信号源の破壊
も防止することができる。しかも、MOSFETのゲー
トとソースとの間は限流用抵抗を介して接続されるか
ら、第1のスイッチング素子が過電流によって破壊され
ることも防止できる。
の破壊によってドレインとゲートとが短絡して電源から
の電流がゲートから制御信号源に向かって流れようとす
ると、ダイオードを通してコンデンサが充電されること
により、第1のスイッチング素子がオンになる。その結
果、第1のスイッチング素子と限流用抵抗とを通してM
OSFETのゲートとソースとの間が接続され、MOS
FETのゲートから制御信号源に流れようとする電流が
バイパスされることになり、制御信号源への過電流の流
れ込みによる制御信号源の破壊を防止することができ
る。また、MOSFETの破壊直後にゲートの電位が急
激に変動しようとするが、コンデンサによってある程度
吸収されるから、この種の変動による制御信号源の破壊
も防止することができる。しかも、MOSFETのゲー
トとソースとの間は限流用抵抗を介して接続されるか
ら、第1のスイッチング素子が過電流によって破壊され
ることも防止できる。
【0012】請求項2の発明の構成によれば、第1のス
イッチング素子がオンになると第2のスイッチング素子
がオンになることによって、制御信号源の出力端子間が
短絡され、MOSFETのゲートから制御信号源に向か
う電流および制御信号源から出力される制御信号がとも
に第2のスイッチング素子を通してバイパスされ、結果
的にMOSFET側と制御信号源側とが相互に影響を及
ぼさなくなる。つまり、MOSFETのゲートから制御
信号源への過電流の流れ込みによる制御信号源の破壊を
防止することができ、またこの状態では制御信号のMO
SFETへの流れ込みも停止することになる。しかも、
請求項1の発明と同様に、MOSFETの破壊直後にゲ
ートの電位が急激に変動しようとするが、コンデンサに
よってある程度吸収されるから、この種の変動による制
御信号源の破壊も防止することができる。
イッチング素子がオンになると第2のスイッチング素子
がオンになることによって、制御信号源の出力端子間が
短絡され、MOSFETのゲートから制御信号源に向か
う電流および制御信号源から出力される制御信号がとも
に第2のスイッチング素子を通してバイパスされ、結果
的にMOSFET側と制御信号源側とが相互に影響を及
ぼさなくなる。つまり、MOSFETのゲートから制御
信号源への過電流の流れ込みによる制御信号源の破壊を
防止することができ、またこの状態では制御信号のMO
SFETへの流れ込みも停止することになる。しかも、
請求項1の発明と同様に、MOSFETの破壊直後にゲ
ートの電位が急激に変動しようとするが、コンデンサに
よってある程度吸収されるから、この種の変動による制
御信号源の破壊も防止することができる。
【0013】請求項3の発明の構成によれば、第2のス
イッチング素子のオン時にオフになる第3のスイッチン
グ素子を制御信号源とMOSFETのゲートとの間に挿
入しているから、請求項2の発明の作用に加えて、異常
時には制御信号源とMOSFETとを第3のスイッチン
グ素子によって完全に分離することができ、制御信号源
を確実に保護することができる。
イッチング素子のオン時にオフになる第3のスイッチン
グ素子を制御信号源とMOSFETのゲートとの間に挿
入しているから、請求項2の発明の作用に加えて、異常
時には制御信号源とMOSFETとを第3のスイッチン
グ素子によって完全に分離することができ、制御信号源
を確実に保護することができる。
【0014】請求項4の発明の構成は、請求項1ないし
請求項3の発明の望ましい実施態様である。
請求項3の発明の望ましい実施態様である。
【0015】
【実施例】(実施例1)
本実施例は、図1に示すように、図4に示した従来構成
に加えて、MOSFETQ1 の短絡時に生じる過電流
に対する保護機能を追加してある。すなわち、駆動回路
1における分圧用の抵抗R2 に、ダイオードD1 と
コンデンサC1 との直列回路を並列接続し、コンデン
サC1 の両端にベース−エミッタ間を接続したpnp
形のトランジスタQ3を第1のスイッチング素子として
設け、このトランジスタQ3 のコレクタを限流用の抵
抗R5 を介してトランジスタQ2 のコレクタに接続
してある。ダイオードD1 はMOSFETQ1 のゲ
ートにアノードを接続してあり、ダイオードD1 のカ
ソードとコンデンサC1 との接続点にはトランジスタ
Q3 のエミッタを接続してある。
に加えて、MOSFETQ1 の短絡時に生じる過電流
に対する保護機能を追加してある。すなわち、駆動回路
1における分圧用の抵抗R2 に、ダイオードD1 と
