JP2877075B2 - 計測器制御装置および方法 - Google Patents

計測器制御装置および方法

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JP2877075B2
JP2877075B2 JP8135287A JP13528796A JP2877075B2 JP 2877075 B2 JP2877075 B2 JP 2877075B2 JP 8135287 A JP8135287 A JP 8135287A JP 13528796 A JP13528796 A JP 13528796A JP 2877075 B2 JP2877075 B2 JP 2877075B2
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敏夫 小松
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Nippon Electric Co Ltd
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のパラメータ
に値を設定して計測を実行し、複数項目の計測結果を得
ることができる計測器を制御する装置および方法に関
し、特に、携帯電話の特性を計測するための計測器制御
装置および方法に関する。
【0002】
【従来の技術】携帯電話の検査システムでは、種々の計
測器(周波数カウンタ,パワーメータ,FFT等)およ
び信号発生器が組み込まれた専用の信号発生器を兼ねた
計測器を用い、複数のパラメータ(周波数範囲,ソファ
レンス・レベル等)の値を設定し、複数の計測項目(パ
ワーレベルの測定,ビートエラーレートの測定,時間軸
変化のパワーレベル測定,位相/周波数測定等)につい
て携帯電話を計測する。
【0003】携帯電話の計測は、次の動作からなる。
【0004】・計測項目に対応してパラメータに設定値
を与える。
【0005】・設定値に応じて計測器を制御する。
【0006】・計測結果を得る。
【0007】従来の計測器制御装置では、例えば特開平
04−119436号公報に記載された「自動試験シス
テムにおける制御プログラムの汎用化方法」に見られる
様に、制御プログラムは、与えられたパラメータの設定
値をもとに、計測器を制御し、測定結果を得る動作を順
次繰り返し実行している。入力したパラメータの設定値
の個数に応じて、順々に計測項目を実行する従来の計測
器制御装置の動作を、図6を用いて説明する。従来の計
測器制御装置の動作は図6に示す処理200〜203か
らなる。
【0008】処理200:パラメータの設定、すなわち
1種類のパラメータの設定値を計測器5に設定する。
【0009】処理201:計測器制御、すなわち計測器
5を制御し計測を実施する。
【0010】処理202:結果入力、すなわち計測器5
から計測結果を取り込む。
【0011】処理203:全計測項目終了、すなわち終
了判定を行う、パラメータの設定値の必要な個数分計測
していなければ「No」で、処理200以下を繰り返
す。必要な個数分計測していれば「Yes」で動作を終
了する。
【0012】処理202の結果入力では、複数の計測結
果が同時に得られる計測器を用いる場合でも、取り込ん
だ計測結果のなかで、目的とする計測項目の計測結果だ
けをプログラムの内部変数に取り込み、その他の計測結
果は捨ててしまっている。
【0013】したがって、パラメータの設定値が同一で
あっても、別の計測項目の計測結果を目的とする場合
は、必ず処理200〜201を繰り返して実行する。
【0014】以下の説明では、1種類のパラメータの設
定値を設定すると複数の計測結果が同時に得られる計測
器を用いる事を前提とする。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】パラメータの設定値が
同じであっても、異る計測項目の計測結果を得るために
は、パラメータの再設定し計測結果を取り込んでいるた
め、パラメータ設定の時間および計測器の計測時間が長
くなってしまう。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の計測器制御装置
は、計測項目および計測器のパタメータの設定値の組合
わせからなる計測機能を指定する計測番号ごとに前記計
測機能の実行または非実行を指示するフラグを書き込む
フラグ・テーブルと、前記計測番号ごとに指定の前記計
測機能の実行により得られる1または複数の計測項目の
計測結果を計測項目に応じて予め定められた記憶位置に
書き込む計測結果テーブルと、計測が必要な前記計測機
