JP2838599B2 - テスト容易化回路 - Google Patents
テスト容易化回路Info
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- JP2838599B2 JP2838599B2 JP3089066A JP8906691A JP2838599B2 JP 2838599 B2 JP2838599 B2 JP 2838599B2 JP 3089066 A JP3089066 A JP 3089066A JP 8906691 A JP8906691 A JP 8906691A JP 2838599 B2 JP2838599 B2 JP 2838599B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル論理回路の
テスト容易化回路に関し、特に、ディジタル論理回路の
内部の信号を取出してテストする技術に関する。
テスト容易化回路に関し、特に、ディジタル論理回路の
内部の信号を取出してテストする技術に関する。
【0002】
【従来の技術】ディジタル論理回路が、大規模複雑化す
るにつれて、ディジタル論理回路の動作テストが困難に
なっている。そのため、テスト容易化技術の必要性が高
まっている。図3に従来のテスト容易化回路の例を示
す。従来は、図3のように、動作検証回路5に、機能回
路9の動作結果出力8と共に、この動作結果出力8だけ
では検証しにくい論理回路、すなわち、AND回路1,
3、NOR回路2,4の出力を信号線7を介して各々入
力していた。
るにつれて、ディジタル論理回路の動作テストが困難に
なっている。そのため、テスト容易化技術の必要性が高
まっている。図3に従来のテスト容易化回路の例を示
す。従来は、図3のように、動作検証回路5に、機能回
路9の動作結果出力8と共に、この動作結果出力8だけ
では検証しにくい論理回路、すなわち、AND回路1,
3、NOR回路2,4の出力を信号線7を介して各々入
力していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、テス
トだけのために、動作検証回路5に対して多数の信号線
7を設ける必要があり、さらに、この信号線7の数に比
例して動作検証回路5の規模が大きくなるという問題点
があった。
トだけのために、動作検証回路5に対して多数の信号線
7を設ける必要があり、さらに、この信号線7の数に比
例して動作検証回路5の規模が大きくなるという問題点
があった。
【0004】本発明は、動作検証回路5に接続される信
号線7の数を減らすことを目的としている。
号線7の数を減らすことを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、機能回路を構成する論理回路の動作結果
出力を入力とし、前記機能回路の動作を動作検証回路で
テストする場合のテスト容易化回路において、 OR回路
またはAND回路を有し、前記機能回路を構成する論理
回路のうち、テストに用いる論理回路出力端を、前記O
R回路またはAND回路の入力に接続し、これらOR回
路またはAND回路の出力を前記動作検証回路の入力に
接続したものである。
に、本発明は、機能回路を構成する論理回路の動作結果
出力を入力とし、前記機能回路の動作を動作検証回路で
テストする場合のテスト容易化回路において、 OR回路
またはAND回路を有し、前記機能回路を構成する論理
回路のうち、テストに用いる論理回路出力端を、前記O
R回路またはAND回路の入力に接続し、これらOR回
路またはAND回路の出力を前記動作検証回路の入力に
接続したものである。
【0006】また、上記目的を達成するために、本発明
は、機能回路を構成する論理回路の動作結果出力を入力
とし、前記機能回路の動作を動作検証回路でテストする
場合のテスト容易化回路において、 OR回路を有し、前
記機能回路を構成する論理回路のうち、テストに用いる
AND回路出力端とNOR回路出力端とを、前記OR回
路の入力に接続し、このOR回路の出力を前記動作検証
回路の入力に接続したものである。
は、機能回路を構成する論理回路の動作結果出力を入力
とし、前記機能回路の動作を動作検証回路でテストする
場合のテスト容易化回路において、 OR回路を有し、前
記機能回路を構成する論理回路のうち、テストに用いる
AND回路出力端とNOR回路出力端とを、前記OR回
路の入力に接続し、このOR回路の出力を前記動作検証
回路の入力に接続したものである。
【0007】さらに、上記目的を達成するために、本発
明は、機能回路を構成する論理回路の動作結果出力を入
力とし、前記機能回路の動作を動作検証回路でテストす
る場合のテスト容易化回路において、 AND回路を有
し、前記機能回路を構成する論理回路のうち、テストに
用いるNAND回路出力端とOR回路出力端とを、前記
AND回路の入力に接続し、このAND回路の出力を前
記動作検証回路の入力に接続したものである。
明は、機能回路を構成する論理回路の動作結果出力を入
力とし、前記機能回路の動作を動作検証回路でテストす
る場合のテスト容易化回路において、 AND回路を有
し、前記機能回路を構成する論理回路のうち、テストに
用いるNAND回路出力端とOR回路出力端とを、前記
AND回路の入力に接続し、このAND回路の出力を前
記動作検証回路の入力に接続したものである。
【0008】
【実施例】まづ、本発明の一実施例を図1により説明す
る。
る。
【0009】図1において、機能回路9は、電子部品
(IC,LSIなど)を搭載したパッケージあるいは専
用のLSIなどに相当し、動作検証回路5は、テスタに
相当している。機能回路9の動作結果は、動作結果出力
8に出力され、動作検証回路5によって、その動作結果
が正しいかどうかが検証される。論理回路であるAND
回路1,3及びNOR回路2,4は、動作結果出力8を
検証するだけでは、動作が正しいかどうか十分に検証で
きない回路であり、かつ、これらの論理回路は、出力が
論理「1」になる頻度が低いものである。例えば、入力
値がランダムであるとすると、論理「1」になる頻度
は、1/2の4乗、すなわち、1/16であり、これら
4つの論理回路の出力が、2つ以上同時に「1]になる
頻度は、およそ1/16×3/16=3/256であ
る。従って、OR回路6の入力端に、これら4つの論理
回路の出力を加え、OR回路6の出力端である信号線か
ら論理和を取り出して、動作検証回路5で検証しても、
十分検証できる。(OR回路6の入力に「1」が2つ以
上あると、その出力は「1」の入力が1つの時と同様に
「1」であって、その区別ができなくて十分な検証がで
きない。しかし、OR回路6の入力に「1」が2つ以上
あるという頻度が低ければ、実用的には問題が無くな
り、このようにOR回路6を用いることで十分に検証す
ることができる。この場合、OR回路6のどの入力が故
障かを分ける分解能は無くてよいことは明らかであ
る。)その結果、動作検証回路5に接続される信号線の
数は、4つから1つに減ったことになる。
(IC,LSIなど)を搭載したパッケージあるいは専
用のLSIなどに相当し、動作検証回路5は、テスタに
相当している。機能回路9の動作結果は、動作結果出力
8に出力され、動作検証回路5によって、その動作結果
が正しいかどうかが検証される。論理回路であるAND
回路1,3及びNOR回路2,4は、動作結果出力8を
検証するだけでは、動作が正しいかどうか十分に検証で
きない回路であり、かつ、これらの論理回路は、出力が
論理「1」になる頻度が低いものである。例えば、入力
値がランダムであるとすると、論理「1」になる頻度
は、1/2の4乗、すなわち、1/16であり、これら
4つの論理回路の出力が、2つ以上同時に「1]になる
頻度は、およそ1/16×3/16=3/256であ
る。従って、OR回路6の入力端に、これら4つの論理
回路の出力を加え、OR回路6の出力端である信号線か
ら論理和を取り出して、動作検証回路5で検証しても、
十分検証できる。(OR回路6の入力に「1」が2つ以
上あると、その出力は「1」の入力が1つの時と同様に
「1」であって、その区別ができなくて十分な検証がで
きない。しかし、OR回路6の入力に「1」が2つ以上
あるという頻度が低ければ、実用的には問題が無くな
り、このようにOR回路6を用いることで十分に検証す
ることができる。この場合、OR回路6のどの入力が故
障かを分ける分解能は無くてよいことは明らかであ
る。)その結果、動作検証回路5に接続される信号線の
数は、4つから1つに減ったことになる。
【0010】つぎに、本発明の第2実施例を図2により
説明する。
説明する。
【0011】図2において、機能回路9は、電子部品
(IC,LSIなど)を搭載したパッケージあるいは専
用のLSIなどに相当し、動作検証回路5は、テスタに
相当している。機能回路9の動作結果は、動作結果出力
8に出力され、動作検証回路5によって、その動作結果
が正しいかどうか検証される。論理回路であるNAND
回路11,13及びOR回路12,14は、動作結果出
力8を検証するだけでは、動作が正しいかどうか十分に
検証できない回路であり、かつ、これらの論理回路は、
出力が論理「0」になる頻度が低いものである。例え
ば、入力値がランダムであるとすると、本発明の第1実
施例と同様になり、AND回路16の入力端に、これら
4つの論理回路の出力を加え、AND回路16の出力端
である信号線から論理積を取り出して、動作検証回路5
で検証しても、十分検証できる。(AND回路16の入
力に「0」が2つ以上あると、その出力は「0」の入力
が1つの時と同様に「0」であって、その区別ができな
くて十分な検証ができない。しかし、AND回路16の
入力に「0」が2つ以上あるという頻度が低ければ、実
用的には問題が無くなり、このようにAND回路16を
用いることで十分に検証することができる。)その結
果、動作検証回路5に接続される信号線の数は、4つか
ら1つに減ったことになる。
(IC,LSIなど)を搭載したパッケージあるいは専
用のLSIなどに相当し、動作検証回路5は、テスタに
相当している。機能回路9の動作結果は、動作結果出力
8に出力され、動作検証回路5によって、その動作結果
が正しいかどうか検証される。論理回路であるNAND
回路11,13及びOR回路12,14は、動作結果出
力8を検証するだけでは、動作が正しいかどうか十分に
検証できない回路であり、かつ、これらの論理回路は、
出力が論理「0」になる頻度が低いものである。例え
ば、入力値がランダムであるとすると、本発明の第1実
施例と同様になり、AND回路16の入力端に、これら
4つの論理回路の出力を加え、AND回路16の出力端
である信号線から論理積を取り出して、動作検証回路5
で検証しても、十分検証できる。(AND回路16の入
力に「0」が2つ以上あると、その出力は「0」の入力
が1つの時と同様に「0」であって、その区別ができな
くて十分な検証ができない。しかし、AND回路16の
入力に「0」が2つ以上あるという頻度が低ければ、実
用的には問題が無くなり、このようにAND回路16を
用いることで十分に検証することができる。)その結
果、動作検証回路5に接続される信号線の数は、4つか
ら1つに減ったことになる。
【0012】以上説明したように、本発明の第1実施例
及び第2実施例は、動作検証回路5に接続される信号線
の数を4つから1つに減らすという効果を有する。
及び第2実施例は、動作検証回路5に接続される信号線
の数を4つから1つに減らすという効果を有する。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、機能回路を構成する論
理回路のうち、テストに用いる論理回路出力端を、OR
回路またはAND回路の入力に接続し、これらOR回路
またはAND回路の出力を動作検証回路の入力に接続し
ているので、非常に少ない回路の追加のみで、動作検証
回路の入力に接続される信号の数を減らすことができる
という効果が得られる。
理回路のうち、テストに用いる論理回路出力端を、OR
回路またはAND回路の入力に接続し、これらOR回路
またはAND回路の出力を動作検証回路の入力に接続し
ているので、非常に少ない回路の追加のみで、動作検証
回路の入力に接続される信号の数を減らすことができる
という効果が得られる。
【図1】本発明の第1実施例を示す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施例を示す回路図である。
【図3】従来のテスト容易化回路を示す図である。
1 AND回路 2 NOR回路 3 AND回路 4 NOR回路 5 動作検証回路 6 OR回路 8 動作結果出力 9 機能回路 11 NAND回路 12 OR回路 13 NAND回路 14 OR回路 16 AND回路
Claims (3)
- 【請求項1】機能回路を構成する論理回路の動作結果出
力を入力とし、前記機能回路の動作を動作検証回路でテ
ストする場合のテスト容易化回路において、 OR回路またはAND回路を有し、前記機能回路を構成
する論理回路のうち、テストに用いる論理回路出力端
を、前記OR回路またはAND回路の入力に接続し、こ
れらOR回路またはAND回路の出力を前記動作検証回
路の入力 に接続したことを特徴とするテスト容易化回
路。 - 【請求項2】機能回路を構成する論理回路の動作結果出
力を入力とし、前記機能回路の動作を動作検証回路でテ
ストする場合のテスト容易化回路において、 OR回路を有し、前記機能回路を構成する論理回路のう
ち、テストに用いるAND回路出力端とNOR回路出力
端とを、前記OR回路の入力に接続し、このOR回路の
出力を前記動作検証回路の入力 に接続したことを特徴と
するテスト容易化回路。 - 【請求項3】機能回路を構成する論理回路の動作結果出
力を入力とし、前記機能回路の動作を動作検証回路でテ
ストする場合のテスト容易化回路において、 AND回路を有し、前記機能回路を構成する論理回路の
うち、テストに用いるNAND回路出力端とOR回路出
力端とを、前記AND回路の入力に接続し、このAND
回路の出力を前記動作検証回路の入力 に接続したことを
特徴とするテスト容易化回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3089066A JP2838599B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | テスト容易化回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3089066A JP2838599B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | テスト容易化回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04301782A JPH04301782A (ja) | 1992-10-26 |
JP2838599B2 true JP2838599B2 (ja) | 1998-12-16 |
Family
ID=13960484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3089066A Expired - Fee Related JP2838599B2 (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | テスト容易化回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2838599B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5487189A (en) * | 1977-12-23 | 1979-07-11 | Fujitsu Ltd | Test method for lsi |
JPS6298657A (ja) * | 1985-10-24 | 1987-05-08 | Nec Corp | 集積回路 |
JPH0265179U (ja) * | 1988-11-02 | 1990-05-16 |
-
1991
- 1991-03-29 JP JP3089066A patent/JP2838599B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04301782A (ja) | 1992-10-26 |
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Legal Events
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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