JP3009345B2 - 検出範囲が外部から設定される測定器及びそれを使用した自動加工システム - Google Patents
検出範囲が外部から設定される測定器及びそれを使用した自動加工システムInfo
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- JP3009345B2 JP3009345B2 JP7209622A JP20962295A JP3009345B2 JP 3009345 B2 JP3009345 B2 JP 3009345B2 JP 7209622 A JP7209622 A JP 7209622A JP 20962295 A JP20962295 A JP 20962295A JP 3009345 B2 JP3009345 B2 JP 3009345B2
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気マイクロメー
タ等の検出部自体は広い検出範囲を有するが、電気的な
処理のために高分解能での検出を行える範囲が限られて
おり、バイアスをかける等により検出範囲を変えること
ができる測定器及びこのような測定器と工作機械を組み
合わせた自動加工システムに関する。
タ等の検出部自体は広い検出範囲を有するが、電気的な
処理のために高分解能での検出を行える範囲が限られて
おり、バイアスをかける等により検出範囲を変えること
ができる測定器及びこのような測定器と工作機械を組み
合わせた自動加工システムに関する。
【0002】
【従来の技術】検出結果を電気信号の形で出力する測定
器では、測定部の検出量を電気信号に変換して出力す
る。電気信号の強度が検出量に比例する場合には、雑音
等の問題がないとすれば電気信号を増幅することにより
微小な検出量を大きな電気信号に変えることができ、分
解能が電気信号の単位強度で決定されるとすれば分解能
が向上することになる。しかし、電気信号の変動範囲
(レンジ)は限られており、あまり増幅率を高くすると
測定部の検出範囲の一部のみが電気信号の変動範囲にな
り、それ以外の範囲については検出できないことにな
る。そこで、検出量を示す電気信号にバイアスを与えて
電気信号の変動範囲を切り換えて検出範囲を変更するこ
とが行われている。
器では、測定部の検出量を電気信号に変換して出力す
る。電気信号の強度が検出量に比例する場合には、雑音
等の問題がないとすれば電気信号を増幅することにより
微小な検出量を大きな電気信号に変えることができ、分
解能が電気信号の単位強度で決定されるとすれば分解能
が向上することになる。しかし、電気信号の変動範囲
(レンジ)は限られており、あまり増幅率を高くすると
測定部の検出範囲の一部のみが電気信号の変動範囲にな
り、それ以外の範囲については検出できないことにな
る。そこで、検出量を示す電気信号にバイアスを与えて
電気信号の変動範囲を切り換えて検出範囲を変更するこ
とが行われている。
【0003】図3は検出範囲の切り換えが行える測定器
の例を示す図であり、例として電気マイクロメータを示
した。以下、この電気マイクロメータを例として説明を
行うが、電気信号を処理する回路の変動範囲を切り換え
て検出範囲を変更する測定器であれば、どのような測定
器にも適用可能である。図3は表面粗さ計や真円度測定
器に電気マイクロメータを使用した例であり、図3にお
いて、参照番号100は測定の対象物であり、12は被
測定物の表面に接触する触針であり、13は回転自在に
保持された棒であり、一方の先端に触針12が取り付け
られており、被測定物100の表面位置に応じて触針1
2の位置が上下に変動するともう一方の先端に取り付け
られた鉄心14が変位する。鉄心は差動トランス11を
構成する2本のコイル内を変位するようになっており、
2本のコイルには差動トランス11内に設けられた発振
器11から交流信号が印加される。鉄心の変位位置に応
じて2本のコイルに誘起される電圧に差が生じるので、
その電圧の差に対応した電気信号が差動トランス11か
ら出力される。差動トランス11の出力する電気信号は
鉄心14の変位位置に比例するから、差動トランス11
の出力する電気信号を読み取れば被測定物100の表面
位置が検出できる。差動トランス11は、出力が鉄心1
4の変位位置に比例するようにコイルの巻き状態や位置
を精密に調整している。また近年は、製作した差動トラ
ンス11で触針12の位置と差動トランス11の出力の
対応関係をあらかじめ測定して記憶しておき、触針12
の位置と差動トランス11の出力が比例するように補正
