JP2709092B2 - スペクトラム三次元表示方法 - Google Patents

スペクトラム三次元表示方法

Info

Publication number
JP2709092B2
JP2709092B2 JP63235329A JP23532988A JP2709092B2 JP 2709092 B2 JP2709092 B2 JP 2709092B2 JP 63235329 A JP63235329 A JP 63235329A JP 23532988 A JP23532988 A JP 23532988A JP 2709092 B2 JP2709092 B2 JP 2709092B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
marker
waveform
displayed
display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP63235329A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0282123A (ja
Inventor
敏文 西森
典央 沖山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP63235329A priority Critical patent/JP2709092B2/ja
Publication of JPH0282123A publication Critical patent/JPH0282123A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2709092B2 publication Critical patent/JP2709092B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は種々の条件下で測定された複数の二次元スペ
クトラム波形を例えばCRT等の表示画面上に同時に三次
元的に表示するスペクトラム三次元表示方法に関する。
[従来の技術] 一般に、光スペクトラムアナライザにおいては、例え
ば回折格子等の分光素子をステッピングモータ等で回転
させながら、各波長における光レベル値を受光器で測定
して、第21図に示すように、CRTの表示画面上に、波長
λを横軸にして、各波長におけるレベル値(スペクトラ
ムレベル)を縦軸にとって二次元表示する。しかして、
被測定物の時間経過によるスペクトラム変動又は、被測
定物の環境の変化に起因するスペクトラム変動を二次元
スペクトラム波形1として得られる。
しかし、一般にこのような光スペクトラム測定におい
ては、前述した条件を変更して複数回測定して、各測定
条件の各二次元スペクトラム波形におけるピークレベル
の変動,ピーク波長の変動等を観測する場合が多い。
このような要求に答えるために、近年の光スペクトラ
ムアナライザにおいては、第22図に示すように、各測定
条件毎に得られた各二次元スペクトラム波形11,12,…
…1nを順次ずらせて同一表示画面上に表示するスペクト
ラム三次元表示方法が用いられている。すなわち、各二
次元スペクトラム波形1の波長を表示画面上における横
軸(X軸)として、各波長におけるレベル値を縦軸(Y
軸)とし、かつ例えば波形番号で示される測定条件の変
数をこの表示画面と交差する奥行軸(Z軸)とする。
このように測定条件の異なる複数の二次元スペクトラ
ム波形(以下波形と略記する)1を表示画面に同時に表
示することによって、測定条件変化に対応して各波形1
におけるピークがどのように変化したのかが直ちに把握
できる。
さらに、第23図に示すように、注目する特定波長に対
応する各波形位置にマーク2を表示することにより、各
波形1の特定波長におけるレベル値が測定条件変化に応
動してどのように変化したのかが視覚的に把握される。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、第22図,第23図に示すように複数の波
形1を測定条件毎に三次元的に表示するスペクトラム三
次元表示方法においてもまだ次のような問題がある。す
なわち、各波形1の特定波長における測定条件を変化さ
せた場合のレベル変動は、第23図に示すように、視覚的
に把握することが可能であるが、各測定条件を示す奥行
軸(Z軸)が表示画面上においては右上がりの直線で示
されるので、このCRT表示画面に表示された波形1から
は各波形における特定波長のレベルの変動を定量的に把
握することは困難である。
したがって、各波形1の各ピーク値の変動や、前記特
定波長におけるレベル値の変動を定量的把握するために
は、各波形1の特定波長における各測定データを取出し
て、この各測定データのレベル変動を別途演算して表示
する必要があった。したがって、第22図又は第23図から
これ等の変動値を得るためには多大な演算を実行したの
ち表示する必要があるので、必要とする情報が迅速に得
られない問題があった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであ
り、表示画面上における座標軸の設定法を工夫すること
により、各波長又は周波数における各波形のレベル値を
定量的に把握でき、測定条件変化に対応する定量的なレ
ベル変動を即座に把握できるスペクトラム三次元表示方
法を提供することを目的とする。
さらに、指定された波長又は周波数値に対応する波形
位置をマークにて簡単に把握でき、また、マーカで表記
された各波形のレベル値をさらに容易に把握できるスペ
クトラム三次元表示方法を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 上記課題を解消するために本発明は、波長又は周波数
を第1の変数として各第1の変数値における各レベル値
を包絡した二次元スペクトラム波形で、一つの測定条件
を第2の変数として各第2の変数値毎に、複数個同時に
表示部の表示画面に描くスペクトラム三次元表示方法に
おいて、 第2の変数を表示画面上における横軸に、各二次元ス
ペクトラム波形の各レベル値を縦軸に、かつ第1の変数
を表示画面と交差する奥行軸にして、複数の二次元スペ
クトラム波形を表示画面に表示するようにしたものであ
る。
また、任意に指定された第1の変数値に対応する波形
位置を示すマーカを各二次元スペクトラム波形上に表示
するようにしている。さらに、表示された隣接するマー
カ相互間を接続線で接続している。
また、各マーカで指定された各二次元スペクトラム波
形の各レベル値を指定された第1の変数値とともに表示
画面に表示している。さらに、各マーカのうち任意に指
定されたマーカを相対マーカとして表示するとともに、
各マーカの各レベル値における相対マーカのレベル値に
対する各相対値を表示画面に表示している。
さらに、各マーカを含み縦軸に平行する面内に各マー
カにおける各波形のレベル値を読取るための複数の横線
からなるレベルスケールを表示している。また、各二次
元スペクトラム波形のうち、各マーカより横軸,縦軸お
よび奥行軸からなる座標の原点側に位置する各波形部分
を選択的に消去するようにしている。
[作用] 上記のようなスペクトラム三次元表示方法であれば、
各二次元スペクトラム波形の波長又は周波数の第1の変
数は表示画面上においては奥行軸(Z軸)に、各二次元
スペクトラム波形相互間の測定条件を示す第2の変数は
表示画面上におてい横軸(X軸)に、かつ各波形のレベ
ル値は縦軸(Y軸)に設定されている。
したがって、波長又は周波数の第1の変数を固定し
て、測定条件を変更した場合の各波形のレベル値を調べ
る場合は、横軸に平行する方向の上下変動を調べること
によって、定量的にそのレベル変動が得られる。
また、一つの第1の変数値を指定するとその指定され
た第1の変数値に対応する各波形位置が各波形にマーカ
表示される。さらに、各マーカが接続線で接続された状
態で表記される。
さらに、マーカ表示された各波形の各レベル値が別途
マーカ対応する第1の変数値とともに表示される。さら
に、各マーカのうちの1個のマーカを相対マーカと指定
すると、該当相対マーカが表示されるとともに、相対マ
ーカに対応するレベル値に対して他の各マーカに対応す
る各レベル値との各相対値が表示される。よって、各マ
ーカ位置における各レベル値の比較がより容易になる。
さらに、各マーカ位置を含み縦軸に平行する面内にレ
ベルスケールが表記されるので、各マーカ位置における
各レベル値をより容易に把握できる。
また、各二次元スペクトラム波形のうち各マーカ位置
から手前に存在する各波形部分が選択的に消去されるの
で、上記各マーカ位置における各レベル値の定量値がよ
り容易に確認できる。
[実施例] 以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第2図は実施例のスペクトラム三次元表示方法を適用
した光スペクトラムアナライザの概略構成を示すブロッ
ク図である。この光スペクトラムアナライザは大きく別
けて、各部の動作を制御する制御部3、分光器等からな
り被測定光の各波長における光レベル値(測定データ)