能の前記計測番号および当該計測機能の実行により得ら
れる計測結果の一つを指示するデータ番号を対にして格
納するパラメータ・テーブルと、前記フラグのうち前記
パラメータ・テーブルに書き込まれた計測番号に対応す
るもののみを実行を示す状態にセットするフラグ書き込
み手段と、前記フラグ・テーブルでフラグが実行を示す
前記計測番号の前記計測機能を実行する計測手段と、こ
の計測手段により得られた計測結果を前記計測結果テー
ブルに書き込む計測結果書き込み手段と、前記計測結果
テーブルから前記パラメータ・テーブルに書き込まれた
対をなす前記計測番号および前記データ番号が指示する
計測結果を読み出す計測結果の読み出し保存手段とを備
えている。
【0017】本発明の計測器制御方法は、計測項目およ
び計測器のパラメータの設定値の組合わせからなる計測
機能を指定する計測番号のうち実行が必要な前記計測機
能の前記計測番号および当該必要な前記計測機能の実行
により得られる計測機能の計測結果を指示するデータ番
号を対にしてパラメータ・テーブルに格納し、フラグ・
テーブルに前記計測番号ごとに設けられ前記計測機能の
実行または非実行を指示するフラグのうち前記パラメー
タ・テーブルに格納された前記計測番号に対応するもの
のみを実行を指示する状態にし、前記フラグ・テーブル
の実行を指示するフラグの前記計測番号の前記計測機能
を実行して得られた計測項目の計測結果を計測結果テー
ブルの当該計測番号に対応し計測項目に応じて予め定め
られた記憶位置に書き込み、前記計測結果テーブルから
前記パラメータ・テーブルに書き込まれた対をなす前記
計測番号および前記データ番号が指示する計測結果を読
み出すことを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態の携帯
電話検査用の計測器制御装置について、図面を参照して
詳細に説明する。
【0019】図1は本発明の実施の形態の計測器制御装
置のブロック図である。図2は図1中の記憶装置に格納
されるテーブルを示す図で、これらテーブルはパラメー
タと計測結果の関連を示す。図3は図1に示す計測器制
御装置の動作を示すフローチャートである。
【0020】図1において、入力装置1は、設定したパ
ラメータの指示およびパラメータ自体の設定値を入力す
る際に用いる。表示装置2は、指示されたパラメータの
設定値を表示し、内容を確認しながらパラメータの設定
値を入力するために用いる。計測項目を実行している際
には、パラメータの設定値および測定結果を表示する。
記憶装置3は、入力されたパラメータの設定値を記憶
し、計測を実行する際にパラメータの設定値をコンピュ
ータ4に提供する。計測器5から読みだした計測結果の
一時的な記憶も行う。コンピュータ4は、入力されたパ
ラメータの設定値を記憶装置3から読みだす。計測器5
を制御するために、そのパラメータの設定値を計測器5
に与える。計測器5に対して計測開始の指示や計測結果
の読み込みを行う。
【0021】次に、図2と付3を用いて、パラメータの
設定値と計測結果の関連付けと、その処理手順を説明す
る。
【0022】携帯電話の検査では、予めパラメータごと
に与えられた設定値(非設定も含め)の組合わせが設け
られる。図2のパラメータテーブル10には、計測番号
とデータ番号とが対をなして複数対登録される。計測番
号は、計測器5の1又は複数の計測項目およびパラメー
タの設定値の組合わせからなる計測機能を指定するため
の番号である。コンピュータ4が、計測番号を計測器5
に送ると、計測器5は、該当する計測機能を実行する。
計測機能の実行で通常は、複数の計測結果が得られる。
データ番号は、計測番号を計測器5に送ることで計測機
能が実行されて得られる複数の計測項目の計測結果のう
ち、必要な計測結果を1つ指定するための番号である。
【0023】図2に示すテーブルにおいて、計測番号を
1からNの値を取り、データ番号は1からMの値を取る
とする。計測番号およびデータ番号は、人が理解しやす
い文字列で入力されるとしてもなんら不都合はないが、
何れにしても本計測器制御装置の内部では数値に置き換
えて処理することになるので、ここでは、数値として説
明する。
【0024】記憶装置3のある領域内において1〜N番
地がフラグ・テーブルに割り当てられ、N+1〜(M+
1)N番地が計測結果テーブルに割り当てられている。
フラグ・テーブルのn番地(1≦n≦N)には計測番号
がnの計測機能の実行,非実行を示すフラグが書き込ま
れる。計測結果テーブル12のN+n,2N+n,…M
N+n番地には計測番号がnの計測機能の実行による各
計測項目の計測結果が予め定められた順番で書き込まれ
る。図3に示す処理を行う前にパラメータテーブル10
にデータ番号および計測番号を入力しておく。
【0025】図3において、処理100は、フラグ・テ
ーブル11に、初期化作業として1からN番地にフラグ
(0)を書き込む。
【0026】処理101は、フラグ・テーブル11にお
けるパラメータ・テーブル10から順次読み出した計測
番号が示すn(1〜Nの値)番地にフラグ(1)を立て
る。
【0027】L個の計測番号に対してこの処理を行う
と、フラグ・テーブル11の番地1からNにはフラグ
(1)またはフラグ(0)が書き込まれた状態になる。
【0028】ここで、図4を示す例を用いて説明する。
処理101は、図4のパラメータ・テーブル10の計測
番号が、1,2,4,4,2であるため、フラグ・テー
ブル11の番地1,2,4にフラグ(1)を書き込むこ
とになる。
【0029】処理102は、フラグ,テーブル11の1
番地から内容を順に読み出す。図5の例では、(1)
(1)(0)(1)の順にフラグが読み出される。
【0030】処理103は、処理で読みだしたフラグを
判断する。フラグが(0)ならば、処理104へ、フラ
グが(1)ならば処理200に制御を移す。
【0031】処理104は、フラグ・テーブル11の内
容を全て読みだしたか否かを判断する。読み出してなけ
れば、処理102に、読み出していれば処理110に制
御を移す。
【0032】処理200は、フラグが(1)である計測
番号を計測機能を計測器5に実行させるように計測器5
のパラメータの値を設定する。
【0033】処理201は、計測器5を制御し計測を実
施する。
【0034】処理202は、計測器5からm個(1≦m
≦M)の計測結果を取り込み、処理105に制御を移
す。
【0035】処理105は、得られたm個の計測項目の
計測結果を、計測結果テーブル12のN+n,2N+
n,…MN+nの計測項目によって予め定められた番地
に書き込む(計測番号がnの計測機能を実行した結果と
する)。
【0036】ここで、図5に示す例を用いて説明する。
処理105は、フラグが(1)の時に必ず実行させる処
理であるから、図5の場合、3回の処理を行うことにな
る。最初の処理105で番地1の行、すなわち、番地
5,9,13,17,21に計測結果が入力される。2
回目の処理105で番地2の行、すなわち、番地6,1
0,14,18,22に計測結果が入力される。最後の
処理105で番地4の行、すなわち、番地8,12,1
6,20,24に計測結果が入力される。
【0037】処理110は、パラメータ・テーブル10
を順に読み込み、その計測番号nとデータ番号mに相当
する計測結果を、計測結果テーブル12のm×N+n番
地から読みだし、計測項目の結果として保存する。
【0038】図5の例を用いて説明する。処理110
は、パラメータ・テーブル10をもとに、1番目の結果
に番地9の結果を、2番目の結果に番地6の結果を、3
番目の結果に番地12の結果を、4番目の結果に番地1
6の結果を、5番目の結果に番地14の結果を、それぞ
れ計測結果として読みだし、各計測項目の結果として保
存する。
【0039】パラメータ・テーブル10に入力された計
測番号をL個とすると、従来の計測器制御装置でこれと
同じ計測を行うにはL回のパラメータの設定が必要であ
った。
【0040】本実施の形態の計測器制御装置では、計測
番号の最大値NがL以下の時、最大N回のパラメータ設
定で済み従来の計測器制御装置と比べると(L−N)回
のパラメータ設定、計測および計測結果入力の時間が短
縮される。
【0041】また、計測番号の最大値NがL以上の時、
最大L回のパラメータ設定が済む。パラメータ・テーブ
ルに入力されている計測番号の重複の分パラメータの設
定、計測および計測結果入力の回数が減る。
【0042】一般的に、計測器の制御時間、例えば、パ
ラメータの設定時間、計測時間、計測結果の取り込み
は、プログラムの実行時間より遥かに大きい。
【0043】したがった、全体の処理速度は、従来の計
測器制御装置に比べて、本発明の計測器制御装置のほう
が複数なプラグラム処理を行っているにもかかわらず、
早い事がわかる。
【0044】また、プログラムの処理内容は、比較して
複雑になっているが、処理自体は単純な番地計算で実現
できるため、プログラム実行時間は、ほとんど変わらな
い。
【0045】
【発明の効果】本発明の計測器制御装置および方法は、
あるパラメータの設定値を与えて計測した計測結果のう
ち計測の目的としたものは勿論、得られた全ての計測項
目の計測結果を記憶装置に保存しておき、パラメータの
設定値が同じでありながら別の計測項目の計測結果が必
要となったときに、検索およびソート等のデータ操作無
しに該当記憶装置から直接必要な計測結果を読み出す。
【0046】したがって、ある計測項目の計測結果を得
るためにパラメータの設定値を与えて計測した後に、パ
ラメータの設定値が同じでも別の計測項目の計測結果が
必要になった時は、再びパラメータの設定値を与えて計
測して計測結果を取り込む必要はなく、パラメータ設定
の時間および計測器の計測時間が節約でき、計測項目の
実行時間が短縮でき、生産のスループットを向上でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の形態の計測器制御装置のブロ
ック図である。
【図2】図1中の記憶装置に格納されるパラメータ・テ
ーブル10,フラグ・テーブル11および計測結果テー
ブル12を示す図である。
【図3】図1に示す計測器制御装置の動作を示すフロー
チャートである。
【図4】図2のパラメータ・テーブル10の計測番号と
フラグ・テーブルのフラグとの関係を具体例によって示
す図である。
【図5】図3のパラメータ・テーブル10のデータ番号
と計測結果テーブル12に書き込まれる計測結果との関
係を具体例によって示す図である。
【図6】従来の計測器制御装置の動作を示すフローチャ
ートである。
【符号の説明】
1 入力装置 2 表示装置 3 記憶装置 4 コンピュータ 5 計測器 10 パラメータ・テーブル 11 フラグ・テーブル 12 計測結果テーブル

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 計測項目および計測器のパタメータの設
    定値の組合わせからなる計測機能を指定する計測番号ご
    とに前記計測機能の実行または非実行を指示するフラグ
    を書き込むフラグ・テーブルと、前記計測番号ごとに指
    定の前記計測機能の実行により得られる1または複数の
    計測項目の計測結果を計測項目に応じて予め定められた
    記憶位置に書き込む計測結果テーブルと、計測が必要な
    前記計測機能の前記計測番号および当該計測機能の実行
    により得られる計測結果の一つを指示するデータ番号を
    対にして格納するパラメータ・テーブルと、前記フラグ
    のうち前記パラメータ・テーブルに書き込まれた計測番
    号に対応するもののみを実行を示す状態にセットするフ
    ラグ書き込み手段と、前記フラグ・テーブルでフラグが
    実行を示す前記計測番号の前記計測機能を実行する計測
    手段と、この計測手段により得られた計測結果を前記計
    測結果テーブルに書き込む計測結果書き込み手段と、前
    記計測結果テーブルから前記パラメータ・テーブルに書
    き込まれた対をなす前記計測番号および前記データ番号
    が指示する計測結果を読み出す計測結果の読み出し保存
    手段とを含むことを特徴とする計測器制御装置。
  2. 【請求項2】 計測項目および計測器のパラメータの設
    定値の組合わせからなる計測機能を指定する計測番号の
    うち実行が必要な前記計測機能の前記計測番号および当
    該必要な前記計測機能の実行により得られる計測機能の
    計測結果を指示するデータ番号を対にしてパラメータ・
    テーブルに格納し、フラグ・テーブルに前記計測番号ご
    とに設けられ前記計測機能の実行または非実行を指示す
    るフラグのうち前記パラメータ・テーブルに格納された
    前記計測番号に対応するもののみを実行を指示する状態
    にし、前記フラグ・テーブルの実行を指示するフラグの
    前記計測番号の前記計測機能を実行して得られた計測項
    目の計測結果を計測結果テーブルの当該計測番号に対応
    し計測項目に応じて予め定められた記憶位置に書き込
    み、前記計測結果テーブルから前記パラメータ・テーブ
    ルに書き込まれた対をなす前記計測番号および前記デー
    タ番号が指示する計測結果を読み出すことを特徴とする
    計測器制御方法。
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CN101366014B (zh) * 2005-11-04 2012-08-22 特克特朗尼克公司 通过公用采集硬件自适应多测量类型的方法和***
CN103605031A (zh) * 2013-11-29 2014-02-26 国家电网公司 一种励磁调节器现场校验方法

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