JP3161314B2 - 論理シミュレーション装置および論理シミュレート方法 - Google Patents
論理シミュレーション装置および論理シミュレート方法Info
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Description
計において使用される論理シミュレーション装置および
論理シミュレート方法に関する。
たLSIの論理回路を再利用し、さらに別のLSIを開
発する場合が多い。図4および図5はその例を示すもの
である。まず、図4に示すLSIは、所定の機能を果す
機能マクロA1〜A4からなる論理回路Aを搭載してな
るものである。一方、図5に示すLSIは、この図4に
示すLSIをそっくりそのまま利用したLSIであり、
論理回路Aの他、論理回路B,CおよびDを含んだ構成
となっている。
用してLSIの開発を行うことは開発コストを低減する
上で極めて有効な手段である。例えばLSIを製造する
ためには、論理回路を構成する素子および配線を半導体
ウェハ上に形成するためのマスクが必要になり、各LS
Iを開発する段階では、このマスクを得るためのマスク
パターンの設計が必要になる。しかしながら、上記例の
ように複数のLSIが共通の論理回路Aを含んでおり、
かつ、同一の製造プロセスで製造される場合には、その
共通の論理回路Aについては共通のマスクパターンを使
用するか、あるいは回路規模の増大に対応してマスクパ
ターンをシュリンク(比例縮小)等して使用することが
可能である。従って、図4に示すLSIが開発された
後、図5に示すLSIを開発する際には、論理回路Aの
分だけ開発工数を削減することができるのである。ま
た、このように既に開発された論理回路を再利用するこ
とは、複数のLSIを異なった製造プロセスで製造し、
マスクパターン情報の再利用をすることができない状況
においても有効な手段である。何故ならば、既に開発さ
れた論理回路は、それを最初に搭載したLSIの開発段
階で正常に機能し得ることが確認されているため、後の
LSIの開発段階では細部に立入った論理検証が不要で
あるからである。
路を有している場合には、その部分について設計情報の
再利用を行うことにより、個々のLSIを開発工数を節
約することが可能である。しかしながら、論理設計段階
において行う論理シミュレーションにおいては、個々の
LSIの全体としての論理機能の正当性を確認しなけれ
ばならないため、各LSI間で共通する論理回路である
にも拘わらず、その部分についても重複した論理シミュ
レーションが行われる。このため、本来は不要な重複し
た演算の実行がなされ、これによりシミュレーションの
所要時間が長くなってしまうという問題があった。すな
わち、次の通りである。
ションを行う際、設計者は、論理回路Aに対応したネッ
トリストと、当該論理回路Aに与える入力信号波形を特
定する入力テストベクタを作成する。ここで、ネットリ
ストは、シミュレーション対象である論理回路の構成を
定義する情報であり、図4の例では、当該論理回路Aが
機能マクロA1〜A4を含む旨の情報と、各機能マクロ
が図示のように接続されていることを表す情報とで構成
されている。そして、ネットリストおよび入力テストベ
クタが論理シミュレータに与えられ、論理回路Aの論理
シミュレーションが実行される。この論理シミュレーシ
ョンでは、入力テストベクタを論理回路Aに与えること
によって同回路内の各ノードに生じる信号値の変化(イ
ベント)が逐次演算され、最終的に論理回路Aの各出力
端から出力される出力テストベクタが求められる。設計
者は、この出力テストベクタに基づいて論理回路Aの論
理機能が正当か否かを判断する。
ションを行う際には、設計者は、このLSIに搭載する
論理回路に対応したネットリストと、当該論理回路に対
応した入力テストベクタを作成する。なお、ネットリス
トのうち、論理回路Aに対応した部分については、図4
に示すLSIの開発時に作成したものを再利用すること
が可能である。そして、ネットリストおよび入力テスト
ベクタが論理シミュレータに与えられ、論理シミュレー
ションが実行される。この論理シミュレーションにおい
ては、LSI全体の論理機能を検証する必要があるた
め、論理回路Aも動作させた状態でシミュレーションが
実行される。従って、論理シミュレータは、論理回路A
の内部のノードについてもイベントの演算を行うことと
なり、シミュレーションの所要時間がこの演算の分だけ
長くなってしまう。
は、開発済みの論理回路を利用したLSIを開発する場
合、当該論理回路については既に正当性の確認がされて
いるにも拘わらず、重複した演算が行われ、シミュレー
ションの所要時間が長引くという問題があった。
されたものであり、既に開発された論理回路を含む論理
回路のシミュレーションを行う際に当該部分に関連した
演算を極力削減し、大規模な論理回路であっても短い所
要時間で論理シミュレーションを行うことができる論理
シミュレーション装置および論理シミュレート方法を提
供することを目的としている。
論理回路を構成する各論理素子の接続状態を表現した回
路接続情報に基づいて、前記論理回路に対し所定の入力
信号を与えたときの動作のシミュレーションを実行する
論理シミュレーション装置において、前記シミュレーシ
ョンの実行結果に基づいて、前記論理回路若しくはその
一部によって行われる論理演算と等価な論理演算を行う
ROMマクロを生成するマクロ生成手段を具備し、前記
論理素子に関する記述として前記ROMマクロの記述を
含んだ前記回路接続情報に基づいてシミュレーションを
実行するようにしたことを特徴とする論理シミュレーシ
ョン装置を要旨とする。
段は、前記論理回路若しくはその一部によって行われる
論理演算をモデル化したROMと、該論理回路若しくは
その一部の入出力応答の遅延をモデル化した遅延素子と
からなるROMマクロを生成することを特徴とする請求
項1記載の論理シミュレーション装置を要旨とする。請
求項3に係る発明は、論理回路を構成する各論理素子の
接続状態を表現した回路接続情報に基づいて、前記論理
回路に対し所定の入力信号を与えたときの動作のシミュ
レーションを実行する論理シミュレート方法であって、
計算機が、前記シミュレーションの実行結果に基づい
て、前記論理回路若しくはその一部によって行われる論
理演算と等価な論理演算を行うROMマクロを生成し、
生成したROMマクロを保存するステップと、計算機
が、前記保存されたROMマクロの記述を前記論理素子
に関する記述として含んだ前記回路接続情報に基づい
て、シミュレーションを実行するステップとを有するこ
とを特徴とする論理シミュレート方法を要旨とする。
するため、実施の形態について説明する。かかる実施の
形態は、本発明の一態様を示すものであり、この発明を
限定するものではなく、本発明の範囲で任意に変更可能
である。
タ1の構成を示す。図1に示すように、論理シミュレー
タ1は、シミュレーション実行部2とマクロ生成部3と
により構成されている。まず、シミュレーション実行部
2は、ネットリスト10と入力テストベクタ11とに基
づいて論理シミュレーションを実行し、その結果を表す
出力テストベクタ12を出力する手段である。
り、シミュレーション対象たる論理回路の構成を定義し
た情報である。入力テストベクタ11は、当該論理回路
の各入力端子に与えられる各入力信号をパターン化した
情報であり、同一タイミングでの各入力信号の瞬時値に
よって1パターンを構成し、各タイミングでのパターン
を時系列的に並べたものである。出力テストベクタ12
は、論理シミュレーションによって演算された論理回路
の各出力信号をパターン化した情報である。
ーション機能自体は従来の論理シミュレータと何等変わ
るところがない。ただし、本実施形態におけるシミュレ
ーション実行部2は、ネットリスト10内に後述のRO
Mマクロ13に関する記述がある場合にはこれを参照し
て論理シミュレーションを実行し、少ない演算量で論理
シミュレーションを実行し得るように構成されている。
部2に与えられる入力テストベクタ11とシミュレーシ
ョン実行部2から得られる出力テストベクタ12に基づ
いて、シミュレーション対象たる論理回路と等価な論理
機能を営むROMのROMコードを生成する。このRO
Mコードは、適当なマクロ名が付与され、ROMマクロ
13として保存される。このようにして保存されたRO
Mマクロ13が、以後行われる論理シミュレーションに
おいてシミュレーション実行部2によって参照される。
そして、その際にネットリスト10がROMマクロ13
を引用して記述されている場合には、当該ROMマクロ
13のROMコードがイベントの演算に使用される。
理シミュレーションを実行する場合を例に本実施形態の
動作を説明する。まず、図4に示すLSIに対応したネ
ットリスト10および入力テストベクタ11がシミュレ
ーション実行部2に与えられ、論理シミュレーションが
実行される。この論理シミュレーションにおいては、入
力テストベクタ11を構成する各パターンがシミュレー
ション実行部2によって1パターンずつ参照されてゆ
く。そして、各パターンが与えられることによって論理
回路Aの内部の各ノードに生じるイベントが逐次演算さ
れ、各パターンに応答して論理回路Aの各出力端から出
力される各出力信号が求められる。そして、このように
して求められた出力信号が出力テストベクタ12として
出力される。
ョンの際の入力テストベクタ11および出力テストベク
タ12に基づいて、論理回路AをROMによってモデル
化する。すなわち、入力テストベクタを構成する各パタ
ーンがシミュレーション実行部2によって参照され、各
パターンに対応した論理回路Aの出力信号のパターンが
求められる毎に、入力テストベクタの各パターンをRO
Mのアドレスとみなし、各アドレスに論理回路Aの出力
信号のパターンをマッピングしてゆく。この処理が入力
テストベクタ11を構成する全パターンについて実行さ
れる結果、論理回路Aと論理的に等価なROMのROM
コードが得られる。マクロ生成部3は、このROMコー
ドに対し、論理シミュレータ1の使用者によって指定さ
れたマクロ名(例えばマクロ名“A”)を付与し、RO
Mマクロ13として保存する。
ションを行う場合について説明する。この場合、設計者
は、このLSIにおける論理回路Aの構成を記述する代
わりに、ROMマクロ13として保存された論理回路A
と等価なROMコードのマクロ名を使用してネットリス
ト10を作成する。すなわち、図2に示すように論理回
路AをROMマクロに置き換えた論理回路のネットリス
トを作成する訳である。そして、このようにして作成し
たネットリスト10を入力テストベクタ11と共にシミ
ュレーション実行部2に与える。
り、図2に示す論理回路の論理シミュレーションが実行
される。この論理シミュレーションにおいて、論理回路
Aと等価なROMマクロの入力信号の変化が生じた場合
には、ROMマクロ13内のROMコードの中から、そ
の時点におけるROMマクロの各入力信号値によって与
えられるアドレスに対応した記憶データが読み出され、
論理回路Aの出力信号を表すイベントとして取り扱われ
る。このように論理回路Aに関しては、その内部で生じ
るイベントの演算は行われず、ROMマクロ13を参照
することのみにより出力信号が求められるため、論理回
路Aの分だけ少ない演算量でLSI全体の論理シミュレ
ーションが実行される。
における入力テストベクタと出力テストベクタを使用し
てさらにROMマクロ13を生成し、図5に示すLSI
を含んださらに大規模なLSIの論理シミュレーション
に使用してもよい。
固まると、論理回路を構成する個々の論理素子の遅延を
考慮した論理シミュレーションが実行される。本実施形
態は、この遅延を考慮した論理シミュレーションに本発
明を適用するものである。
レーション実行部2は、論理シミュレーションを実行す
る際、論理回路を構成する各論理素子の遅延量を考慮
し、各イベントの生起タイミングを決定する。
部2が行う論理シミュレーションの結果を監視し、上記
第1の実施形態と同様にROMコードの編集を行う他、
入力テストベクタ11を構成する各パターンが印加され
てから論理回路の各出力信号の変化するまでの遅延時間
を求める。そして、シミュレーション対象たる論理回路
のモデルとして、図3に例示するように、ROMと遅延
素子群とからなるマクロを生成する。
ン対象たる論理回路の論理機能のみをモデル化したもの
であり、論理回路と同数の入力端子および出力端子を有
している。ROMの記憶データの作成手順は、上記第1
の実施形態において説明した通りである。
ル化したものである。論理回路は、多数の信号経路を有
しており、入力信号が変化してから出力信号が変化する
までの遅延時間は出力端によって異なるのが一般的であ
るため、ROMの各出力端の後段に遅延素子が設けられ
ている。マクロ生成部3は、論理回路の各出力信号が得
られるまでの各遅延時間を各々対応する遅延素子に設定
する。
から入力された信号が共通の出力端に伝播するような構
成のものもあり、出力信号が変化するまでの遅延時間は
入力信号によって異なるのが一般的である。このような
状況に対処するため、ROMの各入力端の前段にも遅延
素子が設けられている。マクロ生成部3は、同一の出力
信号でありながらパターンによって遅延時間が異なって
いる場合には、各パターンにおいて当該出力信号を変化
させるトリガとなっている各入力信号を調べる。そし
て、シミュレーションの結果の通り、各パターンにおい
て遅延時間に差が現れるように、各入力信号が入力され
る各遅延素子の遅延量を調整する。
論理回路を利用し、さらに大規模なLSIの開発が行わ
れる際には、上記のようにして作成されたROMマクロ
を使用して論理シミュレーションが行われる。
の適用範囲はこれに限定されるものではなく、本発明の
技術的思想から逸脱しない範囲で様々な変形を行うこと
が可能である。例えば、上記実施形態では、シミュレー
ション対象たる論理回路に入力される入力テストベクタ
と、論理回路から得られる出力テストベクタとに基づい
てROMマクロを作成したが、このようにシユレーショ
ン対象全体をモデル化の対象にするのでなく、その一部
のモデル化を行うようにしてもよい。すなわち、シミュ
レーション対象となっている論理回路に含まれる任意の
論理回路の入力信号および出力信号を観測し、この観測
結果に基づいてROMマクロを生成する。このようにす
ることで、シミュレーション対象たるLSIのうち、他
のLSIによって再利用される可能性のある部分だけR
OMマクロを作成して保存しておくことができる。
シミュレーション対象たる論理回路をそのままシミュレ
ーションするのではなく、既にシミュレーションの実行
された部分についてはこの部分と論理的に等価なROM
マクロに置き換えてシミュレーションを実行するように
したので、大規模な論理回路であっても短い所要時間で
論理シミュレーションを行うことができるという効果が
ある。
レータの構成を示す図である。
ションの内容を説明する図である。
成部の処理内容を説明する図である。
明する図である。
明する図である。
部、3……マクロ生成部、10……ネットリスト(回路
接続情報)、11……入力テストベクタ、12……出力
テストベクタ、13……ROMマクロ。
Claims (3)
- 【請求項1】 論理回路を構成する各論理素子の接続状
態を表現した回路接続情報に基づいて、前記論理回路に
対し所定の入力信号を与えたときの動作のシミュレーシ
ョンを実行する論理シミュレーション装置において、 前記シミュレーションの実行結果に基づいて、前記論理
回路若しくはその一部によって行われる論理演算と等価
な論理演算を行うROMマクロを生成するマクロ生成手
段を具備し、 前記論理素子に関する記述として前記ROMマクロの記
述を含んだ前記回路接続情報に基づいてシミュレーショ
ンを実行するようにしたことを特徴とする論理シミュレ
ーション装置。 - 【請求項2】 前記マクロ生成手段は、前記論理回路若
しくはその一部によって行われる論理演算をモデル化し
たROMと、該論理回路若しくはその一部の入出力応答
の遅延をモデル化した遅延素子とからなるROMマクロ
を生成することを特徴とする請求項1記載の論理シミュ
レーション装置。 - 【請求項3】 論理回路を構成する各論理素子の接続状
態を表現した回路接続情報に基づいて、前記論理回路に
対し所定の入力信号を与えたときの動作のシミュレーシ
ョンを実行する論理シミュレート方法であって、計算機が、 前記シミュレーションの実行結果に基づい
て、前記論理回路若しくはその一部によって行われる論
理演算と等価な論理演算を行うROMマクロを生成し、
生成したROMマクロを保存するステップと、計算機が、前記保存されたROMマクロの記述を前記論
理素子に関する記述として 含んだ前記回路接続情報に基
づいて、シミュレーションを実行するステップとを有す
ることを特徴とする論理シミュレート方法。
Priority Applications (2)
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JP00762796A JP3161314B2 (ja) | 1996-01-19 | 1996-01-19 | 論理シミュレーション装置および論理シミュレート方法 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11044376B2 (en) | 2019-03-15 | 2021-06-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing system, method for controlling information processing system, management server, method for controlling management server, and non-transitory storage |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6304998B1 (en) * | 1997-03-27 | 2001-10-16 | Fujitsu Limited | Method of manufacturing integrated circuit device |
WO1999009497A1 (fr) * | 1997-08-20 | 1999-02-25 | Hitachi, Ltd. | Procede d'extraction de caracteristiques de synchronisation de circuits a transistors, support de stockage stockant une bibliotheque de caracteristiques de synchronisation, procede de conception de lsi et procede d'extraction par grille |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4961156A (en) * | 1987-10-27 | 1990-10-02 | Nec Corporation | Simulation capable of simultaneously simulating a logic circuit model in response to a plurality of input logic signals |
US5051938A (en) * | 1989-06-23 | 1991-09-24 | Hyduke Stanley M | Simulation of selected logic circuit designs |
US5164911A (en) * | 1989-12-15 | 1992-11-17 | Hewlett-Packard Company | Schematic capture method having different model couplers for model types for changing the definition of the schematic based upon model type selection |
US5177440A (en) * | 1989-12-27 | 1993-01-05 | Lsi Logic Corporation | Testing of integrated circuits using clock bursts |
US5363319A (en) * | 1990-09-29 | 1994-11-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Logic simulator |
JPH06282600A (ja) * | 1993-03-29 | 1994-10-07 | Mitsubishi Electric Corp | 論理シミュレーション装置 |
-
1996
- 1996-01-19 JP JP00762796A patent/JP3161314B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-01-15 US US08/783,564 patent/US5910901A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11044376B2 (en) | 2019-03-15 | 2021-06-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Information processing system, method for controlling information processing system, management server, method for controlling management server, and non-transitory storage |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US5910901A (en) | 1999-06-08 |
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