JP2808983B2 - メモリ診断方法 - Google Patents
メモリ診断方法Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はメモリ及びそれに接続さ
れているデータバスの診断を行なうメモリ診断方法に関
し、特に複数種類のビット幅でデータの読み書きを行な
うことができるメモリ及びそれに接続されているデータ
バスの診断を行なうメモリ診断方法に関する。
れているデータバスの診断を行なうメモリ診断方法に関
し、特に複数種類のビット幅でデータの読み書きを行な
うことができるメモリ及びそれに接続されているデータ
バスの診断を行なうメモリ診断方法に関する。
【0002】
【従来の技術】メモリには1種類のビット幅でしかデー
タの読み書きを行なうことができないものと、複数種類
のビット幅でデータの読み書きを行なうことができるも
のがある。
タの読み書きを行なうことができないものと、複数種類
のビット幅でデータの読み書きを行なうことができるも
のがある。
【0003】1種類のビット幅(例えば、nビット幅)
でしかデータの読み書きを行なうことができないメモリ
及びそれに接続されているデータバスの診断を行なう場
合、従来は、図3に示すように、nビット幅の試験対象
領域A31に試験データを書き込み(W31)、次いで
試験対象領域A31の内容を読み出し(R31)、読み
出した内容と試験データとを比較することにより、メモ
リ及びデータバスを診断するようにしている。
でしかデータの読み書きを行なうことができないメモリ
及びそれに接続されているデータバスの診断を行なう場
合、従来は、図3に示すように、nビット幅の試験対象
領域A31に試験データを書き込み(W31)、次いで
試験対象領域A31の内容を読み出し(R31)、読み
出した内容と試験データとを比較することにより、メモ
リ及びデータバスを診断するようにしている。
【0004】また、複数種類のビット幅でデータの読み
書きを行なうことができるメモリ、例えばnビット幅と
その2倍の2nビット幅でデータの読み書きを行なうこ
とができるメモリ及びそれに接続されているデータバス
の診断を行なう場合は、従来は上述した図3の方法或い
は図4の方法を用いている。
書きを行なうことができるメモリ、例えばnビット幅と
その2倍の2nビット幅でデータの読み書きを行なうこ
とができるメモリ及びそれに接続されているデータバス
の診断を行なう場合は、従来は上述した図3の方法或い
は図4の方法を用いている。
【0005】図4の方法はそれぞれがnビット幅の連続
する2つの試験対象領域A41,A42に2nビット幅
の試験データを一括して書き込み(W41)、次いで試
験対象領域A41,A42の内容を一括して読み出し
(R41)、読み出した内容と試験データとを比較する
ことにより、メモリ及びデータバスを診断するものであ
る。
する2つの試験対象領域A41,A42に2nビット幅
の試験データを一括して書き込み(W41)、次いで試
験対象領域A41,A42の内容を一括して読み出し
(R41)、読み出した内容と試験データとを比較する
ことにより、メモリ及びデータバスを診断するものであ
る。
【0006】尚、複数種類のビット幅でデータの読み書
きを行なうことができるメモリは、読み書きできる最大
のビット幅と同じビット幅のデータバスによってCPU
と接続されるものであり、例えば、nビット幅と2nビ
ット幅の2種類のビット幅でデータの読み書きを行なう
ことができるメモリは、2nビット幅のデータバスによ
ってCPUと接続される。そして、nビット幅でのデー
タの読み書きはデータバスの下位nビットを介して行な
われ、2nビット幅でのデータの読み書きはデータバス
の全てのビットを介して行なわれるものである。
きを行なうことができるメモリは、読み書きできる最大
のビット幅と同じビット幅のデータバスによってCPU
と接続されるものであり、例えば、nビット幅と2nビ
ット幅の2種類のビット幅でデータの読み書きを行なう
ことができるメモリは、2nビット幅のデータバスによ
ってCPUと接続される。そして、nビット幅でのデー
タの読み書きはデータバスの下位nビットを介して行な
われ、2nビット幅でのデータの読み書きはデータバス
の全てのビットを介して行なわれるものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
は、試験データの書き込みを行なった領域の内容のみを
読み出し、試験データと比較することにより診断を行な
うようにしているため、試験データの書き込みにより周
囲領域(図3,図4の領域C31,C32,C41,C
42)の内容が変化してもそれを検出することができな
いという問題がある。
は、試験データの書き込みを行なった領域の内容のみを
読み出し、試験データと比較することにより診断を行な
うようにしているため、試験データの書き込みにより周
囲領域(図3,図4の領域C31,C32,C41,C
42)の内容が変化してもそれを検出することができな
いという問題がある。
【0008】また、複数種類のビット幅でデータの読み
書きを行なうことができるメモリ及びそれに接続されて
いるデータバスに対する従来の診断方法には周辺領域の
内容変化を検出できないという問題があると共に、次の
ような問題点もあった。
書きを行なうことができるメモリ及びそれに接続されて
いるデータバスに対する従来の診断方法には周辺領域の
内容変化を検出できないという問題があると共に、次の
ような問題点もあった。
【0009】nビット幅で試験データの読み書きを行な
った場合は、データバスの下位nビットしか使用されな
いので、データバスの上位nビットに障害があってもそ
れを全く検出することができないという問題がある。
った場合は、データバスの下位nビットしか使用されな
いので、データバスの上位nビットに障害があってもそ
れを全く検出することができないという問題がある。
【0010】また、データバスの下位nビット中の或る
ビット(例えば、第iビット)に障害がある場合でも、
試験データの第iビットの書き込みと読み出しは障害の
あるデータバスの第iビットを介して行なわれるため、
書き込み時にデータバスの第iビットの影響により試験
データと異なる値がメモリに書き込まれても、読み出し
時にデータバスの第iビットの影響により試験データと
同じ値がCPUに読み込まれることがあり、このような
場合、データバスの障害を検出できないという問題があ
る。
ビット(例えば、第iビット)に障害がある場合でも、
試験データの第iビットの書き込みと読み出しは障害の
あるデータバスの第iビットを介して行なわれるため、
書き込み時にデータバスの第iビットの影響により試験
データと異なる値がメモリに書き込まれても、読み出し
時にデータバスの第iビットの影響により試験データと
同じ値がCPUに読み込まれることがあり、このような
場合、データバスの障害を検出できないという問題があ
る。
【0011】また、2nビット幅で試験データの読み書
きを行なった場合はデータバスの全ビットを使用するの
で、データバスの上位nビットの障害を全く検出できな
いということはないが、やはり、試験データの各ビット
の書き込みと読み出しを同じデータバスのビットを介し
て行なうので、上記したような場合、データバスの障害
を検出できないという問題がある。
きを行なった場合はデータバスの全ビットを使用するの
で、データバスの上位nビットの障害を全く検出できな
いということはないが、やはり、試験データの各ビット
の書き込みと読み出しを同じデータバスのビットを介し
て行なうので、上記したような場合、データバスの障害
を検出できないという問題がある。
【0012】本発明の目的は、複数種類のビット幅で読
み書きを行なうことができるメモリ及びそれに接続され
ているデータバスの診断を精度良く行なうことができる
メモリ診断方法を提供することにある。
み書きを行なうことができるメモリ及びそれに接続され
ているデータバスの診断を精度良く行なうことができる
メモリ診断方法を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため、複数種類のビット幅でデータの読み書きを行
なうことができ、読み書きできる最大ビット幅と同じビ
ット幅のデータバスが接続されたメモリの試験対象領域
の周辺領域に対して第1の読み出しを行ない、次いで前
記試験対象領域に対して試験データの書き込みを行な
い、次いで前記試験対象領域及び前記周辺領域に対して
前記試験データの各ビットの読み出しが書き込み時とは
異なるデータバスのビットを用いて行なわれる第2の読
み出しを行ない、次いで第1の読み出しによって読み出
したデータと前記試験データとに基づいて前記試験対象
領域及び前記試験対象領域の周辺領域に書き込まれてい
ると予想される予想値を求め、次いで前記予想値と第2
の読み出しによって読み出したデータとを比較すること
により前記メモリ及び前記メモリに接続されているデー
タバスの診断を行なうようにしたものである。
するため、複数種類のビット幅でデータの読み書きを行
なうことができ、読み書きできる最大ビット幅と同じビ
ット幅のデータバスが接続されたメモリの試験対象領域
の周辺領域に対して第1の読み出しを行ない、次いで前
記試験対象領域に対して試験データの書き込みを行な
い、次いで前記試験対象領域及び前記周辺領域に対して
前記試験データの各ビットの読み出しが書き込み時とは
異なるデータバスのビットを用いて行なわれる第2の読
み出しを行ない、次いで第1の読み出しによって読み出
したデータと前記試験データとに基づいて前記試験対象
領域及び前記試験対象領域の周辺領域に書き込まれてい
ると予想される予想値を求め、次いで前記予想値と第2
の読み出しによって読み出したデータとを比較すること
により前記メモリ及び前記メモリに接続されているデー
タバスの診断を行なうようにしたものである。
【0014】
【0015】
【作用】この構成に於いては、試験データを試験対象領
域に書き込む前に周辺領域に対して第1の読み出しを行
なっておく。その後、試験対象領域に対して試験データ
の書き込みを行ない、更に、試験対象領域及び周辺領域
に対して試験データの各ビットの読み出しが試験データ
の書き込み時とは異なるデータバスのビットを用いて行
なわれる第2の読み出しを行なう。次いで、第1の読み
出しによって読み出したデータと試験データとに基づい
て試験対象領域及び試験対象領域の周辺領域に書き込ま
れていると予想される予想値を求める。そして、最後
に、予想値と第2の読み出しによって読み出したデータ
とを比較することによりメモリ及びメモリに接続されて
いるデータバスの診断を行なう。
域に書き込む前に周辺領域に対して第1の読み出しを行
なっておく。その後、試験対象領域に対して試験データ
の書き込みを行ない、更に、試験対象領域及び周辺領域
に対して試験データの各ビットの読み出しが試験データ
の書き込み時とは異なるデータバスのビットを用いて行
なわれる第2の読み出しを行なう。次いで、第1の読み
出しによって読み出したデータと試験データとに基づい
て試験対象領域及び試験対象領域の周辺領域に書き込ま
れていると予想される予想値を求める。そして、最後
に、予想値と第2の読み出しによって読み出したデータ
とを比較することによりメモリ及びメモリに接続されて
いるデータバスの診断を行なう。
【0016】
【0017】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【0018】図1は本発明の一実施例を説明するための
図である。尚、メモリMはnビット幅(1単位)及び2
nビット幅(2単位)でデータの読み書きを行なうこと
ができるものとする。
図である。尚、メモリMはnビット幅(1単位)及び2
nビット幅(2単位)でデータの読み書きを行なうこと
ができるものとする。
【0019】先ず、メモリMの連続する3つの周辺領域
C1,試験対象領域A1,周辺領域C2(各領域のビッ
ト幅はnビット)の内容を読み出し(R1)、保存して
おく。尚、試験対象領域A1の内容の読み出しは省略し
ても良い。また、この場合の読み出し方法は1単位ずつ
読み出すものであっても、1単位と2単位とを組み合わ
せで読み出すものであっても構わず、その読み出し方法
は限定されない。
C1,試験対象領域A1,周辺領域C2(各領域のビッ
ト幅はnビット)の内容を読み出し(R1)、保存して
おく。尚、試験対象領域A1の内容の読み出しは省略し
ても良い。また、この場合の読み出し方法は1単位ずつ
読み出すものであっても、1単位と2単位とを組み合わ
せで読み出すものであっても構わず、その読み出し方法
は限定されない。
【0020】次にデータバスの下位nビットを用いてメ
モリMの試験対象領域A1にnビット幅の試験データを
書き込む(W1)。
モリMの試験対象領域A1にnビット幅の試験データを
書き込む(W1)。
【0021】その後、データバスの下位nビットを用い
てメモリMの試験対象領域A1の内容を読み出し(R
2)、書き込んだ試験データと比較する。そして、比較
不一致の場合はメモリM或いはそれに接続されているデ
ータバスに障害があると判定する。
てメモリMの試験対象領域A1の内容を読み出し(R
2)、書き込んだ試験データと比較する。そして、比較
不一致の場合はメモリM或いはそれに接続されているデ
ータバスに障害があると判定する。
【0022】続いて、データバスの下位nビット,上位
nビットを用いて領域C1,A1の内容を一括して、即
ち2単位まとめて読み出し(R3)、更に、データバス
の下位nビット,上位nビットを用いて領域A1,C2
の内容を2単位まとめて読み出す(R4)。
nビットを用いて領域C1,A1の内容を一括して、即
ち2単位まとめて読み出し(R3)、更に、データバス
の下位nビット,上位nビットを用いて領域A1,C2
の内容を2単位まとめて読み出す(R4)。
【0023】次にR1で読み出し保存してある領域C
1,A1,C2の値と試験データとを合成することによ
り、領域C1,A1に書き込まれていると予想される値
及び領域A1,C2に書き込まれていると予想される値
を求める。
1,A1,C2の値と試験データとを合成することによ
り、領域C1,A1に書き込まれていると予想される値
及び領域A1,C2に書き込まれていると予想される値
を求める。
【0024】その後、領域C1,A1に対する予想値と
R3で読み出した領域C1,A1の値とを比較すると共
に、領域A1,C2に対する予想値とR4で読み出した
領域A1,C2の値とを比較する。そして、比較不一致
の場合はメモリM或いはそれに接続されているデータバ
スに障害があると判定する。
R3で読み出した領域C1,A1の値とを比較すると共
に、領域A1,C2に対する予想値とR4で読み出した
領域A1,C2の値とを比較する。そして、比較不一致
の場合はメモリM或いはそれに接続されているデータバ
スに障害があると判定する。
【0025】このように、本実施例は試験データを書き
込んだ試験対象領域A1の周辺領域C1,C2に対して
も、試験データの書き込み前,書き込み後の値を比較す
るので、データの書き込みが周辺領域C1,C2に影響
を及ぼすような障害がメモリMにあった場合、それを検
出することが可能になる。
込んだ試験対象領域A1の周辺領域C1,C2に対して
も、試験データの書き込み前,書き込み後の値を比較す
るので、データの書き込みが周辺領域C1,C2に影響
を及ぼすような障害がメモリMにあった場合、それを検
出することが可能になる。
【0026】また、本実施例はW1に於いてデータバス
の下位nビットを用いて書き込んだ試験データを、R3
に於いてデータバスの上位nビットを用いて読み出して
いるので、データバスの上位nビットの障害を検出する
ことも可能になる。
の下位nビットを用いて書き込んだ試験データを、R3
に於いてデータバスの上位nビットを用いて読み出して
いるので、データバスの上位nビットの障害を検出する
ことも可能になる。
【0027】また、データバスの下位nビット中の或る
ビット(例えば、第iビット)に障害がある場合でも、
前述した従来の技術では試験データの第iビットの書き
込みと読み出しは障害のあるデータバスの第iビットを
介して行なうため、書き込み時にデータバスの第iビッ
トの影響により試験データと異なる値がメモリに書き込
まれても、読み出し時にデータバスの第iビットの影響
により試験データと同じ値がCPUに読み込まれ、デー
タバスの障害を検出できない場合がある。しかし、本実
施例では試験データの読み出しと書き込みとをデータバ
スの異なる部分を用いて行なっており、メモリに書き込
まれている誤った値が正しい値に変化してCPUに読み
込まれるという可能性は少ないので、データバスの障害
をより確実に検出することが可能になる。
ビット(例えば、第iビット)に障害がある場合でも、
前述した従来の技術では試験データの第iビットの書き
込みと読み出しは障害のあるデータバスの第iビットを
介して行なうため、書き込み時にデータバスの第iビッ
トの影響により試験データと異なる値がメモリに書き込
まれても、読み出し時にデータバスの第iビットの影響
により試験データと同じ値がCPUに読み込まれ、デー
タバスの障害を検出できない場合がある。しかし、本実
施例では試験データの読み出しと書き込みとをデータバ
スの異なる部分を用いて行なっており、メモリに書き込
まれている誤った値が正しい値に変化してCPUに読み
込まれるという可能性は少ないので、データバスの障害
をより確実に検出することが可能になる。
【0028】図2は本発明の他の実施例を説明するため
の図である。
の図である。
【0029】先ず、メモリMの連続する4つの周辺領域
C21,試験対象領域A21,試験対象領域A22,周
辺領域C22(各領域のビット幅はnビット)の内容を
読み出し(R21)、保存しておく。尚、この場合の読
み出し方法は1単位ずつ読み出すものであっても、2単
位ずつ読み出すものであっても、或いは1単位と2単位
とを組み合わせて読み出すものであっても構わず、その
読み出し方法は限定されない。
C21,試験対象領域A21,試験対象領域A22,周
辺領域C22(各領域のビット幅はnビット)の内容を
読み出し(R21)、保存しておく。尚、この場合の読
み出し方法は1単位ずつ読み出すものであっても、2単
位ずつ読み出すものであっても、或いは1単位と2単位
とを組み合わせて読み出すものであっても構わず、その
読み出し方法は限定されない。
【0030】次にデータバスの下位nビット,上位nビ
ットを用いてメモリMの試験対象領域A21,A21に
2nビット幅の試験データを一括して書き込む(W2
1)。
ットを用いてメモリMの試験対象領域A21,A21に
2nビット幅の試験データを一括して書き込む(W2
1)。
【0031】その後、データバスの下位nビットを用い
てメモリMの試験対象領域A21の内容を読み出し(R
22)、試験データの前半部分と比較する。そして、比
較不一致の場合はメモリM或いはそれに接続されている
データバスに障害があると判定する。
てメモリMの試験対象領域A21の内容を読み出し(R
22)、試験データの前半部分と比較する。そして、比
較不一致の場合はメモリM或いはそれに接続されている
データバスに障害があると判定する。
【0032】更に、データバスの下位nビットを用いて
メモリMの試験対象領域A22の内容を読み出し(R2
3)、試験データの後半部分と比較する。そして、比較
不一致の場合はメモリM或いはそれに接続されているデ
ータバスに障害があると判定する。
メモリMの試験対象領域A22の内容を読み出し(R2
3)、試験データの後半部分と比較する。そして、比較
不一致の場合はメモリM或いはそれに接続されているデ
ータバスに障害があると判定する。
【0033】その後、メモリMの領域C21,A21の
内容、領域A21,A22の内容、領域A22,C22
の内容を順次データバスの下位nビット,上位nビット
を用いて2単位ずつ読み出す(R24,R25,R2
6)。
内容、領域A21,A22の内容、領域A22,C22
の内容を順次データバスの下位nビット,上位nビット
を用いて2単位ずつ読み出す(R24,R25,R2
6)。
【0034】次にR21で読み出し保存してある領域C
21,A21,A22,C22の内容と試験データとを
合成することにより、領域C21,A21に書き込まれ
ていると予想される値,領域A21,A22に書き込ま
れていると予想される値及び領域A22,C22に書き
込まれているとと予想される値を求める。
21,A21,A22,C22の内容と試験データとを
合成することにより、領域C21,A21に書き込まれ
ていると予想される値,領域A21,A22に書き込ま
れていると予想される値及び領域A22,C22に書き
込まれているとと予想される値を求める。
【0035】その後、領域C21,A21に対する予想
値とR24で読み出した領域C21,A21の値との比
較、領域A21,A22に対する予想値とR25で読み
出した領域A21,A22の値との比較、領域A22,
C22に対する予想値とR26で読み出した領域A2
2,C22の値との比較を順次行なう。そして、比較不
一致の場合はメモリM或いはそれに接続されているデー
タバスに障害が存在すると判定する。
値とR24で読み出した領域C21,A21の値との比
較、領域A21,A22に対する予想値とR25で読み
出した領域A21,A22の値との比較、領域A22,
C22に対する予想値とR26で読み出した領域A2
2,C22の値との比較を順次行なう。そして、比較不
一致の場合はメモリM或いはそれに接続されているデー
タバスに障害が存在すると判定する。
【0036】このように、本実施例は試験データを書き
込んだ試験対象領域A21,A22の周辺領域C21,
C22に対しても、試験データの書き込み前,書き込み
後の値を比較するので、データの書き込みが周辺領域C
21,C22に影響を及ぼすような障害がメモリにあっ
た場合、それを検出することが可能になる。
込んだ試験対象領域A21,A22の周辺領域C21,
C22に対しても、試験データの書き込み前,書き込み
後の値を比較するので、データの書き込みが周辺領域C
21,C22に影響を及ぼすような障害がメモリにあっ
た場合、それを検出することが可能になる。
【0037】また、本実施例はW21に於いてデータバ
スの下位nビットを用いて試験対象領域A21に書き込
んだ試験データを、R24に於いてデータバスの上位n
ビットを用いて読み出し、また、W21に於いてデータ
バスの上位nビットを用いて試験対象領域A22に書き
込んだ試験データを、R23に於いてデータバスの下位
nビットを用いて読み出すというように、試験データの
書き込みと読み出しをデータバスの異なる部分を用いて
行なっているので、従来の技術では検出することができ
ないことがあったデータバスの障害をより確実に検出す
ることが可能になる。
スの下位nビットを用いて試験対象領域A21に書き込
んだ試験データを、R24に於いてデータバスの上位n
ビットを用いて読み出し、また、W21に於いてデータ
バスの上位nビットを用いて試験対象領域A22に書き
込んだ試験データを、R23に於いてデータバスの下位
nビットを用いて読み出すというように、試験データの
書き込みと読み出しをデータバスの異なる部分を用いて
行なっているので、従来の技術では検出することができ
ないことがあったデータバスの障害をより確実に検出す
ることが可能になる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、複数種
類のビット幅でデータの読み書きを行なうことができる
メモリ及びそれに接続されているデータバスの診断を行
なう場合、試験対象領域の周辺領域も考慮して診断を行
なうので、データの書き込みによって周辺領域の内容が
変化する障害も検出することが可能になる効果がある。
類のビット幅でデータの読み書きを行なうことができる
メモリ及びそれに接続されているデータバスの診断を行
なう場合、試験対象領域の周辺領域も考慮して診断を行
なうので、データの書き込みによって周辺領域の内容が
変化する障害も検出することが可能になる効果がある。
【0039】また、本発明は複数種類のビット幅でデー
タの読み書きを行なうことができるメモリ及びそれに接
続されているデータバスの診断を行なう場合、試験デー
タの書き込みと試験データの読み出しとをデータバスの
異なるビットを用いて行なうので、従来検出することが
できないことがあったデータバスの障害をより確実に検
出することが可能になる効果がある。
タの読み書きを行なうことができるメモリ及びそれに接
続されているデータバスの診断を行なう場合、試験デー
タの書き込みと試験データの読み出しとをデータバスの
異なるビットを用いて行なうので、従来検出することが
できないことがあったデータバスの障害をより確実に検
出することが可能になる効果がある。
【図1】本発明の一実施例の説明するための図である。
【図2】本発明の他の実施例を説明するための図であ
る。
る。
【図3】従来の技術を説明するための図である。
【図4】他の従来の技術を説明するための図である。
A1,A21,A22,A31,A41,A42…試験
対象領域 C1,C2,C21,C22,C31,C32,C4
1,C42…周辺領域
対象領域 C1,C2,C21,C22,C31,C32,C4
1,C42…周辺領域
Claims (1)
- 【請求項1】 複数種類のビット幅でデータの読み書き
を行なうことができ、読み書きできる最大ビット幅と同
じビット幅のデータバスが接続されたメモリの試験対象
領域の周辺領域に対して第1の読み出しを行ない、次い
で前記試験対象領域に対して試験データの書き込みを行
ない、次いで前記試験対象領域及び前記周辺領域に対し
て前記試験データの各ビットの読み出しが書き込み時と
は異なるデータバスのビットを用いて行なわれる第2の
読み出しを行ない、次いで第1の読み出しによって読み
出したデータと前記試験データとに基づいて前記試験対
象領域及び前記試験対象領域の周辺領域に書き込まれて
いると予想される予想値を求め、次いで前記予想値と第
2の読み出しによって読み出したデータとを比較するこ
とにより前記メモリ及び前記メモリに接続されているデ
ータバスの診断を行なうことを特徴とするメモリ診断方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4152762A JP2808983B2 (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | メモリ診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4152762A JP2808983B2 (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | メモリ診断方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05324493A JPH05324493A (ja) | 1993-12-07 |
JP2808983B2 true JP2808983B2 (ja) | 1998-10-08 |
Family
ID=15547598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4152762A Expired - Fee Related JP2808983B2 (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | メモリ診断方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2808983B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5020558B2 (ja) * | 2006-07-18 | 2012-09-05 | 株式会社リコー | 画像入出力装置及び画像入出力方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63239547A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | メモリ機器 |
JPH01282658A (ja) * | 1988-05-10 | 1989-11-14 | Nec Corp | 共通バス誤り検出方式 |
JPH03180947A (ja) * | 1989-12-08 | 1991-08-06 | Fujitsu Ltd | Ram初期診断方式 |
-
1992
- 1992-05-20 JP JP4152762A patent/JP2808983B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05324493A (ja) | 1993-12-07 |
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