JP2804866B2 - 自覚式検眼装置 - Google Patents
自覚式検眼装置Info
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- JP2804866B2 JP2804866B2 JP4204061A JP20406192A JP2804866B2 JP 2804866 B2 JP2804866 B2 JP 2804866B2 JP 4204061 A JP4204061 A JP 4204061A JP 20406192 A JP20406192 A JP 20406192A JP 2804866 B2 JP2804866 B2 JP 2804866B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は乱視軸及び乱視度数の精
密測定を行う自覚式検眼装置に関し、特にクロスシリン
ダ光学系を備えた自覚式検眼装置に関する。
密測定を行う自覚式検眼装置に関し、特にクロスシリン
ダ光学系を備えた自覚式検眼装置に関する。
【0002】
【従来の技術】検眼装置はマイクロプロセッサ等によっ
て制御されるようになり、より精密な検眼が可能になっ
ている。また、乱視軸及び乱視度数等の乱視の測定につ
いては精密な測定をするために、クロスシリンダ光学系
を備えた自覚式検眼装置がよく知られている。その例と
して、特開昭61−293421号公報に記載された発
明がある。この発明では、2つの円柱レンズ、すわなち
正の円柱度数+Coを有するレンズ及び負の円柱度数−
Coを使用して、クロスシリンダ光学系を第1の状態と
第2の状態とに設定し、乱視度数の精密測定を行ってい
る。図7はそのフローチャートを示す図である。Sに続
く数字はステップ番号を表す。 〔S21〕他覚式屈折検査法によって、被検者のおおま
かな乱視軸及び乱視度数を測定する。これらのおおまか
の乱視軸及び乱視度数を粗乱視軸及び粗乱視度数と称す
る。 〔S22〕粗乱視軸及び粗乱視度数を設定する。 〔S23〕クロスシリンダ光学系を第1状態、第2状態
に交互に設定する。 〔S24〕検者は第1状態と第2状態とのいずれが視力
検査用視標が良好に視認できるか被検者に質問する。 〔S25〕被検者が第1状態が良く見えると答えた場合
は乱視軸を反時計回りに〔1/2tan-1(0.125
/C)〕微小回転させ、S24のテストを行う。ただ
し、Cはここで1〜3°程度とする。 〔S26〕被検者が第2状態が良く見えると答えた場合
は乱視軸を時計回りに〔1/2tan-1(0.125/
C)〕微小回転させて、S24のテストを行う。 〔S27〕第1状態と第2状態が同じに見えると被検者
が答えるとその位置が乱視軸であり、乱視軸の精密測定
が終了する。そして、乱視度数の精密測定に移る。 と
ころで、乱視度数の表記は一般に以下のような2通りの
表記が使用される。(例えば、「眼鏡」(メディカル葵
出版1987年7月1日発行,42〜43頁参照)
て制御されるようになり、より精密な検眼が可能になっ
ている。また、乱視軸及び乱視度数等の乱視の測定につ
いては精密な測定をするために、クロスシリンダ光学系
を備えた自覚式検眼装置がよく知られている。その例と
して、特開昭61−293421号公報に記載された発
明がある。この発明では、2つの円柱レンズ、すわなち
正の円柱度数+Coを有するレンズ及び負の円柱度数−
Coを使用して、クロスシリンダ光学系を第1の状態と
第2の状態とに設定し、乱視度数の精密測定を行ってい
る。図7はそのフローチャートを示す図である。Sに続
く数字はステップ番号を表す。 〔S21〕他覚式屈折検査法によって、被検者のおおま
かな乱視軸及び乱視度数を測定する。これらのおおまか
の乱視軸及び乱視度数を粗乱視軸及び粗乱視度数と称す
る。 〔S22〕粗乱視軸及び粗乱視度数を設定する。 〔S23〕クロスシリンダ光学系を第1状態、第2状態
に交互に設定する。 〔S24〕検者は第1状態と第2状態とのいずれが視力
検査用視標が良好に視認できるか被検者に質問する。 〔S25〕被検者が第1状態が良く見えると答えた場合
は乱視軸を反時計回りに〔1/2tan-1(0.125
/C)〕微小回転させ、S24のテストを行う。ただ
し、Cはここで1〜3°程度とする。 〔S26〕被検者が第2状態が良く見えると答えた場合
は乱視軸を時計回りに〔1/2tan-1(0.125/
C)〕微小回転させて、S24のテストを行う。 〔S27〕第1状態と第2状態が同じに見えると被検者
が答えるとその位置が乱視軸であり、乱視軸の精密測定
が終了する。そして、乱視度数の精密測定に移る。 と
ころで、乱視度数の表記は一般に以下のような2通りの
表記が使用される。(例えば、「眼鏡」(メディカル葵
出版1987年7月1日発行,42〜43頁参照)
【0003】
【数1】
【0004】(ただし、Sph:球面度数、 Cyl:
乱視度数)
乱視度数)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、一般に他覚式
検眼装置では球面度数Sphが正の場合は乱視度数Cy
lも正で表し、球面度数Sphが負の場合は乱視度数C
ylも負で表する表記方法が一般的である。
検眼装置では球面度数Sphが正の場合は乱視度数Cy
