JP3059560B2 - 半導体装置の製造方法およびそれに使用される成形材料 - Google Patents

半導体装置の製造方法およびそれに使用される成形材料

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造技
術、特に、樹脂封止パッケージにおける樹脂封止体の成
形技術に関し、例えば、きわめて薄い表面実装形樹脂封
止パッケージの製造に利用して有効なものに関する。
【0002】
【従来の技術】最近、表面実装形の樹脂封止パッケージ
を備えている半導体集積回路装置(以下、表面実装形樹
脂封止パッケージICという。)は、プリント配線基板
(以下、基板という。)に薄形で、かつ、高密度の実装
を実現することができるため、あらゆる分野で使用され
て来ている。そして、最近の技術革新に伴って、表面実
装形樹脂封止パッケージICの樹脂封止体の厚さは、よ
り一層薄くなることが要求されている。他方、表面実装
形樹脂封止パッケージICの樹脂封止体に収納される半
導体ペレットは、その平面形状が大きくなって来てい
る。
【0003】従来、表面実装形樹脂封止パッケージIC
の樹脂封止は、トランスファ成形装置が使用されて成
形されている。このトランスファ成形装置は、互いに開
閉される一対の上型および下型と、上型および下型の合
わせ面間に形成され、ゲートが開口されたキャビティー
と、上型または下型に形成されたポットと、ポットとゲ
ートとを連絡するように上型または下型に形成されたラ
ンナと、ポット内に投入された成形材料としてのタブレ
ット(後記する。)を加熱して溶融させるヒータとを備
えている。
【0004】そして、前記構成にかかるトランスファ成
形装置が使用された樹脂封止の成形に際しては、ま
ず、上型および下型が開かれた状態で、リードフレーム
がキャビティーに半導体ペレットが収容された状態にセ
ットされる。この樹脂封止成形工程以前の工程におい
て、リードフレームには半導体ペレットがタブにボンデ
ィングされているとともに、リードフレームの各リード
と半導体ペレットとの間にワイヤがそれぞれ橋絡されて
いる。
【0005】半導体ペレットがキャビティーに収容され
た状態で、上型と下型とが型締めされ、リードフレーム
が上型と下型との間に挟み込まれる。型締め後、タブレ
ットがポットに投入される。投入されたタブレットは上
型および下型に敷設されたヒータによって加熱されるこ
とにより、溶融して液状の成形材料としてのレジンにな
る。溶融したレジンはプランジャによってポットからラ
ンナに押し出される。押し出されたレジンはゲートから
キャビティー内に充填される。キャビティー内に充填さ
れた液状のレジンは、加熱による架橋反応により固形状
の成形材料に硬化する。この硬化した固形の成形材料に
よって、樹脂封止が成形されたことになる。
【0006】なお、タブレットは、エポキシ樹脂をベー
ス成分にする成形材料が混練された後、粉末に粉粋さ
れ、この粉末状の成形材料が円柱形状に突き固められた
ものである。レジンはタブレットが加熱されて、成形材
料が液状に溶融したものである。つまり、トランスファ
成形装置においては、固形状のタブレットがキャビティ
ーの外部において加熱されて液状のレジンに溶融され、
この液化されたレジンがキャビティーの外部からキャビ
ティーの内部へ送り込まれる。
【0007】ところで、低価格であり、かつ、作業性良
く、超薄形を実現するICとして、ペレットとリード群
とがテープ・オートメイテッド・ボンディング(Tap
e Automated Bonding:TAB)に
より電気的かつ機械的に接続されているIC(以下、T
AB構造のICという。)がある。このTAB構造のI
Cにおいては、ペレットとリード群との接続部分が、ポ
ッティングによって成形される樹脂封止により樹脂封
止されている。このTAB構造のICにおける樹脂封止
を成形する方法として、例えば、次に説明される樹脂
封止成形方法がある。
【0008】リード群にテープ・オートメイテッド・ボ
ンディングされた半導体ペレット上に固形状の樹脂が置
かれる。この状態で、半導体ペレットが熱風乾燥炉また
は加熱式トンネル炉を通されると、固形状の樹脂は溶融
して、軟化かつ流動することにより、半導体ペレットと
リード群との接続部領域を被覆する。被覆した樹脂はそ
の後、硬化することにより、樹脂封止を形成する。こ
の樹脂封止は半導体ペレットの近傍におけるリードと
の接続部分だけを被覆する状態になるため、全体として
の厚さはきわめて薄くなる。
【0009】なお、前記したTAB構造のICの樹脂封
を成形する方法が記載されている文献としては、次
のものがある。日本国特許庁公開特許公報昭57−39
558号、同昭57−148360号、同昭58−15
931号、同昭58−122757号、同昭58−16
5333号。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかし、例えば、厚さ
が半導体ペレットの厚さの2倍以下になるきわめて薄い
樹脂封止が、トランスファ成形装置が使用されて成形
される場合には、次のような問題点が発生する。
【0011】1) 厚さが半導体ペレットの厚さの2倍以
下になるきわめて薄い樹脂封止が、トランスファ成形
装置が使用されて成形される場合には、キャビティー内
における液状成形材料としてのレジンの流路が狭くな
る。このため、レジンが成形型から受ける熱量が増加す
るため、レジンの粘度が高くなる。その結果、半導体ペ
レットと各リードとの間に橋絡されたワイヤが、高粘度
になったレジンによって変形されたり、半導体ペレット
が機械的に接続されたタブが遊動されたり、レジンの末
充填部位が発生したりする。
【0012】2) 前記1)の問題点を回避するために、レ
ジンの粘度が低く抑制されると、レジンが上型と下型と
の合わせ面の隙間からキャビティーの外部へ漏洩するた
め、レジンフラッシュ(樹脂ばり)が発生する。
【0013】3) 前記1)および2)の問題点は、成形材料
の組成を設計する際の制約になる。
【0014】また、前記したTAB構造のICの樹脂封
についての成形方法のようなポッティング法が使用
された樹脂封止の成形方法には、次のような問題点が
ある。
【0015】1) ポッティング法によって成形された樹
脂封止は、トランスファ成形法によって加圧成形(モ
ールディング)された樹脂封止に比べて、成形された
樹脂の密度が低いため、耐湿性能や機械的強度性能等に
ついての信頼性が劣る。
【0016】2) ポッティング法によって成形される樹
脂封止の外形形状は、液状の成形材料としてのレジン
の自由な流動状態に依存するため、その外形寸法の精度
は低い。
【0017】本発明の第1の目的は、成形型のキャビテ
ィーに成形材料を閉じ込めることによって樹脂封止
成形することができる半導体装置の製造技術を提供する
ことにある。
【0018】本発明の第2の目的は、ワイヤの変形、タ
ブの遊動、末充填部位の発生を防止しつつ、樹脂ばりの
発生を防止することができる樹脂封止の成形技術を提
供することにある。
【0019】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0020】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0021】すなわち、一主面に複数の半導体素子と複
数の電極とが形成された半導体基板と、樹脂を主成分と
するシート形状の成形材料とが、上型および下型からな
る成形型の型締め前に成形型のキャビティー内に収容さ
れ、型締め後に前記シート形状の成形材料がキャビティ
ー内で溶融されてキャビティー内に充満され、さらに、
前記溶融された成形材料が固化されて成形されることを
特徴とする。
【0022】
【作用】前記した手段によれば、樹脂封止体はシート形
状の成形材料がキャビティー内に閉じ込められて成形さ
れるため、成形された樹脂封止体における成形材料の密
度は、トランスファ成形法による樹脂封止体における
状の成形材料の密度と同等に高くなる。したがって、こ
の樹脂封止体の耐湿性能や機械的強度性能等についての
信頼性は優れたものとなる。
【0023】また、前記手段によって成形される樹脂封
の外形形状は、キャビティーによって規定されるた
め、その外形寸法の精度は高くなる。
【0024】前記した手段においては、液状の成形材料
がキャビティー内にキャビティー外部から充填されるの
ではなく、液状の成形材料は、予めキャビティー内に搬
入されたシート形状の成形材料が溶融されることによ
り、キャビティー内においてそれ自身によって充満す
る。したがって、液状の成形材料はキャビティー外にお
いては、当然に移送されることはない。また、液状の成
形材料はキャビティー内においても、移動することは殆
どない。
【0025】そして、厚さが被樹脂封止物の厚さの2倍
以下になるきわめて薄い樹脂封止が、前記手段が使用
されて成形される場合であっても、キャビティー内にお
ける液状の成形材料が成形型から受ける熱量が増加する
ことはないため、液状の成形材料の粘度が高くなること
はない。
【0026】したがって、キャビティー内における液状
の成形材料は、予め設定された粘度を維持するため、か
つ、液状の成形材料がキャビティー内において移動する
ことは殆どないため、例えば、半導体ペレットと各リー
ドとの間に橋絡されたワイヤや、接続端子部が高粘度に
なった液状の成形材料によって変形されたり、タブやリ
ード群に機械的に接続された半導体ペレットが遊動され
たり、成形材料の末充填部位が発生したりすることはな
い。
【0027】他方、キャビティー内における液状の成形
材料は、予め設定された粘度を維持するため、液状の成
形材料の粘度が最適値に設定されることにより、液状の
成形材料が上型と下型との合わせ面の隙間からキャビテ
ィーの外部へ漏洩するのを防止することができるため、
レジンフラッシュ(樹脂ばり)が発生するのを防止する
ことができる。
【0028】さらに、液状の成形材料の粘度等の性状、
および、成形後の成形材料の性状は、液化する前のシー
ト形状の成形材料の組成によって決定させることができ
るため、しかも、キャビティー内における液状の成形材
