JP3261640B2 - 計測システム - Google Patents
計測システムInfo
- Publication number
- JP3261640B2 JP3261640B2 JP5870194A JP5870194A JP3261640B2 JP 3261640 B2 JP3261640 B2 JP 3261640B2 JP 5870194 A JP5870194 A JP 5870194A JP 5870194 A JP5870194 A JP 5870194A JP 3261640 B2 JP3261640 B2 JP 3261640B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- sensor
- sensors
- test space
- registered
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、エアコンや冷蔵庫等の
開発において、試験空間内のいくつかの位置にセンサを
配置し、試験空間内における温度や風速の分布状態を解
析する計測システムに関するものである。更に詳しく
は、センサ位置の計測システムへの登録のしかたに工夫
を施したものである。
開発において、試験空間内のいくつかの位置にセンサを
配置し、試験空間内における温度や風速の分布状態を解
析する計測システムに関するものである。更に詳しく
は、センサ位置の計測システムへの登録のしかたに工夫
を施したものである。
【０００２】
【従来の技術】ある試験空間内の温度や風速の分布状態
を解析する場合、試験空間内にネットを張ったり柱を立
て、ネットや柱にセンサをくくりつけ、ネットや柱によ
って形成される試験空間内の断面（このような断面を計
測断面とする）について温度や風速を計測する。そし
て、いくつかの計測断面について温度や風速の計測値を
とり、とった計測値をもとに試験空間内における温度や
風速の分布状態を解析する。
を解析する場合、試験空間内にネットを張ったり柱を立
て、ネットや柱にセンサをくくりつけ、ネットや柱によ
って形成される試験空間内の断面（このような断面を計
測断面とする）について温度や風速を計測する。そし
て、いくつかの計測断面について温度や風速の計測値を
とり、とった計測値をもとに試験空間内における温度や
風速の分布状態を解析する。
【０００３】図８は上述した解析を行う計測システムの
従来例の構成図である。図８で、１は試験空間、２1〜
２5は試験空間１内に配置されたセンサで、例えば温度
センサ、風速センサ等である。３は各センサ２1〜２5の
計測値を収集するデータ収集部、４はデータ収集部３で
収集された計測値が記憶される計測データ用メモリ、５
は解析に必要なデータを入力するキーボード、６は解析
に必要な表示を行うとともに、マン・マシン・インタフ
ェイスとなる表示部である。７は計測システム全体の制
御を司るプロセッサである。プロセッサ７において、７
１は登録手段であり、各センサ２1〜２5の位置を位置情
報用メモリ８に登録する。７２は解析手段であり、計測
データ用メモリ４に格納された計測値及び位置情報用メ
モリ８に格納されたセンサの位置情報をもとに、試験空
間１内における温度や風速の分布状態を解析する。９は
計測システムの各構成要素が接続されたバスである。
従来例の構成図である。図８で、１は試験空間、２1〜
２5は試験空間１内に配置されたセンサで、例えば温度
センサ、風速センサ等である。３は各センサ２1〜２5の
計測値を収集するデータ収集部、４はデータ収集部３で
収集された計測値が記憶される計測データ用メモリ、５
は解析に必要なデータを入力するキーボード、６は解析
に必要な表示を行うとともに、マン・マシン・インタフ
ェイスとなる表示部である。７は計測システム全体の制
御を司るプロセッサである。プロセッサ７において、７
１は登録手段であり、各センサ２1〜２5の位置を位置情
報用メモリ８に登録する。７２は解析手段であり、計測
データ用メモリ４に格納された計測値及び位置情報用メ
モリ８に格納されたセンサの位置情報をもとに、試験空
間１内における温度や風速の分布状態を解析する。９は
計測システムの各構成要素が接続されたバスである。
【０００４】このような計測システムでは、キーボード
５等を使って各センサ２1〜２5の位置を個々に位置情報
用メモリ８に登録していた。このため、計測断面がわず
かでも変更になった場合でもセンサの位置を登録し直さ
なければならなかった。この時、センサの数が多いと、
登録作業が非常に繁雑で、入力ミスの原因にもなってい
た。また、試験空間の温度や風速の分布状態を解析する
ときは、計測断面を変更することは頻繁に行われる。こ
のため、計測断面を変更する毎にセンサの位置を登録し
直さなければならず、解析に多大な時間を費やすことに
なっていた。
５等を使って各センサ２1〜２5の位置を個々に位置情報
用メモリ８に登録していた。このため、計測断面がわず
かでも変更になった場合でもセンサの位置を登録し直さ
なければならなかった。この時、センサの数が多いと、
登録作業が非常に繁雑で、入力ミスの原因にもなってい
た。また、試験空間の温度や風速の分布状態を解析する
ときは、計測断面を変更することは頻繁に行われる。こ
のため、計測断面を変更する毎にセンサの位置を登録し
直さなければならず、解析に多大な時間を費やすことに
なっていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上述した問題
点を解決するためになされたものであり、試験空間の中
で同一平面上または同一直線上にあるセンサを１つのグ
ループとして登録し、グループ内で個々のセンサの位置
を決定することによって、計測断面の変更の際における
登録作業を簡略化して入力ミスを低減し、しかも解析に
要する時間を短縮した計測システムを実現することを目
的とする。
点を解決するためになされたものであり、試験空間の中
で同一平面上または同一直線上にあるセンサを１つのグ
ループとして登録し、グループ内で個々のセンサの位置
を決定することによって、計測断面の変更の際における
登録作業を簡略化して入力ミスを低減し、しかも解析に
要する時間を短縮した計測システムを実現することを目
的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明は、試験空間内に配置された複数のセン
サが計測した測定値を収集する計測システムにおいて、
前記試験空間内に配置されたセンサを、Ｘ、Ｙ座標が同
一のセンサでグループ化すると共に、Ｚ座標が同一のセ
ンサでグループ化するグループ分け手段と、前記Ｘ、Ｙ
座標でグループ化されたグループとそのグループ内のセ
ンサのＺ座標を登録すると共に、前記Ｚ座標でグループ
化されたグループとそのグループ内のセンサのＸ、Ｙ座
標を登録する登録手段と、計測位置を変更する際に、前
記登録手段に登録されたグループ位置を変更する変更手
段と、を具備したことを特長としています。
るために本発明は、試験空間内に配置された複数のセン
サが計測した測定値を収集する計測システムにおいて、
前記試験空間内に配置されたセンサを、Ｘ、Ｙ座標が同
一のセンサでグループ化すると共に、Ｚ座標が同一のセ
ンサでグループ化するグループ分け手段と、前記Ｘ、Ｙ
座標でグループ化されたグループとそのグループ内のセ
ンサのＺ座標を登録すると共に、前記Ｚ座標でグループ
化されたグループとそのグループ内のセンサのＸ、Ｙ座
標を登録する登録手段と、計測位置を変更する際に、前
記登録手段に登録されたグループ位置を変更する変更手
段と、を具備したことを特長としています。
【０００７】
【作用】このような本発明では、試験空間内に配置され
たセンサの中で、位置のＸ，Ｙ座標が同一のセンサを１
つのグループにまとめる。このとき、グループの位置
は、グループに属する各センサに共通なＸ，Ｙ座標で登
録する。また、グループ内の各センサの位置は、それぞ
れのセンサのＺ座標のみで登録する。試験空間内に配置
されたセンサの中で、位置のＺ座標が同一のセンサを１
つのグループにまとめる。このとき、グループの位置
は、グループに属する各センサに共通なＺ座標で登録す
る。また、グループ内の各センサの位置は、それぞれの
センサのＸ，Ｙ座標のみで登録する。
たセンサの中で、位置のＸ，Ｙ座標が同一のセンサを１
つのグループにまとめる。このとき、グループの位置
は、グループに属する各センサに共通なＸ，Ｙ座標で登
録する。また、グループ内の各センサの位置は、それぞ
れのセンサのＺ座標のみで登録する。試験空間内に配置
されたセンサの中で、位置のＺ座標が同一のセンサを１
つのグループにまとめる。このとき、グループの位置
は、グループに属する各センサに共通なＺ座標で登録す
る。また、グループ内の各センサの位置は、それぞれの
センサのＸ，Ｙ座標のみで登録する。
【０００８】
【実施例】以下、図面を用いて本発明を説明する。図１
は本発明の一実施例を示した構成図である。図１で図８
と同一のものは同一符号を付ける。図１において、７３
はグループ分け手段であり、センサ２1〜２5の中で、同
一平面上または同一直線上にあるセンサを１つのグルー
プにまとめる。このようにグループ分けしたセンサにつ
いて、登録手段７１は、グループの位置とグループ内に
おける個々のセンサの位置を位置情報用メモリ８に登録
する。７４は変更手段で、計測断面を変更したときに、
位置情報用メモリ８に登録しておいたグループの位置を
変更する。この場合、グループ内における個々のセンサ
の位置は変更しない。
は本発明の一実施例を示した構成図である。図１で図８
と同一のものは同一符号を付ける。図１において、７３
はグループ分け手段であり、センサ２1〜２5の中で、同
一平面上または同一直線上にあるセンサを１つのグルー
プにまとめる。このようにグループ分けしたセンサにつ
いて、登録手段７１は、グループの位置とグループ内に
おける個々のセンサの位置を位置情報用メモリ８に登録
する。７４は変更手段で、計測断面を変更したときに、
位置情報用メモリ８に登録しておいたグループの位置を
変更する。この場合、グループ内における個々のセンサ
の位置は変更しない。
【０００９】このように構成した計測システムにおい
て、グループ分けのしかたを例を挙げて説明する。
て、グループ分けのしかたを例を挙げて説明する。
【００１０】図２は試験空間１内の同一直線上に並んだ
センサをグループ化するための説明図である。この例で
は、直線Ｌ上に３つのセンサＳ１，Ｓ２，Ｓ３が並んで
いる。この場合は、 グループの位置：直線ＬのＸ，Ｙ座標 センサの位置：センサのＺ座標 として、位置情報用メモリ８に登録を行う。すなわち、
グループの位置として（Ｘ0，Ｙ0）を登録した後、セン
サの位置としてＺ1，Ｚ2，Ｚ3を登録する。図３は図２
の場合において登録した位置情報を示した図である。こ
の位置情報は表示部６にしてもよい。センサＳ１，Ｓ
２，Ｓ３のセンサＮｏ．は、１，２，３である。
センサをグループ化するための説明図である。この例で
は、直線Ｌ上に３つのセンサＳ１，Ｓ２，Ｓ３が並んで
いる。この場合は、 グループの位置：直線ＬのＸ，Ｙ座標 センサの位置：センサのＺ座標 として、位置情報用メモリ８に登録を行う。すなわち、
グループの位置として（Ｘ0，Ｙ0）を登録した後、セン
サの位置としてＺ1，Ｚ2，Ｚ3を登録する。図３は図２
の場合において登録した位置情報を示した図である。こ
の位置情報は表示部６にしてもよい。センサＳ１，Ｓ
２，Ｓ３のセンサＮｏ．は、１，２，３である。
【００１１】図４は試験空間１内の同一平面上に並んだ
センサをグループ化するための説明図である。この例で
は、平面Ｐ上に３つのセンサＳ１，Ｓ２，Ｓ３が並んで
いる。この場合は、 グループの位置：平面ＰのＺ標 センサの位置：センサのＸ，Ｙ座標 として、位置情報用メモリ８に登録を行う。すなわち、
グループの位置としてＺ 0を登録した後、センサの位置
として（Ｘ1，Ｙ1），（Ｘ2，Ｙ2），（Ｘ3，Ｙ3）を登
録する。図５は図４の場合において登録した位置情報を
示した図である。この位置情報も表示部６に表示しても
よい。
センサをグループ化するための説明図である。この例で
は、平面Ｐ上に３つのセンサＳ１，Ｓ２，Ｓ３が並んで
いる。この場合は、 グループの位置：平面ＰのＺ標 センサの位置：センサのＸ，Ｙ座標 として、位置情報用メモリ８に登録を行う。すなわち、
グループの位置としてＺ 0を登録した後、センサの位置
として（Ｘ1，Ｙ1），（Ｘ2，Ｙ2），（Ｘ3，Ｙ3）を登
録する。図５は図４の場合において登録した位置情報を
示した図である。この位置情報も表示部６に表示しても
よい。
【００１２】このような計測システムにおいて、試験空
間に柱を立て、柱にセンサをくくりつけて計測を行う場
合は、図２に示した例のようなグループ化を行う。この
場合、柱を移動させて別の直線上でデータをとりたい場
合は、柱上の１つ１つのセンサの位置を登録し直す必要
はなく、グループの位置を決めるＸ，Ｙ座標のみを変更
すればよい。試験空間にネットを張り、ネットにセンサ
をくくりつけて計測を行う場合は、図４に示した例のよ
うなグループ化を行う。この場合、ネットを移動させて
別の平面上でデータをとりたい場合は、ネット上の１つ
１つのセンサの位置を登録し直す必要はなく、グループ
の位置を決めるＺ座標のみを変更すればよい。
間に柱を立て、柱にセンサをくくりつけて計測を行う場
合は、図２に示した例のようなグループ化を行う。この
場合、柱を移動させて別の直線上でデータをとりたい場
合は、柱上の１つ１つのセンサの位置を登録し直す必要
はなく、グループの位置を決めるＸ，Ｙ座標のみを変更
すればよい。試験空間にネットを張り、ネットにセンサ
をくくりつけて計測を行う場合は、図４に示した例のよ
うなグループ化を行う。この場合、ネットを移動させて
別の平面上でデータをとりたい場合は、ネット上の１つ
１つのセンサの位置を登録し直す必要はなく、グループ
の位置を決めるＺ座標のみを変更すればよい。
【００１３】図６は他のグループ分けのしかたを示した
説明図である。このグループ分けのしかたでは、グルー
プに、属性と、位置及び方向を定めた基準ベクトルをお
く。属性とはグループに属するセンサの種類をあらわ
し、例えば、温度、風速等がある。基準ベクトルは、始
点と、Ｘ，Ｙ，Ｚ方向のベクトル成分により決める。グ
ループ化するには、まず、属性及び基準ベクトルを定め
る。その後、基準ベクトルと始点を共通にし、各センサ
の位置を終点とする相対ベクトルを入力する。基準ベク
トルの始点と各ベクトル成分は任意に定めてよい。図６
の例では、基準ベクトルＶは、始点の座標が（Ｘ0，
Ｙ0，Ｚ0）で、Ｘ，Ｙ，Ｚ方向のベクトル成分は、それ
ぞれＸ1−Ｘ0，Ｙ1−Ｙ0，Ｚ1−Ｚ0である。相対ベクト
ルＶ１，Ｖ２，Ｖ３は、（Ｘ0，Ｙ0，Ｚ0）を始点と
し、各センサＳ１，Ｓ２，Ｓ３の位置を終点としてい
る。図７は図６の場合において登録した情報を示した図
である。この位置情報も表示部６に表示してもよい。図
７で、ｌ，ｍ，ｎはＸ，Ｙ，Ｚ方向の単位ベクトルであ
る。図７では、例えば、基準ベクトルＶは、 Ｖ＝（Ｘ1−Ｘ0）ｌ＋（Ｙ1−Ｙ0）ｍ＋（Ｚ1−Ｚ0）ｎ で与えられることを示している。
説明図である。このグループ分けのしかたでは、グルー
プに、属性と、位置及び方向を定めた基準ベクトルをお
く。属性とはグループに属するセンサの種類をあらわ
し、例えば、温度、風速等がある。基準ベクトルは、始
点と、Ｘ，Ｙ，Ｚ方向のベクトル成分により決める。グ
ループ化するには、まず、属性及び基準ベクトルを定め
る。その後、基準ベクトルと始点を共通にし、各センサ
の位置を終点とする相対ベクトルを入力する。基準ベク
トルの始点と各ベクトル成分は任意に定めてよい。図６
の例では、基準ベクトルＶは、始点の座標が（Ｘ0，
Ｙ0，Ｚ0）で、Ｘ，Ｙ，Ｚ方向のベクトル成分は、それ
ぞれＸ1−Ｘ0，Ｙ1−Ｙ0，Ｚ1−Ｚ0である。相対ベクト
ルＶ１，Ｖ２，Ｖ３は、（Ｘ0，Ｙ0，Ｚ0）を始点と
し、各センサＳ１，Ｓ２，Ｓ３の位置を終点としてい
る。図７は図６の場合において登録した情報を示した図
である。この位置情報も表示部６に表示してもよい。図
７で、ｌ，ｍ，ｎはＸ，Ｙ，Ｚ方向の単位ベクトルであ
る。図７では、例えば、基準ベクトルＶは、 Ｖ＝（Ｘ1−Ｘ0）ｌ＋（Ｙ1−Ｙ0）ｍ＋（Ｚ1−Ｚ0）ｎ で与えられることを示している。
【００１４】上述したようにグループ分けすることによ
り、各センサの位置は相対ベクトルによって決められ
る。従って、基準ベクトルに移動、回転、またはその両
方をさせたときには、各相対ベクトルも同様に移動、回
転を行う。これによって、基準ベクトルに移動のみなら
ず回転も行っても、相対ベクトルは基準ベクトルとの相
対的な位置関係は変わらないため、相対ベクトルのベク
トル成分を変える必要はなく、基準ベクトルの始点とベ
クトル成分を変更するだけでよい。また、グループに属
性をもたせたため、異なる種類のセンサをグループ分け
して扱うことができる。なお、分けかたによっては１つ
のグループ内に異なる属性のセンサを入れてもよい。
り、各センサの位置は相対ベクトルによって決められ
る。従って、基準ベクトルに移動、回転、またはその両
方をさせたときには、各相対ベクトルも同様に移動、回
転を行う。これによって、基準ベクトルに移動のみなら
ず回転も行っても、相対ベクトルは基準ベクトルとの相
対的な位置関係は変わらないため、相対ベクトルのベク
トル成分を変える必要はなく、基準ベクトルの始点とベ
クトル成分を変更するだけでよい。また、グループに属
性をもたせたため、異なる種類のセンサをグループ分け
して扱うことができる。なお、分けかたによっては１つ
のグループ内に異なる属性のセンサを入れてもよい。
【００１５】
【発明の効果】本発明によれば、試験空間の中で同一平
面上または同一直線上にあるセンサを１つのグループに
まとめて登録しているため、計測断面を変更する際には
グループ内の個々のセンサの位置を変更する必要はな
く、グループの座標を変更するだけでよい。これによっ
て、計測断面の変更の際における登録作業を簡略化し、
入力ミスを低減できる。また、試験空間の解析において
頻繁に行われる計測断面の変更にもすばやく対応でき、
解析に要する時間を短縮できる。
面上または同一直線上にあるセンサを１つのグループに
まとめて登録しているため、計測断面を変更する際には
グループ内の個々のセンサの位置を変更する必要はな
く、グループの座標を変更するだけでよい。これによっ
て、計測断面の変更の際における登録作業を簡略化し、
入力ミスを低減できる。また、試験空間の解析において
頻繁に行われる計測断面の変更にもすばやく対応でき、
解析に要する時間を短縮できる。
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】センサのグループ分けのしかたを示した説明図
である。
である。
【図３】登録した位置情報を示した図である。
【図４】センサのグループ分けのしかたを示した説明図
である。
である。
【図５】登録した位置情報を示した図である。
【図６】他のグループ分けのしかたを示した説明図であ
る。
る。
【図７】登録した情報を示した図である。
【図８】計測システムの従来例の構成図である。
１ 試験空間 ２1〜２5 センサ ３ データ収集部 ４ 計測データ用メモリ ７ プロセッサ ７１ 登録手段 ７２ 解析手段 ７３ グループ分け手段 ８ 位置情報用メモリ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−140929（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−100339（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−128377（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−150313（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−103417（ＪＰ，Ａ) 実開 平６−10814（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭63−14116（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01D 21/00 - 21/02 G01K 1/00 - 19/00
Claims (1)
- 【請求項１】 試験空間内に配置された複数のセンサが
計測した測定値を収集する計測システムにおいて、 前記試験空間内に配置されたセンサを、Ｘ、Ｙ座標が同
一のセンサでグループ化すると共に、Ｚ座標が同一のセ
ンサでグループ化するグループ分け手段と 、 前記Ｘ、Ｙ座標でグループ化されたグループとそのグル
ープ内のセンサのＺ座標を登録すると共に、前記Ｚ座標
でグループ化されたグループとそのグループ内のセンサ
のＸ、Ｙ座標を登録する登録手段と、 計測位置を変更する際に、前記登録手段に登録されたグ
ループ位置を変更する変更手段と、 を具備したことを特徴とする計測システム 。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5870194A JP3261640B2 (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 計測システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5870194A JP3261640B2 (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 計測システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07270197A JPH07270197A (ja) | 1995-10-20 |
| JP3261640B2 true JP3261640B2 (ja) | 2002-03-04 |
Family
ID=13091833
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5870194A Expired - Fee Related JP3261640B2 (ja) | 1994-03-29 | 1994-03-29 | 計測システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3261640B2 (ja) |
-
1994
- 1994-03-29 JP JP5870194A patent/JP3261640B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07270197A (ja) | 1995-10-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2750419B2 (ja) | レジスタマークパターン作成装置 | |
| CN111798521A (zh) | 标定方法、装置、存储介质及电子设备 | |
| CN109141403B (zh) | 一种星敏感器小窗口访问的图像处理***及其方法 | |
| JPS58173447A (ja) | 内燃機関に於けるシリンダ性能の測定装置 | |
| JP3261640B2 (ja) | 計測システム | |
| JPH09243725A (ja) | 磁気分布測定方法，磁気分布測定装置および磁気検出器板 | |
| JP2552849B2 (ja) | ラスタ−パス発生装置 | |
| JPH07114180B2 (ja) | 半導体露光パタンデータ検査方法及び検査装置 | |
| JPH06195472A (ja) | 画像処理システム | |
| CN1062659C (zh) | 风速指示设备 | |
| US20010004245A1 (en) | CAD data compressing method and apparatus thereof | |
| JP3034583B2 (ja) | プローブ移動式回路基板検査装置用検査順設定装置 | |
| JP2877075B2 (ja) | 計測器制御装置および方法 | |
| JP2709092B2 (ja) | スペクトラム三次元表示方法 | |
| JP2522787Y2 (ja) | 画像処理装置 | |
| JP4408480B2 (ja) | ポジトロンエミッションｃｔ装置 | |
| JP3364821B2 (ja) | プラント監視制御装置 | |
| JPS61165792A (ja) | スケ−ル表示装置 | |
| CN116188794A (zh) | 仪表识别***及仪表识别方法 | |
| CN115294205A (zh) | 相机标定方法、物体特征定位方法、装置、设备及介质 | |
| JP3505970B2 (ja) | 入力位置座標補正方法 | |
| JP2802337B2 (ja) | 航跡表示装置 | |
| Hoshino et al. | Microprogrammable Ultrasonic Image Processor and Its Applications to Image Manipulation | |
| JP3033750B1 (ja) | 多角形変形描画装置および多角形変形描画方法 | |
| JPH06103493A (ja) | 車載ナビゲーションシステムおよびその表示方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071221 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081221 Year of fee payment: 7 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |