JPH05314564A - 光磁気ヘッド装置 - Google Patents
光磁気ヘッド装置Info
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- JPH05314564A JPH05314564A JP4117840A JP11784092A JPH05314564A JP H05314564 A JPH05314564 A JP H05314564A JP 4117840 A JP4117840 A JP 4117840A JP 11784092 A JP11784092 A JP 11784092A JP H05314564 A JPH05314564 A JP H05314564A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 誤差信号検出や情報信号検出に回折素子を用
いた光磁気ヘッド装置において、電気回路の構成が簡単
であり、かつ再生C/Nの低下が生じないという二つの
条件を同時に満たすことを可能にする。 【構成】 ディスク5からの反射光は、入射光のうち特
定の偏光成分のみを主に回折する偏光性単純格子34に
より0次光(常光成分)および±1次回折光(異常光成
分)の3つに分離され、偏光性単純格子34の0次光
は、入射光のうち前記偏光成分と直交する偏光成分のみ
を主に回折する偏光性ホログラム35により、さらに0
次光および±1次回折光の3つに分離される。誤差信号
は、偏光性単純格子34の0次光のうち、偏光性ホログ
ラム35で分離された一部の光を用いて検出する。一
方、情報信号は、偏光性単純格子34の0次光のうち、
偏光性ホログラム35で分離された残りの光と、偏光性
単純格子34の±1次回折光との差から検出する。
いた光磁気ヘッド装置において、電気回路の構成が簡単
であり、かつ再生C/Nの低下が生じないという二つの
条件を同時に満たすことを可能にする。 【構成】 ディスク5からの反射光は、入射光のうち特
定の偏光成分のみを主に回折する偏光性単純格子34に
より0次光(常光成分)および±1次回折光(異常光成
分)の3つに分離され、偏光性単純格子34の0次光
は、入射光のうち前記偏光成分と直交する偏光成分のみ
を主に回折する偏光性ホログラム35により、さらに0
次光および±1次回折光の3つに分離される。誤差信号
は、偏光性単純格子34の0次光のうち、偏光性ホログ
ラム35で分離された一部の光を用いて検出する。一
方、情報信号は、偏光性単純格子34の0次光のうち、
偏光性ホログラム35で分離された残りの光と、偏光性
単純格子34の±1次回折光との差から検出する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスクに情報
の記録,再生,あるいは消去を行うための光磁気ヘッド
装置に関するものである。
の記録,再生,あるいは消去を行うための光磁気ヘッド
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、光磁気ヘッド装置の小型,低価格
化を目的として、誤差信号検出や情報信号検出に回折素
子を用いた構成が提案されている。
化を目的として、誤差信号検出や情報信号検出に回折素
子を用いた構成が提案されている。
【0003】図7に回折素子を用いた従来の光磁気ヘッ
ド装置の構成例を示す(例えば特開平3−29137号
公報参照)。この従来の光磁気ヘッド装置では、光源の
半導体レーザ1からの出射光はコリメータレンズ2で平
行光に変換され、ビームスプリッタ3を透過したのち、
対物レンズ4により、光磁気記録媒体であるディスク5
上に集光される。ディスク5からの反射光は、対物レン
ズ4で再び平行光に変換されたのち、ビームスプリッタ
3で反射され、集光光学系外に分離される。この光は、
レンズ6で収束光に変換されたのち、回折素子である偏
光性ホログラム7に入射する。偏光性ホログラム7から
の透過光(0次光)および±1次回折光は、共通の光検
出器8で受光される。
ド装置の構成例を示す(例えば特開平3−29137号
公報参照)。この従来の光磁気ヘッド装置では、光源の
半導体レーザ1からの出射光はコリメータレンズ2で平
行光に変換され、ビームスプリッタ3を透過したのち、
対物レンズ4により、光磁気記録媒体であるディスク5
上に集光される。ディスク5からの反射光は、対物レン
ズ4で再び平行光に変換されたのち、ビームスプリッタ
3で反射され、集光光学系外に分離される。この光は、
レンズ6で収束光に変換されたのち、回折素子である偏
光性ホログラム7に入射する。偏光性ホログラム7から
の透過光(0次光)および±1次回折光は、共通の光検
出器8で受光される。
【0004】偏光性ホログラム7は、図8に示すよう
に、格子方向の異なる4つの領域9〜12に分割されて
いる。また、基坂の光学軸13の方向は、入射光の偏向
方向に対し約45°に設定されている。
に、格子方向の異なる4つの領域9〜12に分割されて
いる。また、基坂の光学軸13の方向は、入射光の偏向
方向に対し約45°に設定されている。
【0005】図9に偏光性ホログラム7の断面形状を示
す。複屈折性を有するニオブ酸リチウム基坂14上に、
プロトン交換領域15および位相補償膜16から成る二
層の回折格子が形成されている。位相補償膜16として
は、例えばNb2 O5 が用いられる。回折格子のライン
部とスペース部の位相差は、光学軸13に垂直な偏光成
分(常光)に対しては0、光学軸13に平行な偏光成分
(異常光)に対してはπに設定されている。従って、入
射光の常光成分は回折されずに全て透過し、異常光成分
は透過せずに全て回折される。
す。複屈折性を有するニオブ酸リチウム基坂14上に、
プロトン交換領域15および位相補償膜16から成る二
層の回折格子が形成されている。位相補償膜16として
は、例えばNb2 O5 が用いられる。回折格子のライン
部とスペース部の位相差は、光学軸13に垂直な偏光成
分(常光)に対しては0、光学軸13に平行な偏光成分
(異常光)に対してはπに設定されている。従って、入
射光の常光成分は回折されずに全て透過し、異常光成分
は透過せずに全て回折される。
【0006】図10に光検出器8の構成と、光検出器8
上の光スポット17〜25の配置を示す。この図はディ
スク5が対物レンズ4の焦点に正しく位置している場合
を示している。光検出器8は、8つの受光部26〜33
に分かれている。光スポット17は偏光性ホログラム7
の0次光(常光成分)であり、受光部26で受光され
る。光スポット18〜21は、偏光性ホログラム7の+
1次回折光(異常光成分)であり、領域9〜12での回
折光がそれぞれ光スポット18,19,20,21に対
応している。光スポット18は受光部27,28の分割
線上、光スポット19は受光部29,30の分割線上に
それぞれ集光される。また、光スポット20は受光部3
1、光スポット21は受光部32でそれぞれ受光され
る。光スポット22〜25は、偏光性ホログラム7の−
1次回折光(異常光成分)であり、領域9〜12での回
折光がそれぞれ光スポット22,23,25,24に対
応している。4つの光スポットは全て受光部33で受光
される。
上の光スポット17〜25の配置を示す。この図はディ
スク5が対物レンズ4の焦点に正しく位置している場合
を示している。光検出器8は、8つの受光部26〜33
に分かれている。光スポット17は偏光性ホログラム7
の0次光(常光成分)であり、受光部26で受光され
る。光スポット18〜21は、偏光性ホログラム7の+
1次回折光(異常光成分)であり、領域9〜12での回
折光がそれぞれ光スポット18,19,20,21に対
応している。光スポット18は受光部27,28の分割
線上、光スポット19は受光部29,30の分割線上に
それぞれ集光される。また、光スポット20は受光部3
1、光スポット21は受光部32でそれぞれ受光され
る。光スポット22〜25は、偏光性ホログラム7の−
1次回折光(異常光成分)であり、領域9〜12での回
折光がそれぞれ光スポット22,23,25,24に対
応している。4つの光スポットは全て受光部33で受光
される。
【0007】受光部26〜33からの出力をそれぞれV
(26)〜V(33)で表すと、フォーカス誤差信号は
フーコー法の原理により、(V(27)+V(30))
−(V(28)+V(29))から得ることができる。
また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原理によ
り、V(31)−V(32)から得ることができる。一
方、情報信号は差動検出法の原理により、0次光と±1
次回折光の差であるV(26)−(V(27)+V(2
8)+V(29)+V(30)+V(31)+V(3
2)+V(33))、または0次光と−1次回折光の差
であるV(26)−V(33)から得ることができる。
(26)〜V(33)で表すと、フォーカス誤差信号は
フーコー法の原理により、(V(27)+V(30))
−(V(28)+V(29))から得ることができる。
また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原理によ
り、V(31)−V(32)から得ることができる。一
方、情報信号は差動検出法の原理により、0次光と±1
次回折光の差であるV(26)−(V(27)+V(2
8)+V(29)+V(30)+V(31)+V(3
2)+V(33))、または0次光と−1次回折光の差
であるV(26)−V(33)から得ることができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】偏光性ホログラム7に
おける常光成分の透過率は理論的に100%、異常光成
分の±1次回折効率は理論的にそれぞれ40.5%であ
る。一方、差動検出法において、半導体レーザの強度変
動やディスクの反射率変動に起因する同相ノイズを抑圧
するには、情報信号検出に用いる常光成分と異常光成分
の光量がほぼ等しい必要がある。
おける常光成分の透過率は理論的に100%、異常光成
分の±1次回折効率は理論的にそれぞれ40.5%であ
る。一方、差動検出法において、半導体レーザの強度変
動やディスクの反射率変動に起因する同相ノイズを抑圧
するには、情報信号検出に用いる常光成分と異常光成分
の光量がほぼ等しい必要がある。
【0009】情報信号を0次光と±1次回折光の差から
得る方式では、常光成分と異常光成分の光量比は10
0:81とややアンバランスになるが、同相ノイズはか
なり抑圧できる。しかしこの方式では、+1次回折比を
誤差信号検出と情報信号検出の両方に用いるため、二種
類の信号を電気回路上で分離する必要があり、電気回路
の構成が複雑になる。
得る方式では、常光成分と異常光成分の光量比は10
0:81とややアンバランスになるが、同相ノイズはか
なり抑圧できる。しかしこの方式では、+1次回折比を
誤差信号検出と情報信号検出の両方に用いるため、二種
類の信号を電気回路上で分離する必要があり、電気回路
の構成が複雑になる。
【0010】情報信号を0次光と−1次回折光の差から
得る方式では、誤差信号検出と情報信号検出に別々の光
を用いるため、二種類の信号を電気回路上で分離する必
要はない。しかしこの方式では、常光成分と異常光成分
の光量光は100:40.5とかなりアンバランスにな
り、このままでは同相ノイズを十分に抑圧できない。偏
光性ホログラム7の光学軸13の方向と入射光の偏光方
向がなす角度を45°からずらすことにより光量比を
1:1にすることは可能であるが、それに伴って今度は
キャリアレベルが低下するため、いずれにしても結果と
して再生C/Nの低下が生じる。
得る方式では、誤差信号検出と情報信号検出に別々の光
を用いるため、二種類の信号を電気回路上で分離する必
要はない。しかしこの方式では、常光成分と異常光成分
の光量光は100:40.5とかなりアンバランスにな
り、このままでは同相ノイズを十分に抑圧できない。偏
光性ホログラム7の光学軸13の方向と入射光の偏光方
向がなす角度を45°からずらすことにより光量比を
1:1にすることは可能であるが、それに伴って今度は
キャリアレベルが低下するため、いずれにしても結果と
して再生C/Nの低下が生じる。
【0011】このように、従来の光磁気ヘッド装置に
は、電気回路の構成が簡単であり、かつ再生C/Nの低
下が生じないという二つの条件を同時に満たすことがで
きないという問題がある。
は、電気回路の構成が簡単であり、かつ再生C/Nの低
下が生じないという二つの条件を同時に満たすことがで
きないという問題がある。
【0012】本発明の目的は、このような従来の問題を
解決し、二つの条件を同時に満たすことが可能な光磁気
ヘッド装置を提供することにある。
解決し、二つの条件を同時に満たすことが可能な光磁気
ヘッド装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、光源と、
この光源からの出射光を光磁気記録媒体上に集光する集
光光学系と、前記光磁気記録媒体からの反射光を前記集
光光学系外に分離する分離手段と、前記分離手段により
分離された光を回折する回折素子と、この回折素子から
の透過光および回折光を受光する光検出器を少なくとも
有する光磁気ヘッド装置において、前記回折素子は、複
屈折性を有する基坂上に、入射光のうち特定の偏光成分
のみを主に回折する回折格子が形成された第一の回折素
子と、複屈折性を有する基坂上に、入射光のうち前記偏
光成分と直交する偏光成分のみを主に回折する回折格子
が形成された第二の回折格子との二枚で構成されている
ことを特徴とする。
この光源からの出射光を光磁気記録媒体上に集光する集
光光学系と、前記光磁気記録媒体からの反射光を前記集
光光学系外に分離する分離手段と、前記分離手段により
分離された光を回折する回折素子と、この回折素子から
の透過光および回折光を受光する光検出器を少なくとも
有する光磁気ヘッド装置において、前記回折素子は、複
屈折性を有する基坂上に、入射光のうち特定の偏光成分
のみを主に回折する回折格子が形成された第一の回折素
子と、複屈折性を有する基坂上に、入射光のうち前記偏
光成分と直交する偏光成分のみを主に回折する回折格子
が形成された第二の回折格子との二枚で構成されている
ことを特徴とする。
【0014】第2の発明は、光源と、この光源からの出
射光を光磁気記録媒体上に集光する集光光学系と、前記
光磁気記録媒体からの反射光を前記集光光学系外に分離
する分離手段と、前記分離手段により分離された光を回
折する回折素子と、この回折素子からの透過光および回
折光を受光する光検出器を少なくとも有する光磁気ヘッ
ド装置において、前記回折素子は、複屈折性を有する基
坂の一方の面に、入射光のうち特定の偏光成分のみを主
に回折する第一の回折格子が形成されており、前記基坂
の他方の面に、入射光のうち前記偏光成分と直交する偏
光成分のみを主に回折する第二の回折格子が形成されて
いる構成であることを特徴とする。
射光を光磁気記録媒体上に集光する集光光学系と、前記
光磁気記録媒体からの反射光を前記集光光学系外に分離
する分離手段と、前記分離手段により分離された光を回
折する回折素子と、この回折素子からの透過光および回
折光を受光する光検出器を少なくとも有する光磁気ヘッ
ド装置において、前記回折素子は、複屈折性を有する基
坂の一方の面に、入射光のうち特定の偏光成分のみを主
に回折する第一の回折格子が形成されており、前記基坂
の他方の面に、入射光のうち前記偏光成分と直交する偏
光成分のみを主に回折する第二の回折格子が形成されて
いる構成であることを特徴とする。
【0015】
【作用】本発明の光磁気ヘッド装置においては、光磁気
記録媒体からの反射光は、入射光のうち特定の偏光成分
のみを主に回折する第一の回折格子により0次光(常光
成分)および±1次回折光(異常光成分)の3つに分離
され、第一の回折格子の0次光は、入射光のうち前記偏
光成分と直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回
折格子により、さらに0次光および±1次回折光の3つ
に分離される。誤差信号は、例えば第一の回折格子の0
次光のうち、第二の回折格子で分離された一部の光を用
いて検出する。一方、情報信号は、例えば第一の回折格
子の0次光のうち、第二の回折格子で分離された残りの
光と、第一の回折格子の±1次回折光との差から検出す
る。
記録媒体からの反射光は、入射光のうち特定の偏光成分
のみを主に回折する第一の回折格子により0次光(常光
成分)および±1次回折光(異常光成分)の3つに分離
され、第一の回折格子の0次光は、入射光のうち前記偏
光成分と直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回
折格子により、さらに0次光および±1次回折光の3つ
に分離される。誤差信号は、例えば第一の回折格子の0
次光のうち、第二の回折格子で分離された一部の光を用
いて検出する。一方、情報信号は、例えば第一の回折格
子の0次光のうち、第二の回折格子で分離された残りの
光と、第一の回折格子の±1次回折光との差から検出す
る。
【0016】このような構成によれば、誤差信号と情報
信号を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構
成が簡単になる。また、情報信号検出に用いる常光成分
と異常光成分の光量がほぼ等しくなるように第二の回折
格子の回折効率を設定することにより、キャリアレベル
の低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生C
/Nの低下も生じない。
信号を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構
成が簡単になる。また、情報信号検出に用いる常光成分
と異常光成分の光量がほぼ等しくなるように第二の回折
格子の回折効率を設定することにより、キャリアレベル
の低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生C
/Nの低下も生じない。
【0017】
【実施例】以下に図面を参照して本発明の実施例につき
説明する。
説明する。
【0018】図1に、第1の発明の光磁気ヘッド装置の
実施例の構成を示す。ディスク5からの反射光がレンズ
6で収束光に変換されるまでの構成は図7に示す従来例
と同じであるので、説明は省略する。レンズ6で収束光
に変換された光は、入射光のうち特定の偏光成分のみを
主に回折する第一の回折素子である偏光性単純格子34
に入射し、0次光および±1次回折光に分離される。偏
光性単純格子34の0次光は、入射光のうち前記偏光成
分と直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回折素
子である偏光性ホログラム35に入射し、さらに0次光
および±1次回折光に分離される。一方、偏光性単純格
子45の±1次回折光は、偏光性ホログラム35に入射
し、回折されずに全て透過する。これらの光は、共通の
光検出器36で受光される。
実施例の構成を示す。ディスク5からの反射光がレンズ
6で収束光に変換されるまでの構成は図7に示す従来例
と同じであるので、説明は省略する。レンズ6で収束光
に変換された光は、入射光のうち特定の偏光成分のみを
主に回折する第一の回折素子である偏光性単純格子34
に入射し、0次光および±1次回折光に分離される。偏
光性単純格子34の0次光は、入射光のうち前記偏光成
分と直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回折素
子である偏光性ホログラム35に入射し、さらに0次光
および±1次回折光に分離される。一方、偏光性単純格
子45の±1次回折光は、偏光性ホログラム35に入射
し、回折されずに全て透過する。これらの光は、共通の
光検出器36で受光される。
【0019】偏光性単純格子34は、図2に示すよう
に、全面が単一の領域で構成されている。また、基坂の
光学軸13の方向は、入射光の偏光方向に対し約45°
に設定されている。
に、全面が単一の領域で構成されている。また、基坂の
光学軸13の方向は、入射光の偏光方向に対し約45°
に設定されている。
【0020】偏光性単純格子34の断面形状は図9に示
す従来例と同じであり、複屈折性を有するニオブ酸リチ
ウム基坂14上に、プロトン交換領域15および位相補
償膜16から成る二層の回折格子が形成されている。位
相補償膜16としては、例えばNb2 O5 が用いられ
る。回折格子のライン部とスペース部の位相差は、光学
軸13に垂直な偏光成分(常光)に対しては0、光学軸
13に平行な偏光成分(異常光)に対してはπに設定さ
れている。従って、入射光の常光成分は回折されずに全
て透過し、異常光成分は透過せずに全て回折される。
す従来例と同じであり、複屈折性を有するニオブ酸リチ
ウム基坂14上に、プロトン交換領域15および位相補
償膜16から成る二層の回折格子が形成されている。位
相補償膜16としては、例えばNb2 O5 が用いられ
る。回折格子のライン部とスペース部の位相差は、光学
軸13に垂直な偏光成分(常光)に対しては0、光学軸
13に平行な偏光成分(異常光)に対してはπに設定さ
れている。従って、入射光の常光成分は回折されずに全
て透過し、異常光成分は透過せずに全て回折される。
【0021】偏光性ホログラム35は、図3に示すよう
に、格子方向の異なる4つの領域9〜12に分割されて
いる。(a)は図8に示す従来の偏光性ホログラム7と
同様に、全体が領域9,10に二分割され、これに目玉
状の領域11,12が付加された構成であり、(b)は
全体が2本の対角線で均等に領域9〜12に四分割され
た構成である。また、基坂の光学軸37の方向は、図2
に示す偏光性単純格子34の基坂の光学軸13の方向と
直交しており、入射光の偏光方向に対し約−45°に設
定されている。
に、格子方向の異なる4つの領域9〜12に分割されて
いる。(a)は図8に示す従来の偏光性ホログラム7と
同様に、全体が領域9,10に二分割され、これに目玉
状の領域11,12が付加された構成であり、(b)は
全体が2本の対角線で均等に領域9〜12に四分割され
た構成である。また、基坂の光学軸37の方向は、図2
に示す偏光性単純格子34の基坂の光学軸13の方向と
直交しており、入射光の偏光方向に対し約−45°に設
定されている。
【0022】偏光性ホログラム35の断面形状は図9に
示す従来例と同じであり、複屈折性を有するニオブ酸リ
チウム基坂14上に、プロトン交換領域15および位相
補償膜16から成る二層の回折格子が形成されている。
位相補償膜16としては、例えばNb2 O5 が用いられ
る。回折格子のライン部とスペース部の位相差は、光学
軸37に垂直な偏光成分(常光)に対しては0、光学軸
37に平行な偏光成分(異常光)に対しては0とπの間
に設定されている。従って、入射光の常光成分は回折さ
れずに全て透過し、異常光成分は位相差から決まる回折
効率に従って透過光と回折光に分離される。
示す従来例と同じであり、複屈折性を有するニオブ酸リ
チウム基坂14上に、プロトン交換領域15および位相
補償膜16から成る二層の回折格子が形成されている。
位相補償膜16としては、例えばNb2 O5 が用いられ
る。回折格子のライン部とスペース部の位相差は、光学
軸37に垂直な偏光成分(常光)に対しては0、光学軸
37に平行な偏光成分(異常光)に対しては0とπの間
に設定されている。従って、入射光の常光成分は回折さ
れずに全て透過し、異常光成分は位相差から決まる回折
効率に従って透過光と回折光に分離される。
【0023】図4に光検出器36の構成と、光検出器3
6上の光スポット38〜48の配置を示す。この図はデ
ィスク5が対物レンズ4の焦点に正しく位置している場
合を示している。光検出器36は、10個の受光部49
〜58に分かれている。
6上の光スポット38〜48の配置を示す。この図はデ
ィスク5が対物レンズ4の焦点に正しく位置している場
合を示している。光検出器36は、10個の受光部49
〜58に分かれている。
【0024】光スポット38は、偏光性単純格子34の
0次光(常光成分)かつ偏光性ホログラム35の0次光
(異常光成分)であり、受光部49で受光される。光ス
ポット39〜42は、偏光性単純格子34の0次光(常
光成分)かつ偏光性ホログラム35の+1次回折光(異
常光成分)であり、領域9〜12での回折光がそれぞれ
光スポット39,40,41,42に対応している。光
スポット39は受光部50,51の分割線上、光スポッ
ト40は受光部52,53の分割線上にそれぞれ集光さ
れる。また、光スポット41は受光部54、光スポット
42は受光部55でそれぞれ受光される。光スポット4
3〜46は、偏光性単純格子34の0次光(常光成分)
かつ偏光性ホログラム35の−1次回折光(異常光成
分)であり、領域9〜12での回折光がそれぞれ光スポ
ット43,44,46,45に対応している。4つの光
スポットは全て受光部56で受光される。
0次光(常光成分)かつ偏光性ホログラム35の0次光
(異常光成分)であり、受光部49で受光される。光ス
ポット39〜42は、偏光性単純格子34の0次光(常
光成分)かつ偏光性ホログラム35の+1次回折光(異
常光成分)であり、領域9〜12での回折光がそれぞれ
光スポット39,40,41,42に対応している。光
スポット39は受光部50,51の分割線上、光スポッ
ト40は受光部52,53の分割線上にそれぞれ集光さ
れる。また、光スポット41は受光部54、光スポット
42は受光部55でそれぞれ受光される。光スポット4
3〜46は、偏光性単純格子34の0次光(常光成分)
かつ偏光性ホログラム35の−1次回折光(異常光成
分)であり、領域9〜12での回折光がそれぞれ光スポ
ット43,44,46,45に対応している。4つの光
スポットは全て受光部56で受光される。
【0025】光スポット47は、偏光性単純格子34の
+1次回折光(異常光成分)かつ偏光性ホログラム35
の0次光(常光成分)であり、受光部57で受光され
る。光スポット48は、偏光性単純格子34の−1次回
折光(異常光成分)かつ偏光性ホログラム35の0次光
(常光成分)であり、受光部58で受光される。
+1次回折光(異常光成分)かつ偏光性ホログラム35
の0次光(常光成分)であり、受光部57で受光され
る。光スポット48は、偏光性単純格子34の−1次回
折光(異常光成分)かつ偏光性ホログラム35の0次光
(常光成分)であり、受光部58で受光される。
【0026】受光部49〜58からの出力をそれぞれV
(49)〜V(58)で表すと、フォーカス誤差信号は
フーコー法の原理により、(V(50)+V(53))
−(V(51)+V(52))から得ることができる。
また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原理によ
り、V(54)−V(55)から得ることができる。一
方、情報信号は差動検出法の原理により、偏光性単純格
子34の0次光のうち偏光性ホログラム35の0次光と
−1次回折光を足したものと、偏光性単純格子34の±
1次回折光でありかつ偏光性ホログラム35の0次光と
の差である(V(49)+V(56))−(V(57)
+V(58))から得ることができる。この場合、受光
部49と受光部56を一体化することも可能である。
(49)〜V(58)で表すと、フォーカス誤差信号は
フーコー法の原理により、(V(50)+V(53))
−(V(51)+V(52))から得ることができる。
また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原理によ
り、V(54)−V(55)から得ることができる。一
方、情報信号は差動検出法の原理により、偏光性単純格
子34の0次光のうち偏光性ホログラム35の0次光と
−1次回折光を足したものと、偏光性単純格子34の±
1次回折光でありかつ偏光性ホログラム35の0次光と
の差である(V(49)+V(56))−(V(57)
+V(58))から得ることができる。この場合、受光
部49と受光部56を一体化することも可能である。
【0027】本実施例において、偏光性単純格子34に
おける常光成分の透過率は理論的に100%、異常光成
分の±1次回折効率は理論的にそれぞれ40.5%であ
る。ここで、偏光性ホログラム35のライン部とスペー
ス部の異常光に対する位相差を例えば68.8°に設定
すると、異常光成分の透過率は理論的に68.1%、±
1次回折効率は理論的にそれぞれ12.9%となる。従
って、偏光性単純格子34の0次光(常光成分)のうち
偏光性ホログラム35の0次光と−1次回折光(異常光
成分)を足したものの効率と、偏光性単純格子34の±
1次回折光(異常光成分)でありかつ偏光性ホログラム
35の0次光(常光成分)の効率は、共に81.0%と
なる。このように、情報信号検出に用いる常光成分と異
常光成分の光量を等しくすることにより、キャリアレベ
ルの低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生
C/Nの低下は生じない。
おける常光成分の透過率は理論的に100%、異常光成
分の±1次回折効率は理論的にそれぞれ40.5%であ
る。ここで、偏光性ホログラム35のライン部とスペー
ス部の異常光に対する位相差を例えば68.8°に設定
すると、異常光成分の透過率は理論的に68.1%、±
1次回折効率は理論的にそれぞれ12.9%となる。従
って、偏光性単純格子34の0次光(常光成分)のうち
偏光性ホログラム35の0次光と−1次回折光(異常光
成分)を足したものの効率と、偏光性単純格子34の±
1次回折光(異常光成分)でありかつ偏光性ホログラム
35の0次光(常光成分)の効率は、共に81.0%と
なる。このように、情報信号検出に用いる常光成分と異
常光成分の光量を等しくすることにより、キャリアレベ
ルの低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生
C/Nの低下は生じない。
【0028】また、本実施例の方式では、誤差信号検出
と情報信号検出に別々の光を用いるため、二種類の信号
を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構成が
簡単になる。
と情報信号検出に別々の光を用いるため、二種類の信号
を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構成が
簡単になる。
【0029】図1には、ビームスプリッタ3と光検出器
36の間に、レンズ6,偏光性単純格子34,偏光性ホ
ログラム35がこの順に配置されている構成を示した
が、レンズ6,偏光性単純格子34,偏光性ホログラム
35はどの順に配置されていても構わない。また、ビー
ムスプリッタ3,レンズ6,偏光性単純格子34,偏光
性ホログラム35のうち二つ以上の素子を、接着により
一体化することも可能である。
36の間に、レンズ6,偏光性単純格子34,偏光性ホ
ログラム35がこの順に配置されている構成を示した
が、レンズ6,偏光性単純格子34,偏光性ホログラム
35はどの順に配置されていても構わない。また、ビー
ムスプリッタ3,レンズ6,偏光性単純格子34,偏光
性ホログラム35のうち二つ以上の素子を、接着により
一体化することも可能である。
【0030】図5に、第2の発明の光磁気ヘッド装置の
実施例の構成を示す。ディスク5からの反射光がレンズ
6で収束光に変換されるまでの構成は図7に示す従来例
と同じであるので、説明は省略する。本実施例において
は、回折素子として、基坂の入射側に偏光性単純格子面
59、基坂の出射側に偏光性ホログラム面60がそれぞ
れ形成されたものを用いる。レンズ6で収束光に変換さ
れた光は、入射光のうち特定の偏光成分のみを主に回折
する第一の回折格子である偏光性単純格子面59におい
て、0次光および±1次回折光に分離される。偏光性単
純格子面59の0次光は、入射光のうち前記偏光成分と
直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回折格子で
ある偏光性ホログラム面60に入射し、さらに0次光お
よび±1次回折光に分離される。一方、偏光性単純格子
面59の±1次回折光は、偏光性ホログラム面60に入
射し、回折されずに全て透過する。これらの光は、共通
の光検出器36で受光される。
実施例の構成を示す。ディスク5からの反射光がレンズ
6で収束光に変換されるまでの構成は図7に示す従来例
と同じであるので、説明は省略する。本実施例において
は、回折素子として、基坂の入射側に偏光性単純格子面
59、基坂の出射側に偏光性ホログラム面60がそれぞ
れ形成されたものを用いる。レンズ6で収束光に変換さ
れた光は、入射光のうち特定の偏光成分のみを主に回折
する第一の回折格子である偏光性単純格子面59におい
て、0次光および±1次回折光に分離される。偏光性単
純格子面59の0次光は、入射光のうち前記偏光成分と
直交する偏光成分のみを主に回折する第二の回折格子で
ある偏光性ホログラム面60に入射し、さらに0次光お
よび±1次回折光に分離される。一方、偏光性単純格子
面59の±1次回折光は、偏光性ホログラム面60に入
射し、回折されずに全て透過する。これらの光は、共通
の光検出器36で受光される。
【0031】偏光性単純格子面59は、図2に示す偏光
性単純格子34と同様に、全面が単一の領域で構成され
ている。また、基坂の光学軸13の方向は、入射光の偏
光方向に対し約45°に設定されている。
性単純格子34と同様に、全面が単一の領域で構成され
ている。また、基坂の光学軸13の方向は、入射光の偏
光方向に対し約45°に設定されている。
【0032】偏光性ホログラム面60は、図3(a),
(b)に示す偏光性ホログラム35と同様に、格子方向
の異なる4つの領域9〜12に分割されている。
(b)に示す偏光性ホログラム35と同様に、格子方向
の異なる4つの領域9〜12に分割されている。
【0033】図6に、本実施例に用いる回折素子の断面
形状を示す。複屈折性を有するニオブ酸リチウム基坂1
4の入射側には、プロトン交換領域15および位相補償
膜16から成る二層の回折格子である偏光性単純格子面
59が形成されている。位相補償膜16としては、例え
ばNb2 O5 が用いられる。回折格子のライン部とスペ
ース部の位相差は、光学軸13に垂直な偏光成分(常
光)に対しては0、光学軸13に平行な偏光成分(異常
光)に対してはπに設定されている。従って、入射光の
常光成分は回折されずに全て透過し、異常光成分は透過
せずに全て回折される。一方、複屈折性を有するニオブ
酸リチウム基坂14の出射側には、プロトン交換領域6
1および位相補償膜62から成る二層の回折格子である
偏光性ホログラム面60が形成されている。位相補償膜
62としては、例えばNb2 O5 が用いられる。回折格
子のライン部とスペース部の位相差は、光学軸13に垂
直な偏光成分(常光)に対しては0とπの間、光学軸1
3に平行な偏光成分(異常光)に対しては2πに設定さ
れている。従って、入射光の常光成分は位相差から決ま
る回折効率に従って透過光と回折光に分離され、異常光
成分は回折されずに全て透過する。
形状を示す。複屈折性を有するニオブ酸リチウム基坂1
4の入射側には、プロトン交換領域15および位相補償
膜16から成る二層の回折格子である偏光性単純格子面
59が形成されている。位相補償膜16としては、例え
ばNb2 O5 が用いられる。回折格子のライン部とスペ
ース部の位相差は、光学軸13に垂直な偏光成分(常
光)に対しては0、光学軸13に平行な偏光成分(異常
光)に対してはπに設定されている。従って、入射光の
常光成分は回折されずに全て透過し、異常光成分は透過
せずに全て回折される。一方、複屈折性を有するニオブ
酸リチウム基坂14の出射側には、プロトン交換領域6
1および位相補償膜62から成る二層の回折格子である
偏光性ホログラム面60が形成されている。位相補償膜
62としては、例えばNb2 O5 が用いられる。回折格
子のライン部とスペース部の位相差は、光学軸13に垂
直な偏光成分(常光)に対しては0とπの間、光学軸1
3に平行な偏光成分(異常光)に対しては2πに設定さ
れている。従って、入射光の常光成分は位相差から決ま
る回折効率に従って透過光と回折光に分離され、異常光
成分は回折されずに全て透過する。
【0034】光検出器36の構成と、光検出器36上の
光スポットの配置に関しては、第1の発明の光磁気ヘッ
ド装置の実施例と同じく図4に示す通りであるので、説
明は省略する。また、フォーカス誤差信号,トラック誤
差信号,情報信号の検出方法に関しても、第1の発明の
光磁気ヘッド装置の実施例と同じであるので、説明は省
略する。
光スポットの配置に関しては、第1の発明の光磁気ヘッ
ド装置の実施例と同じく図4に示す通りであるので、説
明は省略する。また、フォーカス誤差信号,トラック誤
差信号,情報信号の検出方法に関しても、第1の発明の
光磁気ヘッド装置の実施例と同じであるので、説明は省
略する。
【0035】本実施例においても、第1の発明の光磁気
ヘッド装置の実施例と同様に、情報信号検出に用いる常
光成分と異常光成分の光量を等しくすることにより、キ
ャリアレベルの低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できる
ため、再生C/Nの低下は生じない。また、誤差信号検
出と情報信号検出に別々の光を用いるため、二種類の信
号を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構成
が簡単になる。
ヘッド装置の実施例と同様に、情報信号検出に用いる常
光成分と異常光成分の光量を等しくすることにより、キ
ャリアレベルの低下を伴わずに同相ノイズを抑圧できる
ため、再生C/Nの低下は生じない。また、誤差信号検
出と情報信号検出に別々の光を用いるため、二種類の信
号を電気回路上で分離する必要がなく、電気回路の構成
が簡単になる。
【0036】図5には、回折素子として、基坂の入射側
に偏光性単純格子面59、基坂の出射側に偏光性ホログ
ラム面60がそれぞれ形成されたものを示したが、偏光
性単純格子面59と偏光性ホログラム面60の順序を逆
にしても構わない。さらに、レンズ6と回折素子の順序
を逆にしても構わない。また、ビームスプリッタ3,レ
ンズ6,回折素子のうち二つ以上の素子を、接着により
一体化することも可能である。
に偏光性単純格子面59、基坂の出射側に偏光性ホログ
ラム面60がそれぞれ形成されたものを示したが、偏光
性単純格子面59と偏光性ホログラム面60の順序を逆
にしても構わない。さらに、レンズ6と回折素子の順序
を逆にしても構わない。また、ビームスプリッタ3,レ
ンズ6,回折素子のうち二つ以上の素子を、接着により
一体化することも可能である。
【0037】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明の光磁気ヘ
ッド装置においては、誤差信号と情報信号を電気回路上
で分離する必要がなく、電気回路の構成が簡単になる。
また、情報信号検出に用いる常光成分と異常光成分の光
量を等しくすることにより、キャリアレベルの低下を伴
わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生C/Nの低下
も生じない。すなわち、本発明によれば、従来の光磁気
ヘッド装置では実現できなかった、上記二つの条件を同
時に満たすことが可能な光磁気ヘッド装置を得ることが
できる。
ッド装置においては、誤差信号と情報信号を電気回路上
で分離する必要がなく、電気回路の構成が簡単になる。
また、情報信号検出に用いる常光成分と異常光成分の光
量を等しくすることにより、キャリアレベルの低下を伴
わずに同相ノイズを抑圧できるため、再生C/Nの低下
も生じない。すなわち、本発明によれば、従来の光磁気
ヘッド装置では実現できなかった、上記二つの条件を同
時に満たすことが可能な光磁気ヘッド装置を得ることが
できる。
【図1】第1の発明の光磁気ヘッド装置の実施例の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図2】第1の発明の光磁気ヘッド装置の実施例に用い
る偏光性単純格子の構成と、基坂の光学軸の方向を示す
図である。
る偏光性単純格子の構成と、基坂の光学軸の方向を示す
図である。
【図3】第1の発明の光磁気ヘッド装置の実施例に用い
る偏光性ホログラムの構成と、基坂の光学軸の方向を示
す図である。
る偏光性ホログラムの構成と、基坂の光学軸の方向を示
す図である。
【図4】第1および第2の発明の光磁気ヘッド装置の実
施例に用いる光検出器の構成と、光検出器上の光スポッ
トの配置を示す図である。
施例に用いる光検出器の構成と、光検出器上の光スポッ
トの配置を示す図である。
【図5】第2の発明の光磁気ヘッド装置の実施例の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図6】第2の発明の光磁気ヘッド装置の実施例に用い
る回折素子の断面形状を示す図である。
る回折素子の断面形状を示す図である。
【図7】従来の光磁気ヘッド装置の構成例を示す図であ
る。
る。
【図8】従来の光磁気ヘッド装置に用いる偏光性ホログ
ラムの構成と、基坂の光学軸の方向を示す図である。
ラムの構成と、基坂の光学軸の方向を示す図である。
【図9】従来の光磁気ヘッド装置に用いる偏光性ホログ
ラムの断面形状を示す図である。
ラムの断面形状を示す図である。
【図10】従来の光磁気ヘッド装置に用いる光検出器の
構成と、光検出器上の光スポットの配置を示す図であ
る。
構成と、光検出器上の光スポットの配置を示す図であ
る。
1 半導体レーザ 2 コリメータレンズ 3 ビームスプリッタ 4 対物レンズ 5 ディスク 6 レンズ 7 偏光性ホログラム 8 光検出器 9〜12 領域 13 光学軸 14 ニオブ酸リチウム基坂 15,61 プロトン交換領域 16,62 位相補償膜 17〜25 光スポット 26〜33 受光部 34 偏光性単純格子 35 偏光性ホログラム 36 光検出器 37 光学軸 38〜48 光スポット 49〜58 受光部 59 偏光性単純格子面 60 偏光性ホログラム面
Claims (2)
- 【請求項1】光源と、この光源からの出射光を光磁気記
録媒体上に集光する集光光学系と、前記光磁気記録媒体
からの反射光を前記集光光学系外に分離する分離手段
と、前記分離手段により分離された光を回折する回折素
子と、この回折素子からの透過光および回折光を受光す
る光検出器を少なくとも有する光磁気ヘッド装置におい
て、 前記回折素子は、複屈折性を有する基坂上に、入射光の
うち特定の偏光成分のみを主に回折する回折格子が形成
された第一の回折素子と、複屈折性を有する基坂上に、
入射光のうち前記偏光成分と直交する偏光成分のみを主
に回折する回折格子が形成された第二の回折格子との二
枚で構成されていることを特徴とする光磁気ヘッド装
置。 - 【請求項2】光源と、この光源からの出射光を光磁気記
録媒体上に集光する集光光学系と、前記光磁気記録媒体
からの反射光を前記集光光学系外に分離する分離手段
と、前記分離手段により分離された光を回折する回折素
子と、この回折素子からの透過光および回折光を受光す
る光検出器を少なくとも有する光磁気ヘッド装置におい
て、 前記回折素子は、複屈折性を有する基坂の一方の面に、
入射光のうち特定の偏光成分のみを主に回折する第一の
回折格子が形成されており、前記基坂の他方の面に、入
射光のうち前記偏光成分と直交する偏光成分のみを主に
回折する第二の回折格子が形成されている構成であるこ
とを特徴とする光磁気ヘッド装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4117840A JP2993273B2 (ja) | 1992-05-12 | 1992-05-12 | 光磁気ヘッド装置 |
EP92121587A EP0547624B1 (en) | 1991-12-18 | 1992-12-18 | Magneto-optical head system |
DE69223124T DE69223124T2 (de) | 1991-12-18 | 1992-12-18 | System für magneto-optischen Kopf |
US08/377,614 US5453963A (en) | 1991-12-18 | 1995-01-25 | Magneto-optical head system for detection of error and information signals by diffraction lights |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4117840A JP2993273B2 (ja) | 1992-05-12 | 1992-05-12 | 光磁気ヘッド装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05314564A true JPH05314564A (ja) | 1993-11-26 |
JP2993273B2 JP2993273B2 (ja) | 1999-12-20 |
Family
ID=14721566
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4117840A Expired - Lifetime JP2993273B2 (ja) | 1991-12-18 | 1992-05-12 | 光磁気ヘッド装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2993273B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4778662B2 (ja) * | 2000-06-29 | 2011-09-21 | パナソニック株式会社 | 光ヘッド装置および光情報処理装置 |
-
1992
- 1992-05-12 JP JP4117840A patent/JP2993273B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4778662B2 (ja) * | 2000-06-29 | 2011-09-21 | パナソニック株式会社 | 光ヘッド装置および光情報処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2993273B2 (ja) | 1999-12-20 |
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