を出力する光学部4、例えば光学部4の回折格子等を回
転駆動するステッピングモータ5aを駆動制御するモータ
駆動部5、CRT表示管6aの表示画面6bに各種データを表
示する表示部6、各種データを印字するプリンタ部7、
光学部4から入力された波長λにおける各測定データを
測定条件毎に記憶する共通メモリ8、表示に伴う各種デ
ータの演算処理を行なう演算部9とで構成されている。
なお、3〜9の各構成部はそれぞれCPUとメモリとを有
したマイクロコンピュータで構成されており、制御部3
からの各種割込信号印加によって、予め定められた制御
プログラムに従って動作する。
第1図は表示部6のCRT表示管6aの表示画面6bに表示
する4個の基本画面10a〜10dおよびこれ等を合成した合
成画面10eの概念を示す図である。第1の画面10aは各座
標軸11a,11b,11cおよび各目盛りを示すスケール表示画
面であり、第2の画面10bは複数の二次元スペクトラム
波形(以下波形と略記する)12を示す波形表示画面であ
り、第3の画面10cは各波形12に表示する波長マーカ13
および相対マーカ14を示すマーカ表示画面であり、そし
て第4の画面10dはレベルスケール15および各データを
表示する表16を示すスケール,表表示画面である。そし
て、各表示画面10a〜10dは合成されてCRT表示管6aの表
示画面6bに表示される。
なお、第1の画面10aにおける奥行軸(Z軸)11cは第
1の変数としての波長λ(μm)を示し、縦軸(Y軸)
11bはレベル値(mW)を示し、横軸(X軸)11aは第2の
変数としての測定回数に対応する1〜10の波形番号を示
す。
しかして、前記制御部3において、第3図(a)に示
すように、図示しないキーボードから表示開始キーのキ
ー信号が入力されると、表示部6へ三次元表示割込信号
を印加する。そして、表示部6からスケール表示の表示
終了割込信号を待ってこの表示開始処理を終了する。三
次元表示開始割込信号が入力した表示部6はメモリ6dに
予め記憶されている横軸(X軸)11a,縦軸(Y軸)11b,
奥行軸(Z軸)11cの目盛り値を読出して、各軸11a,11
b,11cと共にフレームバッファ6cを介して第4図に示す
ようにCRT表示管6aの表示画面6b上に表示する。その
後、制御部3へスケール表示終了の割込信号を印加す
る。
表示画面6bに第4図に示す各軸および目盛り値が表示
されたのち、制御部3の図示しないキーボードの測定開
始キーがキー入力されると、第5図(a)に示すよう
に、光学部4および表示部6へ一つの測定条件(波形番
号)を指定して測定開始割込信号および表示開始割込信
号を送出する。そして、各部4,6から測定,表示終了割
込信号が入力するのを待ってこの処理を終了する。
測定開始割込信号が印加された光学部4は、第5図
(b)に示すように、測定開始波長λ0と測定終了波長
λ1とをメモリ4cから読出し、各測定波長λにおける光
強度を受光器4aにて受光し、A/D変換器4bでデジタル値
に変換してデータバスを介して共通メモリ8へ測定デー
タとして格納する。測定開始波長λ0から測定終了波長
λ1までの全部の測定波長λにおける測定データが得ら
れると制御部3へ測定終了信号を送出する。
また、表示開始割込信号が入力された表示部6は、第
5図(c)に示すように、共通メモリ8に測定データが
格納されていることを確認の後、この共通メモリ8から
一つの波長λにおける1個の測定データを読出し、その
測定データを表示画面6b上における表示データに変換し
て、ステップ(S)1において、該当表示データに対す
るCRT表示処理を実行する。
そしてS2にて、共通メモリ8に記憶されている1測定
条件分の全測定データに対するCRT表示処理が終了する
と、一つの測定条件(波形番号)における一つの二次元
スペクトラム波形12の表示画面6bに対する表示処理が終
了したので、制御部3に対して表示終了割込信号を送出
する。しかして、制御部3は次の測定条件(波形番号)
を指定して、光学部4および表示部6へ測定開始および
表示開始割込信号を送出する。
第6図は第5図(c)におけるS1のCRT表示処理を示
す流れ図である。すなわち、測定データから変換された
1ポイント(1波長)の表示データを一旦メモリの該当
波形の波形データバンクへ格納する。そして、現在表示
画面6bに表示中の同一表示ドット上のデータと比較す
る。そして、入力した表示データが表示中データより大
きければ、現在表示中のデータを消去して新たに入力さ
れた表示データを表示画面6b上に表示する。なお、表示
データが表示中データより小さい場合はそのまま表示す
る。
なお、既に表示画面6b上に他の測定条件(波形番号)
の波形12が表示されていた場合には、第7図に示すよう
に、先に表示した波形12のうち後から表示した波形12の
影に隠れる部分の波形を消去する。しかして、第7図に
示すように、各測定条件(波形番号)の各波形12が表示
画面6b上に表示される。なお、各波形12の各波長λにお
ける各測定データは前記共通メモリ8に記憶されてい
る。
各波形12が、第7図に示すように、表示画面6bに表示
された状態で図示しない操作パネルの波長マーカオン/
オフスイッチが操作されると、表示部6は第8図に示す
流れ図に従って波長マーカ13の表示/消去処理を行な
う。すなわち、S3にて現在波長マーカ13が消去中であれ
ば、メモリ6dに設けられた波長バッファに記憶されてい
る波長λを読取り、第9図に示すように、読取った波長
λに対応する各波形12の波形位置にそれぞれ波長マーカ
13を表示する。次に、第10図に示すように第1図に示し
た表16を表示画面6b上に表示して、波長バッファの波長
λに対応する各波形12における各測定データ16aを共通
メモリ8から読出して表16内の1〜10の各波形番号に対
応するに領域に表示する。また、該当波長λも表16中に
表示する。
なお、S3にて現在、既に各波長マーカ13および表16の
測定データ16aが表示中であれば、表示中の波長マーカ1
3に対応する波長λをメモリ6dの波長バッファに格納す
る。そして、各波長マーカ13を消去する。さらに、後述
する第1図のレベルスケール15が表示中であればこれを
消去する。次に、表16に表示中の各測定データ16aおよ
び波長λを表16ごと消去する。
さらに、第10図に示すように、表示画面6上に各波形
12および表16の各測定データ16aが表示された状態で操
作パネルの相対マーカオン/オフスイッチが操作される
と、表示部6は第11図に示す流れ図を実行する。すなわ
ち、S4にて現在第1図の相対マーカ14が表示されていな
い場合は、メモリ6d内に形成された波形番号バッファに
記憶されている波形番号を読出して、第12図に示すよう
に、読出した波形番号に対応する波形12の波長マーカ13
を相対マーカ14へ変更する。そして、表16中に表示され
た各測定データ16aを用いて、相対マーカ14以外の各波
長マーカ13の測定データの相対マーカ14の測定データに
対する差で示される各相対値16bを算出して、各測定デ
ータ16aの右側の各領域へ表示する。
なお、S4にて既に相対マーカ14が表示中であれば、現
在相対マーカ14が表示中の波形12の波形番号を前記波形
番号バッファへ格納したのち、表示中の相対マー14を波
長マーカ13へ変更する。さらに、表16中に表示中の各相
対値16bを消去する。
また、第9図に示すように、表示画面6a上に各波形12
および各波長マーカ13が表示された状態で操作パネルの
波長マーカ接続オン/オフスイッチが操作されると、表
示部6は第13図に示す流れ図を実行する。すなわち、S5
にて現在接続線が表示されていない場合は、第14図に示
すように、左端に存在する一つの波形12の波長マーカ13
と右隣に隣接する波形12の波長マーカ13とを接続する接
続線17を表示する。なお、各波長マーカ13はリバース処
理される。そして、順次右側に隣接津する波長マーカ13
との間に接続線17を順次表示していく。
また、S5にて既に各接続線17が表示されていれば、そ
の各接続線17を左端から右端へと順次消去(クリア)し
ていく。
また、第12図に示すように表示画面6bに各波形12,各
波長マーカ13,相対マーカ14および表16に各測定データ1
6a,各相対値16bが表示された状態で、操作パネル上の波
長マーカ移動キーがキー操作されると、表示部6は第15
図の流れ図に従って波長マーカの移動処理を実行する。
流れ図が開始され、S6にて波長マーカ移動キーが左方
向(手前方向)への移動指令であれば、まだ左方に移動
可能であることを確認ののち、指示された移動波長量お
よび波長バッファの現在の波長マーカ13に対応する波長
を読取り、読出した波長から移動波長量を差引いて移動
先波長λAを求める。そして、移動先波長λAが前述した
測定開始波長λ0より大きい場合は波長マーカ13を各波
形12の各移動先波長λAに対応する各波形位置へ移動さ
せる。また、移動先波長λAが測定開始波長λ0より小さ
い場合は波長マーカ13を各波長12の測定開始波長λ0
対応する各波形位置へ移動させる。
S6にて右方向(奥方向)への移動指令であれば、まだ
右方に移動可能であることを確認ののち、指示された移
