JP3247321B2 - 電子ユニットの検査方法 - Google Patents
電子ユニットの検査方法Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、全体回路中に複
数の局部回路を含んで構成された電子ユニットの検査方
法に関する。
数の局部回路を含んで構成された電子ユニットの検査方
法に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】電子ユ
ニットの出荷時の検査においては、一般に、当該電子ユ
ニット内の回路内に予めテスタ機能が組込まれたインサ
ーキットテスタ方式のものや、当該電子ユニットの入出
力特性を所定の出荷検査装置で測定する方式等があっ
た。
ニットの出荷時の検査においては、一般に、当該電子ユ
ニット内の回路内に予めテスタ機能が組込まれたインサ
ーキットテスタ方式のものや、当該電子ユニットの入出
力特性を所定の出荷検査装置で測定する方式等があっ
た。
【０００３】インサーキットテスタ方式は、例えばデジ
タル回路中の各部論理素子について部品の誤実装又はオ
ープンショート等を検知するために適用されることが多
い。
タル回路中の各部論理素子について部品の誤実装又はオ
ープンショート等を検知するために適用されることが多
い。
【０００４】また、入出力特性を測定する方式では、電
子ユニットを１個のブラックボックスとして動作機能を
確認する分野に適している。
子ユニットを１個のブラックボックスとして動作機能を
確認する分野に適している。
【０００５】しかしながら、検査の内容によっては、上
記のいずれの方式を適用しても測定が困難なものがあ
る。
記のいずれの方式を適用しても測定が困難なものがあ
る。
【０００６】図６は所定箇所の温度変化を検出する回路
（第１従来技術）である。この回路は、温度の高低変化
によって抵抗値が変化する温度センサＸ１を有してお
り、この温度センサＸ１の一端が分圧抵抗Ｒ11を通じて
電源Ｖｃｃに接続されるとともに、他端が接地されてい
る。一方、電源Ｖｃｃと接地電位との間には、基準電圧
Ｖ11を決定する一対の分圧抵抗Ｒ12，Ｒ13が接続されて
いる。そして、この基準電圧Ｖ11がコンパレータ１の非
反転入力端子に入力されるとともに、温度センサＸ１と
抵抗Ｒ11との接続中間点の電圧Ｖ12がコンパレータ１の
反転入力端子に入力されており、コンパレータ１からの
出力電圧Ｖ13の正負（ＨＩ／ＬＯ）をマイクロコンピュ
ータチップ（以下単に「マイコン」と略称する）２で判
断し、これに応じて出力信号Ｖ14を出力する構成となっ
ている。
（第１従来技術）である。この回路は、温度の高低変化
によって抵抗値が変化する温度センサＸ１を有してお
り、この温度センサＸ１の一端が分圧抵抗Ｒ11を通じて
電源Ｖｃｃに接続されるとともに、他端が接地されてい
る。一方、電源Ｖｃｃと接地電位との間には、基準電圧
Ｖ11を決定する一対の分圧抵抗Ｒ12，Ｒ13が接続されて
いる。そして、この基準電圧Ｖ11がコンパレータ１の非
反転入力端子に入力されるとともに、温度センサＸ１と
抵抗Ｒ11との接続中間点の電圧Ｖ12がコンパレータ１の
反転入力端子に入力されており、コンパレータ１からの
出力電圧Ｖ13の正負（ＨＩ／ＬＯ）をマイクロコンピュ
ータチップ（以下単に「マイコン」と略称する）２で判
断し、これに応じて出力信号Ｖ14を出力する構成となっ
ている。
【０００７】例えば、温度センサＸ１及び各分圧抵抗Ｒ
11，Ｒ12，Ｒ13の抵抗値を、図７のように通常時（Ｔ
１）においてＶ11＞Ｖ12になるよう設定しておき、温度
の上昇により温度センサＸ１の抵抗値が上昇してＶ11＜
Ｖ12となると（Ｔ２）、コンパレータ１の出力がＨｉか
らＬｏに切り替るため、これをマイコン２が認識し出力
を行う。
11，Ｒ12，Ｒ13の抵抗値を、図７のように通常時（Ｔ
１）においてＶ11＞Ｖ12になるよう設定しておき、温度
の上昇により温度センサＸ１の抵抗値が上昇してＶ11＜
Ｖ12となると（Ｔ２）、コンパレータ１の出力がＨｉか
らＬｏに切り替るため、これをマイコン２が認識し出力
を行う。
【０００８】このような回路を全体回路とした場合にお
いて、そのうちの一部の局部回路としてコンパレータ１
の動作検査を行いたい場合、コンパレータ１自体がアナ
ログ回路の検査であるため、上述したインサーキットテ
スタ方式の検査はなじまない。またこの場合の全体回路
が温度センサＸ１によって温度変化を検出するものであ
るため、かかる全体回路の外部接続端子について入出力
特性を測定する方式はなじまず、結局、実際の温度セン
サＸ１の温度を高低変化させるような加熱装置等が付属
した検査機器を使用してコンパレータ１の動作検査を行
うほかなかった。その結果、電気的検査から加熱装置へ
のセッティングに至る工程間の電気ユニットの移動時
間、及びセッティングそのものに要する時間がかかり、
時間効率を低下させる要因となっていた。また、加熱装
置等が付属した検査機器に要するコストが余分に必要に
なるという課題も残っていた。
いて、そのうちの一部の局部回路としてコンパレータ１
の動作検査を行いたい場合、コンパレータ１自体がアナ
ログ回路の検査であるため、上述したインサーキットテ
スタ方式の検査はなじまない。またこの場合の全体回路
が温度センサＸ１によって温度変化を検出するものであ
るため、かかる全体回路の外部接続端子について入出力
特性を測定する方式はなじまず、結局、実際の温度セン
サＸ１の温度を高低変化させるような加熱装置等が付属
した検査機器を使用してコンパレータ１の動作検査を行
うほかなかった。その結果、電気的検査から加熱装置へ
のセッティングに至る工程間の電気ユニットの移動時
間、及びセッティングそのものに要する時間がかかり、