料は、予め設定された粘度を維持するため、成形材料の
組成についての設計の自由度が高まる。その結果、高機
能を示す樹脂等を主成分として使用することができると
ともに、添加物質を自由に選定することができ、成形後
の樹脂封止体は耐湿性能や機械的強度等に関する各種の
性能が高められる。
【0029】
【実施例】図1は本発明の一実施例である半導体装置の
製造方法を示す工程図、図2以降は各工程を説明するた
めの各説明図である。図12(a)、(b)はそれによ
り製造された表面実装形樹脂封止パッケージICの実装
状態を示す斜視図および一部切断正面図である。
【0030】本実施例において、本発明に係る半導体装
置の製造方法は、表面実装形樹脂封止パッケージICを
製造する方法として構成されている。この表面実装形樹
脂封止パッケージIC49の樹脂封止46は略正方形
の平盤形状に形成されており、この樹脂封止体46の4
側面の下端辺付近からアウタリード10が複数本宛突設
されている。この表面実装形樹脂封止パッケージIC4
9はリード8群に電気回路が作り込まれた半導体ペレッ
ト(以下、ペレットという。)12がテープ・オートメ
イテッド・ボンディングされており、ペレット12およ
び各リード8の一部が樹脂封止46により樹脂封止さ
れている。そして、この表面実装形樹脂封止パッケージ
IC49は以下に述べるような製造方法によって製造さ
れている。
【0031】以下、本発明の一実施例である表面実装形
樹脂封止パッケージを備えているICの製造方法を説明
する。この説明により、前記表面実装形樹脂封止パッケ
ージICについての構成の詳細が明らかにされる。
【0032】本実施例に係る表面実装形樹脂封止パッケ
ージIC49の製造方法においては、図2に示されてい
るようなTABテープ1が使用される。このTABテー
プ1は、本体としてのキャリア用のテープ2を備えてお
り、キャリア用のテープ(以下、キャリアテープとい
う。)2はポリイミド等のような絶縁性樹脂が用いられ
て、同一パターンが長手方向に連続するように一体成形
されている。但し、説明および図示は一単位だけについ
て行われている。
【0033】キャリアテープ2における幅方向の両側端
辺部にはピッチ送りに使用される送り孔3が等ピッチに
配されて開設されており、両側の送り孔群間にはサポー
トリング4が等ピッチをもって1列縦隊に配されて形成
されている。サポートリング4は略正方形の枠形状に形
成されており、その枠の内側空所には後記するペレット
を収容するためのペレット収容部5が実質的に構成され
ている。サポートリング4の外側空所6には4本の保持
部材7が四隅にそれぞれ配されて、サポートリング4を
保持するように一体的に架設されている。
【0034】集積回路を電気的に外部に引き出すための
リード8は複数本が、キャリアテープ2の片側平面(以
下、第1主面とする。)上に配されて、銅箔等のような
導電性材料を用いて溶着や接着等のような適当な手段に
より固定的に付設されている。リード8群はサポートリ
ング4における4辺に分けられて、サポートリング4を
径方向に貫通するように配設されており、各リード8同
士が互いに電気的に非接続になるように形成されてい
る。各リード8におけるペレット収容部5内に突き出さ
れた内側先端部によって、インナ部としてのインナリー
ド9が構成されており、各リード8における外側空所6
を横断するように外方に突き出された外側端部によっ
て、アウタ部としてのアウタリード10が構成されてい
る。アウタリード10の外側端部はキャリアテープ2上
に固着されている。各リード8の表面にはソルダビリテ
ィーを高めるために錫めっき膜(図示せず)がそれぞれ
被着されている。
【0035】本実施例において、4本の保持部材7には
成形材料溜11が1個宛、ペレット収容部5の対角線方
向にそれぞれ開設されている。各成形材料溜11はその
内側端部がサポートリング4に位置するようにそれぞれ
形成されている。
【0036】一方、詳細な説明は省略するが、この表面
実装形樹脂封止パッケージIC49の製造方法に使用さ
れる半導体ペレット12は、半導体装置の製造工程にお
ける所謂前工程において、ウエハ状態にて所望の半導体
素子を含む集積回路を適宜作り込まれる。そして、集積
回路(図示せず)が作り込まれた半導体ペレット(以
下、ペレットという。)12は、図3に示されているよ
うに、サポートリング4のペレット収容部5に収容され
得る略正方形の小片にダイシングされており、その一平
面(以下、第1主面とする。)における周辺部には金系
材料が用いられて形成されたバンプ13が複数個、キャ
リアテープ2における各インナリード9に整合し得るよ
うに配されて突設されている。各バンプ13はペレット
12の電気配線14に電気的にそれぞれ接続されてい
る。
【0037】次に、TABテープ1のリード8群にペレ
ット12が機械的かつ電気的にボンディングされるTA
B工程における所謂インナボンディング工程について説
明する。
【0038】TABテープ1のリード8群にペレット1
2がインナボンディングされる際、キャリアテープ2は
複数のスプロケット(図示せず)間に張設されて一方向
に間欠送りされる。そして、張設されたキャリアテープ
2の途中に配設されているインナボンディングステージ
において、図4(a)に示されているように、ペレット
12はコレット15によって保持された状態で、ペレッ
ト収容部5内にサポートリング4の下方から収容され
る。
【0039】続いて、図4(b)に示されているよう
に、ペレット12は各バンプ13を各インナリード9に
それぞれ整合されて、ボンディング工具16によって熱
圧着されることにより、キャリアテープ2に組み付けら
れる。
【0040】すなわち、リード8の表面に被着されてい
る錫めっき膜と、金系材料から成るバンプ13と間にお
いて、金−錫の共晶から成る接続端子部17が形成され
るため、リード8のインナリード9とバンプ13とは各
接続端子部17によって一体的に結合されることにな
る。
【0041】なお、接続端子部17を形成するためのバ
ンプ13は金を用いて形成するに限らず、はんだ材料や
アルミニウム等を用いて形成してもよい。また、バンプ
13はペレット12側に突設するに限らず、インナリー
ド9側に突設してもよい。
【0042】このようにして、ペレット12とリード8
群とがテープ・オートメイテッド・ボンディングされた
TABテープ1には樹脂封止群が、図5に示されてい
る製造方法によって製造された成形材料シートが用いら
れて、かつ、後述されるような本発明の一実施例である
樹脂封止成形装置が使用されて、各ペレット12につ
いて同時成形される。
【0043】次に、本発明の一実施例である成形材料シ
ート20の製造方法を、図5について説明する。
【0044】本実施例に係る成形材料シート20の製造
方法において、固形状成形材料の一実施例である成形材
料シート20の原材料(図示せず)は、エポキシ樹脂が
主成分として使用されており、フェノール樹脂等の熱硬
化反応剤、熱硬化反応触媒剤等の硬化促進剤、シリカ等
のフィラー、カップリング(結合)剤、難燃剤、難燃助
剤、カーボン等の着色剤、ワックス等の離型剤、が適量
宛それぞれ添加されている。
【0045】前記のような所定の組成物から組成される
原材料は、配合装置21(詳細な説明および図示は省略
する。以下、成形材料シートの製造方法において同
じ。)が使用されて、所定の配合比率をもって粉の状態
で配合される。配合された原材料は、ストレージタンク
22を経由して、混練装置23に供給される。
【0046】混練装置23に供給された粉状の原材料
は、適当な温度(100℃)に加熱されながら、混練さ
れる。この混練作業によって、適度の粘度を呈する粘土
のような半流動状の成形材料24が製造される。製造さ
れた半流動状の成形材料24は混練装置23から押し出
される。ここで、半流動状の成形材料24は実質的には
不完全な固形状の成形材料でもある。
【0047】混練装置23から押し出された半流動状の
成形材料24は、上下で一対のロール25、25間を通
されて、一連の長いシート形状に引き延ばされる。シー
ト形状に引き延ばされた半流動状の成形材料26は分断
整形装置27によって、所定の大きさに分断され、か
つ、後述する所定の形状に整形される。この作業によっ
て、半流動状の成形材料シート28が製造されたことに
なる。
【0048】この半流動状の成形材料シート28は冷却
装置29によって、室温まで冷却される。この冷却作業
によって、半流動状の成形材料シート28は完全な固形
の状態になり、固形状の成形材料シート20が製造され
たことになる。
【0049】なお、以上のようにして製造された固形状
の成形材料シート20は、熱硬化反応がコントロールさ
れない状態で自然に進行するのを防止するため、使用さ
れる時点まで、冷蔵庫等(図示せず)に保管することが
望ましい。
【0050】そして、本実施例において、前記製造方法
によって製造された固形状成形材料シート20は、一主
面(以下、第1主面とする。)20aが平坦で、他の主
面(以下、第2主面とする。)20bが凸曲面であっ
て、かつ、厚さが中央部が厚く周辺部が薄い形状に成形
されている。
【0051】このようにして製造された成形材料シート
20を用いて樹脂封止を成形する本発明に係る樹脂封
成形装置は、ポット、ランナおよびゲートを備えて
おらず、液状の成形材料としてのレジンをキャビティー
内にその外部から搬送(トランスファ)しないことを最
大の特徴としている。したがって、本発明の一実施例で
ある樹脂封止成形装置は、以下、トランスファレス樹
脂封止成形装置と、呼称されることがある。
【0052】本実施例に係るトランスファレス樹脂封止
成形装置30は、図6〜図10に示されているよう
に、シリンダ装置等(図示せず)によって互いに型締め
される一対の上型31と下型32とを備えている。上型
31と下型32との合わせ面には上型キャビティー凹部
33aと、下型キャビティー凹部33bとが複数組(原
則として、1組のみが図示されている。)、互いに協働
して一つのキャビティー33を形成するようにそれぞれ
没設されている。本実施例において、キャビティー33