することも行われている。いずれにしろ、差動トランス
11の出力は微小な電気信号であり、増幅回路によって
大幅に増幅される。
の例を示す図であり、例として電気マイクロメータを示
した。以下、この電気マイクロメータを例として説明を
行うが、電気信号を処理する回路の変動範囲を切り換え
て検出範囲を変更する測定器であれば、どのような測定
器にも適用可能である。図3は表面粗さ計や真円度測定
器に電気マイクロメータを使用した例であり、図3にお
いて、参照番号100は測定の対象物であり、12は被
測定物の表面に接触する触針であり、13は回転自在に
保持された棒であり、一方の先端に触針12が取り付け
られており、被測定物100の表面位置に応じて触針1
2の位置が上下に変動するともう一方の先端に取り付け
られた鉄心14が変位する。鉄心は差動トランス11を
構成する2本のコイル内を変位するようになっており、
2本のコイルには差動トランス11内に設けられた発振
器11から交流信号が印加される。鉄心の変位位置に応
じて2本のコイルに誘起される電圧に差が生じるので、
その電圧の差に対応した電気信号が差動トランス11か
ら出力される。差動トランス11の出力する電気信号は
鉄心14の変位位置に比例するから、差動トランス11
の出力する電気信号を読み取れば被測定物100の表面
位置が検出できる。差動トランス11は、出力が鉄心1
4の変位位置に比例するようにコイルの巻き状態や位置
を精密に調整している。また近年は、製作した差動トラ
ンス11で触針12の位置と差動トランス11の出力の
対応関係をあらかじめ測定して記憶しておき、触針12
の位置と差動トランス11の出力が比例するように補正
することも行われている。いずれにしろ、差動トランス
11の出力は微小な電気信号であり、増幅回路によって
大幅に増幅される。
【0004】参照番号21は、差動トランス11の出力
する電気信号にバイアス信号を加算する加算回路であ
り、22は加算回路21の出力を増幅する増幅器であ
り、23は増幅器22の出力するアナログ信号をディジ
タル信号に変換するA/D変換器であり、25は加算回
路21へバイアス信号を供給するバイアス設定回路であ
る。バイアス設定回路25では、使用者がバイアス信号
の強度を設定でき、設定された強度のバイアス信号が出
力されるようになっている。増幅器22の出力は、その
ままアナログ信号として出力されることも、A/D変換
器23からディジタル信号として出力されることもあ
る。通常、加算回路21は増幅回路の機能を兼ね備えて
いるが、ここでは説明を簡単にするため、加算回路21
は単に信号を加算するだけで、増幅は行わないとして説
明する。
する電気信号にバイアス信号を加算する加算回路であ
り、22は加算回路21の出力を増幅する増幅器であ
り、23は増幅器22の出力するアナログ信号をディジ
タル信号に変換するA/D変換器であり、25は加算回
路21へバイアス信号を供給するバイアス設定回路であ
る。バイアス設定回路25では、使用者がバイアス信号
の強度を設定でき、設定された強度のバイアス信号が出
力されるようになっている。増幅器22の出力は、その
ままアナログ信号として出力されることも、A/D変換
器23からディジタル信号として出力されることもあ
る。通常、加算回路21は増幅回路の機能を兼ね備えて
いるが、ここでは説明を簡単にするため、加算回路21
は単に信号を加算するだけで、増幅は行わないとして説
明する。
【0005】例えば、差動トランス11は触針12の1
0mmの変位範囲について変位量と比例する電気信号を
出力できるとする。増幅器22の出力範囲は0Vから+
10Vの10Vであるとすると、0mmと10mmの変
位がそれぞれ0Vと+10Vになるように増幅したとす
ると、10μmの変位は10mVの出力に相当すること
になる。ここで、出力信号の読み取れる範囲を10mV
程度とすると、この場合の分解能は約10μmとなる。
このような分解能が問題になるのは、アナログ信号をデ
ィジタル信号に変換するA/D変換器23を使用する場
合で、例えば、10ビットのA/D変換器23を使用す
るとすると、1024段階に分解することが可能で、1
段階は約10μmになる。ここで、差動トランス11の
出力は2μmまでの変位に対して精度を有するとした場
合、この精度で読み取るには、増幅器の増幅率を更に5
倍に高める必要がある。例えば、0mmと2mmの変位
がそれぞれ0Vと+10Vになるように増幅したとする
と、2μmの変位は10mVの出力に相当することにな
り、分解能は約2μmになる。しかし、この場合の電気
信号の出力範囲及びA/D変換器23の変換範囲は、フ