動波長量および波長バッファの現在の波長マーカ13に対
応する波長を読取り、読取った波長に移動波長量を加算
した移動先波長λBを求める。そして、移動先波長λB
前述した測定終了波長λ1より小さい場合は波長マーカ1
3を各波形12の各移動先波長λBに対応する各波形位置へ
移動させる。また、移動先波長λBが測定終了波長λ1
り大きい場合は波長マーカ13を各波形12の測定終了波長
λ1に対応する各波形位置へ移動させる。
しかして、S7にて新たな波長マーカ位置の波長λに対
応する各波形12の測定データ16aを共通メモリ8から読
出して、表16の各波形番号に対応する領域へ表示する。
また、相対マーカ14が表示中であれば、各相対値16bを
算出して表16の該当領域に表示する。そして、波長マー
カ移動キーのキー操作が終了すると、この波長マーカ移
動処理を終了する。
さらに、第12図に示すように表示画面6bに各波形12,
各波長マーカ13,相対マーカ14および表16に各測定デー
タ16a,各相対値16bが表示された状態で、操作パネル上
の相対マーカ移動キーがキー操作されると、表示部6は
第16図の流れ図に従って相対マーカの移動処理を実行す
る。
流れ図が開始され、S8にて相対マーカ移動キーが左方
向(画面左方向)への移動指令であれば、まだ左方に移
動可能であることを確認ののち、表示中の相対マーカ14
を波長マーカ13へ変更して、1波形分だけ左側の波形12
の波長マーカ13を相対マーカ14へ変更する。S8にて右方
向への移動指令であれば、現在表示中の相対マーカ14を
波長マーカ13へ変更して、左隣の波形12の波長マーカ13
を相対マーカ14へ変更する。
しかるのち、移動後の相対マーカ14および各波長マー
カ13の各測定データ16aを表示中の表16又は共通メモリ
8から読出して、各波長マーカ13の各相対値16bを算出
して、表16に表示する。そして、キー操作が終了すると
この相対マーカ14の移動処理を終了する。
また、第9図に示すように、表示画面6bに各波形12お
よび各波長マーカ13が表示された状態で、操作パネルの
レベルスケールオン/オフスイッチが操作されると、前
記表示部6は第17図の流れ図を実行する。
流れ図が開始され、S9にて既にレベルスケール15が表
示中でなければ、メモリ6dのレベルスケールバッファに
記憶されている分割値(div)を読取り、また、波長バ
ッファから表示中の波長マーカ13に対応する波長λを読
取る。そして、第18図に示すように、読取った波長位置
に第1図に示した複数の横線15aを有するレベルスケー
ル15を表示する。なお、このレベルスケール15の横線15
aによる分割数は同図(a)又は同図(b)に示すよう
に、レベルスケールバッファに記憶されている分割値
(div)に対応して変化する。このレベルスケール15は
各波形12の各波長マーク13を含み、縦軸11bに平行する
面内に形成される。したがって、レベルスケール15の横
線15aは横軸11aに平行する。
また、S9にて既にレベルスケール15が表示中であれ
ば、現在表示中のレベルスケール15の分割値(div)を
レベルスケールバッファへ格納し、表示中のレベルスケ
ール15を消去する。
また、第18図(a)(b)に示すように、表示画面6b
に各波形12,各波長マーカ13,レベルスケール15が表示さ
れた状態で、操作パネルの手前波形消去オン/オフスイ
ッチが操作されると、前記表示部6は第19図の流れ図を
実行する。
流れ図が開始され、S10にて既に各波形12の一部が消
去済でなければ、共通メモリ8から測定開始波長λ0
読出し、さらにメモリ6dの波長バッファから波長マーカ
13に対応する波長を読出す。そして、測定開始波長λ0
をカウンタにカウント値Eとして初期設定する。しかる
後、そのカウンタのカウント値の波長E対応する表示中
の各波形12の表示データを読取り、読取った全表示デー
タをリバース処理して表示(消去)する。そして、カウ
ント値Eに1を加算して、上記リバース表示処理を繰返
す。カウント値Eが波長マーカ13の波長に達すると、第
20図(b)に示すように、各波形12の波形マーカ13位置
から手前、すなわち、波長マーカ13位置から横軸11aま
でに存在する各波形12が消去される。
S10にて第20図(b)に示すように、各波形12の一部
が消去済の場合は、前述と同様に、共通メモリ8から測
定開始波長λ0を読出し、さらにメモリ6dの波長バッフ
ァから波長マーカ13に対応する波長を読出す。そして、
測定開始波長λ0をカウンタにカウント値Eとして初期
設定する。しかる後、そのカウンタのカウント値の波長