コンデンサC1 との直列回路を並列接続し、コンデン
サC1 の両端にベース−エミッタ間を接続したpnp
形のトランジスタQ3を第1のスイッチング素子として
設け、このトランジスタQ3 のコレクタを限流用の抵
抗R5 を介してトランジスタQ2 のコレクタに接続
してある。ダイオードD1 はMOSFETQ1 のゲ
ートにアノードを接続してあり、ダイオードD1 のカ
ソードとコンデンサC1 との接続点にはトランジスタ
Q3 のエミッタを接続してある。
【0016】次に、本実施例の動作を説明する。駆動回
路1の動作は図4に示した従来構成と同様であるから、
過電流に対する保護機能についてのみ説明する。まず、
正常時において制御信号がHレベルであるときには、ダ
イオードD1 が逆方向に接続されるから、コンデンサ
C1 は充電されずトランジスタQ3 もオフに保たれ
ている。また、制御信号がLレベルであるときには、M
OSFETQ1 のゲート−ソース間容量による残留電
荷がトランジスタQ2 を通して放出される。このと
き、トランジスタQ3 はオフに保たれるように回路定
数が設定されている。
路1の動作は図4に示した従来構成と同様であるから、
過電流に対する保護機能についてのみ説明する。まず、
正常時において制御信号がHレベルであるときには、ダ
イオードD1 が逆方向に接続されるから、コンデンサ
C1 は充電されずトランジスタQ3 もオフに保たれ
ている。また、制御信号がLレベルであるときには、M
OSFETQ1 のゲート−ソース間容量による残留電
荷がトランジスタQ2 を通して放出される。このと
き、トランジスタQ3 はオフに保たれるように回路定
数が設定されている。
【0017】MOSFETQ1 の破壊によってドレイ
ン−ゲート間が短絡状態になると、電源Eから負荷Zを
通してMOSFETQ1 のゲートに高電圧が印加され
るから、電源E→負荷Z→MOSFETQ1 →ダイオ
ードD1 →コンデンサC1 の経路でコンデンサC
1 が充電され、コンデンサC1 の両端電圧が上昇す
ることによってトランジスタQ3 がオンになる。その
結果、MOSFETQ1 のゲートに流れる過大な電流
はダイオードD1 →トランジスタQ3 →抵抗R5
を通してバイパスされることになる。このように、MO
SFETQ1 の破壊によって制御信号源2に過大な電
流が流れようとしても、その電流はコンデンサC1 で
吸収された後に、トランジスタQ3 のオンによって抵
抗R5 で限流された状態でバイパスされるから、結果
的に駆動回路1や制御信号源2が保護されることにな
る。
ン−ゲート間が短絡状態になると、電源Eから負荷Zを
通してMOSFETQ1 のゲートに高電圧が印加され
るから、電源E→負荷Z→MOSFETQ1 →ダイオ
ードD1 →コンデンサC1 の経路でコンデンサC
1 が充電され、コンデンサC1 の両端電圧が上昇す
ることによってトランジスタQ3 がオンになる。その
結果、MOSFETQ1 のゲートに流れる過大な電流
はダイオードD1 →トランジスタQ3 →抵抗R5
を通してバイパスされることになる。このように、MO
SFETQ1 の破壊によって制御信号源2に過大な電
流が流れようとしても、その電流はコンデンサC1 で
吸収された後に、トランジスタQ3 のオンによって抵
抗R5 で限流された状態でバイパスされるから、結果
的に駆動回路1や制御信号源2が保護されることにな
る。
【0018】以上説明したように、MOSFETQ1
の正常時には図4に示した従来構成と同様に動作し、M
OSFETQ1 の破壊によってドレイン−ゲート間が
短絡したときには、電圧の急激な変化および急激に流れ
込む電流をコンデンサC1 により吸収するとともに、
その直後にトランジスタQ3 をオンにし限流用の抵抗
R5 をゲート−ソース間に挿入することによって過大
な電流を抑制することができる。つまり、駆動回路1お
よび制御信号源2に過大な電流が流れるのを防止するこ
とができる。
の正常時には図4に示した従来構成と同様に動作し、M
OSFETQ1 の破壊によってドレイン−ゲート間が
短絡したときには、電圧の急激な変化および急激に流れ
込む電流をコンデンサC1 により吸収するとともに、
その直後にトランジスタQ3 をオンにし限流用の抵抗
R5 をゲート−ソース間に挿入することによって過大
な電流を抑制することができる。つまり、駆動回路1お
よび制御信号源2に過大な電流が流れるのを防止するこ
とができる。
【0019】(実施例2)
本実施例は、図2に示すように、実施例1の構成におい
て、抵抗R5 の一端をMOSFETQ1 のソースに
接続する代わりに、新たに追加した第2のスイッチング