の厚さはペレット12の厚さの約2倍になるように設定
されている。
【0053】また、上型31および下型32の内部には
各ヒータ34が、各キャビティー33の内部を加熱し得
るようにそれぞれ敷設されている。下型32の合わせ面
には逃げ凹所35が前記キャリアテープ2の厚みを逃げ
得るように、キャリアテープ2の外形よりも若干大きめ
の長方形で、その厚さと略等しい寸法の一定深さに没設
されている。
【0054】さらに、上型31と下型32との合わせ面
には締め代36a、36bが、各キャビティー33の開
口周辺にそれぞれ配されて、適当な幅をもって突設され
ている。上型31と下型32との合わせ面における締め
代36a、36bの外方には、型締め代37a、37b
が各キャビティー33を取り囲むようにそれぞれ配され
て突設されており、この型締め代37a、37bによっ
て、各キャビティー33の周囲には微小な空間38が形
成されている。
【0055】また、上型31と下型32との合わせ面に
おける型締め代37a、37bの外側には、互いに対向
する保持溝39a、39bが各キャビティー33を取り
囲むようにそれぞれ配されて、一連の環状溝にそれぞれ
没設されており、この保持溝39a、39bにはシール
部材としてのシールリング40、40がそれぞれ収納さ
れている。このシールリング40はゴム等の弾性材料が
用いられて環状に一体成形されており、上型31と下型
32とが型締めされる状態において圧縮変形されること
により、上型31と下型32との合わせ面間におけるそ
の内部空間を完全に密封するようになっている。
【0056】下型32には通気路41が複数本、シール
リング40の内側において上型31との合わせ面に連通
するように開設されており、この通気路41は下型3
に形成された空気溜42に流体連結されている。空気溜
42内にはプランジャ43が摺動自在に嵌挿されてお
り、プランジャ43はスプリング44により通気路41
の方向に常時付勢されている。
【0057】前記構成に係るトランスファレス樹脂封止
成形装置30が使用されて、樹脂封止46が成形さ
れる場合には、本発明に係る成形材料の一実施例である
固形状成形材料としての前記成形材料シート20が使用
される。この固形状の成形材料シート20は、トランス
ファレス樹脂封止成形装置30に供給される以前に、
前述したように、オフラインまたはオンラインの成形材
料シートの製造方法が実施される工程において予め製造
されている。
【0058】次に、前記構成に係るTABテープ1、固
形状成形材料シート20およびトランスファレス樹脂封
成形装置30が使用される本発明の一実施例の主要
部である樹脂封止の成形方法を説明する。
【0059】前記構成に係る固形状成形材料シート20
およびトランスファレス樹脂封止成形装置30が用い
られて、樹脂封止46が成形されるに際しては、図8
(a)に示されているように、まず、下型32の各キャ
ビティー凹部33bに固形状成形材料シート20がそれ
ぞれ搬入される。このとき、固形状成形材料シート20
は凸曲面の第2主面20b側が上側にむけられて、キャ
ビティー凹部33bに搬入される。この固形状成形材料
シート20群の各キャビティー凹部33bへの搬入作業
は、適当なハンドリング装置(図示せず)を使用するこ
とにより、自動的にかつ一括的に実施することができ
る。
【0060】また、前記構成に係るTABテープ1およ
びトランスファレス樹脂封止成形装置30が用いられ
て、樹脂封止46が成形される場合においては、図7
に示されているように、上型31および下型32におけ
る各キャビティー33はその外周縁辺が、TABテープ
1におけるサポートリング4の外周縁辺にそれぞれ対応
される。
【0061】そして、前記構成に係るTABテープ1お
よびトランスファレス樹脂封止成形装置30が用いら
れて、樹脂封止46が成形されるに際しては、図7お
よび図8(a)に示されているように、TABテープ1
は、そのキャリアテープ2が下型32に没設されている
逃げ凹所35内に、各ペレット12が下型32の各キャ
ビティー凹部33b内にそれぞれ収容されるように配さ
れてセットされる。
【0062】次いで、図8に示されているように、各キ
ャビティー凹部33b内に収容された各ペレット12上
には固形状成形材料シート20がそれぞれ載置される。
このとき、固形状成形材料シート20はその凸曲面の第
2主面20bが下向きになるように載置される。この固
形状成形材料シート20群の供給作業も、適当なハンド
リング装置によって自動的にかつ一括的に実施すること
ができる。
【0063】続いて、図8(b)に示されているよう
に、上型31と下型32とが型締めされることによっ
て、各キャビティー33がそれぞれ形成される。これに
よって、各キャビティー33内にはペレット12、各リ
ード8のインナリード9および上下の固形状成形材料シ
ート20、20がそれぞれ収納されるとともに、サポー
トリング4の外周縁辺部が上型31と下型32との間に
挟み込まれる。
【0064】各キャビティー33が上型31と下型32
とによって密封されると、上型31と下型32とにそれ
ぞれ敷設されたヒータ34によって、各キャビティー3
3内の固形状成形材料シート20が所定の温度(150
℃〜190℃)にそれぞれ加熱される。そして、加熱さ
れた固形状の成形材料シート20は、図9および図10
に示されているように、溶融することによって液状の成
形材料45になるとともに、体積が膨張する。体積が膨
張する液状成形材料45はキャビティー33内に充満す
る。
【0065】このとき、充満する液状成形材料45はキ
ャビティー33によってそれ以上の膨張が規制されるた
め、相対的に膨張する液状成形材料45はキャビティー
33によって締め固められるような状態になる。つま
り、加圧成形される。
【0066】但し、加圧成形されて、なお余分になった
液状成形材料45は、実質的に逃げ道を形成しているT
ABテープ1の各成形材料溜11に、それ自身の加圧力
によってそれぞれ自己制御的に図7に2点鎖線矢印で示
されているように、押し出されて行く。この液状成形材
料45自身の成形材料溜11への逃げ作用により、液状
成形材料45自身の加圧力が相対的に低減されるため、
隣合うリード8、8間の隙間からの液状成形材料の漏洩
は防止されることになる。したがって、樹脂ばりの発生
は防止される。
【0067】そして、本実施例においては、液状の成形
材料45がキャビティー33内にキャビティー33外部
から充填されるのではなく、液状の成形材料45は、予
めキャビティー33内に搬入された成形材料シート20
が溶融されることにより、キャビティー33内において
それ自身によって充満する。したがって、液状の成形材
料45はキャビティー33外においては、当然に移送さ
れることはない。また、液状の成形材料45はキャビテ
ィー33内においても、移動することは殆どない。
【0068】そして、厚さがペレット12の厚さの約2
倍程度になるきわめて薄い樹脂封止が成形される場合
であっても、キャビティー33内における液状の成形材
料45がヒータ34から受ける熱量が増加することはな
いため、液状の成形材料45の粘度が高くなることはな
い。
【0069】したがって、キャビティー33内における
液状の成形材料45は、予め設定された粘度を維持する
ため、かつ、液状の成形材料45がキャビティー33内
において移動することは殆どないため、接続端子部17
が高粘度になった液状の成形材料45によって変形され
たり、リード8群に機械的に接続されたペレット12が
遊動されたり、液状成形材料45の末充填部位が発生し
たりすることは全くない。
【0070】他方、キャビティー33内における液状の
成形材料45は、予め設定された粘度を維持するため、
液状の成形材料45の粘度が最適値に設定されることに
より、液状の成形材料45が隣合うリード8、8間の隙
間からキャビティー33の外部へ漏洩するのを防止する
ことができるため、レジンフラッシュ(樹脂ばり)が発
生するのを防止することができる。
【0071】さらに、液状の成形材料45の粘度等の性
状、および、成形後の成形材料の性状は、液化する前の
成形材料シート20の組成によって決定させることがで
きるため、しかも、キャビティー33内における液状の
成形材料45は、予め設定された粘度を維持するため、
成形材料シート20の組成についての設計の自由度が高
まる。その結果、高機能を示す樹脂等を主成分として使
用することができるとともに、添加物質を自由に選定す
ることができ、成形後の樹脂封止46は耐湿性能や機
械的強度等に関する各種の性能が高められる。
【0072】以上のようにして、液状成形材料45がキ
ャビティー33内に充満した後、さらに加熱されると、
液状成形材料45は熱架橋反応によって硬化することに
より、固体の成形材料になる。この固体の成形材料によ
って形成された実部により、樹脂封止46が実体的
に成形されたことになる。
【0073】樹脂封止形46が成形されると、上型3
1および下型32は型開きされるとともに、エジェクタ
・ピン(図示せず)により樹脂封止46群が離型され
る。このようにして、図11に示されているように、樹
脂封止46群が成形されたTABテープ1はトランス
ファレス樹脂封止成形装置30から脱装される。
【0074】そして、このように樹脂成形された樹脂封
46の内部には、ペレット12、リード8群の各イ
ンナリード9およびサポートリング4が樹脂封止された
ことになる。この状態において、リード8群のアウタリ
ード10は樹脂封止46の側面から略直角に突出され
ている。
【0075】ところで、液状成形材料45がキャビティ
ー33内に充満するためには、液状成形材料45の膨張
を妨げないように、キャビティー33内の空気が排出さ
れる必要がある。
【0076】本実施例においては、成形材料シート20
が第2主面20bが凸曲面形状に形成されているため、
成形材料シート20は溶融し始めると、図9に示されて
いるように、液状成形材料45はキャビティー33の中
央部から充満し始め、その充満は順次周辺部に進行して
行く状態になる。相対的に、キャビティー33の空気4
7は液状成形材料45により中央部から周辺部に押され