lも正で表し、球面度数Sphが負の場合は乱視度数C
ylも負で表する表記方法が一般的である。
【0006】これに対して、精密な乱視軸の測定を行う
ための自覚式検眼装置では、負の乱視度数のみを設定で
きるように構成されているのが一般的である。このため
に、他覚式検眼装置で測定した乱視度数を一旦変換する
必要があった。
ための自覚式検眼装置では、負の乱視度数のみを設定で
きるように構成されているのが一般的である。このため
に、他覚式検眼装置で測定した乱視度数を一旦変換する
必要があった。
【0007】また、自覚式検眼装置では乱視度数をマイ
ナスにしか設定できないので、視標の第1状態が良く見
える場合は反時計方向へ、第2状態が良く見えるときは
時計方向へクロスシリンダ光学系を回転させるようにし
ていたので、必ずしも求める乱視軸へ近回りで到達する
ことができず、遠回りして、結果的に測定時間が長くな
る場合があった。
ナスにしか設定できないので、視標の第1状態が良く見
える場合は反時計方向へ、第2状態が良く見えるときは
時計方向へクロスシリンダ光学系を回転させるようにし
ていたので、必ずしも求める乱視軸へ近回りで到達する
ことができず、遠回りして、結果的に測定時間が長くな
る場合があった。
【0008】さらに、一般にクロスシリンダテストによ
る乱視測定では、第1状態と第2状態が等しく見える箇
所が2か所ある。したがって、本来乱視軸を180°と
すべき所を90°として、乱視度数を測定すると、乱視
度数はマイナスしか設定できないので、乱視度数を0以
上にできず、結局乱視度数の測定ができないという問題
があった。
る乱視測定では、第1状態と第2状態が等しく見える箇
所が2か所ある。したがって、本来乱視軸を180°と
すべき所を90°として、乱視度数を測定すると、乱視
度数はマイナスしか設定できないので、乱視度数を0以
上にできず、結局乱視度数の測定ができないという問題
があった。
【0009】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、乱視度数の精密な測定が迅速にできる自覚式
検眼装置を提供することを目的とする。また、本発明の
他の目的は乱視軸を逆に設定しても、精密な乱視度数を
測定できる自覚式検眼装置を提供することである。
のであり、乱視度数の精密な測定が迅速にできる自覚式
検眼装置を提供することを目的とする。また、本発明の
他の目的は乱視軸を逆に設定しても、精密な乱視度数を
測定できる自覚式検眼装置を提供することである。
【0010】
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明では上記目的を達
成するために、クロスシリンダ光学系を備えて、乱視軸
及び乱視度数を精密に測定する自覚式検眼装置におい
て、他覚式あるいは自覚式屈折検査法によって測定した
プラスあるいはマイナスの粗乱視度数を記憶する記憶手
段と、前記粗乱視度数あるいは指令されたプラスあるい
はマイナスの乱視度数にシリンダ光学系を制御する乱視
度数制御手段と、前記乱視度数制御手段の乱視度数の符
号と、被検者の前記クロスシリンダ光学系の第1状態及
び第2状態の検査視標の見え具合から、クロスシリンダ
光学系の回転方向を判別する回転方向判別手段と、前記
回転方向に従ってクロスシリンダ光学系を回転するクロ
スシリンダ光学系回転制御手段と、を有することを特徴
とする自覚式検眼装置が、提供される。
成するために、クロスシリンダ光学系を備えて、乱視軸
及び乱視度数を精密に測定する自覚式検眼装置におい
て、他覚式あるいは自覚式屈折検査法によって測定した
プラスあるいはマイナスの粗乱視度数を記憶する記憶手
段と、前記粗乱視度数あるいは指令されたプラスあるい
はマイナスの乱視度数にシリンダ光学系を制御する乱視
度数制御手段と、前記乱視度数制御手段の乱視度数の符
号と、被検者の前記クロスシリンダ光学系の第1状態及
び第2状態の検査視標の見え具合から、クロスシリンダ
光学系の回転方向を判別する回転方向判別手段と、前記
回転方向に従ってクロスシリンダ光学系を回転するクロ
スシリンダ光学系回転制御手段と、を有することを特徴
とする自覚式検眼装置が、提供される。
【0012】
【0013】
【作用】まず、粗乱視度数を他覚式屈折検査方法によっ
て求め、入力する。この粗乱視度数は記憶手段に記憶さ
れる。乱視度数制御手段はこの粗乱視度数を読み、シリ
ンダ光学系をその値に制御する。一方、回転方向判別手
段は、乱視度数制御手段の乱視度数、すなわちシリンダ
光学系の乱視度数の符号と、クロスシリンダ光学系の第
1状態、第2状態の見え具合から回転方向を判別し、ク
ロスシリンダ光学系回転制御手段に送る。クロスシリン
ダ光学系回転制御手段はこの回転方向にしたがって、一
定角度クロスシリンダ光学系を回転させる。したがっ
て、回転方向が遠回りすることなく、迅速な測定ができ
る。
て求め、入力する。この粗乱視度数は記憶手段に記憶さ
れる。乱視度数制御手段はこの粗乱視度数を読み、シリ
ンダ光学系をその値に制御する。一方、回転方向判別手
段は、乱視度数制御手段の乱視度数、すなわちシリンダ
光学系の乱視度数の符号と、クロスシリンダ光学系の第
1状態、第2状態の見え具合から回転方向を判別し、ク
ロスシリンダ光学系回転制御手段に送る。クロスシリン
