JP2768336B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2768336B2
JP2768336B2 JP7329302A JP32930295A JP2768336B2 JP 2768336 B2 JP2768336 B2 JP 2768336B2 JP 7329302 A JP7329302 A JP 7329302A JP 32930295 A JP32930295 A JP 32930295A JP 2768336 B2 JP2768336 B2 JP 2768336B2
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semiconductor
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tcp tape
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和幸 遊佐
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NEC Corp
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector

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  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置に係り、
特に絶縁テープに半導体素子を搭載したTCP(Tape
Carrier Package)構造の半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のTCP構造の半導体装置は、図3
(a),(b)にその一例の平面図とBB線拡大断面図
を示すように、TCPテープ11の表面には導体膜で構
成される所要パターンの配線膜12が形成されており、
かつこのTCPテープ11には実装される半導体素子1
5よりも大きなデバイスホール19が形成され、前記配
線膜12の内端部12aがデバイスホール19内に突出
された状態とされている。そして、半導体素子15は前
記TCPテープ11の裏面側からデバイスホール19内
に位置され、半導体素子15の周辺部に配列された電極
パッド16がバンプ17により前記配線膜12の内端部
12aに接続される。さらに、半導体素子15とTCP
配線膜12及び半導体素子15とTCPテープ11は、
樹脂18により封止されている。なお、13は配線膜1
2の保護膜、14はスプロケットホールである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような従来のTC
P構造の半導体装置においては、半導体素子15を実装
するためにTCPテープ11にデバイスホール19を開
設しているため、このデバイスホール19の形成に用い
る打ち抜き金型が必要であり、そのための設備費用がか
かり、かつ打抜き工程作業が必要なためにコスト高にな
るという問題がある。また、デバイスホール19を設け
ることで、配線膜12の内端部12aはこのデバイスホ
ール19の周辺部に配置せざるを得ず、必要な配線ピッ
チ間隔を得るためにこの周辺部からさらに外方部に向け
て配線膜12を延設した場合には配線膜12とデバイス
ホール19を含めたTCPテープ11上での占有面積が
大きくなり、半導体素子15のサイズに比較してTCP
テープの必要面積が大きくなる。特に、TCPテープの
長さ方向の長さが長くなり、TCPテープのコスト高を
招くおそれがある。
【0004】この場合、例えば、特開平2−20532
8号公報に記載されている技術のように、半導体素子の
電極パッドを素子の中央部に配置し、かつTCPテープ
の配線膜の内端部を中央側に位置させることで配線層を
所定の長さ以上に確保しながらもその外端部が外方に延
設されることを防止することが考えられるが、デバイス
ホール内で延長される配線層の内端部の長さを長くする
と、配線層が半導体素子の重量によって変形され易くな
り、半導体素子と配線層との接続の信頼性が低下されて
しまうことになる。
【0005】一方、従来の半導体装置では、通常ではT
CPテープの表面に配線膜を形成した後にデバイスホー
ルの打ち抜きを行っているために、打ち抜いた際に生じ
る配線膜の打ち抜き片が他の箇所に付着して配線のショ
ートが生じるおそれがある。また、デバイスホールの打
抜き精度が悪い場合には、半導体素子のバンプと接続さ
れる配線膜がバンプに正対されなくなって電気接続が不
可能になることもあり、また配線層が半導体素子のエッ
ジに接触することによるタッチショートの問題もある。
【0006】本発明の目的は、低コスト化を図るととも
に、デバイスホールに伴う従来の不具合を解消した信頼
性の高い半導体装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
TCPテープに搭載される半導体素子は電極パッドを半
導体素子の中央部に配設してTCPテープの表面側から
搭載し、かつTCPテープの表面に設けた配線膜の内端
部はこれら電極パッドに対応して半導体素子の中央部に
まで延設され、かつ配線膜の外端部は、所望のピッチ間
隔を確保するのに必要とされる長さでかつそのピッチ間
隔が前記半導体素子の中央部から外周部に向けて拡大さ
れるように延長された上で半導体素子の外周囲から突出
されることを特徴とする。ここで、TCPテープには配
線膜の内端部が延長される領域にデバイスホールが存在
されることはない。さらに、複数個の電極パッドの少な
くとも一部は、半導体素子の中央部においてTCPテー
プの幅方向に配列される。
【0008】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図1(a),(b)は本発明の第1
の実施形態の平面図とAA線拡大断面図である。薄いエ
ポキシ樹脂等をテープ状に形成したTCPテープ1は、
その表面に所要のパターンに形成された銅箔等の導電膜
からなる配線膜2が一体的に形成されている。そして、
これらTCPテープ1と配線膜2の表面を覆うように保
護膜3が形成されているが、前記配線膜2の内端部2a
と外端部2bでは保護膜3は除去されており、配線膜2
が露呈されている。また、TCPテープ1の両側辺に
は、テープ送り用のスプロケットホール4が開設されて
いる。
【0009】一方、実装される半導体素子5は、その表
面に配設された多数個の電極パッド6のうち、TCPテ
ープに実装されたときにTCPテープの長さ方向に配設
される電極パッド6aは、それぞれ半導体素子5の中心
部に配設されている。したがって、前記TCPテープ1
の配線膜2の内端部2aのうち互いにテープ長さ方向に
対峙されるものは、この半導体素子5の電極パッド6a
に対応してテープ長さ方向の間隔が狭められた状態に配
置されている。
【0010】そして、前記半導体素子5の各電極パッド
6にはバンプ7が形成され、この半導体素子5の表面を
下側に向けて前記TCPテープ1の表面側に圧接され、
バンプ7を介して各電極6を配線膜2の各内端部2aに
接続し、半導体素子5と配線膜2との電気的な接続を行
っている。しかる上で、半導体素子5とTCPテープ1
との間に封止用の樹脂8を充填し、前記バンプ7を含む
接続部をこの樹脂8で封止してパッケージを構成してい
る。
【0011】したがって、この構成の半導体装置によれ
ば、半導体素子5に設けられた電極6の一部6aは、T
CPテープ1の長さ方向の間隔が狭められ、これに対応
してTCPテープ1の配線膜2の内端部2aの間隔も狭
められている。したがって、配線膜2をその内端部2a
から外端部2bまで所定の長さで延設させた場合でも、
外端部2bが半導体素子5の長辺部からTCPテープの
長さ方向の両外方向に突出される長さを抑制でき、半導
体素子の両側から突出される長さを短くできる。これに
より、配線膜に必要とされるTCPテープの長さ寸法を
短くすることができ、TCPテープの低コスト化が実現
できる。
【0012】また、半導体素子5はTCPテープ1の配
線膜2が形成されている表面側においてTCPテープ1
に接続されているため、従来必要とされていたデバイス
ホールが不要となる。このため、配線膜2の内端部2a
を半導体素子5の中央部にまで延長した場合でも、各内
端部2aの近傍部位をTCPテープ1によって保持する
ことができ、機械的な強度が低下されることはなく、実
装した半導体素子の重量によっても配線膜が変形される
ことを防止し、半導体素子の保持力を高めることができ
る。また、デバイスホールが不要とされることで、デバ
イスホールが原因とされていた従来の問題、即ち金型に
よるコスト高、打ち抜き片によるショート等を解消する
ことができる。
【0013】図2は本発明の第2の実施形態の平面図で
ある。この実施形態は半導体素子5の短辺側を短くした
ときに適用可能であり、半導体素子5の短辺側に配列し
ていた電極パッドを無くし、全ての電極パッド6を半導
体素子5の中央部に集め、TCPテープ1の長さ方向に
微細な間隔で配列したものである。そして、TCPテー
プ1に設けられる配線膜2は、第1実施形態と同様にそ
の内端部2aにおいて前記電極パッド6にバンプ(図1
(b)参照)を介して接続されているが、各配線膜2は
極力TCPテープ1の長さ方向に引き出されて延長され
るように構成されている。また、この実施形態において
も、半導体素子5はTCPテープ1の表面側から実装さ
れており、TCPテープにはデバイスホールは設けられ
てはいない。
【0014】この第2実施形態においても、配線膜2の
内端部2aを半導体素子5の中央部にまで延長し、かつ
前記第1の実施形態と同様にそのピッチ間隔が前記半導
体素子の中央部から外周部に向けて拡大されるように延
長することにより、配線膜2の外端部2bが半導体素子
5の長辺部から両外方向に突出される長さを短くでき、
TCPテープの長さ寸法を短くしてTCPテープの低コ
スト化が実現できる。また、配線膜2の内端部2aを半
導体素子5の中央部にまで延長した場合でも、TCPテ
ープにデバイスホールが存在していないため、内端部2
a近傍の機械的な強度が低下されることはなく、半導体
素子5の保持の信頼性が高められる。さらに、この第2
実施形態では、配線膜2がTCPテープの長さ方向に延
長されるため、TCPテープの幅方向における配線膜の
占有面積を低減でき、必要に応じてTCPテープの幅寸
法を低減することも可能であり、低コスト化を促進する
ことができる。
【0015】なお、前記各実施形態においては、半導体
素子の中央部に2列に電極パッドを配設しているが、必
要に応じて4列あるいは2列の千鳥配列等、その配列は
変更してもよい。また、前記各実施形態においては、配
線膜の外端部においてもTCPテープの表面側で実装基
板等への実装を行っているが、この外端部を含む領域の
TCPテープを開口し、この開口を通してTCPテープ
の裏面側から配線膜の外端部を実装用基板等に接続する
ようにしてもよい。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、TCPテ
ープに搭載される半導体素子は電極パッドを半導体素子
の中央部に配設してTCPテープの表面側から搭載し、
かつTCPテープの表面に設けた配線膜の内端部はこれ
ら電極パッドに対応して半導体素子の中央部にまで延設
し、配線膜の外端部は所望のピッチ間隔を確保するのに
必要とされる長さでかつそのピッチ間隔が前記半導体素
子の中央部から外周部に向けて拡大されるように延長さ
れた上で半導体素子の外周囲から突出される構成として
いるので、TCPテープの長さを短くでき、低コスト化
に有利となる。また、デバイスホールが不要であるた
め、デバイスホールを開設するための設備や開設工程が
不要となり、低コスト化を助長するとともに、打ち抜き
片等によるショートや、配線膜の機械的な強度の低下に
よる半導体素子の保持の信頼性低下等が回避できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の平面図とAA線拡大
断面図である。
【図2】本発明の第2の実施形態の平面図である。
【図3】従来の半導体装置の平面図とBB線拡大断面図
である。
【符号の説明】
1 TCPテープ 2 配線膜 3 保護膜 5 半導体素子 6 電極パッド 7 バンプ 8 樹脂

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁テープの表面に所要パターンの導体
    膜からなる配線膜を有し、この配線膜の内端部に半導体
    素子の電極パッドを接続して半導体素子を前記絶縁テー
    プに搭載する半導体装置において、前記半導体素子は複
    数個の電極パッドが半導体素子の中央部に配設されて前
    記絶縁テープの表面側に搭載され、かつ前記配線膜の内
    端部はこれら電極パッドに対応して半導体素子の中央部
    にまで延設され、また前記配線膜の外端部は所望のピッ
    チ間隔を確保するのに必要とされる長さでかつそのピッ
    チ間隔が前記半導体素子の中央部から外周部に向けて拡
    大されるように延長された上で前記半導体素子の外周囲
    から突出されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記絶縁テープには、前記配線膜の内端
    部が延長される領域にデバイスホールが存在していない
    請求項1に記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記複数個の電極パッドの少なくとも一
    部は、半導体素子の中央部において絶縁テープの幅方向
    に配列される請求項1または2に記載の半導体装置。
JP7329302A 1995-12-18 1995-12-18 半導体装置 Expired - Lifetime JP2768336B2 (ja)

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Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5626448A (en) * 1979-08-13 1981-03-14 Chiyou Lsi Gijutsu Kenkyu Kumiai Semiconductor device
JPS6341036A (ja) * 1986-08-06 1988-02-22 Nec Corp 半導体装置
JPS6486527A (en) * 1987-09-29 1989-03-31 Hitachi Cable Ccb tape carrier
JPH06349890A (ja) * 1993-06-14 1994-12-22 Hitachi Ltd 半導体装置
JP2833996B2 (ja) * 1994-05-25 1998-12-09 日本電気株式会社 フレキシブルフィルム及びこれを有する半導体装置

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