て行き、キャビティー33の周辺部における隣合うリー
ド8、8間の微小の隙間48から押し出されることにな
る。このとき、図9に示されているように、液状成形材
料45はキャビティー33内の空気47を絞り出すよう
な状態で全て排出するように作用する。したがって、成
形後の樹脂封止46における未充填部位やボイドの発
生は防止されることになる。
【0077】そして、図10に示されているように、液
状成形材料45がキャビティー33内で膨張し始める
と、キャビティー33内の空気47は上型31と下型3
2との締め代36a、36bと隣合うリード8、8間に
形成された微小の隙間48から、型締め代37a、37
bによって形成されている空間38に押し出されるよう
に漏洩する。漏洩した空気47は通気路41を経由して
空気溜42に流れて行く。このとき、空気溜42の容積
がプランジャ43の後退により強制的に増加されると、
キャビティー33内は真空排気されることになる。
【0078】このようにして、キャビティー33内の空
気47が排気されるため、キャビティー33内の液状成
形材料45は加熱されるのに伴って膨張することによ
り、キャビティー33内に充満する。この液状成形材料
45のキャビティー33内における充満によって、樹脂
封止46はキャビティー33内で加圧成形されること
になる。この加圧成形された樹脂封止46は、樹脂の
密度が高くなるとともに、外形形状がキャビティー33
の内形形状によって規定されるため、外径寸法は所定の
精度を維持することになる。
【0079】ところで、上型31および下型32の締め
代部36a、36bとリード8、8との隙間48からの
空気47の漏洩が、液状成形材料45のキャビティー3
3への完全充満後も無期限に許容される場合、キャビテ
ィー33に充満した液状成形材料45が隙間48から外
部に流出することにより、成形後の樹脂封止46にお
いてフラッシュ(樹脂ばり)が発生してしまう。
【0080】しかし、本実施例においては、上型31お
よび下型32とキャリアテープ2との合わせ面にシール
リング40、40が挟設されることにより、液状成形材
料45がキャビティー33へ完全充満すると、空気溜4
2、通気路41および空間38に空気47が密封された
状態になるため、キャビティー33に充満され、前記隙
間48から外部に流出しようとする液状成形材料45
は、密封された空気47の圧力により外部へ流出しよう
とするのを阻止されることになり、その結果、フラッシ
ュの発生が防止されることになる。
【0081】つまり、液状成形材料45がキャビティー
33に完全に充満された状態になった時、空気溜42、
通気路41および空間38に密封された空気47の圧力
と、液状成形材料45がキャビティー33から漏洩しよ
うとする力とが均衝するように、空気溜42等の容積が
設定されている。そして、密封された空気47の圧力は
全方位に作用するため、キャビティー33の周縁におい
て全方位から内側に向かって作用することにより、空気
47は液状成形材料45をキャビティー33へ全周にお
いて封じ込めることになる。
【0082】このようにして、本実施例によれば、キャ
ビティー33に充満された液状成形材料45はキャビテ
ィー33の周囲の空気圧により強制的に封じ込められる
ことになるため、液状成形材料45のキャビティー33
への充満量を高めることが可能になる。これにより、キ
ャビティー33内の空気排出を効果的に実行させること
ができるとともに、液状成形材料45の充満後において
樹脂封止46内のボイドを押し潰すことにより、樹脂
封止成形後におけるボイドの発生を防止することがで
きる。
【0083】以上のようにして樹脂封止46が成形さ
れた表面実装形樹脂封止パッケージIC49は、TAB
テープ1に付設された状態のまま、検査工程において、
電気的特性試験等のような検査を受けた後、出荷され
る。
【0084】そして、出荷された表面実装形樹脂封止パ
ッケージIC49はTABテープ1に付設された状態の
まま、または、樹脂封止46の外方位置で切断されて
TABテープ1から個別に分離された状態において、図
12に示されているように、プリント配線基板51上に
配され、アウタリード10とランド52との間がリフロ
ーはんだ処理される。このとき、リード8の表面には錫
めっき膜が被着されているため、ソルダビリティーは良
好に行われる。
【0085】前記実施例によれば次の効果が得られる。 1) 樹脂封止46は成形材料45がキャビティー33
内に閉じ込められて成形されるため、成形された樹脂封
46における成形材料45の密度は、トランスファ
成形法による樹脂封止における成形材料の密度と同等
に高くなる。したがって、この樹脂封止46の耐湿性
能や機械的強度性能等についての信頼性は優れたものと
なる。
【0086】2) 樹脂封止46の外形形状は、キャビ
ティー33によって規定されるため、その外形寸法の精
度は高くなる。
【0087】3) 液状の成形材料45がキャビティー3
3内にキャビティー33の外部から充填されるのではな
く、液状の成形材料45は、予めキャビティー33内に
搬入れた成形材料シート20が溶融されることによ
り、キャビティー33内においてそれ自身によって充満
する。したがって、液状の成形材料45はキャビティー
33外においては、当然に移送されることはない。ま
た、液状の成形材料45はキャビティー33内において
も、移動することは殆どない。
【0088】4) 厚さがペレット12の厚さの約2倍程
度になるきわめて薄い樹脂封止46を成形する場合で
あっても、キャビティー33内における液状の成形材料
45が上型31、下型32から受ける熱量が増加するこ
とはないため、液状の成形材料45の粘度が高くなるこ
とはない。
【0089】5) したがって、キャビティー33内にお
ける液状の成形材料45は、予め設定された粘度を維持
するため、かつ、液状の成形材料45がキャビティー3
3内において移動することは殆どないため、接続端子部
17が高粘度になった液状の成形材料45によって変形
されたり、リード8群に機械的に接続されたペレット1
2が遊動されたり、成形材料45の末充填部位が発生し
たりすることはない。
【0090】6) 他方、キャビティー33内における液
状の成形材料45は、予め設定された粘度を維持するた
め、液状の成形材料45の粘度が最適値に設定されるこ
とにより、液状の成形材料45が隣合うリード8、8の
隙間48からキャビティー33の外部へ漏洩するのを防
止することができるため、レジンフラッシュ(樹脂ば
り)が発生するのを防止することができる。
【0091】7) さらに、液状の成形材料45の粘度等
の性状、および、成形後の樹脂封止46における成形
材料の性状は、液化する前の成形材料シート20の組成
によって決定させることができるため、しかも、キャビ
ティー33内における液状の成形材料45は、予め設定
された粘度を維持するため、成形材料シート20の組成
についての設計の自由度が高まる。その結果、高機能を
示す樹脂等を主成分として使用することができるととも
に、添加物質を自由に選定することができ、成形後の樹
脂封止46は耐湿性能や機械的強度等に関する各種の
性能が高められる。
【0092】8) リード8群にペレット12をテープ・
オートメイテッド・ボンディングすることにより、薄形
化および多ピン化を促進することができるとともに、実
装性および生産性を高めることができるため、多ピンの
半導体装置においても、低価格化を実現することができ
る。
【0093】9) ペレット12およびインナリード9群
を加圧成形法による樹脂封止46によって樹脂封止す
ることにより、TAB構造の半導体装置であっても、充
分満足し得る封止性能を確保することができるととも
に、アウタリード10を樹脂封止46によって保定す
ることができるため、アウタリード10の強度を高める
ことができる。
【0094】図13および図14は本発明の実施例2で
ある半導体装置の製造方法における樹脂封止の成形工
程を示す各説明図であり、前記実施例1における図9お
よび図10に相当する図である。図15(a)、(b)
はそれにより製造された表面実装形樹脂封止パッケージ
ICの実装状態を示す斜視図および一部切断正面図であ
る。
【0095】本実施例2が前記実施例1と異なる点は、
TABテープ1Aにおいて、サポートリングが廃止され
ている点と、トランスファレス樹脂封止成形装置30
Aにおいて、下型キャビティー凹部33Bがペレット1
2の一端面が露出するように浅く形成されている点と、
固形状の成形材料として、成形材料シート20の代わり
に半流動状の成形材料20AがTABテープ1Aにスク
リーン印刷法等の適当な手段により予め塗布される点
と、にある。すなわち、図13および図14に示されて
いるように、TABテープ1Aにおけるペレット12の
外方にはサポートリングがない。また、図14に示され
ているように、ペレット12の一端面は下型キャビティ
ー凹部33Bの底面に当接されている。さらに、図13
に示されているように、ペレット12の周囲には半流動
状の成形材料20Aが塗布されている。
【0096】本実施例2においても、半流動状の成形材
料20Aが予めキャビティー33A内に収容されること
になるため、前記実施例1と同様の作用および効果が得
られる。
【0097】また、本実施例2においては、図15
(a)、(b)に示されているように、ペレット12の
インナボンディング側と反対側の主面が樹脂封止46
Aから露出されるため、樹脂封止46Aの厚さがその
分、薄くなる。さらに、ペレット12の一主面が樹脂封
46Aから露出するため、表面実装形樹脂封止パッ
ケージIC49Aの放熱性能がその分、良好になるとい
う効果が得られる。
【0098】図16、図17および図18は本発明の実
施例3である半導体装置の製造方法における樹脂封止
の成形工程を示す各説明図である。図19は樹脂封止
の成形後を示す一部省略一部切断平面図である。
【0099】本実施例3が前記実施例1と異なる点は、
TABテープ1Bにおいてサポートリングが廃止されて
いるとともに、リード8群におけるインナリード9とア
ウタリード10との境界位置に液状成形材料45の外部
への流出を防止するためのダム用テープ4Bが粘着され
る点と、トランスファレス樹脂封止成形装置30Bに
おいて通気路41Bがキャビティー33内に直接的に流
体連結されている点と、にある。
【0100】次に、前記構成に係るTABテープ1Bお
よびトランスファレス樹脂封止成形装置30Bが使用
される本実施例3の主要部である樹脂封止の成形方法
を、前記実施例1と異なる点を主体にして説明する。
【0101】前記構成に係るTABテープ1Bおよびト
ランスファレス樹脂封止成形装置30Bが用いられ
て、樹脂封止46Bが成形される場合においては、図
17および図18に示されているように、上型31およ
び下型32における各キャビティー33はその外周縁辺
が、TABテープ1Bに粘着されたダム用テープ4Bの
内周縁辺にそれぞれ対応される。
【0102】そして、前記構成に係るTABテープ1B
およびトランスファレス樹脂封止成形装置30Bが用
いられて、樹脂封止46Bが成形されるに際しては、
図17および図18に示されているように、TABテー
プ1Bはそのキャリアテープ2が下型32に没設されて
いる逃げ凹所35内に、各ペレット12が下型32の各
キャビティー凹部33b内にそれぞれ収容されるように
配されてセットされる。
【0103】各キャビティー33が上型31と下型32
とによって密封されると、上型31と下型32とにそれ
ぞれ敷設されたヒータ34によって、各キャビティー3
3内の固形状成形材料シート20が所定の温度(150
℃〜190℃)にそれぞれ加熱される。加熱された固形
状の成形材料シート20は、図18に示されているよう
に、溶融することによって液状の成形材料45になると
ともに、体積が膨張する。体積が膨張する液状成形材料
45はキャビティー33内に充満する。
【0104】このとき、充満する液状成形材料45はキ
ャビティー33によってそれ以上の膨張が規制されるた
め、相対的に膨張する液状成形材料45はキャビティー
33によって締め固められるような状態になる。つま
り、加圧成形される。
【0105】この加圧成形時に、液状成形材料45は隣
合うリード8、8間の隙間48から漏洩しようとする
が、各リード8、8間のそれぞれにはダムとしてのテー
プ4Bがキャビティー33の外周縁辺に沿うように配設
されているため、液状成形材料45がこれらリード8、
8間の隙間48から漏洩することは防止される。したが
って、樹脂ばりの発生は防止される。また、樹脂ばりの
発生が防止される分、低粘度の液状成形材料になる成形
材料を使用することが可能になる。液状成形材料が低粘
度になると、微細空間への流れ込みが良好になるため、
樹脂封止をより一層薄くすることができる。なお、ダ
ム用テープ4Bは出荷時には除去される。
【0106】ところで、液状成形材料45がキャビティ
ー33内に充満するためには、液状成形材料45の膨張
を妨げないように、キャビティー33内の空気47が排
出される必要がある。
【0107】本実施例においては、図18に示されてい
るように、液状成形材料45がキャビティー33内で膨
張し始めると、キャビティー33内の空気47はキャビ
ティー33に流体連結された通気路41Bに押し出され
る。押し出された空気47は通気路41Bを経由して空
気溜42に流れて行く。このとき、空気溜42の容積が
プランジャ43の後退により強制的に増加されると、キ
ャビティー33内は真空排気されることになる。
【0108】このようにして、キャビティー33内の空
気47が排気されるため、キャビティー33内の液状成
形材料45は加熱されるのに伴って膨張することによ
り、キャビティー33内に充満する。この液状成形材料
45のキャビティー33内における充満によって、樹脂
封止46Bはキャビティー33内で加圧成形されるこ
とになる。この加圧成形された樹脂封止46Bは、樹
脂の密度が高くなるとともに、外形形状がキャビティー
33の内形形状によって規定されるため、外径寸法は所
定の精度を維持することになる。
【0109】図20および図21は本発明の実施例4で
ある半導体装置の製造方法における樹脂封止の成形工
程を示す各説明図である。図22(a)、(b)はそれ
により製造された2種類の表面実装形樹脂封止パッケー
ジICをそれぞれを示す各正面断面図である。
【0110】本実施例4が前記実施例1と異なる点は、
上型のキャビティー凹部33aと下型のキャビティー凹
部33bとにそれぞれ収容される両成形材料シートにつ
いて、互いに組成が相異なる成形材料シート20Bと、
成形材料シート20Cとがそれぞれ使用される点、にあ
る。
【0111】本実施例4においては、上型のキャビティ
ー凹部33aに収容された成形材料シート20Bと、下
型のキャビティー凹部33bに収容された成形材料シー
ト20Cとの組成が互いに相異なるため、樹脂成形され
た樹脂封止において、接続端子部17群側の領域を形
成する液状成形材料45Bの性質と、反対側の領域を形
成する液状成形材料45Cの性質とが相異なる状態にな
る。
【0112】そして、図22(a)に示されている樹脂
封止46Cにおいては、接続端子部17群側の領域部
Caが、固化以後の応力が小さくなる性質を示す成形材
料(所謂、低応力レジン)が用いられて成形されてお
り、この低応力レジン領域部Ca以外の領域部Cbが、
固化以後、高熱伝導性能および/または高機械的強度性
能を示す成形材料が用いられて成形されている。
【0113】また、図22(b)に示されている樹脂封
46Dにおいては、接続端子部17群側の領域部D
aが、溶融時の粘度が低くなる性質を示す成形材料が用
いられて成形されており、この低粘度成形材料による領
域部Da以外の領域部Dbが、溶融時の粘度が高くなる
性質を示す成形材料が用いられて成形されている。
【0114】図23および図24は本発明の実施例5で
ある半導体装置の製造方法における樹脂封止の成形工
程を示す各説明図である。図25はそれに使用される多
連リードフレームを示す一部省略平面図、図26
(a)、(b)はそのワイヤボンディング後を示す一部
省略拡大平面図および拡大正面断面図である。図27は
樹脂封止の成形後を示す一部省略一部切断平面図であ
る。図28はそれにより製造された表面実装形樹脂封止
パッケージIC実装状態を示す一部切断正面図であ
る。
【0115】本実施例5が前記実施例1と異なる点は、
表面実装形樹脂封止パッケージICの一例であるクワッ
ド・フラット・Iリード・パッケージを備えているIC
(以下、QFI・ICということがある。)を製造する
方法として使用されている点と、TABテープの代わり
に多連リードフレームが使用され、しかも、各単位リー
ドフレームにおけるインナリードにペレットがボンディ
ングされているとともに、各インナリードとペレットと
の間にワイヤがそれぞれ橋絡されている点と、ボンディ
ングワイヤとの干渉を避け得る成形材料シートが使用さ
れている点と、トランスファレス樹脂封止成形装置に
おいて通気路がキャビティー内に直接的に流体連結され
ている点、にある。
【0116】すなわち、本実施例5においては、図25
に示されている多連リードフレーム61が使用されてい
る。この多連リードフレーム61は42アロイやコバー
ル等のような鉄系(鉄またはその合金)材料、または、
燐青銅や無酸素銅等のような銅系(銅またはその合金)
材料からなる薄い(例えば、肉厚が0.25mm)板材
を用いられて、打ち抜きプレス加工、またはエッチング
加工等のような適当な手段により一体成形されている。
この多連リードフレーム61には複数の単位リードフレ
ーム62が一方向に1列に並設されている。但し、説明
および図示は一単位についてのみ行われる。
【0117】単位リードフレーム62は位置決め孔63
aが開設されている外枠63を一対備えており、両外枠
63、63は所定の間隔で平行で、かつ、一連にそれぞ
れ延設されている。隣り合う単位リードフレーム62、
62間には一対のセクション枠64が両外枠63、63
間に互いに平行に配されて一体的に架設されており、こ
れら外枠、セクション枠により形成される略長方形の枠
体内に単位リードフレーム62が構成されている。
【0118】各単位リードフレーム62において、両外
枠63、63および両セクション枠64、64にはダム
部材65が4本、略正方形枠形状にそれぞれ配されて一
体的に架設されている。各ダム部材65には複数本のリ
ード66が長手方向に等間隔に配されて、互いに絶縁ギ
ャップを保ちつつ、ダム部材65と直交するように一体
的に突設されている。ダム部材65における隣り合うリ
ード66、66間の部分は後述する樹脂封止成形時に
液状成形材料45の流れをせき止めるダム65aを実質
的に構成するようになっている。
【0119】各リード66の外側部分は後述するように
樹脂封止の外部に突出されるため、アウタリード67
をそれぞれ構成するようになっており、各アウタリード
67はその先端部が各外枠63およびセクション枠64
からそれぞれ切り離された状態になっている。
【0120】他方、各リード66の内側部分は後述する
ように樹脂封止の内部に封入されるため、インナリー
ド68をそれぞれ構成するようになっている。そして、
各インナリード68の実質的に延長端部である内側端部
は、単位リードフレーム62の空所内における各辺の所
定位置を通る一直線上に整列するようにそれぞれ配設さ
れている。また、これらインナリード68の中間部は後
記するペレットのボンディングパッドに対向されること
により、ワイヤボンディング部69をそれぞれ実質的に
構成するようになっている。
【0121】本実施例において、このインナリード68
群は、通常の多連リードフレームが用いられたQFI・
ICにおけるインナリードと全く異なり、単位リードフ
レーム62の空所内の中央部における空スペースを利用
するように配線されている。すなわち、このインナリー
ド68群のそれぞれにはワイヤボンディング部69がそ
の中間部に配設されており、このワイヤボンディング部
69群は所定の位置で一直線上に整列されている。そし
て、各インナリード68の先端は通常のQFI・ICの
インナリードに比べて内側に延長され、その延長された
先端部の上には後述するようにペレットがボンディング
されるようになっている。したがって、インナリード6
8群の先端部はペレットの下方に配線されることにな
る。
【0122】このように構成されている多連リードフレ
ーム61には各単位リードフレーム62毎に絶縁シート
・ボンディング作業、ペレット・ボンディング作業、続
いて、ワイヤ・ボンディング作業が実施される。これら
のボンディング作業は多連リードフレーム61が直列方
向にピッチ送りされることによって、各単位リードフレ
ーム62毎に順次実施される。そして、これらのボンデ
ィング作業によって、図26に示されている中間製品が
製造される。この中間製品はトランスファレス樹脂封止
成形装置30Eのワークを実質的に構成することにな
る。
【0123】次に、各ボンディング作業について、簡単
に説明する。まず、絶縁シート・ボンディング作業によ
り、絶縁シート71が単位リードフレーム62における
インナリード68の延長内側端部群上に、接着剤からな
るボンディング層(図示せず)を介設されて接着され
る。
【0124】本実施例において、絶縁シート71はポリ
イミド系樹脂フィルムのように絶縁性が良好な材料を用
いられて形成されている。絶縁シート71はペレットの
平面形状よりも大きい長方形形状に形成されている。絶
縁性の維持と、機械的強度との相関関係から、絶縁シー
ト71は厚さが125μm程度であることが望ましい。
また、ボンディング層を形成する接着剤としては、ポリ
エーテルアミドイミド等のような熱可塑性のもの、また
は、エポキシ等のような熱硬化性のものを使用すること
ができる。
【0125】次に、前工程において集積回路が作り込ま
れたペレット72が各単位リードフレーム62における
絶縁シート71に上に、Agペースト等から成るボンデ
ィング層74を介設されてボンディングされる。このと
き、ペレット72は絶縁シート71に対して略同心的に
配設される。ペレット72を絶縁シート71に固着する
ボンディング層74を形成するための接着剤としては、
可及的に熱伝導性の良好な材質のものを使用することが
望ましい。
【0126】なお、ペレット72とインナリード68と
の間に絶縁層を形成するための絶縁シートは、絶縁性の
樹脂から成る絶縁シートを用いて構成するに限らず、セ
ラミック基板等のような絶縁性材料から成る板材を使用
して構成してもよい。
【0127】また、絶縁シートの上に金属層を形成し、
この金属層の上にペレットをボンディングしてもよい。
このように金属層の上にペレットがボンディングされた
実施例においては、ペレットの発熱を金属層を介して放
出することができるという効果を得ることができる。さ
らに、この場合、金属層としての金属板の裏面に絶縁性
の樹脂をスクリーン印刷法やスプレー塗装等のような適
当な厚膜形成技術により形成して、絶縁層と金属層とを
一体的に構成してもよい。
【0128】金属層上にペレットをボンディングする手
段としては、Agペースト等を用いた接着法を使用する
に限らず、金−シリコン共晶法やはんだ付け等のような
手段を使用してもよい。
【0129】ペレットと金属層との相互間、金属層と絶
縁層との相互間、および絶縁層とリードとの相互間の接
合順序は問わず、予めペレットを金属層に接合してお
き、この金属層の裏面に絶縁層を形成し、この絶縁層を
リード上に接合するように構成してもよい。
【0130】次に、ワイヤボンディング工程において、
絶縁シート71上にボンディングされたペレット72の
電極パッド73と、単位リードフレーム62におけるイ
ンナリード68のワイヤボンディング部69との間に、
ワイヤ75がその両端部をそれぞれボンディングされて
橋絡される。この作業により、ペレット72に作り込ま
れている集積回路は電極パッド73、ワイヤ75、イン
ナリード68およびアウタリード67を介して電気的に
外部に引き出されることになる。
【0131】このようにしてペレットおよびワイヤ・ボ
ンディングされた多連リードフレームには、各単位リー
ドフレーム毎に樹脂封止が、図23および図24に示
されているトランスファレス樹脂封止成形装置30E
を使用されて成形される。そして、図27に示されてい
るように、樹脂成形された樹脂封止76の内部には、
ペレット72、絶縁シート71、インナリード68およ
びボンディングワイヤ75が樹脂封止されることにな
る。
【0132】次に、前記構成に係る多連リードフレーム
61およびトランスファレス樹脂封止成形装置30E
が使用される本実施例5の主要部である樹脂封止76
の成形方法を、前記実施例1と異なる点を主体にして説
明する。
【0133】前記構成に係る多連リードフレーム61お
よびトランスファレス樹脂封止成形装置30Eが用い
られて、樹脂封止76が成形される場合においては、
図23および図24に示されているように、上型31お
よび下型32における各キャビティー33はその外周縁
辺が、単位リードフレーム62におけるダム部材65の
内周縁辺にそれぞれ対応される。
【0134】本実施例において、トランスファレス樹脂
封止成形装置30Eが用いられて、樹脂封止体76
成形されるに際しては、図23に示されているように、
まず、下型32の各キャビティー凹部33bに固形状の
成形材料シート20EBがそれぞれ搬入される。このと
き、固形状の成形材料シート20EBは凸面の第2主面
Bb側が上側にむけられて、キャビティー凹部33bに
搬入される。
【0135】そして、樹脂封止76が成形されるに際
しては、図23および図24に示されているように、ワ
ークとしての多連リードフレーム61は下型32に没設
されている逃げ凹所35内に、各ペレット72が下型3
2の各キャビティー凹部33b内にそれぞれ収容される
ように配されてセットされる。
【0136】次いで、図23に示されているように、各
キャビティー凹部33b内に収容された各ペレット72
上には固形状成形材料シート20EAがそれぞれ載置さ
れる。このとき、固形状成形材料シート20EAはその
凸面の第2主面Abが下向きになるように載置される。
ここで、固形状成形材料シート20EAの凸面Abの外
周辺部には、ペレット72のボンディングワイヤ75を
逃げるための凹部Acが環状に大きく没設されている。
【0137】続いて、図24に示されているように、上
型31と下型32とが型締めされることによって、各キ
ャビティー33がそれぞれ形成される。これによって、
各キャビティー33内にはペレット72、各リード66
のインナリード68および上下の固形状成形材料シート
20EAおよび20EBがそれぞれ収納されるととも
に、各リード66のダム部材65の部分が上型31と下
型32との間に挟み込まれる。
【0138】このとき、上側の成形材料シート20EA
の凸面Abの外周辺部には、ペレット72のボンディン
グワイヤ75を逃げるための凹部Acが環状に没設され
ているため、固形状成形材料シート20EAの外周辺部
がペレット72のボンディングワイヤ75と干渉するの
は防止される。したがって、ワイヤ75が上側の成形材
料シート20EAによって変形されることはない。
【0139】各キャビティー33が上型31と下型32
とによって密封されると、上型31と下型32とにそれ
ぞれ敷設されたヒータ34によって、各キャビティー3
3内における上下の固形状成形材料シート20EA、2
0EBが所定の温度(150℃〜190℃)にそれぞれ
加熱される。加熱された固形状の成形材料シート20E
A、20EBは、図24に示されているように、溶融す
ることによって液状の成形材料45になるとともに、体
積が膨張する。体積が膨張する液状成形材料45はキャ
ビティー33内に充満する。
【0140】このとき、充満する液状成形材料45はキ
ャビティー33によってそれ以上の膨張が規制されるた
め、相対的に膨張する液状成形材料45はキャビティー
33によって締め固められるような状態になる。つま
り、加圧成形される。
【0141】この加圧成形時に、液状成形材料45は隣
合うリード66、66間の隙間から漏洩しようとする
が、各リード66、66間のそれぞれには各ダム65a
がキャビティー33の外周縁辺に沿うように配設されて
いるため、液状成形材料45がこれらリード66、66
間の隙間から漏洩することは防止されることになる。し
たがって、樹脂ばりの発生は防止される。
【0142】本実施例5においても、液状成形材料45
がキャビティー33内にキャビティー33外部から充填
されるのではなく、液状成形材料45はキャビティー3
3内に予め収容された成形材料シート20EA、20E
Bが溶融されることにより、キャビティー33内におい
てそれ自身によって充満する。したがって、液状成形材
料45はキャビティー33の内外において移動すること
は殆どない。
【0143】そして、キャビティー33内における液状
成形材料45が成形型から受ける熱量が増加することは
ないため、液状成形材料45の粘度が高くなることはな
い。したがって、キャビティー33内における液状成形
材料45は、予め設定された粘度を維持するため、か
つ、液状成形材料45がキャビティー33内において移
動することは殆どないため、ペレット72と各インナリ
ード68のボンディング部69との間に橋絡されたワイ
ヤ75が高粘度になった液状成形材料45によって流さ
れて変形されたり、インナリード68群上の絶縁シート
71にボンディングされたペレット72が遊動されたり
することはない。
【0144】ところで、液状成形材料45がキャビティ
ー33内に充満するためには、液状成形材料45の膨張
を妨げないように、キャビティー33内の空気が排出さ
れる必要がある。
【0145】本実施例5においては、図24に示されて
いるように、液状成形材料45がキャビティー33内で
膨張し始めると、キャビティー33内の空気47はキャ
ビティー33に流体連結された通気路41Eに押し出さ
れる。押し出された空気47は通気路41Eを経由して
空気溜42に流れて行く。このとき、空気溜42の容積
がプランジャ43の後退により強制的に増加されると、
キャビティー33内は真空排気されることになる。
【0146】このようにして、キャビティー33内の空
気47が排気されるため、キャビティー33内の液状成
形材料45は加熱されるのに伴って膨張することによ
り、キャビティー33内に充満する。この液状成形材料
45のキャビティー33内における充満によって、樹脂
封止76はキャビティー33内で加圧成形されること
になる。この加圧成形された樹脂封止76は、樹脂の
密度が高くなるとともに、外形形状がキャビティー33
の内形形状によって規定されるため、外径寸法は所定の
精度を維持することになる。
【0147】以上のようにして、液状成形材料45がキ
ャビティー33内に充満した後、さらに加熱されると、
液状成形材料45は熱架橋反応によって硬化することに
より、固体の成形材料になる。この固体の成形材料によ
って、樹脂封止76が実質的に成形されたことにな
る。
【0148】以上のようにして、樹脂封止形76が成
形されると、上型31および下型32は型開きされると
ともに、エジェクタ・ピン(図示せず)により樹脂封止
76群が離型される。このようにして、図27に示さ
れているように、樹脂封止76群が成形された多連リ
ードフレーム61はトランスファレス樹脂封止成形装
置30Eから脱装される。
【0149】その後、多連リードフレーム61はリード
切断成形工程(図示せず)において各単位リードフレー
ム62毎に、外枠63、セクション枠64およびダム6
5a群を切り落とされるとともに、図28に示されてい
るように、アウタリード67が下向きに屈曲成形されて
Iリーリッド形状に形成される。
【0150】このようにして製造されたQF・IC7
7は、図28に示されているようにプリント配線基板7
8上に配され、Iリーリッド形状に形成されたアウタリ
ード67とランド79との間がリフローはんだ処理され
る。
【0151】本実施例5によれば、前記実施例1の効果
に加えて、次のような効果が得られる。 1) インナリード68群のうち少なくとも一部のインナ
リードを樹脂封止76内においてペレット72の下方
に配線することによって、インナリード68群について
の配線スペースを充分に確保することができるため、高
集積化された半導体集積回路装置の場合であっても、樹
脂封止76内においてインナリード68を適正に配線
することができる。
【0152】2) 固形状成形材料シート20EAの凸面
Abの外周辺部にペレット72のボンディングワイヤ7
5を逃げるための凹部Acを環状に没設することによ
り、固形状成形材料シート20EAの外周辺部がペレッ
ト72のボンディングワイヤ75と干渉するのは防止す
ることができるため、成形時におけるボンディングワイ
ヤ75が成形材料シート20EAによって変形されてし
まうのを防止することができる。
【0153】図29は本発明の実施例6である半導体装
置の製造方法における樹脂封止の成形工程を示す説明
図である。図30はそれにより製造された表面実装形樹
脂封止パッケージICの実装状態を示す一部切断正面図
である。
【0154】本実施例6が前記実施例1と異なる点は、
図29および図30に示されているように、ペレット1
2Fにおいて、外周辺部に接続端子部17Fの高さおよ
びインナリード9の厚さを逃げるための段差18が形成
されており、その段差18においてバンプとインナリー
ド9とによって接続端子部17Fが形成されている点、
にある。
【0155】本実施例6においては、前記実施例1の効
果に加えて、段差18によって接続端子部17Fの高さ
およびインナリード9の厚さを逃げることができるた
め、その分、樹脂封止46Fの厚さを薄く形成するこ
とができるという効果を得ることができる。
【0156】図31は本発明の実施例7である半導体装
置の製造方法における樹脂封止の成形工程を示す説明
図である。図32はそれにより製造された表面実装形樹
脂封止パッケージICの実装状態を示す一部切断正面図
である。
【0157】本実施例7が前記実施例1と異なる点は、
表面実装形樹脂封止パッケージICの一例であるクワッ
ド・フラット・Iリード・パッケージを備えているIC
を製造する方法として使用されている点と、TABテー
プの代わりに多連リードフレームが使用され、しかも、
各単位リードフレームにおけるインナリードにペレット
がボンディングされているとともに、各インナリードと
ペレットとの間にワイヤがそれぞれ橋絡されている点
と、トランスファレス樹脂封止成形装置において通気
路がキャビティー内に直接的に流体連結されている点
と、ペレット72Gにおいて、外周辺部にボンディング
ワイヤ75Gのアーチの高さを逃げるための段差80が
形成されており、その段差80においてワイヤボンディ
ングが実施されている点、にある。
【0158】本実施例7においては、前記実施例1の効
果に加えて、段差80によってボンディングワイヤ75
Gのアーチの高さを逃げることができるため、その分、
樹脂封止76Gの厚さを薄く形成することができると
いう効果を得ることができる。
【0159】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0160】キャビティーの内部に予め収容される成形
材料は、シート形状に形成するに限らず、粒形状に形成
してもよいし、さらには、半流動状に形成してキャビテ
ィー内に絞り出すようにして供給してもよい。
【0161】要するに、型締め後に、液状の成形材料が
キャビティーに充填されるのではなく、型締め以前に、
非液状の成形材料がキャビティーに収容され、型締め後
に、キャビティー内に予め収容された非液状の成形材料
がキャビティー内において溶融されて液状化されること
により、キャビティー内に充満されることになる。
【0162】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である表面実
装形樹脂封止パッケージを備えたICに適用した場合に
ついて説明したが、それに限定されるものではなく、樹
脂封止型パワートランジスタや、その他の電子装置全般
に適用することができる。特に、きわめて薄形で、か
つ、多ピンであり、しかも、低価格が要求される半導体
装置に利用して優れた効果が得られる。
【0163】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0164】1) 樹脂封止は液状成形材料がキャビテ
ィー内に閉じ込められて成形されるため、成形された樹
脂封止における成形材料の密度は、トランスファ成形
法による樹脂封止における成形材料の密度と同等に高
くなる。したがって、この樹脂封止の耐湿性能や機械
的強度性能等についての信頼性は優れたものとなると
もに、樹脂封止の外形形状は、キャビティーによって
規定されるため、その外形寸法の精度は高くなる。
【0165】2) 他方、液状の成形材料がキャビティー
内にキャビティーの外部から充填されるのではなく、液
状の成形材料は、予めキャビティー内に搬入されたシー
形状の成形材料が溶融されることにより、キャビティ
ー内においてそれ自身によって充満するため、液状の成
形材料はキャビティー外において当然に移送されること
はないし、キャビティー内においても移動することは殆
どない。したがって、厚さがペレットの厚さの2倍以下
になるきわめて薄い樹脂封止体を成形する場合であって
も、キャビティー内における液状の成形材料が成形型か
ら受ける熱量が増加することはないため、液状の成形材
料の粘度が高くなることはない。
【0166】3) 前記2)により、キャビティー内におけ
る液状の成形材料は、予め設定された粘度を維持するた
め、かつ、液状の成形材料がキャビティー内において移
動することは殆どないため、接続端子部やボンディング
ワイヤが高粘度になった液状の成形材料によって変形さ
れたり、リード群に機械的に接続されたペレットが遊動
されたり、成形材料の末充填部位が発生したりすること
はない。
【0167】4) さらに、キャビティー内における液状
の成形材料は、予め設定された粘度を維持するため、液
状の成形材料の粘度が最適値に設定されることにより、
液状の成形材料が上型と下型との合わせ面の隙間からキ
ャビティーの外部へ漏洩するのを防止することができる
ため、レジンフラッシュ(樹脂ばり)が発生するのを防
止することができる。
【0168】5) また、液状の成形材料の粘度等の性
状、および、樹脂封止体成形後の成形材料の性状は、液
化する前の固形状成形材料の組成によって決定させるこ
とができるため、しかも、キャビティー内における液状
の成形材料は、予め設定された粘度を維持するため、
ート形状成形材料の組成についての設計の自由度が高ま
る。その結果、高機能を示す樹脂等を主成分として使用
することができるとともに、添加物質を自由に選定する
ことができ、成形後の樹脂封止体は耐湿性能や機械的強
度等に関する各種の性能が高められる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である半導体装置の製造方法
を示す工程図である。
【図2】その半導体装置の製造方法に使用されるTAB
テープを示す一部省略平面図である。
【図3】同じくペレットをそれぞれ示す拡大平面図およ
び拡大正面断面図である。
【図4】そのインナリードボンディング工程をそれぞれ
示す各拡大部分正面断面図である。
【図5】本発明の一実施例である成形材料シートの製造
工程を示す模式図である。
【図6】本発明の一実施例である半導体装置の製造方法
における主要部である樹脂封止成形工程を示す一部省
略分解正面断面図である。
【図7】その一部省略平面図である。
【図8】その作用を説明するための各側面断面図であ
る。
【図9】同じく拡大部分正面断面図である。
【図10】同じく拡大部分正面断面図である。
【図11】樹脂封止成形後を示す一部省略一部切断平
面図である。
【図12】その表面実装形樹脂封止パッケージICの実
装状態を示す一部省略斜視図および一部切断正面図であ
る。
【図13】本発明の実施例2である半導体装置の製造方
法における樹脂封止の成形工程を示す一部省略拡大分
解正面断面図である。
【図14】その作用を説明するための一部省略拡大正面
断面図である。
【図15】それにより製造された表面実装形樹脂封止パ
ッケージICの実装状態を示す一部省略斜視図および一
部切断正面図である。
【図16】本発明の実施例3である半導体装置の製造方
法における樹脂封止の成形工程を示す一部省略拡大分
解正面断面図である。
【図17】その一部省略平面図である。
【図18】その作用を説明するための一部省略拡大正面
断面図である。
【図19】樹脂封止成形後を示す一部省略一部切断平
面図である。
【図20】本発明の実施例4である半導体装置の製造方
法における樹脂封止の成形工程を示す一部省略拡大分
解正面断面図である。
【図21】その作用を説明するための一部省略拡大正面
断面図である。
【図22】それにより製造された2種類の表面実装形樹
脂封止パッケージICをそれぞれ示す各正面断面図であ
る。
【図23】本発明の実施例5である半導体装置の製造方
法における樹脂封止の成形工程を示す一部省略拡大分
解正面断面図である。
【図24】その作用を説明するための一部省略拡大正面
断面図である。
【図25】それに使用される多連リードフレームを示す
一部省略平面図である。
【図26】そのワイヤボンディング後を示す一部省略拡
大平面図および拡大正面断面図である。
【図27】樹脂封止の成形後を示す一部省略一部切断
面図である。
【図28】それにより製造された表面実装形樹脂封止パ
ッケージICの実装状態を示す一部切断正面図である。
【図29】本発明の実施例6である半導体装置の製造方
法における樹脂封止の成形工程を示す一部省略拡大分
解正面断面図である。
【図30】それにより製造された表面実装形樹脂封止パ
ッケージICの実装状態を示す一部切断正面図である。
【図31】本発明の実施例7である半導体装置の製造方
法における樹脂封止の成形工程を示す一部省略拡大分
解正面断面図である。
【図32】それにより製造された表面実装形樹脂封止パ
ッケージICの実装状態を示す一部切断正面図である。
【符号の説明】
1…TABテープ、2…キャリアテープ、3…送り孔、
4…サポートリング、5…ペレット収容部、6…外側空
所、7…保持部材、8…リード、9…インナリード、1
0…アウタリード、11…成形材料溜、12…ペレッ
ト、13…バンプ、14…電気配線、15…コレット、
16…ボンディング工具、17…接続端子部、18…段
差、20、20B、20C、20EA…成形材料シート
(固形状成形材料)、20A…半流動状の成形材料、
0a…第1主面、20b…第2主面、21…配合装置、
22…ストレージタンク、23…混練装置、24…半流
動状の成形材料、25…引き延ばしロール、26…シー
ト状に引き延ばされた半流動状の成形材料、27…分断
整形装置、28…半流動状の成形材料シート、29…冷
却装置、30…トランスファレス樹脂封止成形装置、
31…上型、32…下型、33…キャビティー、33a
…上型キャビティー凹部、33b…下型キャビティー凹
部、34…ヒータ、35…逃げ凹所、36a、36b…
締め代、37a、37b…型締め代、38…空間、39
a、39b…保持溝、40…シールリング、41…通気
路、42…空気溜、43…プランジャ、44…スプリン
グ、45…液状成形材料、46、46F…樹脂封止
47…空気、48…微小な隙間、49…表面実装形樹脂
封止パッケージIC(半導体装置)、51…プリント配
線基板、52…ランド、61…多連リードフレーム、6
2…単位リードフレーム、63…外枠、64…セクショ
ン枠、65…ダム部材、65a…ダム、66…リード、
67…アウタリード(アウタ部)、68…インナリー
ド、69…ワイヤボンデング部、71…絶縁シート(絶
縁層)、72…ペレット、73…電極パッド、74…ボ
ンディング層、75…ボンディングワイヤ、76、76
…樹脂封止、77…QFI・IC(半導体装置)、
78…プリント配線基板、79…ランド、80…段差。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 和也 群馬県高崎市西横手町111番地 株式会 社日立製作所 高崎工場内 (72)発明者 金子 真弓 群馬県高崎市西横手町111番地 株式会 社日立製作所 高崎工場内 (56)参考文献 特開 平4−179242(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56

Claims (17)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一主面に複数の半導体素子と複数の電極
    とが形成された半導体基板と、樹脂を主成分とするシー
    ト形状の成形材料とが、上型および下型からなる成形型
    の型締め前に成形型のキャビティー内に収容され、型締
    め後に前記シート形状の成形材料がキャビティー内で溶
    融されてキャビティー内に充満され、さらに、前記溶融
    された成形材料が固化されて成形されることを特徴とす
    る半導体装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 上型および下型からなる成形型のキャビ
    ティー内に、一主面に複数の半導体素子と複数の電極と
    が形成された半導体基板を収容して型締めし、前記半導
    体基板を封止する半導体装置の製造方法であって、前記
    半導体基板の一主面とは反対側の他の主面が前記キャビ
    ティー面に接触するように、前記半導体基板と樹脂を主
    成分とする成形材料とを前記キャビティー内に収容し、
    その後に前記成形材料がキャビティー内で溶融されてキ
    ャビティー内に充満され、さらに、前記溶融された成形
    材料が固化されて成形されることを特徴とする半導体装
    置の製造方法。
  3. 【請求項3】 複数の半導体素子と電極パッドとを有す
    る半導体基板と、半導体基板の電極パッドに電気的に接
    続された複数本のリードと、樹脂を主成分とする成形材
    料が用いられて成形型により成形され、前記半導体基板
    および各リードの一部を樹脂封止する樹脂封止体とを備
    えている半導体装置の製造方法において、前記樹脂封止
    体は、成形型のキャビティー内にシート形状の成形材料
    が型締め前に収容され、型締め以後、このシート形状の
    成形材料がキャビティー内にて液状に溶融されてキャビ
    ティー内に充満され、さらに、液状の成形材料が一体的
    に固化されて、成形されることを特徴とする半導体装置
    の製造方法。
  4. 【請求項4】 キャビティー内の空気が液状の成形材料
    張によってキャビティー内から排気されることを特
    徴とする請求項1、2または3に記載の半導体装置の製
    造方法。
  5. 【請求項5】 型締め後、キャビティーが真空排気され
    ることを特徴とする請求項1、2または3に記載の半導
    体装置の製造方法。
  6. 【請求項6】 各リードが半導体基板の電極パッドにバ
    ンプにより電気的かつ機械的に接続されることを特徴と
    する請求項3に記載の半導体装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 半導体基板はインナリード群上に機械的
    に接続され、各インナリードに半導体基板がワイヤによ
    りそれぞれ電気的に接続されることを特徴とする請求項
    3に記載の半導体装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 半導体基板の外周辺部に段差が形成さ
    れ、この段差において半導体基板と各インナリードとが
    電気的に接続されていることを特徴とする請求項6また
    は請求項7に記載の半導体装置の製造方法。
  9. 【請求項9】 半導体基板の一主面が樹脂封止体の一主
    面から露出されることを特徴とする請求項3に記載の半
    導体装置の製造方法。
  10. 【請求項10】 半導体基板がインナリード群上に機械
    的に接続されていることを特徴とする請求項3に記載の
    半導体装置の製造方法。
  11. 【請求項11】 樹脂封止体における半導体基板のリー
    ド接続領域が、固化以後の応力が小さくなる性質を示す
    成形材料が用いられて成形され、これ以外の領域が、固
    化以後、高熱伝導性能および/または高機械的強度性能
    を示す成形材料が用いられて成形されることを特徴とす
    る請求項3に記載の半導体装置の製造方法。
  12. 【請求項12】 樹脂封止体における半導体基板のリー
    ド接続領域が、溶融時の粘度が低くなる性質を示す成形
    材料が用いられて成形され、これ以外の領域が、溶融時
    の粘度が高くなる性質を示す成形材料が用いられて成形
    されることを特徴とする請求項3に記載の半導体装置の
    製造方法。
  13. 【請求項13】 充満後、溶融した成形材料のうち余分
    のものがキャビティー内から外部の成形材料溜に排出さ
    れることを特徴とする請求項1、2または3に記載の半
    導体装置の製造方法。
  14. 【請求項14】 溶融した液状の成形材料が外部に漏洩
    するのを防止するためのダムが、キャビティーの外部に
    キャビティーを取り囲むように形成されていることを特
    徴とする請求項1、2または3に記載の半導体装置の製
    造方法。
  15. 【請求項15】 請求項1、2または3に記載の半導体
    装置の製造方法に使用される成形材料であって、成形型のキャビティーの平面形状と略等しい大きさの固
    形状のシート形状に形成 されていることを特徴とする成
    形材料。
  16. 【請求項16】 樹脂を主成分とした成形材料の原材料
    が混練されて成る半流動状の成形材料が押し出されてシ
    ート形状に成形されるとともに、冷却されることにより
    固化されて形成されていることを特徴とする請求項15
    に記載の成形材料。
  17. 【請求項17】 シート形状の成形材料は、中央部が厚
    く、周辺部が薄く形成されていることを特徴とする請求
    項16に記載の成形材料。
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