ダ光学系回転制御手段はこの回転方向にしたがって、一
定角度クロスシリンダ光学系を回転させる。したがっ
て、回転方向が遠回りすることなく、迅速な測定ができ
る。
【0014】
【0015】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図1は本発明の自覚式検眼装置の全体の構成を
示すブロック図である。自覚式検眼装置は制御装置1
0、クロスシリンダ光学系20、シリンダ光学系30を
中心に構成されている。
明する。図1は本発明の自覚式検眼装置の全体の構成を
示すブロック図である。自覚式検眼装置は制御装置1
0、クロスシリンダ光学系20、シリンダ光学系30を
中心に構成されている。
【0016】制御装置10はマイクロプロセッサ構成に
なっており、クロスシリンダ光学系20の回転を制御す
るクロスシリンダ光学系回転制御手段11、他覚式屈折
検査法等によって測定した粗乱視度数を記憶する記憶手
段12、シリンダ光学系30を所望の乱視度数に制御す
る乱視度数制御手段13、クロスシリンダ光学系20の
回転方向を判別する回転方向判別手段14からなる。な
お、これらの制御装置10内の要素の機能については、
動作の説明で詳細に説明する。
なっており、クロスシリンダ光学系20の回転を制御す
るクロスシリンダ光学系回転制御手段11、他覚式屈折
検査法等によって測定した粗乱視度数を記憶する記憶手
段12、シリンダ光学系30を所望の乱視度数に制御す
る乱視度数制御手段13、クロスシリンダ光学系20の
回転方向を判別する回転方向判別手段14からなる。な
お、これらの制御装置10内の要素の機能については、
動作の説明で詳細に説明する。
【0017】また、クロスシリンダ光学系20の前方
(図1では上方)には乱視測定のための遠用視標41が
ある。遠用視標41は一般に点群視標が使用される。さ
らに、クロスシリンダ光学系20は2枚のクロスシリン
ダレンズ21,22から構成されており、このクロスシ
リンダレンズ21,22はクロスシリンダ光学系回転制
御手段11からの指令によって、図示されていないパル
スモータによって回転する。
(図1では上方)には乱視測定のための遠用視標41が
ある。遠用視標41は一般に点群視標が使用される。さ
らに、クロスシリンダ光学系20は2枚のクロスシリン
ダレンズ21,22から構成されており、このクロスシ
リンダレンズ21,22はクロスシリンダ光学系回転制
御手段11からの指令によって、図示されていないパル
スモータによって回転する。
【0018】クロスシリンダ光学系20とシリンダ光学
系30の間には分離プリズム42があり、それぞれクロ
スシリンダレンズ21,22を通して見える遠用視標4
1を同時に視認できるようになっている。
系30の間には分離プリズム42があり、それぞれクロ
スシリンダレンズ21,22を通して見える遠用視標4
1を同時に視認できるようになっている。
【0019】図2はクロスシリンダ光学系20のクロス
シリンダレンズの状態を示す図である。例えば、図1の
クロスシリンダレンズ21はAに示すようになってお
り、クロスシリンダレンズ22はBの構成になってい
る。
シリンダレンズの状態を示す図である。例えば、図1の
クロスシリンダレンズ21はAに示すようになってお
り、クロスシリンダレンズ22はBの構成になってい
る。
【0020】いずれのクロスシリンダレンズも、円柱レ
ンズ度数が+0.50と−0.50の直交する円柱レン
ズの合成したものとして構成されている。先に述べたよ
うに、クロスシリンダレンズ21,22を回転させて、
被検者が遠用視標41を見て、左右の遠用視標が同じ程
度に見えた回転位置が乱視軸と一致する。すなわち、図
2の状態では、横軸が乱視軸と一致している。
ンズ度数が+0.50と−0.50の直交する円柱レン
ズの合成したものとして構成されている。先に述べたよ
うに、クロスシリンダレンズ21,22を回転させて、
被検者が遠用視標41を見て、左右の遠用視標が同じ程
度に見えた回転位置が乱視軸と一致する。すなわち、図
2の状態では、横軸が乱視軸と一致している。
【0021】なお、図2のAのクロスシリンダレンズを
通して見た状態を第1状態、図2のBのクロスシリンダ
レンズを通して見た状態を第2状態という。言い換えれ
ば、クロスシリンダレンズ21を通して見た状態が第1
状態、クロスシリンダレンズ22を通して見た状態が第
2状態である。
通して見た状態を第1状態、図2のBのクロスシリンダ
レンズを通して見た状態を第2状態という。言い換えれ
ば、クロスシリンダレンズ21を通して見た状態が第1
状態、クロスシリンダレンズ22を通して見た状態が第
2状態である。
【0022】シリンダ光学系30はストークスレンズで
あり、度数が等しく、符号の異なる円柱レンズ31,3
2から構成されており、円柱レンズ31,32の相対的
な角度を変えることにより、プラス及びマイナスの度数
を生成することのできるように構成されている。
あり、度数が等しく、符号の異なる円柱レンズ31,3
2から構成されており、円柱レンズ31,32の相対的
な角度を変えることにより、プラス及びマイナスの度数
を生成することのできるように構成されている。
【0023】シリンダ光学系30の後方(図1では下
方)に被検者の人眼43がくる。なお、シリンダ光学系
30と人眼43の間には、球面レンズが配置されている
が、本発明とは直接関係しないので省略してある。
方)に被検者の人眼43がくる。なお、シリンダ光学系
30と人眼43の間には、球面レンズが配置されている
が、本発明とは直接関係しないので省略してある。
【0024】また、これらのクロスシリンダ光学系2
0、シリンダ光学系30等を制御する機構、これらの機
構を動作させるためのパルスモータ、センサ等は一般に
知られているので、その詳細は省略する。
0、シリンダ光学系30等を制御する機構、これらの機
構を動作させるためのパルスモータ、センサ等は一般に
知られているので、その詳細は省略する。
【0025】次に乱視軸の測定方法について説明する。
図3は乱視軸の精密測定のフローチャートである。な
お、Sに続く数字はステップ数を示す。 〔S1〕自覚式又は他覚式屈折検査法によって、被検者
のおおまかな乱視軸及び乱視度数を測定する。ここで、
これらのおおまかな乱視軸及び乱視度数を粗乱視軸、粗
乱視度数と称する。 〔S2〕これらの粗乱視軸及び粗乱視度数を制御装置1
0の図示されていないキーボード等を使用して入力す
る。この粗乱視軸及び粗乱視度数は記憶手段12に記憶
される。
図3は乱視軸の精密測定のフローチャートである。な
お、Sに続く数字はステップ数を示す。 〔S1〕自覚式又は他覚式屈折検査法によって、被検者
のおおまかな乱視軸及び乱視度数を測定する。ここで、
これらのおおまかな乱視軸及び乱視度数を粗乱視軸、粗
乱視度数と称する。 〔S2〕これらの粗乱視軸及び粗乱視度数を制御装置1
0の図示されていないキーボード等を使用して入力す
る。この粗乱視軸及び粗乱視度数は記憶手段12に記憶
される。
【0026】粗乱視度数はクロスシリンダ光学系回転制
御手段11へ送られ、クロスシリンダ光学系20を粗乱
視軸になるようにクロスシリンダレンズ21,22を回
転する。また、粗乱視度数は乱視度数制御手段13にも
送られ、シリンダ光学系30を粗乱視度数になるように
シリンダレンズ31,32を回転する。 〔S3〕粗乱視度数の符号を判別し、符号がプラスのと
きはS4aへ、0またはマイナスのときはS4bへい
く。 〔S4a〕クロスシリンダ光学系20に、第1状態及び
第2状態を設定する。すなわち、図2のAの状態、すな
わちクロスシリンダレンズ21を通して見た遠用視標を
第1状態、図2のBの状態、すなわちクロスシリンダレ
ンズ22を通して見た状態を第2状態とする。ただし、
実際には粗乱視軸になるように回転している。 〔S5a〕検者が被検者に第1状態と第2状態のどちら
がよく見えるかを問う。第1状態がよく見えるときはS
6aaへ、第2状態がよく見えるときはS6abへ、両
方が同じに見えればS7へいく。 〔S6aa〕回転方向判別手段14は、乱視度数の符号
がプラスであり、第1状態がよく見えるので、時計回り
に回転する指令を、クロスシリンダ光学系回転制御手段
11に送り、クロスシリンダ光学系回転制御手段11は
時計回りの指令をクロスシリンダ光学系20に送り、ク
ロスシリンダレンズ21、22を時計回りに回転させ
る。そして、S5aに戻り、測定を続行する。 〔S6ab〕回転方向判別手段14は、乱視度数の符号
がプラスであり、第2状態がよく見えるので、反時計回
りに回転する指令を、クロスシリンダ光学系回転制御手
段11に送り、クロスシリンダ光学系回転制御手段11
は反時計回りの指令をクロスシリンダ光学系20に送
り、クロスシリンダレンズ21、22を反時計回りに回
転させる。そして、S5aに戻り、測定を続行する。 〔S4b〕クロスシリンダ光学系20に、第1状態及び
第2状態を設定する。その内容はS4aと同じである。 〔S5b〕検者が被検者に第1状態と第2状態のどちら
がよく見えるかを問う。第1状態がよく見えるときはS
6bbへ、第2状態がよく見えるときはS6aaへ、両
方が同じに見えるときはS7へいく。 〔S6ba〕回転方向判別手段14は、乱視度数の符号
が0またはマイナスであり、第2状態がよく見えるの
で、時計回りに回転する指令を、クロスシリンダ光学系
回転制御手段11に送り、クロスシリンダ光学系回転制
御手段11は時計回りの指令をクロスシリンダ光学系2
0に送り、クロスシリンダレンズ21、22を時計回り
に回転させる。そして、S5bに戻り、測定を続行す
る。 〔S6bb〕回転方向判別手段14は、乱視度数の符号
が0またはマイナスであり、第1状態がよく見えるの
で、反時計回りに回転する指令を、クロスシリンダ光学
系回転制御手段11に送り、クロスシリンダ光学系回転
制御手段11は反時計回りの指令をクロスシリンダ光学
系20に送り、クロスシリンダレンズ21、22を反時
計回りに回転させる。そして、S5bに戻り、測定を続
行する。 〔S7〕第1状態と第2状態が同じに見えればそれが乱
視軸であり、乱視軸の精密測定は終わり、乱視度数の精
密測定に移る。
御手段11へ送られ、クロスシリンダ光学系20を粗乱
視軸になるようにクロスシリンダレンズ21,22を回
転する。また、粗乱視度数は乱視度数制御手段13にも
送られ、シリンダ光学系30を粗乱視度数になるように
シリンダレンズ31,32を回転する。 〔S3〕粗乱視度数の符号を判別し、符号がプラスのと
きはS4aへ、0またはマイナスのときはS4bへい
く。 〔S4a〕クロスシリンダ光学系20に、第1状態及び
第2状態を設定する。すなわち、図2のAの状態、すな
わちクロスシリンダレンズ21を通して見た遠用視標を
第1状態、図2のBの状態、すなわちクロスシリンダレ
ンズ22を通して見た状態を第2状態とする。ただし、
実際には粗乱視軸になるように回転している。 〔S5a〕検者が被検者に第1状態と第2状態のどちら
がよく見えるかを問う。第1状態がよく見えるときはS
6aaへ、第2状態がよく見えるときはS6abへ、両
方が同じに見えればS7へいく。 〔S6aa〕回転方向判別手段14は、乱視度数の符号
がプラスであり、第1状態がよく見えるので、時計回り
に回転する指令を、クロスシリンダ光学系回転制御手段
11に送り、クロスシリンダ光学系回転制御手段11は
時計回りの指令をクロスシリンダ光学系20に送り、ク
ロスシリンダレンズ21、22を時計回りに回転させ
る。そして、S5aに戻り、測定を続行する。 〔S6ab〕回転方向判別手段14は、乱視度数の符号
がプラスであり、第2状態がよく見えるので、反時計回
りに回転する指令を、クロスシリンダ光学系回転制御手
段11に送り、クロスシリンダ光学系回転制御手段11
は反時計回りの指令をクロスシリンダ光学系20に送
り、クロスシリンダレンズ21、22を反時計回りに回
転させる。そして、S5aに戻り、測定を続行する。 〔S4b〕クロスシリンダ光学系20に、第1状態及び
第2状態を設定する。その内容はS4aと同じである。 〔S5b〕検者が被検者に第1状態と第2状態のどちら
がよく見えるかを問う。第1状態がよく見えるときはS
6bbへ、第2状態がよく見えるときはS6aaへ、両
方が同じに見えるときはS7へいく。 〔S6ba〕回転方向判別手段14は、乱視度数の符号
が0またはマイナスであり、第2状態がよく見えるの
で、時計回りに回転する指令を、クロスシリンダ光学系
回転制御手段11に送り、クロスシリンダ光学系回転制
御手段11は時計回りの指令をクロスシリンダ光学系2
0に送り、クロスシリンダレンズ21、22を時計回り
に回転させる。そして、S5bに戻り、測定を続行す
る。 〔S6bb〕回転方向判別手段14は、乱視度数の符号
が0またはマイナスであり、第1状態がよく見えるの
で、反時計回りに回転する指令を、クロスシリンダ光学
系回転制御手段11に送り、クロスシリンダ光学系回転
制御手段11は反時計回りの指令をクロスシリンダ光学
系20に送り、クロスシリンダレンズ21、22を反時
計回りに回転させる。そして、S5bに戻り、測定を続
行する。 〔S7〕第1状態と第2状態が同じに見えればそれが乱
視軸であり、乱視軸の精密測定は終わり、乱視度数の精
密測定に移る。
【0027】次に本発明の利点を従来の乱視軸測定装置
との比較において述べる。図4は乱視軸の測定時のクロ
スシリンダ等の状態を示す図である。Mは人眼の乱視の
状態であり、 S0.00 C+0.50 Ax180 とする。ここで、他覚式屈折検査法で乱視軸が15°と
判定されたものとし、測定に先立ってクロスシリンダレ
ンズ21,22を15°に設定する。Aはクロスシリン
ダレンズ21の状態を示す。そして、AMはクロスシリ
ンダレンズ21を通して見た第1状態を示し、前焦点と
後焦点の差が、 +0.88−(−0.37)=1.25 となる。
との比較において述べる。図4は乱視軸の測定時のクロ
スシリンダ等の状態を示す図である。Mは人眼の乱視の
状態であり、 S0.00 C+0.50 Ax180 とする。ここで、他覚式屈折検査法で乱視軸が15°と
判定されたものとし、測定に先立ってクロスシリンダレ
ンズ21,22を15°に設定する。Aはクロスシリン
ダレンズ21の状態を示す。そして、AMはクロスシリ
ンダレンズ21を通して見た第1状態を示し、前焦点と
後焦点の差が、 +0.88−(−0.37)=1.25 となる。
【0028】一方、Bはクロスシリンダレンズ22の状
態を示す。そして、BMはクロスシリンダレンズ22を
通して見た第2状態を示し、前焦点と後焦点の差が、 +0.63−(−0.12)=0.75 となる。したがって、被検者は第2状態が良く見えると
いう回答をする。従来は第1状態が良く見えればクロス
シリンダレンズを反時計回りに、第2状態が良く見えれ
ば時計回りにしているので、時計回りにクロスシリンダ
レンズ21,22を回転させて、何回かの測定の後に被
検者の乱視軸180°に到達することができる。
態を示す。そして、BMはクロスシリンダレンズ22を
通して見た第2状態を示し、前焦点と後焦点の差が、 +0.63−(−0.12)=0.75 となる。したがって、被検者は第2状態が良く見えると
いう回答をする。従来は第1状態が良く見えればクロス
シリンダレンズを反時計回りに、第2状態が良く見えれ
ば時計回りにしているので、時計回りにクロスシリンダ
レンズ21,22を回転させて、何回かの測定の後に被
検者の乱視軸180°に到達することができる。
【0029】図5は他の乱視軸の測定時のクロスシリン
ダ等の状態を示す図である。Mは人眼の乱視の状態であ
り、 S0.00 C−0.50 Ax180 とする。すなわち、マイナスの乱視度数を有するものと
する。ここで、他覚式屈折検査法で乱視軸が15°と判
定されたものとし、測定に先立ってクロスシリンダレン
ズ21,22を15°に設定する。Aはクロスシリンダ
レンズ21の状態を示す。そして、AMはクロスシリン
ダレンズ21を通して見た第1状態を示し、前焦点と後
焦点の差が、 +0.12−(−0.63)=0.75 となる。
ダ等の状態を示す図である。Mは人眼の乱視の状態であ
り、 S0.00 C−0.50 Ax180 とする。すなわち、マイナスの乱視度数を有するものと
する。ここで、他覚式屈折検査法で乱視軸が15°と判
定されたものとし、測定に先立ってクロスシリンダレン
ズ21,22を15°に設定する。Aはクロスシリンダ
レンズ21の状態を示す。そして、AMはクロスシリン
ダレンズ21を通して見た第1状態を示し、前焦点と後
焦点の差が、 +0.12−(−0.63)=0.75 となる。
【0030】一方、Bはクロスシリンダレンズ22の状
態を示す。そして、BMはクロスシリンダレンズ22を
通して見た第2状態を示し、前焦点と後焦点の差が、 +0.37−(−0.88)=1.25 となる。したがって、被検者は第1状態が良く見えると
いう回答をする。従来は第1状態が良く見えればクロス
シリンダレンズを反時計回りに、第2状態が良く見えれ
ば時計回りにしているので、反時計回りにクロスシリン
ダレンズ21,22を回転させて、何回かの測定の後に
被検者の乱視軸180°に到達することができるが、遠
回りになり、何回も測定を繰り返す必要があり、測定時
間が膨大になる。これに対して、本発明では乱視度数が
マイナスで第2状態の方が良く見えたときは、回転方向
を時計回りに回転するようしたので(図3の6baを参
照)、近回りが可能となり、測定時間が短縮される。
態を示す。そして、BMはクロスシリンダレンズ22を
通して見た第2状態を示し、前焦点と後焦点の差が、 +0.37−(−0.88)=1.25 となる。したがって、被検者は第1状態が良く見えると
いう回答をする。従来は第1状態が良く見えればクロス
シリンダレンズを反時計回りに、第2状態が良く見えれ
ば時計回りにしているので、反時計回りにクロスシリン
ダレンズ21,22を回転させて、何回かの測定の後に
被検者の乱視軸180°に到達することができるが、遠
回りになり、何回も測定を繰り返す必要があり、測定時
間が膨大になる。これに対して、本発明では乱視度数が
マイナスで第2状態の方が良く見えたときは、回転方向
を時計回りに回転するようしたので(図3の6baを参
照)、近回りが可能となり、測定時間が短縮される。
【0031】すなわち、本発明で乱視度数のプラス、マ
イナスによって、回転方向を判別するようにしたので、
常に近回りの測定が可能になり、測定時間が短縮される
のである。勿論、これを可能にするために、シリンダ光
学系30はプラス、マイナスの乱視度数が設定できるよ
うになっており、他覚式屈折検査法等で測定した粗乱視
度数を変換することなく、そのまま使用できることが前
提となっている。
イナスによって、回転方向を判別するようにしたので、
常に近回りの測定が可能になり、測定時間が短縮される
のである。勿論、これを可能にするために、シリンダ光
学系30はプラス、マイナスの乱視度数が設定できるよ
うになっており、他覚式屈折検査法等で測定した粗乱視
度数を変換することなく、そのまま使用できることが前
提となっている。
【0032】なお、上記のクロスシリンダレンズ21,
22の回転角度は一回に1〜5°程度である。また、上
記の説明ではクロスシリンダレンズ21,22を回転さ
せて乱視軸の精密測定を行ったが、2個の円柱レンズ使
用してクロスシリンダ光学系を構成することもできる。
22の回転角度は一回に1〜5°程度である。また、上
記の説明ではクロスシリンダレンズ21,22を回転さ
せて乱視軸の精密測定を行ったが、2個の円柱レンズ使
用してクロスシリンダ光学系を構成することもできる。
【0033】さらに、上記の説明では、分離プリズム4
2を使用して、遠用視標を同時に見えるように構成した
が、分離プリズムを使用せずに、被検者が交互に遠用視
標を見るように構成してもよい。
2を使用して、遠用視標を同時に見えるように構成した
が、分離プリズムを使用せずに、被検者が交互に遠用視
標を見るように構成してもよい。
【0034】次に他の実施例について述べる。図6は他
の実施例の乱視軸の精密測定の順序を示すフローチャー
トである。Sに続く番号はステップ番号を示す。 〔S11〕自覚式又は他覚式屈折検査法によって、被検
者の乱視軸及び乱視度数を測定する。ここで、これらの
おおまかな乱視軸及び乱視度数を粗乱視軸、粗乱視度数
と称する。 〔S12〕これらの粗乱視軸及び粗乱視度数を制御装置
10の図示されていないキーボード等を使用して入力す
る。この粗乱視度数は記憶手段12に記憶される。
の実施例の乱視軸の精密測定の順序を示すフローチャー
トである。Sに続く番号はステップ番号を示す。 〔S11〕自覚式又は他覚式屈折検査法によって、被検
者の乱視軸及び乱視度数を測定する。ここで、これらの
おおまかな乱視軸及び乱視度数を粗乱視軸、粗乱視度数
と称する。 〔S12〕これらの粗乱視軸及び粗乱視度数を制御装置
10の図示されていないキーボード等を使用して入力す
る。この粗乱視度数は記憶手段12に記憶される。
【0035】粗乱視軸はクロスシリンダ光学系回転制御
手段11に送られ、クロスシリンダ光学系20を粗乱視
度数の角度にするために、クロスシリンダレンズ21、
22を回転させる。また、粗乱視度数は乱視度数制御手
段13に送られ、シリンダ光学系30を粗乱視度数にな
るようにシリンダレンズ31,32を回転する。 〔S13〕粗乱視度数の符号を判別し、符号がプラスの
ときはS14aへ、0またはマイナスのときはS14b
へいく。 〔S14a〕クロスシリンダレンズ22で見た遠用視標
を第1状態、クロスシリンダレンズ21で見た遠用視標
を第2状態とする。すなわち、通常と逆に設定する。そ
して、S15へ進む。 〔S14b〕クロスシリンダレンズ21で見た遠用視標
を第1状態、クロスシリンダレンズ22で見た遠用視標
を第2状態とする。すなわち、通常の状態に設定する。
そして、S15へ進む。 〔S15〕検者が被検者に第1状態と第2状態のどちら
がよく見えるかを問う。第1状態がよく見えるときはS
16bへ、第2状態がよく見えるときはS16aへ、両
方が同じに見えればS17へいく。 〔S16a〕時計回りに回転する指令を、クロスシリン
ダ光学系回転制御手段11に送り、クロスシリンダ光学
系回転制御手段11は時計回りの指令をクロスシリンダ
光学系20に送り、クロスシリンダレンズ21、22を
時計回りに回転させる。そして、S15に戻り、測定を
続行する。 〔S16b〕反時計回りに回転する指令を、クロスシリ
ンダ光学系回転制御手段11に送り、クロスシリンダ光
学系回転制御手段11は反時計回りの指令をクロスシリ
ンダ光学系20に送り、クロスシリンダレンズ21、2
2を反時計回りに回転させる。そして、S15に戻り、
測定を続行する。 〔S17〕第1状態と第2状態が同じに見えればそれが
乱視軸であり、乱視軸の精密測定は終わり、乱視度数の
精密測定に移る。
手段11に送られ、クロスシリンダ光学系20を粗乱視
度数の角度にするために、クロスシリンダレンズ21、
22を回転させる。また、粗乱視度数は乱視度数制御手
段13に送られ、シリンダ光学系30を粗乱視度数にな
るようにシリンダレンズ31,32を回転する。 〔S13〕粗乱視度数の符号を判別し、符号がプラスの
ときはS14aへ、0またはマイナスのときはS14b
へいく。 〔S14a〕クロスシリンダレンズ22で見た遠用視標
を第1状態、クロスシリンダレンズ21で見た遠用視標
を第2状態とする。すなわち、通常と逆に設定する。そ
して、S15へ進む。 〔S14b〕クロスシリンダレンズ21で見た遠用視標
を第1状態、クロスシリンダレンズ22で見た遠用視標
を第2状態とする。すなわち、通常の状態に設定する。
そして、S15へ進む。 〔S15〕検者が被検者に第1状態と第2状態のどちら
がよく見えるかを問う。第1状態がよく見えるときはS
16bへ、第2状態がよく見えるときはS16aへ、両
方が同じに見えればS17へいく。 〔S16a〕時計回りに回転する指令を、クロスシリン
ダ光学系回転制御手段11に送り、クロスシリンダ光学
系回転制御手段11は時計回りの指令をクロスシリンダ
光学系20に送り、クロスシリンダレンズ21、22を
時計回りに回転させる。そして、S15に戻り、測定を
続行する。 〔S16b〕反時計回りに回転する指令を、クロスシリ
ンダ光学系回転制御手段11に送り、クロスシリンダ光
学系回転制御手段11は反時計回りの指令をクロスシリ
ンダ光学系20に送り、クロスシリンダレンズ21、2
2を反時計回りに回転させる。そして、S15に戻り、
測定を続行する。 〔S17〕第1状態と第2状態が同じに見えればそれが
乱視軸であり、乱視軸の精密測定は終わり、乱視度数の
精密測定に移る。
【0036】この場合も第1の実施例と同じように、乱
視度数のプラス、マイナスによって、第1状態と第2状
態を交換して、クロスシリンダレンズの回転方向を判別
しているので、常に近回りの測定が可能となり、測定を
迅速にできる。
視度数のプラス、マイナスによって、第1状態と第2状
態を交換して、クロスシリンダレンズの回転方向を判別
しているので、常に近回りの測定が可能となり、測定を
迅速にできる。
【0037】なお、上記の第1の実施例、第2の実施例
においても、シリンダ光学系をプラス及びマイナスの乱
視度数を設定できるようにしたので乱視軸を誤って設定
しても、乱視度数を変えることにより、乱視の精密測定
ができる。
においても、シリンダ光学系をプラス及びマイナスの乱
視度数を設定できるようにしたので乱視軸を誤って設定
しても、乱視度数を変えることにより、乱視の精密測定
ができる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の自覚式検
査装置ではシリンダ光学系をプラス及びマイナスに設定
できるようにして、乱視度数と遠用視標の見え具合によ
って、クロスシリンダ光学系の回転方向を決めるように
したので、常に近回りの測定が可能になり、迅速に乱視
軸の精密測定ができる。
査装置ではシリンダ光学系をプラス及びマイナスに設定
できるようにして、乱視度数と遠用視標の見え具合によ
って、クロスシリンダ光学系の回転方向を決めるように
したので、常に近回りの測定が可能になり、迅速に乱視
軸の精密測定ができる。
【0039】また、シリンダ光学系をプラス及びマイナ
スの乱視度数を設定できるようにしたので、乱視軸が間
違っていても、そのまま乱視度数を変えることにより、
乱視の精密測定ができる。
スの乱視度数を設定できるようにしたので、乱視軸が間
違っていても、そのまま乱視度数を変えることにより、
乱視の精密測定ができる。
【図1】本発明の自覚式検眼装置の全体の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図2】クロスシリンダ光学系のクロスシリンダレンズ
の状態を示す図である。
の状態を示す図である。
【図3】乱視軸の精密測定のフローチャートである。
【図4】乱視軸の測定時のクロスシリンダ等の状態を示
す図である。
す図である。
【図5】他の乱視軸の測定時のクロスシリンダ等の状態
を示す図である。
を示す図である。
【図6】他の実施例の乱視軸の精密測定のフローチャー
トである。
トである。
【図7】従来の乱視軸の精密測定の例を示すフローチャ
ートである。
ートである。
10 制御装置 11 クロスシリンダ光学系回転制御手段 12 記憶手段 13 乱視度数制御手段 14 回転方向判別手段 20 クロスシリンダ光学系 30 シリンダ光学系 41 遠用視標 42 分離プリズム 43 人眼
Claims (2)
- 【請求項1】 クロスシリンダ光学系を備えて、乱視軸
及び乱視度数を精密に測定する自覚式検眼装置におい
て、 他覚式あるいは自覚式屈折検査法によって測定したプラ
スあるいはマイナスの粗乱視度数を記憶する記憶手段
と、 前記粗乱視度数あるいは指令されたプラスあるいはマイ
ナスの乱視度数にシリンダ光学系を制御する乱視度数制
御手段と、 前記乱視度数制御手段の乱視度数の符号と、被検者の前
記クロスシリンダ光学系の第1状態及び第2状態の検査
視標の見え具合から、クロスシリンダ光学系の回転方向
を判別する回転方向判別手段と、 前記回転方向に従ってクロスシリンダ光学系を回転する
クロスシリンダ光学系回転制御手段と、 を有することを特徴とする自覚式検眼装置。 - 【請求項2】 クロスシリンダ光学系を備えて、乱視軸
及び乱視度数を精密に測定する自覚式検眼装置におい
て、 他覚式あるいは自覚式屈折検査法によって測定したプラ
スあるいはマイナスの粗乱視度数を記憶する記憶手段
と、 前記粗乱視度数あるいは指令されたプラスあるいはマイ
ナスの乱視度数にシリンダ光学系を制御する乱視度数制
御手段と、 前記乱視度数制御手段の乱視度数の符号にしたがって、
前記クロスシリンダ光学系の第1状態あるいは第2状態
を定義する定義手段と、 前記第1状態及び第2状態の見え具合によって、クロス
シリンダ光学系の回転方向を判別する回転方向判別手段
と、 前記回転方向に従ってクロスシリンダ光学系を回転する
クロスシリンダ光学系回転制御手段と、 を有することを特徴とする自覚式検眼装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4204061A JP2804866B2 (ja) | 1992-07-30 | 1992-07-30 | 自覚式検眼装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4204061A JP2804866B2 (ja) | 1992-07-30 | 1992-07-30 | 自覚式検眼装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0646993A JPH0646993A (ja) | 1994-02-22 |
JP2804866B2 true JP2804866B2 (ja) | 1998-09-30 |
Family
ID=16484111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4204061A Expired - Fee Related JP2804866B2 (ja) | 1992-07-30 | 1992-07-30 | 自覚式検眼装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2804866B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017164113A (ja) * | 2016-03-15 | 2017-09-21 | 株式会社トプコン | 眼科検査装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5944237A (ja) * | 1982-09-03 | 1984-03-12 | 株式会社ニコン | 自覚式検眼装置 |
JPS60193436A (ja) * | 1984-03-16 | 1985-10-01 | 株式会社トプコン | 視力検査装置 |
JPH02189125A (ja) * | 1989-01-18 | 1990-07-25 | Topcon Corp | 自覚式検眼装置 |
-
1992
- 1992-07-30 JP JP4204061A patent/JP2804866B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0646993A (ja) | 1994-02-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |