JP3461937B2 - 絶縁抵抗の測定方法 - Google Patents
絶縁抵抗の測定方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、測定結果（測定値）
を複数回取り、それを加算平均して出力する（測定結果
として出力するデータをそれ以前の一定測定回数の加算
平均のデータとする）測定系において、加算平均する測
定回数を一定不変にせずに測定結果に応じて変化させ、
測定系に含まれるノイズの影響を著しく低減させるとと
もに、高速測定を可能にした絶縁抵抗の測定方法に関す
るものである。 【０００２】 【従来の技術】例えば、コンデンサや誘電体（絶縁体）
のような製品の検査ラインで個々の製品について絶縁抵
抗を測定してその良否を判断する場合、測定系に含まれ
るノイズ成分によって絶縁抵抗値の指示が大きく影響さ
れる。特に、超高抵抗の測定においては極めて微少な電
流によって絶縁抵抗を測定することになるから、ノイズ
の影響を大きく受け、大きな誤差要因となっている。ま
た、ノイズの混入により測定できる範囲が制限されてい
る。この現象はノイズ成分をより通過させ易くする比較
的容量の大きなコンデンサや誘電体において顕著にな
る。 【０００３】従来はノイズの影響を少なくするために、
ノイズ電流を抑える抵抗値の大きい入力抵抗を有する電
流計や高い内部抵抗を有する高圧源を使用する測定系に
より絶縁抵抗の測定を行っていた。しかしながら、この
方法では測定系の回路抵抗と容量による時定数が大きく
なるため絶縁抵抗測定に至るまでの容量の充電に要する
時間が長くなり、即ち、応答速度が遅くなり、絶縁抵抗
の測定を高速で行うことができない。一方、ノイズを低
減するために測定結果を複数回取り、それを加算平均し
て出力する方法も従来より採用されている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】上記複数回の測定結果
を加算平均して出力する加算平均法を使用する場合には
ノイズの影響をかなり低減できる。しかし、従来の加算
平均法では、加算平均する測定回数Ｎが、例えば５回と
か１０回というように１つの測定期間中は一定不変の回
数に設定されており（５０回或いは１００回のような大
きな回数の場合もある）、従って、５回固定の例を図６
に示すように、測定を開始してから結果が出てくるまで
加算平均する回数分の時間が必ずかかり（図６の例では
５回分の測定結果を加算平均するまで出力が発生されな
い）、測定に対する応答時間が長くなり、高速測定には
不向きであった。 【０００５】この発明の目的は、上記従来技術の欠点を
除去し、加算平均法を使用するにもかかわらず絶縁抵抗
の測定の高速化を可能にし、かつ超高抵抗であっても高
精度に安定に測定できるようにした絶縁抵抗の測定方法
を提供することにある。 【０００６】 【課題を解決するための手段】この発明では、測定結果
を複数回取り、それを加算平均して出力する測定方法を
使用する絶縁抵抗の測定において、大きな充電電流が流
れる測定初期には加算平均しないでそのまま出力する
か、加算平均する測定回数を最小限に抑え、充電電流が
減少して測定電流値が設定可能な基準値を越すようにな
ったら加算平均する測定回数を増加してノイズ成分を平
均化するようにしたものである。この方法を適用する
と、加算平均法を使用しても、測定の高速化が可能とな
り、しかも超高絶縁抵抗であっても高精度に安定に測定
できるようになる。 【０００７】 【実施例】以下、この発明の実施例について詳細に説明
する。コンデンサや誘電体のような被測定物の絶縁抵抗
の測定においては、測定初期に大きな電流が流れるが、
この電流のうち、絶縁物として流れる電流は非常に小さ
く、大部分の電流は被測定物の持つ容量を充電するため
の充電電流である。このように、測定初期においては電
流値が大きいからノイズの影響を受けないし、また、電
流の変化率が大きいから、加算平均する測定回数Ｎが多
くても測定精度の向上にはつながらない。従来のように
加算平均する測定回数Ｎが一定不変であると、測定初期
においても同じ測定回数Ｎとなるから、測定時間が長く
なり、高速測定を実行する上で障害となる。 【０００８】本発明者は上記点に着目して種々の実験を
繰り返した結果、測定初期の充電電流が大きく、かつ電
流の変化が大きいときには加算平均しないでそのまま出
力するか、加算平均する測定回数Ｎを最小限にし、ノイ
ズによって影響の出てくる測定値（基準値）を境にして
この測定回数Ｎを増加させ、ノイズ成分を平均化して測
定値の安定化を図るようにすると、加算平均法を使用し
ても測定の高速化が可能となり、しかも超高絶縁抵抗で
あっても高精度に安定に測定できることを確認した。 【０００９】本発明者は測定結果に応じて制御する加算
平均する測定回数Ｎを次式により設定してコンデンサの
絶縁抵抗を測定した。 測定回数Ｎ＝｜ｌｏｇ（測定値）−ｌｏｇ（基準値）｜
×係数 ここで、「測定値」とは実際に測定したデータであり、
「基準値」とは加算平均する測定回数Ｎを決める基準に
なる測定値であり、「係数」とは加算平均する測定回数
Ｎの増加率を決める定数である。この例では測定値及び
基準値とも対数値としたが、これは抵抗値が一般に対数
目盛りで表示されるためであり、従って、対数値は単な
る一例であり、これに限定されないことは言うまでもな
い。 【００１０】図７は従来の絶縁抵抗計で０．０１μＦの
フィルムコンデンサの絶縁抵抗を２５Ｖの電圧を印加し
て測定したときの（加算平均法を使用しないときの）実
測抵抗値である。縦軸は抵抗値（Ω）を示し、対数目盛
りで表示されている。横軸は時間（秒）を示し、１目は
１０秒である。この図の特性曲線から明瞭なように、時
間の経過に伴って抵抗値は減少するが、抵抗値が１０13
Ωを越えるころ（１分経過後あたり）からノイズの影響
が大きくなり始め、これ以上大きい抵抗値の測定は困難
であることが分かる。勿論、１０13Ω近辺の抵抗値もノ
イズの影響がかなりあって正確な値が得られないことが
分かる。 【００１１】図８は図７と全く同じ条件において上述し
た加算平均する測定回数が固定の従来の加算平均法を使
用して同じ０．０１μＦのフィルムコンデンサの絶縁抵
抗を測定したときの実測抵抗値である。この場合、加算
平均する測定回数Ｎは１０回とした。測定開始直後にデ
ータがないのは、最初のデータが１０回の測定データを
得てから加算平均することによって得られるためであ
り、この無データ期間は最初の１０回の測定期間に相当
する。この図の特性曲線から明瞭なように、抵抗値が１
０13Ωを越えたころ（２分経過後あたり）からノイズの
影響が出始めており、上述した加算平均法によっても、
１０13Ωより若干大きい抵抗値あたりまでが測定限界で
あることが分かる。また、測定精度が高いとも言えず、
測定に時間がかかることも分かる。さらに、急激に測定
値が変化する冒頭の部分の出力がないので、初期部分の
特性曲線がどのような勾配のものかが分からないという
欠点がある。 【００１２】図１は加算平均する測定回数Ｎを可変させ
たこの発明による加算平均法を使用して、他の条件は上
記と全く同じにして０．０１μＦのフィルムコンデンサ
の絶縁抵抗を測定したときの実測抵抗値である。この実
施例では基準値を１０11Ω（即ち、１Ｅ１１）に設定
し、係数は〔１０＋１〕に設定した。即ち、次の式によ
って測定回数Ｎを算出した。 【００１３】測定回数Ｎ＝〔ｌｏｇ（測定値）−ｌｏｇ
（１Ｅ１１）〕×１０＋１ この式によって得られた測定回数Ｎが測定値によってど
のように変化するかを図４に示す。また、この発明によ
る測定回数可変の加算平均法の測定動作を図５に示す。
図５においては出力される測定結果を単に「平均値」と
いう表現で表しているが、１つの測定値がそのまま出力
される場合には加算平均しないことは言うまでもない。
なお、この実施例では加算平均する測定回数Ｎを決定す
るパラメータの１つである基準値を１０11Ωに設定した
が、この基準値に限定されるものではない。また、係数
もこの例に限定されない。 【００１４】図４のデータから明瞭なように、この発明
では充電電流が大きく、かつ変化が大きいときには加算
平均する測定回数Ｎが少なくなり、特に初期においては
加算平均されずに測定値がそのまま出力されるから、図
１の特性曲線から明瞭なように、測定開始直後において
も測定データが現れ、測定開始直後の特性が分からない
という欠点は除去される。また、測定時間が短縮され
る。一方、ノイズの影響が出てくる基準値１０11Ωを境
にして加算平均する測定回数Ｎが増大するから、図１の
特性曲線から明瞭なように、１０13Ωを越えても測定値
が安定しており、ノイズの影響を受けないことが分か
る。よって、高抵抗においても高精度の測定値が得ら
れ、また、測定できる高抵抗の範囲が広くなるという利
点がある。 【００１５】図２は従来の絶縁抵抗計で、固定の測定回
数を加算平均する加算平均法を使用することなく、１０
０ｐＦのセラミックコンデンサの絶縁抵抗を２５Ｖの電
圧を印加して測定したときの実測抵抗値と、この発明に
よる加算平均する測定回数Ｎを可変させた加算平均法を
使用して、他は全く同じ条件で１００ｐＦのセラミック
コンデンサの絶縁抵抗を測定したときの実測抵抗値とを
比較して示すものである。この図から明瞭なように、こ
の発明の方法によれば１０14Ωを越えても測定値が安定
しており、ノイズの影響を受けないことが分かる。 【００１６】図３は従来の絶縁抵抗計で、加算平均法を
使用することなく、１０ｐＦのセラミックコンデンサの
絶縁抵抗を２５Ｖの電圧を印加して測定したときの実測
抵抗値と、加算平均する測定回数Ｎを可変させたこの発
明による加算平均法を使用して、他は全く同じ条件で１
０ｐＦのセラミックコンデンサの絶縁抵抗を測定したと
きの実測抵抗値とを比較して示すものである。この図か
ら明瞭なように、この発明の方法によれば１０14Ωをか
なり越えた高抵抗値も、ノイズの影響を受けずに安定し
て測定できることが分かる。 【００１７】このように、この発明では、絶縁抵抗の測
定に際し、最初に大きな充電電流が流れるときには加算
平均せずにそのまま出力するか、加算平均する測定回数
を最小限に抑えて、測定が高速度で行えるようにし、一
方、充電電流が減少して測定電流値が設定可能な基準値
を越すようになったら加算平均する測定回数を増加して
ノイズ成分を平均化し、低ノイズ化するようにしたの
で、電流が少なくなればなるほど、電流の変化率は小さ
くなり、加算平均する測定回数の増加による影響を受け
難くなる。 【００１８】 【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、加算平均法を使用するにもかかわらず測定時間の短
縮が可能となり、例えばコンデンサなどの製品の検査時
間を短縮することができる。また、かなり高い絶縁抵抗
値でもノイズの影響を受けることなく安定に高精度に測
定できるから、測定範囲を拡大することができるという
顕著な効果がある。従って、この発明の方法を適用すれ
ば、低ノイズと高速性を兼ね備えた超絶縁計を実現でき
る。
を複数回取り、それを加算平均して出力する（測定結果
として出力するデータをそれ以前の一定測定回数の加算
平均のデータとする）測定系において、加算平均する測
定回数を一定不変にせずに測定結果に応じて変化させ、
測定系に含まれるノイズの影響を著しく低減させるとと
もに、高速測定を可能にした絶縁抵抗の測定方法に関す
るものである。 【０００２】 【従来の技術】例えば、コンデンサや誘電体（絶縁体）
のような製品の検査ラインで個々の製品について絶縁抵
抗を測定してその良否を判断する場合、測定系に含まれ
るノイズ成分によって絶縁抵抗値の指示が大きく影響さ
れる。特に、超高抵抗の測定においては極めて微少な電
流によって絶縁抵抗を測定することになるから、ノイズ
の影響を大きく受け、大きな誤差要因となっている。ま
た、ノイズの混入により測定できる範囲が制限されてい
る。この現象はノイズ成分をより通過させ易くする比較
的容量の大きなコンデンサや誘電体において顕著にな
る。 【０００３】従来はノイズの影響を少なくするために、
ノイズ電流を抑える抵抗値の大きい入力抵抗を有する電
流計や高い内部抵抗を有する高圧源を使用する測定系に
より絶縁抵抗の測定を行っていた。しかしながら、この
方法では測定系の回路抵抗と容量による時定数が大きく
なるため絶縁抵抗測定に至るまでの容量の充電に要する
時間が長くなり、即ち、応答速度が遅くなり、絶縁抵抗
の測定を高速で行うことができない。一方、ノイズを低
減するために測定結果を複数回取り、それを加算平均し
て出力する方法も従来より採用されている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】上記複数回の測定結果
を加算平均して出力する加算平均法を使用する場合には
ノイズの影響をかなり低減できる。しかし、従来の加算
平均法では、加算平均する測定回数Ｎが、例えば５回と
か１０回というように１つの測定期間中は一定不変の回
数に設定されており（５０回或いは１００回のような大
きな回数の場合もある）、従って、５回固定の例を図６
に示すように、測定を開始してから結果が出てくるまで
加算平均する回数分の時間が必ずかかり（図６の例では
５回分の測定結果を加算平均するまで出力が発生されな
い）、測定に対する応答時間が長くなり、高速測定には
不向きであった。 【０００５】この発明の目的は、上記従来技術の欠点を
除去し、加算平均法を使用するにもかかわらず絶縁抵抗
の測定の高速化を可能にし、かつ超高抵抗であっても高
精度に安定に測定できるようにした絶縁抵抗の測定方法
を提供することにある。 【０００６】 【課題を解決するための手段】この発明では、測定結果
を複数回取り、それを加算平均して出力する測定方法を
使用する絶縁抵抗の測定において、大きな充電電流が流
れる測定初期には加算平均しないでそのまま出力する
か、加算平均する測定回数を最小限に抑え、充電電流が
減少して測定電流値が設定可能な基準値を越すようにな
ったら加算平均する測定回数を増加してノイズ成分を平
均化するようにしたものである。この方法を適用する
と、加算平均法を使用しても、測定の高速化が可能とな
り、しかも超高絶縁抵抗であっても高精度に安定に測定
できるようになる。 【０００７】 【実施例】以下、この発明の実施例について詳細に説明
する。コンデンサや誘電体のような被測定物の絶縁抵抗
の測定においては、測定初期に大きな電流が流れるが、
この電流のうち、絶縁物として流れる電流は非常に小さ
く、大部分の電流は被測定物の持つ容量を充電するため
の充電電流である。このように、測定初期においては電
流値が大きいからノイズの影響を受けないし、また、電
流の変化率が大きいから、加算平均する測定回数Ｎが多
くても測定精度の向上にはつながらない。従来のように
加算平均する測定回数Ｎが一定不変であると、測定初期
においても同じ測定回数Ｎとなるから、測定時間が長く
なり、高速測定を実行する上で障害となる。 【０００８】本発明者は上記点に着目して種々の実験を
繰り返した結果、測定初期の充電電流が大きく、かつ電
流の変化が大きいときには加算平均しないでそのまま出
力するか、加算平均する測定回数Ｎを最小限にし、ノイ
ズによって影響の出てくる測定値（基準値）を境にして
この測定回数Ｎを増加させ、ノイズ成分を平均化して測
定値の安定化を図るようにすると、加算平均法を使用し
ても測定の高速化が可能となり、しかも超高絶縁抵抗で
あっても高精度に安定に測定できることを確認した。 【０００９】本発明者は測定結果に応じて制御する加算
平均する測定回数Ｎを次式により設定してコンデンサの
絶縁抵抗を測定した。 測定回数Ｎ＝｜ｌｏｇ（測定値）−ｌｏｇ（基準値）｜
×係数 ここで、「測定値」とは実際に測定したデータであり、
「基準値」とは加算平均する測定回数Ｎを決める基準に
なる測定値であり、「係数」とは加算平均する測定回数
Ｎの増加率を決める定数である。この例では測定値及び
基準値とも対数値としたが、これは抵抗値が一般に対数
目盛りで表示されるためであり、従って、対数値は単な
る一例であり、これに限定されないことは言うまでもな
い。 【００１０】図７は従来の絶縁抵抗計で０．０１μＦの
フィルムコンデンサの絶縁抵抗を２５Ｖの電圧を印加し
て測定したときの（加算平均法を使用しないときの）実
測抵抗値である。縦軸は抵抗値（Ω）を示し、対数目盛
りで表示されている。横軸は時間（秒）を示し、１目は
１０秒である。この図の特性曲線から明瞭なように、時
間の経過に伴って抵抗値は減少するが、抵抗値が１０13
Ωを越えるころ（１分経過後あたり）からノイズの影響
が大きくなり始め、これ以上大きい抵抗値の測定は困難
であることが分かる。勿論、１０13Ω近辺の抵抗値もノ
イズの影響がかなりあって正確な値が得られないことが
分かる。 【００１１】図８は図７と全く同じ条件において上述し
た加算平均する測定回数が固定の従来の加算平均法を使
用して同じ０．０１μＦのフィルムコンデンサの絶縁抵
抗を測定したときの実測抵抗値である。この場合、加算
平均する測定回数Ｎは１０回とした。測定開始直後にデ
ータがないのは、最初のデータが１０回の測定データを
得てから加算平均することによって得られるためであ
り、この無データ期間は最初の１０回の測定期間に相当
する。この図の特性曲線から明瞭なように、抵抗値が１
０13Ωを越えたころ（２分経過後あたり）からノイズの
影響が出始めており、上述した加算平均法によっても、
１０13Ωより若干大きい抵抗値あたりまでが測定限界で
あることが分かる。また、測定精度が高いとも言えず、
測定に時間がかかることも分かる。さらに、急激に測定
値が変化する冒頭の部分の出力がないので、初期部分の
特性曲線がどのような勾配のものかが分からないという
欠点がある。 【００１２】図１は加算平均する測定回数Ｎを可変させ
たこの発明による加算平均法を使用して、他の条件は上
記と全く同じにして０．０１μＦのフィルムコンデンサ
の絶縁抵抗を測定したときの実測抵抗値である。この実
施例では基準値を１０11Ω（即ち、１Ｅ１１）に設定
し、係数は〔１０＋１〕に設定した。即ち、次の式によ
って測定回数Ｎを算出した。 【００１３】測定回数Ｎ＝〔ｌｏｇ（測定値）−ｌｏｇ
（１Ｅ１１）〕×１０＋１ この式によって得られた測定回数Ｎが測定値によってど
のように変化するかを図４に示す。また、この発明によ
る測定回数可変の加算平均法の測定動作を図５に示す。
図５においては出力される測定結果を単に「平均値」と
いう表現で表しているが、１つの測定値がそのまま出力
される場合には加算平均しないことは言うまでもない。
なお、この実施例では加算平均する測定回数Ｎを決定す
るパラメータの１つである基準値を１０11Ωに設定した
が、この基準値に限定されるものではない。また、係数
もこの例に限定されない。 【００１４】図４のデータから明瞭なように、この発明
では充電電流が大きく、かつ変化が大きいときには加算
平均する測定回数Ｎが少なくなり、特に初期においては
加算平均されずに測定値がそのまま出力されるから、図
１の特性曲線から明瞭なように、測定開始直後において
も測定データが現れ、測定開始直後の特性が分からない
という欠点は除去される。また、測定時間が短縮され
る。一方、ノイズの影響が出てくる基準値１０11Ωを境
にして加算平均する測定回数Ｎが増大するから、図１の
特性曲線から明瞭なように、１０13Ωを越えても測定値
が安定しており、ノイズの影響を受けないことが分か
る。よって、高抵抗においても高精度の測定値が得ら
れ、また、測定できる高抵抗の範囲が広くなるという利
点がある。 【００１５】図２は従来の絶縁抵抗計で、固定の測定回
数を加算平均する加算平均法を使用することなく、１０
０ｐＦのセラミックコンデンサの絶縁抵抗を２５Ｖの電
圧を印加して測定したときの実測抵抗値と、この発明に
よる加算平均する測定回数Ｎを可変させた加算平均法を
使用して、他は全く同じ条件で１００ｐＦのセラミック
コンデンサの絶縁抵抗を測定したときの実測抵抗値とを
比較して示すものである。この図から明瞭なように、こ
の発明の方法によれば１０14Ωを越えても測定値が安定
しており、ノイズの影響を受けないことが分かる。 【００１６】図３は従来の絶縁抵抗計で、加算平均法を
使用することなく、１０ｐＦのセラミックコンデンサの
絶縁抵抗を２５Ｖの電圧を印加して測定したときの実測
抵抗値と、加算平均する測定回数Ｎを可変させたこの発
明による加算平均法を使用して、他は全く同じ条件で１
０ｐＦのセラミックコンデンサの絶縁抵抗を測定したと
きの実測抵抗値とを比較して示すものである。この図か
ら明瞭なように、この発明の方法によれば１０14Ωをか
なり越えた高抵抗値も、ノイズの影響を受けずに安定し
て測定できることが分かる。 【００１７】このように、この発明では、絶縁抵抗の測
定に際し、最初に大きな充電電流が流れるときには加算
平均せずにそのまま出力するか、加算平均する測定回数
を最小限に抑えて、測定が高速度で行えるようにし、一
方、充電電流が減少して測定電流値が設定可能な基準値
を越すようになったら加算平均する測定回数を増加して
ノイズ成分を平均化し、低ノイズ化するようにしたの
で、電流が少なくなればなるほど、電流の変化率は小さ
くなり、加算平均する測定回数の増加による影響を受け
難くなる。 【００１８】 【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、加算平均法を使用するにもかかわらず測定時間の短
縮が可能となり、例えばコンデンサなどの製品の検査時
間を短縮することができる。また、かなり高い絶縁抵抗
値でもノイズの影響を受けることなく安定に高精度に測
定できるから、測定範囲を拡大することができるという
顕著な効果がある。従って、この発明の方法を適用すれ
ば、低ノイズと高速性を兼ね備えた超絶縁計を実現でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明による測定方法を適用して測定したフ
ィルムコンデンサの絶縁抵抗を示す特性図である。 【図２】従来の絶縁抵抗計によって測定した他のセラミ
ックコンデンサの絶縁抵抗とこの発明による測定方法を
適用して測定した絶縁抵抗とを示す特性図である。 【図３】従来の絶縁抵抗計によって測定したさらに他の
セラミックコンデンサの絶縁抵抗とこの発明による測定
方法を適用して測定した絶縁抵抗とを示す特性図であ
る。 【図４】この発明による測定方法において用いられた基
準値及び係数から得られた測定回数が測定値によって変
化する態様を示す図である。 【図５】この発明による測定方法において使用された加
算平均法の測定動作を説明するための図である。 【図６】従来の加算平均する測定回数を固定とした加算
平均法の測定動作を説明するための図である。 【図７】従来の絶縁抵抗計によって測定した図１と同じ
フィルムコンデンサの絶縁抵抗を示す特性図である。 【図８】従来の絶縁抵抗計に加算平均する測定回数を固
定とした従来の加算平均法を適用して測定した図１と同
じフィルムコンデンサの絶縁抵抗を示す特性図である。
ィルムコンデンサの絶縁抵抗を示す特性図である。 【図２】従来の絶縁抵抗計によって測定した他のセラミ
ックコンデンサの絶縁抵抗とこの発明による測定方法を
適用して測定した絶縁抵抗とを示す特性図である。 【図３】従来の絶縁抵抗計によって測定したさらに他の
セラミックコンデンサの絶縁抵抗とこの発明による測定
方法を適用して測定した絶縁抵抗とを示す特性図であ
る。 【図４】この発明による測定方法において用いられた基
準値及び係数から得られた測定回数が測定値によって変
化する態様を示す図である。 【図５】この発明による測定方法において使用された加
算平均法の測定動作を説明するための図である。 【図６】従来の加算平均する測定回数を固定とした加算
平均法の測定動作を説明するための図である。 【図７】従来の絶縁抵抗計によって測定した図１と同じ
フィルムコンデンサの絶縁抵抗を示す特性図である。 【図８】従来の絶縁抵抗計に加算平均する測定回数を固
定とした従来の加算平均法を適用して測定した図１と同
じフィルムコンデンサの絶縁抵抗を示す特性図である。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 入力抵抗を有する電流計と内部抵抗を有
する電源とを使用する測定系を用いて絶縁抵抗を測定
し、測定した測定値と以前に測定した複数の測定値を加
算平均して測定結果として出力する、コンデンサや誘電
体の絶縁抵抗の測定方法において、 上記測定した測定値の対数と上記加算平均する数を決め
る基準抵抗値の対数との差に、上記加算平均する数の増
加率を決める係数を掛けた数を上記加算平均する数とす
るこを特徴とする絶縁抵抗の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28483694A JP3461937B2 (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | 絶縁抵抗の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28483694A JP3461937B2 (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | 絶縁抵抗の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08146057A JPH08146057A (ja) | 1996-06-07 |
| JP3461937B2 true JP3461937B2 (ja) | 2003-10-27 |
Family
ID=17683647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28483694A Expired - Fee Related JP3461937B2 (ja) | 1994-11-18 | 1994-11-18 | 絶縁抵抗の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3461937B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4685500B2 (ja) * | 2005-04-20 | 2011-05-18 | 日置電機株式会社 | 絶縁抵抗計 |
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