E対応するリバース表示中の各波形12の表示データを読
取り、読取ったリバース表示中の全表示データを再度リ
バース処理して表示(再表示)する。そして、カウント
値Eに1を加算して、上記再表示処理を繰返す。カウン
ト値Eが波長マーカ13の波長に達すると、第20図(a)
に示すように、各波形12の波形マーカ13位置から手前、
すなわち、波長マーカ13位置から横軸11aまでに存在す
る各波形12が再表示される。すなわち、手前波形消去オ
ン/オフスイッチのスイッチ操作により、表示画面6bの
表示を第20図(a)又は第20図(b)に示すように任意
に変更できる。
このように構成されたスペクトラム三次元表示方法で
あれば、第7図に示すように、各二次元スペクトラム波
形12の第1の変数としての波長は表示画面6b上において
は奥行軸(Z軸)11cに、各波形12相互間の測定条件を
示す第2の変数としての1〜10の測定回数(波長番号)
は表示画面6b上において横軸(X軸)11aに、かつ各波
形12のレベル値(測定データ)は縦軸(Y軸)11bに設
定されている。
したがって、波長を任意の値に固定して、測定回数
(波形番号)を変更した場合の各波形12のレベル値(測
定データ)を調べる場合は、横軸11aに平行する方向の
上下変動を調べることによって、定量的にそのレベル変
動が得られる。
ちなみに、第22図又は第23図に示す従来表示方法によ
れば、基準となるスケールが表示場面の横軸に対して傾
斜するので、同一波長における各波形の各レベルを定量
的に把握することは非常に煩雑となり、また読取誤差が
発生しやすい。
また、一つの波長を指定すると、第9図に示すよう
に、各波形12内において、その指定された波長に対応す
る各波形位置がそれぞれ波長マーカ13にて表示される。
したがって、各波形12における指定位置を直ちに把握で
きる。
さらに、第14図に示すように、操作パネルのスイッチ
操作によって、各波長マーカ13を各接続線17で接続した
状態で表示されることも可能である。このように各波長
マーカ13を接続線17で接続すると、各測定条件(波形番
号)の変化に対応して各レベル値がどのように変化する
かがグラフ表示されることになり、レベル変動を一目で
より適確に判断することが可能となる。
さらに、第10図に示すように、波長マーカ13で表記さ
れた各波形12の各レベル値(測定データ)16aが表16に
該当波長とともに表記される。したがって、この場合、
各測定データ16aを波形12から直接読取る必要がない。
よって、より正確な定量レベル値が得られる。
さらに、各波長マーカ13のうちの1個の波長マーカ13
を相対マーカ14と指定すると、第12図に示すように、該
当相対マーカ14が表示されるとともに、他の各波長マー
カ13に対応する各レベル値(測定データ)16aの相対マ
ーカ14に対応するレベル値(測定データ)に対する各相
対値16bが表16に示される。よって、各波長マーカ13位
置における各レベル値(測定データ)の比較がより容易
になる。
なお、波長マーカ13の波長位置および、どの波形12に
相対マーカ14を設定するかは操作パネル上の操作によっ
て簡単に移動又は選択できる。
さらに、第18図に示すように、各波長マーカ13位置を
含み縦軸11bに平行する面内に複数の横線15aからなるレ
ベルスケール15を表示することが可能であるので、各波
長マーカ13位置における各レベル値(測定データ)をよ
り容易に把握できる。
また、第20図(a)(b)に示すように、操作パネル
の操作により、各波形12のうち各波長マーカ13位置から
手前に存在する各波形部分が選択的に消去されるので、
波形によって隠されていた部分の波形に表記された各波
長マーカ13位置における各レベル値(測定データ)の定
量値がより容易に確認できる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明のスペクトラム三次元表示
方法によれば、各二次元スペクトラム波形の測定回数等
の測定条件の変数を表示画面の横軸にとり、波長又は周
波数の変数を奥行軸にとることにより、各波長又は周波
数における各波形のレベル値を定量的に把握でき、測定
条件変化に対応する定量的なレベル変動を即座に把握で
きる。
また、指定された波長又は周波数値に対応する波形位
置をマーカにて簡単に把握でき、また、マーカで表記さ
れた各波形のレベル値を、レベル値自体,相対マーカ,
相対値,レベルスケール等を表示することにより、より
容易に把握できる。
さらに、各波形のマーカから手前の部分を選択的に消
去できるので、各マーカ位置におけるレベル値をより適
確に把握できる。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第20図は本発明のスペクトラム三次元表示方
法を適用した光スペクトラムアナライザを示すものであ
り、第1図は表示画面に表示する各データの表示概念
図、第2図はアナライザ全体を示すブロック図、第3図
は各座標軸を表示する流れ図、第4図は表示された座標
軸を示す図、第5図および第6図は測定を示す流れ図、
第7図は表示された各波形を示す図、第8図は波長マー
カを表示する流れ図、第9図および第10図は表示された
波長マーカを示す図、第11図は相対マーカを表示する流
れ図、第12図は表示された相対マーカを示す図、第13図
は接続線を表示する流れ図、第14図は表示された接続線
を示す図、第15図および第16図は波長マーカおよび相対
マーカの移動を示す流れ図、第17図はレベルスケールを
表示する流れ図、第18図は表示されたレベルスケールを
示す図、第19図は波形の一部を消去する流れ図、第20図
は一部が消去された波形を示す図であり、第21図は表示
された一般的な二次元スペクトラム波形を示す図、第22
図および第23図は従来方法において三次元的に表示され
た複数の二次元スペクトラム波形波形を示す図である。 3……制御部、4……光学部、5……モータ駆動部、6
……表示部、6b……表示画面、8……共通メモリ、11…
…スケール、11a……横軸、11b……縦軸、11c……奥行
軸、12……二次元スペクトラム波形、13……波長マー
カ、14……相対マーカ、15……レベルスケール、16……
表、17……接続線。

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】波長又は周波数を第1の変数として各第1
    の変数値における各レベル値を包絡した二次元スペクト
    ラム波形(12)を、一つの測定条件を第2の変数として
    各第2の変数値毎に、複数個同時に表示部の表示画面
    (6b)に描くスペクトラム三次元表示方法において、 前記第2の変数を前記表示画面上における横軸(11a)
    に、前記各二次元スペクトラム波形の各レベル値を縦軸
    (11b)に、かつ前記第1の変数を前記表示画面と交差
    する奥行軸(11c)にして、前記複数の二次元スペクト
    ラム波形を前記表示画面に表示するとともに、 任意に指定された第1の変数値に対応する波形位置を示
    すマーカ(13)を前記各二次元スペクトラム波形上に表
    示するスペクトラム三次元表示方法。
  2. 【請求項2】各二次元スペクトラム波形上に表示された
    互いに隣接する各マーカ相互間を接続する接続線(17)
    を表示する請求項1記載のスペクトラム三次元表示方
    法。
  3. 【請求項3】任意に指定された第1の変数値に対応する
    各二次元スペクトラム波形の各レベル値(16a)を前記
    指定された第1の変数値とともに前記表示画面に表示す
    る請求項1記載のスペクトラム三次元表示方法。
  4. 【請求項4】前記各マーカのうち任意に指定されたマー
    カを相対マーカ(14)として表示すると共に、各マーカ
    の各レベル値における前記相対マーカのレベル値に対す
    る各相対値(16b)を前記表示画面に表示する請求項3
    記載のスペクトラム三次元表示方法。
  5. 【請求項5】前記各マーカを含み前記縦軸に平行する面
    内に前記各マーカにおける各波形のレベル値を読取るた
    めの複数の横線(15a)からなるレベルスケール(15)
    を表示する請求項1記載のスペクトラム三次元表示方
    法。
  6. 【請求項6】前記各二次元スペクトラム波形のうち、前
    記各マーカより前記横軸,縦軸および奥行軸からなる座
    標の原点側に位置する各波形部分を選択的に消去する請
    求項5記載のスペクトラム三次元表示方法。
JP63235329A 1988-09-20 1988-09-20 スペクトラム三次元表示方法 Expired - Fee Related JP2709092B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63235329A JP2709092B2 (ja) 1988-09-20 1988-09-20 スペクトラム三次元表示方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63235329A JP2709092B2 (ja) 1988-09-20 1988-09-20 スペクトラム三次元表示方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0282123A JPH0282123A (ja) 1990-03-22
JP2709092B2 true JP2709092B2 (ja) 1998-02-04

Family

ID=16984495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63235329A Expired - Fee Related JP2709092B2 (ja) 1988-09-20 1988-09-20 スペクトラム三次元表示方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2709092B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002250706A (ja) * 2001-02-23 2002-09-06 Horiba Ltd 分析装置
JP2011033370A (ja) * 2009-07-30 2011-02-17 Hioki Ee Corp 測定結果表示装置および測定結果表示方法
JP2011058818A (ja) * 2009-09-07 2011-03-24 Hitachi High-Technologies Corp 分光蛍光光度計

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60143765A (ja) * 1983-12-29 1985-07-30 Shimadzu Corp クロマトグラフ用多チヤンネル同時検出デ−タ処理装置
JPH0621982B2 (ja) * 1984-10-23 1994-03-23 株式会社日立製作所 3次元スペクトル表示装置
JPS62218847A (ja) * 1986-03-20 1987-09-26 Fujitsu Ltd オ−ジエスペクトルの解析方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0282123A (ja) 1990-03-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100193127B1 (ko) 3차원 형상 가공물의 평가 방법 및 장치
EP0469274B1 (en) Ultrasonic inspection and imaging instrument
JP6516865B2 (ja) 測定対象の寸法特性を決定するための方法及び装置
JP2709092B2 (ja) スペクトラム三次元表示方法
JPH11119027A (ja) 光ファイバ特性評価装置及びプログラムを記録した媒体
US6243858B1 (en) Program construction assisting system
JP3927699B2 (ja) 測定機における測定経路選定方法
US5711021A (en) Method for graphically displaying vehicle test data
JP2001183434A (ja) 磁界測定装置
JP2723762B2 (ja) 部品の自動品質検査装置
JP4298977B2 (ja) 射出成形機の表示装置
JPH0282124A (ja) スペクトラム三次元表示方法
JP2588657B2 (ja) 検査プログラム自動作成方法
JP2877075B2 (ja) 計測器制御装置および方法
JP3499435B2 (ja) 材料試験機
JP2002311060A (ja) 波形測定器
JPH11212630A (ja) プラントデータ解析装置
JP4803795B2 (ja) 分析装置
JPH0794990B2 (ja) 表示装置
JP3102153B2 (ja) 測定器のスケーリング方法
JPH11248870A (ja) スケジュール機能を有する情報処理装置における時刻表示方法及び情報処理装置並びに記録媒体
JPH06236493A (ja) 監視装置における位置状態監視方法
JP2850961B2 (ja) 表示制御装置
JP2905128B2 (ja) カーテンのひだどり寸法表示装置
JPH10320572A (ja) グラフ出力装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees