JP2934174B2 - 電子部品の製造方法 - Google Patents

電子部品の製造方法

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、主として半導体
チップ又は電子部品等の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ダイオード、トランジスタ、IC
(集積回路)、及びLSI(高集積回路)等の半導体チ
ップをエポキシ樹脂等の封止材を用いて封止する電子部
品の製造方法が考案されている。図4(a),(b)
は、従来の電子部品の製造方法を説明する図である。図
4(a)において、1は封止される半導体チップであ
り、リードフレーム2の上面2aに固着されている。リ
ードフレーム2は、薄い金属板を櫛の歯状に打ち抜いた
ものであり、電極部2−1,2−2、及び上記半導体チ
ップ1を固着するための固定部2−3とからなり、これ
らの各部分は、図示は省略しているが、外枠を介して連
結されている。また、前記半導体チップ1と電極部2−
1,2−2とは、それぞれ金属製のワイヤ3a,3bに
より接続されている。この半導体チップ1、リードフレ
ーム2、及びワイヤ3a,3bは、全体、又は一部が封
止される被封止部材4を形作っている。
【0003】5−1,5−2は窪みが形成された1つの
接触面5a,5bを有する、1対の金型であり、この窪
みが契合するように接触面5a,5bを互いに接触させ
ることで、金型5−1,5−2内部に中空部6が形成さ
れる。また、金型5−1,5−2は、電極部2−1,2
−2の一部が中空部6の中に位置するように、接触面5
a,5bにより電極部2−1,2−2を挟み、なおか
つ、半導体チップ1及び固定部2−3が上記中空部6に
位置するように配置される。
【0004】半導体チップ1を封止するとき、操作者
は、まず、上記のように各部材を配置する。そして、図
示は省略しているが、成型するためのトランスファー成
型機により、固体のエポキシ樹脂等の封入材を加熱溶融
し、金型5−1,5−2の中空部6に、加圧注入する。
次に、この封入材を冷却し硬化させた後、金型5−1,
5−2を脱型し、余分なバリを取る。そして、リードフ
レーム2の外枠部分を切断すると、図4(b)に示され
たような半導体部品7が形成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の電子部品の製造方法は、封止する際に用いられる金
型5−1,5−2は、精密に作られていなければならな
いため、作成時間が極めて長く、また、作成コストが極
めて高価である。また、金型5−1,5−2が変形等し
た場合は、その修理が容易でなく、修理コストが極めて
高くなるという問題があった。また、金型5−1,5−
2は、非常に重く取扱いが容易でないので、封止を行う
ときの準備、又は金型5−1,5−2を取り替えるとき
に非常に手間がかかり、また保管する際も広いスペース
が必要となるという問題があった。
【0006】また、封止を行う際に用いられるトランス
ファー成型機は極めて高価であり、なおかつ、このトラ
ンスファー成型機内で金型5−1,5−2を加熱してお
くための熱源コストが高くなるという問題があった。ま
た、固体のエポキシ樹脂等の封止材は、粉末状のものを
物理的にタブレット状にしたものであり、クリーンルー
ム内での取扱い時に塵埃が発生するという問題があっ
た。また、金型5−1,5−2の中空部6に封止材を注
入させるためには、封止材の出入口を2つ必要とし、こ
の出入口に留まった封止材は、後に取り除かなければな
らないので、封止材が45%以上無駄となり、その上、
工程数が増えるという問題があった。
【0007】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、簡素な構成で安価に電子部品の封止が行える電子部
品の製造方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
電子部品及び該電子部品の電極となるリードフレーム
下部に遮断板を接着し、前記電子部品上部近傍に、所定
の形状の孔を有する印刷用金属板を、前記電子部品上部
に該孔が位置するように、かつ前記遮断板と平行になる
ように配し、前記印刷用金属板の上面に液状封止樹脂を
滴下し、該液状封止樹脂を、スクイージにより前記孔に
流し込み印刷することにより前記電子部品を封止するこ
とを特徴とする電子部品の製造方法である。
【0009】請求項2記載の発明は、電子部品及び該電
子部品の電極となるリードフレームを裏返して配し、前
記電子部品の上部近傍に、所定の形状の孔を有する印刷
用金属板を、前記電子部品上部に該孔が位置するよう
に、かつ前記リードフレームと平行になるように配し、
前記印刷用金属板の上面に液状封止樹脂を滴下し、前記
液状封止材を、スクイージにより前記孔に流し込み印刷
することにより前記電子部品及び前記リードフレームの
裏面を封止し、かつ、前記電子部品と前記リードフレー
ムを裏返して、同様に電子部品を封止することを特徴と
する電子部品の製造方法である。
【0010】請求項3記載の発明は、電子部品及び該電
子部品の電極となるリードフレームの下部に遮断板を接
着し、該リードフレームの上面に、該電子部品を取り囲
むように堰止め部材を形成して、電子部品上部から滴下
される液状封止樹脂を堰止めて、電子部品を封止するこ
とを特徴とする電子部品の製造方法である。請求項4記
載の発明は、請求項2記載の電子部品の製造方法におい
て、前記リードフレームの上面又は下面に、前記電子部
品を取り囲むように、請求項3記載の堰止め部材を形成
して、該電子部品を封止することを特徴とするものであ
る。請求項5記載の発明は、請求項1又は請求項3記載
の電子部品の製造方法において、前記遮断板は、金属板
であって、前記リードフレームの下部に絶縁性を有する
樹脂により接着されていることを特徴とするものであ
る。請求項6記載の発明は、請求項1又は請求項3記載
の電子部品の製造方法において、前記遮断板は粘着フィ
ルムであり、当該粘着フィルムを、前記電子部品の封止
後取り除く工程を更に有することを特徴とするものであ
る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施形態について説明する。 〔第1実施形態〕図1(a),(b)は、本発明の第1
実施形態による電子部品の製造方法を説明する図であ
り、図4の各部と共通する部材については同一の符号を
付し、その説明を省略する。図1(a)において、8
は、リードフレーム2(電極部材)の下面2bに接着さ
れている遮断板であり、リードフレーム2の固定部2−
3と電極部2−1,2−2との間の隙間を覆い、封止後
の底面の形状を平らな面とするためのものである。この
遮断板8は、絶縁フィルム、絶縁板、又は金属板等であ
り、その形状は隙間の位置等に応じて定められる。
【0012】上記絶縁フィルムは耐熱性の粘着フィルム
であり、片面に絶縁性の樹脂が塗布されているものであ
る。また、上記絶縁板はプラスチック製、繊維強化樹脂
板製、又はセラミック製のものであり、耐熱性及び絶縁
性を有する接着剤又は樹脂により、リードフレーム2の
下面2bに接着される。また、上記金属板は、例えばア
ルミ、銅、ニッケル等の金属、又は金属メッキされた板
であり、高い熱導伝性を有するものである。この金属板
は、半導体チップ1が動作するときに発生する熱を放熱
させる場合に用いられ、耐熱性、熱導伝性及び絶縁性を
有する接着剤又は樹脂により、リードフレーム2の下面
2bに接着される。
【0013】9は孔10が形成されている印刷用金属板
であり、スクリーンのはたらきをするものである。この
孔10の内径及び形状は、半導体チップ1の大きさ、形
状、及びワイヤ3a,3bと金属部2−1,2−1の接
続位置等によって設計されている。この印刷用金属板9
は、水平に配置された被封止部材4と平行に、なおか
つ,孔10の縁が,半導体チップ1及びワイヤ3a,3
bの外側となるように被封止部材4の上部近傍に配置さ
れる。11は上記印刷用金属板7の上面に滴下される封
止用の液状封止樹脂である。また、12は、この液状封
止樹脂8を、印刷用金属板7に形成された孔10へ流し
込ませるスクイージである。このスクイージ12は、図
示は省略しているが、水平可動部に取り付けられてお
り、印刷用金属板9の上部近傍を水平方向に移動するこ
とが可能である。
【0014】被封止部材4の封止を行う場合、操作者
は、まず、リードフレーム2の下面2bに遮断板8を接
着し、封止部材4が水平になるようにして、封止部材4
を所定の位置に配置する。次に、孔10の縁が,半導体
チップ1及びワイヤ3a,3bにかからないように,印
刷用金属板9を、被封止部材4の上部近傍に配置する。
そして、印刷用金属板9の上面に液状封止樹脂11を滴
下し、スクイージ12を水平に移動させて、液状封止樹
脂11を孔10へ流し込み、この孔10の形状に液状樹
脂11を被封止部材上面に印刷し封止する。そして、液
状封止樹脂11を硬化させ、リードフレーム2の外枠部
分を切断して、電極部2−1,2−2と固定部2−3と
を切り離すと、図1(b)に示されたような半導体部品
13が形成される。なお、上記遮断板8が粘着フィルム
である場合は、封止完了後(液状封止樹脂11が硬化し
た後)この粘着フィルムを取り除いても良い。
【0015】〔第2実施形態〕図2(a)〜(c)は、
本発明の第2実施形態による電子部品の製造方法を説明
する図であり、図4及び図1と共通する部材については
同一の符号を付し、その説明を省略する。図2(a)に
おいて、被封止部材4は、リードフレーム2の下面2b
を上側にして、水平に配置されている。また、孔10の
縁がリードフレーム2の固定部2−3と電極部2−1,
2−2の隙間の外側になるように、かつ被封止部材4と
印刷用金属板9が平行となるように、印刷用電金属板9
が、被封止部材4の上部近傍に配置されている。この印
刷用金属板9の上部近傍には、スクイージ12が配置さ
れている。
【0016】被封止部材4の封止を行うとき、操作者
は、まず、上記のように各部材を配置した後、印刷用金
属板9の上面に液状封止樹脂11を滴下する。そして、
スクイージ12を水平方向に移動させて液状封止樹脂1
1を孔10へ流し込み、リードフレーム2の下面2b
に、この孔10の形状に液状樹脂11を印刷して封止す
る。次に、被封止部材4を裏返し、図2(b)に示され
たようにリードフレーム2の上面2aを上側にする。こ
のとき、印刷用金属板9の孔10の縁が、半導体チップ
1、及びワイヤ3a,3bにかからないように、印刷用
金属板9を、被封止部材4の上部近傍に配置する。そし
て、再度、印刷用金属板9上面に液状封止樹脂11を滴
下し、スクイージ12により、該液状封止樹脂11を孔
10に流し込み印刷して、半導体チップ1を封止する。
このようにして被封止部材4の上面および下面を封止
し、液状封止樹脂11を硬化させ、リードフレーム2の
外枠部分を切断すると、図2(c)に示されたような半
導体部品15が形成される。
【0017】なお、封止順序は、半導体チップ1をリー
ドフレーム2の上面2aに固着する前に、リードフレー
ム2の下面2bを上側にして封止し、次に、リードフレ
ーム2を裏返し、半導体チップ1をリードフレーム2へ
固着して、ワイヤ3a,3bを接続した後、半導体チッ
プ1を封止する順序でも良い。また、半導体チップ1を
封止するときは、下面に印刷した液状封止樹脂14が硬
化する前でも硬化した後でも良い。
【0018】〔第3実施形態〕図3(a),(b)は、
本発明の第3実施形態による電子部品の製造方法を説明
する図であり、図4、図1、及び図2と共通する部材に
ついては同一の符号を付し、その説明を省略する。図3
(a)において、リードフレーム2の下面2bには、図
1において説明したのと同様に遮断板8が接着されてい
る。そして、リードフレーム2の電極部2−1,2−2
の上面には、半導体チップ1及びワイヤ3a,3bを取
り囲むように流れ止め用ダム16が形成されている。こ
の流れ止め用ダム16は、熱硬化型樹脂又は紫外線硬化
型の樹脂であり、印刷、ディスペンス、又は転写等の方
法により形成される。
【0019】封止する場合、操作者は、まず、被封止部
材4の構成要素であるリードフレーム2の下面2bに遮
断板8を接着する。次に、リードフレーム2の電極部2
−1,2−2の上面に、流れ止め用ダム16を、半導体
チップ1及びワイヤ3a,3bを取り囲むように形成す
る。なお、上記流れ止め用ダム16の形成は半導体チッ
プ1をリードフレーム2に固着する前後いずれであって
も良い。そして、半導体チップ1上部から、液状封止樹
脂を滴下し、流れ止め用ダム16で囲まれた範囲を埋め
る。そして、この液状封止樹脂を硬化させ、リードフレ
ーム2の外枠部分を切断して、電極部2−1,2−2と
固定部2−3とを切り離すと、図3(b)に示された半
導体部品17が形成される。
【0020】また、この電子部品の製造方法は、第1実
施形態、及び第2実施形態で示された電子部品の製造方
法いずれにおいても応用可能である。なお、第1実施形
態〜第3実施形態に示した電子部品の製造方法いずれに
おいても、1つの被封止部材4を対象としたが、この被
封止部材4を複数並べ、複数の孔を有する印刷用金属板
9、又は複数の流れ止め用ダム16を形成して、一度に
複数の被封止部材4を封止しても良い。
【0021】第1実施形態〜第3実施形態において説明
したように、本発明では、封止する際に、従来必要とさ
れた金型5−1,5−2を必要としないので、金型5−
1,5−2を使用する際に生ずる問題を全て解決できる
という効果がある。また、第1実施形態及び第3実施形
態によると、リードフレーム2の裏面に遮断板8を設け
ており、この遮断板8は高い熱導伝率を有する金属板を
用いることができ、放熱板としての機能を有する部材を
容易に封止することができるという効果がある。また、
本発明では、封止用に液状封止樹脂11を使用している
ので、従来、固形のエポキシ樹脂を使用していた場合に
問題となった塵埃が発生しないため、クリーンルーム内
での取扱いが容易になるという効果がある。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、この発明による電
子部品の製造方法においては、簡素な構成で安価に電子
部品を製造することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態による電子部品の製造方
法を説明する図である。
【図2】本発明の第2実施形態による電子部品の製造方
法を説明する図である。
【図3】本発明の第3実施形態による電子部品の製造方
法を説明する図である。
【図4】従来の電子部品の製造方法を説明する図であ
る。
【符号の説明】
1 半導体チップ 2 リードフレーム 8 遮断板 9 印刷用金属板 10 孔 11 液状封止樹脂 12 スクイージ 16 流れ止め用ダム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/56 H01L 23/28

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子部品及び該電子部品の電極となるリ
    ードフレームの下部に遮断板を接着し、 前記電子部品上部近傍に、所定の形状の孔を有する印刷
    用金属板を、前記電子部品上部に該孔が位置するよう
    に、かつ前記遮断板と平行になるように配し、 前記印刷用金属板の上面に液状封止樹脂を滴下し、該液
    状封止樹脂を、スクイージにより前記孔に流し込み印刷
    することにより前記電子部品を封止することを特徴とす
    る電子部品の製造方法。
  2. 【請求項2】 電子部品及び該電子部品の電極となるリ
    ードフレームを裏返して配し、 前記電子部品の上部近傍に、所定の形状の孔を有する印
    刷用金属板を、前記電子部品上部に該孔が位置するよう
    に、かつ前記リードフレームと平行になるように配し、 前記印刷用金属板の上面に液状封止樹脂を滴下し、前記
    液状封止材を、スクイージにより前記孔に流し込み印刷
    することにより前記電子部品及び前記リードフレームの
    裏面を封止し、 かつ、前記電子部品と前記リードフレームを裏返して、
    同様に電子部品を封止することを特徴とする電子部品の
    製造方法。
  3. 【請求項3】 電子部品及び該電子部品の電極となるリ
    ードフレームの下部に遮断板を接着し、該リードフレー
    ムの上面に、該電子部品を取り囲むように堰止め部材を
    形成して、電子部品上部から滴下される液状封止樹脂を
    堰止めて、電子部品を封止することを特徴とする電子部
    品の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記リードフレームの上面又は下面に、
    前記電子部品を取り囲むように、請求項3記載の堰止め
    部材を形成して、該電子部品を封止することを特徴とす
    請求項2記載の電子部品の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記遮断板は、金属板であって、前記リ
    ードフレームの下部に絶縁性を有する樹脂により接着さ
    れていることを特徴とする請求項1又は請求項3記載の
    電子部品の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記遮断板は粘着フィルムであり、当該
    粘着フィルムを、前記電子部品の封止後取り除く工程を
    更に有することを特徴とする請求項1又は請求項3記載
    の電子部品の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1143465A3 (en) * 2000-04-07 2006-09-20 Nec Tokin Corporation Chip capacitor, a fabrication method for the same, and a metal mold

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003078108A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Hitachi Chem Co Ltd 半導体パッケージ用基板、これを用いた半導体パッケージとその積層体、およびこれらの製造方法
DE10163084A1 (de) 2001-12-20 2003-07-17 Infineon Technologies Ag Elektronisches Bauteil und Verfahren zu seiner Herstellung

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55138240A (en) * 1979-04-11 1980-10-28 Yamagata Nippon Denki Kk Manufacture of semiconductor device
JPS58182837A (ja) * 1982-04-21 1983-10-25 Hitachi Ltd 樹脂封止半導体装置の製造方法
JPS58204547A (ja) * 1982-05-25 1983-11-29 Citizen Watch Co Ltd Icの封止方法
JPH02251153A (ja) * 1989-03-24 1990-10-08 Dainippon Printing Co Ltd 半導体素子を実装したテープキャリアにおける樹脂封止方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55138240A (en) * 1979-04-11 1980-10-28 Yamagata Nippon Denki Kk Manufacture of semiconductor device
JPS58182837A (ja) * 1982-04-21 1983-10-25 Hitachi Ltd 樹脂封止半導体装置の製造方法
JPS58204547A (ja) * 1982-05-25 1983-11-29 Citizen Watch Co Ltd Icの封止方法
JPH02251153A (ja) * 1989-03-24 1990-10-08 Dainippon Printing Co Ltd 半導体素子を実装したテープキャリアにおける樹脂封止方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP1143465A3 (en) * 2000-04-07 2006-09-20 Nec Tokin Corporation Chip capacitor, a fabrication method for the same, and a metal mold

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