ルレンジでも0mmと2mmの変位範囲であり、それ以
外の2mmから10mmの範囲については測定できない
ことになる。このように、分解能を高めると検出範囲が
縮小されることになる。
0mmの変位範囲について変位量と比例する電気信号を
出力できるとする。増幅器22の出力範囲は0Vから+
10Vの10Vであるとすると、0mmと10mmの変
位がそれぞれ0Vと+10Vになるように増幅したとす
ると、10μmの変位は10mVの出力に相当すること
になる。ここで、出力信号の読み取れる範囲を10mV
程度とすると、この場合の分解能は約10μmとなる。
このような分解能が問題になるのは、アナログ信号をデ
ィジタル信号に変換するA/D変換器23を使用する場
合で、例えば、10ビットのA/D変換器23を使用す
るとすると、1024段階に分解することが可能で、1
段階は約10μmになる。ここで、差動トランス11の
出力は2μmまでの変位に対して精度を有するとした場
合、この精度で読み取るには、増幅器の増幅率を更に5
倍に高める必要がある。例えば、0mmと2mmの変位
がそれぞれ0Vと+10Vになるように増幅したとする
と、2μmの変位は10mVの出力に相当することにな
り、分解能は約2μmになる。しかし、この場合の電気
信号の出力範囲及びA/D変換器23の変換範囲は、フ
ルレンジでも0mmと2mmの変位範囲であり、それ以
外の2mmから10mmの範囲については測定できない
ことになる。このように、分解能を高めると検出範囲が
縮小されることになる。
【0006】しかし、広い範囲に亘って高分解能で測定
することが要望される場合もあり、そのような場合に
は、図3のバイアス設定回路25の設定値を切り換えて
加算回路21に供給するバイアス値を変化させる。例え
ば、0mmと2mmの変位に対して差動トランス11が
出力する信号が0mVから20mVである場合には、バ
イアスを0Vとして加算回路21から0mVから20m
Vが出力されるようにする。これを増幅回路22で50
0倍に増幅し、0Vから10Vの信号にしてA/D変換
器23に出力する。2mmと4mmの変位を測定する場
合には、差動トランス11が出力する信号は20mVか
ら40mVになるので、バイアス設定回路25の出力を
−20mVとして、加算回路21の出力を0mVから2
0mVとして、増幅回路22で500倍に増幅する。こ
れにより、2mmと4mmの変位に対しても、0Vから
10Vの信号になり、A/D変換器23で同様の分解能
の信号が得られる。以下、他の変位範囲についても同様
である。図3の回路では、バイアス設定回路25の出力
するバイアス値の誤差に応じて各検出範囲での測定結果
がシフトすることになるため、検出範囲を変更する場合
には基準となるマスタを測定して、検出範囲間で誤差が
ないようにしている。
することが要望される場合もあり、そのような場合に
は、図3のバイアス設定回路25の設定値を切り換えて
加算回路21に供給するバイアス値を変化させる。例え
ば、0mmと2mmの変位に対して差動トランス11が
出力する信号が0mVから20mVである場合には、バ
イアスを0Vとして加算回路21から0mVから20m
Vが出力されるようにする。これを増幅回路22で50
0倍に増幅し、0Vから10Vの信号にしてA/D変換
器23に出力する。2mmと4mmの変位を測定する場
合には、差動トランス11が出力する信号は20mVか
ら40mVになるので、バイアス設定回路25の出力を
−20mVとして、加算回路21の出力を0mVから2
0mVとして、増幅回路22で500倍に増幅する。こ
れにより、2mmと4mmの変位に対しても、0Vから
10Vの信号になり、A/D変換器23で同様の分解能
の信号が得られる。以下、他の変位範囲についても同様
である。図3の回路では、バイアス設定回路25の出力
するバイアス値の誤差に応じて各検出範囲での測定結果
がシフトすることになるため、検出範囲を変更する場合
には基準となるマスタを測定して、検出範囲間で誤差が
ないようにしている。
【0007】上記のようにマスタを測定して検出範囲間
で誤差を測定し、使用者自身が補正することもあるが、
そのような作業は煩わしいという問題がある。そこで、
検出範囲を変更するためにマスタを測定すると、その測
定結果からバイアス値を算出して保持し、自動的に検出
範囲切り換えに伴う誤差を補正するようにした測定器が
ある。図4は図3の測定器にそのような機能を設けた例
である。
で誤差を測定し、使用者自身が補正することもあるが、
そのような作業は煩わしいという問題がある。そこで、
検出範囲を変更するためにマスタを測定すると、その測
定結果からバイアス値を算出して保持し、自動的に検出
範囲切り換えに伴う誤差を補正するようにした測定器が
ある。図4は図3の測定器にそのような機能を設けた例
である。
【0008】図4の例においては、図3の構成からバイ
アス設定部制御25を除き、D/A変換器32とサイズ
値メモリ33と設定制御部34とを設けた点が異なる。
サイズ値メモリ33はバイアスのディジタル値を記憶す
るメモリであり、D/A変換器32はサイズ値メモリ3
3に記憶されたディジタル値をアナログ信号に変換して
加算回路21に出力する。従って、このサイズ値メモリ
33に記憶されたディジタル値をアナログ信号に変換し
た信号がバイアス信号に相当する。バイアス設定部制御
34は、被測定物100としてマスタがセットされた状
態で入力されるマスタセット信号に従って、マスタに応
じたバイアスを設定するための動作を制御する部分であ
り、例えば、増幅器22の増幅率を変えてマスタに適し
た検出範囲を検出し、サイズ値メモリ33の値を適当に
設定してマスタが所定値、例えばゼロになるように設定
する。これにより、マスタをセットする毎にマスタに適
した検出範囲にするためのバイアス値が自動的に設定さ
れる。
アス設定部制御25を除き、D/A変換器32とサイズ
値メモリ33と設定制御部34とを設けた点が異なる。
サイズ値メモリ33はバイアスのディジタル値を記憶す
るメモリであり、D/A変換器32はサイズ値メモリ3
3に記憶されたディジタル値をアナログ信号に変換して
加算回路21に出力する。従って、このサイズ値メモリ
33に記憶されたディジタル値をアナログ信号に変換し
た信号がバイアス信号に相当する。バイアス設定部制御
34は、被測定物100としてマスタがセットされた状
態で入力されるマスタセット信号に従って、マスタに応
じたバイアスを設定するための動作を制御する部分であ
り、例えば、増幅器22の増幅率を変えてマスタに適し
た検出範囲を検出し、サイズ値メモリ33の値を適当に
設定してマスタが所定値、例えばゼロになるように設定
する。これにより、マスタをセットする毎にマスタに適
した検出範囲にするためのバイアス値が自動的に設定さ
れる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記のような測定器、
例えば電気マイクロメータを工作機械と組み合わせて、
加工中又は加工後に被加工物(ワーク)の寸法を測定
し、正確な加工を自動的に行えるようにしたシステムが
ある。図5はそのようなシステムの従来例の構成を示す
図である。
例えば電気マイクロメータを工作機械と組み合わせて、
加工中又は加工後に被加工物(ワーク)の寸法を測定
し、正確な加工を自動的に行えるようにしたシステムが
ある。図5はそのようなシステムの従来例の構成を示す
図である。
【0010】図5に示すように、測定器1は、差動トラ
ンス11と、加算回路21と、増幅器22と、A/D変
換器23と、D/A変換器32と、サイズ値メモリ33
と、サイズ値設定制御部34と、キー入力部35とを備
えている。工作機械2は、測定器1からの測定値を受け
取り加工動作を制御する制御部3を有している。参照番
号100はワークである。
ンス11と、加算回路21と、増幅器22と、A/D変
換器23と、D/A変換器32と、サイズ値メモリ33
と、サイズ値設定制御部34と、キー入力部35とを備
えている。工作機械2は、測定器1からの測定値を受け
取り加工動作を制御する制御部3を有している。参照番
号100はワークである。
【0011】図5のシステムにおいて、図4に示す構成
の測定器を使用することも可能であるが、そのような測
定器を使用すると加工対象物を変更するたびにマスタを
セットしてマスタセット信号を入力し、サイズ値メモリ
にバイアス値を記憶させる必要があり、操作が煩雑で自
動化が難しいという問題があった。そこで、図5のシス
テムでは、キー入力部35からの操作で、図4で説明し
たマスタに適したバイアス値の設定を複数のマスタにつ
いて行い、サイズ値メモリ33が複数のバイアス値を記
憶できるようにしている。又は、1つのマスタについて
バイアス値を記憶させ、キー入力部35からの操作で寸
法差を入力することにより、複数のバイアス値を記憶さ
せている。工作機械2では、加工する条件に応じてそれ
に適したマスタが判明するので、制御部3がバイアス値
のうちから1つを選択する信号をサイズ値メモリ33に
出力し、サイズ値メモリ33は指定されたバイアス値を
D/A変換器32に出力する。これが加算回路21で差
動トランス11の出力に加えられて検出範囲の変更が行
われる。
の測定器を使用することも可能であるが、そのような測
定器を使用すると加工対象物を変更するたびにマスタを
セットしてマスタセット信号を入力し、サイズ値メモリ
にバイアス値を記憶させる必要があり、操作が煩雑で自
動化が難しいという問題があった。そこで、図5のシス
テムでは、キー入力部35からの操作で、図4で説明し
たマスタに適したバイアス値の設定を複数のマスタにつ
いて行い、サイズ値メモリ33が複数のバイアス値を記
憶できるようにしている。又は、1つのマスタについて
バイアス値を記憶させ、キー入力部35からの操作で寸
法差を入力することにより、複数のバイアス値を記憶さ
せている。工作機械2では、加工する条件に応じてそれ
に適したマスタが判明するので、制御部3がバイアス値
のうちから1つを選択する信号をサイズ値メモリ33に
出力し、サイズ値メモリ33は指定されたバイアス値を
D/A変換器32に出力する。これが加算回路21で差
動トランス11の出力に加えられて検出範囲の変更が行
われる。
【0012】しかし、図5のシステムで記憶できるバイ
アス値は、サイズ値メモリ33に記憶できる分だけであ
り、あまり多くのバイアス値は記憶できないため、多種
類の寸法があり得るワークの測定は行えなかった。ま
た、バイアス値を記憶させるには複数のマスタを実際に
セットしてバイアス値を記憶させるか、キー操作でバイ
アス値を設定する必要があり、多種類のバイアス値を記
憶させるのは煩雑な作業であった。
アス値は、サイズ値メモリ33に記憶できる分だけであ
り、あまり多くのバイアス値は記憶できないため、多種
類の寸法があり得るワークの測定は行えなかった。ま
た、バイアス値を記憶させるには複数のマスタを実際に
セットしてバイアス値を記憶させるか、キー操作でバイ
アス値を設定する必要があり、多種類のバイアス値を記
憶させるのは煩雑な作業であった。
【0013】本発明は上記の問題点に解決するためにな
されたものであり、工作機械側では加工するワークの加
工情報に応じてそれに適したバイアス値を算出できるこ
とに着目して、より簡単な作業で多種類の寸法範囲に対
して高分解能で測定を行える測定器及びそれを使用する
自動加工システムの実現を目的とする。
されたものであり、工作機械側では加工するワークの加
工情報に応じてそれに適したバイアス値を算出できるこ
とに着目して、より簡単な作業で多種類の寸法範囲に対
して高分解能で測定を行える測定器及びそれを使用する
自動加工システムの実現を目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】図1は、本発明の基本構
成を示す図である。参照番号1は本発明の測定器であ
り、2は測定器1と組み合わされて自動加工システムを
構成する工作機械である。上記目的を達成するため、本
発明の測定器1は、対象物の物理量を広い範囲に亘って
検出可能な測定部10と、測定部10の検出結果を高感
度で出力可能である範囲は検出可能な範囲より狭い小範
囲であり、検出可能な範囲における小範囲の位置を変更
する検出範囲変更部20と、検出範囲変更部20での検
出範囲の変更値を外部から受け、検出範囲変更部20に
出力する範囲変更値保持部30とを備えることを特徴と
する。
成を示す図である。参照番号1は本発明の測定器であ
り、2は測定器1と組み合わされて自動加工システムを
構成する工作機械である。上記目的を達成するため、本
発明の測定器1は、対象物の物理量を広い範囲に亘って
検出可能な測定部10と、測定部10の検出結果を高感
度で出力可能である範囲は検出可能な範囲より狭い小範
囲であり、検出可能な範囲における小範囲の位置を変更
する検出範囲変更部20と、検出範囲変更部20での検
出範囲の変更値を外部から受け、検出範囲変更部20に
出力する範囲変更値保持部30とを備えることを特徴と
する。
【0015】また、本発明の自動加工システムは、上記
のような測定器1と工作機械2とを備え、加工中の被加
工物の状態を測定器1で測定しながら前記被加工物が所
定状態になるように加工する自動加工システムであっ
て、工作機械2は、被加工物の種類が変更になる時に
は、測定器1の検出範囲が加工する被加工物に適合する
ように、測定器1に検出範囲の変更値を出力することを
特徴とする。
のような測定器1と工作機械2とを備え、加工中の被加
工物の状態を測定器1で測定しながら前記被加工物が所
定状態になるように加工する自動加工システムであっ
て、工作機械2は、被加工物の種類が変更になる時に
は、測定器1の検出範囲が加工する被加工物に適合する
ように、測定器1に検出範囲の変更値を出力することを
特徴とする。
【0016】本発明の自動加工システムでは、測定器1
は工作機械2から検出範囲の変更値を受け、その値に基
づいて検出範囲の変更を行う。従って、図5に示したシ
ステムのように、複数のバイアス値を記憶しておく必要
はなく、どのようなバイアス値を設定することも可能で
ある。工作機械2はワークを加工するための情報を有し
ているわけで、その情報から加工中又は加工後のワーク
の測定に適したバイアス値を算出することができるの
で、その値を範囲電光値保持部30に記憶させれば、加
工中又は加工後のワークに適した検出範囲で測定を行う
ことが可能になる。
は工作機械2から検出範囲の変更値を受け、その値に基
づいて検出範囲の変更を行う。従って、図5に示したシ
ステムのように、複数のバイアス値を記憶しておく必要
はなく、どのようなバイアス値を設定することも可能で
ある。工作機械2はワークを加工するための情報を有し
ているわけで、その情報から加工中又は加工後のワーク
の測定に適したバイアス値を算出することができるの
で、その値を範囲電光値保持部30に記憶させれば、加
工中又は加工後のワークに適した検出範囲で測定を行う
ことが可能になる。
【0017】
【発明の実施の形態】図2は、本発明を図5に示したの
と同様の自動加工システムに適用した実施例の構成を示
す図である。図示のように、測定器1は、差動トランス
11と、加算回路21と、増幅器22と、A/D変換器
23と、D/A変換器32と、サイズ値レジスタ31
と、入出力ポート41とを備えている。工作機械2は、
測定器1からの測定値を受け取り加工動作を制御する制
御部3を有している。参照番号100はワークである。
と同様の自動加工システムに適用した実施例の構成を示
す図である。図示のように、測定器1は、差動トランス
11と、加算回路21と、増幅器22と、A/D変換器
23と、D/A変換器32と、サイズ値レジスタ31
と、入出力ポート41とを備えている。工作機械2は、
測定器1からの測定値を受け取り加工動作を制御する制
御部3を有している。参照番号100はワークである。
【0018】サイズ値レジスタ31と入出力ポート41
以外の部分は、これまで説明した従来例と同じであり、
ここでは説明を省略する。制御部3は、工作機械2で加
工するワークに応じてそれに適した測定器でのバイアス
値を算出し、その値を入出力ポート41を介してサイズ
値レジスタ31に書き込む。サイズ値レジスタ31は書
き込まれた値をD/A変換器32に出力し、D/A変換
器32はそれをアナログ信号に変換し、加算回路21に
バイアス値として供給する。これにより、加工するワー
ク100に適した信号の出力範囲が設定され、高分解能
での測定が行えるようになる。このような動作をワーク
100の種類が変更になり、検出範囲を変更する必要が
あるたびに行う。
以外の部分は、これまで説明した従来例と同じであり、
ここでは説明を省略する。制御部3は、工作機械2で加
工するワークに応じてそれに適した測定器でのバイアス
値を算出し、その値を入出力ポート41を介してサイズ
値レジスタ31に書き込む。サイズ値レジスタ31は書
き込まれた値をD/A変換器32に出力し、D/A変換
器32はそれをアナログ信号に変換し、加算回路21に
バイアス値として供給する。これにより、加工するワー
ク100に適した信号の出力範囲が設定され、高分解能
での測定が行えるようになる。このような動作をワーク
100の種類が変更になり、検出範囲を変更する必要が
あるたびに行う。
【0019】上記のように、バイアス値を変更して検出
範囲を変更すると、実際には測定値が連続せずにオフセ
ットを生じる。本実施例では、測定器1で複数のマスタ
を測定してバイアス値の変更によるオフセットを数点に
ついてあらかじめ測定して測定器の出力のオフセットを
補正する機能を制御部に設けてあり、設定したバイアス
値に応じて、A/D変換器23から受ける測定器1の出
力を補正している。
範囲を変更すると、実際には測定値が連続せずにオフセ
ットを生じる。本実施例では、測定器1で複数のマスタ
を測定してバイアス値の変更によるオフセットを数点に
ついてあらかじめ測定して測定器の出力のオフセットを
補正する機能を制御部に設けてあり、設定したバイアス
値に応じて、A/D変換器23から受ける測定器1の出
力を補正している。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定器の検出範囲であれば、どのような検出値であって
も高精度の測定が行える。
測定器の検出範囲であれば、どのような検出値であって
も高精度の測定が行える。
【図1】本発明の基本構成図である。
【図2】本発明の実施例の自動加工システムの構成を示
す図である。
す図である。
【図3】検出範囲の切り換え可能な測定器(電気マイク
ロメータ)の従来の構成を示す図である。
ロメータ)の従来の構成を示す図である。
【図4】マスタをセットしてバイアス値を設定する従来
の測定器の構成を示す図である。
の測定器の構成を示す図である。
【図5】キー入力で設定したバイアス値を工作機械側か
ら選択する従来の自動可能システムの構成を示す図であ
る。
ら選択する従来の自動可能システムの構成を示す図であ
る。
1…測定器 2…工作機械 3…制御部 10…測定部 20…検出範囲変更部 30…範囲変更値保持部
Claims (4)
- 【請求項1】 対象物の物理量を広い範囲に亘って検出
可能な測定部(10)と、 該測定部(10)の検出結果を高感度で出力可能である
範囲は前記検出可能な範囲より狭い小範囲であり、前記
検出可能な範囲における前記小範囲の位置を変更する検
出範囲変更部(20)と、 該検出範囲変更部(20)での検出範囲の変更値を外部
から受け、前記検出範囲変更部(20)に出力する範囲
変更値保持部(30)とを備えることを特徴とする検出
範囲が外部から設定される測定器。 - 【請求項2】 前記検出範囲変更部(20)は、前記範
囲変更値保持部(30)の出力するディジタル信号をア
ナログ信号に変換するディジタル/アナログ変換器(3
2)と、前記測定部(10)の出力に前記ディジタル/
アナログ変換器(32)の出力を加算する加算回路(2
1)とを備える請求項1に記載の測定器。 - 【請求項3】 前記検出範囲変更部(20)の出力をデ
ィジタル信号に変換するアナログ/ディジタル変換器
(23)を備える請求項1又は2に記載の測定器。 - 【請求項4】 請求項1に記載の測定器(1)と工作機
械(2)とを備え、加工中の被加工物の状態を前記測定
器(1)で測定しながら前記被加工物が所定状態になる
ように加工する自動加工システムであって、 前記工作機械(2)は、被加工物が種類が変更になる時
には、前記測定器(1)の検出範囲が加工する被加工物
に適合するように、前記測定器(1)に前記検出範囲の
変更値を出力することを特徴とする自動加工システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7209622A JP3009345B2 (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | 検出範囲が外部から設定される測定器及びそれを使用した自動加工システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7209622A JP3009345B2 (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | 検出範囲が外部から設定される測定器及びそれを使用した自動加工システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0953906A JPH0953906A (ja) | 1997-02-25 |
JP3009345B2 true JP3009345B2 (ja) | 2000-02-14 |
Family
ID=16575850
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7209622A Expired - Fee Related JP3009345B2 (ja) | 1995-08-17 | 1995-08-17 | 検出範囲が外部から設定される測定器及びそれを使用した自動加工システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3009345B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4708810B2 (ja) * | 2005-02-23 | 2011-06-22 | 株式会社東海理化電機製作所 | 回転角度検出装置 |
-
1995
- 1995-08-17 JP JP7209622A patent/JP3009345B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0953906A (ja) | 1997-02-25 |
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