JP3388178B2 - レーザ強度調整方法 - Google Patents
レーザ強度調整方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は，デジタル複写機な
どの静電写真式のデジタル画像形成装置において，帯電
チャージャによって一様電位が与えられた感光体表面に
レーザ光を照射するレーザ露光手段の最大強度を，該最
大強度のレーザによる露光部分の電位が所定の設定電位
になるように調整するレーザ強度調整方法に関するもの
である。 【０００２】 【従来の技術】デジタル複写機などの画像形成装置にお
いては，感光体表面の電位が所定値になるように補正す
るいわゆる電位補正が，定期的，若しくは必要に応じて
行われる。上記電位補正には，レーザによって露光され
ない状態での電位を，帯電チャージャのグリッドのバイ
アス電圧を調整することにより補正するいわゆる暗電位
補正と，レーザによって露光された状態での電位を，レ
ーザ露光部の最大強度を調整することにより補正するい
わゆる明電位補正とがあり，通常，上記明電位補正は上
記暗電位補正に引き続いて行われる。続いて，従来行わ
れていた上記暗電位補正と明電位補正の手順の一例を説
明する。まず，図５を用いて，あるカラーデジタル複写
機の画像形成装置Ａにおける感光体周辺の概略装置構成
について説明する。画像形成装置Ａの中央部にはドラム
状の感光体１が設置されており，該感光体１の周囲に
は，上記感光体１の表面に所定の一様電位を与える帯電
チャージャ２と，図示しない画像読取装置で得られた読
取画像に基づいて上記感光体１の表面を露光するレーザ
露光部（レーザ光のみ矢印で図示）と，上記感光体１の
表面電位を測定する電位センサ３と，上記レーザ露光部
の露光により上記感光体１の表面に形成された静電潜像
を現像する現像ユニット４ａ〜４ｄ（それぞれイエロ
ー，シアン，マゼンタ，ブラック）と，上記現像ユニッ
トにより上記感光体１の表面に形成されたトナー像を転
写紙に転写する転写ベルト５と，上記感光体１の表面に
残存する残トナーを除去するクリーニングユニット６と
が，上記感光体１の回転方向である矢印Ｙ１方向に順番
に配置されている。続いて，図４〜図６を用いて暗電
位，明電位補正の手順について説明する。まず上記暗電
位補正（ステップＳ５１）については，上記帯電チャー
ジャ２のグリッドのバイアス電圧を任意の値に設定した
上で，上記レーザ露光部による露光を行わない状態で上
記電位センサ３により感光体１表面の電位（暗電位）が
測定される。そして，測定された暗電位と所望の設定電
位との差に基づいて，例えば実験等により求められた関
係式（一次式）に基づいて，暗電位が所望の設定電位と
一致するようにバイアス電圧値が調整される。グリッド
のバイアス電圧と感光体１の表面電位との関係はほぼ直
線で近似できるため，暗電位補正についてはこのような
方法で比較的容易に行える。続いて，上記暗電位補正さ
れた状態で上記明電位補正が行われる。まず，上記帯電
チャージャ２によって一様電位が与えられた感光体１の
表面を，上記レーザ露光部の最大強度を任意の値（例え
ば図６の）に設定した上で露光し（ステップＳ５２，
Ｓ５３），上記電位センサ３により感光体１表面の電位
（明電位）を測定する（ステップＳ５４）。そして，測
定された明電位（図６の）に対して，予め実験等で求
められた１次式（図６の）を適用し，所望の設定電位
（図６の）に対するレーザ強度（図６の）を算出す
る（ステップＳ５６）。そして，得られたレーザ強度を
上記最大強度に設定した上で（ステップＳ５７），上記
ステップＳ５４で得られる明電位が所望の電位と略等し
くなるまで（ステップＳ５５），上記ステップＳ５３〜
Ｓ５７の処理を繰り返し行う。従来は，以上のようにし
て暗電位，明電位の補正が行われていた。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら，上記従
来の明電位補正は非常に手間と時間がかかるという問題
点があった。即ち，上記従来の明電位補正では，予め実
験等で求められた１次式を用いて解の探索を行っている
が，実際のレーザ強度と明電位との関係は図６に示すよ
うな関係にあって直線近似をするには無理があるため，
上記ステップＳ５３〜Ｓ５７を繰り返すことにより次第
に収束はするものの，最終的な解が得られるまでにはか
なりの回数の繰り返し計算が必要となる。本発明は上記
事情に鑑みてなされたものであり，より短時間で容易に
明電位補正を行い得るレーザ強度調整方法を提供するこ
とを目的とする。 【０００４】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は，帯電チャージャによって一様電位が与えら
れた感光体表面にレーザ光を照射するレーザ露光手段の
最大強度を，該最大強度のレーザによる露光部分の電位
が所定の設定電位になるように調整するレーザ強度調整
方法において，所定のレーザ強度を粗分割した複数のレ
ーザ強度にて上記感光体表面を露光し，それぞれの電位
を検出する粗分割電位検出工程と，上記粗分割電位検出
工程で検出された各レーザ強度に対する電位のうち，上
記所定の設定電位に最も近い電位に対応する上記レーザ
強度近傍を更に細分割し，それら細分割された複数のレ
ーザ強度にて上記感光体表面を露光してそれぞれの電位
を検出する細分割電位検出工程と，上記所定の設定電位
と等しい若しくは略等しい電位が得られるまで上記細分
割電位検出工程を繰り返し，得られた電位に対応するレ
ーザ強度を上記最大強度とすることを特徴とするレーザ
強度調整方法として構成されている。 【０００５】 【作用】本発明に係るレーザ強度調整方法によれば，任
意に設定されたレーザ強度を粗分割した複数のレーザ強
度にて上記感光体表面が露光されてそれぞれの電位が検
出され，それで所望の設定電位が得られなければ，所定
の設定電位と等しい若しくは略等しい電位が得られるま
で，更に細分割された複数のレーザ強度にて上記感光体
表面を露光してそれぞれの電位を検出する処理が繰り返
し行われる。このように，近似を用いた調整を行わず，
全て実測値に基づいて調整されるため，少ない繰り返し
数で正確な明電位補正を容易に行うことが可能となる。 【０００６】 【発明の実施の形態】以下添付図面を参照して，本発明
の実施の形態及び実施例につき説明し，本発明の理解に
供する。尚，以下の実施の形態及び実施例は本発明を具
体化した一例であって，本発明の技術的範囲を限定する
性格のものではない。ここに，図１は本発明の実施の形
態に係るレーザ強度調整方法の処理手順を示すフローチ
ャート，図２は感光体１上に形成された露光部分（パッ
チ）の一例を示す模式図，図３は本発明の実施の形態に
係る明電位補正処理の説明図，図５はカラーデジタル複
写機の画像形成装置Ａの概略構成を示す側面図である。
本実施の形態では，本発明に係るレーザ強度調整方法
を，上記従来の方法と同様，図５に示すようなカラーデ
ジタル複写機の画像形成装置Ａに適用した例を説明す
る。 【０００７】画像形成装置Ａの中央部にはドラム状の感
光体１が設置されており，該感光体１の周囲には，上記
感光体１の表面に所定の一様電位を与える帯電チャージ
ャ２と，図示しない画像読取装置で得られた読取画像に
基づいて上記感光体１の表面を露光するレーザ露光部
（レーザ光のみ矢印で図示）と，上記感光体１の表面電
位を測定する電位センサ３と，上記レーザ露光部の露光
により上記感光体１の表面に形成された静電潜像を現像
する現像ユニット４ａ〜４ｄ（それぞれイエロー，シア
ン，マゼンタ，ブラック）と，上記現像ユニットにより
上記感光体１の表面に形成されたトナー像を転写紙に転
写する転写ベルト５と，上記感光体１の表面に残存する
残トナーを除去するクリーニングユニット６とが，上記
感光体１の回転方向である矢印Ｙ１方向に順番に配置さ
れている。上記レーザ露光部は，レーザの最大強度が任
意に設定可能であると共に，設定された最大強度（Ｐ
MAX ）を所定数（ここでは１０２３とする）に分割して
それぞれの強度（ＰMAX ×ｘ／１０２３）でレーザ光を
照射することが可能である。 【０００８】続いて，図１に示すフローチャートに従っ
て，本発明に係るレーザ強度調整方法による処理手順を
説明する。まず，上記従来と同様の方法で暗電位補正が
行われる（ステップＳ１）。即ち，上記帯電チャージャ
２のグリッドのバイアス電圧を任意の値に設定した上
で，上記レーザ露光部による露光を行わない状態で上記
電位センサ３により感光体１表面の電位（暗電位）が測
定され，測定された暗電位と所望の設定電位との差に基
づいて，例えば実験等により求められた関係式（一次
式）に基づいて，暗電位が所望の設定電位と一致するよ
うにバイアス電圧値が調整される。続く明電位補正の処
理では，まず上記レーザ露光部の最大強度ＰMAX が設定
される（ステップＳ２）。このＰMAX は，最終的な設定
値（未知）よりも高くなるように，幾分高めに設定され
る。そして，設定された最大強度ＰMAX を１０２３分割
すると共に，最終的な設定値を含むと思われる範囲で比
較的粗い間隔で幾つかのレーザ強度を選択する（ステッ
プＳ５２）。例えば，ＰMAX ×（９２０／１０２３），
ＰMAX ×（９４０／１０２３），ＰMAX ×（９６０／１
０２３），Ｐ MAX ×（９８０／１０２３），ＰMAX ×
（１０００／１０２３）のような５つのレーザ強度が選
択される。 【０００９】続いて，上記選択された各レーザ強度にて
感光体１表面が露光される（ステップＳ４）。具体的に
は，例えば図２に示すように，感光体１の表面に，上記
各レーザ強度による露光部分（パッチＡ１〜Ａ５）が連
続的に形成される。そして，上記各パッチにおける電位
（明電位）が上記電位センサ３により測定される（ステ
ップＳ５）。各パッチにおける電位測定値の例を図３に
示す。尚，上記ステップＳ２〜Ｓ５が粗分割電位検出工
程に相当する。ここで，各パッチで測定された明電位の
中に，所望の設定電位と一致する若しくは略一致するも
のがあれば（所定の終了条件が満たされれば），そのパ
ッチに対応するレーザ強度が最終的な最大強度として採
用され，処理は終了する。一方，上記各パッチで測定さ
れた明電位の中に，所望の設定電位と一致する若しくは
略一致するものがなければ（所定の終了条件が満たされ
ていなければ），所望の設定電位に最も近い電位が得ら
れた上記パッチに対応するレーザ強度の近傍において，
更に細かい間隔で幾つかのレーザ強度を選択する（ステ
ップＳ７）。例えば，所望の設定電位が−２００Ｖで，
パッチＡ３の明電位が−１９８Ｖであれば，ＰMAX ×
（９６０／１０２３）の手前側を更に細かく分割し，例
えば，ＰMAX ×（９５０／１０２３），ＰMAX ×（９５
２／１０２３），ＰMAX ×（９５４／１０２３），Ｐ
MAX ×（９５６／１０２３），ＰMAX ×（９５８／１０
２３）のような５つのレーザ強度を選択する。そして，
上記ステップＳ４〜Ｓ６の処理を再度行い，ステップＳ
６において終了条件が満たされるまで，上記ステップＳ
７→Ｓ４〜Ｓ６が繰り返される。上記ステップＳ７→Ｓ
４〜Ｓ６が細分割電位検出工程に相当する。ステップＳ
６において終了条件が満たされれば，そのパッチに対応
するレーザ強度が最終的な最大強度として採用され，処
理は終了する。 【００１０】以上説明したように，本実施の形態に係る
レーザ強度調整方法では，まず，任意に設定した最大強
度ＰMAX を粗分割した複数のレーザ強度にて上記感光体
１表面を露光してそれぞれの電位を検出し，それで所望
の設定電位が得られなければ，上記所望の設定電位と等
しい若しくは略等しい電位が得られるまで，更に細分割
された複数のレーザ強度にて上記感光体表面を露光して
それぞれの電位を検出する処理を繰り返し行う。このよ
うに，近似を用いた調整を行わず，全て実測値に基づい
て調整されるため，少ない繰り返し数で正確な明電位補
正を容易に行うことが可能となる。 【００１１】 【発明の効果】以上説明したように，本発明は，帯電チ
ャージャによって一様電位が与えられた感光体表面にレ
ーザ光を照射するレーザ露光手段の最大強度を，該最大
強度のレーザによる露光部分の電位が所定の設定電位に
なるように調整するレーザ強度調整方法において，所定
のレーザ強度を粗分割した複数のレーザ強度にて上記感
光体表面を露光し，それぞれの電位を検出する粗分割電
位検出工程と，上記粗分割電位検出工程で検出された各
レーザ強度に対する電位のうち，上記所定の設定電位に
最も近い電位に対応する上記レーザ強度近傍を更に細分
割し，それら細分割された複数のレーザ強度にて上記感
光体表面を露光してそれぞれの電位を検出する細分割電
位検出工程と，上記所定の設定電位と等しい若しくは略
等しい電位が得られるまで上記細分割電位検出工程を繰
り返し，得られた電位に対応するレーザ強度を上記最大
強度とすることを特徴とするレーザ強度調整方法として
構成されているため，近似を用いた調整を行わず，全て
実測値に基づいて調整されることにより，少ない繰り返
し数で正確な明電位補正を容易に行うことが可能とな
る。
どの静電写真式のデジタル画像形成装置において，帯電
チャージャによって一様電位が与えられた感光体表面に
レーザ光を照射するレーザ露光手段の最大強度を，該最
大強度のレーザによる露光部分の電位が所定の設定電位
になるように調整するレーザ強度調整方法に関するもの
である。 【０００２】 【従来の技術】デジタル複写機などの画像形成装置にお
いては，感光体表面の電位が所定値になるように補正す
るいわゆる電位補正が，定期的，若しくは必要に応じて
行われる。上記電位補正には，レーザによって露光され
ない状態での電位を，帯電チャージャのグリッドのバイ
アス電圧を調整することにより補正するいわゆる暗電位
補正と，レーザによって露光された状態での電位を，レ
ーザ露光部の最大強度を調整することにより補正するい
わゆる明電位補正とがあり，通常，上記明電位補正は上
記暗電位補正に引き続いて行われる。続いて，従来行わ
れていた上記暗電位補正と明電位補正の手順の一例を説
明する。まず，図５を用いて，あるカラーデジタル複写
機の画像形成装置Ａにおける感光体周辺の概略装置構成
について説明する。画像形成装置Ａの中央部にはドラム
状の感光体１が設置されており，該感光体１の周囲に
は，上記感光体１の表面に所定の一様電位を与える帯電
チャージャ２と，図示しない画像読取装置で得られた読
取画像に基づいて上記感光体１の表面を露光するレーザ
露光部（レーザ光のみ矢印で図示）と，上記感光体１の
表面電位を測定する電位センサ３と，上記レーザ露光部
の露光により上記感光体１の表面に形成された静電潜像
を現像する現像ユニット４ａ〜４ｄ（それぞれイエロ
ー，シアン，マゼンタ，ブラック）と，上記現像ユニッ
トにより上記感光体１の表面に形成されたトナー像を転
写紙に転写する転写ベルト５と，上記感光体１の表面に
残存する残トナーを除去するクリーニングユニット６と
が，上記感光体１の回転方向である矢印Ｙ１方向に順番
に配置されている。続いて，図４〜図６を用いて暗電
位，明電位補正の手順について説明する。まず上記暗電
位補正（ステップＳ５１）については，上記帯電チャー
ジャ２のグリッドのバイアス電圧を任意の値に設定した
上で，上記レーザ露光部による露光を行わない状態で上
記電位センサ３により感光体１表面の電位（暗電位）が
測定される。そして，測定された暗電位と所望の設定電
位との差に基づいて，例えば実験等により求められた関
係式（一次式）に基づいて，暗電位が所望の設定電位と
一致するようにバイアス電圧値が調整される。グリッド
のバイアス電圧と感光体１の表面電位との関係はほぼ直
線で近似できるため，暗電位補正についてはこのような
方法で比較的容易に行える。続いて，上記暗電位補正さ
れた状態で上記明電位補正が行われる。まず，上記帯電
チャージャ２によって一様電位が与えられた感光体１の
表面を，上記レーザ露光部の最大強度を任意の値（例え
ば図６の）に設定した上で露光し（ステップＳ５２，
Ｓ５３），上記電位センサ３により感光体１表面の電位
（明電位）を測定する（ステップＳ５４）。そして，測
定された明電位（図６の）に対して，予め実験等で求
められた１次式（図６の）を適用し，所望の設定電位
（図６の）に対するレーザ強度（図６の）を算出す
る（ステップＳ５６）。そして，得られたレーザ強度を
上記最大強度に設定した上で（ステップＳ５７），上記
ステップＳ５４で得られる明電位が所望の電位と略等し
くなるまで（ステップＳ５５），上記ステップＳ５３〜
Ｓ５７の処理を繰り返し行う。従来は，以上のようにし
て暗電位，明電位の補正が行われていた。 【０００３】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら，上記従
来の明電位補正は非常に手間と時間がかかるという問題
点があった。即ち，上記従来の明電位補正では，予め実
験等で求められた１次式を用いて解の探索を行っている
が，実際のレーザ強度と明電位との関係は図６に示すよ
うな関係にあって直線近似をするには無理があるため，
上記ステップＳ５３〜Ｓ５７を繰り返すことにより次第
に収束はするものの，最終的な解が得られるまでにはか
なりの回数の繰り返し計算が必要となる。本発明は上記
事情に鑑みてなされたものであり，より短時間で容易に
明電位補正を行い得るレーザ強度調整方法を提供するこ
とを目的とする。 【０００４】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は，帯電チャージャによって一様電位が与えら
れた感光体表面にレーザ光を照射するレーザ露光手段の
最大強度を，該最大強度のレーザによる露光部分の電位
が所定の設定電位になるように調整するレーザ強度調整
方法において，所定のレーザ強度を粗分割した複数のレ
ーザ強度にて上記感光体表面を露光し，それぞれの電位
を検出する粗分割電位検出工程と，上記粗分割電位検出
工程で検出された各レーザ強度に対する電位のうち，上
記所定の設定電位に最も近い電位に対応する上記レーザ
強度近傍を更に細分割し，それら細分割された複数のレ
ーザ強度にて上記感光体表面を露光してそれぞれの電位
を検出する細分割電位検出工程と，上記所定の設定電位
と等しい若しくは略等しい電位が得られるまで上記細分
割電位検出工程を繰り返し，得られた電位に対応するレ
ーザ強度を上記最大強度とすることを特徴とするレーザ
強度調整方法として構成されている。 【０００５】 【作用】本発明に係るレーザ強度調整方法によれば，任
意に設定されたレーザ強度を粗分割した複数のレーザ強
度にて上記感光体表面が露光されてそれぞれの電位が検
出され，それで所望の設定電位が得られなければ，所定
の設定電位と等しい若しくは略等しい電位が得られるま
で，更に細分割された複数のレーザ強度にて上記感光体
表面を露光してそれぞれの電位を検出する処理が繰り返
し行われる。このように，近似を用いた調整を行わず，
全て実測値に基づいて調整されるため，少ない繰り返し
数で正確な明電位補正を容易に行うことが可能となる。 【０００６】 【発明の実施の形態】以下添付図面を参照して，本発明
の実施の形態及び実施例につき説明し，本発明の理解に
供する。尚，以下の実施の形態及び実施例は本発明を具
体化した一例であって，本発明の技術的範囲を限定する
性格のものではない。ここに，図１は本発明の実施の形
態に係るレーザ強度調整方法の処理手順を示すフローチ
ャート，図２は感光体１上に形成された露光部分（パッ
チ）の一例を示す模式図，図３は本発明の実施の形態に
係る明電位補正処理の説明図，図５はカラーデジタル複
写機の画像形成装置Ａの概略構成を示す側面図である。
本実施の形態では，本発明に係るレーザ強度調整方法
を，上記従来の方法と同様，図５に示すようなカラーデ
ジタル複写機の画像形成装置Ａに適用した例を説明す
る。 【０００７】画像形成装置Ａの中央部にはドラム状の感
光体１が設置されており，該感光体１の周囲には，上記
感光体１の表面に所定の一様電位を与える帯電チャージ
ャ２と，図示しない画像読取装置で得られた読取画像に
基づいて上記感光体１の表面を露光するレーザ露光部
（レーザ光のみ矢印で図示）と，上記感光体１の表面電
位を測定する電位センサ３と，上記レーザ露光部の露光
により上記感光体１の表面に形成された静電潜像を現像
する現像ユニット４ａ〜４ｄ（それぞれイエロー，シア
ン，マゼンタ，ブラック）と，上記現像ユニットにより
上記感光体１の表面に形成されたトナー像を転写紙に転
写する転写ベルト５と，上記感光体１の表面に残存する
残トナーを除去するクリーニングユニット６とが，上記
感光体１の回転方向である矢印Ｙ１方向に順番に配置さ
れている。上記レーザ露光部は，レーザの最大強度が任
意に設定可能であると共に，設定された最大強度（Ｐ
MAX ）を所定数（ここでは１０２３とする）に分割して
それぞれの強度（ＰMAX ×ｘ／１０２３）でレーザ光を
照射することが可能である。 【０００８】続いて，図１に示すフローチャートに従っ
て，本発明に係るレーザ強度調整方法による処理手順を
説明する。まず，上記従来と同様の方法で暗電位補正が
行われる（ステップＳ１）。即ち，上記帯電チャージャ
２のグリッドのバイアス電圧を任意の値に設定した上
で，上記レーザ露光部による露光を行わない状態で上記
電位センサ３により感光体１表面の電位（暗電位）が測
定され，測定された暗電位と所望の設定電位との差に基
づいて，例えば実験等により求められた関係式（一次
式）に基づいて，暗電位が所望の設定電位と一致するよ
うにバイアス電圧値が調整される。続く明電位補正の処
理では，まず上記レーザ露光部の最大強度ＰMAX が設定
される（ステップＳ２）。このＰMAX は，最終的な設定
値（未知）よりも高くなるように，幾分高めに設定され
る。そして，設定された最大強度ＰMAX を１０２３分割
すると共に，最終的な設定値を含むと思われる範囲で比
較的粗い間隔で幾つかのレーザ強度を選択する（ステッ
プＳ５２）。例えば，ＰMAX ×（９２０／１０２３），
ＰMAX ×（９４０／１０２３），ＰMAX ×（９６０／１
０２３），Ｐ MAX ×（９８０／１０２３），ＰMAX ×
（１０００／１０２３）のような５つのレーザ強度が選
択される。 【０００９】続いて，上記選択された各レーザ強度にて
感光体１表面が露光される（ステップＳ４）。具体的に
は，例えば図２に示すように，感光体１の表面に，上記
各レーザ強度による露光部分（パッチＡ１〜Ａ５）が連
続的に形成される。そして，上記各パッチにおける電位
（明電位）が上記電位センサ３により測定される（ステ
ップＳ５）。各パッチにおける電位測定値の例を図３に
示す。尚，上記ステップＳ２〜Ｓ５が粗分割電位検出工
程に相当する。ここで，各パッチで測定された明電位の
中に，所望の設定電位と一致する若しくは略一致するも
のがあれば（所定の終了条件が満たされれば），そのパ
ッチに対応するレーザ強度が最終的な最大強度として採
用され，処理は終了する。一方，上記各パッチで測定さ
れた明電位の中に，所望の設定電位と一致する若しくは
略一致するものがなければ（所定の終了条件が満たされ
ていなければ），所望の設定電位に最も近い電位が得ら
れた上記パッチに対応するレーザ強度の近傍において，
更に細かい間隔で幾つかのレーザ強度を選択する（ステ
ップＳ７）。例えば，所望の設定電位が−２００Ｖで，
パッチＡ３の明電位が−１９８Ｖであれば，ＰMAX ×
（９６０／１０２３）の手前側を更に細かく分割し，例
えば，ＰMAX ×（９５０／１０２３），ＰMAX ×（９５
２／１０２３），ＰMAX ×（９５４／１０２３），Ｐ
MAX ×（９５６／１０２３），ＰMAX ×（９５８／１０
２３）のような５つのレーザ強度を選択する。そして，
上記ステップＳ４〜Ｓ６の処理を再度行い，ステップＳ
６において終了条件が満たされるまで，上記ステップＳ
７→Ｓ４〜Ｓ６が繰り返される。上記ステップＳ７→Ｓ
４〜Ｓ６が細分割電位検出工程に相当する。ステップＳ
６において終了条件が満たされれば，そのパッチに対応
するレーザ強度が最終的な最大強度として採用され，処
理は終了する。 【００１０】以上説明したように，本実施の形態に係る
レーザ強度調整方法では，まず，任意に設定した最大強
度ＰMAX を粗分割した複数のレーザ強度にて上記感光体
１表面を露光してそれぞれの電位を検出し，それで所望
の設定電位が得られなければ，上記所望の設定電位と等
しい若しくは略等しい電位が得られるまで，更に細分割
された複数のレーザ強度にて上記感光体表面を露光して
それぞれの電位を検出する処理を繰り返し行う。このよ
うに，近似を用いた調整を行わず，全て実測値に基づい
て調整されるため，少ない繰り返し数で正確な明電位補
正を容易に行うことが可能となる。 【００１１】 【発明の効果】以上説明したように，本発明は，帯電チ
ャージャによって一様電位が与えられた感光体表面にレ
ーザ光を照射するレーザ露光手段の最大強度を，該最大
強度のレーザによる露光部分の電位が所定の設定電位に
なるように調整するレーザ強度調整方法において，所定
のレーザ強度を粗分割した複数のレーザ強度にて上記感
光体表面を露光し，それぞれの電位を検出する粗分割電
位検出工程と，上記粗分割電位検出工程で検出された各
レーザ強度に対する電位のうち，上記所定の設定電位に
最も近い電位に対応する上記レーザ強度近傍を更に細分
割し，それら細分割された複数のレーザ強度にて上記感
光体表面を露光してそれぞれの電位を検出する細分割電
位検出工程と，上記所定の設定電位と等しい若しくは略
等しい電位が得られるまで上記細分割電位検出工程を繰
り返し，得られた電位に対応するレーザ強度を上記最大
強度とすることを特徴とするレーザ強度調整方法として
構成されているため，近似を用いた調整を行わず，全て
実測値に基づいて調整されることにより，少ない繰り返
し数で正確な明電位補正を容易に行うことが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の実施の形態に係るレーザ強度調整方
法の処理手順を示すフローチャート。 【図２】 感光体１上に形成された露光部分（パッチ）
の一例を示す模式図。 【図３】 本発明の実施の形態に係る明電位補正処理の
説明図。 【図４】 従来技術に係るレーザ強度調整方法の処理手
順を示すフローチャート。 【図５】 カラーデジタル複写機の画像形成装置Ａの概
略構成を示す側面図。 【図６】 従来技術に係る明電位補正処理の説明図。 【符号の説明】 Ｓ２〜Ｓ５…粗分割電位検出工程 Ｓ７→Ｓ４，Ｓ５…細分割電位検出工程 １…感光体 ２…帯電チャージャ ３…電位センサ
法の処理手順を示すフローチャート。 【図２】 感光体１上に形成された露光部分（パッチ）
の一例を示す模式図。 【図３】 本発明の実施の形態に係る明電位補正処理の
説明図。 【図４】 従来技術に係るレーザ強度調整方法の処理手
順を示すフローチャート。 【図５】 カラーデジタル複写機の画像形成装置Ａの概
略構成を示す側面図。 【図６】 従来技術に係る明電位補正処理の説明図。 【符号の説明】 Ｓ２〜Ｓ５…粗分割電位検出工程 Ｓ７→Ｓ４，Ｓ５…細分割電位検出工程 １…感光体 ２…帯電チャージャ ３…電位センサ
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フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
B41J 2/44
G03G 15/00 303
G03G 15/04
G03G 15/043
H04N 1/23 103
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 帯電チャージャによって一様電位が与え
られた感光体表面にレーザ光を照射するレーザ露光手段
の最大強度を，該最大強度のレーザによる露光部分の電
位が所定の設定電位になるように調整するレーザ強度調
整方法において，所定のレーザ強度を粗分割した複数の
レーザ強度にて上記感光体表面を露光し，それぞれの電
位を検出する粗分割電位検出工程と，上記粗分割電位検
出工程で検出された各レーザ強度に対する電位のうち，
上記所定の設定電位に最も近い電位に対応する上記レー
ザ強度近傍を更に細分割し，それら細分割された複数の
レーザ強度にて上記感光体表面を露光してそれぞれの電
位を検出する細分割電位検出工程と，上記所定の設定電
位と等しい若しくは略等しい電位が得られるまで上記細
分割電位検出工程を繰り返し，得られた電位に対応する
レーザ強度を上記最大強度とすることを特徴とするレー
ザ強度調整方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10978298A JP3388178B2 (ja) | 1998-04-20 | 1998-04-20 | レーザ強度調整方法 |
| US09/280,518 US6956598B2 (en) | 1998-04-20 | 1999-04-05 | Laser intensity adjusting method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10978298A JP3388178B2 (ja) | 1998-04-20 | 1998-04-20 | レーザ強度調整方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11301019A JPH11301019A (ja) | 1999-11-02 |
| JP3388178B2 true JP3388178B2 (ja) | 2003-03-17 |
Family
ID=14519094
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10978298A Expired - Fee Related JP3388178B2 (ja) | 1998-04-20 | 1998-04-20 | レーザ強度調整方法 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP3388178B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPH04126462A (ja) * | 1990-09-18 | 1992-04-27 | Canon Inc | 画像形成装置 |
| JP3116485B2 (ja) * | 1991-12-16 | 2000-12-11 | ミノルタ株式会社 | デジタル画像形成装置 |
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| JP3454491B2 (ja) * | 1996-02-29 | 2003-10-06 | 株式会社リコー | 絵柄形成方法、トナー及び画像形成装置 |
| JPH1063046A (ja) * | 1996-08-20 | 1998-03-06 | Konica Corp | 画像濃度検出方法及び装置 |
| JP2955237B2 (ja) * | 1996-08-30 | 1999-10-04 | 株式会社リコー | 潜像電位推定装置及び潜像電位推定方法 |
| US6104986A (en) * | 1998-04-02 | 2000-08-15 | Ameramp, Lc | Continuously variable constant-attenuation phase shifter |
-
1998
- 1998-04-20 JP JP10978298A patent/JP3388178B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-04-05 US US09/280,518 patent/US6956598B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9857724B2 (en) | 2015-08-25 | 2018-01-02 | Canon Kabushiki Kaisha | Image forming apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20030058332A1 (en) | 2003-03-27 |
| US6956598B2 (en) | 2005-10-18 |
| JPH11301019A (ja) | 1999-11-02 |
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