JP2993273B2

JP2993273B2 - 光磁気ヘッド装置

Info

Publication number: JP2993273B2
Application number: JP4117840A
Authority: JP
Inventors: 龍一片山
Original assignee: Nippon Electric Co Ltd
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1992-05-12
Filing date: 1992-05-12
Publication date: 1999-12-20
Anticipated expiration: 2014-12-20
Also published as: JPH05314564A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスクに情報
の記録，再生，あるいは消去を行うための光磁気ヘッド
装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光磁気ヘッド装置の小型，低価格
化を目的として、誤差信号検出や情報信号検出に回折素
子を用いた構成が提案されている。

【０００３】図７に回折素子を用いた従来の光磁気ヘッ
ド装置の構成例を示す（例えば特開平３−２９１３７号
公報参照）。この従来の光磁気ヘッド装置では、光源の
半導体レーザ１からの出射光はコリメータレンズ２で平
行光に変換され、ビームスプリッタ３を透過したのち、
対物レンズ４により、光磁気記録媒体であるディスク５
上に集光される。ディスク５からの反射光は、対物レン
ズ４で再び平行光に変換されたのち、ビームスプリッタ
３で反射され、集光光学系外に分離される。この光は、
レンズ６で収束光に変換されたのち、回折素子である偏
光性ホログラム７に入射する。偏光性ホログラム７から
の透過光（０次光）および±１次回折光は、共通の光検
出器８で受光される。

【０００４】偏光性ホログラム７は、図８に示すよう
に、格子方向の異なる４つの領域９〜１２に分割されて
いる。また、基坂の光学軸１３の方向は、入射光の偏向
方向に対し約４５°に設定されている。

【０００５】図９に偏光性ホログラム７の断面形状を示
す。複屈折性を有するニオブ酸リチウム基坂１４上に、
プロトン交換領域１５および位相補償膜１６から成る二
層の回折格子が形成されている。位相補償膜１６として
は、例えばＮｂ₂Ｏ₅が用いられる。回折格子のライン
部とスペース部の位相差は、光学軸１３に垂直な偏光成
分（常光）に対しては０、光学軸１３に平行な偏光成分
（異常光）に対してはπに設定されている。従って、入
射光の常光成分は回折されずに全て透過し、異常光成分
は透過せずに全て回折される。

【０００６】図１０に光検出器８の構成と、光検出器８
上の光スポット１７〜２５の配置を示す。この図はディ
スク５が対物レンズ４の焦点に正しく位置している場合
を示している。光検出器８は、８つの受光部２６〜３３
に分かれている。光スポット１７は偏光性ホログラム７
の０次光（常光成分）であり、受光部２６で受光され
る。光スポット１８〜２１は、偏光性ホログラム７の＋
１次回折光（異常光成分）であり、領域９〜１２での回
折光がそれぞれ光スポット１８，１９，２０，２１に対
応している。光スポット１８は受光部２７，２８の分割
線上、光スポット１９は受光部２９，３０の分割線上に
それぞれ集光される。また、光スポット２０は受光部３
１、光スポット２１は受光部３２でそれぞれ受光され
る。光スポット２２〜２５は、偏光性ホログラム７の−
１次回折光（異常光成分）であり、領域９〜１２での回
折光がそれぞれ光スポット２２，２３，２５，２４に対
応している。４つの光スポットは全て受光部３３で受光
される。

【０００７】受光部２６〜３３からの出力をそれぞれＶ
（２６）〜Ｖ（３３）で表すと、フォーカス誤差信号は
フーコー法の原理により、（Ｖ（２７）＋Ｖ（３０））
−（Ｖ（２８）＋Ｖ（２９））から得ることができる。
また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原理によ
り、Ｖ（３１）−Ｖ（３２）から得ることができる。一
方、情報信号は差動検出法の原理により、０次光と±１
次回折光の差であるＶ（２６）−（Ｖ（２７）＋Ｖ（２
８）＋Ｖ（２９）＋Ｖ（３０）＋Ｖ（３１）＋Ｖ（３
２）＋Ｖ（３３））、または０次光と−１次回折光の差
であるＶ（２６）−Ｖ（３３）から得ることができる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】偏光性ホログラム７に
おける常光成分の透過率は理論的に１００％、異常光成
分の±１次回折効率は理論的にそれぞれ４０．５％であ
る。一方、差動検出法において、半導体レーザの強度変
動やディスクの反射率変動に起因する同相ノイズを抑圧
するには、情報信号検出に用いる常光成分と異常光成分
の光量がほぼ等しい必要がある。

【０００９】情報信号を０次光と±１次回折光の差から
得る方式では、常光成分と異常光成分の光量比は１０
０：８１とややアンバランスになるが、同相ノイズはか
なり抑圧できる。しかしこの方式では、＋１次回折比を
誤差信号検出と情報信号検出の両方に用いるため、二種
類の信号を電気回路上で分離する必要があり、電気回路
の構成が複雑になる。

【００１０】情報信号を０次光と−１次回折光の差から
得る方式では、誤差信号検出と情報信号検出に別々の光
を用いるため、二種類の信号を電気回路上で分離する必
要はない。しかしこの方式では、常光成分と異常光成分
の光量光は１００：４０．５とかなりアンバランスにな
り、このままでは同相ノイズを十分に抑圧できない。偏
光性ホログラム７の光学軸１３の方向と入射光の偏光方
向がなす角度を４５°からずらすことにより光量比を
１：１にすることは可能であるが、それに伴って今度は
キャリアレベルが低下するため、いずれにしても結果と
して再生Ｃ／Ｎの低下が生じる。

【００１１】このように、従来の光磁気ヘッド装置に
は、電気回路の構成が簡単であり、かつ再生Ｃ／Ｎの低
下が生じないという二つの条件を同時に満たすことがで
きないという問題がある。

【００１２】本発明の目的は、このような従来の問題を
解決し、二つの条件を同時に満たすことが可能な光磁気
ヘッド装置を提供することにある。

【００１３】

【課題を解決するための手段】第１の発明は、光源と、
この光源からの出射光を光磁気記録媒体上に集光する集
光光学系と、前記光磁気記録媒体からの反射光を前記集
光光学系外に分離する分離手段と、前記分離手段により
分離された光を回折する回折素子と、この回折素子から
の透過光および回折光を受光する光検出器を少なくとも
有する光磁気ヘッド装置において、前記回折素子は、複
屈折性を有する基坂上に、入射光のうち特定の偏光成分
のみを主に回折する回折格子が形成された第一の回折素
子と、複屈折性を有する基坂上に、入射光のうち前記偏
光成分と直交する偏光成分のみを主に回折する回折格子
が形成された第二の回折格子との二枚で構成されてお
り、前記第一の回折素子の透過光のうち前記第二の回折
素子の＋１次回折光から誤差信号を検出し、前記第一の
回折素子の透過光のうち前記第二の回折素子の透過光お
よび−１次回折光と、前記第一の回折素子の±１次回折
光のうち前記第二の回折素子の透過光から情報信号を検
出することを特徴とする。

【００１４】第２の発明は、光源と、この光源からの出
射光を光磁気記録媒体上に集光する集光光学系と、前記
光磁気記録媒体からの反射光を前記集光光学系外に分離
する分離手段と、前記分離手段により分離された光を回
折する回折素子と、この回折素子からの透過光および回
折光を受光する光検出器を少なくとも有する光磁気ヘッ
ド装置において、前記回折素子は、複屈折性を有する基
坂の一方の面に、入射光のうち特定の偏光成分のみを主
に回折する第一の回折格子が形成されており、前記基坂
の他方の面に、入射光のうち前記偏光成分と直交する偏
光成分のみを主に回折する第二の回折格子が形成されて
いる構成であり、前記第一の回折素子の透過光のうち前
記第二の回折素子の＋１次回折光から誤差信号を検出
し、前記第一の回折素子の透過光のうち前記第二の回折
素子の透過光および−１次回折光と、前記第一の回折素
子の±１次回折光のうち前記第二の回折素子の透過光か
ら情報信号を検出することを特徴とする。

【００１５】

【作用】本発明の光磁気ヘッド装置においては、光磁気
記録媒体からの反射光は、入射光のうち特定の偏光成分
のみを主に回折する第一の回折格子により０次光（常光
成分）および±１次回折光（異常光成分）の３つに分離
され、第一の回折格子の０次光は、入射光のうち前記偏
光成分と直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回
折格子により、さらに０次光および±１次回折光の３つ
に分離される。誤差信号は、例えば第一の回折格子の０
次光のうち、第二の回折格子で分離された一部の光を用
いて検出する。一方、情報信号は、例えば第一の回折格
子の０次光のうち、第二の回折格子で分離された残りの
光と、第一の回折格子の±１次回折光との差から検出す
る。

【００１６】このような構成によれば、誤差信号と情報
信号を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構
成が簡単になる。また、情報信号検出に用いる常光成分
と異常光成分の光量がほぼ等しくなるように第二の回折
格子の回折効率を設定することにより、キャリアレベル
の低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生Ｃ
／Ｎの低下も生じない。

【００１７】

【実施例】以下に図面を参照して本発明の実施例につき
説明する。

【００１８】図１に、第１の発明の光磁気ヘッド装置の
実施例の構成を示す。ディスク５からの反射光がレンズ
６で収束光に変換されるまでの構成は図７に示す従来例
と同じであるので、説明は省略する。レンズ６で収束光
に変換された光は、入射光のうち特定の偏光成分のみを
主に回折する第一の回折素子である偏光性単純格子３４
に入射し、０次光および±１次回折光に分離される。偏
光性単純格子３４の０次光は、入射光のうち前記偏光成
分と直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回折素
子である偏光性ホログラム３５に入射し、さらに０次光
および±１次回折光に分離される。一方、偏光性単純格
子４５の±１次回折光は、偏光性ホログラム３５に入射
し、回折されずに全て透過する。これらの光は、共通の
光検出器３６で受光される。

【００１９】偏光性単純格子３４は、図２に示すよう
に、全面が単一の領域で構成されている。また、基坂の
光学軸１３の方向は、入射光の偏光方向に対し約４５°
に設定されている。

【００２０】偏光性単純格子３４の断面形状は図９に示
す従来例と同じであり、複屈折性を有するニオブ酸リチ
ウム基坂１４上に、プロトン交換領域１５および位相補
償膜１６から成る二層の回折格子が形成されている。位
相補償膜１６としては、例えばＮｂ₂Ｏ₅が用いられ
る。回折格子のライン部とスペース部の位相差は、光学
軸１３に垂直な偏光成分（常光）に対しては０、光学軸
１３に平行な偏光成分（異常光）に対してはπに設定さ
れている。従って、入射光の常光成分は回折されずに全
て透過し、異常光成分は透過せずに全て回折される。

【００２１】偏光性ホログラム３５は、図３に示すよう
に、格子方向の異なる４つの領域９〜１２に分割されて
いる。（ａ）は図８に示す従来の偏光性ホログラム７と
同様に、全体が領域９，１０に二分割され、これに目玉
状の領域１１，１２が付加された構成であり、（ｂ）は
全体が２本の対角線で均等に領域９〜１２に四分割され
た構成である。また、基坂の光学軸３７の方向は、図２
に示す偏光性単純格子３４の基坂の光学軸１３の方向と
直交しており、入射光の偏光方向に対し約−４５°に設
定されている。

【００２２】偏光性ホログラム３５の断面形状は図９に
示す従来例と同じであり、複屈折性を有するニオブ酸リ
チウム基坂１４上に、プロトン交換領域１５および位相
補償膜１６から成る二層の回折格子が形成されている。
位相補償膜１６としては、例えばＮｂ₂Ｏ₅が用いられ
る。回折格子のライン部とスペース部の位相差は、光学
軸３７に垂直な偏光成分（常光）に対しては０、光学軸
３７に平行な偏光成分（異常光）に対しては０とπの間
に設定されている。従って、入射光の常光成分は回折さ
れずに全て透過し、異常光成分は位相差から決まる回折
効率に従って透過光と回折光に分離される。

【００２３】図４に光検出器３６の構成と、光検出器３
６上の光スポット３８〜４８の配置を示す。この図はデ
ィスク５が対物レンズ４の焦点に正しく位置している場
合を示している。光検出器３６は、１０個の受光部４９
〜５８に分かれている。

【００２４】光スポット３８は、偏光性単純格子３４の
０次光（常光成分）かつ偏光性ホログラム３５の０次光
（異常光成分）であり、受光部４９で受光される。光ス
ポット３９〜４２は、偏光性単純格子３４の０次光（常
光成分）かつ偏光性ホログラム３５の＋１次回折光（異
常光成分）であり、領域９〜１２での回折光がそれぞれ
光スポット３９，４０，４１，４２に対応している。光
スポット３９は受光部５０，５１の分割線上、光スポッ
ト４０は受光部５２，５３の分割線上にそれぞれ集光さ
れる。また、光スポット４１は受光部５４、光スポット
４２は受光部５５でそれぞれ受光される。光スポット４
３〜４６は、偏光性単純格子３４の０次光（常光成分）
かつ偏光性ホログラム３５の−１次回折光（異常光成
分）であり、領域９〜１２での回折光がそれぞれ光スポ
ット４３，４４，４６，４５に対応している。４つの光
スポットは全て受光部５６で受光される。

【００２５】光スポット４７は、偏光性単純格子３４の
＋１次回折光（異常光成分）かつ偏光性ホログラム３５
の０次光（常光成分）であり、受光部５７で受光され
る。光スポット４８は、偏光性単純格子３４の−１次回
折光（異常光成分）かつ偏光性ホログラム３５の０次光
（常光成分）であり、受光部５８で受光される。

【００２６】受光部４９〜５８からの出力をそれぞれＶ
（４９）〜Ｖ（５８）で表すと、フォーカス誤差信号は
フーコー法の原理により、（Ｖ（５０）＋Ｖ（５３））
−（Ｖ（５１）＋Ｖ（５２））から得ることができる。
また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原理によ
り、Ｖ（５４）−Ｖ（５５）から得ることができる。一
方、情報信号は差動検出法の原理により、偏光性単純格
子３４の０次光のうち偏光性ホログラム３５の０次光と
−１次回折光を足したものと、偏光性単純格子３４の±
１次回折光でありかつ偏光性ホログラム３５の０次光と
の差である（Ｖ（４９）＋Ｖ（５６））−（Ｖ（５７）
＋Ｖ（５８））から得ることができる。この場合、受光
部４９と受光部５６を一体化することも可能である。

【００２７】本実施例において、偏光性単純格子３４に
おける常光成分の透過率は理論的に１００％、異常光成
分の±１次回折効率は理論的にそれぞれ４０．５％であ
る。ここで、偏光性ホログラム３５のライン部とスペー
ス部の異常光に対する位相差を例えば６８．８°に設定
すると、異常光成分の透過率は理論的に６８．１％、±
１次回折効率は理論的にそれぞれ１２．９％となる。従
って、偏光性単純格子３４の０次光（常光成分）のうち
偏光性ホログラム３５の０次光と−１次回折光（異常光
成分）を足したものの効率と、偏光性単純格子３４の±
１次回折光（異常光成分）でありかつ偏光性ホログラム
３５の０次光（常光成分）の効率は、共に８１．０％と
なる。このように、情報信号検出に用いる常光成分と異
常光成分の光量を等しくすることにより、キャリアレベ
ルの低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生
Ｃ／Ｎの低下は生じない。

【００２８】また、本実施例の方式では、誤差信号検出
と情報信号検出に別々の光を用いるため、二種類の信号
を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構成が
簡単になる。

【００２９】図１には、ビームスプリッタ３と光検出器
３６の間に、レンズ６，偏光性単純格子３４，偏光性ホ
ログラム３５がこの順に配置されている構成を示した
が、レンズ６，偏光性単純格子３４，偏光性ホログラム
３５はどの順に配置されていても構わない。また、ビー
ムスプリッタ３，レンズ６，偏光性単純格子３４，偏光
性ホログラム３５のうち二つ以上の素子を、接着により
一体化することも可能である。

【００３０】図５に、第２の発明の光磁気ヘッド装置の
実施例の構成を示す。ディスク５からの反射光がレンズ
６で収束光に変換されるまでの構成は図７に示す従来例
と同じであるので、説明は省略する。本実施例において
は、回折素子として、基坂の入射側に偏光性単純格子面
５９、基坂の出射側に偏光性ホログラム面６０がそれぞ
れ形成されたものを用いる。レンズ６で収束光に変換さ
れた光は、入射光のうち特定の偏光成分のみを主に回折
する第一の回折格子である偏光性単純格子面５９におい
て、０次光および±１次回折光に分離される。偏光性単
純格子面５９の０次光は、入射光のうち前記偏光成分と
直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回折格子で
ある偏光性ホログラム面６０に入射し、さらに０次光お
よび±１次回折光に分離される。一方、偏光性単純格子
面５９の±１次回折光は、偏光性ホログラム面６０に入
射し、回折されずに全て透過する。これらの光は、共通
の光検出器３６で受光される。

【００３１】偏光性単純格子面５９は、図２に示す偏光
性単純格子３４と同様に、全面が単一の領域で構成され
ている。また、基坂の光学軸１３の方向は、入射光の偏
光方向に対し約４５°に設定されている。

【００３２】偏光性ホログラム面６０は、図３（ａ），
（ｂ）に示す偏光性ホログラム３５と同様に、格子方向
の異なる４つの領域９〜１２に分割されている。

【００３３】図６に、本実施例に用いる回折素子の断面
形状を示す。複屈折性を有するニオブ酸リチウム基坂１
４の入射側には、プロトン交換領域１５および位相補償
膜１６から成る二層の回折格子である偏光性単純格子面
５９が形成されている。位相補償膜１６としては、例え
ばＮｂ₂Ｏ₅が用いられる。回折格子のライン部とスペ
ース部の位相差は、光学軸１３に垂直な偏光成分（常
光）に対しては０、光学軸１３に平行な偏光成分（異常
光）に対してはπに設定されている。従って、入射光の
常光成分は回折されずに全て透過し、異常光成分は透過
せずに全て回折される。一方、複屈折性を有するニオブ
酸リチウム基坂１４の出射側には、プロトン交換領域６
１および位相補償膜６２から成る二層の回折格子である
偏光性ホログラム面６０が形成されている。位相補償膜
６２としては、例えばＮｂ₂Ｏ₅が用いられる。回折格
子のライン部とスペース部の位相差は、光学軸１３に垂
直な偏光成分（常光）に対しては０とπの間、光学軸１
３に平行な偏光成分（異常光）に対しては２πに設定さ
れている。従って、入射光の常光成分は位相差から決ま
る回折効率に従って透過光と回折光に分離され、異常光
成分は回折されずに全て透過する。

【００３４】光検出器３６の構成と、光検出器３６上の
光スポットの配置に関しては、第１の発明の光磁気ヘッ
ド装置の実施例と同じく図４に示す通りであるので、説
明は省略する。また、フォーカス誤差信号，トラック誤
差信号，情報信号の検出方法に関しても、第１の発明の
光磁気ヘッド装置の実施例と同じであるので、説明は省
略する。

【００３５】本実施例においても、第１の発明の光磁気
ヘッド装置の実施例と同様に、情報信号検出に用いる常
光成分と異常光成分の光量を等しくすることにより、キ
ャリアレベルの低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できる
ため、再生Ｃ／Ｎの低下は生じない。また、誤差信号検
出と情報信号検出に別々の光を用いるため、二種類の信
号を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構成
が簡単になる。

【００３６】図５には、回折素子として、基坂の入射側
に偏光性単純格子面５９、基坂の出射側に偏光性ホログ
ラム面６０がそれぞれ形成されたものを示したが、偏光
性単純格子面５９と偏光性ホログラム面６０の順序を逆
にしても構わない。さらに、レンズ６と回折素子の順序
を逆にしても構わない。また、ビームスプリッタ３，レ
ンズ６，回折素子のうち二つ以上の素子を、接着により
一体化することも可能である。

【００３７】

【発明の効果】以上に述べたように、本発明の光磁気ヘ
ッド装置においては、誤差信号と情報信号を電気回路上
で分離する必要がなく、電気回路の構成が簡単になる。
また、情報信号検出に用いる常光成分と異常光成分の光
量を等しくすることにより、キャリアレベルの低下を伴
わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生Ｃ／Ｎの低下
も生じない。すなわち、本発明によれば、従来の光磁気
ヘッド装置では実現できなかった、上記二つの条件を同
時に満たすことが可能な光磁気ヘッド装置を得ることが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１の発明の光磁気ヘッド装置の実施例の構成
を示す図である。

【図２】第１の発明の光磁気ヘッド装置の実施例に用い
る偏光性単純格子の構成と、基坂の光学軸の方向を示す
図である。

【図３】第１の発明の光磁気ヘッド装置の実施例に用い
る偏光性ホログラムの構成と、基坂の光学軸の方向を示
す図である。

【図４】第１および第２の発明の光磁気ヘッド装置の実
施例に用いる光検出器の構成と、光検出器上の光スポッ
トの配置を示す図である。

【図５】第２の発明の光磁気ヘッド装置の実施例の構成
を示す図である。

【図６】第２の発明の光磁気ヘッド装置の実施例に用い
る回折素子の断面形状を示す図である。

【図７】従来の光磁気ヘッド装置の構成例を示す図であ
る。

【図８】従来の光磁気ヘッド装置に用いる偏光性ホログ
ラムの構成と、基坂の光学軸の方向を示す図である。

【図９】従来の光磁気ヘッド装置に用いる偏光性ホログ
ラムの断面形状を示す図である。

【図１０】従来の光磁気ヘッド装置に用いる光検出器の
構成と、光検出器上の光スポットの配置を示す図であ
る。

【符号の説明】

１半導体レーザ２コリメータレンズ３ビームスプリッタ４対物レンズ５ディスク６レンズ７偏光性ホログラム８光検出器９〜１２領域１３光学軸１４ニオブ酸リチウム基坂１５，６１プロトン交換領域１６，６２位相補償膜１７〜２５光スポット２６〜３３受光部３４偏光性単純格子３５偏光性ホログラム３６光検出器３７光学軸３８〜４８光スポット４９〜５８受光部５９偏光性単純格子面６０偏光性ホログラム面

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光源と、この光源からの出射光を光磁気記
録媒体上に集光する集光光学系と、前記光磁気記録媒体
からの反射光を前記集光光学系外に分離する分離手段
と、前記分離手段により分離された光を回折する回折素
子と、この回折素子からの透過光および回折光を受光す
る光検出器を少なくとも有する光磁気ヘッド装置におい
て、前記回折素子は、複屈折性を有する基坂上に、入射光の
うち特定の偏光成分のみを主に回折する回折格子が形成
された第一の回折素子と、複屈折性を有する基坂上に、
入射光のうち前記偏光成分と直交する偏光成分のみを主
に回折する回折格子が形成された第二の回折格子との二
枚で構成されており、前記第一の回折素子の透過光のう
ち前記第二の回折素子の＋１次回折光から誤差信号を検
出し、前記第一の回折素子の透過光のうち前記第二の回
折素子の透過光および−１次回折光と、前記第一の回折
素子の±１次回折光のうち前記第二の回折素子の透過光
から情報信号を検出することを特徴とする光磁気ヘッド
装置。
【請求項２】光源と、この光源からの出射光を光磁気記
録媒体上に集光する集光光学系と、前記光磁気記録媒体
からの反射光を前記集光光学系外に分離する分離手段
と、前記分離手段により分離された光を回折する回折素
子と、この回折素子からの透過光および回折光を受光す
る光検出器を少なくとも有する光磁気ヘッド装置におい
て、前記回折素子は、複屈折性を有する基坂の一方の面に、
入射光のうち特定の偏光成分のみを主に回折する第一の
回折格子が形成されており、前記基坂の他方の面に、入
射光のうち前記偏光成分と直交する偏光成分のみを主に
回折する第二の回折格子が形成されている構成であり、
前記第一の回折素子の透過光のうち前記第二の回折素子
の＋１次回折光から誤差信号を検出し、前記第一の回折
素子の透過光のうち前記第二の回折素子の透過光および
−１次回折光と、前記第一の回折素子の±１次回折光の
うち前記第二の回折素子の透過光から情報信号を検出す
ることを特徴とする光磁気ヘッド装置。