素子としてのnpn形のトランジスタQ4 のベースに
接続し、さらにトランジスタQ4 のコレクタ−エミッ
タをトランジスタQ2 のコレクタ−エミッタに順並列
に接続した構成を有する。本実施例で設けたトランジス
タQ4 はオン時にトランジスタQ2 の両端間を短絡
することによって、制御信号源2の出力端子間を短絡す
るとともにMOSFETQ1 からの過電流をバイパス
する。
て、抵抗R5 の一端をMOSFETQ1 のソースに
接続する代わりに、新たに追加した第2のスイッチング
素子としてのnpn形のトランジスタQ4 のベースに
接続し、さらにトランジスタQ4 のコレクタ−エミッ
タをトランジスタQ2 のコレクタ−エミッタに順並列
に接続した構成を有する。本実施例で設けたトランジス
タQ4 はオン時にトランジスタQ2 の両端間を短絡
することによって、制御信号源2の出力端子間を短絡す
るとともにMOSFETQ1 からの過電流をバイパス
する。
【0020】さらに具体的に説明すると、本実施例でも
実施例1の構成と同様に、正常時には制御信号に応じて
MOSFETQ1 がオン・オフされ、その間、トラン
ジスタQ3 はオフに保たれる。つまり、トランジスタ
Q3 がオフであるから、トランジスタQ4 はバイア
スがかからずオフに保たれる。一方、MOSFETQ
1 の破壊によってゲートから過大な電流が流れ込む
と、実施例1と同様の動作によってトランジスタQ3
がオンになる。したがって、トランジスタQ4にバイア
スがかかってオンになり、ゲートから流れ込む電流は抵
抗R2 およびトランジスタQ4 を通ることになり、
制御信号源2に流れることが防止されるのである。ま
た、この構成では制御信号源2からの制御信号もトラン
ジスタQ4 で遮断されるから、過電流に対する保護を
一層確実に行なうことができる。また、本実施例におい
て、MOSFETQ1 の破壊直後には、コンデンサC
1 により電圧の急激な変動が抑制され、また過大な電
流の一部はトランジスタQ5 のオン直前まではダイオ
ードD1 →トランジスタQ2 →抵抗R5 →トラン
ジスタQ4 という経路でも流れる。他の構成および動
作は実施例1と同様である。
実施例1の構成と同様に、正常時には制御信号に応じて
MOSFETQ1 がオン・オフされ、その間、トラン
ジスタQ3 はオフに保たれる。つまり、トランジスタ
Q3 がオフであるから、トランジスタQ4 はバイア
スがかからずオフに保たれる。一方、MOSFETQ
1 の破壊によってゲートから過大な電流が流れ込む
と、実施例1と同様の動作によってトランジスタQ3
がオンになる。したがって、トランジスタQ4にバイア
スがかかってオンになり、ゲートから流れ込む電流は抵
抗R2 およびトランジスタQ4 を通ることになり、
制御信号源2に流れることが防止されるのである。ま
た、この構成では制御信号源2からの制御信号もトラン
ジスタQ4 で遮断されるから、過電流に対する保護を
一層確実に行なうことができる。また、本実施例におい
て、MOSFETQ1 の破壊直後には、コンデンサC
1 により電圧の急激な変動が抑制され、また過大な電
流の一部はトランジスタQ5 のオン直前まではダイオ
ードD1 →トランジスタQ2 →抵抗R5 →トラン
ジスタQ4 という経路でも流れる。他の構成および動
作は実施例1と同様である。
【0021】(実施例3)
本実施例は、図3に示すように、実施例2の構成に加え
て、抵抗R2 ,R3 の間に第3のスイッチング素子
としてのpnp形のトランジスタQ5 のエミッタ−コ
レクタ間を挿入し、このトランジスタQ5 のコレクタ
−ベース間に抵抗R6 を接続するとともに、トランジ
スタQ5 のベースにトランジスタQ4 のコレクタを
接続した構成を有する。つまり、トランジスタQ5 の
コレクタは抵抗R3 に接続され、エミッタは抵抗R2
に接続される。トランジスタQ5 はオフ時にはMOS
FETQ1 と制御信号源2とを完全に分離する機能を
有する。
て、抵抗R2 ,R3 の間に第3のスイッチング素子
としてのpnp形のトランジスタQ5 のエミッタ−コ
レクタ間を挿入し、このトランジスタQ5 のコレクタ
−ベース間に抵抗R6 を接続するとともに、トランジ
スタQ5 のベースにトランジスタQ4 のコレクタを
接続した構成を有する。つまり、トランジスタQ5 の
コレクタは抵抗R3 に接続され、エミッタは抵抗R2
に接続される。トランジスタQ5 はオフ時にはMOS
FETQ1 と制御信号源2とを完全に分離する機能を
有する。
【0022】本実施例も基本的な動作は実施例1と同様
である。ただし、MOSFETQ1 の残留電荷は抵抗
R1 を通してのみ放出され、トランジスタQ2 を通
しては放出されない構成になっている。つまり、制御信
号がHレベルであれば、トランジスタQ5 はダイオー
ドとして機能しMOSFETQ1 をオンにするのであ
り、制御信号がLレベルであれば、トランジスタQ2
は遮断される。
である。ただし、MOSFETQ1 の残留電荷は抵抗
R1 を通してのみ放出され、トランジスタQ2 を通
しては放出されない構成になっている。つまり、制御信
号がHレベルであれば、トランジスタQ5 はダイオー
ドとして機能しMOSFETQ1 をオンにするのであ
り、制御信号がLレベルであれば、トランジスタQ2
は遮断される。
【0023】一方、MOSFETQ1 が破壊されドレ
イン−ソース間が短絡されたとすると、実施例1と同様
にダイオードD1 を通してコンデンサC1 が充電さ
れ、コンデンサC1 の両端電圧の上昇によってトラン
ジスタQ3 がオンになる。トランジスタQ3 がオン
になれば、トランジスタQ4 がオンになり、トランジ
スタQ5 をオフにする。つまり、MOSFETQ1
のドレインからの過電流が制御信号源2に流れ込むこと
が防止される。また、トランジスタQ4 のオンによっ
て制御信号源2の出力端子間が抵抗R3 および抵抗R
6 を介して短絡されることになる。さらに、MOSF
ETQ1 が破壊された直後における急激な電圧の変化
はコンデンサC1 により吸収され、また過電流はダイ
オードD1 →トランジスタQ3 →抵抗R5 →トラ
ンジスタQ4 を通して限流した状態で流れるから、電
流の急激な変化も抑制される。他の構成および動作は実
施例1と同様である。
イン−ソース間が短絡されたとすると、実施例1と同様
にダイオードD1 を通してコンデンサC1 が充電さ
れ、コンデンサC1 の両端電圧の上昇によってトラン
ジスタQ3 がオンになる。トランジスタQ3 がオン
になれば、トランジスタQ4 がオンになり、トランジ
スタQ5 をオフにする。つまり、MOSFETQ1
のドレインからの過電流が制御信号源2に流れ込むこと
が防止される。また、トランジスタQ4 のオンによっ
て制御信号源2の出力端子間が抵抗R3 および抵抗R
6 を介して短絡されることになる。さらに、MOSF
ETQ1 が破壊された直後における急激な電圧の変化
はコンデンサC1 により吸収され、また過電流はダイ
オードD1 →トランジスタQ3 →抵抗R5 →トラ
ンジスタQ4 を通して限流した状態で流れるから、電
流の急激な変化も抑制される。他の構成および動作は実
施例1と同様である。
【0024】上述した各実施例のトランジスタQ2 〜
Q5 はFETなどに置き換えることも可能である。
Q5 はFETなどに置き換えることも可能である。
【0025】
【発明の効果】本発明は上述のように、MOSFETの
破壊によってドレインとゲートとが短絡して電源からの
電流がゲートから制御信号源に向かって流れようとする
と、ダイオードを通してコンデンサが充電されることに
より、第1のスイッチング素子がオンにから、MOSF
ETの破壊直後にゲートの電位が急激に変動しようとし
ても、コンデンサによってある程度吸収され、この種の
変動による制御信号源の破壊を防止することができると
いう利点がある。
破壊によってドレインとゲートとが短絡して電源からの
電流がゲートから制御信号源に向かって流れようとする
と、ダイオードを通してコンデンサが充電されることに
より、第1のスイッチング素子がオンにから、MOSF
ETの破壊直後にゲートの電位が急激に変動しようとし
ても、コンデンサによってある程度吸収され、この種の
変動による制御信号源の破壊を防止することができると
いう利点がある。
【0026】また、請求項1の発明のように、コンデン
サの両端電圧が所定電圧以上になるとオンになる第1の
スイッチング素子と限流用抵抗との直列回路をMOSF
ETのゲートとソースとの間に接続した構成を採用すれ
ば、MOSFETの異常時に第1のスイッチング素子と
限流用抵抗とを通してMOSFETのゲートとソースと
の間が接続され、MOSFETのゲートから制御信号源
に流れようとする電流がバイパスされ、制御信号源への
過電流の流れ込みによる制御信号源の破壊を防止するこ
とができるという利点がある。しかも、MOSFETの
ゲートとソースとの間は限流用抵抗を介して接続される
から、第1のスイッチング素子が過電流によって破壊さ
れることも防止できるという利点がある。
サの両端電圧が所定電圧以上になるとオンになる第1の
スイッチング素子と限流用抵抗との直列回路をMOSF
ETのゲートとソースとの間に接続した構成を採用すれ
ば、MOSFETの異常時に第1のスイッチング素子と
限流用抵抗とを通してMOSFETのゲートとソースと
の間が接続され、MOSFETのゲートから制御信号源
に流れようとする電流がバイパスされ、制御信号源への
過電流の流れ込みによる制御信号源の破壊を防止するこ
とができるという利点がある。しかも、MOSFETの
ゲートとソースとの間は限流用抵抗を介して接続される
から、第1のスイッチング素子が過電流によって破壊さ
れることも防止できるという利点がある。
【0027】請求項2の発明のように、コンデンサの両
端電圧が所定電圧以上になるとオンになる第1のスイッ
チング素子のオン時にオンになる第2のスイッチング素
子を、制御信号源の出力端子間に接続したものでは、第
1のスイッチング素子がオンになると第2のスイッチン
グ素子がオンになることによって、制御信号源の出力端
子間が短絡され、MOSFETのゲートから制御信号源
に向かう電流および制御信号源から出力される制御信号
がともに第2のスイッチング素子を通してバイパスさ
れ、結果的にMOSFET側と制御信号源側とが相互に
影響を及ぼさなくなるのであり、MOSFETのゲート
から制御信号源への過電流の流れ込みによる制御信号源
の破壊を防止することができ、またこの状態では制御信
号のMOSFETへの流れ込みも停止するという利点が
ある。
端電圧が所定電圧以上になるとオンになる第1のスイッ
チング素子のオン時にオンになる第2のスイッチング素
子を、制御信号源の出力端子間に接続したものでは、第
1のスイッチング素子がオンになると第2のスイッチン
グ素子がオンになることによって、制御信号源の出力端
子間が短絡され、MOSFETのゲートから制御信号源
に向かう電流および制御信号源から出力される制御信号
がともに第2のスイッチング素子を通してバイパスさ
れ、結果的にMOSFET側と制御信号源側とが相互に
影響を及ぼさなくなるのであり、MOSFETのゲート
から制御信号源への過電流の流れ込みによる制御信号源
の破壊を防止することができ、またこの状態では制御信
号のMOSFETへの流れ込みも停止するという利点が
ある。
【0028】請求項3の発明のように、第2のスイッチ
ング素子のオン時にオフになる第3のスイッチング素子
を制御信号源とMOSFETのゲートとの間に挿入して
いるものでは、異常時には制御信号源とMOSFETと
を第3のスイッチング素子によって完全に分離すること
ができ、制御信号源を確実に保護することができるとい
う利点がある。
ング素子のオン時にオフになる第3のスイッチング素子
を制御信号源とMOSFETのゲートとの間に挿入して
いるものでは、異常時には制御信号源とMOSFETと
を第3のスイッチング素子によって完全に分離すること
ができ、制御信号源を確実に保護することができるとい
う利点がある。
【図1】実施例1を示す回路図である。
【図2】実施例2を示す回路図である。
【図3】実施例3を示す回路図である。
【図4】従来例を示す回路図である。
1 駆動回路
2 制御信号源
C1 コンデンサ
D1 ダイオード
E 電源
Q1 MOSFET
Q3 トランジスタ(第1のスイッチング素子)
Q4 トランジスタ(第2のスイッチング素子)
Q5 トランジスタ(第3のスイッチング素子)
R1 抵抗(第1の分圧用抵抗)
R2 抵抗(第2の分圧用抵抗)
R5 抵抗(限流用抵抗)
Z 負荷
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平2−266614(JP,A)
特開 平5−343972(JP,A)
特開 平7−236285(JP,A)
特開 平7−297697(JP,A)
特開 平7−297700(JP,A)
特開 平7−322641(JP,A)
特開 平8−18417(JP,A)
特開 平8−130453(JP,A)
実開 平6−59909(JP,U)
(58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名)
H02H 7/20
H03K 17/08
Claims (4)
- 【請求項1】 電源と負荷との間に挿入されるMOSF
ETのゲートと制御信号を発生する制御信号源との間に
挿入され、制御信号に応じてMOSFETを制御する駆
動回路であって、MOSFETのドレインとゲートとの
短絡時にMOSFETのゲートから制御信号源に向かっ
て電流が流れるとダイオードを介して充電されるコンデ
ンサと、コンデンサの両端電圧が所定電圧以上になると
オンになる第1のスイッチング素子と、制御信号源の一
方の出力端子とともに電源の一端に共通に接続されるM
OSFETのソースとゲートとの間に第1のスイッチン
グ素子との直列回路が挿入された限流用抵抗とを備える
ことを特徴とするMOSFETの駆動回路。 - 【請求項2】 電源と負荷との間に挿入されるMOSF
ETのゲートと制御信号を発生する制御信号源との間に
挿入され、制御信号に応じてMOSFETを制御する駆
動回路であって、MOSFETのドレインとゲートとの
短絡時にMOSFETのゲートから制御信号源に向かっ
て電流が流れるとダイオードを介して充電されるコンデ
ンサと、コンデンサの両端電圧が所定電圧以上になると
オンになる第1のスイッチング素子と、制御信号源の出
力端子間に接続され第1のスイッチング素子のオン時に
オンになるように限流用抵抗を介して第1のスイッチン
グ素子がゲートに接続された第2のスイッチング素子と
を備えることを特徴とするMOSFETの駆動回路。 - 【請求項3】 電源と負荷との間に挿入されるMOSF
ETのゲートと制御信号を発生する制御信号源との間に
挿入され、制御信号に応じてMOSFETを制御する駆
動回路であって、MOSFETのドレインとゲートとの
短絡時にMOSFETのゲートから制御信号源に向かっ
て電流が流れるとダイオードを介して充電されるコンデ
ンサと、コンデンサの両端電圧が所定電圧以上になると
オンになる第1のスイッチング素子と、制御信号源の出
力端子間に接続され第1のスイッチング素子のオン時に
オンになるように限流用抵抗を介して第1のスイッチン
グ素子がゲートに接続された第2のスイッチング素子
と、制御信号源とMOSFETのゲートとの間に挿入さ
れ第2のスイッチング素子のオン時にオフになる第3の
スイッチング素子とを備えることを特徴とするMOSF
ETの駆動回路。 - 【請求項4】 互いに直列接続された直列回路が制御信
号源の出力端子間に接続された一対の分圧用抵抗を設
け、一方の分圧用抵抗をMOSFETのゲートとソース
との間に接続し、他方の分圧用抵抗を制御信号源とMO
SFETのゲートとの間に挿入し、上記ダイオードと上
記コンデンサとの直列回路を上記他方の分圧用抵抗に並
列接続し、上記第1のスイッチング素子はpnp形のト
ランジスタであって、ダイオードのカソードとコンデン
サの一端との接続点にエミッタを接続し、コンデンサの
他端にベースを接続し、限流用抵抗の一端にコレクタを
接続して成ることを特徴とする請求項1ないし請求項3
のいずれかに記載のMOSFETの駆動回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02704395A JP3475546B2 (ja) | 1995-02-15 | 1995-02-15 | Mosfetの駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02704395A JP3475546B2 (ja) | 1995-02-15 | 1995-02-15 | Mosfetの駆動回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08223784A JPH08223784A (ja) | 1996-08-30 |
JP3475546B2 true JP3475546B2 (ja) | 2003-12-08 |
Family
ID=12210050
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02704395A Expired - Fee Related JP3475546B2 (ja) | 1995-02-15 | 1995-02-15 | Mosfetの駆動回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3475546B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111224373B (zh) * | 2018-11-27 | 2023-01-06 | 市光法雷奥(佛山)汽车照明***有限公司 | 保护电路、电路及其操作方法、相应的车灯和车辆 |
-
1995
- 1995-02-15 JP JP02704395A patent/JP3475546B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08223784A (ja) | 1996-08-30 |
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---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20030826 |
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