JP2919512B2 - 光ピックアップ - Google Patents

光ピックアップ

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JP2919512B2
JP2919512B2 JP1313657A JP31365789A JP2919512B2 JP 2919512 B2 JP2919512 B2 JP 2919512B2 JP 1313657 A JP1313657 A JP 1313657A JP 31365789 A JP31365789 A JP 31365789A JP 2919512 B2 JP2919512 B2 JP 2919512B2
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【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、全く新規な構成を有する光ピックアップ
に関するものである。
〔従来の技術〕
従来の主な光ピックアップの構成を第2図に示す。
第2図(a)はCD,VD用のものであり、第2図(b)
はDRAW(Direct Read After Write;追加記録型光ディス
ク)用のものである。また第2図(c)は光磁気ディス
ク用のものである。この第2図(a)ないし第2図
(c)において、1はレーザダイオード(以下LDと称
す)、2はコリメータレンズ、3は偏光ビームスプリッ
ター、4はλ/4板、5は対物レンズ、6はディスク(光
記憶媒体)、7はディテクター(光検出器;以下PDと称
す)、8は整形プリズム、9は偏光子、10は検光子であ
る。
これらの従来の光ピックアップは本質的には第3図の
ような構成になっている。即ち、LD1はその両端面−
間を共振器としており、このLD1から出射されたレー
ザ光は、主にコリメータレンズ及び対物レンズからなる
集束光学系11によってディスク6面にスポットとして
集束され、そこからの反射光が光分岐系(ビームスプリ
ッタ)3により出射光路から分岐され、分岐後の反射光
がPD7により検出される。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の光ピックアップは以上の様に構成されており、
光集束系には必ず光分岐系が含まれている。これはディ
スクからの反射光がLDに到達するとその発振特性を変化
させてしまうため、反射光を、LDの出射光路から分岐さ
せる必要があるからである。
しかしながら、本件発明者が鋭意研究した結果、光分
岐系は光ピックアップを構成するうえで必要不可欠な要
素ではないことが判明した。
この発明は、上記のような研究成果に基づいてなされ
たもので、部品点数を削減して大幅な小型化を達成でき
る光ピックアップを得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上述のような戻り光によるLDの発振特性の変化は従来
単にノイズとして認識されているにすぎなかったが、こ
の発明では、発想を逆転しこの現象を積極的に利用する
ようにしたものである。
即ち、本発明に係る光ピックアップは、通常のレーザ
動作のようにLDの両端面間で光共振器を形成するもので
はなく、光ディスク等の記録媒体の記録面を1つの端面
とし、記録媒体とは反対側のLD端面との間でレーザ共振
器を構成すべく、記録媒体側のLD端面に無反射コーティ
ング等を施し、光分岐系を省いて戻り光によりLDの発振
特性を変化させ、その変化をLD動作モニタ用の光検知手
段で検出することにより記録媒体の情報を読取るととも
に、LDの両側にトラッキングエラー用の光検知手段を設
けたものである。
〔作用〕
この発明においては、上述のように構成したので、反
射光を出射光路から分岐するための光分岐系が不要とな
り、しかもレーザダイオードが動作しているか否かのモ
ニタ用PDに、記録媒体の情報検出用の機能を持たせるこ
とができるので、本来の情報検出用のPDも省略できる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を図について説明する。
第1図は本発明の一実施例による光ピックアップの構
成を示し、図において、21は端面に無反射処理が施さ
れ、端面のみが反射面となっているLD、23はこのLD21
が動作しているか否かをモニタするための光検出器(以
下、PDと称す)、22はガラス,プラスチック等からなる
集束光学系であり光分岐系は省略されている。6は光デ
ィスクである。
次に動作について説明する。LD21はその端面での反
射を防ぐために、例えばレーザ光に対して透明な誘電体
をスパッタリングしてなる無反射(AR)コーティング等
(図示せず)が施されており、このような構成とするこ
とにより、LD21は通常のレーザのように端面,間で
光共振器を形成するのではなく、光ディスク等の記録媒
体の反射面を1つの端面とし、この記録面と端面
との間でレーザ共振器を構成する。
光ディスク6の記録面における記録形態としては通
常の光ピックアップに対するものと同様に照射光に対す
る反射率の変化や偏波面の変化が考えられ、これらの変
化がLDの発振特性を変化させ、その変化に応じてLD21端
面から出射される光をPD23で検出し、信号処理をする
ことにより、光ディスク等に記録されたデータを読取る
ことができる。
なお、現状では、LDに関してはGaAs系の短波長半導体
レーザ、PDに関してはPINダイオード等を使用すること
が考えられるが、今後記録密度を上げるために、より短
波長のLDを使用することが期待されているが、そのよう
な装置に適用してもよく、上記実施例と同様の効果を奏
する。
また、集束光学系には第4図(a),(b)に示すよ
うな無限光学系と有限光学系の両方が考えられるが、そ
のいずれを使用してもよいことは言うまでもない。
更に、記憶媒体としては通常光ディスクが考えられる
が、その形状はディスクである必要はなく、テープ状の
ようなものであってもよく、いずれにしても、媒体表面
に形成されたスポットにおいて反射特性を変えられるも
の、もしく媒体表面で偏波面を変換できるものであれば
よく、上記実施例と同様の効果を奏する。
更に、本発明によれば、第5図に示すように、LDの無
反射(AR)コーティング21aの前面に集束光学系のレン
ズ(有限光学系)5を密着して形成することも可能であ
る。
更に、本発明によれば、第6図に示すようにトラッキ
ングエラー用の光検出器PD1,PD2をLD動作モニタ用の光
検出器PDとともに同一基板24上に形成することもでき
る。
なお、LDはその一方の端面に無反射処理を施す点を除
けば、通常の構造を持つLDを使用でき、その一例を第7
図に示す。図中、211は電極、212はP−InP層、213はGa
InAsP層、214はn−InP層、215はInP層、231は電極、23
2はP+−GaInAsP層である。
また、本発明によれば、集束レンズは必ずしも必要と
しない。以下、その理由について説明すると、第8図に
おいて、LD21の面から出射した光は回折効果により拡
がり、光ディスク面上にスポットを形成しない。これ
を補正するために集束レンズが必要な訳であるが、面
が共振器を形成しているということは、図中点線で示し
た光は共振に寄与しておらず、実線で示した光のみ共振
に寄与していることを意味する。これは光ディスク面に
おいては、面における光源のスポットと同程度の大き
さの部分のスポット部分のみを考慮していることにな
り、従って、集束レンズは記録密度を上げる観点からは
必要であるが、本来の動作そのものに関しては必要ない
ことが分かる。
また光ピックアップは、反射型レーザ走査顕微鏡と同
じ構造をしており、このため光ディスクの代りに試料を
置くことにより、本発明も従来例と同様に反射型レーザ
走査顕微鏡として利用することができる。
〔発明の効果〕
以上のように、本発明に係る光ピックアップによれ
ば、半導体レーザダイオードの一方の端面に無反射処理
を施し、出射光路中の光分岐系を除去し、上記記録媒体
からの戻り光により半導体レーザダイオードの発振特性
を変化させ、かつ半導体レーザダイオードの他方の端面
からの出射光により半導体レーザの動作状態をモニタす
る光検知手段により、記録媒体の記録情報を読取るよう
にしたので、 (1) 従来の光分岐系を省略でき、システムの簡素化
及び小型化が可能となる。
(2) 従来のものに比較してLDとPDを近接しておくこ
とができ、モノリシックな集積化が可能である。
(3) (1),(2)によりシステムの耐久性及び信
頼性が向上する。
(4) (2)に関してさらに第6図のようにトラッキ
ングエラー用の光検出器PD1,PD2も集積化可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による光ピックアップの概略
構成を示す図、第2図は従来の各種光ピックアップの構
成を示す図、第3図は従来の光ピックアップの概略構成
を示す図、第4図は集束光学系の構造を示す図、第5図
は本発明の他の実施例による光ピックアップを示す図、
第6図は本発明の更に他の実施例を示す図、第7図は光
ピックアップの構造を示す図、第8図は集束レンズの必
要性の有無を説明するための図である。 図において、1,21はレーザダイオード、21aは無反射コ
ーティング(無反射部材)、2はコリメーターレンズ、
3は偏光ビームスプリッター、4はλ/4板、5は対物レ
ンズ、6は光ディスク、22は集束光学系、23は光検知器
である。 なお図中同一符号は同一又は相当部分を示す。

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光記録媒体側の端面より媒体読取光を出射
    するとともにその反対側の端面より動作モニタ光を出射
    するレーザダイオードと、 上記記録媒体とは反対側の端面と上記光記録媒体の記録
    面との間で光共振器を構成するように、上記光記録媒体
    側のレーザダイオードの端面に設けられた無反射処理部
    材と、 上記レーザダイオードのモニタ光を検出する第1の光検
    知手段と、 上記媒体読取光の出射方向に対して上記レーザダイオー
    ドを挟む位置に配置されたトラッキングエラー用の第2
    及び第3の光検知手段とを備え、 上記媒体読取光の光路上に設けられた光分岐系を省略
    し、 かつ上記第1の光検知手段のモニタ光光電変換出力によ
    り上記光記録媒体の記録情報を読取るようにしたことを
    特徴とする光ピックアップ。
  2. 【請求項2】上記無反射処理部材と上記光記録媒体との
    間には集束光学系が設けられていることを特徴とする請
    求項1記載の光ピックアップ。
  3. 【請求項3】上記集束光学系は上記無反射処理部材に密
    着して設けられた集束レンズからなることを特徴とする
    請求項2記載の光ピックアップ。
  4. 【請求項4】上記無反射処理部材はレーザ光に対して透
    明な誘電体からなるコーティング膜からなることを特徴
    とする請求項1記載の光ピックアップ。
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