時間効率を低下させる要因となっていた。また、加熱装
置等が付属した検査機器に要するコストが余分に必要に
なるという課題も残っていた。
【０００９】また、図８は、マイクロプロセッサ（以下
「ＭＰＵ」と称する）３内の動作タイミングを律するク
ロック信号（Ｃｋ）を監視するための監視回路部４が内
蔵された回路例（第２従来技術）である。この監視回路
部４は一種のインサーキットテスタであって、図９の如
く、ＭＰＵ３内のクロック信号（Ｃｋ）Ｖ21が所定のデ
ューティ比の正常なパルス形状を維持しているときには
（Ｔ１）、監視回路部４からＭＰＵ３のリセット端子
（ＲＥＳＥＴ）に出力される信号Ｖ22はハイ（ＨＩ）状
態が維持され、故にＭＰＵ３からの出力信号Ｖ23がＯＮ
状態に維持されるが、ＭＰＵ３内のクロック信号（Ｃ
ｋ）Ｖ21がノイズ等の影響で乱れたときには（Ｔ２）、
監視回路部４からの出力信号Ｖ22は若干の遅延時間ΔＴ
の経過後にロー（ＬＯ）に切り替り、これがリセット端
子（ＲＥＳＥＴ）に入力されることでＭＰＵ３の出力信
号Ｖ23がＯＦＦ状態に切り替る。
「ＭＰＵ」と称する）３内の動作タイミングを律するク
ロック信号（Ｃｋ）を監視するための監視回路部４が内
蔵された回路例（第２従来技術）である。この監視回路
部４は一種のインサーキットテスタであって、図９の如
く、ＭＰＵ３内のクロック信号（Ｃｋ）Ｖ21が所定のデ
ューティ比の正常なパルス形状を維持しているときには
（Ｔ１）、監視回路部４からＭＰＵ３のリセット端子
（ＲＥＳＥＴ）に出力される信号Ｖ22はハイ（ＨＩ）状
態が維持され、故にＭＰＵ３からの出力信号Ｖ23がＯＮ
状態に維持されるが、ＭＰＵ３内のクロック信号（Ｃ
ｋ）Ｖ21がノイズ等の影響で乱れたときには（Ｔ２）、
監視回路部４からの出力信号Ｖ22は若干の遅延時間ΔＴ
の経過後にロー（ＬＯ）に切り替り、これがリセット端
子（ＲＥＳＥＴ）に入力されることでＭＰＵ３の出力信
号Ｖ23がＯＦＦ状態に切り替る。
【００１０】このようなＭＰＵ３及び監視回路部４を備
える全体回路において、局部回路としての監視回路部４
自体が正常に監視動作を行うかどうかを検査したい場
合、一旦図８のように全体回路を構成した後の段階で
は、局部回路として監視回路部４の動作を検査しようと
する場合、図９中のＴ２の状態を実現するためにはＭＰ
Ｕ３を暴走させてみない限り検査ができないことにな
る。しかしながら、現実にはＭＰＵ３の暴走状態を任意
に起こさせることができなかったため、結局、監視回路
部４単独での検査は困難であった。あえて電気的に検査
を行う場合は、通常の入出力特性測定とは別に、監視回
路部４を取外したり、あるいは入出力特性検査とは別の
工程で特別な電圧を所定の接続点に加えるなどして異常
な電圧を加えて監視回路部４を検査することになり、工
程上多くの作業時間を要してしまい、相当な高コストを
要していた。
える全体回路において、局部回路としての監視回路部４
自体が正常に監視動作を行うかどうかを検査したい場
合、一旦図８のように全体回路を構成した後の段階で
は、局部回路として監視回路部４の動作を検査しようと
する場合、図９中のＴ２の状態を実現するためにはＭＰ
Ｕ３を暴走させてみない限り検査ができないことにな
る。しかしながら、現実にはＭＰＵ３の暴走状態を任意
に起こさせることができなかったため、結局、監視回路
部４単独での検査は困難であった。あえて電気的に検査
を行う場合は、通常の入出力特性測定とは別に、監視回
路部４を取外したり、あるいは入出力特性検査とは別の
工程で特別な電圧を所定の接続点に加えるなどして異常
な電圧を加えて監視回路部４を検査することになり、工
程上多くの作業時間を要してしまい、相当な高コストを
要していた。
【００１１】そこで、この発明の課題は、インサーキッ
トテスタ方式や従来の入出力特性測定方式では測定が困
難であった測定をも容易に可能にする電子ユニットの検
査方法を提供することにある。
トテスタ方式や従来の入出力特性測定方式では測定が困
難であった測定をも容易に可能にする電子ユニットの検
査方法を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく、
この発明は、電子ユニットの動作適正について検査を行
う検査方法であって、前記電子ユニットの動作適正を検
査する検査機に、前記電子ユニットの所定の外部接続端
子に接続して当該電子ユニットの入出力動作を検査する
入出力検査機能部のほか、プローブと、このプローブの
電圧を任意に調整するプローブ電圧調整部とを設けると
ともに、前記電子ユニット内の全体回路内における局部
回路の入力点に局部回路検査専用のチェックパッドを形
成し、前記全体回路を収納するケースの前記チェックパ
ッドに対応する外壁の一部に、前記チェックパッドに対
応した専用孔を形成し、前記専用孔に前記検査機のプロ
ーブを挿入して当該プローブの先端を前記チェックパッ
ドに接触させ、前記プローブの電圧を前記プローブ電圧
調整部で変化させて前記局部回路の入力点に検査信号を
与え、この検査信号に基づく前記全体回路の出力状態の
変化を検知することでもって前記局部回路の動作適正を
検査するものである。これにより、電子ユニットの全体
回路の入出力特性を行うことが可能であるとともに、電
子ユニットの検査場所を移動することなく、且つ電子ユ
ニットのケースを開放せずに、局部回路のみの検査を併
せて行うことができる。
この発明は、電子ユニットの動作適正について検査を行
う検査方法であって、前記電子ユニットの動作適正を検
査する検査機に、前記電子ユニットの所定の外部接続端
子に接続して当該電子ユニットの入出力動作を検査する
入出力検査機能部のほか、プローブと、このプローブの
電圧を任意に調整するプローブ電圧調整部とを設けると
