JP2006351086A - 光路補正装置とこれを用いた光ピックアップ - Google Patents
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Abstract
【課題】CD、DVD、更にはBDに対応した3波長レーザの光路を補正する光路補正装置を提供すると共に、3波対応の光ピックアップを提供することを目的とする。
【解決手段】光路補正装置14は、第一の波長板15と第一の複屈折板16と第二の波長板17と第二の複屈折板18と第三の波長板19を備えており、3波長レーザ20の前方に配置する。本発明における3波長対応の光路補正装置14は、複屈折板を2枚使用し、3波長レーザが出射する波長λ1と波長λ2のレーザ光を第一の服屈折板15を用いて同一光路を伝搬させ、次に、第二の複屈折板18を用いて前記波長λ1、及び波長λ2のレーザ光と、3波長レーザが出射する波長λ3のレーザ光とを同一の光路を伝搬するよう作用させたものである。
【選択図】 図1
【解決手段】光路補正装置14は、第一の波長板15と第一の複屈折板16と第二の波長板17と第二の複屈折板18と第三の波長板19を備えており、3波長レーザ20の前方に配置する。本発明における3波長対応の光路補正装置14は、複屈折板を2枚使用し、3波長レーザが出射する波長λ1と波長λ2のレーザ光を第一の服屈折板15を用いて同一光路を伝搬させ、次に、第二の複屈折板18を用いて前記波長λ1、及び波長λ2のレーザ光と、3波長レーザが出射する波長λ3のレーザ光とを同一の光路を伝搬するよう作用させたものである。
【選択図】 図1
Description
本発明は光路補正装置とこれを用いた光ピックアップに関し、特に3波長レーザが出射する三つの異なる波長の直線偏光の光路を補正する光路補正装置とこれを用いた光ピックアップに関するものである。
光ディスク装置や光磁気ディスク装置に用いられる光ピックアップは、CDやDVDといった種類の異なる光ディスクに対応するため、波長の異なる二つのレーザ光を使用する構造となっている。そのため、モノリシック型集積型の2波長レーザが実用化されており、この2波長レーザは、一つの半導体基板上に二つの異なる波長(例えば、650nm、785nm)のレーザ光源を形成したものである。この二つのレーザ光源は所定の距離(数十〜百数十μm)だけ離れて配置され、二つの異なる波長の平行光を出射しているため、2波長レーザを光ピックアップに用いるためには、二つのレーザ光を同一光路に伝搬させるために光路補正機能が必要となる。
図10は、従来の光路補正装置の例を示す構成図である。光路補正装置1は、波長板2と複屈折板3と波長板4とを備えており、2波長レーザ5の前方に配置する。
2波長レーザ5から出射される波長650nmのレーザ光S101、或いは波長785nmのレーザ光S102は互いに同じ偏光方向を有する直線偏光であり、光路間隔dにて平行に伝搬する。
2波長レーザ5から出射される波長650nmのレーザ光S101、或いは波長785nmのレーザ光S102は互いに同じ偏光方向を有する直線偏光であり、光路間隔dにて平行に伝搬する。
波長板2は、複屈折性を有する結晶もしくは高分子フィルムであり、2波長レーザ5から出射された一方のレーザ光S102の偏光方向を90°回転させ、他方のレーザ光S101の偏光方向は回転しないままに出射させることにより、レーザ光S102をレーザ光P102に変換し、レーザ光S101とレーザ光P102が互いに直交した直線偏光となるよう構成する。
そこで波長板2は、波長λ2のレーザ光S102に対して1/2波長板として機能するよう構成され、即ち、波長板2に入射するレーザ光S101に対しては2π・m101の位相差を発生するように、レーザ光S102に対してはπ・(2n101−1)の位相差を発生するような板厚に設定する(m101、n101は整数)。
そこで波長板2は、波長λ2のレーザ光S102に対して1/2波長板として機能するよう構成され、即ち、波長板2に入射するレーザ光S101に対しては2π・m101の位相差を発生するように、レーザ光S102に対してはπ・(2n101−1)の位相差を発生するような板厚に設定する(m101、n101は整数)。
次に、複屈折板3は、複屈折性を有するリチウムナイオベート若しくはルチル等の結晶もしくは液晶からなり、その主断面は一方のレーザ光S101の直線偏光に対して平行であり、他方のレーザ光P102の直線偏光に対して直交するよう構成されている。
そこで、前記波長板2より入射したレーザ光P102は光学軸A0に対して常光線となりそのまま直進して複屈折板3を透過し、レーザ光P102と偏光方向が直交するレーザ光S101の直線偏光は光学軸A0に対して異常光線となり屈折して透過することになる。この屈折したレーザ光S101が複屈折板3を透過する際にレーザ光P102と同じ光路上を伝搬するよう複屈折板3の板厚tを設定している。
そこで、前記波長板2より入射したレーザ光P102は光学軸A0に対して常光線となりそのまま直進して複屈折板3を透過し、レーザ光P102と偏光方向が直交するレーザ光S101の直線偏光は光学軸A0に対して異常光線となり屈折して透過することになる。この屈折したレーザ光S101が複屈折板3を透過する際にレーザ光P102と同じ光路上を伝搬するよう複屈折板3の板厚tを設定している。
次に、波長板4は、複屈折性を有する結晶もしくは高分子フィルムであり、複屈折板3を透過する互いに偏光方向が直交した直線偏光であるレーザ光S101とレーザ光P102に対して一方のレーザ光P102の偏光方向を90°回転させ、他方のレーザ光S101の偏光方向は回転しないままに出射させることにより、レーザ光P102をレーザ光S102に変換し、レーザ光S101とレーザ光S102とを偏光方向が同一な直線偏光とするよう構成する。
そこで波長板4は、波長λ2のレーザ光P102に対して1/2波長板として機能するよう構成され、即ち、波長板4を、複屈折板3を透過するレーザ光S101に対しては2π・m201の位相差を発生するように、レーザ光P102に対してはπ・(2n201−1)の位相差を発生するような板厚に設定する(m201、n201は整数)。
従って、この光路補正装置を使用することにより、2波長レーザ5が出射する波長650nmのレーザ光S101と波長785nmのレーザ光S102が同一光路を伝搬するように光路補正することが出来る。
そこで波長板4は、波長λ2のレーザ光P102に対して1/2波長板として機能するよう構成され、即ち、波長板4を、複屈折板3を透過するレーザ光S101に対しては2π・m201の位相差を発生するように、レーザ光P102に対してはπ・(2n201−1)の位相差を発生するような板厚に設定する(m201、n201は整数)。
従って、この光路補正装置を使用することにより、2波長レーザ5が出射する波長650nmのレーザ光S101と波長785nmのレーザ光S102が同一光路を伝搬するように光路補正することが出来る。
次に、従来の光路補正装置を光ピックアップに用いた実施例を説明する。
図11は、従来の光路補正装置1を光ピックアップに適応した場合の模式図の例を示すものである。光ピックアップ6は、偏光方向が互いに平行である二つの異なる波長の直線偏光を出射する2波長レーザ5と、該2波長レーザ5が出射するレーザ光S101、レーザ光S102が同一の光路上を伝搬するよう光路補正をする光路補正装置1と、該光路補正装置1が出射するレーザ光を所定の比率で分離するハーフミラー7と、該ハーフミラー7の分離面で90°反射するレーザ光を入射し円偏光に変換すると共に後述する対物レンズが出射する光ディスク8からの反射光である円偏光されたレーザ光を直線偏光に変換する波長板9と、該波長板9を出射する円偏光されたレーザ光を光ディスク8に形成されたピット10に集光させると共に、該ピット10上で反射されたレーザ光を入射する対物レンズ11と、前記波長板9を出射する直線偏光されたレーザ光を前記ハーフミラー7を経由して検出する光検出器12と、前記ハーフミラー7の分離面を透過する2波長レーザ5の出射レベルをモニターするモニター光検出器13とにより構成する。
図11は、従来の光路補正装置1を光ピックアップに適応した場合の模式図の例を示すものである。光ピックアップ6は、偏光方向が互いに平行である二つの異なる波長の直線偏光を出射する2波長レーザ5と、該2波長レーザ5が出射するレーザ光S101、レーザ光S102が同一の光路上を伝搬するよう光路補正をする光路補正装置1と、該光路補正装置1が出射するレーザ光を所定の比率で分離するハーフミラー7と、該ハーフミラー7の分離面で90°反射するレーザ光を入射し円偏光に変換すると共に後述する対物レンズが出射する光ディスク8からの反射光である円偏光されたレーザ光を直線偏光に変換する波長板9と、該波長板9を出射する円偏光されたレーザ光を光ディスク8に形成されたピット10に集光させると共に、該ピット10上で反射されたレーザ光を入射する対物レンズ11と、前記波長板9を出射する直線偏光されたレーザ光を前記ハーフミラー7を経由して検出する光検出器12と、前記ハーフミラー7の分離面を透過する2波長レーザ5の出射レベルをモニターするモニター光検出器13とにより構成する。
図11の動作を説明すると、2波長レーザ5から出射される、例えば波長650nmのレーザ光S101、或いは波長785nmのレーザ光S102は互いに同じ偏光方向を有する直線偏光であり、所定の光路間隔にて平行に伝搬し、光路補正装置1へ入射する。光路補正装置1においては、前述したように、複数の波長板、及び複屈折板を用いて、2波長レーザ5が出射するレーザ光S101、レーザ光S102が同一の光路上を伝搬するよう光路補正をする。又、光路補正装置1を出射したレーザ光は、レーザ光S101、及びレーザ光S102共に偏光方向が同一な直線偏光であり、二つのレーザ光をまとめてレーザ光L1とする。
次に、光路補正装置1を出射したレーザ光L1はハーフミラー7に入射され、例えば、レーザ光L1のうちの約90%は分離面で90°反射されるレーザ光L2として、前記レーザ光L1の約10%は分離面を透過するレーザ光L3として夫々分離される。
次に、ハーフミラー7により反射したレーザ光L2は、波長板9に入射する。波長板9は、1/4波長板として機能し、直線偏光の常光成分と異常光成分との位相差が90°となるよう作用させ、波長板9の出射光は、互いに位相が90°ずれた常光成分と異常光成分とが合成されて2波長共に円偏光のレーザ光L4となる。
波長板9を出射して円偏光されたレーザ光L4は、集光レンズ11により集光され、レーザ光L5となり光ディスク8に形成されているピット10に照射される。そこで、円偏光のレーザ光L5は、ピット10の表面において鏡面対称の関係に基づいて逆回転の円偏光となって反射される。反射された円偏光のレーザ光L6は、前記集光レンズ11を介してレーザ光L7となって波長板9に入射され、直線偏光のレーザ光L8に変換され出射する。該出射した直線偏光のレーザ光L8は、前記ハーフミラー7を反射して波長板9に入射された直線偏光のレーザ光L4と直交する偏光方向の直線偏光となり、光ディスク8に照射するレーザ光と、光ディスク8により反射するレーザ光とが互いに干渉することを防ぎ、光学特性の劣化をきたすことを防止する。
次に、レーザ光L8はハーフミラー7に入射され、該ハーフミラー7をそのまま透過して光検出器12に入射し、光ディスクに書き込まれた情報を読み出す。
一方、ハーフミラー7を透過した所定量の前記レーザ光L3は、モニター光検出器13に入射して2波長レーザ5が出射するレーザ光の出射レベルをモニターする。光ピックアップにおいては、レーザ素子が出射するレーザ光の出射レベルを一定に保つことが必要であり、レーザ光の一部をモニター用の光検出器において受光してAPC回路(図示していない)でレーザ素子の駆動回路を制御し、レーザ光の出射レベルを一定に保っている。図11に示した光ピックアップにおいては、レーザ光の出射レベルをモニターする手段として精度の高いフロントモニター方式を採用している。
特願2004−112507号
一方、ハーフミラー7を透過した所定量の前記レーザ光L3は、モニター光検出器13に入射して2波長レーザ5が出射するレーザ光の出射レベルをモニターする。光ピックアップにおいては、レーザ素子が出射するレーザ光の出射レベルを一定に保つことが必要であり、レーザ光の一部をモニター用の光検出器において受光してAPC回路(図示していない)でレーザ素子の駆動回路を制御し、レーザ光の出射レベルを一定に保っている。図11に示した光ピックアップにおいては、レーザ光の出射レベルをモニターする手段として精度の高いフロントモニター方式を採用している。
近年、従来のCD、DVD等の光ディスクに加えて、更に大容量化されたBlu−rayディスクやHD DVD等のブルーレーザディスク(以降、BDと称す)と呼ばれる光ディスクが実用化されつつあり、光ピックアップにおいても、CD、DVD等の光ディスクの他、BDにも対応することが要求されている。BDは、波長が400nm近辺のレーザ光を使用しており、従来から使用されている660nm、或いは785nmのレーザ光を使用した光ピックアップと互換性を持たせるためには、光ピックアップを構成する光学部品は前記三つの波長のレーザ光に対応することが必要である。
一方、近年、前記三つの波長に対応したレーザダイオードとして、一つのパッケージから波長660nmのレーザ光、波長785nmのレーザ光、及び波長405nmのレーザ光を出射する3波長レーザが開発されており、内蔵する三つのレーザ光源は所定の距離だけ離れて配置され、三つの異なる波長の平行光を出射している。そこで、3波長レーザを光ピックアップに用いるためには、三つのレーザ光を同一光路に伝搬させるために光路補正機能が必要となる。
しかしながら、従来の光ピックアップに用いられている光路補正装置は、2波長対応であり、光ピックアップを3波長対応とするため3波長レーザを使用する際には、3波長に対応した光路補正装置が必要となるため、3波長対応の光路補正装置の開発が望まれていた。
本発明は、上述したような問題を解決するためになされたものであって、CD、DVD、更にはBDに対応した3波長レーザの光路を補正する光路補正装置を提供すると共に、3波対応の光ピックアップを提供することを目的とする。
しかしながら、従来の光ピックアップに用いられている光路補正装置は、2波長対応であり、光ピックアップを3波長対応とするため3波長レーザを使用する際には、3波長に対応した光路補正装置が必要となるため、3波長対応の光路補正装置の開発が望まれていた。
本発明は、上述したような問題を解決するためになされたものであって、CD、DVD、更にはBDに対応した3波長レーザの光路を補正する光路補正装置を提供すると共に、3波対応の光ピックアップを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために本発明に係わる光路補正装置とこれを用いた光ピックアップは、以下の構成をとる。
請求項1に記載の光路補正装置は、偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の直線偏光を入射する第一の波長板と、該第一の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第一の複屈折板と、該第一の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の波長板と、該第二の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の複屈折板と、該第二の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第三の波長板とを備えた光路補正装置であって、前記第一の波長板は、波長λ1の直線偏光に対しては2π・m1の位相差を、波長λ2の直線偏光に対してはπ・(2n1−1)の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q1の位相差を発生するものであり(m1、n1、q1は整数)、 前記第一の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ2の直線偏光が常光線となり、一方、波長λ1、及び波長λ3の直線偏光が異常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd1、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt1とした時、
t1=d1・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、前記第二の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m2−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対しては2π・n2の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q2の位相差を発生するものであり(m2、n2、q2は整数)、前記第二の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ1、及び波長λ2の直線偏光が異常光線となり、一方、波長λ3の直線偏光が常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd2、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt2とした時、
t2=d2・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、前記第三の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m3−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対してはπ・(2n3−1)の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q3の位相差を発生するもの(m3、n3、q3は整数)であるよう構成する。
請求項1に記載の光路補正装置は、偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の直線偏光を入射する第一の波長板と、該第一の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第一の複屈折板と、該第一の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の波長板と、該第二の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の複屈折板と、該第二の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第三の波長板とを備えた光路補正装置であって、前記第一の波長板は、波長λ1の直線偏光に対しては2π・m1の位相差を、波長λ2の直線偏光に対してはπ・(2n1−1)の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q1の位相差を発生するものであり(m1、n1、q1は整数)、 前記第一の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ2の直線偏光が常光線となり、一方、波長λ1、及び波長λ3の直線偏光が異常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd1、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt1とした時、
t1=d1・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、前記第二の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m2−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対しては2π・n2の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q2の位相差を発生するものであり(m2、n2、q2は整数)、前記第二の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ1、及び波長λ2の直線偏光が異常光線となり、一方、波長λ3の直線偏光が常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd2、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt2とした時、
t2=d2・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、前記第三の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m3−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対してはπ・(2n3−1)の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q3の位相差を発生するもの(m3、n3、q3は整数)であるよう構成する。
請求項2に記載の光路補正装置は、前記光路補正装置のレーザ光の出射側に、入射した異なる波長の直線偏光を0次光と±1次光の3ビームに回折するグレーティングを付加するよう構成する。
請求項3に記載の光路補正装置は、前記第一の波長板と前記第一の複屈折板と前記第二の波長板と前記第二の複屈折板と前記第三の波長板とを貼り合わせて一体化した構造を有するよう構成する。
請求項4に記載の光路補正装置は、前記第一の波長板と前記第一の複屈折板と前記第二の波長板と前記第二の複屈折板と前記第三の波長板と前記グレーティングとを貼り合わせて一体化した構造を有するよう構成する。
請求項5に記載の光路補正装置は、前記第一の波長板、第二の波長板、及び第三の波長板が、複屈折性を有する結晶であるよう構成する。
請求項6に記載の光路補正装置は、前記第一の複屈折板、及び第二の複屈折板が、リチウムナイオベート若しくはルチルであるよう構成する。
請求項7に記載の光路補正装置は、前記波長λ1の直線偏光が、660nmの波長のレーザ光であり、前記波長λ2の直線偏光が、785nmの波長のレーザ光であり、前記波長λ3の直線偏光が、405nmの波長のレーザ光であるよう構成する。
請求項8に記載の光ピックアップは、偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長の直線偏光を出射する光源と、該光源から三つの直線偏光を入射する請求項1乃至7に記載の光路補正装置と、該光路補正装置を出射した光線を入射する第四の波長板と、該第四の波長板を出射した光線を光記憶媒体に集光する対物レンズとを備えるよう構成する。
請求項9に記載の光路補正装置は、偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の直線偏光を入射する第一の波長板と、該第一の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第一の複屈折板と、該第一の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の波長板と、該第二の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の複屈折板と、該第二の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第五の波長板とを備えた光路補正装置であって、前記第一の波長板は、波長λ1の直線偏光に対しては2π・m1の位相差を、波長λ2の直線偏光に対してはπ・(2n1−1)の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q1の位相差を発生するものであり(m1、n1、q1は整数)、前記第一の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ2の直線偏光が常光線となり、一方、波長λ1、及び波長λ3の直線偏光が異常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd1、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt1とした時、
t1=d1・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、前記第二の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m2−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対しては2π・n2の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q2の位相差を発生するものであり(m2、n2、q2は整数)、前記第二の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ1、及び波長λ2の直線偏光が異常光線となり、一方、波長λ3の直線偏光が常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd2、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt2とした時、
t2=d2・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、前記第五の波長板は、波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の直線偏光に対してπ/2・(2r−1)の位相差を発生するもの(rは整数)であるよう構成する。
t1=d1・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、前記第二の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m2−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対しては2π・n2の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q2の位相差を発生するものであり(m2、n2、q2は整数)、前記第二の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ1、及び波長λ2の直線偏光が異常光線となり、一方、波長λ3の直線偏光が常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd2、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt2とした時、
t2=d2・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、前記第五の波長板は、波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の直線偏光に対してπ/2・(2r−1)の位相差を発生するもの(rは整数)であるよう構成する。
請求項10に記載の光路補正装置は、前記光路補正装置のレーザ光の出射側に、入射した異なる波長の直線偏光を0次光と±1次光の3ビームに回折するグレーティングを付加するよう構成する。
請求項11に記載の光路補正装置は、前記第一の波長板と前記第一の複屈折板と前記第二の波長板と前記第二の複屈折板と前記第五の波長板とを貼り合わせて一体化した構造を有するよう構成する。
請求項12に記載の光路補正装置は、前記第一の波長板と前記第一の複屈折板と前記第二の波長板と前記第二の複屈折板と前記第五の波長板と前記グレーティングとを貼り合わせて一体化した構造を有するよう構成する。
請求項13に記載の光路補正装置は、前記第一の波長板、第二の波長板、及び第五の波長板が、複屈折性を有する結晶であるよう構成する。
請求項14に記載の光路補正装置は、前記第一の複屈折板、及び第二の複屈折板が、リチウムナイオベート若しくはルチルであるよう構成する。
請求項15に記載の光路補正装置は、前記波長λ1の直線偏光が、660nmの波長のレーザ光であり、前記波長λ2の直線偏光が、785nmの波長のレーザ光であり、前記波長λ3の直線偏光が、405nmの波長のレーザ光であるよう構成する。
請求項16に記載の光ピックアップは、偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長の直線偏光を出射する光源と、該光源から三つの直線偏光を入射する請求項9乃至15に記載の光路補正装置と、該光路補正装置を出射した光線を光記憶媒体に集光する対物レンズとを備えるよう構成する。
請求項1、5、6、7及び8に記載の発明は、3波長レーザが出射する偏光方向が同一な三つの異なる波長の直線偏光の光路を補正して、同一な光路を伝搬するよう機能する光路補正装置を実現したので、従来のCD、DVD等の光ディスクに加えて更に大容量化されたBDと呼ばれる光ディスクにも対応した光ピックアップを容易に構成することが出来ることから、光ピックアップを3波長対応とする上で大きな効果を発揮する。
請求項2、及び10に記載の発明は、光路補正装置の出射側に、グレーティングを付加したので、光路補正装置が出射するレーザ光を3ビーム化することが出来ることから、光ディスクを再生するためレーザ光を光ディスクに照射する際に、光ディスクに形成したピットに照射するデータ読み書き用の光と、ピットの両脇の溝に照射するトラッキング用の光とが必要である場合に対応することが可能となり、光ピックアップを構成する上で大きな効果を発揮する。
請求項3、4、11、及び12に記載の発明は、光路補正装置を構成する光学要素を張り合わせて積層一体化したことにより、光路補正装置を小型化すると共にコストを低減することが出来ることから、光ピックアップを構成する上で大きな効果を発揮する。
請求項9、13、14、15及び16に記載の発明は、光路補正装置が出射するレーザ光を円偏光としたので、請求項1に記載した発明の効果の他、光ピックアップを構成する際に使用していた1/4波長板を削除することが出来ることから、光ピックアップの小型化、或いはコストを低減する上で大きな効果を発揮する。
以下、図示した実施例に基づいて本発明を詳細に説明する。
本発明における3波長レーザに対応した光路補正装置は、複屈折板を2枚使用し、3波長レーザが出射する波長λ1と波長λ2のレーザ光を第一の服屈折板を用いて同一光路を伝搬させ、次に、第二の複屈折板を用いて前記波長λ1、及び波長λ2のレーザ光と、3波長レーザが出射する波長λ3のレーザ光とを同一の光路を伝搬するよう作用させたものである。
本発明における3波長レーザに対応した光路補正装置は、複屈折板を2枚使用し、3波長レーザが出射する波長λ1と波長λ2のレーザ光を第一の服屈折板を用いて同一光路を伝搬させ、次に、第二の複屈折板を用いて前記波長λ1、及び波長λ2のレーザ光と、3波長レーザが出射する波長λ3のレーザ光とを同一の光路を伝搬するよう作用させたものである。
図1は、本発明に係わる光路補正装置の第一の実施例を示す構成図であり、斜視図を示す。光路補正装置14は、第一の波長板15と第一の複屈折板16と第二の波長板17と第二の複屈折板18と第三の波長板19とを備えており、3波長レーザ20の前方に配置する。本第一の実施例においては、3波長レーザ20として、図1に示すごとく、三つの光源がA1、A2、A3、A4のポイントからなる四辺形のA1、A2、A3に、例えば、A1のポイントに波長λ1=660nmのレーザ光を出射する赤色レーザを配置し、A2のポイントに波長λ2=785nmのレーザ光を出射する赤外レーザを配置し、A3のポイントには波長λ3=405nmのレーザ光を出射する青紫レーザを配置し、四辺形のA1とA2間の距離と、A3とA4間の距離は同一であるものとする。
3波長レーザ20から出射される波長650nmのレーザ光S1、波長785nmのレーザ光S2、及び波長405nmのレーザ光S3は互いに同じ偏光方向を有する直線偏光であり、レーザ光S1とレーザ光S2は光路間隔d1−1にて、レーザ光S3は前記3波長レーザ20の説明で示したA4ポイントから導かれる光路との間隔d1−2にて夫々平行に伝搬する。
第一の波長板15は、複屈折性を有する結晶もしくは高分子フィルムであり、3波長レーザ20から出射されたレーザ光S2の偏光方向を90°回転させ、一方、レーザ光S1及びレーザ光S3の偏光方向は回転しないままに出射させることにより、レーザ光S2の偏光方向を、レーザ光S1及びレーザ光S3と直交した直線偏光となるよう構成する。
そこで第一の波長板15は、波長λ2のレーザ光S2に対して1/2波長板として機能してレーザ光P2を出射するよう構成され、即ち、第一の波長板15に入射するレーザ光S1に対しては2π・m1の位相差を発生するように、レーザ光S2に対してはπ・(2n1−1)の位相差を発生するように、レーザ光S3に対しては2π・q1の位相差を発生するような板厚に設定する(m1、n1、q1は整数)。
そこで第一の波長板15は、波長λ2のレーザ光S2に対して1/2波長板として機能してレーザ光P2を出射するよう構成され、即ち、第一の波長板15に入射するレーザ光S1に対しては2π・m1の位相差を発生するように、レーザ光S2に対してはπ・(2n1−1)の位相差を発生するように、レーザ光S3に対しては2π・q1の位相差を発生するような板厚に設定する(m1、n1、q1は整数)。
次に、第一の複屈折板16は、複屈折性を有するリチウムナイオベート若しくはルチル等の結晶もしくは液晶からなり、その主断面はレーザ光S1及びS3の直線偏光に対して平行であり、一方、レーザ光P2の直線偏光に対しては直交するよう構成されている。
そこで、前記第一の波長板15より入射したレーザ光P2は光学軸A0に対して常光線となりそのまま直進して第一の複屈折板16を透過し、レーザ光P2と偏光方向が直交するレーザ光S1の直線偏光は光学軸A0に対して異常光線となり屈折して透過することになる。この屈折したレーザ光S1が、第一の複屈折板16を透過する際に、光路間隔d1−1を有して伝搬するレーザ光P2の光路上を伝搬するよう第一の複屈折板16の板厚t1−1を設定している。
そこで、前記第一の波長板15より入射したレーザ光P2は光学軸A0に対して常光線となりそのまま直進して第一の複屈折板16を透過し、レーザ光P2と偏光方向が直交するレーザ光S1の直線偏光は光学軸A0に対して異常光線となり屈折して透過することになる。この屈折したレーザ光S1が、第一の複屈折板16を透過する際に、光路間隔d1−1を有して伝搬するレーザ光P2の光路上を伝搬するよう第一の複屈折板16の板厚t1−1を設定している。
一方、レーザ光S3の直線偏光は、光学軸A0に対して異常光線となり屈折して透過する。そこで、この屈折したレーザ光S3が第一の複屈折板16を透過する際に、レーザ光S3が、レーザ光S3の光路と光路間隔d1−2を有する前述した3波長レーザ20のポイントA4の位置より導出した光路上を伝搬するよう第一の複屈折板16の板厚t1−2を設定している。本実施例においては、前述したようにd1−1=d1−2であるので、第一の複屈折板16において、光路間隔をd1=d1−1=d1−2とし、板厚をt1=t1−1=t1−2とすると次式(1)の関係が成立する。
t1=d1・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|・・・(1)
尚、n0は常光線に対する屈折率、neは異常光線に対する屈折率、θは複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度であり、通常45°に設定されるのが望ましい。
尚、n0は常光線に対する屈折率、neは異常光線に対する屈折率、θは複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度であり、通常45°に設定されるのが望ましい。
次に、第一の複屈折板16を透過したレーザ光S1、レーザ光P2、及びレーザ光S3は、第二の波長板17に入射する。第二の波長板17は、第一の波長板15と同様に、複屈折性を有する結晶もしくは高分子フィルムであり、第一の複屈折板16を透過したレーザ光S1の偏光方向を90°回転させ、一方、レーザ光P2の偏光方向は回転しないままに出射させることにより、レーザ光S1がレーザ光P2と同じ方向に偏光された直線偏光のレーザ光P1となるように機能し、一方、レーザ光S3は、偏光方向を回転させないまま出射する。
そこで第二の波長板17は、波長λ1のレーザ光S1に対して1/2波長板として機能するよう構成され、即ち、第二の波長板17に入射するレーザ光S1に対してはπ・(2m2−1)の位相差を発生するように、レーザ光S2に対しては2π・n2の位相差を発生するように、レーザ光S3に対しては2π・q2の位相差を発生するような板厚に設定する(m2、n2、q2は整数)。
そこで第二の波長板17は、波長λ1のレーザ光S1に対して1/2波長板として機能するよう構成され、即ち、第二の波長板17に入射するレーザ光S1に対してはπ・(2m2−1)の位相差を発生するように、レーザ光S2に対しては2π・n2の位相差を発生するように、レーザ光S3に対しては2π・q2の位相差を発生するような板厚に設定する(m2、n2、q2は整数)。
次に、第二の波長板17を出射したレーザ光P1、レーザ光P2、及びレーザ光S3は、第二の複屈折板18に入射する。第二の複屈折板18は、第一の複屈折板16と同様に、複屈折性を有するリチウムナイオベート若しくはルチル等の結晶もしくは液晶からなり、その主断面はレーザ光P1及びレーザ光P2の直線偏光に対して平行であり、一方、レーザ光S3の直線偏光に対しては直交するよう構成されている。
そこで、前記第二の波長板17より入射したレーザ光S3は光学軸A0に対して常光線となりそのまま直進して第二の複屈折板18を透過し、レーザ光S3と偏光方向が直交するレーザ光P1及びレーザ光P2の直線偏光は光学軸A0に対して異常光線となり屈折して透過することになる。この屈折したレーザ光P1及びレーザ光P2が第二の複屈折板18を透過する際にレーザ光S3と同じ光路上を伝搬するよう第二の複屈折板18の板厚t2を設定している。
そこで、前記板厚t2と、レーザ光P1及びレーザ光P2と、レーザ光S3の直線偏光の光路間隔d2との間には次式(2)の関係が成立する。
そこで、前記板厚t2と、レーザ光P1及びレーザ光P2と、レーザ光S3の直線偏光の光路間隔d2との間には次式(2)の関係が成立する。
t2=d2・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|・・・(2)
尚、n0は常光線に対する屈折率、neは異常光線に対する屈折率、θは複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度であり、通常45°に設定されるのが望ましい。
尚、n0は常光線に対する屈折率、neは異常光線に対する屈折率、θは複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度であり、通常45°に設定されるのが望ましい。
次に、第二の複屈折板18を透過したレーザ光P1、レーザ光P2、及びレーザ光S3は、第三の波長板19に入射する。第三の波長板19は、第一の波長板15、第二の波長板17と同様に、複屈折性を有する結晶もしくは高分子フィルムであり、第二の複屈折板18を透過したレーザ光P1、及びレーザ光P2の偏光方向を90°回転させ、一方、レーザ光S3の偏光方向は回転しないままに出射させることにより、レーザ光P1とレーザ光P2をレーザ光S3と同一な偏向方向のレーザ光S1及びレーザ光S2に変換し、三つのレーザ光がすべて同一方向に偏光された直線偏光となるように機能する。
そこで第三の波長板19は、波長λ1のレーザ光P1、及び波長λ2のレーザ光P2に対して1/2波長板として機能するよう構成され、即ち、第二の複屈折板18を透過するレーザ光S1に対してはπ・(2m3−1)の位相差を発生するように、レーザ光S2に対してはπ・(2n3−1)の位相差を発生するように、レーザ光S3に対しては2π・q3の位相差を発生するような板厚に設定する(m3、n3、q3は整数)。
以上説明したように本第一の実施例における光路補正装置は、三つの波長のレーザ光を同一光路上に伝搬させると共に、出射する三つのレーザ光を偏光方向が同一な直線偏光とする。
そこで第三の波長板19は、波長λ1のレーザ光P1、及び波長λ2のレーザ光P2に対して1/2波長板として機能するよう構成され、即ち、第二の複屈折板18を透過するレーザ光S1に対してはπ・(2m3−1)の位相差を発生するように、レーザ光S2に対してはπ・(2n3−1)の位相差を発生するように、レーザ光S3に対しては2π・q3の位相差を発生するような板厚に設定する(m3、n3、q3は整数)。
以上説明したように本第一の実施例における光路補正装置は、三つの波長のレーザ光を同一光路上に伝搬させると共に、出射する三つのレーザ光を偏光方向が同一な直線偏光とする。
尚、図1に示した光路補正装置の動作を説明する図においては、光路補正装置14を構成する光学部品を所定の間隔を開けて配置しているが、光路補正装置14を構成する光学部品を貼り合わせて積層一体化して小型化することも出来る。
又、前述した3波長レーザのA4のポイントの位置に、新たな波長の光源を形成して4波長レーザを実現すると、本発明による光路補正装置14を用いて、4波長レーザが平行に出射する四つの異なる波長のレーザ光を同一の光路に伝搬させることが可能である。
又、前述した3波長レーザのA4のポイントの位置に、新たな波長の光源を形成して4波長レーザを実現すると、本発明による光路補正装置14を用いて、4波長レーザが平行に出射する四つの異なる波長のレーザ光を同一の光路に伝搬させることが可能である。
次に、本発明に係わる光路補正装置を光ピックアップに用いた実施例を説明する。
図2は、本発明に係わる光路補正装置14を光ピックアップに適応した場合の模式図の例を示すものである。光ピックアップ21は、偏光方向が同一であり互いに平行に伝搬する三つの異なる波長の直線偏光を出射する3波長レーザ20と、該3波長レーザ20が出射するレーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3が同一の光路上を伝搬するよう光路補正をする光路補正装置14と、該光路補正装置14が出射するレーザ光を所定の比率で分離するハーフミラー7と、該ハーフミラー7の分離面で90°反射するレーザ光を入射し円偏光に変換すると共に後述する対物レンズが出射する光ディスク8からの反射光である円偏光を直線偏光に変換する第四の波長板22と、該第四の波長板22を出射する円偏光を光ディスク8に形成されたピット10に集光させると共に、該ピット10上で反射されたレーザ光を入射する対物レンズ11と、前記第四の波長板22を出射する直線偏光を前記ハーフミラー7を経由して検出する光検出器12と、前記ハーフミラー7の分離面を透過する3波長レーザ20の出射レベルをモニターするモニター光検出器13とにより構成する。
図2は、本発明に係わる光路補正装置14を光ピックアップに適応した場合の模式図の例を示すものである。光ピックアップ21は、偏光方向が同一であり互いに平行に伝搬する三つの異なる波長の直線偏光を出射する3波長レーザ20と、該3波長レーザ20が出射するレーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3が同一の光路上を伝搬するよう光路補正をする光路補正装置14と、該光路補正装置14が出射するレーザ光を所定の比率で分離するハーフミラー7と、該ハーフミラー7の分離面で90°反射するレーザ光を入射し円偏光に変換すると共に後述する対物レンズが出射する光ディスク8からの反射光である円偏光を直線偏光に変換する第四の波長板22と、該第四の波長板22を出射する円偏光を光ディスク8に形成されたピット10に集光させると共に、該ピット10上で反射されたレーザ光を入射する対物レンズ11と、前記第四の波長板22を出射する直線偏光を前記ハーフミラー7を経由して検出する光検出器12と、前記ハーフミラー7の分離面を透過する3波長レーザ20の出射レベルをモニターするモニター光検出器13とにより構成する。
図2の動作を説明すると、3波長レーザ20から出射される、例えば波長650nmのレーザ光S1、波長780nmのレーザ光S2、及び波長405nmのレーザ光S3は互いに同じ偏光方向を有する直線偏光であり、レーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3は、所定の光路間隔にて平行に伝搬し、光路補正装置14へ入射する。光路補正装置14においては、前述したように、複数の波長板、複屈折板を用いて、3波長レーザ20が出射するレーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3が同一の光路上を伝搬するよう光路補正をする。又、光路補正装置14を出射したレーザ光は、レーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3共に偏光方向が同一な直線偏光であり、三つのレーザ光をまとめてレーザ光L9とする。
次に、光路補正装置14を出射したレーザ光L9はハーフミラー7に入射され、例えば、レーザ光L9のうちの約90%は分離面で90°反射されるレーザ光L10として、前記レーザ光L9の約10%は分離面を透過するレーザ光L11として夫々分離される。この時、ハーフミラー7に入射されるレーザ光は3波長の偏光方向が同一な直線偏光であるので、ハーフミラー7に形成した光学薄膜からなる分離面は、偏光方向が同一な直線偏光に対して波長依存性を持たないので、三つの波長のレーザ光の透過率は変化しない。
次に、ハーフミラー7により反射したレーザ光L10は、第四の波長板22に入射する。第四の波長板22は、1/4波長板として機能し位相が90°ずれるので3波長共に円偏光のレーザ光L12となる。
第四の波長板22を出射して円偏光となったレーザ光L12は、集光レンズ11により集光されてレーザ光L13となり、光ディスク8に形成されているピット10に照射する。
第四の波長板22を出射して円偏光となったレーザ光L12は、集光レンズ11により集光されてレーザ光L13となり、光ディスク8に形成されているピット10に照射する。
そこで、円偏光のレーザ光L13は、ピット10の表面において鏡面対称の関係に基づいて逆回転した円偏光のレーザ光L14となって反射される。反射された円偏光のレーザ光L14は、前記集光レンズ11を介してレーザ光L15となって第四の波長板22に入射し、直線偏光に変換され出射する。該出射した直線偏光のレーザ光L16は、前記ハーフミラー7を反射して第四の波長板22に入射された直線偏光のレーザ光L10と直交する偏光方向の直線偏光となり、光ディスク8に照射するレーザ光と、光ディスク8により反射するレーザ光とが互いに干渉することがないので、光学特性の劣化をきたすことはない。次に、第四の波長板22を出射したレーザ光L16は、ハーフミラー7に入射され、該ハーフミラー7をそのまま透過して光検出器12に入射し、光ディスクに書き込まれた情報を読み出す。
一方、ハーフミラー7を透過した所定量の前記レーザ光L11は、モニター光検出器13に入射して3波長レーザ20が出射するレーザ光の出射レベルをモニターする。光ピックアップにおいては、レーザ素子が出射するレーザ光の出射レベルを一定に保つことが必要であり、レーザ光の一部をモニター用の光検出器において受光してAPC回路(図示していない)でレーザ素子の駆動回路を制御し、レーザ光の出射レベルを一定に保っている。
次に、本発明に係わる光路補正装置において、第二の実施例について説明する。
一般に、光ディスクを再生するためレーザ光を光ディスクに照射する際に、光ディスクに形成したピットに照射するデータ読み書き用の光と、ピットの両脇の溝に照射するトラッキング用の光とが必要である場合、レーザ光を3ビーム化することが要求され、第二の実施例は、光路補正装置の出射光を3ビーム化したものである。そこで、第一の実施例において説明した光路補正装置のレーザ光の出射側に、レーザ光を回折させるグレーティングを付加し、直線偏光を3ビーム化して出射させた。
一般に、光ディスクを再生するためレーザ光を光ディスクに照射する際に、光ディスクに形成したピットに照射するデータ読み書き用の光と、ピットの両脇の溝に照射するトラッキング用の光とが必要である場合、レーザ光を3ビーム化することが要求され、第二の実施例は、光路補正装置の出射光を3ビーム化したものである。そこで、第一の実施例において説明した光路補正装置のレーザ光の出射側に、レーザ光を回折させるグレーティングを付加し、直線偏光を3ビーム化して出射させた。
図3は、本発明に係わる光路補正装置の第二の実施例を示す構成図であり、斜視図を示す。光路補正装置23は、第一の波長板15と第一の複屈折板16と第二の波長板17と第二の複屈折板18と第三の波長板19とグレーティング24とを備えており、3波長レーザ20の前方に配置する。
尚、図3においては、光路補正装置23を構成する光学部品を所定の間隔を開けて配置しているが、光路補正装置23を構成する光学部品を貼り合わせて積層一体化して小型化することも出来る。
本第二の実施例は、図1に示した第一の実施例における光路補正装置と比べて、直線偏光されたレーザ光を出射する第三の波長板19の出射側にグレーティング24を付加したことのみ異なるので、グレーティング24の作用について説明し、他の要素の動作は第一の実施例と同一であるので説明を省略する。
尚、図3においては、光路補正装置23を構成する光学部品を所定の間隔を開けて配置しているが、光路補正装置23を構成する光学部品を貼り合わせて積層一体化して小型化することも出来る。
本第二の実施例は、図1に示した第一の実施例における光路補正装置と比べて、直線偏光されたレーザ光を出射する第三の波長板19の出射側にグレーティング24を付加したことのみ異なるので、グレーティング24の作用について説明し、他の要素の動作は第一の実施例と同一であるので説明を省略する。
図4は、グレーティングを付加してレーザ光を3ビーム化した例を示す。グレーティング24は、基板の片面に所定の屈折率を有する格子を所定の深さとピッチで一面に形成したもので、前記深さとピッチを適宜設定することにより、所望の波長のレーザ光に対して、入射したレーザ光をメインビームとなる0次光と、サイドビームとなる二つの±1次光とに回折するものである。
そこで、図3に示した本実施例における光路補正装置23は、第三の波長板19が出射する直線偏光のレーザ光をグレーティング24に入射して3ビームのレーザ光に回折する。
そこで、図3に示した本実施例における光路補正装置23は、第三の波長板19が出射する直線偏光のレーザ光をグレーティング24に入射して3ビームのレーザ光に回折する。
図5は、本発明に係わる光路補正装置23を光ピックアップに適応した場合の模式図の例を示すものである。光ピックアップ25は、偏光方向が同一で互いに平行に伝搬する三つの異なる波長の直線偏光を出射する3波長レーザ20と、該3波長レーザ20が出射するレーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3が同一の光路上を伝搬するよう光路補正をする光路補正装置23と、該光路補正装置23が出射するレーザ光を所定の比率で分離するハーフミラー7と、該ハーフミラー7の分離面で90°反射するレーザ光を入射し円偏光に変換すると共に後述する対物レンズが出射する光ディスク8からの反射光である円偏光のレーザ光を直線偏光に変換する第四の波長板22と、該第四の波長板22を出射する円偏光を光ディスク8に形成されたピット10に集光させると共に、該ピット10上で反射されたレーザ光を入射する対物レンズ11と、前記第四の波長板22を出射する直線偏光を前記ハーフミラー7を経由して検出する光検出器12と、前記ハーフミラー7の分離面を透過する3波長レーザ20の出射レベルをモニターするモニター光検出器13とにより構成する。
本第二の実施例による光路補正装置23を用いた光ピックアップ25は、図2に示した第一の実施例による光路補正装置14を用いた光ピックアップ21と比べて光路補正装置14の出射側にグレーティング24が付加されていることのみ異なるので、これに関連した部分についてのみ説明し、他の部分の動作については光ピックアップ21と同一であるので説明を省略する。
光路補正装置23を出射し、回折作用により3ビーム化されたレーザ光L17はハーフミラー7に入射され、レーザ光L17のうちの約90%は分離面で90°反射されるレーザ光L18として、前記レーザ光L17の約10%は分離面を透過するレーザ光L19として夫々分離される。
光路補正装置23を出射し、回折作用により3ビーム化されたレーザ光L17はハーフミラー7に入射され、レーザ光L17のうちの約90%は分離面で90°反射されるレーザ光L18として、前記レーザ光L17の約10%は分離面を透過するレーザ光L19として夫々分離される。
次に、ハーフミラー7により反射する3ビーム化されたレーザ光L18は、第四の波長板22に入射する。第四の波長板22は、1/4波長板として機能し、3波長共に円偏光のレーザ光L20に変換する。第四の波長板22を出射した円偏光に変換されたレーザ光L20は、レンズ11により集光されてレーザ光L21となり、光ディスク8に形成されたピット10に照射される。そこで、円偏光のレーザ光L21は、ピット10の表面において鏡面対称の関係に基づいて逆回転した円偏光のレーザ光L22となって反射される。反射された円偏光のレーザ光L22は、前記集光レンズ11を介してレーザ光L23となって第四の波長板22に入射し、直線偏光のレーザ光L24に変換され出射する。該出射した直線偏光のレーザ光L24は、前記ハーフミラー7を反射して第四の波長板22に入射された直線偏光のレーザ光L18と直交する偏光方向の直線偏光である。次に、レーザ光L24はハーフミラー7に入射され、該ハーフミラー7をそのまま透過して光検出器12に入射し、光ディスクに書き込まれた情報を読み出す。
一方、ハーフミラー8を透過した前記レーザ光L19は、モニター光検出器13に入射して3波長レーザ20が出射するレーザ光の出射レベルをモニターする。光ピックアップにおいては、レーザ素子が出射するレーザ光の出射レベルを一定に保つことが必要であり、レーザ光の一部をモニター用の光検出器において受光してAPC回路(図示していない)でレーザ素子の駆動回路を制御し、レーザ光の出射レベルを一定に保っている。
以上説明したように本実施例における光ピックアップは、光路補正装置23を用いて光ディスクに照射するレーザ光を3ビーム化することが出来る。
以上説明したように本実施例における光ピックアップは、光路補正装置23を用いて光ディスクに照射するレーザ光を3ビーム化することが出来る。
次に、本発明に係わる光路補正装置において、第三の実施例について説明する。
前述した光ピックアップ21においては、光ディスク8に照射するレーザ光と、光ディスク8により反射するレーザ光とが光ピックアップ21の光学系において、互いに干渉して光学特性の劣化をきたさないように、第四の波長板22を用いて光ディスク8に照射するレーザ光を円偏光としたが、本第三の実施例においては、光路補正装置から出射するレーザ光を円偏光とし、光ピックアップから第四の波長板を削除したことが特徴である。
前述した光ピックアップ21においては、光ディスク8に照射するレーザ光と、光ディスク8により反射するレーザ光とが光ピックアップ21の光学系において、互いに干渉して光学特性の劣化をきたさないように、第四の波長板22を用いて光ディスク8に照射するレーザ光を円偏光としたが、本第三の実施例においては、光路補正装置から出射するレーザ光を円偏光とし、光ピックアップから第四の波長板を削除したことが特徴である。
図6は、本発明に係わる光路補正装置の第三の実施例を示す構成図であり、斜視図を示す。光路補正装置26は、第一の波長板15と第一の複屈折板16と第二の波長板17と第二の複屈折板18と第五の波長板27とを備えており、3波長レーザ20の前方に配置する。本第三の実施例においては、3波長レーザ20の機能、第一の波長板15の機能、第一の複屈折板16の機能、第二の波長板17の機能、第二の複屈折板18の機能は、図1に示したものと同一な機能であるので、説明を省略し、第五の波長板27の機能について説明する。
第二の複屈折板18を透過したレーザ光P1、レーザ光P2、及びレーザ光S3は、第五の波長板27に入射する。第五の波長板27は、複屈折性を有する結晶もしくは高分子フィルムであり、第二の複屈折板18を透過した三つの直線偏光が入射すると、直線偏光の常光成分と異常光成分との位相差が90°となるよう作用するので、第五の波長板27の出射光は、互いに位相が90°ずれた常光成分と異常光成分とが合成されて円偏光となる。
そこで第五の波長板27は、1/4波長板として機能するよう構成され、波長板を、レーザ光P1に対してはπ/2・(2r−1)の位相差を発生するように、又、レーザ光P2に対してもπ/2・(2r−1)の位相差を発生するように、更に、レーザ光S3に対してもπ/2・(2r−1)の位相差を発生するような板厚に設定する。
以上説明したように本第三の実施例における光路補正装置26は、三つの波長のレーザ光を同一光路上に伝搬させると共に、出射する三つのレーザ光を円偏光とする。
尚、図6に示した光路補正装置の動作を説明する図においては、光路補正装置26を構成する光学部品を所定の間隔を開けて配置しているが、光路補正装置26を構成する光学部品を貼り合わせて積層一体化して小型化することも出来る。
そこで第五の波長板27は、1/4波長板として機能するよう構成され、波長板を、レーザ光P1に対してはπ/2・(2r−1)の位相差を発生するように、又、レーザ光P2に対してもπ/2・(2r−1)の位相差を発生するように、更に、レーザ光S3に対してもπ/2・(2r−1)の位相差を発生するような板厚に設定する。
以上説明したように本第三の実施例における光路補正装置26は、三つの波長のレーザ光を同一光路上に伝搬させると共に、出射する三つのレーザ光を円偏光とする。
尚、図6に示した光路補正装置の動作を説明する図においては、光路補正装置26を構成する光学部品を所定の間隔を開けて配置しているが、光路補正装置26を構成する光学部品を貼り合わせて積層一体化して小型化することも出来る。
次に、本発明に係わる光路補正装置26を光ピックアップに用いた実施例を説明する。
図7は、本発明に係わる光路補正装置26を光ピックアップに適応した場合の模式図の例を示すものである。光ピックアップ28は、偏光方向が同一であり互いに平行に伝搬する三つの異なる波長の直線偏光を出射する3波長レーザ20と、該3波長レーザ20が出射するレーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3が同一の光路上を伝搬するよう光路補正を行うと共に、三つのレーザ光を円偏光として出射する光路補正装置26と、該光路補正装置26が出射するレーザ光を所定の比率で分離するハーフミラー7と、該ハーフミラー7の分離面で90°反射するレーザ光を入射し光ディスク8に形成されたピット10に集光させると共に、該ピット10上で反射されたレーザ光を入射する対物レンズ11と、対物レンズ11を透過したレーザ光を前記ハーフミラー7を経由して検出する光検出器12と、前記ハーフミラー7の分離面を透過する3波長レーザ20の出射レベルをモニターするモニター光検出器13とにより構成する。
図7は、本発明に係わる光路補正装置26を光ピックアップに適応した場合の模式図の例を示すものである。光ピックアップ28は、偏光方向が同一であり互いに平行に伝搬する三つの異なる波長の直線偏光を出射する3波長レーザ20と、該3波長レーザ20が出射するレーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3が同一の光路上を伝搬するよう光路補正を行うと共に、三つのレーザ光を円偏光として出射する光路補正装置26と、該光路補正装置26が出射するレーザ光を所定の比率で分離するハーフミラー7と、該ハーフミラー7の分離面で90°反射するレーザ光を入射し光ディスク8に形成されたピット10に集光させると共に、該ピット10上で反射されたレーザ光を入射する対物レンズ11と、対物レンズ11を透過したレーザ光を前記ハーフミラー7を経由して検出する光検出器12と、前記ハーフミラー7の分離面を透過する3波長レーザ20の出射レベルをモニターするモニター光検出器13とにより構成する。
図7の動作を説明すると、3波長レーザ20から出射される、例えば波長650nmのレーザ光S1、波長780nmのレーザ光S2、及び波長405nmのレーザ光S3は互いに同じ偏光方向を有する直線偏光であり、レーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3は、所定の光路間隔にて平行に伝搬し、光路補正装置26へ入射する。光路補正装置26においては、前述したように、複数の波長板、複屈折板を用いて、3波長レーザ20が出射するレーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3が同一の光路上に伝搬するよう光路補正をすると共に、三つのレーザ光を円偏光として出射する。この三つの円偏光のレーザ光をまとめてレーザ光L25とする。
次に、光路補正装置26を出射したレーザ光L25はハーフミラー7に入射され、例えば、レーザ光L25のうちの約90%は分離面で90°反射されるレーザ光L26として、前記レーザ光L25の約10%は分離面を透過するレーザ光L27として夫々分離される。
次に、ハーフミラー7により反射したレーザ光L26は、集光レンズ11により集光されてレーザ光L28となり、光ディスク8に形成されているピット10に照射する。
次に、ハーフミラー7により反射したレーザ光L26は、集光レンズ11により集光されてレーザ光L28となり、光ディスク8に形成されているピット10に照射する。
そこで、円偏光のレーザ光L28は、ピット10の表面において鏡面対称の関係に基づいて逆回転した円偏光のレーザ光L29となって反射される。反射された円偏光のレーザ光L29は、前記集光レンズ11を透過してレーザ光L30となり、レーザ光L30はハーフミラー7に入射する。レーザ光L30は、該ハーフミラー7をそのまま透過して光検出器12に入射し、光ディスクに書き込まれた情報を読み出す。
一方、ハーフミラー7を透過した所定量の前記レーザ光L27は、モニター光検出器13に入射して3波長レーザ20が出射するレーザ光の出射レベルをモニターする。光ピックアップにおいては、レーザ素子が出射するレーザ光の出射レベルを一定に保つことが必要であり、レーザ光の一部をモニター用の光検出器において受光してAPC回路(図示していない)でレーザ素子の駆動回路を制御し、レーザ光の出射レベルを一定に保っている。
次に、本発明に係わる光路補正装置において、第四の実施例について説明する。
光路補正装置の第二の実施例において説明したように、一般に、光ディスクを再生するためレーザ光を光ディスクに照射する際に、光ディスクに形成したピットに照射するデータ読み書き用の光と、ピットの両脇の溝に照射するトラッキング用の光とが必要である場合、レーザ光を3ビーム化することが要求され、第四の実施例は、光路補正装置の出射光を3ビーム化したものである。そこで、第三の実施例において説明した光路補正装置の出射側に、レーザ光を回折させるグレーティングを付加し、円偏光を3ビーム化して出射させた。
光路補正装置の第二の実施例において説明したように、一般に、光ディスクを再生するためレーザ光を光ディスクに照射する際に、光ディスクに形成したピットに照射するデータ読み書き用の光と、ピットの両脇の溝に照射するトラッキング用の光とが必要である場合、レーザ光を3ビーム化することが要求され、第四の実施例は、光路補正装置の出射光を3ビーム化したものである。そこで、第三の実施例において説明した光路補正装置の出射側に、レーザ光を回折させるグレーティングを付加し、円偏光を3ビーム化して出射させた。
図8は、本発明に係わる光路補正装置の第四の実施例を示す構成図であり、斜視図を示す。光路補正装置29は、第一の波長板15と第一の複屈折板16と第二の波長板17と第二の複屈折板18と第五の波長板27とグレーティング24とを備えており、3波長レーザ20の前方に配置する。
尚、図8においては、光路補正装置29を構成する光学部品を所定の間隔を開けて配置しているが、光路補正装置29を構成する光学部品を貼り合わせて積層一体化して小型化することも出来る。
尚、図8においては、光路補正装置29を構成する光学部品を所定の間隔を開けて配置しているが、光路補正装置29を構成する光学部品を貼り合わせて積層一体化して小型化することも出来る。
本第四の実施例は、図6に示した第三の実施例における光路補正装置と比べて、円偏光を出射する第五の波長板27の出射側にグレーティング24を付加したことのみ異なる。又、グレーティング24の機能については、図4を用いて説明したものと同様である。そこで、光路補正装置29は、3波長レーザ20が出射する同一な偏光方向を有し平行に伝搬する三つの異なる波長のレーザ光の光路を補正して同一な光路を伝搬するようにすると共に、第五の波長板27が出射する円偏光をグレーティング24に入射して3ビームのレーザ光に回折して出射する。
次に、図9は、本発明に係わる光路補正装置29を光ピックアップに適応した場合の模式図の例を示すものである。光ピックアップ30は、偏光方向が互いに平行である三つの異なる波長の直線偏光を出射する3波長レーザ20と、該3波長レーザ20が出射するレーザ光S1、レーザ光S2、及びレーザ光S3が同一の光路上を伝搬するよう光路補正をすると共に、円偏光の3ビーム化されたレーザ光を出射する光路補正装置29と、該光路補正装置29が出射するレーザ光を所定の比率で分離するハーフミラー7と、該ハーフミラー7の分離面で90°反射するレーザ光を入射し光ディスク8に形成されたピット10に集光させると共に、該ピット10上で反射されたレーザ光を入射する対物レンズ11と、該対物レンズ11を透過するレーザ光を前記ハーフミラー7を経由して検出する光検出器12と、前記ハーフミラー7の分離面を透過する3波長レーザ20の出射レベルをモニターするモニター光検出器13とにより構成する。
本第四の実施例による光路補正装置29を用いた光ピックアップ30は、図7に示した第三の実施例による光路補正装置26を用いた光ピックアップ28と比べて光路補正装置26のレーザ光の出射側にグレーティング24が付加されていることのみ異なるので、これに関連した部分についてのみ説明し、他の部分の動作については光ピックアップ28と同一であるので説明を省略する。
光路補正装置29を出射し、回折作用により3ビーム化されたレーザ光L31はハーフミラー7に入射され、レーザ光L31のうちの約90%は分離面で90°反射されるレーザ光L32として、前記レーザ光L31の約10%は分離面を透過するレーザ光L33として夫々分離される。
光路補正装置29を出射し、回折作用により3ビーム化されたレーザ光L31はハーフミラー7に入射され、レーザ光L31のうちの約90%は分離面で90°反射されるレーザ光L32として、前記レーザ光L31の約10%は分離面を透過するレーザ光L33として夫々分離される。
次に、ハーフミラー7により反射したレーザ光L32は、集光レンズ11により集光されてレーザ光L34となり、光ディスク8に形成されているピット10に照射する。
そこで、円偏光のレーザ光L34は、ピット10の表面において鏡面対称の関係に基づいて逆回転した円偏光のレーザ光L35となって反射される。反射された円偏光のレーザ光L35は、前記集光レンズ11を透過してレーザ光L36となり、次に、レーザ光L36はハーフミラー7に入射され、該ハーフミラー7をそのまま透過して光検出器12に入射し、光ディスクに書き込まれた情報を読み出す。
そこで、円偏光のレーザ光L34は、ピット10の表面において鏡面対称の関係に基づいて逆回転した円偏光のレーザ光L35となって反射される。反射された円偏光のレーザ光L35は、前記集光レンズ11を透過してレーザ光L36となり、次に、レーザ光L36はハーフミラー7に入射され、該ハーフミラー7をそのまま透過して光検出器12に入射し、光ディスクに書き込まれた情報を読み出す。
一方、ハーフミラー7を透過した所定量の前記レーザ光L33は、モニター光検出器13に入射して3波長レーザ20が出射するレーザ光の出射レベルをモニターする。光ピックアップにおいては、レーザ素子が出射するレーザ光の出射レベルを一定に保つことが必要であり、レーザ光の一部をモニター用の光検出器において受光してAPC回路(図示していない)でレーザ素子の駆動回路を制御し、レーザ光の出射レベルを一定に保っている。
以上説明したように本実施例における光ピックアップは、光路補正装置29を用いて光ディスクに照射する円偏光のレーザ光を3ビーム化することが出来る。
以上説明したように本実施例における光ピックアップは、光路補正装置29を用いて光ディスクに照射する円偏光のレーザ光を3ビーム化することが出来る。
1・・光路補正装置、 2・・波長板、
3・・複屈折板、 4・・波長板、
5・・2波長レーザ、 6・・光ピックアップ、
7・・ハーフミラー、 8・・光ディスク、
9・・波長板、 10・・ピット、
11・・集光レンズ、 12・・光検出器、
13・・モニター光検出器、 14・・光路補正装置、
15・・第一の波長板、 16・・第一の複屈折板、
17・・第二の波長板、 18・・第二の複屈折板、
19・・第三の波長板、 20・・3波長レーザ、
21・・光ピックアップ、 22・・第四の波長板、
23・・光路補正装置、 24・・グレーティング、
25・・光ピックアップ、 26・・光路補正装置、
27・・第五の波長板、 28・・光ピックアップ、
29・・光路補正装置、 30・・光ピックアップ
3・・複屈折板、 4・・波長板、
5・・2波長レーザ、 6・・光ピックアップ、
7・・ハーフミラー、 8・・光ディスク、
9・・波長板、 10・・ピット、
11・・集光レンズ、 12・・光検出器、
13・・モニター光検出器、 14・・光路補正装置、
15・・第一の波長板、 16・・第一の複屈折板、
17・・第二の波長板、 18・・第二の複屈折板、
19・・第三の波長板、 20・・3波長レーザ、
21・・光ピックアップ、 22・・第四の波長板、
23・・光路補正装置、 24・・グレーティング、
25・・光ピックアップ、 26・・光路補正装置、
27・・第五の波長板、 28・・光ピックアップ、
29・・光路補正装置、 30・・光ピックアップ
Claims (16)
- 偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の直線偏光を入射する第一の波長板と、該第一の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第一の複屈折板と、該第一の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の波長板と、該第二の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の複屈折板と、該第二の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第三の波長板とを備えた光路補正装置であって、
前記第一の波長板は、波長λ1の直線偏光に対しては2π・m1の位相差を、波長λ2の直線偏光に対してはπ・(2n1−1)の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q1の位相差を発生するものであり(m1、n1、q1は整数)、
前記第一の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ2の直線偏光が常光線となり、一方、波長λ1、及び波長λ3の直線偏光が異常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd1、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt1とした時、
t1=d1・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、
前記第二の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m2−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対しては2π・n2の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q2の位相差を発生するものであり(m2、n2、q2は整数)、
前記第二の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ1、及び波長λ2の直線偏光が異常光線となり、一方、波長λ3の直線偏光が常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd2、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt2とした時、
t2=d2・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、
前記第三の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m3−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対してはπ・(2n3−1)の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q3の位相差を発生するもの(m3、n3、q3は整数)であることを特徴とする光路補正装置。 - 前記光路補正装置のレーザ光の出射側に、入射した異なる波長の直線偏光を0次光と±1次光の3ビームに回折するグレーティングを付加したことを特徴とする請求項1に記載の光路補正装置。
- 前記第一の波長板と前記第一の複屈折板と前記第二の波長板と前記第二の複屈折板と前記第三の波長板とを貼り合わせて一体化した構造を有することを特徴とする請求項1に記載の光路補正装置。
- 前記第一の波長板と前記第一の複屈折板と前記第二の波長板と前記第二の複屈折板と前記第三の波長板と前記グレーティングとを貼り合わせて一体化した構造を有することを特徴とする請求項2に記載の光路補正装置。
- 前記第一の波長板、第二の波長板、及び第三の波長板は、複屈折性を有する結晶であることを特徴とする請求項1乃至4に記載の光路補正装置。
- 前記第一の複屈折板、及び第二の複屈折板は、リチウムナイオベート若しくはルチルであることを特徴とする請求項1乃至5に記載の光路補正装置。
- 前記波長λ1の直線偏光は、660nmの波長のレーザ光であり、前記波長λ2の直線偏光は、785nmの波長のレーザ光であり、前記波長λ3の直線偏光は、405nmの波長のレーザ光であることを特徴とする請求項1乃至6に記載の光路補正装置。
- 偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長の直線偏光を出射する光源と、
該光源から三つの直線偏光を入射する請求項1乃至7に記載の光路補正装置と、
該光路補正装置を出射した光線を入射する第四の波長板と、
該第四の波長板を出射した光線を光記憶媒体に集光する対物レンズとを備えたことを特徴とする光ピックアップ。 - 偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の直線偏光を入射する第一の波長板と、該第一の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第一の複屈折板と、該第一の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の波長板と、該第二の波長板を出射した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第二の複屈折板と、該第二の複屈折板を透過した前記三つの異なる波長の直線偏光を入射する第五の波長板とを備えた光路補正装置であって、
前記第一の波長板は、波長λ1の直線偏光に対しては2π・m1の位相差を、波長λ2の直線偏光に対してはπ・(2n1−1)の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q1の位相差を発生するものであり(m1、n1、q1は整数)、
前記第一の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ2の直線偏光が常光線となり、一方、波長λ1、及び波長λ3の直線偏光が異常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd1、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt1とした時、
t1=d1・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、
前記第二の波長板は、波長λ1の直線偏光に対してはπ・(2m2−1)の位相差を、波長λ2の直線偏光に対しては2π・n2の位相差を、波長λ3の直線偏光に対しては2π・q2の位相差を発生するものであり(m2、n2、q2は整数)、
前記第二の複屈折板は、その光学軸に対して前記第一の波長板を出射した波長λ1、及び波長λ2の直線偏光が異常光線となり、一方、波長λ3の直線偏光が常光線となるよう配置し、光路を補正する距離をd2、複屈折板の常光線に対する屈折率をn0、複屈折板の異常光線に対する屈折率をne、複屈折板の主面法線と光学軸とのなす角度をθ、複屈折板の板厚をt2とした時、
t2=d2・|(n02・tanθ+ne2)/((n02−ne2)・tanθ)|
の関係式を満足しているものであり、
前記第五の波長板は、波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の直線偏光に対してπ/2・(2r−1)の位相差を発生するもの(rは整数)であることを特徴とする光路補正装置。 - 前記光路補正装置のレーザ光の出射側に、入射した異なる波長の直線偏光を0次光と±1次光の3ビームに回折するグレーティングを付加したことを特徴とする請求項9に記載の光路補正装置。
- 前記第一の波長板と前記第一の複屈折板と前記第二の波長板と前記第二の複屈折板と前記第五の波長板とを貼り合わせて一体化した構造を有することを特徴とする請求項9に記載の光路補正装置。
- 前記第一の波長板と前記第一の複屈折板と前記第二の波長板と前記第二の複屈折板と前記第五の波長板と前記グレーティングとを貼り合わせて一体化した構造を有することを特徴とする請求項10に記載の光路補正装置。
- 前記第一の波長板、第二の波長板、及び第五の波長板は、複屈折性を有する結晶であることを特徴とする請求項9乃至12に記載の光路補正装置。
- 前記第一の複屈折板、及び第二の複屈折板は、リチウムナイオベート若しくはルチルであることを特徴とする請求項9乃至13に記載の光路補正装置。
- 前記波長λ1の直線偏光は、660nmの波長のレーザ光であり、前記波長λ2の直線偏光は、785nmの波長のレーザ光であり、前記波長λ3の直線偏光は、405nmの波長のレーザ光であることを特徴とする請求項9乃至14に記載の光路補正装置。
- 偏光方向が同一であり光路が平行である三つの異なる波長の直線偏光を出射する光源と、
該光源から三つの直線偏光を入射する請求項9乃至15に記載の光路補正装置と、
該光路補正装置を出射した光線を光記憶媒体に集光する対物レンズとを備えたことを特徴とする光ピックアップ。
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