ともに、前記電子ユニット内の全体回路内における局部
回路の入力点に局部回路検査専用のチェックパッドを形
成し、前記全体回路を収納するケースの前記チェックパ
ッドに対応する外壁の一部に、前記チェックパッドに対
応した専用孔を形成し、前記専用孔に前記検査機のプロ
ーブを挿入して当該プローブの先端を前記チェックパッ
ドに接触させ、前記プローブの電圧を前記プローブ電圧
調整部で変化させて前記局部回路の入力点に検査信号を
与え、この検査信号に基づく前記全体回路の出力状態の
変化を検知することでもって前記局部回路の動作適正を
検査するものである。これにより、電子ユニットの全体
回路の入出力特性を行うことが可能であるとともに、電
子ユニットの検査場所を移動することなく、且つ電子ユ
ニットのケースを開放せずに、局部回路のみの検査を併
せて行うことができる。
【００１３】なお、具体的には、前記全体回路として、
温度センサと、前記温度センサの電圧変化を検知する検
知回路部と、前記検知回路部からの信号に基づいて温度
変化を判断する判断部とを備えたものを適用し、この全
体回路中の局部回路として前記検知回路部の動作特性を
検査したい場合に有効である。この場合、前記チェック
パッドを、前記温度センサの電圧を前記検知回路部に入
力する配線中に形成し、前記プローブを前記チェックパ
ッドに接触させた状態で、前記プローブの電圧を、前記
温度センサでの所定温度検出時に出力する電圧に等しく
なるよう前記プローブ電圧調整部で電圧調整し、前記判
断部からの出力の変化を検出することをもって検査を行
えばよい。
温度センサと、前記温度センサの電圧変化を検知する検
知回路部と、前記検知回路部からの信号に基づいて温度
変化を判断する判断部とを備えたものを適用し、この全
体回路中の局部回路として前記検知回路部の動作特性を
検査したい場合に有効である。この場合、前記チェック
パッドを、前記温度センサの電圧を前記検知回路部に入
力する配線中に形成し、前記プローブを前記チェックパ
ッドに接触させた状態で、前記プローブの電圧を、前記
温度センサでの所定温度検出時に出力する電圧に等しく
なるよう前記プローブ電圧調整部で電圧調整し、前記判
断部からの出力の変化を検出することをもって検査を行
えばよい。
【００１４】あるいは、前記全体回路として、所定の信
号に基づいて動作する主回路部と、当該主回路部内の前
記所定の信号を監視する監視回路部とを備えたものを適
用し、この全体回路中の局部回路として前記監視回路部
の動作特性を検査したい場合にも有効である。この場
合、前記チェックパッドを、前記主回路部内の前記所定
の信号を前記監視回路部に入力する配線中に形成し、前
記プローブを前記チェックパッドに接触させた状態で、
前記プローブの電圧を、前記所定の信号の正常時の波形
と異なる波形となるよう前記プローブ電圧調整部で電圧
調整し、前記判断部からの出力の変化を検出することを
もって検査を行えばよい。
号に基づいて動作する主回路部と、当該主回路部内の前
記所定の信号を監視する監視回路部とを備えたものを適
用し、この全体回路中の局部回路として前記監視回路部
の動作特性を検査したい場合にも有効である。この場
合、前記チェックパッドを、前記主回路部内の前記所定
の信号を前記監視回路部に入力する配線中に形成し、前
記プローブを前記チェックパッドに接触させた状態で、
前記プローブの電圧を、前記所定の信号の正常時の波形
と異なる波形となるよう前記プローブ電圧調整部で電圧
調整し、前記判断部からの出力の変化を検出することを
もって検査を行えばよい。
【００１５】
【発明の実施の形態】図１はこの発明の一の実施の形態
に係る電子ユニットを示す一部破断斜視図である。この
電子ユニット１１は、図１の如く、回路１２内の所定点
に、当該回路１２の外部接続端子１７とは異なる専用チ
ェックパッド１３を形成するとともに、電子ユニット１
１のケース１４の外壁の一部に、専用チェックパッド１
３に対応した専用孔１５を形成し、この専用孔１５に検
査機１０の専用プローブ１６を挿入してこれを専用チェ
ックパッド１３に接触させ、専用プローブ１６を通じて
電気的信号を与えることで、インサーキットテスタ方式
や単なる入出力特性測定方式では測定が困難であった測
定をも可能にしようとするものである。
に係る電子ユニットを示す一部破断斜視図である。この
電子ユニット１１は、図１の如く、回路１２内の所定点
に、当該回路１２の外部接続端子１７とは異なる専用チ
ェックパッド１３を形成するとともに、電子ユニット１
１のケース１４の外壁の一部に、専用チェックパッド１
３に対応した専用孔１５を形成し、この専用孔１５に検
査機１０の専用プローブ１６を挿入してこれを専用チェ
ックパッド１３に接触させ、専用プローブ１６を通じて
電気的信号を与えることで、インサーキットテスタ方式
や単なる入出力特性測定方式では測定が困難であった測
定をも可能にしようとするものである。
【００１６】ここで使用される検査機１０は、従来から
存在していた入出力特性測定用の装置に、専用プローブ
１６による電圧印加機能を新たに付加したものであっ
て、図２の如く、電子ユニット１１の回路１２の入力端
子等に信号を出力する信号出力部２１と、回路１２の出
力端子からの信号を受信して異常検出を行う信号検出部
２２と、前述した専用プローブ１６と、この専用プロー
ブ１６に印加するプローブ電圧を調整する可変抵抗２３
及びプローブ電圧調整部２４と、これらの各部２１〜２
４に電源を供給する電源部２５とを備えている。
存在していた入出力特性測定用の装置に、専用プローブ
１６による電圧印加機能を新たに付加したものであっ
て、図２の如く、電子ユニット１１の回路１２の入力端
子等に信号を出力する信号出力部２１と、回路１２の出
力端子からの信号を受信して異常検出を行う信号検出部
２２と、前述した専用プローブ１６と、この専用プロー
ブ１６に印加するプローブ電圧を調整する可変抵抗２３
及びプローブ電圧調整部２４と、これらの各部２１〜２
４に電源を供給する電源部２５とを備えている。
【００１７】ここで、検査機１０の信号出力部２１及び
信号検出部２２は、電子ユニット１１の外部接続端子１
７に接続して当該電子ユニット１１の入出力動作を検査
する入出力検査機能部として機能する。そして、検査機
１０の信号出力部２１と、電子ユニット１１の外部接続
端子１７とは、コネクタ３１を有するフラットケーブル
３２を通じて結線されている。このフラットケーブル３
２は、信号線、電源線及びアース線等の複数の電線が平
行配置されて両側から保護テープで挟み込まれた一般的
なものである。そして、このフラットケーブル３２のよ
うな入出力用の配線とは別途に、電子ユニット１１の回
路１２の所定点に形成された専用チェックパッド１３に
専用プローブ１６を通じて直接接続することで、従来困
難であった様々な検査を可能とするものである。
信号検出部２２は、電子ユニット１１の外部接続端子１
７に接続して当該電子ユニット１１の入出力動作を検査
する入出力検査機能部として機能する。そして、検査機
１０の信号出力部２１と、電子ユニット１１の外部接続
端子１７とは、コネクタ３１を有するフラットケーブル
３２を通じて結線されている。このフラットケーブル３
２は、信号線、電源線及びアース線等の複数の電線が平
行配置されて両側から保護テープで挟み込まれた一般的
なものである。そして、このフラットケーブル３２のよ
うな入出力用の配線とは別途に、電子ユニット１１の回
路１２の所定点に形成された専用チェックパッド１３に
専用プローブ１６を通じて直接接続することで、従来困
難であった様々な検査を可能とするものである。
【００１８】以下、このような専用プローブ１６による
検査の実施例を説明する。
検査の実施例を説明する。
【００１９】
【実施例１】図３はこの実施例１に係る回路１２を示す
電子ユニット１１の回路図である。なお、図３において
第１従来技術と同様の機能を有する要素については同一
符号を付している。
電子ユニット１１の回路図である。なお、図３において
第１従来技術と同様の機能を有する要素については同一
符号を付している。
【００２０】この電子ユニット１１の回路１２は、第１
従来技術と同類の温度変化検出機能を有する回路であっ
て、図３の如く、一端が接地されて所定箇所の温度変化
を検知する温度センサＸ１と、この温度センサＸ１の他
端と電源Ｖｃｃとの間に接続された分圧抵抗Ｒ11と、温
度センサＸ１の他端の電圧Ｖ12の基準電圧となるＶ11を
決定すべく電源Ｖｃｃとアースとの間に接続された一対
の分圧抵抗Ｒ12，Ｒ13と、基準電圧Ｖ11が非反転入力端
子に入力されるとともに、温度センサＸ１と抵抗Ｒ11と
の接続中間点の電圧Ｖ12が反転入力端子に入力されるコ
ンパレータ１（検知回路部）と、コンパレータ１からの
出力電圧Ｖ13の正負（ＨＩ／ＬＯ）を判断しこれに応じ
て出力信号Ｖ14を出力するマイコン２（判断部）と、温
度センサＸ１と抵抗Ｒ11との接続中間点に接続されて検
査機１０の専用プローブ１６により電圧Ｖ12を任意に変
更設定するための専用チェックパッド１３とを備えたも
のである。
従来技術と同類の温度変化検出機能を有する回路であっ
て、図３の如く、一端が接地されて所定箇所の温度変化
を検知する温度センサＸ１と、この温度センサＸ１の他
端と電源Ｖｃｃとの間に接続された分圧抵抗Ｒ11と、温
度センサＸ１の他端の電圧Ｖ12の基準電圧となるＶ11を
決定すべく電源Ｖｃｃとアースとの間に接続された一対
の分圧抵抗Ｒ12，Ｒ13と、基準電圧Ｖ11が非反転入力端
子に入力されるとともに、温度センサＸ１と抵抗Ｒ11と
の接続中間点の電圧Ｖ12が反転入力端子に入力されるコ
ンパレータ１（検知回路部）と、コンパレータ１からの
出力電圧Ｖ13の正負（ＨＩ／ＬＯ）を判断しこれに応じ
て出力信号Ｖ14を出力するマイコン２（判断部）と、温
度センサＸ１と抵抗Ｒ11との接続中間点に接続されて検
査機１０の専用プローブ１６により電圧Ｖ12を任意に変
更設定するための専用チェックパッド１３とを備えたも
のである。
【００２１】この回路１２は、図１のように、ケース１
４内に収納されて電子ユニット１１として提供されるも
ので、ケース１４には専用チェックパッド１３に対応し
た専用孔１５が形成されており、この専用孔１５に検査
機１０の専用プローブ１６を挿入してこれを専用チェッ
クパッド１３に接触させ得る構造とされている。
４内に収納されて電子ユニット１１として提供されるも
ので、ケース１４には専用チェックパッド１３に対応し
た専用孔１５が形成されており、この専用孔１５に検査
機１０の専用プローブ１６を挿入してこれを専用チェッ
クパッド１３に接触させ得る構造とされている。
【００２２】この回路１２の出力信号Ｖ14は、本来的な
機能としては、分圧抵抗Ｒ12，Ｒ13で決定する基準電圧
Ｖ11と、Ｒ11とＸ１で決定する電圧Ｖ12とをコンパレー
タ１にて比較することにより決定を行うものである。す
なわち、本来的には、図７のように、Ｖ11＞Ｖ12になる
よう、通常温度時（Ｔ１）における温度センサＸ１及び
各分圧抵抗Ｒ11，Ｒ12，Ｒ13の各抵抗値をそれぞれ設定
しておき、温度の上昇により温度センサＸ１の抵抗値が
上昇してＶ11＜Ｖ12となると（Ｔ２）、コンパレータ１
の出力がＨｉからＬｏに切り替るため、これをマイコン
２が認識し出力を行う。
機能としては、分圧抵抗Ｒ12，Ｒ13で決定する基準電圧
Ｖ11と、Ｒ11とＸ１で決定する電圧Ｖ12とをコンパレー
タ１にて比較することにより決定を行うものである。す
なわち、本来的には、図７のように、Ｖ11＞Ｖ12になる
よう、通常温度時（Ｔ１）における温度センサＸ１及び
各分圧抵抗Ｒ11，Ｒ12，Ｒ13の各抵抗値をそれぞれ設定
しておき、温度の上昇により温度センサＸ１の抵抗値が
上昇してＶ11＜Ｖ12となると（Ｔ２）、コンパレータ１
の出力がＨｉからＬｏに切り替るため、これをマイコン
２が認識し出力を行う。
【００２３】ここで、出荷時の検査においては、コンパ
レータ１が温度センサＸ１の抵抗変化に応じて適正に比
較動作を行うかどうかの検査を行う。ただし、上述のよ
うに温度センサＸ１の温度自体を変化させる方法は、加
熱装置等の大がかりな検査装置を必要とし多大なコスト
がかかるため、温度センサＸ１の温度による抵抗変化の
代替として、図３のように、専用プローブ１６を通じて
温度センサＸ１と分圧抵抗Ｒ11との接続中間点に接続さ
れた専用チェックパッド１３に対し、温度センサＸ１の
抵抗変化と同等の電圧変化を与える。
レータ１が温度センサＸ１の抵抗変化に応じて適正に比
較動作を行うかどうかの検査を行う。ただし、上述のよ
うに温度センサＸ１の温度自体を変化させる方法は、加
熱装置等の大がかりな検査装置を必要とし多大なコスト
がかかるため、温度センサＸ１の温度による抵抗変化の
代替として、図３のように、専用プローブ１６を通じて
温度センサＸ１と分圧抵抗Ｒ11との接続中間点に接続さ
れた専用チェックパッド１３に対し、温度センサＸ１の
抵抗変化と同等の電圧変化を与える。
【００２４】すなわち、図１のように、フラットケーブ
ル３２のコネクタ３１を電子ユニット１１の外部接続端
子１７に接続し、フラットケーブル３２を通じて電子ユ
ニット１１の回路１２内の各部に電源Ｖｃｃを供給する
とともに、電子ユニット１１のケース１４に形成された
専用孔１５に専用プローブ１６を挿入し、専用プローブ
１６の先端を回路１２内の専用チェックパッド１３に接
触させて、ケース１４を開放することなく温度センサＸ
１と分圧抵抗Ｒ11との接続中間点に電圧Ｖ12を直接印加
する。
ル３２のコネクタ３１を電子ユニット１１の外部接続端
子１７に接続し、フラットケーブル３２を通じて電子ユ
ニット１１の回路１２内の各部に電源Ｖｃｃを供給する
とともに、電子ユニット１１のケース１４に形成された
専用孔１５に専用プローブ１６を挿入し、専用プローブ
１６の先端を回路１２内の専用チェックパッド１３に接
触させて、ケース１４を開放することなく温度センサＸ
１と分圧抵抗Ｒ11との接続中間点に電圧Ｖ12を直接印加
する。
【００２５】このときの電圧Ｖ12のレベルは、図２に示
した検査機１０の可変抵抗２３の抵抗値を変化させるこ
とでプローブ電圧調整部２４で調整する。具体的には、
例えば、Ｖ12＞Ｖｃｃ×Ｒ13／（Ｒ12＋Ｒ13）となるよ
うにプローブ電圧調整部２４からの電圧Ｖ12を調整し、
このときマイコン２から出力される出力信号Ｖ14を検査
機１０の信号検出部２２で確認する。これにより、専用
の加熱装置等で温度変化を行うことなしに、コンパレー
タ１の動作検査を行うことができる。
した検査機１０の可変抵抗２３の抵抗値を変化させるこ
とでプローブ電圧調整部２４で調整する。具体的には、
例えば、Ｖ12＞Ｖｃｃ×Ｒ13／（Ｒ12＋Ｒ13）となるよ
うにプローブ電圧調整部２４からの電圧Ｖ12を調整し、
このときマイコン２から出力される出力信号Ｖ14を検査
機１０の信号検出部２２で確認する。これにより、専用
の加熱装置等で温度変化を行うことなしに、コンパレー
タ１の動作検査を行うことができる。
【００２６】
【実施例２】図４はこの実施例２に係る回路１２を示す
回路図である。なお、図４において第２従来技術と同様
の機能を有する要素については同一符号を付している。
回路図である。なお、図４において第２従来技術と同様
の機能を有する要素については同一符号を付している。
【００２７】この回路１２は、第２従来技術と同様に、
ＭＰＵ３（主回路部）内のクロック信号（Ｃｋ）を監視
する監視回路部４（ウォッチドックタイマ）が内蔵され
た回路であって、図４の如く、ＭＰＵ３からクロック信
号（Ｃｋ）を取出して監視回路部４に入力する入力配線
３５の中間点に、検査機１０の専用プローブ１６により
信号Ｖ21を任意に変更設定するための専用チェックパッ
ド１３とを備えたものである。
ＭＰＵ３（主回路部）内のクロック信号（Ｃｋ）を監視
する監視回路部４（ウォッチドックタイマ）が内蔵され
た回路であって、図４の如く、ＭＰＵ３からクロック信
号（Ｃｋ）を取出して監視回路部４に入力する入力配線
３５の中間点に、検査機１０の専用プローブ１６により
信号Ｖ21を任意に変更設定するための専用チェックパッ
ド１３とを備えたものである。
【００２８】そして、この回路１２は、図１のように、
ケース１４内に収納されて電子ユニット１１として提供
されるもので、ケース１４には専用チェックパッド１３
に対応した専用孔１５が形成されており、この専用孔１
５に検査機１０の専用プローブ１６を挿入してこれを専
用チェックパッド１３に接触させ得る構造とされてい
る。
ケース１４内に収納されて電子ユニット１１として提供
されるもので、ケース１４には専用チェックパッド１３
に対応した専用孔１５が形成されており、この専用孔１
５に検査機１０の専用プローブ１６を挿入してこれを専
用チェックパッド１３に接触させ得る構造とされてい
る。
【００２９】ここで、ＭＰＵ３は、４〜３２ビットのど
のようなビット長形式のものであってもよく、またマル
チチップＭＰＵであってもシングルチップＭＰＵ（ＳＭ
ＰＵ）であってもよい。
のようなビット長形式のものであってもよく、またマル
チチップＭＰＵであってもシングルチップＭＰＵ（ＳＭ
ＰＵ）であってもよい。
【００３０】また、監視回路部４は、内部タイマを有し
ており、入力配線３５を通じてＭＰＵ３から与えられた
クロック信号（Ｃｋ）の立上がりをトリガーとして内部
タイマによる計時を開始し、Ｖ21のデューティー比に対
応する所定の第１の基準時間ｔ１の間Ｖ21がハイ状態を
維持し、またクロック信号（Ｃｋ）の立下がりからＶ21
のデューティー比に対応する所定の第２の基準時間ｔ２
の間Ｖ21がロー状態を維持しているかどうかを比較検知
し、その間にハイ状態またはロー状態を維持できなかっ
た場合にリセット信号（ＲＥＳＥＴ）Ｖ22としてロー信
号をＭＰＵ３に与える機能を有した一般的なものであ
る。なお、この監視回路部４は、電源電圧（Ｖｃｃ）ま
たは電源電流の異常を検知する電源監視回路部としての
機能を兼ね備えたものである。なお、図４中のＣ１，Ｃ
２はコンデンサ、Ｒ21はプルアップ抵抗を示している。
ており、入力配線３５を通じてＭＰＵ３から与えられた
クロック信号（Ｃｋ）の立上がりをトリガーとして内部
タイマによる計時を開始し、Ｖ21のデューティー比に対
応する所定の第１の基準時間ｔ１の間Ｖ21がハイ状態を
維持し、またクロック信号（Ｃｋ）の立下がりからＶ21
のデューティー比に対応する所定の第２の基準時間ｔ２
の間Ｖ21がロー状態を維持しているかどうかを比較検知
し、その間にハイ状態またはロー状態を維持できなかっ
た場合にリセット信号（ＲＥＳＥＴ）Ｖ22としてロー信
号をＭＰＵ３に与える機能を有した一般的なものであ
る。なお、この監視回路部４は、電源電圧（Ｖｃｃ）ま
たは電源電流の異常を検知する電源監視回路部としての
機能を兼ね備えたものである。なお、図４中のＣ１，Ｃ
２はコンデンサ、Ｒ21はプルアップ抵抗を示している。
【００３１】かかる構成例において、通常動作において
は、ＭＰＵ３から入力配線３５にクロック信号（Ｃｋ）
Ｖ21を出力し、これを監視回路部４に与える。監視回路
部４では、クロック信号の立上がりをトリガーとして内
部タイマによる計時を開始し、所定の基準時間の間Ｖ21
のデューティー比に対応する所定の基準時間ｔ１，ｔ２
の間Ｖ21がハイ状態／ロー状態を維持しているかどうか
を比較検知する。そして、図５においてＶ21が正常なデ
ューティー比でハイ（ＨＩ）／ロー（ＬＯ）動作を繰返
しているとき（Ｔ１）には、信号Ｖ22としてハイ（Ｈ
Ｉ）信号を出力する一方、Ｖ21の立上がり／立ち下がり
から所定の基準時間ｔ１，ｔ２の間Ｖ21がハイ状態／ロ
ー状態を維持できなかった場合には、一定の遅延時間Δ
Ｔの経過後に信号Ｖ22をロー状態に切換えて、ＭＰＵ３
のリセット端子（ＲＥＳＥＴ）に出力する。
は、ＭＰＵ３から入力配線３５にクロック信号（Ｃｋ）
Ｖ21を出力し、これを監視回路部４に与える。監視回路
部４では、クロック信号の立上がりをトリガーとして内
部タイマによる計時を開始し、所定の基準時間の間Ｖ21
のデューティー比に対応する所定の基準時間ｔ１，ｔ２
の間Ｖ21がハイ状態／ロー状態を維持しているかどうか
を比較検知する。そして、図５においてＶ21が正常なデ
ューティー比でハイ（ＨＩ）／ロー（ＬＯ）動作を繰返
しているとき（Ｔ１）には、信号Ｖ22としてハイ（Ｈ
Ｉ）信号を出力する一方、Ｖ21の立上がり／立ち下がり
から所定の基準時間ｔ１，ｔ２の間Ｖ21がハイ状態／ロ
ー状態を維持できなかった場合には、一定の遅延時間Δ
Ｔの経過後に信号Ｖ22をロー状態に切換えて、ＭＰＵ３
のリセット端子（ＲＥＳＥＴ）に出力する。
【００３２】このような回路１２について、出荷時に監
視回路部４の動作を検査したい場合、通常の配線状態の
ままでＭＰＵ３のクロック信号（Ｃｋ）を自由に変化さ
せることは困難である。そこで、入力配線３５の中間点
に形成された専用チェックパッド１３を任意のタイミン
グで強制的に接地することにより、監視回路部４に対し
て異常なクロック信号（Ｃｋ）を擬似的に与える。
視回路部４の動作を検査したい場合、通常の配線状態の
ままでＭＰＵ３のクロック信号（Ｃｋ）を自由に変化さ
せることは困難である。そこで、入力配線３５の中間点
に形成された専用チェックパッド１３を任意のタイミン
グで強制的に接地することにより、監視回路部４に対し
て異常なクロック信号（Ｃｋ）を擬似的に与える。
【００３３】すなわち、図１のように、フラットケーブ
ル３２のコネクタ３１を電子ユニット１１の外部接続端
子１７に接続し、フラットケーブル３２を通じて電子ユ
ニット１１の回路１２内の各部に電源Ｖｃｃを供給する
とともに、電子ユニット１１のケース１４に形成された
専用孔１５に専用プローブ１６を挿入し、専用プローブ
１６の先端を回路１２内の専用チェックパッド１３に接
触させる。そして、専用プローブ１６の電位を任意のタ
イミングでグランドレベルに落すことで、専用チェック
パッド１３の電圧Ｖ21について上記所定のデューティー
比と異なる波形を自由に生成できる。例えば、図５にお
いてＶ21が正常なデューティー比でハイ（ＨＩ）／ロー
（ＬＯ）動作を繰返しているＴ１の状態で、検査機１０
の専用プローブ１６を専用チェックパッド１３に接触さ
せ、正常なデューティー比のＶ21とは異なる任意の時間
ｔ３だけ、専用プローブ１６をグランド電位に落す。こ
の場合、Ｖ21の波形が正常なデューティー比と異なった
ものになるため、監視回路部４では、このような異常な
状態を比較検知し、所定の遅延時間ΔＴの後に信号Ｖ22
としてロー信号を出力し、これをリセット信号（ＲＥＳ
ＥＴ）としてＭＰＵ３に出力し、ＭＰＵ３からの出力信
号Ｖ23を検査機１０の信号検出部２２（図２）で判断す
ることにより、監視回路部４がクロック信号（Ｃｋ）の
異常状態を検知したかどうかを判定できる。
ル３２のコネクタ３１を電子ユニット１１の外部接続端
子１７に接続し、フラットケーブル３２を通じて電子ユ
ニット１１の回路１２内の各部に電源Ｖｃｃを供給する
とともに、電子ユニット１１のケース１４に形成された
専用孔１５に専用プローブ１６を挿入し、専用プローブ
１６の先端を回路１２内の専用チェックパッド１３に接
触させる。そして、専用プローブ１６の電位を任意のタ
イミングでグランドレベルに落すことで、専用チェック
パッド１３の電圧Ｖ21について上記所定のデューティー
比と異なる波形を自由に生成できる。例えば、図５にお
いてＶ21が正常なデューティー比でハイ（ＨＩ）／ロー
（ＬＯ）動作を繰返しているＴ１の状態で、検査機１０
の専用プローブ１６を専用チェックパッド１３に接触さ
せ、正常なデューティー比のＶ21とは異なる任意の時間
ｔ３だけ、専用プローブ１６をグランド電位に落す。こ
の場合、Ｖ21の波形が正常なデューティー比と異なった
ものになるため、監視回路部４では、このような異常な
状態を比較検知し、所定の遅延時間ΔＴの後に信号Ｖ22
としてロー信号を出力し、これをリセット信号（ＲＥＳ
ＥＴ）としてＭＰＵ３に出力し、ＭＰＵ３からの出力信
号Ｖ23を検査機１０の信号検出部２２（図２）で判断す
ることにより、監視回路部４がクロック信号（Ｃｋ）の
異常状態を検知したかどうかを判定できる。
【００３４】以上、二種類の実施例について説明した
が、本発明が適用できる電子ユニットとしては、上記の
各実施例に限定するものではなく、全体回路中に複数の
局部回路を備える場合であって、局部的な検査対象とな
る局部回路の出力が全体回路の最終的な出力に変化を及
すようなものであれば、どのような電子ユニットに適用
してもよいことはいうまでもない。
が、本発明が適用できる電子ユニットとしては、上記の
各実施例に限定するものではなく、全体回路中に複数の
局部回路を備える場合であって、局部的な検査対象とな
る局部回路の出力が全体回路の最終的な出力に変化を及
すようなものであれば、どのような電子ユニットに適用
してもよいことはいうまでもない。
【００３５】
【発明の効果】この発明によれば、電子ユニットのケー
スに形成された専用孔に検査機のプローブを挿入して当
該プローブの先端を電子ユニット内部のチェックパッド
に接触させ、プローブの電圧をプローブ電圧調整部で変
化させて局部回路の入力点に検査信号を与え、この検査
信号に基づく全体回路の出力状態の変化を検知すること
でもって局部回路の動作適正を検査するので、電子ユニ
ットを全体回路の入出力特性検査の検査を行うのに前後
して、同一の検査機を使用することで、全体回路中の局
部回路の動作検査をも併せて行うことができる。したが
って、局部回路を検査するための専用の検査装置を使用
しなくてもよくなり、当該専用の検査装置を省略できる
点で検査費用を大幅に低減できる。また、従来のよう
に、全体回路としての入出力特性検査ののち、監視回路
部専用の検査装置まで場所を移動する必要がなくなるの
で、搬送工程を低減でき、作業効率が向上するという効
果がある。
スに形成された専用孔に検査機のプローブを挿入して当
該プローブの先端を電子ユニット内部のチェックパッド
に接触させ、プローブの電圧をプローブ電圧調整部で変
化させて局部回路の入力点に検査信号を与え、この検査
信号に基づく全体回路の出力状態の変化を検知すること
でもって局部回路の動作適正を検査するので、電子ユニ
ットを全体回路の入出力特性検査の検査を行うのに前後
して、同一の検査機を使用することで、全体回路中の局
部回路の動作検査をも併せて行うことができる。したが
って、局部回路を検査するための専用の検査装置を使用
しなくてもよくなり、当該専用の検査装置を省略できる
点で検査費用を大幅に低減できる。また、従来のよう
に、全体回路としての入出力特性検査ののち、監視回路
部専用の検査装置まで場所を移動する必要がなくなるの
で、搬送工程を低減でき、作業効率が向上するという効
果がある。
【図１】この発明の一の実施の形態の電子ユニットの検
査動作を示す一部破断斜視図である。
査動作を示す一部破断斜視図である。
【図２】主としてこの発明の一の実施の形態における検
査機の内部構成を示すブロック図である。
査機の内部構成を示すブロック図である。
【図３】この発明の実施例１に係る電子ユニットの全体
回路及び局部回路を示す回路図である。
回路及び局部回路を示す回路図である。
【図４】この発明の実施例２に係る電子ユニットの全体
回路及び局部回路を示す回路図である。
回路及び局部回路を示す回路図である。
【図５】この発明の実施例２における各部の波形状態を
示すタイミングチャートである。
示すタイミングチャートである。
【図６】第１従来技術の電子ユニットの全体回路及び局
部回路を示す回路図である。
部回路を示す回路図である。
【図７】第１従来技術及び実施例１における各部の波形
状態を示すタイミングチャートである。
状態を示すタイミングチャートである。
【図８】第２従来技術の電子ユニットの全体回路及び局
部回路を示す回路図である。
部回路を示す回路図である。
【図９】第２従来技術における各部の波形状態を示すタ
イミングチャートである。
イミングチャートである。
１ コンパレータ ２ マイコン ３ ＭＰＵ ４ 監視回路部 １０ 検査機 １１ 電子ユニット １２ 全体回路 １３ 専用チェックパッド １４ ケース １５ 専用孔 １６ 専用プローブ １７ 外部接続端子 ２１ 信号出力部 ２２ 信号検出部 ２３ 可変抵抗 ２４ プローブ電圧調整部 ２５ 電源部 ３１ コネクタ ３２ フラットケーブル ３５ 入力配線 Ｘ１ 温度センサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平６−230078（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−106161（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/28 - 31/3193 G01R 31/02
Claims (3)
- 【請求項１】 電子ユニットの動作適正について検査を
行う検査方法であって、 前記電子ユニットの動作適正を検査する検査機に、前記
電子ユニットの所定の外部接続端子に接続して当該電子
ユニットの入出力動作を検査する入出力検査機能部のほ
か、プローブと、このプローブの電圧を任意に調整する
プローブ電圧調整部とを設けるとともに、 前記電子ユニット内の全体回路内における局部回路の入
力点に局部回路検査専用のチェックパッドを形成し、 前記全体回路を収納するケースの前記チェックパッドに
対応する外壁の一部に、前記チェックパッドに対応した
専用孔を形成し、 前記専用孔に前記検査機のプローブを挿入して当該プロ
ーブの先端を前記チェックパッドに接触させ、前記プロ
ーブの電圧を前記プローブ電圧調整部で変化させて前記
局部回路の入力点に検査信号を与え、この検査信号に基
づく前記全体回路の出力状態の変化を検知することでも
って前記局部回路の動作適正を検査することを特徴とす
る電子ユニットの検査方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の電子ユニットの検査方
法であって、 前記全体回路は、 温度センサと、 前記温度センサの電圧変化を検知する検知回路部と、 前記検知回路部からの信号に基づいて温度変化を判断す
る判断部とを備え、 前記局部回路は前記検知回路部であり、 前記チェックパッドを、前記温度センサの電圧を前記検
知回路部に入力する配線中に形成し、 前記プローブを前記チェックパッドに接触させた状態
で、前記プローブの電圧を、前記温度センサでの所定温
度検出時に出力する電圧に等しくなるよう前記プローブ
電圧調整部で電圧調整し、前記判断部からの出力の変化
を検出することをもって検査を行うことを特徴とする電
子ユニットの検査方法。 - 【請求項３】 請求項１に記載の電子ユニットの検査方
法であって、 前記全体回路は、 所定の信号に基づいて動作する主回路部と、 当該主回路部内の前記所定の信号を監視する監視回路部
とを備え、 前記局部回路は前記監視回路部であり、 前記チェックパッドを、前記主回路部内の前記所定の信
号を前記監視回路部に入力する配線中に形成し、 前記プローブを前記チェックパッドに接触させた状態
で、前記プローブの電圧を、前記所定の信号の正常時の
波形と異なる波形となるよう前記プローブ電圧調整部で
電圧調整し、前記判断部からの出力の変化を検出するこ
とをもって検査を行うことを特徴とする電子ユニットの
検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25040297A JP3247321B2 (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 電子ユニットの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25040297A JP3247321B2 (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 電子ユニットの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1194919A JPH1194919A (ja) | 1999-04-09 |
| JP3247321B2 true JP3247321B2 (ja) | 2002-01-15 |
Family
ID=17207381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25040297A Expired - Fee Related JP3247321B2 (ja) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | 電子ユニットの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3247321B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002368360A (ja) * | 2001-06-12 | 2002-12-20 | Nec Corp | 保護カバーを設けた回路基板 |
| JP4743708B2 (ja) * | 2006-04-27 | 2011-08-10 | 京セラ株式会社 | 接続装置、接続ユニット及び接続方法 |
| JP5638738B2 (ja) * | 2008-01-25 | 2014-12-10 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルＰＳ４ Ｌｕｘｃｏ Ｓ．ａ．ｒ．ｌ． | 半導体装置 |
| JP6634581B2 (ja) * | 2015-09-07 | 2020-01-22 | 株式会社テージーケー | モータアクチュエータ、モータアクチュエータの加工方法及びモータアクチュエータの検査方法 |
-
1997
- 1997-09-16 JP JP25040297A patent/JP3247321B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1194919A (ja) | 1999-04-09 |
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